JPH066512Y2 - 集積回路パツケ−ジ - Google Patents

集積回路パツケ−ジ

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JPH066512Y2
JPH066512Y2 JP1986053284U JP5328486U JPH066512Y2 JP H066512 Y2 JPH066512 Y2 JP H066512Y2 JP 1986053284 U JP1986053284 U JP 1986053284U JP 5328486 U JP5328486 U JP 5328486U JP H066512 Y2 JPH066512 Y2 JP H066512Y2
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    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は、ICチップを内包し、受動素子を搭載もしく
は形成した基板上の導体パターン上に直接平面付けする
フラットパックタイプICチップ用パッケージ、特に高
速、高周波領域への適用を実現するICチップ用パッケ
ージに関する。
(従来技術とその問題点) 半導体パッケージの素材は大きく分けると、セラミッ
ク、メタル、ガラス、プラスチックの4種類に分類され
る。しかし、能動素子がトランジスタからIC、LS
I、さらには超LSIへと進展していく中で、パッケー
ジ構造の変化も激しくその素材も単なる上述の4種類に
は分類できず、半導体パッケージは各種の材料や構造が
入り組んだ複雑なものになりつつある。しかし、形状か
ら分類するとトランジスタ外形型パッケージ(TO
型)、シングル・イン・ライン(Single-In-Line)パッケ
ージ(SIP型)、デュアル・イン・ライン(Dual-In-L
ine)パッケージ(DIP型)、フラットパックタイプパ
ッケージ、テープキャリアタイプパッケージに大別され
る。
TO型パッケージは、トランジスタと同一のメタル型ハ
ーメチックパッケージに多数のリードを付けたものであ
り、メタルキャップ溶接強度が強い、封入雰囲気の制御
も簡単に行なえる等の特徴を持っている。しかし現在で
は、パッケージが高価になる、多数リードが出たパッケ
ージでは基板上への搭載が複雑である等の点からあまり
使用されなくなる傾向にある。
SIP型パッケージは、パッケージの片側にリードが配
列されたものであり、DIP型パッケージはパッケージ
の両側にリードが配列されたものである。SIP型及び
DIP型パッケージは、チップのマウント、ボンディン
グの連続自動化や大量バッチ処理等が可能になるから、
量産に適しており、材料面を含め安価なパッケージを得
る事ができる。最近では、民生用ばかりでなく通信工業
用IC、LSIの分野でもかなり使用されている。ただ
し、SIP型及びDIP型パッケージは、リードフレー
ムを使用しているために内部リードの長さが長くなり、
製作や取り扱いが困難、電気的高周波特性を劣化させる
等の欠点があった。
テープキャリアタイプパッケージは、チップをポリイミ
ドテープに連続的に組み込み、樹脂でコートした上で個
々に切りはなしたものであり、回路基板の導体面に平面
付けされる。
フラットパックタイプパッケージは、両側または四方向
に端子を出した小形パッケージであり、回路基板の孔に
挿入せず導体パターン上に直接平面付けするタイプであ
る。SIPやDIPタイプと異なり、実装面積が従来の
同ピン数のDIPに比べて1/2以下である。四方向にリ
ードが出ている事から内部リードの長さが短かくなり、
インダクタンスやキャパシタンス等の寄生素子効果を軽
減する事ができる等の特徴をもち、帯域数百MHz程度
の各種高周波回路に適用されている。
一方、電気回路の動作領域は年々高速化、広帯域化する
傾向にあり、例えば数GHzの帯域をもった増幅器、数
Gb/sの高速で動作するディジタル回路等が必要となっ
ている。これに応じてIC化技術も年々と進み、例えば
カリウムヒ素電界効果トランジスタを用いた、ガリウム
ヒ素ICでの高速ディジタルIC、高周波アナログIC
