JPH11233877A - アレイ型レーザダイオード - Google Patents

アレイ型レーザダイオード

Info

Publication number
JPH11233877A
JPH11233877A JP10033410A JP3341098A JPH11233877A JP H11233877 A JPH11233877 A JP H11233877A JP 10033410 A JP10033410 A JP 10033410A JP 3341098 A JP3341098 A JP 3341098A JP H11233877 A JPH11233877 A JP H11233877A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser diode
electrode
array
type laser
stripe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10033410A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Yoneda
勲生 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP10033410A priority Critical patent/JPH11233877A/ja
Priority to US09/246,731 priority patent/US6353625B1/en
Priority to DE69900728T priority patent/DE69900728T2/de
Priority to EP99101769A priority patent/EP0936706B1/en
Publication of JPH11233877A publication Critical patent/JPH11233877A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0235Method for mounting laser chips
    • H01S5/02355Fixing laser chips on mounts
    • H01S5/0237Fixing laser chips on mounts by soldering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0235Method for mounting laser chips
    • H01S5/02375Positioning of the laser chips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0235Method for mounting laser chips
    • H01S5/02375Positioning of the laser chips
    • H01S5/0238Positioning of the laser chips using marks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04256Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/0234Up-side down mountings, e.g. Flip-chip, epi-side down mountings or junction down mountings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/02345Wire-bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • H01S5/227Buried mesa structure ; Striped active layer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【解決課題】 基板に接合する際の活性層に対する熱応
力を軽減できると共に、使用時の放熱性を向上させるこ
とができ、かつ高速で動作可能なアレイ型レーザダイオ
ードを提供する。 【手段】 内部にストライプ状の活性層3と、基板に実
装する実装面に該活性層と近接して設けられたストライ
プ状電極4とを備えるアレイ型レーザダイオードにおい
て、実装面においてストライプ状電極4と離間している
と共に電気的に接続している分岐接合電極6及び/又は
周囲から電気的に分離している島状接合電極7とを備え
る構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アレイ型レーザダ
イオードに関し、特に、基板に半田で実装する際の熱応
力を軽減し、更に放熱性を改良したアレイ型レーザダイ
オードに関する。
【0002】
【従来の技術】光インタコネクションに適用されるアレ
イ光送受信モジュールに使用するレーザダイオードは、
複数チャンネルが一体となったアレイ型素子であり、シ
