JPH10177190A - アクティブマトリクス基板、該アクティブマトリクス基板を用いた液晶装置、及び該液晶装置を用いた表示装置 - Google Patents

アクティブマトリクス基板、該アクティブマトリクス基板を用いた液晶装置、及び該液晶装置を用いた表示装置

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JPH10177190A
JPH10177190A JP9277474A JP27747497A JPH10177190A JP H10177190 A JPH10177190 A JP H10177190A JP 9277474 A JP9277474 A JP 9277474A JP 27747497 A JP27747497 A JP 27747497A JP H10177190 A JPH10177190 A JP H10177190A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶表示装置において、画素サイズの縮小
と、信号線の容量を低減し、これにより、高精細で、チ
ップサイズの小さい液晶表示装置を実現する。また、こ
れにより、ビデオ線容量を低減し、外部駆動系の駆動力
を小さくすることにより、高速化、低コスト化を実現す
る。 【解決手段】 マトリクス状に配された複数の信号線及
び複数の駆動線、前記駆動線と前記信号線の交点に対応
して設けられ、ソース領域が前記信号線に、ゲート領域
が前記駆動線にそれぞれ接続されたトランジスタ、及び
前記トランジスタのドレイン領域に接続された画素電
極、とを有するアクティブマトリクス基板であって、前
記ソース領域を、隣接する前記トランジスタ108,1
09どうしで共通化し、前記信号線101に接続したこ
とを特徴とするアクティブマトリクス基板。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、アクティブマトリ
クス基板、該アクティブマトリクス基板と液晶を用いて
画像・文字などを表示する液晶装置及びこれを用いた表
示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、世の中はマルチメディア時代に入
り、画像情報でコミュニケーションを図る機器の重要性
がますます高まりつつある。なかでも、液晶表示装置
は、薄型で消費電力が小さいため注目され、半導体にな
らぶ基幹産業にまで成長している。
【0003】液晶表示装置は、現在、10インチサイズ
のノートサイズのパソコンに主に使用されている。そし
て、将来は、パソコンのみでなく、ワークステーション
や家庭用のテレビとして、さらに画面サイズの大きい液
晶表示装置が使用されると考えられる。しかし、画面サ
イズの大型化にともない、製造装置が高価になるばかり
でなく、大画面を駆動するためには、電気的に厳しい特
性が要求される。このため、画面サイズの大型化ととも
に、製造コストが、サイズの2〜3乗に比例するなど急
増する。
【0004】そこで、最近、小型の液晶表示パネルを作
製し、光学的に像を拡大して表示するプロジェクション
(投影)方式が注目されている。これは、半導体の微細
化にともない、性能やコストが良くなるスケーリング則
と同様に、サイズを小さくして、特性を向上させ、同時
に、低コスト化も図ることができるからである。
【0005】これらの点から、液晶表示パネルをTFT
型としたとき、小型で十分な駆動力を有するTFTが要
求され、TFTもアモルファスSiを用いたものから多
結晶Siを用いたものに移行しつつある。通常のテレビ
に使われるNTSC規格などの解像度レベルの映像信号
は、あまり高速の処理を必要としない。このため、TF
Tのみでなく、シフトレジスタもしくはデコーダといっ
た周辺駆動回路まで多結晶Siで製造して、表示領域と
周辺駆動回路が一体構造になった液晶表示装置ができ
る。
【0006】しかし、多結晶Siでも、単結晶Siには
およばず、NTSC規格より解像度レベルの大きい高品
位テレビや、コンピュータの解像度規格でいうXGA、
SXGAクラスの表示を実現しようとすると、シフトレ
ジスタなどは複数に分割配置せざるを得ない。この場
合、分割のつなぎ目に相当する表示領域にゴーストと呼
ばれるノイズが発生し、その問題を解決する対策がこの
分野では望まれている。
【0007】そこで、多結晶Siの一体構造の表示装置
より、駆動力が極めて高い単結晶Si基板を用いる表示
装置も注目を集めている。この場合、周辺駆動回路のト
ランジスタの駆動力は申し分ないので、上述したような
分割駆動をする必要はない。このため、ノイズなどの問
題は解決できる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これま
での液晶表示装置は、液晶の駆動電圧が比較的大きなも
のであり、これに伴なってトランジスタの耐圧も大きく
ならざるを得ず、画素サイズの縮小を図ることは容易で
はなかった。又、微細化により配線幅や配線スペースを
小さくしたとしても、それに伴なう信号線容量の増加、
信号線抵抗の増加により信号線の時定数を小さくするこ
とが難しいため、満足のゆくところまで高精細で、チッ
プサイズの小さい液晶表示装置を実現することが難しい
というのが実状である。
【0009】また、ビデオ線容量が大きく、外部駆動系
に大きな駆動力が必要なため、高速化、低コスト化を実
現できないという課題もある。
【0010】[発明の目的]本発明の目的は、液晶表示
装置において、画素サイズの縮小と、信号線の容量を低
減し、これにより、高精細で、チップサイズの小さい液
晶表示装置を実現することにある。
【0011】また、これにより、ビデオ線容量を低減
し、外部駆動系の駆動力を小さくすることにより、高速
化、低コスト化を実現することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するための手段として、マトリクス状に配された複数
の駆動線(走査線)及び複数の信号線、前記駆動線(走
査線)と前記信号線の交点に対応して設けられ、ソース
領域が前記信号線に、ゲート領域が前記駆動線(走査
線)にそれぞれ接続されたトランジスタ、及び前記トラ
ンジスタのドレイン領域に接続された画素電極、とを有
するアクティブマトリクス基板であって、前記ソース領
域を、隣接する前記トランジスタどうしで共通化し、前
記信号線に接続したことを特徴とするアクティブマトリ
クス基板を提供するものである。
【0013】本発明の更に別の手段は、マトリクス状に
配された複数の駆動線(走査線)及び複数の信号線、前
記駆動線(走査線)と前記信号線の交点に対応して設け
られ、ソース領域が前記信号線に、ゲート領域が前記駆
動線(走査線)にそれぞれ接続されたトランジスタ、及
び前記トランジスタのドレイン領域に接続された画素電
極、とを有するアクティブマトリクス基板と、前記アク
ティブマトリクス基板に対向する対向基板と、の間に液
晶材料を配して構成した液晶装置であって、前記ソース
領域を、隣接する前記トランジスタどうしで共通化し、
前記信号線に接続したことを特徴とする液晶装置を提供
するものである。
【0014】また、本発明の別の手段は、前記液晶装置
を配して構成したことを特徴とする表示装置を提供する
ものである。
【0015】[作用]本発明によれば、 ・ 液晶表示装置を構成する隣同士の画素スイッチトラ
ンジスタのソース領域及びソース電極又はドレイン領域
及びドレイン電極を共通にして配置することにより、高
集積化が図れ、サイズの縮小が可能となる。 ・ また、CMOS構成の画素スイッチを各画素電極下
に構成するのではなく、NMOSのみを画素電極下に持
つ画素と、PMOSのみを画素電極下に持つ画素を隣接
して配置することによってMOSトランジスタをより高
密度に集積することができる。これは、極性の異なるM
OSを隣接させる際に必要とされる異なるウェルを分離
するための領域が必要なくなるためである。このことに
より、画素サイズの縮小が可能となり、表示装置の高精
細化、チップサイズの縮小による低コスト化を図ること
が可能となった。 ・ 更に、本発明によれば、信号線の寄生容量を低減す
ることが可能である。信号線の容量は、主に配線層の容
量と信号線に接続されるソース電極とウェル間の接合容
量よりなり、この接合容量は、ほぼソース領域の面積で
決まるため、本発明によりソース領域の容量は、格段に
小さくなる。 ・ 更に、信号線の容量を低減することにより、ビデオ
線から信号線への転送に必要とされる時間を少なくする
ことが可能となり、高速駆動が可能となる。 ・ また、ビデオ線から信号線へ映像信号を転送する転
送スイッチのサイズを同様に、縮小することができるた
め、チップサイズの縮小およびビデオ線自体の寄生容量
を低減することができる。このことにより、パネルに映
像信号を入力するドライバの駆動力を低減することがで
き、駆動系の高速化、低コスト化をはかることが可能で
ある。 ・ また、本発明では、図3(後述)に示すように、n
MOSでいうところのn + 領域は、2つのトランジスタ
で1つしかない。このような構成をとることにより、信
号線につく容量を大幅に減少することが可能となる。す
なわち2トランジスタのソースを共通化すれば、信号線
につくソース容量は半減する。さらに信号線方向の距離
もソースを共通化することで、削減できるため、信号線
自体の配線が短くなり、信号線容量が減少し、信号線の
配線抵抗が減少する。従って、信号線の書き込み特性は
大きく改善され、高階調の信号書き込みが、実現でき
る。
【0016】さらに、チップサイズも小さくなることか
ら、高歩留まり、チップ取れ数の増加につながり、低コ
スト化が実現できる。 ・ また、信号線容量、抵抗がさがり、信号線への書き
込み特性が上がることにより、サンプリングスイッチの
サイズを小さくできることから、チップサイズの縮小と
共に、サンプリングスイッチのソースに接続されている
アナログ信号の映像信号線(ビデオ線)の容量が減少
し、周辺回路の付加低減、消費電力の削減につながり、
低コスト化、高性能化が実現できる。特に、高解像度化
が進み画素数が多くなればなるほど、この効果は絶大
で、有効なものになる。 ・ またこの構成は、TFTに限らず、Siウエハに直
接nMOSトランジスタもしくはpMOSトランジスタ
を作り込む場合にも同様に適応できることは言うまでも
ない。画素サイズは、TFTを用いた場合、画素スイッ
チがCMOSトランジスタの場合よりも小さくすること
が可能で、さらに信号線容量及び信号線抵抗の低減が実
現でき、高階調の信号書き込み低コスト化等液晶パネル
の高性能化が実現できる。しかしながら、CMOSトラ
ンジスタを用いた場合と異なり、画素スイッチが基板バ
イアスの効果を受けることから書き込み電圧以上に電源
電圧が高くなる特徴があり、低電圧液晶駆動に主に適し
ている構成といえる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明するが、本発明は、これら実施の形態に限定され
るものではない。
【0018】また、液晶装置(パネル)は、半導体基板
を用いたものを例として記載したが、必ずしも半導体基
板に限定されるものではなく、ガラス等の透明基板を用
いることもできる。
【0019】液晶パネルのスイッチング素子としては、
すべてMOSFETやTFTを挙げたが、ダイオード型
などの2端子型であってもいい。
【0020】さらに、以下に説明する液晶パネルは、家
庭用テレビはもちろん、プロジェクター、ヘッドマウン
トディスプレイ、3次元映像ゲーム機器、ラップトップ
コンピュータ、電子手帳、テレビ会議システム、カーナ
ビゲーション、飛行機のパネルなどの表示装置として有
効である。
【0021】[実施形態1]本発明の実施形態1を図1
を参照して説明する。本実施形態では画素スイッチとし
てCMOSトランスファーゲートタイプのスイッチ素子
を用いた。
【0022】図1は、本発明の概念を説明するための図
であり、液晶パネルの画素部付近の等価回路図の一例で
あり、液晶プロジェクター装置に用いられるものの例で
ある。
【0023】図1において、101,118は信号線、
107〜111は画素部のスイッチングトランジスタ、
115,117は液晶、114,116は保持容量、1
02〜106は駆動線(走査線)、112はp型領域、
113,119はn型領域である。本実施形態ではnM
OSトランジスタ107とpMOSトランジスタ108
で1つの画素スイッチとしている。
【0024】図2は、図1の回路のタイミング図であ
る。
【0025】図2において、まず駆動線102,103
が同期して、画素スイッチトランジスタ107,108
をオン状態にするべく信号が入力される。このオン状態
時に、水平のシフトレジスタが順次動作し、信号線に信
号を伝達し、まず、信号線101の信号線電位が変化
し、画素スイッチ107,108を通して保持容量11
4に電荷が蓄積され、115で示す液晶に電圧を印加す
る。次いで信号線118の電位が変化し、順次画素に電
