JPH0126109Y2 - - Google Patents

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JPH0126109Y2
JPH0126109Y2 JP1983002466U JP246683U JPH0126109Y2 JP H0126109 Y2 JPH0126109 Y2 JP H0126109Y2 JP 1983002466 U JP1983002466 U JP 1983002466U JP 246683 U JP246683 U JP 246683U JP H0126109 Y2 JPH0126109 Y2 JP H0126109Y2
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signal conductor
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  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、ICチツプを内含し、受動素子を搭
載もしくは形成した基板上の導体パターン上に直
接平面付けするフラツトパツクタイプICチツプ
用パツケージ、特に高速、高周波領域への適用を
実現するICチツプ用パツケージに関するもので
ある。
半導体パツケージの構造は大きく分けると、セ
ラミツク、メタル、ガラス、プラスチツクの構造
による4種類に分類される。しかし、能動素子が
トランジスタからIC、LSI、さらには超LSIへと
進展していく中で、パツケージ構造の変化も激し
くその構造も単なる上述の4構造では分類でき
ず、各種の材料や構造が入り組んだ複雑なものに
なりつつある。しかし、形状から分類すると、ト
ランジスタ外形型パツケージ(TO型)、 Single−In−Lineパツケージ(SIP型)Dual−
In−Lineパツケージ(DIP型)、フラツトパツク
タイプパツケージ、テープキヤリアタイプパツケ
ージに大別される。TO型パツケージは、トラン
ジスタと同一のメタル形ハーメチツクパツケージ
に多数のリードを付けたものであり、メタルキヤ
ツプ溶接強度が強い、封入雰囲気の制御も簡単に
行なえる等の特徴を持つている。しかし現在で
は、パツケージが高価になると、多数リードが出
たパツケージでは基板上への搭載が複雑である等
の点からあまり使用されなくなる傾向にある。
SIP型パツケージは、パツケージの片側にリード
が配列されたものであり、DIP型パツケージはパ
ツケージの両側にリードが配列されたものであ
る。SIP型及びDIP型パツケージは、チツプのマ
ウント、ボンデイングの連続自動化や大量バツチ
処理等が可能になるため、量産に適しており、材
料面を含め安価なパツケージを得る事ができる。
最近では民生用ばかりではなく通信工業用IC,
LSIの分野でもかなり使用されている。ただし、
SIP型及びDIP型パツケージは、リードフレーム
を使用しているために内部リードの長さが長くな
り、製作や取り扱いが困難、電気的高周波特性を
劣化させる等の欠点があつた。テープキヤリアタ
イプパツケージは、チツプをポリイミドテープに
連続的に組み込み、樹脂でコートした上で個々に
切りはなしたものであり、回路基板の導体面に平
面付けされる。フラツトパツクタイプパツケージ
は、両側または4方向に端子を出した小形パツケ
ージであり、回路基板の孔に挿入せず導体パタン
上に直接平面付けするタイプである。SIPやDIP
タイプと異なり、パツケージ面積が従来の同ピン
数のDIPに比べて1/2以下である。また、4方向
にリードが出ている事から内部リードの長さが短
かくなるため、インダクタンスやキヤパシタンス
等の寄生素子効果を軽減する事ができる等の特長
をもち帯域数百MHz程度の各種高周波回路に適用
されている。
一方、電気回路の動作領域は年々高速化、広帯
域化する傾向にあり、例えば数GHzの帯域をもつ
た増幅器数Gb/sの高速で動作するデイジタル
回路等が必要となつている。これに応じてIC化
技術も年々と進み、例えばガリウムヒ素電界効果
トランジスタを用いた高速デイジタルIC、高周
波アナログICが実現されつつある。したがつて、
このような高速ICに適合したICパツケージの必
要性が高まつているが、従来のICパツケージで