リコン基板上にパッシブアライメント実装で固定して用
いる。この実装されたアレイ型レーザダイオードは、光
ファイバ又は光導波路と光学的に結合される。
【0003】レーザダイオードはp型基板とn型基板の
大きく2種類のタイプがあり、実装面に近接して活性層
が埋設され、実装面には活性層と平行にストライプ状電
極が設けられている。通常、レーザダイオードを活性層
が下側になるように実装面でシリコン基板に実装してい
る。
【0004】ここで、従来、p型基板アレイ型レーザダ
イオードをシリコン基板へ実装するときは、活性層の直
下の実装面に形成されたストライプ状カソード電極だけ
に半田で接合する構造であった。
【0005】実装の工程を説明すると、ストライプ状の
カソード電極とシリコン基板面に形成する電極パッドと
が実装したときに一致するように、アレイ型レーザダイ
オードにカソード電極をシリコン基板に電極パッドとを
それぞれ同一形状で形成する。接合に際しては、予めシ
リコン基板の電極パッドに半田層を形成しておく。室温
でシリコン基板の所定の位置にアレイ型レーザダイオー
ドを位置決めした後、シリコン基板全体を加熱して半田
層を溶融させ、電極パッドとカソード電極を接合する。
その後、室温に戻して溶融半田を固化させ、シリコン基
板の電極パッドとカソード電極とを半田を介して接合す
ることでアレイ型レーザダイオードをシリコン基板に固
定し、実装する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半田の
溶融温度から室温まで温度が下がるとき、半田接合面で
熱応力が発生する。この熱応力は半田接合面近傍の領域
に集中するので、カソード電極で発生した熱応力がカソ
ード電極に近接して配置されている活性層に伝わり、活
性層の特性劣化あるいは信頼性低下の原因となってい
た。
【0007】この活性層にかかる熱応力はチャンネル数
の増加に伴って大きくなるので、アレイ型レーザダイオ
ードのチャネル数は4チャンネル程度までが限界であっ
た。このため、現在主流である12チャネルのモジュー
ルを構成する場合、複数個のアレイ型レーザダイオード
が必要となり、実装工程が複数回になってコスト増加の
原因となっていた。
【0008】また、レーザ駆動時に発生する熱は、接合
面のカソード電極と基板の電極パッドを介して基板へ伝
わるが、接合面が小さいために熱が伝わりにくく、放熱
性が悪いことが問題となっていた。
【0009】そのため、これらの活性層にかかる熱応力
を低減することと放熱性を向上することを目的としてレ
ーザダイオードとシリコン基板の接合面積を大きくする
必要がある。
【0010】しかしながら、レーザダイオードを数GH
z程度の高速で動作させるために接合面積を小さくして
接合容量を減らす必要があり、そのため、接合電極の面
積は相反する要求が求められており、従来は、両立が困
難であった。
【0011】本発明は上記問題点にかんがみてなされた
ものであり、基板に接合する際の活性層に対する熱応力
を軽減できると共に、使用時の放熱性を向上させること
ができ、かつ高速で動作可能なアレイ型レーザダイオー
ドの提供を目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載のアレイ型レーザダイオードは、内部
にストライプ状の活性層と、基板に実装する実装面に該
活性層と近接して設けられたストライプ状電極とを備え
るアレイ型レーザダイオードにおいて、前記実装面にス
トライプ状電極と離間していると共に電気的に接続して
いる分岐接合電極を備える構成としてある。
【0013】このような構成の発明によれば、分岐接合
電極を備えているので、この分岐接合電極の面積の分だ
け従来より基板との接合面積が大きくなり、熱応力の緩
和、放熱性の改良が可能となる。しかも、活性層との接
合容量は、分岐接合電極がストライプ状電極から離間し
ているためほとんど増加がなく、そのため高速動作が可
能である。
【0014】請求項2記載のアレイ型レーザダイオード
は、内部にストライプ状の活性層と、基板に実装する実
装面に該活性層と近接して設けられたストライプ状電極
とを備えるアレイ型レーザダイオードにおいて、前記実
装面に周囲から電気的に分離している島状接合電極を備
える構成としてある。
【0015】このような構成の発明によれば、島状接合
電極の面積の分だけ従来より基板との接合面積が大きく
なり、熱応力の緩和、放熱性の改良が可能となり、その
上、この島状接合電極はストライプ状電極とは電気的に
分離しているため、接合容量の増加はなく、高速動作が
可能である。
【0016】請求項3記載のアレイ型レーザダイオード
は、内部にストライプ状の活性層と、基板に実装する実
装面に該活性層と近接して設けられたストライプ状電極
とを備えるアレイ型レーザダイオードにおいて、前記実
装面においてストライプ状電極と離間していると共に電
気的に接続している分岐接合電極と周囲から電気的に分
離している島状接合電極とを備える構成としてある。
【0017】このような構成の発明によれば、上記分岐
接合電極と上記島状接合電極との両方を備えているの
で、更に接合面積が増大し、かつ接合容量の増加はわず
かであり、熱応力の緩和、放熱性の改良が進と共に、高