位が書き込まれていく。1列全て書き込まれた後に、駆
動線102,103がオフし、今度は駆動線104,1
05が、画素スイッチトランジスタ109,110をオ
ン状態にするべく信号が入力され、後は同様である。全
パネル書き込んだ後、再びこの動作が繰り返される。
【0026】本回路構成で特徴的なことは、トランジス
タ108と109で代表されるように隣同士の画素スイ
ッチトランジスタのソースが共通であることである。ト
ランジスタ108と109のソースが共通であっても、
信号線101の電位Aを書き込む時はトランジスタ10
7,108はオン状態であり、保持容量114にA電位
が書き込まれるが、トランジスタ109はオフ状態であ
ることから保持容量116にAの電位が印加されること
はない。
【0027】図3は、本実施形態の素子の一例を示す模
式的平面図である。また、図4は、図3のA−A′断面
図である。
【0028】図3、及び図4において、1000は、P
WLの領域を示しており、NMOS1005,1006
はPWL1000中に構成されている。一方PMOS1
007,1008はNwellもしくはN型基板中に構
成されている。
【0029】NMOS1005のゲートはゲート線10
09と接続されており、ドレイン電極1013は画素電
極1001と配線層(図示されていない)を介して接続
される。また、ソース電極1014は配線層(図示され
ていない)で形成される信号線に接続されている。
【0030】NMOS1006のゲートはゲート線10
10と接続されており、ドレイン電極1015は配線層
(図示されていない)を介して画素電極1003と接続
されている。
【0031】また、NMOS1006のソース電極10
14はNMOS1005のソース電極1014と共通に
なっている。
【0032】一方、PMOS1007のゲートはゲート
線1011と接続されており、ドレイン電極1016は
nMOSのドレイン電極1015とつながり画素電極1
003と配線層(図示されていない)を介して接続され
る。また、ソース電極1017は配線層(図示されてい
ない)で形成される信号線に接続されている。
【0033】PMOS1008のゲートはゲート線10
12と接続されており、ドレイン電極1018は配線層
(図示されていない)を介して画素電極1019と接続
されている。
【0034】また、PMOS1007のソース電極10
17はPMOS1008のソース電極1017と共通に
なっている。
【0035】この様に、CMOS構成の画素スイッチを
各画素電極下に構成するのではなく、NMOSのみを画
素電極下に持つ画素と、PMOSのみを画素電極下に持
つ画素を隣接して配置することによってMOSトランジ
スタをより高密度に集積することができる。これは、極
性の異なるMOSを隣接させる際に必要とされる異なる
ウェルを分離するための領域が必要なくなるためであ
る。このことにより、画素サイズの縮小が可能となり、
表示装置の高精細化、チップサイズの縮小による低コス
ト化を図ることが可能となった。
【0036】また、本実施形態では、NMOS100
5,1006のソース領域1014が、さらに、PMO
S1007,1008のソース領域1017が共通化さ
れている。このことにより、さらに高集積化が図られて
いる。このことを、図4のA−A′断面図を用いて説明
する。図4に示すように、NMOS1005,1006
はPWL1000中に構成されており、そのソース電極
1014はNMOS1005,1006で共通になって
いる。各MOSのソース、ドレイン領域は濃いn型半導
体領域1100,1101,1102および低濃度のn
型半導体領域1103よりなる。低濃度領域を設けるこ
とによりトランジスタのソース、ドレイン耐圧を向上さ
せることが可能となる。なお、この領域の構成方法とし
ては、マスクオフセット、DDD、サイドウォールLD
Dなどがあげられる。
【0037】図4のA−A′断面図を示すように、ソー
ス領域の共通化を行った場合と行わなかった場合の比較
を行う。仮に、低濃度領域1103の幅を2μm、濃い
n型領域1101の幅を4μm、コンタクトサイズを2
μm、LOCOSによる素子分離幅を2μmとすると、
NMOS1005のゲート1009からNMOS100
6のゲートの間の距離は、 (共通化した場合):2+4+2=8μm; (共通化しない場合):2(薄いn領域)+4(濃いn
領域)+2(素子分離)+4(濃いN領域)+2(薄い
n領域)=14μm; となる。
【0038】つまり、この例では共通化により6μmサ
イズの縮小が可能となった。PMOSについても同様に
ソース領域の共通化を行うことができる。
【0039】さらに、本実施形態では信号線の寄生容量
を低減することが可能である。信号線の容量は、主に配
線層の容量と信号線に接続されるソース電極とウェル間
の接合容量よりなる。接合容量は、ほぼソース領域の面
積で決まり、本発明によりソース領域の容量は、上述し
た計算値である8μmと14μmを用いれば、8/14
=57%となる。
【0040】仮に、信号線容量の1/2がソースの接合
容量とすると、本発明により信号線の容量は従来の85
%程度にすることが可能である。
【0041】信号線の容量を低減することにより、ビデ
オ線から信号線への転送に必要とされる時間を少なくす
ることが可能となり、高速駆動が可能となる。また、ビ
デオ線から信号線へ映像信号を転送する転送スイッチの
サイズを縮小することができ、チップサイズの縮小およ
びビデオ線自体の寄生容量を低減することができる。こ
のことにより、パネルに映像信号を入力するドライバの
駆動力を低減することができ、駆動系の高速化、低コス
ト化をはかることが可能である。
【0042】図3に示すように、本実施形態では、nM
OSでいうところのn+ 領域は、2つのトランジスタで
1つしかない。
【0043】このような構成をとることにより、信号線
につく容量を大幅に減少することが可能となる。すなわ
ち2トランジスタのソースを共通化すれば信号線につく
ソース容量は半減する。さらに信号線方向の距離もソー
スを共通化することで、削減できるため、信号線自体の
配線が短くなり、信号線容量が減少し、信号線の配線抵
抗が減少する。従って、信号線の書き込み特性は大きく
改善され、高階調の信号書き込みが、実現できる。さら
に、チップサイズも小さくなることから高歩留まり、チ
ップ取れ数の増加につながり、低コスト化が実現でき
る。また信号線容量、抵抗がさがり、信号線への書き込
み特性が上がることにより、サンプリングスイッチのサ
イズを小さくできることから、チップサイズの縮小と共
に、サンプリングスイッチのソースに接続されているア
ナログ信号の映像信号線(ビデオ線)の容量が減少し、
周辺回路の付加低減、消費電力の削減につながり、低コ
スト化、高性能化が実現できる。特に、高解像度化が進
み画素数が多くなればなるほど、この効果は絶大で、有
効なものになる。
【0044】1024×768画素を表示するXGA規
格の画素を有する液晶パネルについて、具体的に説明す
る。
【0045】図3のレイアウトを例に取ると、1画素の
サイズは、ソースを共通化しない場合が23μm角に対
して、2つのトランジスタのソースを共通化すると、2
0μm角で形成できる。この時、信号線容量はソースを
共通化しない場合に比べて2つのトランジスタのソース
を共通化すると、ソース容量として57%、配線容量と
して、20/23に削減され、全体として15%小さく
なる。配線抵抗は配線幅を同じとすると20/23にな
り、およそ13%削減でき、CR値としては、25%も
小さくできた。
【0046】さらに液晶パネルの画素部分の面積はソー
スを共通化しない場合が17.664mm×23.55
2mmに対して、2つのトランジスタのソースを共通化
すると、15.36mm×20.48mmで形成でき面
積比率としては3/4になり、上記に述べたような効果
が十分に得られ、従来に比べて、低コスト、高解像度の
液晶パネルが実現できるようになった。
【0047】[実施形態2]図5に示すように、画素ス
イッチトランジスタとして、ポリシリコンもしくはアモ
ルファスシリコンを用いたTFT(Thin Film
Transistor)を用いた例について説明す
る。
【0048】図5は、本例の液晶装置の特徴を説明する
ための模式的平面図である。
【0049】図5において、201は信号線、202は
画素部TFTの共通ソース部、203は電極1(20
7)に対するTFTのドレイン部、204は電極2(2
08)に対するTFTのドレイン部、205,206は
駆動線(走査線)で、駆動線205は203と202で
形成されるTFTのゲート線に対応し、一方駆動線20
6は208と202で形成されるTFTのゲート線に対
応する。207,208はそれぞれ反射電極で、ドレイ
ン203と電極1(207)が接続されている。
【0050】本実施形態の駆動方法は、基本的には実施
形態1と変わらない。すなわち、実施形態1で説明した
図2の102に駆動線205が対応し、104に駆動線
206が対応する。図2の103,105は不要であ
る。
【0051】またこの構成は、TFTに限らず、Siウ
エハに直接nMOSトランジスタもしくはpMOSトラ
ンジスタを作り込む場合にも同様に適応できることは言
うまでもない。
【0052】本実施例の画素サイズは実施形態1で記述
した画素スイッチがCMOSトランジスタの場合よりも
小さくすることが可能であり、さらに信号線容量及び信
号線抵抗の低減が実現でき、高階調の信号書き込み、低
コスト化等、液晶パネルの高性能化が実現できる。
【0053】しかしながら、実施形態1と異なり、画素
スイッチが基板バイアスの効果を受けることから書き込
み電圧以上に電源電圧が高くなる特徴があり、低電圧液
晶駆動に主に適している構成といえる。
【0054】ここでスイッチングトランジスタを構成す
る半導体層としてポリシリコン(多結晶シリコン)を用
い、透過型の液晶装置を作製するプロセスについて図6
を用いて説明する。
【0055】まずn型もしくはp型基板201に部分的
に9×1012/cm2 のドーズ量、60KeVでボロン
をイオン注入し、p型ウェル領域204を形成する(n
型ウェル領域を形成する場合もある)。ドライブは例え
ば1150℃等の温度で840分程度、若干の酸素を混
入した雰囲気等で行うがこれらの値に限定されないこと
は言うまでもない。次いでpad酸化膜と窒化膜を形成
後パターニングし、Field酸化膜202を形成す
る。窒化膜150と酸化膜111(窒化膜を酸化したり
してもよい)を形成後、画素領域でパターニングする。
【0056】ついで画素部のトランジスタを形成する多
結晶Siを堆積する。多結晶Siは、例えば0.1−
1.0Torrの減圧下で、600−700℃の温度
で、窒素で希釈されたシランガスを熱分解し、即ちCV
D(Chemical Vapor Depositi
on)装置で50−400nmの厚さで形成させるが特
に限定されることはない。レジスト塗布後パターニング
し、多結晶Siをパターニング後除去する。ゲート酸化
膜105,160を、画素部のTFT(ThinEil
m Transistor)領域と周辺回路部とを同時
に形成する。例えば酸化温度はTFTの多結晶Siの粒
径を増大させるために、1150℃の酸素雰囲気下で行
うが特に限定されない。850℃−1200℃の温度で
の酸素雰囲気もしくは酸素と水素の混合ガス内で酸化し
たり、もしくはNSG等の堆積膜でも構わない。ついで
ゲート電極としての多結晶Si106,206を形成
し、その後周辺回路部と画素部のソース、ドレイン領域
をイオン注入により形成する。例えばnMOSのソー
ス、ドレイン領域103,203bは燐のイオン注入で
5×1015/cm2 、95KeV、pMOSのソース、
ドレイン領域はBF2 のイオン注入で3×1015/cm
2 、100KeV等の条件で形成する。この時NLDも
しくはPLDで濃度の低い領域(107,203a)を
作成しリーク電流を抑制することが好ましいBPSG
(Boron−Phospho Silicate G
lass)やNSG(Non−doped Silic
ate Glass),PSG(phosphorus
Silicate Glass)等の層間絶縁膜11
0をたとえば600nm形成後にコンタクトホールのパ
ターニングをし、ついで配線層を形成する。例えば本実
施例ではバリアメタルとしてTiNを用いシリコンが
0.5−2%ドープされたAl配線108を用いた。電
極材料としては通常の半導体やTFTプロセスで使用さ
れる材料である、他のAl合金、W,Ta,Ti,C
u,Cr,Moまたはこれらのシリサイド等でも構わな
い。適宜使用される。電極層をパターニング後さらに層
間絶縁膜601を形成後に裏面をエッチングマスク71
2を配した後、パターニングする。次に遮光膜であるT
i602をスパッタ法により堆積、パターニング後に、
容量形成のための絶縁膜109、例えば200−400
℃の温度で、シランガスとアンモニアガス、またはシラ
ンガスとN2 Oの混合ガスをプラズマ中で分解、堆積し