が実現されつつある。したがって、このような高速IC
に適合したICパッケージの必要性が高まっているが、
従来のICパッケージではこのような高速ICの能力を
十分に発揮させるのはきわめて困難であった。
第4図は、比較的高速動作に適した従来のフラットパッ
クタイプパッケージの平面図、第5図は第4図のフラッ
トパックタイプパッケージの断面図であり、ICチップ
を搭載した例を示しているが、ここではこのようなパッ
ケージに高速ICを搭載し高速回路に用いる場合を例に
とり、従来技術の限界を説明する(参考文献としてたと
えば″最新IC技術入門″誠文堂新光社刊がある)。
第4図において、1はリードであり通常は金メッキが施
されている。又はパッケージ本体であり、セラミックの
ものが一般に使われている。3は信号導体パターンであ
り、リードとは電気的に導通となっている。この信号導
体パターンの幅は一例として約400μmのものがあ
り、印刷配線技術を用いて形成されており、表面には金
メッキが施されている。信号導体パターン長は、可能な
限り短く設計してある。4は、ICチップの搭載用金ラ
ンド部であり、信号導体パターン3と同様に印刷配線パ
ターンで形成されており、表面には金メッキが施されて
いる。
第5図は、第4図のパッケージにICチップを搭載した
集積回路装置の断面図であり、同図においては5は放熱
用スタッドであり、ICチップ搭載用金ランド部4と導
通している。この放熱用スタッド5によりICチップで
発生する熱は、実装される回路基板を通じて放散され
る。6はICチップであり、例えばGaAs−ICチップで
ある。7はICチップ6と信号導体パターン3とを接続
するボンディングワイヤである。8はパッケージキャッ
プであり、パッケージ本体3には金属ハンダあるいはガ
ラスハンダを用いて封着される。このような構造のIC
チップパッケージは、信号導体パターンを極力短くし
て、寄生素子効果を軽減するようにしているが、動作速
度(周波数)が高くなるに従ってこの寄生素子の影響が
無視できなくなり、信号導体パターンが分布定数線路構
造でないために特性インピーダンスが周波数と共に変動
するため高周波・高速ICチップ用パッケージとして用
いたとき、入出力端において他の回路とインピーダンス
整合をとって信号伝送を行なうことが不可能だった。
また、高速ICにおいて、例えばECL型ICの回路構
成としては、第6図に示すようなものがある。このよう
なECL型ICの供給電源電圧としては、コレクタ側を
0V(もしくは+5.2V)、エミッタ側を−5.2V(もし
くは0V)という条件で使用される。なお、このときI
Cチップの裏面は低電位に接続される。したがって、I
Cチップをパッケージに搭載した後の使用方法として
は、放熱用スタッドを−VEE端子、リード線のいずれか
をグランド端子、もしくはスタッドをグランド端子、リ
ード線のいずれかをグランド端子として使用している。
しかしこのようなICパッケージにおいては、グランド
接地がリード線のみでしか行なわれないから、リード線
を電源供給用として用いた場合、浮遊素子の影響により
高周波接地が不充分である。また、このリード線は信号
線路パターンと同一条件で形成されているから、電流容
量確保が厳しい等の欠点があった。
そこで、ICの動作速度に制限を与え、たとえば動作速
度が1Gb/s以上といった高速ICのICチップ用パッ
ケージとして用いようとしても、良好な動作は得られな
いという問題点がある。
そこで、本考案は、上述した寄生素子の悪影響を著しく
軽減せしめると共に、製造容易かつ安価であり、特に回
路機能が高機能化されたIC例えばMSIレベル以上の
ICを高速動作させるのに有効なフラットパックタイプ
の集積回路パッケージの集積回路パッケージを提供する
ことを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本考案は、フラットパックタイプの集積回路パッケージ
であって、中心部から外周方向に向って厚さが連続的に
増加する第1部分と中心部から外周方向に向って厚さが
一定の第2部分とからなる誘電体基板と、前記第1部分