速動作が可能である。
【0018】請求項4記載のアレイ型レーザダイオード
は、請求項1〜3のいずれかに記載のアレイ型レーザダ
イオードにおいて、前記ストライプ状電極の両側に溝が
形成され、該ストライプ状電極が溝で囲まれた凸面部に
形成されている構造を有する構成としてある。
【0019】このような構成の発明によれば、レーザダ
イオードがいわゆるメサ形(台形)であり、接合容量が
少ない構造であるので、高速動作を維持したまま接合面
積の増大を図ることが可能である。
【0020】請求項5記載のアレイ型レーザダイオード
は、請求項1〜4のいずれかに記載のアレイ型レーザダ
イオードにおいて、前記ストライプ状電極と前記活性層
の組み合わせを複数有する構成としてある。
【0021】このような構成の発明によれば、接合面積
が増大しているので、半田接合時の熱応力が緩和され、
従来より多チャンネル化が可能である。
【0022】請求項6記載のアレイ型レーザダイオード
は、請求項4記載のアレイ型レーザダイオードにおい
て、前記分岐接合電極とストライプ状電極が前記溝を挟
んで設けられている構成としてある。
【0023】このような構成の発明によれば、接合容量
の少ない高速動作が可能なメサ形レーザダイオードの接
合容量の増加させずに接合面積を増加させることが可能
となる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明のアレイ型レーザダ
イオードの一実施形態について図面を参照しながら説明
する。
【0025】図1は、本発明のアレイ型レーザダイオー
ドの1チャンネル分の一実施形態を示す斜視図である。
また、図2は図1のA−A線に沿った断面図であり、カ
ソード電極を下側にした状態を示している。
【0026】このアレイ型レーザダイオード1は、p型
基板のメサ型レーザである。p型基板2の上に設けられ
たストライプ状のp型又はn型の活性層3がn型層の表
面から5μm程度の距離で埋設されている。この発光部
としての活性層3に電流を供給するストライプ状のカソ
ード電極4が実装面において活性層に近接して平行に設
けられている。このストライプ状のカソード電極4の幅
方向両端部には溝5が形成されており、そのためカソー
ド電極4は台形(メサ)状の凸面部上に設けられ、接合
容量が小さくなるようになっている。
【0027】ストライプ状カソード電極4と溝5を挟ん
だメサの外側の両側の実装面の領域には本発明の特徴で
ある一対の分岐接合電極6と、一対の島状接合電極7が
設けられている。分岐接合電極6はストライプ状電極と
接続部6aで電気的に接続されている。一方、島状接合
電極7は周囲から絶縁され、電気的に独立した電極であ
る。これらの分岐接合電極6と島状接合電極7は、アレ
イ型レーザダイオード1を実装するシリコン基板のパッ
ド電極と半田で接合される半田接合用の電極である。接
合面積をできる限り大きくするために、分岐接合電極6
と島状接合電極7はそれぞれ矩形状となっており、活性
層を中心線として左右対称的に配置されている。
【0028】カソード電極4が形成されている実装面の
反対面全面にアノード電極8が設けられている。このア
ノード電極8は各チャンネル共通となっている。また、
図示していないが、アレイ型レーザダイオード1をシリ
コン基板上の所定の位置に精度良く実装するため、目合
わせ用の円形金属膜のマーカが実装面に形成されてい
る。
【0029】このアレイ型レーザダイオード1は、島状
接合電極7がカソード電極4と電気的に分離されてお
り、分岐接合電極6もメサ形から離間し、活性層から距
離があるため、カソード電極4の実効面積はほとんど増
加していない。そのため、接合容量の増加が最小限であ
り、高速で動作可能である。
【0030】図3は、図1に示したアレイ型レーザダイ
オード1の1チャンネル分の接合面を示す平面図であ
る。実装面の半分以上の面積を接合面が占め、大きな接
合面を有している。
【0031】また、図4は4チャンネル分のアレイ型レ
ーザダイオード1aの接合面を示す平面図である。カソ
ード電極4は各チャンネル毎に独立しており、前述した
アノード電極8は4チャンネルに共通である。図4では
4チャンネル分を示しているが、本発明のアレイ型レー
ザダイオードは1チャンネルでも12チャンネルでもよ
く、チャンネル数に制限はない。
【0032】一方、アレイ型レーザダイオードが実装さ
れるシリコン基板は、図示しないが、例えば厚みは62
5μmで、両面に厚さ0.5μmの酸化シリコン膜が形
成され、その酸化シリコン膜の上に図3又は図4に示し
たアレイ型レーザダイオードのカソード電極と同一のパ
ターンで電極パッドが形成されている。この電極パッド
は、例えば基板側からチタン、白金、金の順序の積層金
属膜で構成されている。また、目合わせ用のドーナツ状
の金属膜で構成されるマーカが形成されている。
【0033】このシリコン基板には、実装するアレイ型
レーザダイオードと光学的に結合する光ファイバ又は光
導波路が実装される。また、シリコン基板の電極パッド
には、例えば打ち抜き法、蒸着法、メッキ法等で例えば
AuSn半田層を形成しておく。
【0034】このようなシリコン基板にアレイ型レーザ
ダイオード1を実装する工程では、アレイ型レーザダイ