て形成し、その後350−500℃の温度で水素ガス又
は水素ガスと窒素ガス等の不活性ガスとの混合ガス中で
10−240分間熱処理して多結晶シリコンを水素化す
る。スルーホールを開けた後に透明電極としてITO5
08を形成する。その後に対向電極との間に液晶611
を注入し、裏面を画素部下酸化膜までエッチングする。
【0057】次に低温Poly−SiTFTに用いたと
きのプロセスについて図7を用いて説明する。
【0058】まず、ガラス基盤111をバッファー酸化
し、ついで厚さ約50nmのa−Si膜を通常のLPC
VD法を用いて堆積させる。その後KrFエキシマレー
ザーの照射により多結晶化したシリコン層103を形成
する。ついで10〜100nmの酸化膜105を成膜
し、ゲート酸化膜を形成する。ゲート電極106を形成
後、ソース・ドレイン(152,103,107)をイ
オンドーピング法で形成する。不純物の活性化を例えば
窒素雰囲気下でのアニールにより行った後500nm程
度の絶縁膜110を形成する。次いで、コンタクトホー
ルをパターニングした後、配線層108a,108bを
形成する。
【0059】例えば、TiN膜をスパッタ法で堆積して
108aを形成した後、Al−Si膜をスパッタ法で堆
積して108bを形成し、2つの膜を同時にパターニン
グする。
【0060】次に遮光膜であるTi602をスパッタ法
により堆積、パターニング後に、容量形成のための絶縁
膜109、例えば200−400℃の温度で、シランガ
スとアンモニアガス、またはシランガスとN2 Oの混合
ガスをプラズマ中で分解、堆積して形成し、その後35
0−500℃の温度で水素ガス又は水素ガスと窒素ガス
等の不活性ガスとの混合ガス中で10−240分間熱処
理して多結晶シリコンを水素化する。スルーホールを開
けた後に透明電極としてITO508を形成する。その
後に対向電極との間に液晶611を注入する。対向基板
としては、ガラス基板621上にブラックマトリクス6
22、カラーフィルター623、ITO透明共通電極6
24、保護膜625及び配向膜626が形成されたもの
が用いられている。
【0061】[実施形態3]図8は、本発明の液晶パネ
ル部の1例を示す模式断面図である。
【0062】図8において、1は、半導体基板、2,
2′は、それぞれp型、n型ウェル、3,3′は、トラ
ンジスタのドレイン領域、4は、ゲート、5,5′は、
ソース領域である。
【0063】図6からわかるように、表示領域のトラン
ジスタは、20〜35Vという高耐圧が印加されるた
め、ゲートに対して、自己整合的にソース、ドレイン層
が形成されず、オフセットをもたせ、その間に3′,
5′に示す如く、低濃度のn- ,p- 層が設けられる。
ちなみにオフセット量は0.5〜2.0μmが好適であ
る。
【0064】一方、周辺回路の一部の回路部が図8に示
されているが、周辺部の一部の回路は、ゲートに自己整
合的にソース、ドレイン層が形成されている。
【0065】ここでは、ソース、ドレインのオフセット
について述べたが、有無だけでなくオフセット量をそれ
ぞれの耐圧に応じて変化させたり、ゲート長の最適化が
有効である。これは、周辺回路の一部は、ロジック系回
路であり、この部分は、上述1.5〜5V系駆動でよい
ため、トランジスタサイズの縮小及び、トランジスタの
駆動力向上のため、上記自己整合構造が設けられてい
る。
【0066】本基板1は、p型半導体からなり、基板
は、最低電位(通常は、接地電位)であり、n型ウェル
は、表示領域の場合、画素に印加する電圧すなわち20
〜35Vがかかり、一方、周辺回路のロジック部は、ロ
ジック駆動電圧1.5〜5Vがかかる。この構造によ
り、それぞれ電圧に応じた最適なデバイスを構成でき、
チップサイズの縮小のみならず、駆動スピードの向上に
よる高画素表示が実現可能になる。
【0067】6は、フィールド酸化膜、10は、データ
配線につながるソース電極、11は、画素電極につなが
るドレイン電極、12は、画素電極である。7は、表示
領域、周辺領域を覆う遮光層であり、Ti,TiN,
W,Mo等が適している。図8からわかるように、上記
遮光層は、表示領域では、画素電極と、ソース電極との
接続部を除いて、覆っているが、周辺画素領域では、一
部ビデオ線、クロック線等、配線容量が重くなる領域で
は、上記遮光層を除き、上記遮光層が除かれた部分は照
明光の光が混入し、回路の誤動作を起こす場合は画素電
極層を覆う設計になっており、高速信号が転送可能な工
夫が為されている。
【0068】8は、遮光層下部の絶縁層であり、P−S
iO層上にSOGにより平坦化処理を施し、その層をさ
らに、P−SiOでカバーし、絶縁層の安定性を確保し
た。SOGによる平坦化以外に、P−TEOS膜を形成
し、さらにP−SiOをカバーした後、絶縁層をCMP
処理し、平坦化する方法を用いても良い事は言うまでも
ない。
【0069】9は、反射電極と、遮光層との間に設けら
れた絶縁層で、この絶縁層を介して反射電極の電荷保持
容量となっている。大容量形成のために、SiO2 以外
に、高誘電率のP−SiN,Ta25 、やSiO2
の積層膜等が有効である。遮光層にTi,TiN,M
o,W等の平坦なメタル上に設ける事により、500〜
5000オングストローム程度の膜厚が好適である。
【0070】14は、液晶材料、15は、共通透明電
極、16は、共通電極基板(対向基板)、17,17′
は、高濃度不純物領域、19は、表示領域、20は、反
射防止膜である。
【0071】図8からわかるように、トランジスタ下部
に形成されたウェルと同一極性の高濃度不純物層17,
17′は、ウェルの周辺部及び内部に形成されており、
高振幅な信号がソースに印加されても、ウェル電位は、
低抵抗層で所望の電位に固定されているため、安定して
おり、高品位な画像表示が実現できた。さらにn型ウェ
ルとp型ウェルとの間には、フィールド酸化膜を介して
上記高濃度不純物層17,17′が設けられており、通
常MOSトランジスタの時に使用されるフィールド酸化
膜直下のチャネルストップ層を不要にしている。
【0072】これらの高濃度不純物層は、ソース、ドレ
イン層形成プロセスで同時にできるので作製プロセスに
おけるマスク枚数、工数が削減され、低コスト化が図れ
た。
【0073】次に13は、共通透明電極と、対向基板と
の間に設けられた反射防止用膜で界面の液晶の屈折率を
考慮して、界面反射率が軽減されるように構成される。
その場合、対向基板と、透過電極の屈折率よりも小さい
絶縁膜が好適である。
【0074】図8において、半導体基板1p型になって
いるが、n型でもよい。また、ウェル領域2は、半導体
基板1と反対の導電型にする。このため、図8では、ウ
ェル領域2はp型になっている。p型、n型のウェル領
域2及び2′は、半導体基板1よりも高濃度に不純物が
注入されていることが望ましく、半導体基板1の不純物
濃度が1014〜1015(cm-3)のとき、ウェル領域2
の不純物濃度は1015〜1017(cm-3)が望ましい。
【0075】ソース電極10は、表示用信号が送られて
くるデータ配線に、ドレイン電極11は画素電極12に
接続する。これらの電極10,11には、通常Al,A
lSi,AlSiCu,AlGeCu,AlCu配線を
用いる。これらの電極10,11の下部に、TiとTi
Nからなるバリアメタル層を用いると、コンタクトが安
定に実現できる。またコンタクト抵抗も低減できる。
【0076】画素電極12は、表面が平坦で、高反射材
が望ましく、通常の配線用金属であるAl,AlSi,
AlSiCu,AlGeCu,AlC,AlCu以外に
Cr,Au,Agなどの材料を使用することが可能であ
る。また、平坦性の向上のため、下地絶縁層や画素電極
12の表面をケミカルメカニカルポリッシング(CM
P)法によって処理するとよい。
【0077】図9は、このような液晶表示装置の回路図
である。
【0078】図9において、21は水平シフトレジス
タ、22は垂直シフトレジスタ、23はnチャンネルM
OSFET、24はpチャンネルMOSFET、25は
保持容量、26は液晶、27は信号転送スイッチ、28
はリセットスイッチ、29はリセットパルス入力端子、
30はリセット電極端子、31は映像信号入力端子であ
る。
【0079】図9に示す保持容量25は、図8に示す画
素電極12と共通透明電極15の間の信号を保持するた
めの容量である。ウェル領域2には、基板電位を印加す
る。
【0080】本例では、各行のトランスミッションゲー
ト構成を、上から1行目は上がnチャンネルMOSFE
T23で下がpチャンネルMOSFET24、2行面は
上がpチャンネルMOSFET24で下がnチャンネル
MOSFET23となるように、隣り合う行で順序を入
れ換える構成にしている。以上のように、ストライプ型
ウェルで表示領域の周辺で電源線とコンタクトしている
だけでなく、表示領域にも、細い電源ラインを設けコン
タクトをとっている。
【0081】なお、この時、ウェルの抵抗の安定化がカ
ギになる。したがって、p型基板であれば、nウェルの
表示領域内部でのコンタクト面積又はコンタクト数をp
ウェルのコンタクトより増強する構成を採用した。pウ
ェルは、p型基板で一定電位がとられているため、基板
が低抵抗体としての役割を演ずる。したがって、島状に
なるnウェルのソース、ドレインへの信号の入出力によ
る振られの影響が大きくなりやすいが、それを上部の配
線層からのコンタクトを増強することで防止でき、これ
により、安定した高品位な表示が実現できた。
【0082】映像信号(ビデオ信号、パルス変調された
デジタル信号など)は、映像信号入力端子31から入力
され、水平シフトレジスタ21からのパルスに応じて信
号転送スイッチ27を開閉し、各データ配線に出力す
る。垂直シフトレジスタ22からは、選択した行のnチ
ャンネルMOSFET23のゲートへはハイパルス、p
チャンネルMOSFETのゲートへはローパルスを印加
する。
【0083】以上のように、画素部のスイッチは、単結
晶のCMOSトランスミッションゲートで構成されてお
り、画素電極へ書き込む信号が、MOSFETのしきい
値に依存せず、ソースの信号をフルに書き込める利点を
有する。
【0084】又、スイッチが、単結晶トランジスタから
成り立っており、poly si−TFTの結晶粒界で
の不安定な振る舞い等がなく、バラツキのない高信頼性
な高速駆動が実現できる。
【0085】次に、パネル周辺回路の構成について、図
10を用いて説明する。
【0086】図10は、パネル周辺回路の構成を示す模
式的ブロック図である。
【0087】図10において、32はレベルシフター回
路、33はビデオ信号サンプリングスイッチ、34は水
平シフトレジスタ、35はビデオ信号入力端子、36は
垂直シフトレジスタ、37は表示領域である。
【0088】以上に示す構成により、H,Vともにシフ
トレジスタ等のロジック回路は、ビデオ信号振幅によら
ず、1.5〜5V程度と極めて低い値で駆動でき、高
速、低消費電圧化が達成できた。ここでの水平、垂直シ
フトレジスタは、走査方向は選択スイッチにより双方向
可能なものとなっており、光学系の配置等の変更に対し
て、パネルの変更なしに対応でき、製品の異なるシリー
ズにも同一パネルが使用でき低コスト化が図れるメリッ
トがある。
【0089】又、図10においては、ビデオ信号サンプ
リングスイッチ33は、片側極性の1トランジスタ構成
のものを記述したが、これに限らず、CMOSトランス
ミッションゲート構成にすることにより入力ビデオ線を
すべてを信号線に書き込むことができることは、言うま
でもない。
【0090】又、CMOSトランスミッションゲート構
成にした時、NMOSゲートとPMOSゲート面積や、
ゲートと、ソース、ドレインとの重なり容量の違いによ
り、ビデオ信号に振られが生じる課題がある。これには
それぞれの極性のサンプリングスイッチ33のMOSF
ETのゲート長の約1/2のゲート長のMOSFETの
ソースとドレインとを信号線にそれぞれ接続し、逆相パ
ルスで印加することにより振られが防止でき、きわめて
良好なビデオ信号が信号線に書き込まれた。これによ
り、さらに高品位の表示が可能になった。
【0091】次に、ビデオ信号と、サンプリングパルス
の同期を正確にとる方法について、図11を用いて説明
する。このためには、サンプリングパルスのディレイ量
を変化させる必要がある。
【0092】図11は、ビデオ信号と、サンプリングパ
ルスの同期との関係を説明するための同期回路を含む液
晶装置の回路図である。
【0093】図11において、42は、パルスディレイ
用インバータ、43は、どのディレイ用インバータを選
択するかを決めるスイッチ、44はディレイ量が制御さ
れた出力、45は、容量(outBは逆相出力、out
は同相出力)、46は、保護回路である。
【0094】SEL1(SEL1B)からSEL3(S
EL3B)の組み合わせにより、ディレイ用インバータ
42を何個通過するかが選択できる。
【0095】この同期回路をパネルに内蔵している事に
より、パネル外部からのパルスのディレイ量が、R.