はこのような高速ICの能力を十分に発揮させる
のはきわめて困難であつた。
第1図は、比較的高速動作に適した従来のフラ
ツトパツクタイプパツケージの平面図、第2図は
第1図のフラツトパツクタイプパツケージの断面
図でありICチツプを搭載した例を示しているが、
ここではこのようなパツケージに高速ICを搭載
し高速回路に用いる場合を例にとり、従来技術の
限界を説明する。第1図において、1101はリ
ードであり通常はリードに金メツキが施されてい
る。1102はパツケージ本体であり、セラミツ
クの構造のものが一般に使われている。1103
は信号導体パターンであり、リードと電気的に接
続されている。この信号導体パターンの幅は通常
約400μm程度であり、印刷配線技術を用いて形成
されており、表面は金メツキが施されている。信
号導体パターン長は、可能な限り短かくなつてい
る。1104は、ICチツプの搭載用金ランド部
であり、信号導体パターン1103と同様に印刷
配線パターンで形成されており、表面は金メツキ
が施されている。第2図は第1図のパツケージの
断面図であり、同図において2101はリード、
2102はパツケージ本体、2103は信号導体
パターン、2104はICチツプ搭載用金ランド
部である。2105は放熱用スタツドであり、
ICチツプ搭載用金ランド部2104と導通して
いる。この放熱用スタツド2105により、IC
チツプで発生する熱は、実装される回路基板を通
じて放散される。2106はICチツプであり、
例えばGaAs−ICチツプである。2107はICチ
ツプ2106と信号導体パターン2103とを接
続するボンデイングワイヤである。2108はパ
ツケージキヤツプであり、パツケージ本体210
3には、金属ハンダあるいはガラスハンダを用い
て封着される。このような構造のICチツプパツ
ケージは、信号導体パターンを極力短くして、寄
生素子効果を軽減するようにしているが、動作速
度(周波数)が高くなるに従つてこの寄生素子の
効果が無視できなくなる。又、信号導体パターン
を分布定数線路と見た時の特性インピーダンスが
周波数と共に変動するため、高周波、高速ICチ
ツプ用パツケージとして用いた時、入出力端にお
いて他の回路とインピーダンス整合をとつて信号
伝送を行なうことが不可能だつた。そのため、
ICの動作速度に制限を与え、たとえば動作速度
1Gb/s以上といつた高速ICのICチツプパツケー
ジとして用いようとしても、良好な動作は得られ
ない。
本考案は、上記のような従来のICチツプパツ
ケージの欠点に鑑みてなされたものである。すな
わち、(1)ICパツケージ内の信号導体パターンと
同一平面上に接地導体パターンを配置するコープ
レーナストリツプ線路構造を用いて信号導体パタ
ーンを一定の特性インピーダンスを持つ分布定数
線路化し、また、(2)ICチツプパツケージ裏側に
表面の接地導体パターンと導通した接地導体パタ
ーン及び放熱用スタツドを設けて、回路基板への
搭載及び回路基板上の接地導体との接続にこの放
熱用スタツドを用い、これにより高周波での接地
を完全に行なわしめ、さらに、(3)回路基板上の信
号線路とパツケージ内の信号線路とをリードなし
に直接接続できる構造にすることにより、寄生素
子効果を著しく軽減せしめ、前記(1),(2),(3)の効
果によつてIC動作速度の向上を可能ならしめる
と共に、製造容易かつ安価で外部との接続箇所が
増大しないICチツプパツケージを提供すること
を目的としている。
本考案によれば、フラツトパツクタイプのIC
チツプ用パツケージにおいて、前記ICチツプ用
パツケージ内の各信号導体パターンと同一平面上
で各信号導体ではさまれる部分と、前記ICチツ
プ用パツケージを形成する誘電体基板の裏面とに
それぞれ連続した接地導体パターンを設け、前記
信号導体パターンの幅と前記接地導体パターンと
の間隔とを一定比に保ちつつ前記接地導体パター
ンおよび前記信号導体パターンの幅をICチツプ
搭載方向に向かつて連続的に細く形成し、さらに
これら接地導体パターンと電気的に導通させた放
熱用スタツドをパツケージ裏側の中心部分に設け
ると共に、前記ICチツプ用パツケージを回路基
板に搭載する時の電気的接続部として、前記各信
号導体パターンと前記放熱用スタツドとを用いる
ことを特徴とするICチツプ用パツケージが得ら
れる。
第3図は、本考案であるICチツプ用パツケー
