JPS61108152A - Icチツプ用パツケ−ジ - Google Patents

Icチツプ用パツケ−ジ

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JPS61108152A
JPS61108152A JP59229507A JP22950784A JPS61108152A JP S61108152 A JPS61108152 A JP S61108152A JP 59229507 A JP59229507 A JP 59229507A JP 22950784 A JP22950784 A JP 22950784A JP S61108152 A JPS61108152 A JP S61108152A
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Japan
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conductor pattern
thickness
constant
dielectric substrate
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JP59229507A
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Isamu Takano
高野 勇
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NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ICチップを内合し、受動素子を搭載もしく
は形成した回路基板上の導体パターン上に直接平面イが
1けするフラットパックタイプICチップ用パッケージ
、特に高速、高周波領域への適用を実現するICチップ
用パッケージに関するものである。
〔従来技術とその問題点〕
半導体パッケージの構造は大きく分けると、セラミック
、メタル、ガラス、プラスチックの構造による4種類に
分類される。しかし、能動素子がトランジスタからIC
,LSI、 さらには超LSIへと進展していく中で、
パッケージ構造の変化も激しくその構造も串なる上述の
4構造では分類できず、各種の材料や構造が入り組んだ
複雑なものになりつつある。しかし、形状から分類する
とトランジスタ外形型パッケージ(To型) 、 Si
ngle−In−1,insパッケージ(S T P型
) 、 rlual−In−Lineパッケージ(DI
P型)、フラソトパックタイブパ、2ゲージ、テープキ
ャリアタイプパソケージに大別される。
TO型パッケージは、トランジスタと同一のメタル型ハ
ーメチックパッケージに多数のリードを゛付けたもので
あり、メタルキャンプ溶接強度が強い、封入雰囲気の制
御も簡単に行える等の特徴を持っている。しかし現在で
は、パッケージが高価にダる。多数リードが出たパッケ
ージでは基板上 ′への搭載が複雑である等の点から使
用されなくなる傾向にある。
SIP型パッケージはパッケージの片側にリードが配列
されたものであり、DIP型パッケージはパッケージの
両側にリードが配列されたものである。S”I’P型及
びDIP型は、チップのマウン  □ト、ボンディング
の連続自動化や多しバソチ処理等が可能になるため、早
産に適しており、材ネl rliiを含め安価なパッケ
ージを得る事ができる。最近では、民生用ばかりではな
く通信工業用IC,l。
Slの分野でもかなり使用されている。ただし、SIP
型及びl1rP型パツケージは、リードフレームを使用
しているために内部リードの長さが長くなり、製作や取
り扱いが困難、電気的高周波特性を劣化させる等の欠点
があった。
、  テープキャリアタイプパッケージは、チップをポ
リイミドテープに連続的に組み込み、樹脂でコートした
」−で個々に切りはなしたものであり、回路基板の導体
面に平面付けされる。
フラットパンクタイプパッケージは、両側または四方向
に端子を出した小形パッケージであり、回路基板の孔に
挿入せず導体パターン上に直接平面付けするタイプであ
る。SIPやI) I Pタイプと異なり、実装面積が
従来の同ピン数のDIPに比べて1/2以下である。ま
た、四方向にリードが出ている場合には内部リードの長
ざが短くなるため、インダクタンスやキャパシタンス等
の寄生素子効果を軽減する事ができる等の特徴をもち、
帯域数百MHz程度の各種高周波回路に適用されている
一方、電気回路の動作領域は年々高速化、広帯域化する
傾向にあり、例えば数GHzの帯域をもった増幅器、数
G b / sの高速で動作するディジタル回路等が必
要となっている。、これに応じてIC化技術も年々と進
み、例えばガリウムヒ素電界効果トランジスタを用いた
ガリウムヒ素ICでの高速ディジタルIC,高周波アナ
ログICが実現されつつある。したがって、このような