の誘電体基板の表面に設けられ、前記中心部から前記外
周方向に向って幅が前記第1部分の誘電体基板の厚さに
比例して増加することにより一定特性インピーダンスを
持つ信号導体パターンと、前記第2部分の誘電体基板の
表面に設けられ、前記中心部から前記外周方向に向って
幅が一定の電源供給用導体パターンと、該電源供給用導
体パターンの外周部に設けられ回路基板に搭載される際
に電源接続部となるリードフレームと、前記誘電体基板
の裏面のほぼ全体に設けられた接地導体パターンと、回
路基板に搭載されるときに接続部となる放熱用スタッド
とを有し、該放熱用スタッドは放熱用スタッド外周部が
前記接地導体パターンと電気的に導通し、前記接地導体
パターン及び前記スタッド外周部とは電気的に絶縁され
前記集積回路パッケージ内のチップ搭載部とは電気的に
導通しているスタッド内導体部との二重構造を有してい
ることを特徴としている。
(作用) 本考案においては、以下〜に述べる原理に基づき、
本発明の目的を達成している。
集積回路パッケージ内に設けた導体パターンにおい
て、線路幅を変えて形成したパターンを信号導体パター
ン、一定線路幅のパターンを電源供給用導体パターンと
して用いる事により、信号導体パターンをICチップ近
端まで設け寄生素子の影響を軽減せしめ、電源供給用導
体パターンの許容電流を一定容量に維持せしめる。
集積回路パッケージを、誘電体基板の表面に配置され
た信号導体パターンと誘電体基板の裏面全体に配置され
た接地導体パターンとによるマイクロストリップ構造と
する。
集積回路パッケージ裏側に、誘電体基板の裏面全体に
設けた接地導体パターンと電気的に導通した二重構造化
した放熱用スタッドを設けて、回路基板への搭載及び回
路基板上の接地導体との接続にこの放熱用スタッドのス
タッド外周部を用い、−VEE電源供給にはICパッケー
ジ内のチップ搭載部と電気的に導通した放熱用スタッド
のスタッド内導体を用いて行なう。これによりICパッ
ケージの接地部分を充分に広く確保し、高周波での接地
を完全に行なわしめる。
このパッケージを実装する回路基板上の信号線路とパ
ッケージ内の信号線路とをリードなしに直接接続できる
構造とすることにより、寄生素子の効果を著しく軽減せ
しめ、回路基板上の電源供給線路とパッケージ内の電源
供給線路とをリードを用いて接続することにより、確実
な電源供給を行なわしめる。
(実施例) 以下に図面に基づいて本考案の実施例を詳細に説明す
る。
第1図は、本考案の一実施例であるフラットパックタイ
プのICチップ用パッケージの平面図、第2図は、第1
図のY−Y′間の断面図、第3図は、第1図のZ−Z′
間の断面図である。なお、第1図はパッケージキャップ
を取り除いた状態での平面図であり、ICチップ及びボ
ンディングワイヤは図示していない。
これらの図において、9は例えばセラミック材の角形誘
電体基板よりなるパッケージ本体、10はこのパッケー
ジ本体9の一方の対向する1対の辺の表面にパッケージ
本体9の中心部から外周方向へ延在するように設けられ
た複数本の信号導体パターン、11はパッケージ本体9
の他方の対向する1対の辺の表面にパッケージ本体9の
中心部から外周方向へ延在するように設けられた複数本
の電源供給用導体パターン、12はパッケージ本体9の
裏面のほぼ全体に設けられた接地導体パターン、13は
この接地導体パターン12に電気的に導通するように設
けられた放熱用スタッド、14はこの放熱用スタッド1
3上に搭載されたICチップ、15はICチップ14と
信号導体パターン10とを接続するボンディングワイ
ヤ、16はパッケージキャップである。111は電源供
給用導体パターンと回路基板上の電源供給部とを接続す
るリードである。132はスタッド内導体、133はス
タッド外周部、134は絶縁体、135はチップ搭載部
である。
信号導体パターン10は、パッケージ本体9の誘電体基
板の裏面全体に接地導体パターン12を配置する事によ
りマイクロストリップ形分布定数線路を構成する。信号
導体パターン10において、第1図に示すように基部A
からICチップ14に最も近い先端部Bに至るA−B間
の信号導体パターンは、基部Aの線路幅Wから連続的