G.B3板パネルのとき、治具等の関係で対称性がくず
れても、上記選択スイッチで調整でき、R.G.Bのパ
ルス位相高域による位置ずれがない良好な表示画像が得
られた。又、パネル内部に温度測定ダイオードを内蔵さ
せ、その出力によりディレイ量をテーブルから参照し温
度補正することも有効である事は言うまでもない。
【0096】次に、液晶材との関係について説明する。
図8では、平坦な対向基板構造のものを示したが、共通
電極基板16は、共通透明電極15の界面反射を防ぐた
め、凹凸を形成し、その表面に共通透明電極15を設け
ている。また、共通電極基板16の反対側には、反射防
止膜20を設けている。これらの凹凸形状の形成のため
に、微少な粒径の砥粒により砂ずり研磨をおこなう方式
も高コントラスト化に有効である。
【0097】液晶材料としては、ポリマー・ネットワー
ク液晶PNLCを用いた。ただし、ポリマー・ネットワ
ーク液晶として、ポリマー分散液晶PDLCなどを用い
てもいい。ポリマー・ネットワーク液晶PNLCは、重
合相分離法によって作製される。液晶と重合性モノマー
やオリゴマーで溶液をつくり、通常の方法でセル中に注
入した後UV重合によって液晶と高分子を相分離させ、
液晶中に網目状に高分子を形成する。PNLCは多くの
液晶(70〜90wt%)を含有している。
【0098】PNLCにおいては、屈折率の異方性(Δ
n)の高いネマチック液晶を用いると光散乱が強くな
い、誘電異方性(Δε)の大きいネマチック液晶を用い
ると低電圧で駆動が可能となる。ポリマー・ネットワー
クの大きさ、すなわち網目の中心間距離が1〜1.5
(μm)の場合、光散乱は高コントラストを得るのに十
分強くなる。
【0099】次に、シール構造と、パネル構造との関係
について、図12を用いて説明する。
【0100】図12は、シール構造と、パネル構造との
関係を説明するための模式的平面図である。
【0101】図12において、51はシール材、52は
電極パッド、53は、クロックバッファー回路、54
は、アンプである。このアンプは、パネル電気検査時の
出力アンプとして使用するものである。55は、対向基
板の電位をとるAgペースト部56は、表示部、57
は、SR等の周辺回路部である。
【0102】図12からわかるように、本例では、シー
ルの内部にも、外部にも、トータルチップサイズが小さ
くなるように、回路が設けられている。本例では、パッ
ドの引き出しをパネルの片辺側の1つに集中させている
が、長辺側でも良く、又、一辺でなく、多辺からの取り
出しも高速クロックを取り扱う時に有効である。
【0103】液晶表示装置を構成するに際し、Si基板
を用いた場合、プロジェクタのように強力な光が照射さ
れ、基板の側壁に光があたると、基板電位が変動し、パ
ネルの誤動作を引き起こす可能性がある。したがって、
パネルの側壁及び、パネル上面の表示領域の周辺回路部
は、遮光できる基板ホルダーとするのが望ましい。又、
Si基板の裏面は、熱伝導率の高い接着剤を介して熱伝
導率の高いCu等のメタルが接続されたホルダー構造と
するのが望ましい。
【0104】本発明の液晶表示装置の画素電極は、反射
型電極として構成することが可能であり、この場合、電
極表面をケミカルメカニカルポリッシング(CMP)に
より研磨しておくと電極表面は、凹凸のない鏡面状態が
得られるので都合が良い。このCMPを用いた方法は、
メタルをパターニングしてから、研磨する通常の方法と
は異なり、電極パターンが形成されるところにあらかじ
め電極形成用の溝をエッチングより絶縁領域中に形成し
ておき、メタルを成膜した後、電極パターンが形成され
ない領域上のメタルを研磨で取り除くとともに、電極パ
ターン領域上のメタルを絶縁領域まで平坦化する方法で
ある。この方法を採用する場合、配線の幅が配線以外の
領域よりも極めて広く、従来のエッチング装置の常識で
は、エッチングすると、エッチング中にポリマーが堆積
し、パターニングができなくなるという問題が生じてし
まう。
【0105】そこで従来の酸化膜系エッチング(CF4
/CHF3 系)におけるエッチング条件について検討し
た。
【0106】図13は、エッチング処理の良否を示す図
である。
【0107】図13において、(a)は、従来のトータ
ル圧力1.7torrの場合を示し、(b)は、本例
の、1.0torrの場合を示す。
【0108】従来の条件で、デポジション性のガスCH
3 を減らすと、確かにポリマーの堆積は、減少する
が、レジストに近いパターンと遠いパターンでの寸法の
違い(ローディング効果)がきわめて大きくなり、使用
できない事がわかる。
【0109】この図よりローディング効果を抑えるた
め、徐々に圧力を下げていくと、1torr以下になる
とローディング効果がかなり抑制され、かつCHF3
ゼロにし、CF4 のみによるエッチングが有効であるこ
とが理解される。
【0110】さらに、画素電極領域は、ほとんどレジス
トが存在せず、周辺部はレジストで占められている。構
造体を形成するのは難しく、構造として、画素電極と同
等の形状(ダミー画素)を表示領域の周辺部まで設ける
事が有効であることがわかった。
【0111】このような構造にすることにより、従来あ
った表示部と周辺部もしくはシール部との段差もなくな
り、ギャップ精度が高くなり、面内均一圧が高くなるだ
けでなく、注入時のムラもへり、高品位の画質が歩留り
よくできる効果が得られる。
【0112】次に本発明の反射型液晶パネルを組み込む
光学システムについて図14を用いて説明する。
【0113】図14は、本発明の反射型液晶パネルを組
み込む光学システムの模式的構成図である。
【0114】図14において、71は、光源、72は光
源像をしぼり込む集光レンズ、73,75はフレネルレ
ンズ、74は、色分解光学素子であり、ダイクロイック
ミラー、回折格子等が有効である。
【0115】76は、R.G.B光に分離された光を
R.G.B3パネルに導くミラー、77は、集光ビーム
をパネルに平行光で照明するための視野レンズ、78
は、反射型液晶素子、79の位置に絞り(不図示)があ
る。80は投射レンズ、81はスクリーンで、通常、投
射光を平行光へ変換するフレネルレンズと上下、左右に
広視野角に表示するレンチキュラレンズの2板より得
る。
【0116】図14の図面では、1色のパネルのみ記載
されているが、実際には、3板パネルが配置されてい
る。又、反射パネル表面にマイクロレンズアレーを設
け、異なる入射光を異なる画素領域に照射させる配置を
とることにより、3板のみならず、単板構成でも可能で
あることは言うまでもない。
【0117】液晶素子78の液晶層に電圧が印加され、
各画素で正反射した光は、79に示す絞りを透過し、ス
クリーン81上に投射される。
【0118】一方、電圧が印加されずに、液晶層が散乱
体となっている時に、反射型液晶素子78へ入射した光
は、等方的に散乱し、79に示す絞りの開口を見込む角
度の中の散乱光以外は、投射レンズ80に入らず、これ
により黒を表示する。
【0119】以上の光学系からわかるように、偏光板が
不要で、しかも画素電極の全面が高反射率で信号光が投
射レンズに入るため、従来よりも2−3倍明るい表示が
実現できる。本例では対向基板表面、界面には、反射防
止対策が施されており、ノイズ光成分も極めて少なく、
高コントラスト表示が実現できる。又、パネルサイズが
小さくできるため、すべての光学素子(レンズ、ミラー
等)が、小型化され、低コスト、軽量化が達成できる。
【0120】又、光源の色ムラ、輝度ムラ、変動は、光
源と光学系との間にインテグレータ(はえの目レンズ型
ロッド型)を挿入することにより、スクリーン上での色
ムラ、輝度ムラは、解決できる。
【0121】図15は、パネル以外の周辺電気回路を示
す図である。
【0122】図15において、85は、電源で、主にラ
ンプ用電源とパネルや信号処理回路駆動用システム電源
に分離される。86は、プラグ、87はランプ温度検出
器で、ランプの温度の異常があれば、制御ボード88に
よりランプを停止させる等の制御を行う。これは、ラン
プに限らず、89のフィルタ安全スイッチでも同様に制
御される。たとえば、高温ランプハウスボックスを開け
ようとした場合、ボックスが開かなくなるような安全上
の対策が施されている。90はスピーカー、91は音声
ボードで、要求に応じて3Dサウンド、サラウンドサウ
ンド等のプロセッサも内蔵できる。92は、拡張ボード
1で、S端子、コンポジット映像、音声等の外部装置9
6からの入力端子、及びどの信号を選択するかの選択ス
イッチ95、チューナ94からなり、デコーダ93を介
して拡張ボード2へ信号が送られる。拡張ボード2は、
おもに、別系列からのビデオやコンピュータのDsub
l5ピン端子を有し、スイッチ100を介して、A/D
コンバータ101でデジタル信号に変換される。103
は、主にメモリとCPUとからなるメインボードであ
る。
【0123】A/D変換したNTSC信号は、一端メモ
リに蓄積され、高画素数へうまく割り当てるために、不
足の信号を補間して作成したり、液晶表示素子に適した
γ変換エッジ強調、ブライト調整、バイアス調整等の信
号処理を行う。
【0124】また、NTSC信号でなく、コンピュータ
信号も、たとえばVGAの信号が来れば、高解像度のX
GAパネルの場合、その解像度変換処理も行う。一画像
データだけでなく、複数の画像データNTSC信号にコ
ンピュータ信号を合成させる等の処理もこのメインボー
ドで行う。メインボードの出力はシリアル・パラレル変
換され、ノイズの影響を受けにくい形態でヘッドボード
104に送られる。再度パラレル・シリアル変換後、D
/A変換し、パネルのビデオ線数に応じて、アンプを介
して、パネル105,106,107へ信号を書き込
む。102は、リモコン操作パネルで、コンピュータ画
面も、TVと同様の感覚で、簡単操作可能となってい
る。
【0125】[実施形態4]ここでは、本発明の液晶装
置(パネル)にマイクロレンズを設けた所謂単板式のフ
ルカラー表示装置について説明する。
【0126】本出願人は、従来のマイクロレンズ付表示
パネルを用いた投射型表示装置においてはR.G.Bの
モザイク構造が目立ち、表示画像の品位が著しく低下す
るという点を解決するものとして、特願平9−7264
6号において、新規な表示パネルを提案した。特願平9
−72646号で提案した表示パネルは、第1、第2、
第3の色画素の3つの色画素のうちの第1、第2の色画
素の組み合わせを第1方向に、該第1、第3の色画素の
組み合わせを該第1方向と異なる第2方向に該第1の色
画素を共有するように配置した画素ユニットを基板上に
所定のピッチで2次元的に配列した画素ユニットアレイ
と、該第1方向と第2方向の2つの色画素のピッチを1