高速ICに適合したICチップ用パッケージの必要性が
高まっているが、従来のICチップ用パッケージではこ
のような高速ICの能力を十分に発揮させるのはきわめ
て困難であった。
第4図は、比較的高速動作に適した従来のフラットパッ
クタイプパッケージの平面図、第5図は、第4図のフラ
ットパックタイプパッケージのX−X1間p断面図であ
り、ここでtまごのようなパン、ケージに高速1.Cを
搭載し高速回路に用いる場合を例にとり、従来技術の限
昇を説明する(参考文献として例えば“場所IC技術入
門゛誠文堂新光社を参照されたい)。なお、第4図はパ
ッケージキャンプを取り除いた状態での平面図であり、
ICチップ及びボンディングワイヤは図示していない。
これらの図において、1はリードであり通常はリードに
金メッキが施されている。2はパッケージ本体であり、
セラミックの構造のものが一般に使われている。3はパ
ッケージ本体セの表面上に設けられた信号導体パターン
であり、リード1とは電気的に導通している。この信号
導体パターン3の幅は一例とし約40゛0μmのものが
あり、印刷配線技術を用いて形成されており、表面は金
メッキが施されている。信号導体パターン3の長さは、
可能な限り短い構造となっている。4はパッケージ本体
セの中心部に設けられたICチップの搭載用命ラン1′
部であり、信号導体パターン3と同線に印刷配線バター
・ンで形成されており、表面は金メッキが施され才い゛
る。5はパッケージ本体2の裏面に設けられた放熱用ス
タッドであり、ICチップ搭載用金ラうド部4と導通し
ている。この放熱用スタッド5により、例えばG aA
’s−T Cチ゛ツブであるICチップ6で発生する熱
は、実装される回路基板を通じて放散される。7はIC
チップ6と信号導体パターン3とを接続するボンディン
グワイヤである。8はパッケージキャップであり、パッ
ケージ本体2には金属ハンダあるいはガラスハンダを用
いて封着される。このような構造のICチップ用パッケ
ージは、信号導体パターン3を極力短くして、寄生素子
効果を軽減するようにしているが、動作速度(周波数)
が高くなるに従ってこの寄生素子の影響が無視できなく
なり、信号導体パターン3が分布定数線路構造でないた
めに特性インピーダンスが周波数と共に変動するため、
高周波・高速ICチップ用パッケージとして用いた時、
入出力端において他の回路とインピーダンス整合をとっ
て信号伝送を行うことが不可能であった。そのため、I
Cの動作速度に制限を与え、例えば動作速度IGb/5
lu−I−といった高速ICのICチップ用パッケージ
として用いようとしても、良好な動作は得られないとい
う欠点がある。
〔発明の目的〕
本発明は、」二連した寄生素子の悪影響を著しく軽減せ
しめると共に、製造容易かつ安価であり、特に回路機能
が高機能化されたIC例えばMSルベル以上のICを高
速動作させるのに有効なフラットパンクタイプのICチ
ップ用パッケージを堤供することを目的とする。
〔発明の構成〕
本発明は、フラットバックタイプのICチップ用パッケ
ージにおいて、中心部から外周方向に向って厚さが連続
的に増加する第1部分と中心部から外周方向に向って厚
さが一定の第2部分とからなる誘電体基板と、前記第1
部分の誘電体基板の表面に設けられ、前記中心部から前
記外周方向に向って幅が前記第1部分の誘電体基板の厚
さに比例して増加する信号導体パターンと、前記第2部
分の誘電体基板の表面に設けられ、前記中心部から前記
外周方向に向って幅が一定の電源供給用導体パターンと
、前記誘電体基板の裏面のほぼ全体に設けられた接地導
体パターンと、この接地導体パターンに電気的に導通す
るように設けられた放熱用スタソl′とを備えることを
特徴としている。
”   〔発明の概要〕 本発明においては、以下に述べる原理に基づき、本発明
の目的を達成している。すなわち、(1)ICチップ用
パッケージ内に設けた導体パターンにおいて、線路幅を
変えて形成したパターンを信号導体パターン、一定線路
幅のパターンを電源供給用導体パターンとして用いる事
により、信号導体パターンをICチップ近端まで設は寄
生素子の影響を軽減せしめ、電源供給用導体パターンの
許容電流を一定容量に維持せしめる。
(2)1.Cチップ用パッケージを、誘電体基板の表面
に配置された信号導体パターンと誘電体基板の裏面全体
に配置された接地導体パターンとによるマイクロストリ
ップ線路構造とする。
(3)ICチップ用パッケージの裏側に、誘電体基板の
裏面全体に設けた接地導体パターンと電気的に導通した
放熱用スタッドを設けて、回路基板への搭載及び回路基
板上の接地導体との接続にこの放熱用スタッドを用い、
これにより高周波での接地を完全に行わしめる。
(4)ICチップ用パッケージを実装する回路基板上の
信号線路とICチップ用パッケージ内の信月線路とをリ
ードなしに直接接続できる構造にすることにより、寄生
素子効果を著しく軽減せしめる。