に細くなるように形成されている。いま、A−B間の信
号導体パターンのある点における線路幅Wに対して線路
長Δを考えると、その線路の特性インピーダンスは で表される。線路インピーダンスZが一定であるために
は、単位長当りのキャパシタンスC、単位長当りのイン
ダクタンスLが一定という条件が成り立つことが必要で
ある。すなわち、C=ε・W・Δ/H(ε:誘電体基
板の誘電率、H:誘電体基板の厚さ)の関係式におい
て、キャパシタンスCを一定とするためには、誘電率
ε、線路長Δが一定であるため線路幅W、基板厚Hを
変える事になる。パッケージ本体9には、通常のセラミ
ック基板を用いるが、本発明のICチップ用パッケージ
では、マイクロストリップ形の分布定数線路を形成する
ので、このセラミック基板の厚さが線路の特性インピー
ダンスの値に影響を与える。したがって、この厚さは線
路の所要特性インピーダンス値、機械的強度を考慮して
適切な値に定める必要がある。
前述したように、A−B間の信号導体パターンの線路幅
Wは連続的に細くしているが、この区間ではパッケージ
本体9の誘電体基板の厚さH(第2図参照)を線路幅W
に比例して薄くしていくため、線路の特性インピーダン
スは一定値Zに保たれる。このような構造にすること
により、一定の特性インピーダンスを保ったままで線路
幅を可能な限り細くすることができ、小さな形状のIC
チップ14のごく近端まで、良好な信号伝送特性を持っ
た信号導体パターン10を形成することができる。さら
に、このような構成によれば、ICチップ14のごく近
端まで信号導体パターン10を形成できるため、ボンデ
ィングワイヤ15の長さが短縮される一方、外部回路と
の信号接続部においては、信号導体パターン10の基部
の幅Wを充分広く形成できるため、例えばハンダ付け
等による外部回路との接続が容易かつ強固に行なえる。
さらには従来のフラットパックタイプのICパッケージ
に競べ小形化も容易となる。
一方、電源供給用導体パターン11は、第1図に示すよ
うに、パッケージ本体9の外周における基部CからIC
チップ14に最も近い先端部Dに至るC−D間に延在し
ており、C−D間の導体パターンは一定線路幅tとなる
ように形成されている。これに従い、電源供給用導体パ
ターン11を形成している部分のパッケージ本体9は、
第3図に示すように一定の厚さhをもって形成されてい
る。したがって電源供給用導体パターン11も信号導体
パターン10と同様ストリップ線路となるが、電源供給
用導体パターン11の線路幅tを、電源供給用導体パタ
ーンを形成している部分のパッケージ本体9の厚さhよ
りも充分大きい線路幅で形成する事により、低インピー
ダンス線路となる。更にはC−D間の電源供給用導体パ
ターン11の線路幅tが充分に広ければ、導体膜厚と導
体面で決定される電源供給用導体パターン11の許容電
流容量も大きくとる事ができ、ICチップの電流容量が
大きくても、ICパッケージ本体において電気的故障の
発生率は低くなるから、ICチップ用パッケージの信頼
性も向上される。
放熱用スタッド13は、接地導体パターン12と電気的
に導通しているスタッド外周部133と、接地導体パタ
ーン12とは電気的に絶縁されチップ搭載部135とは
導通しているスタッド内導体132との二重構造になっ
ている。このスタッド内導体132とスタッド外周部1
33との絶縁はテフロンのような絶縁体134によって
行なっている。スタッド内導体132は例えばECL型
のICのように一電源を供給するような場合、またGaAs
(ガリウムヒ素)ICのように二電源を供給するような
場合の一方電源の供給用として用いる。
以上の構造のICチップ用パッケージを回路基板に搭載
するときには、回路基板上の信号導体パターンとパッケ
ージ内の信号導体パターン10とをハンダ付けあるいは
ボンディングワイヤによって直接接続すればよい。なお
このとき、回路基板上の特性インピーダンスが、パッケ
ージ内の信号導体パターン10の特性インピーダンスZ
と同じになるように、回路基板上のパターンを設計し
てあるものとする。ICパッケージの接地導体パターン
と回路基板の接地パターンとの接続は、放熱用スタッド