ピッチとするマイクロレンズを複数個、該基板上の画素
ユニットアレイ上に2次元的に配列したマイクロレンズ
アレイとを有している表示パネルである。
【0127】ここでは、特願平9−72646号におい
て提案された表示パネルを、本発明の液晶装置及び表示
装置に適用した例について説明する。
【0128】図16は本例の表示パネルを用いた投写型
液晶表示装置の光学系の要部概略図である。図16
(a)はその上面図、図16(b)は正面図、図16
(c)は側面図を表している。
【0129】同図において1301は投影レンズであ
り、マイクロレンズ付の液晶装置を用いた表示パネル
(液晶パネル)1302で表示した画像情報を所定面上
に投影している。1303は偏光ビームスプリッター
(PBS)であり、例えばS偏光を透過し、P偏光を反
射している。1340はR(赤色光)反射ダイクロイッ
クミラー、1341はB/G(青色&緑色光)反射ダイ
クロイックミラー、1342はB(青色光)反射ダイク
ロイックミラー、1343は全色光を反射する高反射ミ
ラー、1350はフレネルレンズ、1351は凸レンズ
(正レンズ)、1306はロッド型インテグレーター、
1307は楕円リフレクターであり、その中心にメタル
ハライドや、UHP等のアークランプ(光源)1308
の発光面1308aが配置されている。
【0130】ここで、R(赤色光)反射ダイクロイック
ミラー1340、B/G(青色&緑色光)反射ダイクロ
イックミラー1341、B(青色光)反射ダイクロイッ
クミラー1342はそれぞれ図17(a),(b),
(c)に示したような分光反射特性を有している。そし
てこれらのダイクロイックミラーは高反射ミラー134
3とともに図18の斜視図に示したように3次元的に配
置されており、後述するように光源1308からの白色
照明光をR.G.Bの3つの色光に色分解するとともに
液晶パネル1302に対して各原色光が3次元的に異な
る方向から該液晶パネルを照明するようにしている。
【0131】ここで、光源1308からの光束の進行過
程に従って説明すると、まずランプ1308からの出射
した白色光束は、楕円リフレクター1307によりその
前方のインテグレータ1306の入り口(入射面)13
06aに集光され、このインテグレータ1306内を反
射を繰り返しながら進行するにつれて光束の空間的強度
分布が均一化される。そしてインテグレータ1306の
出射口1306bを出射した光束は凸レンズ1351と
フレネルレンズ1350とによりx軸−方向(図16
(b)基準)に平行光束化され、まずB反射ダイクロイ
ックミラー1342に至る。
【0132】このB反射ダイクロイックミラー1342
ではB光(青色光)のみが反射されz軸−方向つまり下
側(図16(b)基準)にz軸に対して所定の角度でR
反射ダイクロイックミラー1340に向かう。一方B光
以外の色光(R/G光)はこのB反射ダイクロイックミ
ラー1342を通過し、高反射ミラー1343により直
角にz軸−方向(下側)に反射されやはりR反射ダイク
ロイックミラー1340に向かう。
【0133】ここでB反射ダイクロイックミラー134
2と高反射ミラー1343は共に図16(a)を基にし
て言えば、インテグレータ1306からの光束(x軸−
方向)をz軸−方向(下側)に反射するように配置して
おり、高反射ミラー1343はy軸方向を回転軸にxy
平面に対して丁度45°の傾きとなっている。それに対
してB反射ダイクロイックミラー1342はやはりy軸
方向を回転軸にxy平面に対してこの45°よりも浅い
角度に設定されている。
【0134】従って、高反射ミラー1343で反射され
たR/G光はz軸−方向に反射されるのに対して、B反
射ダイクロイックミラー1342で反射されたB光はz
軸に対して所定の角度(xz面内チルト)で下方向に向
かう。ここで、B光とR/G光の液晶パネル1302上
の照明範囲を一致させるため、各色光の主光線は液晶パ
ネル1302上で交差するように、高反射ミラー134
3とB反射ダイクロイックミラー1342のシフト量お
よびチルト量が選択されている。
【0135】次に、前述のように下方向(z軸−方向)
に向かったR.G.B光はR反射ダイクロイックミラー
1340とB/G反射ダイクロイックミラー1341に
向かうが、これらはB反射ダイクロイックミラー134
2と高反射ミラー1343の下側に位置し、まず、B/
G反射ダイクロイックミラー1341はx軸を回転軸に
xz面に対して45°傾いて配置されており、R反射ダ
イクロイックミラー1340はやはりx軸方向を回転軸
にxz平面に対してこの45°よりも浅い角度に設定さ
れている。
【0136】従ってこれらに入射するR.G.B光のう
ち、まずB/G光はR反射ダイクロイックミラー134
0を通過して、B/G反射ダイクロイックミラー134
1により直角にy軸+方向に反射され、PBS1303
を通じて偏光化された後、xz面に水平に配置された液
晶パネル1302を照明する。
【0137】このうちB光は前述したように、(図16
(a)、図16(b)参照)既x軸に対して所定の角度
(xz面内チルト)で進行しているため、B/G反射ダ
イクロイックミラー1341による反射後はy軸に対し
て所定の角度(xy面内チルト)を維持し、その角度を
入射角(xy面方向)として該液晶パネル1302を照
明する。G光についてはB/G反射ダイクロイックミラ
ー1341により直角に反射しy軸+方向に進み、PB
S1303を通じて偏光化された後、入射角0°つまり
垂直に該液晶パネル1302を照明する。
【0138】またR光については、前述のようにB/G
反射ダイクロイックミラー1341の手前に配置された
R反射ダイクロイックミラー1340によりR反射ダイ
クロイックミラー1340にてy軸+方向に反射される
が、図16(c)(側面図)に示したようにy軸に対し
て所定の角度(yz面内チルト)でy軸+方向に進み、
PBS1303を通じて偏光化された後、該液晶パネル
1302をこのy軸に対する角度を入射角(yz面方
向)として照明する。
【0139】また、前述と同様にR.G.Bの各色光の
液晶パネル1302上の照明範囲を一致させるため、各
色光の主光線は液晶パネル1302上で交差するように
B/G反射ダイクロイックミラー1341とR反射ダイ
クロイックミラー1340のシフト量およびチルト量が
選択されている。
【0140】さらに、図17に示したようにB/G反射
ダイクロイックミラー1341のカット波長は570n
m、R反射ダイクロイックミラー1340のカット波長
は600nmであるから、不要な橙色光はB/G反射ダ
イクロイックミラー1341を透過して光路外に捨てら
れる。これにより最適な色バランスを得ている。
【0141】そして後述するように液晶パネル1302
にて各R.G.B光は反射&偏光変調され、PBS13
03に戻り、PBS1303のPBS面1303aにて
x軸+方向に反射し、この光束は投影レンズ1に入射す
る。投影レンズ1は液晶パネル1302に表示された画
像をスクリーン(不図示)に拡大投影している。
【0142】該液晶パネル1302を照明する各R.
G.B光は入射角が異なるため、そこから反射されてく
る各R.G.B光もその出射角を異にしているが、投影
レンズ1301としてはこれらを全て取り込むに十分な
大きさのレンズ径及び開口のものを用いている。ただ
し、投影レンズ1301に入射する光束の傾きは、各色
光がマイクロレンズを2回通過することにより平行化さ
れ、液晶パネル1302への入射光の傾きを維持してい
る。
【0143】ところが図28に示したように従来例の透
過型の液晶パネルLPでは、液晶パネルLPを出射した
光束はマイクロレンズ1316の集光作用分も加わって
より大きく広がってしまうので、この光束を取り込むた
めの投影レンズはさらに大きな開口数が求められ、大型
の投影レンズとなっていた。
【0144】図28において、1316は複数のマイク
ロレンズ1316aを所定のピッチで配列したマイクロ
レンズアレイ、1317は液晶層、1318はR(赤
色)、G(緑色)、B(青色)の各色画素である。
【0145】赤、緑、青色の各色の照明光R.G.Bを
それぞれ異なる角度から液晶パネルLPに当て、マイク
ロレンズ1316aの集光作用により各色光がそれぞれ
異なる色画素1318に入射するようにしている。これ
によって、カラーフィルターを不要とすると共に高い光
利用率を可能にした表示パネルを構成している。このよ
うな表示パネルを用いた投写型表示装置は単板液晶パネ
ルにても明るいフルカラー映像を投写表示することがで
きるようになっている。
【0146】しかしながら、このようなマイクロレンズ
付の表示パネルを用いた投射型表示装置では、その投写
表示画像のR.G.Bの各色画素1318がスクリーン
上に拡大投影されたものとなる。このため、図29に示
したようにR.G.Bのモザイク構造が目立ってしま
い、これが表示画像の品位を著しく低下してしまうとい
う欠点を有していたのである。
【0147】これに対して本例では液晶パネル1302
からの光束の広がりはこのように比較的小さくなるの
で、より小さな開口数の投影レンズでもスクリーン上で
十分に明るい投影画像を得ることができ、より小型な投
影レンズを用いることが可能になる。且つR.G.Bの
モザイク構造が目立つのが抑えられるのである。
【0148】ここで本発明に係る液晶パネル1302に
ついて説明する。図19は、本例に係る液晶パネル13
02の拡大断面模式図(図19のyz面に対応)であ
る。
【0149】1321はマイクロレンズ基板(ガラス基
板)、1322はマイクロレンズ、1323はシートガ
ラス、1324は透明対向電極、1325は液晶層、1
326は画素電極、1327はアクティブマトリクス駆
動回路部、1328はシリコン半導体基板である。マイ
クロレンズ1322はいわゆるイオン交換法によりガラ
ス基板(アルカリ系ガラス)1321の表面上に形成さ
れており、画素電極1326のピッチの倍のピッチで2
次元的アレイ構造を有し、これによりマイクロレンズア
レイを成している。
【0150】液晶層1325は反射型に適応したいわゆ
るDAP、HAN等のECBモードのネマチック液晶を
採用しており、不図示の配向層により所定の配向が維持
されている。画素電極1326はAl(アルミ)から成
り反射鏡を兼ねており、表面性を良くして反射率を向上
させるためパターニング後の最終工程で前述したCMP
処理を施している。
【0151】アクティブマトリクス駆動回路部1327
はシリコン半導体基板1328上に設けられている。
【0152】ここで、ドライバーとして水平方向回路と
垂直方向回路を含むアクティブマトリクス駆動回路部1
327はR.G.Bの各原色映像信号を所定の各R.