〔実施例〕
以下に図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
第1図は、本発明の一実施例であるフラットパックタイ
プのICチップ用パッケージの平面図、第2図は、第1
図のY−Y ’間の断面図、第3図シl、第1図のz−
z ’間の断面図である。なお、第1図はパッケージキ
ャップを取り除いた状態での平面図であり、TCチップ
及びボンディングワイヤは図示していない。
これらの図において、9は例えばセラミック材の角形誘
電体基板よりなるパッケージ本体、10はこのパッケー
ジ本体9の一方の対向する1対の辺の表面にパッケージ
本体9の中心部から外周方向へ延在するように設けられ
た複数本の信号導体パターン、11はパッケージ本体9
の他方の対向する1対の辺の表面にパッケージ本体9の
中心部から外周方向へ延在するように設けられた複数本
の電源供給用導体パターン、12はパッケージ本体9の
裏面のほぼ全体に設けられた接地導体パターン、13は
この接地導体パターン12に電気的に導通ずるように設
けられた放熱用スタンド、14ばこの放熱用スタッド1
3上に搭載されたICチップ、15はICチップ14と
信号導体パターン10とを接続するボンディングワイヤ
、16はパッケージごトヤッブである。放熱用スタッド
13は、熱伝導性の優れた金属材料、例えば無酸素銅等
を用いて形成される。この放熱用スタンF13は、IC
チップ用パッケージ表面にその端面が露出するような構
造となっており、この露出端面にICチップ14が搭載
される。
また、バ・2ケージキヤンプ16は、例えばセラミック
材を用いて形成し、パッケージ本体9への封着はガラス
ハンダ等の非導電材料を用いて行う。
信号導体パターンIOは、パッケージ本体9の誘電体基
板の裏面全体に接地導体パターン12を配置する事によ
りマイクロストリップ形分布定数線路を構成する。信号
導体パターン10において、第1図に示すように基部A
からICチ・、・プ14に最も近い先端部Bに至るA−
8間の信号導体パターンは、基部への線路幅Woから連
続的に細くなるように形成されている。いま、A−8間
の信号導体パターンのある点における線路幅Wに対して
線路長Δρを考えると、その線路の特性インピーダンス
はZ−■丁ア〒−で表される。線路インピーダンスZが
一定であるためには、中位長当りのキャパシタンスC,
単位り当りのインダクタンスLが一定という条件が成り
立つことが必要である。すなわち、C−ε・W・Δβ/
TI(ε:誘電体基板の誘電率、11:誘電体基板の厚
さ)の関係式において、キャパシタンスCを一定とする
ためには、誘電率ε、線路しΔlが一定であるため線路
幅W、基板厚Hを変える事になる。パッケージ本体9に
は、通常のセラミック基板を用いるが、本発明のICチ
ップ用パッケージでは、マイクロストリップ形の分布定
数線路を形成するので、このセラミック基板の厚さが線
路の特性インピーダンスの値に影響を与える。したがっ
て、この厚さは線路の所要特性インピーダンス値、機械
的強度を考慮して適切な値に定める必要がある。
前述したように、A−8間の信号導体パターンの線路幅
Wは連続的に細くしているが、この区間ではパッケージ
本体9の誘電体基板の厚さIf (第2図参照)を線路
幅Wに比例して薄くしていくため、線路の特性インピー
ダンスは一定値Zoに保たれる。このような構造にする
ことにより、一定の特性インピーダンスを保ったままで
線路幅を可能な限り細くすることができ、小さな形状の
ICチップ14のごく近端まで、良好な信号伝送特性を
持った信号導体パターン10を形成することができる。
さらに、このような構成によれば、ICチップ14のご
く近端まで信号導体パターン10を形成できるため、ボ
ンディングワイヤ15の長さが短縮される一方、外部回
路との信号接続部においては、信号導体パターン10の
基部の幅Woを充分広く形成できるため、例えばハンダ
付は等による外部回路との接続が容易かつ強固に行える
。さらには従来のフラントパンクタイプのICパッケー
ジに競べ小形化も容易となる。
一方、電源供給用導体パターン11は、第1図に示すよ
うに、パッケージ本体9の外周における基部CからIC
チップ14に最も近い先端部りに至るC−D間に延在し
ており、(、−D間の導体パターンは一定線路幅tとな
るように形成されている。
これに従い、電源供給用導体パターン11を形成してい
る部分のパッケージ本体9は、第3図に示すように一定
の厚さhをもって形成されている。したがって電源供給
用導体パターン11も信号導体パターン10と同様スト
リップ線路となるが、電源供給用導体パターン11の線
路幅tを、電源供給用導体パターンを形成している部分
のパッケージ本体9の厚さhよりも充分大きい線路幅で
形成する事により、低インピーダンス線路となる。更に
はC−D間の電源供給用導体パターン11の線路幅tが
充分に広LJれば、導体膜厚と導体幅で決定される電源