オード1をシリコン基板上の所定の位置に載置し、室温
でアレイ型レーザダイオード1とシリコン基板に形成さ
れているそれぞれのマーカをシリコン基板とアレイ型レ
ーザダイオード1を透過する赤外線を用いて位置合わせ
を行い、精度良く位置決めを行う。位置があったところ
でシリコン基板全体を加熱し、半田の溶融温度まで加熱
し、シリコン基板の電極パッドにカソード電極4、分岐
接合電極6及び島状接合電極7をそれぞれ接合する。接
合後、室温に戻して半田を固化させる。これにより、ア
レイ型レーザダイオード1はシリコン基板に固定、実装
される。
【0035】図5に、シリコン基板10に4チャンネル
のアレイ型レーザダイオード1を実装した状態を示す断
面図を示す。アレイ型レーザダイオード1のストライプ
状カソード電極4と、これと同一形状のシリコン基板側
のストライプ状のパッド電極11とが接合し、アレイ型
レーザダイオード1の分岐接合電極6とこれと同一形状
のシリコン基板側のパッド電極12とが接合し、更に、
アレイ型レーザダイオード1の島状接合電極7とこれと
同一形状のシリコン基板側のパッド電極13とが接合
し、これらの接合面でアレイ型レーザダイオード1とシ
リコン基板10が固定、実装されている。そして、アレ
イ型レーザダイオード1の駆動時に発生する熱は、これ
らの接合面からシリコン基板10へ伝わることになる。
【0036】この実装の際に、基板を加熱して半田を溶
融させて接合した後、室温に戻す過程で、半田接合部周
辺に熱応力が発生する。従来では、図6に示すように、
アレイ型レーザダイオード100のストライプ状カソー
ド電極104だけが接合面になっているため、カソード
電極104周辺に熱応力が集中し、カソード電極104
に近接している活性層に熱応力が集中的にかかってい
た。これに対して、図1に示した本発明のアレイ型レー
ザダイオード1では、図4に示したように、半田接合す
る電極面積が広く、接合面積が実装面の大きな面積を占
めているため、実装面のほぼ全体に熱応力が均一に発生
する。これにより、活性層3に熱応力が集中することが
なく、活性層3の特性劣化や信頼性低下を招くおそれは
少なくなる。
【0037】活性層3にかかる熱応力はアレイ型レーザ
ダイオードのチャンネル数の増加に伴って大きくなるの
で、従来は4チャンネル程度が限界であった。これに対
し、本発明のアレイ型レーザダイオード1は活性層3に
かかる熱応力を緩和できるため、一つの素子のチャンネ
ル数を増加させることが可能であり、これによって多チ
ャンネルのダイオードを実装する場合に、実装数を減少
させ、コスト低減を図ることが可能となる。
【0038】また、レーザ駆動時に発生する熱は、アレ
イ型レーザダイオード1から接合面を介してシリコン基
板10に伝わるため、シリコン基板10は放熱体の役割
も有する。しかし、従来は図6に示したように、細いス
トライプ状カソード電極104を介して熱が伝達されて
いたため、放熱性が悪く、高出力が達成できなかった。
これに対し、本発明のアレイ型レーザダイオード1は、
シリコン基板10との熱伝達は、ストライプ状カソード
電極4に加えて分岐接合電極6と島状接合電極7で行わ
れるため、伝達面積が広い。そのため、放熱性が良好で
あり、高出力が達成できる。
【0039】上記実施形態では、ストライプ状電極4、
分岐接合電極6、島状接合電極7全てで接合を行ってい
たが、ストライプ状電極4は活性層に電流を供給させる
役割をすればよいので、分岐接合電極6と島状接合電極
7とを接合してストライプ状電極4は接合しなくてもよ
い。
【0040】また、分岐接合電極6と島状接合電極7の
配置や形状は、接合面積と伝熱面積を増加させる本発明
の目的から、例えば円形や楕円形、方向の異なる長方形
の組み合わせなど、制限はない。
【0041】更に、上記説明ではアレイ型レーザダイオ
ードはp型基板のメサ形であったが、n形基板でも良
く、更にメサ形以外のレーザダイオードでもよいことは
勿論である。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のアレイ型
レーザダイオードによれば、接合面積を接合容量の増加
なしに増加させたことにより、高速で動作可能であると
共に、活性層の信頼性の向上と放熱性の改良を達成する
ことができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のアレイ型レーザダイオードの1チャン
ネル分の一実施形態を示す斜視図である。
【図2】図1のA−A線に沿った断面図である。
【図3】本発明のアレイ型レーザダイオードの1チャン
ネル分の接合面の一実施形態を示す平面図である。
【図4】本発明のアレイ型レーザダイオードの4チャン
ネル分の接合面の一実施形態を示す平面図である。
【図5】本発明のアレイ型レーザダイオードをシリコン
基板に実装した状態を示す断面図である。
【図6】従来のアレイ型レーザダイオードの接合面を示
す平面図である。
【符号の説明】 【符号の説明】
1 アレイ型レーザダイオード 2 p型基板 3 活性層 4 ストライプ状電極 5 溝 6 分岐接合電極 6a 接続部 7 島状接合電極 8 アノード電極 10 シリコン基板 11,12,13 パッド電極