G.B画素に書き込む用に構成されており、該各画素電
極1326はカラーフィルターは有さないものの、前記
アクティブマトリクス駆動回路部1327にて書き込ま
れる原色映像信号により各R.G.B画素として区別さ
れ、後述する所定のR.G.B画素配列を形成してい
る。
【0153】ここで、まず液晶パネル1302に対する
照明光のうちG光について説明する。前述したようにG
光の主光線はPBS1303により偏光化されたのち該
液晶パネル1302に対して垂直に入射する。この光線
のうち1つのマイクロレンズ1322aに入射する光線
例を図中の矢印G(in/out)に示す。
【0154】ここに図示されたように該G光線はマイク
ロレンズ1322aにより集光されG画素電極1326
g上を照明する。そしてAlより成る該画素電極132
6gにより反射され、再び同じマイクロレンズ1322
aを通じて液晶パネル1302外に出射していく。この
ように液晶層1325を往復通過する際、該G光線(偏
光)は画素電極1326gに印可される信号電圧により
対向電極1324との間に形成される電界による液晶の
動作により変調を受けて該液晶パネル1302を出射し
PBS1303に戻る。ここで、その変調度合いにより
PBS面1303aにて反射され投影レンズ1301に
向かう光量が変化し、各画素のいわゆる濃淡階調表示が
なされることになる。
【0155】一方、上述したように図中断面(yz面)
内の斜め方向から入射してくるR光については、やはり
PBS1303により偏光化されたのち、例えばマイク
ロレンズ1322bに入射するR光線に注目すると図中
の矢印R(in)で示したように、該マイクロレンズ1
322bにより集光されその真下よりも左側にシフトし
た位置にあるR画素電極1326r上を照明する。そし
て該画素電極1326rにより反射され、図示したよう
に今度は隣(−z方向)のマイクロレンズ1322aを
通じて液晶パネル1302外に出射していく(R(ou
t))。
【0156】この際、該R光線(偏光)はやはりR画素
電極1326rに印可される信号電圧により対向電極1
324との間に形成される電界による液晶の動作により
変調を受けて該液晶パネル1302を出射しPBS13
03に戻る。そしてその後のプロセスは前述のG光の場
合と全く同じように、画像光の1部として投影レンズ1
301で投影される。
【0157】ところで、図19の描写ではG画素電極1
326g上とR画素電極1326r上の各G光とR光の
色光が1部重なり干渉している用になっているが、これ
は模式的に液晶層1325の厚さを拡大誇張して描いて
いるためであり、実際には該液晶層1325の厚さは〜
5μであり、シートガラス1323の50〜100μに
比べて非常に薄く、画素サイズに関係なくこのような干
渉は起こらない。
【0158】図20は本例での色分解及び色合成の原理
説明図である。ここで図20(a)は液晶パネル130
2の上面模式図、図20(b)、図20(c)はそれぞ
れ該液晶パネル1302の上面模式図に対するA−A′
(x方向)断面模式図、B−B′(z方向)断面模式図
である。
【0159】このうち図20(c)はyz断面を表す上
記図19に対応するものであり、各マイクロレンズ13
22に入射するG光とB光の入出射の様子を表してい
る。これから判るように第1の色画素として各G画素電
極は各マイクロレンズ1322の中心の真下に配置さ
れ、第2の色画素として各R画素電極は各マイクロレン
ズ1322間の境界の真下に配置されている。従ってR
光の入射角はそのtanθが画素ピッチ(B&R画素)
とマイクロレンズ1322・画素電極1326間距離の
比に等しくなるように設定するのが好ましい。
【0160】一方図20(b)は該液晶パネル1302
のxy断面に対応するものである。このxy断面につい
ては第3の色画素としてのB画素電極とG画素電極とが
図20(c)と同様に交互に配置されており、やはり各
G画素電極は各マイクロレンズ1322の中心の真下に
配置され、第3の色画素としての各B画素電極は各マイ
クロレンズ1322間の境界の真下に配置されている。
【0161】ところで該液晶パネル1302を照明する
B光については、前述したようにPBS1303による
偏光化後、図中断面(xy面)の斜め方向から入射して
くるため、R光の場合と全く同様に各マイクロレンズ1
322から入射したB光線は図示したようにB画素電極
により反射され、入射したマイクロレンズに対してx方
向に隣り合うマイクロレンズから出射する。B画素電極
上の液晶層1325による変調や液晶パネル1302か
らのB出射光の投影については、前述のG光およびR光
と同様である。
【0162】また、各B画素電極は各マイクロレンズ1
322間の境界の真下に配置されており、B光の液晶パ
ネル1302に対する入射角についてもR光と同様にそ
のtanθが画素ピッチ(G&B画素)とマイクロレン
ズ1322・画素電極1326間距離の比に等しくなる
ように設定するのが好ましい。
【0163】ところで本例の液晶パネル1302では以
上述べたように各R.G.B画素の並びがz方向(第1
方向)に対してはRGRGRG…、そしてx方向(第2
方向)に対してはBGBGBG…となっているが、図2
0(a)はその平面的な並びを示している。
【0164】このように各画素(色画素)サイズは縦横
共にマイクロレンズ1322の約半分になっており、画
素ピッチはxz両方向ともにマイクロレンズ1322の
それの半分になっている。また、G画素は平面的にもマ
イクロレンズ1322中心の真下に位置し、R画素はz
方向のG画素間かつマイクロレンズ1322の境界に位
置し、B画素はx方向のG画素間かつマイクロレンズ境
界に位置している。また、1つのマイクロレンズ単位の
形状は矩形(画素の2倍サイズ)となっている。
【0165】図21は本例の液晶パネルの2部分拡大し
た上面図である。ここで図中の破線格子1329は1つ
の絵素を構成するR.G.B画素のまとまりの画素ユニ
ットを示している。
【0166】尚、画素ユニットを基板上に2次元的に所
定のピッチで配列して、画素ユニットアレイを構成して
いる。つまり、図19のアクティブマトリクス駆動回路
部1327により各R.G.B画素が駆動される際、破
線格子1329で示されるR.G.Bの画素ユニットは
同一画素位置に対応したR.G.B映像信号にて駆動さ
れる。
【0167】ここでR画素電極1326r、G画素電極
1326g、B画素電極1326bから成る1つの絵素
に注目してみると、まずR画素電極1326rは矢印r
1で示されるようにマイクロレンズ1322bから前述
したように斜めに入射するR光で照明され、そのR反射
光は矢印r2で示すようにマイクロレンズ1322aを
通じて出射する。B画素電極1326bは矢印b1で示
されるようにマイクロレンズ1322cから前述したよ
うに斜めに入射するB光で照明され、そのB反射光は矢
印b2で示すようにやはりマイクロレンズ1322aを
通じて出射する。
【0168】またG画素電極1326gは正面後面矢印
g12で示されるように、マイクロレンズ1322aか
ら前述したように垂直(紙面奥へ向かう方向)に入射す
るG光で照明され、そのG反射光では同じマイクロレン
ズ1322aを通じて垂直に(紙面手前に出てくる方
向)出射する。
【0169】このように、液晶パネル1302において
は、1つの絵素を構成するR.G.B画素ユニット13
29について、各原色照明光の入射照明位置は異なるも
のの、それらの出射については同じマイクロレンズ(こ
の場合はマイクロレンズ1322a)から行われる。そ
してこのことはその他の全ての絵素(R.G.B画素ユ
ニット)についても成り立っている。
【0170】図22は本例における液晶パネル1302
からの全出射光をPBS1303および投影レンズ13
01を通じてスクリーン1309に投写するときの概略
図である。同図に示すように図21に示すような液晶パ
ネル1302を用い、かつ液晶パネル1302内のマイ
クロレンズ1322の位置又はその近傍がスクリーン1
309上に結像投影されるように光学調整すると、その
投影画像は図24に示すようなマイクロレンズ1322
の格子内に各絵素を構成する該R.G.B画素ユニット
からの出射光が混色した状態つまり同画素混色した状態
の絵素を構成単位としたものとなる。
【0171】本例ではこのように、図21に示す構成の
表示パネル1302を用い、かつマイクロレンズ132
2の配置面又はその近傍がスクリーンと略共役関係とな
るようにして、スクリーン面上でいわゆるR.G.Bモ
ザイクが無い質感の高い良好なカラー画像表示が可能と
している。
【0172】次に図23に本例の投写型液晶表示装置の
駆動回路系についてその全体ブロック図を示す。
【0173】同図においてここで1310はパネルドラ
イバーであり、R.G.B映像信号を形成するととも
に、対向電極1324駆動信号、各種タイミング信号等
を形成している。1312はインターフェースであり、
各種映像及び制御伝送信号を標準映像信号等にデコード
している。1311はデコーダーであり、インターフェ
ース1312からの標準映像信号をR.G.B原色映像
信号及び同期信号にデコードしている。1314はバラ
ストであり、アークランプ1308を駆動点灯する。1
315は電源回路であり、各回路ブロックに対して電源
を供給している。1313は不図示の操作部を内在した
コントローラーであり、上記各回路ブロックを総合的に
コントロールするものである。
【0174】このように本例の投写型液晶表示装置は、
前述したようなR.G.Bモザイクの無い良好な質感の
カラー画像を表示することができるものである。
【0175】図25は本例における液晶パネルの別形態
の部分拡大の上面図である。ここではマイクロレンズ1
322の中心真下位置に第1の色画素としてB画素を配
列し、それに対し左右方向に第2の色画素としてG画素
が交互に並ぶように、上下方向に第3の色画素としてR
画素が交互に並ぶ用に配列している。
【0176】このように配列しても、絵素を構成する
R.G.B画素ユニットからの反射光が1つの共通マイ
クロレンズから出射するように、B光を垂直入射、R/
G光を斜め入射(同角度異方向)とすることにより、前
例と全く同様な効果を得ることができる。また、さらに
マイクロレンズ1322の中心真下位置に第1の色画素
としてR画素を配列しその他の色画素を左右または上下
方向にR画素に対して交互に並ぶようにしても良い。
【0177】[実施形態5]ここでは、実施形態4の別
の形態を示す。
【0178】図26は本例の液晶パネル1320の要部
概略図である。同図は液晶パネル1320の部分拡大の
断面図を示している。実施形態4との相違点を述べる
と、まず対向ガラス基板としてシートガラス1323を
用いており、マイクロレンズ1220についてはシート
ガラス1323上に熱可塑性樹脂を用いたいわゆるリフ
ロー法により形成している。さらに、非画素部にスペー
サー柱1251を感光性樹脂のフォトリソグラフィーに
て形成している。
【0179】図27(a)に該液晶パネル1320の部
分上面図を示す。この図から判るようにスペーサー柱1
251は所定の画素のピッチでマイクロレンズ1220
の角隅部の非画素領域に形成されている。このスペーサ
ー柱1251を通るA−A′断面図を図27(b)に示
す。このスペーサー柱1251の形成密度については1
0〜100画素ピッチでマトリクス上に設けるのが好ま
しく、シートガラス1323の平面性と液晶の注入性と
いうスペーサー柱数に対して相反するパラメーターを共
に満足するように設定する必要がある。
【0180】また本例では金属膜パターンによる遮光層
1221を設けており、各マイクロレンズ境界部分から
の漏れ光の進入を防止している。これにより、このよう
な漏れ光による投影画像の彩度低下(各原色画像光の混
色による)やコントラスト低下が防止される。従って本
液晶パネル1320を用いて実施形態4の如く投写型表
示装置を構成することにより、さらにメリハリのある良
好な画質が得られるようになる。
【0181】
【発明の効果】以上実施形態1〜実施形態5に詳細に説
明したように、本発明によれば、 ・ 液晶表示装置を構成する隣同士の画素スイッチトラ
ンジスタのソース領域及びソース電極又はドレイン領域
及びドレイン電極を共通にして配置することにより、高
集積化が図れ、サイズの縮小が可能となる。 ・ また、CMOS構成の画素スイッチを各画素電極下
に構成するのではなく、NMOSのみを画素電極下に持
つ画素と、PMOSのみを画素電極下に持つ画素を隣接
して配置することによってMOSトランジスタをより高
密度に集積することができる。これは、極性の異なるM
OSを隣接させる際に必要とされる異なるウェルを分離
するための領域が必要なくなるためである。このことに
より、画素サイズの縮小が可能となり、表示装置の高精
細化、チップサイズの縮小による低コスト化を図ること
が可能となった。 ・ 更に、本発明によれば、信号線の寄生容量を低減す
ることが可能である。信号線の容量は、主に配線層の容
量と信号線に接続されるソース電極とウェル間の接合容
量よりなり、この接合容量は、ほぼソース領域の面積で
決まるため、本発明によりソース領域の容量は、格段に
小さくなる。 ・ 更に、信号線の容量を低減することにより、ビデオ
線から信号線への転送に必要とされる時間を少なくする
ことが可能となり、高速駆動が可能となる。 ・ また、ビデオ線から信号線へ映像信号を転送する転
送スイッチのサイズを同様に、縮小することができるた
め、チップサイズの縮小およびビデオ線自体の寄生容量
を低減することができる。このことにより、パネルに映
像信号を入力するドライバの駆動力を低減することがで
き、駆動系の高速化、低コスト化をはかることが可能で
ある。 ・ また、本発明では、図3に示すように、nMOSで
いうところのn+ 領域は、2つのトランジスタで1つし
かない。このような構成をとることにより、信号線につ
く容量を大幅に減少することが可能となる。すなわち2
トランジスタのソースを共通化すれば、信号線につくソ
ース容量は半減する。さらに信号線方向の距離もソース
を共通化することで、削減できるため、信号線自体の配
線が短くなり、信号線容量が減少し、信号線の配線抵抗
が減少する。従って、信号線の書き込み特性は大きく改
善され、高階調の信号書き込みが、実現できる。さら
に、チップサイズも小さくなることから、高歩留まり、
チップ取れ数の増加につながり、低コスト化が実現でき
る。 ・ また、信号線容量、抵抗がさがり、信号線への書き
込み特性が上がることにより、サンプリングスイッチの
サイズを小さくできることから、チップサイズの縮小と
共に、サンプリングスイッチのソースに接続されている
アナログ信号の映像信号線(ビデオ線)の容量が減少
し、周辺回路の付加低減、消費電力の削減につながり、
低コスト化、高性能化が実現できる。特に、高解像度化
が進み画素数が多くなればなるほど、この効果は絶大
で、有効なものになる。 ・ またこの構成は、TFTに限らず、Siウエハに直
接nMOSトランジスタもしくはpMOSトランジスタ
を作り込む場合にも同様に適応できることは言うまでも
ない。画素サイズは、TFTを用いた場合、画素スイッ
チがCMOSトランジスタの場合よりも小さくすること
が可能で、さらに信号線容量及び信号線抵抗の低減が実
現でき、高階調の信号書き込み低コスト化等液晶パネル
の高性能化が実現できる。しかしながら、CMOSトラ
ンジスタを用いた場合と異なり、画素スイッチが基板バ
イアスの効果を受けることから書き込み電圧以上に電源
電圧が高くなる特徴があり、低電圧液晶駆動に主に適し
ている構成といえる。このように、本発明によれば、隣
接画素のソース領域を共通化することにより、画素サイ
ズの縮小と高集積化を図ることができる。
【0182】また、ソース電極をも共通化できるため、
信号線の容量を低減することが可能である。
【0183】これらのことにより、高精細で、チップサ
イズの小さい液晶表示装置を実現することができる。ま
た、ビデオ線容量を低減できることから、外部駆動系の
駆動力を小さくすることが可能であり、高速化、低コス
ト化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1の概念を示す模式的回路図
である。
【図2】図1の回路のタイミング図である。
【図3】本発明の実施形態1の液晶装置の模式的平面図
である。
【図4】図3のA−A′断面図である。
【図5】本発明の実施形態2の特徴を説明するための模
式的平面図である。
【図6】本発明の液晶装置を製造するプロセスを説明す
るための模式図である。
【図7】本発明の液晶装置を製造するプロセスを説明す
るための模式図である。
【図8】液晶装置の模式的断面図である。
【図9】液晶装置の周辺回路を含む回路図である。
【図10】液晶装置のブロック図である。
【図11】液晶装置の同期回路を含む回路図である。
【図12】液晶パネルの模式的平面図である。
【図13】液晶装置の製造上のエッチング処理の良否を
示す図である。
【図14】液晶装置を用いた液晶プロジェクターの概略
構成図である。
【図15】液晶プロジェクターの内部を示す回路ブロッ
ク図である。
【図16】本発明の投写型表示装置の1例を示す模式図
である。
【図17】本発明の投写型表示装置に用いたダイクロイ
ックミラーの分光反射特性図である。
【図18】本発明の投写型表示装置の色分解照明部の斜
視図である。
【図19】本発明の液晶パネルの1例を示す断面図であ
る。
【図20】本発明の液晶パネルでの色分解色合成の原理
説明図である。