ジの平面図を示したものである。第3図におい
て、3101は接地導体パターン、3102はパ
ツケージ本体、3103は信号導体パターンであ
る。接地導体3101及び信号導体パターン31
03は、薄膜技術あるいは厚膜技術のいずれかを
用いて形成することができる。信号導体3103
は、両サイドに接地導体パターン3101を配置
する事により、コープレーナ形分布定数線路を構
成する。その特性インピーダンスは、信号導体パ
ターン3103の線路巾をW、接地導体パターン
3102と信号導体パターン3103との間隔を
Sとすると、ほぼS/Wに比例した値として決定
される。パツケージ本体3102には、通常のセ
ラミツク基板を用いるが、本考案のICチツプ用
パツケージでは裏面にも接地導体パターンを設け
るので、このセラミツク基板の厚さが線路の特性
インピーダンスの値に影響を与える。従つて、こ
の厚さは線路の所要特性インピーダンス値、機械
的強度等を考慮して適切な値に定める必要があ
る。ICチツプは、通常パツケージの裏側中央部
分に取付けられた、放熱用スタツド3105上に
搭載すればよい。この放熱用スタツド3105は
表面の接地導体パターン3101と電気的に導通
している。なお、各信号導体パターンは当然互い
に分離されているが、接地導体パターン3101
は中央部分で一体化されている。
第4図は、本考案のICチツプ用パツケージに
おいて、第3図のX−X′間の断面を示したもの
である。4101は接地導体パターン、4102
はパツケージ本体、4103は信号導体パター
ン、4105は放熱用スタツド、4106はIC
チツプ、4107はボンデイングワイヤ、410
8はパツケージキヤツプである。接地導体パター
ン4101は、パツケージ本体4102の表面だ
けでなく、その壁面及び裏面にも形成されてい
る。ICチツプ4106は、接地導体パターン4
101と電気的に導通した放熱用スタツド410
5上に搭載される。このICチツプ4106と信
号導体パターン4103との接続は、ボンデイン
グワイヤ4107により行なわれる。分布定数線
路化された信号導体パターン4103の特性イン
ピーダンスは、前述の如く信号導体パターン41
03と接地導体パターン4101との間隔Sと信
号導体パターン4103の線路幅Wとの比で決定
される。したがつて第3図に示すように、信号導
体パターン3103と接地導体パターン3101
との間隔Sの値を、S/Wの値を一定に保ちつつ
連続的に小さくしていくことにより、一定の特性
インピーダンスを保つたままで線路幅Wを可能な
限り細くすることができ、小さな形状のICチツ
プのごく近端まで信号導体パターンを形成するこ
とができる。これによつて、ボンテイングワイヤ
4107の長さも短縮され、さらには従来のIC
パツケージに比べ小形化も容易となる。放熱用ス
タツド4105は、熱伝導性の優れた金属材料、
例えば無酸素銅等を用いて形成される。この放熱
用スタツド4105は、ICパツケージ表面にそ
の端面が露出するような構造となつており、接地
導体パターン4101と導通している。この放熱
用スタツド4105上にICチツプを搭載する。
第5図は、第3図を裏面からみたものを示してい
る。図において、4111は裏面の接地導体パタ
ーンであり、表面の接地導体パターンとは、所望
の位置(ただし表面の信号導体パターンとは接触
しない限り)において、スルーホール3104等
により導通されている。
本考案のパツケージを回路基板に搭載する時に
は、回路基板上の信号導体パターンと信号導体パ
ターン4103とをハンダ付けあるいはボンデイ
ングワイヤによつて直接接続すればよい。なおこ
のとき、回路基板上の信号導体パターンの特性イ
ンピーダンスが、本考案パツケージ内の信号導体
パターンの特性インピーダンスと同じになるよう
に、回路基板上のパターンを設計してあるものと
する。ICパツケージの接地導体パターンと回路
基板の接地パターンとの接続は、放熱用スタツド
4105を回路基板の接地パターンにハンダ付け
する事で行なわれ、これにより高周波的にも充分
な接地が行なわれる。これらによつて、インダク
タンスやキヤパシタンス等の寄生素子効果がほと
んど無しに、ICチツプと回路基板上のパターン
を接続する事ができる。また、回路基板上の信号
線路パターンとの接続点数が従来のICパツケー
ジと比べて特に増大する事がなく、回路基板上へ