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部にストライプ状の活性層と、基板に
    実装する実装面に該活性層と近接して設けられたストラ
    イプ状電極とを備えるアレイ型レーザダイオードにおい
    て、 前記実装面にストライプ状電極と離間していると共に電
    気的に接続している分岐接合電極を備えることを特徴と
    するアレイ型レーザダイオード。
  2. 【請求項2】 内部にストライプ状の活性層と、基板に
    実装する実装面に該活性層と近接して設けられたストラ
    イプ状電極とを備えるアレイ型レーザダイオードにおい
    て、 前記実装面に周囲から電気的に分離している島状接合電
    極を備えることを特徴とするアレイ型レーザダイオー
    ド。
  3. 【請求項3】 内部にストライプ状の活性層と、基板に
    実装する実装面に該活性層と近接して設けられたストラ
    イプ状電極とを備えるアレイ型レーザダイオードにおい
    て、 前記実装面においてストライプ状電極と離間していると
    共に電気的に接続している分岐接合電極と、周囲から電
    気的に分離している島状接合電極とを備えることを特徴
    とするアレイ型レーザダイオード。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載のアレイ
    型レーザダイオードにおいて、 前記ストライプ状電極の両側に溝が形成され、該ストラ
    イプ状電極が溝で囲まれた凸面部に形成されている構造
    を有することを特徴とするアレイ型レーザダイオード。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載のアレイ
    型レーザダイオードにおいて、 前記ストライプ状電極と前記活性層の組み合わせを複数
    有することを特徴とするアレイ型レーザダイオード。
  6. 【請求項6】 請求項4記載のアレイ型レーザダイオー
    ドにおいて、 前記分岐接合電極とストライプ状電極が前記溝を挟んで
    設けられていることを特徴とするアレイ型レーザダイオ
    ード。
JP10033410A 1998-02-16 1998-02-16 アレイ型レーザダイオード Pending JPH11233877A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10033410A JPH11233877A (ja) 1998-02-16 1998-02-16 アレイ型レーザダイオード
US09/246,731 US6353625B1 (en) 1998-02-16 1999-02-09 Array type laser diode
DE69900728T DE69900728T2 (de) 1998-02-16 1999-02-12 Mehrfachanordnung von Laserdioden
EP99101769A EP0936706B1 (en) 1998-02-16 1999-02-12 Array type laser diode

