JPH07239362A - 浮動機構つき吸着ハンドおよび搬送接触機構 - Google Patents

浮動機構つき吸着ハンドおよび搬送接触機構

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JPH07239362A
JPH07239362A JP5458594A JP5458594A JPH07239362A JP H07239362 A JPH07239362 A JP H07239362A JP 5458594 A JP5458594 A JP 5458594A JP 5458594 A JP5458594 A JP 5458594A JP H07239362 A JPH07239362 A JP H07239362A
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    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00

Abstract

(57)【要約】 【目的】 オートハンドラとテストヘッドを容易に接続
するとともに、ICをICソケットに精度良く接触する
機構の提供を目的とする。 【構成】 吸着ハンドは支持体1と揺動体2と遊動体3
と接続体4と圧接体5で構成され、圧接体5を浮動状態
で保持する。圧接体5を吸着パッド5Aと圧接子5Bを
ガイドピン5Cで一体に構成する。吸着ハンドは吸着パ
ッド5AでIC11を吸着した状態で、ICソケット2
1に向け降下する。ガイドピン5Cがガイド22に入る
ことにより、IC11とICソケット21が正確に位置
合わせされ、圧接子5BはIC11のリードをICソケ
ット21の接触子に圧接する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、浮動機構つき吸着ハ
ンドおよび搬送接触機構についてのものである。吸着ハ
ンドはオートハンドラに使用され、測定周波数の高いI
Cを測定するため、吸着ハンドに保持されたICをIC
ソケットに直接圧接する。
【0002】
【従来の技術】次に、従来技術による吸着ハンドおよび
搬送接触機構の構成を図5により説明説明する。図5
は、オートハンドラがICテスタのテストヘッドを覆う
形で接続された状態での断面図である。図5の20はテ
ストヘッドの上面に配置された測定基板であり、測定基
板20上には板状のアダプタ20Cが取り付けられる。
アダプタ20C上には、ICソケット21AとICソケ
ット21Bが一定の間隔で配置される。
【0003】図5の90はオートハンドラの測定部に基
底となる基板であり、基板90上には遊動基板9が設置
される。遊動基板9はベアリング9Bを仲介して基板9
0上に載置されているので、基板90上を自在に移動で
きる。遊動基板9の中央下部には、凹字上のケース91
が基板90から突出する形で取り付けられる。ケース9
1の底面には案内基板92Aと案内基板92Bが取り付
けられる。
【0004】案内基板92A・92Bにはそれぞれ段付
き穴92C・92Dがあけられ、段付き穴92Cと段付
き穴92DはICソケット21A・21Bと同じ間隔で
ケース91上に配置される。図5では、段付き穴92C
・92Dの段部がICソケット21の外形に案内され、
測定基板20と遊動基板9の位置関係が決定できる。
【0005】遊動基板9の縁部にはクランプレバー9A
の固定ねじ部が入る貫通穴があけられ、前記貫通穴の内
径は前記固定ねじ部の外径より十分大きくなっている。
したがって、前述の位置関係が決定した後、クランプレ
バー9Aで遊動基板9を基板90に固定する。このよう
にして、オートハンドラとテストヘッドを接続する。
【0006】遊動基板9上には、リニアガイドで連結さ
れる水平移動基板10Fが載置される。水平移動基板1
0F上には台10Gが取り付けられ、台10Gには保持
ブロック10Hが移動可能に保持される。シリンダ10
Jが駆動すると、保持ブロック10Hは昇降する。保持
ブロック10Hは吸着ハンド10A・10Bを段付き穴
92C・92Dと同じ間隔で取り付ける。
【0007】吸着ハンド10A・10Bは下部にICを
吸着する吸着パッドを内蔵する。図5の状態から、シリ
ンダ10Jが吸着ハンド10A・10Bが降下すると、
圧接部10C・10DがICのリードをICソケット2
1A・21Bの接触子に圧接する。
【0008】次に、図5の動作を図6により説明する。
図6は図5の上面図であり、オートハンドラの搬送機構
を概略的に示したものである。図6の60は遊動基板9
に載置される供給ステージ、70は基板90に載置され
る収容ステージである。供給ステージ60にはICの姿
勢を案内する凹部61Aと凹部61Bが形成される。収
容ステージ70にはICの姿勢を案内する凹部71Aと
凹部71Bが形成される。凹部61Aと凹部61Bおよ
び凹部71Aと凹部71Bの中心間隔は、ICソケット
21AとICソケット21Bの中心間隔と同じに設定さ
れる。
【0009】図6では、図示されないハンドにより凹部
61A・61BにICが搬送される。次に、吸着ハンド
10A・10Bは供給ステージ60上に移動し、ICを
吸着する。次に、吸着ハンド10A・10BはICソケ
ット21A・21B上に移動し、ICをICソケット2
1A・21Bに圧接し、測定する。測定が終了すると、
吸着ハンド10A・10BはICを脱着して移動する。
ICソケット21A・21B上に残されたICは、吸着
ハンド10A・10Bとは別のハンドで凹部71A・7
1Bに搬送される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図5および図6に示さ
れた吸着ハンドおよび搬送接触機構は、吸着ハンドに保
持されたICをICソケットに直接圧接するので、測定