供給用導体パターン11の許容電流容量も大きくとる事
ができ、ICチップの電流容量が大きくても、ICパッ
ケージ本体において電気的故障の発生率は低くなるため
、Icチップ用パッケージの信頼性も向上される。
以−ヒの構造のICチップ用パッケージを回路基板に搭
載するときには、回路基板−1−の信号導体パターンと
パッケージ内の信号導体パターン10とをハンダ付けあ
るいはボンディングワイヤによって直接接続すればよい
。なおこのとき、回路基板−1−の特性インピーダンス
が、パッケージ内の信号導体パターン10の特性インピ
ーダンスZoと同じに −なるように、回路基板上のパ
ターンを設計し−ζあるものとする。
ICチップ用パッケージの接地導体パターン12と回路
基板の接地パターンとの接続は、放pす11スタンド1
3を回路基板上の接地パターンにパンダイ・1けする事
で行われ、これにより高周波的に充分な接地が行われる
。これらによって、インダクタンスやキャパシタンス等
の寄生素子効果がほとんど無いように、lCチップ14
と回路基板−ヒのパターンとを接続する事ができる。
〔発明の効果〕
以1−述べた如く本発明によれば、従来の10チツプ用
パツケージで!I゛じていたようなインピーダンスの不
整合が実質的になくなり、寄生素子の効果が著しく減少
し、itf+周波的接地が充分に行えるようになるので
、例えば動作速度I G b / s辺土のl Cチッ
プを容易に搭載して動作させることがIIT能となる。
さらにシ:]電源供給用導体パターンを信号導体パター
ンとは別に形成するためICチップ用パッケージの許容
電流客用が増大し、パッケージ自体の信頼性が向1−す
る。また、本発明の10チツプ用パツケージは比較的簡
単な構造で構成できるため、製造が容易であり比較的安
価となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例であるI Cナツプ川パッ
ケージの平面図、 第2図、第3図は、第1図に示したICチップ用パッケ
ージのlli面図、 第4図は、従来のI Cチップ川パッケージのrIi面
図、 第5図は、第4図に示した従来のICチップ用パッケー
ジの断面図である。 9・・・・・パッケージ本体 10・・・・・信号導体パターン 11・・・・・電源供給用導体パターン12・・・・・
接地連体パターン 13・・・・・放熱用スタッド 14・・・・・ICチップ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)フラットパックタイプのICチップ用パッケージ
    において、中心部から外周方向に向って厚さが連続的に
    増加する第1部分と中心部から外周方向に向って厚さが
    一定の第2部分とからなる誘電体基板と、前記第1部分
    の誘電体基板の表面に設けられ、前記中心部から前記外
    周方向に向って幅が前記第1部分の誘電体基板の厚さに
    比例して増加する信号導体パターンと、前記第2部分の
    誘電体基板の表面に設けられ、前記中心部から前記外周
    方向に向って幅が一定の電源供給用導体パターンと、前
    記誘電体基板の裏面のほぼ全体に設けられた接地導体パ
    ターンと、この接地導体パターンに電気的に導通するよ
    うに設けられた放熱用スタッドとを備えることを特徴と
    するICチップ用パッケージ。
JP59229507A 1984-10-31 1984-10-31 Icチツプ用パツケ−ジ Pending JPS61108152A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1081762A2 (en) * 1999-08-30 2001-03-07 Texas Instruments Incorporated Constant impedance routing for high performance integrated circuit packaging

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1081762A2 (en) * 1999-08-30 2001-03-07 Texas Instruments Incorporated Constant impedance routing for high performance integrated circuit packaging
EP1081762A3 (en) * 1999-08-30 2006-07-26 Texas Instruments Incorporated Constant impedance routing for high performance integrated circuit packaging

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