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10033410A JPH11233877A (ja) 1998-02-16 1998-02-16 アレイ型レーザダイオード

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11233877A true JPH11233877A (ja) 1999-08-27

Family

ID=12385832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10033410A Pending JPH11233877A (ja) 1998-02-16 1998-02-16 アレイ型レーザダイオード

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6353625B1 (ja)
EP (1) EP0936706B1 (ja)
JP (1) JPH11233877A (ja)
DE (1) DE69900728T2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100381846C (zh) * 2003-12-26 2008-04-16 株式会社东芝 光传输线和多芯光波导的保持器
JP2011014632A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Sony Corp 半導体レーザ
JP2021170673A (ja) * 2017-08-28 2021-10-28 オスラム オーエルイーディー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOSRAM OLED GmbH 端面発光型のレーザバー
CN113687521A (zh) * 2021-07-30 2021-11-23 哈尔滨工业大学 基于波前校正的低像差高精度二维光电自准直方法与装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002314184A (ja) * 2001-04-11 2002-10-25 Nec Corp 光半導体モジュール
JP2006012899A (ja) * 2004-06-22 2006-01-12 Sharp Corp 半導体レーザ素子および半導体レーザ素子の製造方法
US8456393B2 (en) * 2007-05-31 2013-06-04 Nthdegree Technologies Worldwide Inc Method of manufacturing a light emitting, photovoltaic or other electronic apparatus and system
DE102009058345B4 (de) 2009-12-15 2021-05-12 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Halbleiterlaser
DE102010045782B4 (de) 2010-09-17 2018-09-06 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zum Herstellen eines kantenemittierenden Halbleiterlasers und kantenemittierender Halbleiterlaser

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52129291A (en) * 1976-04-21 1977-10-29 Sharp Corp Semiconductor laser device
JPS63276287A (ja) * 1987-05-08 1988-11-14 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
JPS6457782A (en) * 1987-08-28 1989-03-06 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor laser
JPH03206678A (ja) * 1990-01-08 1991-09-10 Nec Corp 半導体レーザー
JPH0555712A (ja) * 1991-08-27 1993-03-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体光デバイス及びその組立方法
JPH0567840A (ja) * 1991-09-10 1993-03-19 Toshiba Corp マルチビーム半導体レーザ装置
JPH07335969A (ja) * 1994-06-08 1995-12-22 Hitachi Ltd 半導体レーザ素子及び半導体レーザアレイ素子
JPH09129970A (ja) * 1995-10-31 1997-05-16 Nec Corp レーザダイオード素子

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58124972A (ja) 1982-01-20 1983-07-25 Nec Corp 半導体装置の信頼性試験方法
JPS6461085A (en) 1987-09-01 1989-03-08 Nec Corp Semiconductor laser
JPH02103987A (ja) 1988-07-22 1990-04-17 Nec Corp 半導体レーザアレイ装置
JPH05152683A (ja) 1991-06-28 1993-06-18 Fuji Xerox Co Ltd マルチビーム半導体レーザーアレイ
JP2937740B2 (ja) 1994-04-11 1999-08-23 日本電気株式会社 分布帰還型半導体レーザ
JP2861858B2 (ja) * 1995-03-30 1999-02-24 日本電気株式会社 多重量子井戸レーザダイオード
JP3732551B2 (ja) * 1995-05-15 2006-01-05 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP3635470B2 (ja) * 1995-08-25 2005-04-06 富士通株式会社 光送信器用半導体光源および光送信モジュール