13すなわちスタッド外周部133を回路基板上の接地
パターンにハンダ付けする事で行なわれ、これにより高
周波的にも充分な接地が行なわれると共に、接地導体パ
ターン12との関係でマイクロストリップ線路となる信
号導体パターン10の特性インピーダンスZが高周波
にわたって一定に保たれる。これらによって、インダク
タンスやキャパシタンス等の寄生素子効果がほとんど無
しに、ICパッケージと回路基板上のパターンとを接続
することができる。また、放熱用スタッド13は電源と
は関係なくグランドに接地するのでICパッケージ及び
ICチップに対して高周波にわたった接地を充分行なわ
しめることができる。
(考案の効果) 以上述べた如く本考案によれば、従来のICチップ用パ
ッケージで生じていたようなインピーダンスの不整合が
実質的になくなり、寄生素子の効果著しく減少し、高周
波的接地が充分に行なえるようになるので、例えば動作
速度1Gb/s以上のICチップを容易に搭載して動作さ
せることが可能となる。さらには電源供給用導体パター
ンを信号導体パターンとは別に形成するためICチップ
用パッケージの許容電流容量が増大し、パッケージ自体
の信頼性が向上する。また、本考案のICチップ用パッ
ケージは比較的簡単な構造で構成できるため、製造が容
易であり比較的安価となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例であるICチップ用パッケー
ジの平面図、第2図及び第3図は第1図に示したICチ
ップ用パッケージの断面図、第4図は従来のICチップ
用パッケージの平面図、第5図は第4図に示した従来の
ICチップ用パッケージにICチップを搭載してなる集
積回路装置の断面図、第6図はECL型ICの回路の一
例を示す回路図である。 9……パッケージ本体、10……信号導体パターン、1
1……電源供給用導体パターン、12……接地導体パタ
ーン、13……放熱用スタッド、14……ICチップ、
15……ボンディングワイヤ、16……パッケージキャ
ップ、111……リード、135……チップ搭載部、1
34……絶縁体、133……スタッド、132……スタ
ッド内導体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 9355−4M H01L 23/12 E 23/36 C

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】フラットパックタイプの集積回路パッケー
    ジにおいて、中心部から外周方向に向って厚さが連続的
    に増加する第1部分と中心部から外周方向に向って厚さ
    が一定の第2部分とからなる誘電体基板と、前記第1部
    分の誘電体基板の表面に設けられ、前記中心部から前記
    外周方向に向って幅が前記第1部分の誘電体基板の厚さ
    に比例して増加することにより一定特性インピーダンス
    を持つ信号導体パターンと、前記第2部分の誘電体基板
    の表面に設けられ、前記中心部から前記外周方向に向っ
    て幅が一定の電源供給用導体パターンと、該電源供給用
    導体パターンの外周部に設けられ回路基板に搭載される
    際に電源接続部となるリードフレームと、前記誘電体基
    板の裏面のほぼ全体に設けられた接地導体パターンと、
    回路基板に搭載されるときに接続部となる放熱用スタッ
    ドとを有し、該放熱用スタッドは放熱用スタッド外周部
    が前記接地導体パターンと電気的に導通し、前記接地導
    体パターン及び前記スタッド外周部とは電気的に絶縁さ
    れ前記集積回路パッケージ内のチップ搭載部とは電気的
    に導通しているスタッド内導体部との二重構造を有して
    いることを特徴とする集積回路パッケージ。
JP1986053284U 1986-04-09 1986-04-09 集積回路パツケ−ジ Expired - Lifetime JPH066512Y2 (ja)

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