【図21】本発明の液晶パネルの1例についての部分拡
大上面図である。
【図22】本発明の投写型表示装置の投影光学系を示す
模式図である。
【図23】本発明の投写型表示装置の駆動回路系を示す
ブロック図である。
【図24】本発明の投写型表示装置の1例についてのス
クリーン上の投影像の部分拡大図である。
【図25】本発明の液晶パネルの1例についての部分拡
大上面図である。
【図26】本発明の液晶パネルの1例を示す模式図であ
る。
【図27】本発明の液晶パネルの1例についての部分拡
大上面図と部分拡大断面図である。
【図28】従来のマイクロレンズ付の透過型液晶パネル
の部分拡大断面図である。
【図29】マイクロレンズ付の透過型液晶パネルを用い
た従来の投写型表示装置でのスクリーン上投影像の部分
拡大図である。
【符号の説明】
101,118 信号線 102〜106 駆動線(走査線) 107〜111 画素部のスイッチングトランジスタ 112 p型領域 113,119 n型領域 114,116 保持容量 115,117 液晶
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小山 理 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マトリクス状に配された複数の信号線及
    び複数の駆動線、前記駆動線と前記信号線の交点に対応
    して設けられ、ソース領域が前記信号線に、ゲート領域
    が前記駆動線にそれぞれ接続されたトランジスタ、及び
    前記トランジスタのドレイン領域に接続された画素電
    極、とを有するアクティブマトリクス基板であって、 前記ソース領域を、隣接する前記トランジスタどうしで
    共通化し、前記信号線に接続したことを特徴とするアク
    ティブマトリクス基板。
  2. 【請求項2】 前記ソース領域に加え、ソース電極も共
    通化された請求項1に記載のアクティブマトリクス基
    板。
  3. 【請求項3】 前記ソース領域を共通化したトランジス
    タは、PMOSトランジスタもしくは、NMOSトラン
    ジスタで構成される請求項1に記載のアクティブマトリ
    クス基板。
  4. 【請求項4】 前記画素電極1つにつき2つのトランジ
    スタが接続された請求項1に記載のアクティブマトリク
    ス基板。
  5. 【請求項5】 前記2つのトランジスタのうち、一方
    は、PMOSトランジスタであり、他方は、NMOSト
    ランジスタである請求項4に記載のアクティブマトリク
    ス基板。
  6. 【請求項6】 NMOSトランジスタのみを画素電極下
    にもつ画素と、PMOSトランジスタのみを画素電極下
    に持つ画素を隣接して配した請求項1に記載のアクティ
    ブマトリクス基板。
  7. 【請求項7】 前記画素電極は、ケミカルメカニカルポ
    リッシングを用いて研磨された請求項1に記載のアクテ
    ィブマトリクス基板。
  8. 【請求項8】 マトリクス状に配された複数の信号線及
    び複数の駆動線、前記駆動線と前記信号線の交点に対応
    して設けられ、ソース領域が前記信号線に、ゲート領域
    が前記駆動線にそれぞれ接続されたトランジスタ、及び
    前記トランジスタのドレイン領域に接続された画素電
    極、とを有するアクティブマトリクス基板と、 前記アクティブマトリクス基板に対向する対向基板と、
    の間に液晶材料を配して構成した液晶装置であって、 前記ソース領域を、隣接する前記トランジスタどうしで
    共通化し、前記信号線に接続したことを特徴とする液晶
    装置。
  9. 【請求項9】 前記ソース領域に加え、ソース電極も共
    通化された請求項8に記載の液晶装置。
  10. 【請求項10】 前記ソース領域を共通化したトランジ
    スタは、PMOSトランジスタもしくは、NMOSトラ
    ンジスタで構成される請求項8に記載の液晶装置。
  11. 【請求項11】 前記画素電極1つにつき2つのトラン
    ジスタが接続された請求項8に記載の液晶装置。
  12. 【請求項12】 前記2つのトランジスタのうち、一方
    は、PMOSトランジスタであり、他方は、NMOSト
    ランジスタである請求項11に記載の液晶装置。
  13. 【請求項13】 NMOSトランジスタのみを画素電極
    下にもつ画素と、PMOSトランジスタのみを画素電極
    下に持つ画素を隣接して配した請求項8に記載の液晶装
    置。
  14. 【請求項14】 前記画素電極は、ケミカルメカニカル
    ポリッシングを用いて研磨された請求項8に記載の液晶
    装置。
  15. 【請求項15】 請求項8〜14のいずれかに記載の液
    晶装置を配して構成したことを特徴とする表示装置。
  16. 【請求項16】 液晶装置として反射型の液晶パネルを
    用い、光源から発せられた光を該液晶パネルに照射し、
    反射光を光学系を介してスクリーンに照射して画像を表
    示する請求項15に記載の表示装置。
  17. 【請求項17】 前記反射型の液晶パネルとして、第
    1、第2、第3の色画素の3つの色画素のうち、第1、
    第2の色画素の組み合わせを第1方向に、該第1、第3
    の色画素の組み合わせを該第1方向と異なる第2方向に
    該第1の色画素を共有するように配置した画素ユニット
    アレイと、該第1方向と第2方向の2つの色画素ピッチ
    を1ピッチとするマイクロレンズを複数個、該基板上の
    画素ユニットアレイ上に2次元的に配列したマイクロレ
    ンズアレイとを有する液晶パネルを使用する請求項16
    に記載の表示装置。
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KR1019970053629A KR100281249B1 (ko) 1996-10-18 1997-10-18 액티브매트릭스기판, 이 기판을 사용한 액정장치 및 이 액정장치를 사용하는 표시장치
HK98110301A HK1009547A1 (en) 1996-10-18 1998-08-29 Active matrix substrate for use in liquid crystal display
US09/350,935 US6078368A (en) 1996-10-18 1999-07-12 Active matrix substrate, liquid crystal apparatus using the same and display apparatus using such liquid crystal apparatus
US09/564,040 US6163352A (en) 1996-10-18 2000-05-01 Active matrix substrated, liquid crystal apparatus using the same the display apparatus using such liquid crystal apparatus

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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000315734A (ja) * 1999-03-03 2000-11-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
JP2010085956A (ja) * 2008-10-03 2010-04-15 Seiko Epson Corp 電気光学装置、電子機器および投射型表示装置
US7745829B2 (en) 1999-02-23 2010-06-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Semiconductor device and fabrication method thereof
JP2010277056A (ja) * 2008-07-03 2010-12-09 Nec Lcd Technologies Ltd 液晶表示装置及びその駆動方法
JP2011181938A (ja) * 1999-03-03 2011-09-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
US8064323B2 (en) 2005-09-01 2011-11-22 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
JP2012133010A (ja) * 2010-12-20 2012-07-12 Jvc Kenwood Corp 液晶表示装置
US8247818B2 (en) 2010-04-05 2012-08-21 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
JP2013105086A (ja) * 2011-11-15 2013-05-30 Seiko Epson Corp 画素回路、電気光学装置、および電子機器
US8669928B2 (en) 1999-07-21 2014-03-11 Semiconductor Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2014153492A (ja) * 2013-02-07 2014-08-25 Seiko Epson Corp 発光装置及び電子機器
JP2014170753A (ja) * 2000-02-01 2014-09-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08227283A (ja) * 1995-02-21 1996-09-03 Seiko Epson Corp 液晶表示装置、その駆動方法及び表示システム
DE19624276C2 (de) * 1996-06-18 1999-07-08 Fraunhofer Ges Forschung Phasenmodulierende Mikrostrukturen für höchstintegrierte Flächenlichtmodulatoren
JPH1185111A (ja) * 1997-09-10 1999-03-30 Sony Corp 液晶表示素子
JP3249079B2 (ja) * 1997-10-24 2002-01-21 キヤノン株式会社 マトリクス基板と液晶表示装置と投写型液晶表示装置
JP3724163B2 (ja) * 1997-12-29 2005-12-07 カシオ計算機株式会社 液晶表示素子及び液晶表示装置
TW457389B (en) * 1998-03-23 2001-10-01 Toshiba Corp Liquid crystal display element
JP2000029011A (ja) * 1998-07-14 2000-01-28 Seiko Epson Corp 電気光学装置およびその製造方法、並びに投射型表示装置
KR100425858B1 (ko) * 1998-07-30 2004-08-09 엘지.필립스 엘시디 주식회사 박막트랜지스터및그제조방법
US20020149556A1 (en) * 1998-09-14 2002-10-17 Seiko Epson Corporation Liquid crystal display apparatus, driving method therefor, and display system
US6078371A (en) * 1998-10-05 2000-06-20 Canon Kabushiki Kaisha Liquid crystal device and liquid crystal display apparatus
EP1020920B1 (en) * 1999-01-11 2010-06-02 Sel Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having a driver TFT and a pixel TFT on a common substrate
US6531713B1 (en) * 1999-03-19 2003-03-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and manufacturing method thereof
TW591295B (en) * 1999-04-13 2004-06-11 Canon Kk Liquid crystal device and liquid crystal display apparatus
JP3826618B2 (ja) * 1999-05-18 2006-09-27 ソニー株式会社 液晶表示装置
US6952020B1 (en) * 1999-07-06 2005-10-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP4666723B2 (ja) 1999-07-06 2011-04-06 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US6466281B1 (en) * 1999-08-23 2002-10-15 Industrial Technology Research Institute Integrated black matrix/color filter structure for TFT-LCD
US6587086B1 (en) 1999-10-26 2003-07-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device
JP5408829B2 (ja) 1999-12-28 2014-02-05 ゲットナー・ファンデーション・エルエルシー アクティブマトリックス基板の製造方法
JP3767305B2 (ja) * 2000-03-01 2006-04-19 ソニー株式会社 表示装置およびその製造方法
JP3840058B2 (ja) 2000-04-07 2006-11-01 キヤノン株式会社 マイクロレンズ、固体撮像装置及びそれらの製造方法
JP3628997B2 (ja) * 2000-11-27 2005-03-16 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
US6747626B2 (en) 2000-11-30 2004-06-08 Texas Instruments Incorporated Dual mode thin film transistor liquid crystal display source driver circuit
US6507376B2 (en) 2000-12-25 2003-01-14 Kawasaki Microelectronics, Inc. Display device formed on semiconductor substrate and display system using the same
US7019763B2 (en) 2001-01-09 2006-03-28 Seiko Epson Corporation Display device, driving method therefor, electro-optical device, driving method therefor, and electronic apparatus
JP2002244202A (ja) * 2001-02-14 2002-08-30 Sony Corp 液晶プロジェクタ装置および液晶プロジェクタ装置の駆動方法
US6703996B2 (en) * 2001-06-08 2004-03-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for addressing LCD pixels
KR100513655B1 (ko) * 2001-08-29 2005-09-09 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치
JP2003066869A (ja) * 2001-08-30 2003-03-05 Sharp Corp 表示装置
JP2003167534A (ja) * 2001-09-21 2003-06-13 Seiko Epson Corp 電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器
US6762738B2 (en) * 2001-09-28 2004-07-13 Brillian Corporation Pixel circuit with shared active regions
JP2003273123A (ja) * 2002-03-15 2003-09-26 Sharp Corp 半導体装置
JP3829809B2 (ja) * 2003-02-18 2006-10-04 セイコーエプソン株式会社 表示装置の駆動回路及び駆動方法、並びに表示装置及び投射型表示装置