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52129291A (en) * 1976-04-21 1977-10-29 Sharp Corp Semiconductor laser device
JPS63276287A (ja) * 1987-05-08 1988-11-14 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
JPS6457782A (en) * 1987-08-28 1989-03-06 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor laser
JPH03206678A (ja) * 1990-01-08 1991-09-10 Nec Corp 半導体レーザー
JPH0555712A (ja) * 1991-08-27 1993-03-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体光デバイス及びその組立方法
JPH0567840A (ja) * 1991-09-10 1993-03-19 Toshiba Corp マルチビーム半導体レーザ装置
JPH07335969A (ja) * 1994-06-08 1995-12-22 Hitachi Ltd 半導体レーザ素子及び半導体レーザアレイ素子
JPH09129970A (ja) * 1995-10-31 1997-05-16 Nec Corp レーザダイオード素子

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100381846C (zh) * 2003-12-26 2008-04-16 株式会社东芝 光传输线和多芯光波导的保持器
JP2011014632A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Sony Corp 半導体レーザ
US8619826B2 (en) 2009-06-30 2013-12-31 Sony Corporation Laser diode
JP2021170673A (ja) * 2017-08-28 2021-10-28 オスラム オーエルイーディー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOSRAM OLED GmbH 端面発光型のレーザバー
US11411375B2 (en) 2017-08-28 2022-08-09 Osram Oled Gmbh Edge-emitting laser bar
US11923662B2 (en) 2017-08-28 2024-03-05 Osram Oled Gmbh Edge-emitting laser bar
CN113687521A (zh) * 2021-07-30 2021-11-23 哈尔滨工业大学 基于波前校正的低像差高精度二维光电自准直方法与装置
CN113687521B (zh) * 2021-07-30 2024-02-09 哈尔滨工业大学 基于波前校正的低像差高精度二维光电自准直方法与装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6353625B1 (en) 2002-03-05
DE69900728D1 (de) 2002-02-28
EP0936706A1 (en) 1999-08-18
EP0936706B1 (en) 2002-01-02
DE69900728T2 (de) 2002-09-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI249253B (en) Holder of optical transmission lines and multi-core optical wave-guide
JP5582868B2 (ja) 光デバイス
US5644586A (en) Semiconductor laser device and method of fabricating semiconductor laser device
US10608404B2 (en) Bonded laser with solder-free laser active stripe in facing relationship with submount
US6959125B2 (en) Printed board unit for optical transmission and mounting method
JPH11233877A (ja) アレイ型レーザダイオード
US6574379B2 (en) Optical device and its manufacturing method
JPS62276892A (ja) 電子部品
JPH11220204A (ja) アレイ型半導体レーザ装置およびその製造方法
JP2527054B2 (ja) 光モジュ―ル用サブマウント及びその製造方法
JP2001111156A (ja) 光モジュール
JPH0878778A (ja) 半導体レーザ装置,及びその製造方法
JP2000164971A (ja) アレイ型レーザダイオード及び製造方法
JP2000022279A (ja) 光素子の実装構造
JP2903095B2 (ja) フォトカップラ装置
JP2002031731A (ja) ハイブリッド光集積回路
US20210057884A1 (en) Semiconductor laser and projector
JP3884903B2 (ja) 光モジュール、光伝送装置及びその製造方法
JPH02252273A (ja) Ledアレイチップとヒートシンク基板との接合方法
JP3348122B2 (ja) 光伝送モジュール及びその製造方法
JP2004014659A (ja) 半導体レーザ装置
JP3379726B2 (ja) 光伝送モジュール及びその製造方法
JPH08228045A (ja) 半導体レーザのマウント構造
WO2021059752A1 (ja) レーザ発光素子およびレーザ発光装置
JP2001185800A (ja) 光モジュール