の搭載が容易に行なえる。パツケージキヤツプ4
108は、たとえばセラミツク材を用いて形成
し、パツケージ本体4102への封着はガラスハ
ンダ等の非導電材料を用いて行なう。
このような構成によれば、従来のICチツプ用
パツケージで生じていたようなインピーダンスの
不整合が実質的になくなり、寄生素子の効果が著
しく減少し、高周波的接地が充分に行なえるよう
になるので、たとえば動作速度1Gb/s以上のIC
チツプを容易に搭載して動作させることが可能と
なる。さらに、本考案のICチツプ用パツケージ
は誘電体基板1枚とパツケージキヤツプ、放熱用
スタツドのみで構成できるため、製造が容易であ
り、安価である。またパツケージの大きさの小型
化も容易となり高密度実装が可能になる。
これまでの説明においては、外部回路との接続
用リードを用いないパツケージの実施態様につい
て説明を行なつたが本考案の主旨はこれに限るも
のではなく、外部回路との接続を容易にするため
にリードを備えた態様であつてもよい。また、パ
ツケージの材料の一例としてセラミツク材を用い
た場合について説明したが、本考案はこれに限る
ものではなく、例えばベリリヤ材、プラスチツク
材を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のICチツプ用パツケージの平面
を示した図、第2図は第1図に示した従来のIC
チツプ用パツケージの断面を示した図である。第
3図は、本考案のICチツプ用パツケージの構成
を説明するために示した図、第4図は第3図のX
−X′間の断面を示したものである。第5図は、
第3図を裏面から見た様子を示した図である。な
お図中の記号は、それぞれ次のものを示してい
る。 1101,2101……リード、1102,2
102,3102,4102……パツケージ本
体、1103,2106,3103,4103…
…信号導体パターン、1104,2104……
ICチツプ搭載用金ランド部、2105,410
5……放熱用スタツド、2106,4106……
ICチツプ、2107,4107……ボンデイン
グワイヤ、2108,4108……パツケージキ
ヤツプ、3101,4101,4111……接地
導体パターン。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. フラツトパツクタイプのICチツプ用パツケー
    ジにおいて、前記ICチツプ用パツケージ内の各
    信号導体パターンと同一平面上で各信号導体では
    さまれる部分と、前記ICチツプ用パツケージを
    形成する誘電体基板の裏面とにそれぞれ連続した
    接地導体パターンを設け、前記信号導体パターン
    の幅と前記接地導体パターンとの間隔を一定比に
    保ちつつ前記接地導体パターンおよび前記信号導
    体パターンの幅をICチツプ搭載方向に向かつて
    連続的に細く形成し、さらにこれら接地導体パタ
    ーンと電気的に導通させた放熱用スタツドをパツ
    ケージ裏側に設けると共に、前記ICチツプ用パ
    ツケージを回路基板に搭載する時の電気的接続部
    として、前記各信号導体パターンと前記放熱用ス
    タツドとを用いることを特徴とするICチツプ用
    パツケージ。
JP246683U 1983-01-12 1983-01-12 Icチツプ用パツケ−ジ Granted JPS59109150U (ja)

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JPS59109150U JPS59109150U (ja) 1984-07-23
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0787221B2 (ja) * 1987-02-27 1995-09-20 イビデン株式会社 半導体搭載用基板

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4980569A (ja) * 1972-12-12 1974-08-03
JPS57154861A (en) * 1981-03-20 1982-09-24 Hitachi Ltd Package

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