US7372629B2 (en) * 2003-11-06 2008-05-13 Nec Corporation Three-dimensional image display device, portable terminal device, display panel and fly eye lens
KR100603835B1 (ko) * 2004-05-24 2006-07-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 횡전계형 액정표시장치용 어레이 기판
KR20060090159A (ko) * 2005-02-07 2006-08-10 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
US7295374B2 (en) * 2005-02-25 2007-11-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. Micro-lens and micro-lens fabrication method
US7742015B2 (en) * 2005-10-21 2010-06-22 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Liquid crystal display device
TWI322318B (en) * 2005-12-12 2010-03-21 Au Optronics Corp Active matrix substrate
CN100444241C (zh) * 2005-12-13 2008-12-17 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示面板驱动电路和采用该驱动电路的液晶显示面板
US7760417B2 (en) * 2006-01-17 2010-07-20 The University Of British Columbia Brightness enhancement by fluid interface deformation in TIR-modulated displays
KR101200939B1 (ko) * 2006-01-19 2012-11-13 삼성디스플레이 주식회사 어레이 기판
JP5094191B2 (ja) * 2006-04-18 2012-12-12 キヤノン株式会社 反射型液晶表示装置及び液晶プロジェクターシステム
CN101349688B (zh) * 2008-08-26 2013-05-29 东北大学 一种多功能通用煤粉燃烧试验装置及方法
US9142586B2 (en) 2009-02-24 2015-09-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Pad design for backside illuminated image sensor
US8531565B2 (en) 2009-02-24 2013-09-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Front side implanted guard ring structure for backside illuminated image sensor
JP2010200120A (ja) * 2009-02-26 2010-09-09 Fuji Xerox Co Ltd 画像読取装置及び画像形成装置
JP5407638B2 (ja) * 2009-07-28 2014-02-05 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板、電気光学装置、及び電子機器
CN103137616B (zh) 2011-11-25 2017-04-26 上海天马微电子有限公司 Tft阵列基板及其形成方法、显示面板
JP2013247278A (ja) * 2012-05-28 2013-12-09 Toshiba Corp スイッチ回路
CN103905964B (zh) * 2012-12-29 2017-11-14 清华大学 热致发声装置
GB2519084A (en) * 2013-10-08 2015-04-15 Plastic Logic Ltd Transistor addressing
WO2016103430A1 (ja) * 2014-12-25 2016-06-30 キヤノン株式会社 ラインセンサ、画像読取装置、画像形成装置
CN105931594B (zh) * 2016-07-08 2018-12-14 京东方科技集团股份有限公司 像素电路、驱动方法、阵列基板、显示面板和显示装置
CN110516637B (zh) * 2019-08-30 2021-11-26 上海中航光电子有限公司 阵列基板及其制作方法、显示装置
CN111090204A (zh) * 2020-03-22 2020-05-01 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 阵列基板及显示面板
CN114323089A (zh) * 2020-10-12 2022-04-12 群创光电股份有限公司 光检测元件

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3307150B2 (ja) * 1995-03-20 2002-07-24 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型表示装置
DE3019832C2 (de) * 1979-05-28 1986-10-16 Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha, Shinjuku, Tokio/Tokyo Treiberschaltung für eine Flüssigkristallanzeigematrix
JPH0634154B2 (ja) * 1983-01-21 1994-05-02 シチズン時計株式会社 マトリクス型表示装置の駆動回路
JPS61117599A (ja) * 1984-11-13 1986-06-04 キヤノン株式会社 映像表示装置のスイツチングパルス
JPH07120143B2 (ja) * 1986-06-04 1995-12-20 キヤノン株式会社 表示パネルの情報読出し法及び表示パネルの情報読出し装置
JPS63311740A (ja) * 1987-06-15 1988-12-20 Matsushita Electronics Corp 半導体集積回路装置
JP2862571B2 (ja) * 1988-07-28 1999-03-03 株式会社東芝 透過型液晶表示装置
JP2895166B2 (ja) * 1990-05-31 1999-05-24 キヤノン株式会社 半導体装置の製造方法
JP2622185B2 (ja) * 1990-06-28 1997-06-18 シャープ株式会社 カラー液晶表示装置
JP2745435B2 (ja) * 1990-11-21 1998-04-28 キヤノン株式会社 液晶装置
JP3119709B2 (ja) * 1990-12-20 2000-12-25 旭硝子株式会社 液晶表示装置及び投射型液晶表示装置
KR960010723B1 (ko) * 1990-12-20 1996-08-07 가부시끼가이샤 한도오따이 에네루기 겐큐쇼 전기광학장치
JP2979655B2 (ja) * 1991-01-14 1999-11-15 松下電器産業株式会社 アクティブマトリクス基板の駆動方法
JP2838338B2 (ja) * 1991-05-21 1998-12-16 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学装置の駆動方法
JP2938232B2 (ja) * 1991-07-25 1999-08-23 キヤノン株式会社 強誘電性液晶表示デバイス
US5434441A (en) * 1992-01-31 1995-07-18 Canon Kabushiki Kaisha Silicon-on-insulator CMOS device and a liquid crystal display with controlled base insulator thickness
JP3191061B2 (ja) * 1992-01-31 2001-07-23 キヤノン株式会社 半導体装置及び液晶表示装置
JPH05273532A (ja) * 1992-01-31 1993-10-22 Canon Inc 液晶素子
JPH05264964A (ja) * 1992-03-19 1993-10-15 Canon Inc 液晶装置
JP3214132B2 (ja) * 1993-03-01 2001-10-02 三菱電機株式会社 メモリセルアレイ半導体集積回路装置
JP3290772B2 (ja) * 1993-08-18 2002-06-10 株式会社東芝 表示装置
US5668650A (en) * 1993-09-06 1997-09-16 Casio Computer Co., Ltd. Thin film transistor panel having an extended source electrode
JPH07199150A (ja) * 1993-12-28 1995-08-04 Canon Inc 液晶表示装置
CN100477247C (zh) * 1994-06-02 2009-04-08 株式会社半导体能源研究所 有源矩阵显示器和电光元件
DE69529493T2 (de) * 1994-06-20 2003-10-30 Canon Kk Anzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
JP3126630B2 (ja) * 1994-06-20 2001-01-22 キヤノン株式会社 ディスプレイ
JP3109979B2 (ja) * 1994-06-20 2000-11-20 キヤノン株式会社 液晶表示装置
JP3093604B2 (ja) * 1994-06-20 2000-10-03 キヤノン株式会社 液晶表示装置
GB9413883D0 (en) * 1994-07-09 1994-08-31 Philips Electronics Uk Ltd Colour liquid crystal projection display systems
EP0692730A3 (en) * 1994-07-12 1996-03-20 Dainippon Printing Co Ltd Liquid crystal display device and liquid crystal projection display device using a holographic color filter
US5467215A (en) * 1994-12-21 1995-11-14 Motorola Integrated electro-optic package for reflective spatial light modulators
EP0726681B1 (en) * 1995-02-10 2003-04-23 Sharp Kabushiki Kaisha Projection type image display apparatus
JP3438446B2 (ja) * 1995-05-15 2003-08-18 ソニー株式会社 半導体装置の製造方法
JP3143592B2 (ja) * 1995-09-14 2001-03-07 キヤノン株式会社 表示装置
JP3242304B2 (ja) * 1995-10-03 2001-12-25 シャープ株式会社 マトリクス型表示装置
FR2749434B1 (fr) * 1996-05-31 1998-09-04 Dolphin Integration Sa Matrice de memoire rom compacte
US5908315A (en) * 1997-08-18 1999-06-01 Advanced Micro Devices, Inc. Method for forming a test structure to determine the effect of LDD length upon transistor performance

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018200467A (ja) * 1999-02-23 2018-12-20 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
US7745829B2 (en) 1999-02-23 2010-06-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Semiconductor device and fabrication method thereof
US9910334B2 (en) 1999-02-23 2018-03-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
US8030659B2 (en) 1999-02-23 2011-10-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
US9431431B2 (en) 1999-02-23 2016-08-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
JP2000315734A (ja) * 1999-03-03 2000-11-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
JP2011181938A (ja) * 1999-03-03 2011-09-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
US8669928B2 (en) 1999-07-21 2014-03-11 Semiconductor Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2014170753A (ja) * 2000-02-01 2014-09-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
US9105521B2 (en) 2000-02-01 2015-08-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device having light emitting elements with red color filters
US9613989B2 (en) 2000-02-01 2017-04-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9263469B2 (en) 2000-02-01 2016-02-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8064323B2 (en) 2005-09-01 2011-11-22 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
JP2010277056A (ja) * 2008-07-03 2010-12-09 Nec Lcd Technologies Ltd 液晶表示装置及びその駆動方法
JP2010085956A (ja) * 2008-10-03 2010-04-15 Seiko Epson Corp 電気光学装置、電子機器および投射型表示装置
US8247818B2 (en) 2010-04-05 2012-08-21 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
JP2012133010A (ja) * 2010-12-20 2012-07-12 Jvc Kenwood Corp 液晶表示装置
US9570663B2 (en) 2011-11-15 2017-02-14 Seiko Epson Corporation Pixel circuit, electro-optical device, and electronic apparatus
US9251734B2 (en) 2011-11-15 2016-02-02 Seiko Epson Corporation Pixel circuit, electro-optical device, and electronic apparatus
US9935128B2 (en) 2011-11-15 2018-04-03 Seiko Epson Corporation Pixel circuit, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2013105086A (ja) * 2011-11-15 2013-05-30 Seiko Epson Corp 画素回路、電気光学装置、および電子機器
JP2014153492A (ja) * 2013-02-07 2014-08-25 Seiko Epson Corp 発光装置及び電子機器

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