周波数の高いICを測定する場合に適合している。しか
し、近年のQFP型ICのようにリード間隔が極端に狭
く、リード幅が細く軟弱なICでは従来の機構では接続
・搬送が困難になる。
【0011】特に、図6に示される2個並列測定用のオ
ートハンドラでは、2つのICソケットの中心間隔に合
わせてオートハンドラとテストヘッドを精度良く接続、
またはオートハンドラ内では2つのICを精度良く搬送
しなければならない。図5の構造では組立精度または部
品精度を向上しても限界があり、さらに接続に時間がか
かるという問題もある。
【0012】この発明は、吸着ハンドに遊動可能に保持
される圧接体を設け、圧接体にガイドピンを形成し、I
Cソケットにガイドピンで位置決めされるガイドを形成
することにより、接続容易な浮動機構つき吸着ハンドお
よび搬送接触機構の提供を目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、第1の発明は、テストヘッドの上面にICソケット
21を配置し、オートハンドラを前記テストヘッドに覆
う形で接続し、吸着ハンドはIC11を搬送してICソ
ケット21に圧接する接続機構において、吸着ハンドは
支持体1と、揺動体2と、遊動体3と、接続体4と、圧
接体5とで構成し、支持体1の下に揺動体2を微小揺動
可能に連結し、揺動体2は遊動体3を微小遊動可能に懸
架し、遊動体3は接続体4を固定し、接続体4は圧接体
5を着脱自在に保持し、圧接体5の下面中央部にIC1
1を吸脱着する吸着パッド5Aを配置し、吸着パッド5
Aの周囲に底面がIC11のリードに接触する圧接子5
Bを設け、圧接体5の側面に張り出す形で少なくとも2
つのガイドピン5Cを下向きに突出させ、ICソケット
21の周囲にガイドピン5Cがはいる穴22Aをもつガ
イド22を配置し、昇降手段31は吸着ハンドを降下
し、IC11を前記ICソケット21に圧接する。
【0014】第2の発明は、接続体4の内部に発熱体6
Aにより加熱される熱伝導体4Aを設け、接続体4の周
壁および上壁と熱伝導体4Aとを熱遮断体4Bで断熱支
持し、吸着パッド5Aと熱伝導しない形で熱伝導体5D
を圧接子5B内に保持し、熱伝導体4Aの下面と熱伝導
体5Dの上面は密着し、熱伝導体5Dの下面とIC11
のパッケージを密着させて加熱する。
【0015】第3の発明は、第1の発明または第2の発
明の吸着ハンドを複数列配置し、複数個のIC11を搬
送する。
【0016】
【作用】第1の発明による構成によれば、支持体1と揺
動体2は連結体7で回転可能に連結しているのでX軸ま
たはY軸を中心に微小揺動する。また、支持体1と揺動
体2は、ばね8で結合され、揺動体2が変位すると、ば
ね8は揺動体2を初期状態に復帰する力が働く。揺動体
2と遊動体3は面対偶であり、揺動体2と遊動体3間に
球2Cが介在することにより摩擦係数を小さくしてい
る。揺動体2は、遊動体3を段付きピン2Bで遊動可能
に結合する。前述のように圧接体5は浮動状態で保持さ
れているので、この吸着ハンドを降下すると、ガイドピ
ン5Cの先端部は円錐状に形成されているので、ガイド
22の穴22Aに馴染み、IC11のリードとICソケ
ット21の接触子が精度良く位置合わせされ接触する。
【0017】第2の発明は、第1の発明による浮動機構
つき吸着ハンドの加熱機能を付加したものである。第2
の発明では、IC11を吸着ハンドで吸着中または圧接
中にIC11が加熱されるので、発熱体6Aを適正に温
度制御すれば、温度精度の良い高温測定ができる。ま
た、発熱体6Aを使用しないときは、第1の発明による
常温用のオートハンドラとして機能する。
【0018】第3の発明は、第1の発明による吸着ハン
ドまたは第2の発明による吸着ハンドを2個以上並列に
配置したものである。第1の発明では吸着ハンドはIC
ソケットと個々に位置合わせされるので、吸着ハンド間
またはICソケット間の精度良く組み立てる必要がな
い。
【0019】
【実施例】次に、この発明による吸着ハンドの構成を図
1の実施例により説明する。図1アは吸着ハンドの断面
図であり、図1イは図1アのAA矢視部分断面図であ
る。図1の1は支持体、2は揺動体、3遊動体、4は接
続体、5は圧接体であり、7は連結体、8はばね、11
はICである。
【0020】図1では、支持体1は断面が逆凹字状に形
成され、支持体1の相対向する側壁には、ピン1Aの先
端が内部に向かい合う形でピン1Aが固定される。連結
体7は支持体1内部に配置され、連結体7の第1の側面
に保持されるベアリング7Aを仲介して、ピン1Aと連
結体7を回転可能に連結する。
【0021】揺動体2は断面が凹字状に形成され、揺動
体2の相対向する側壁には、ピン2Aの先端が内部に向
かい合う形でピン2Aが固定される。連結体7はピン1
Aによる軸心と直交する第2のに側面ベアリング7Aが
保持され、第2の側面に保持されるベアリング7Aを仲
介して、ピン2Aと連結体7を回転可能に連結する。
【0022】連結体7の中央部は貫通穴があけられ、前
記貫通穴内に支持体1と揺動体2が互いに離反する力を
付与する圧縮コイルばね8が配置される。すなわち、揺
動体2が変位するとばね8は初期状態に復帰する力が働
く。
【0023】揺動体2の底面の隅縁部には段付きピン2
Bが固定され、遊動体3は段付きピン2Bの段部で懸下
され、遊動体3は微小遊動する。揺動体2と遊動体3間
には球3Cが介在され、揺動体2と遊動体3の接触によ
る摩擦力を軽減している。
【0024】接続体4は遊動体3に固定され、中空穴が
形成される。接続体4の内部には、発熱体6Aにより加
熱される熱伝導体4Aが設けられる。接続体4の周壁お
よび上壁と熱伝導体4Aとを熱遮断体4Bは断熱支持す
る。熱伝導体4Aは金属材、好ましくはアルミニウムが
使用され、熱遮断体4Bは熱遮断性合成樹脂材、例え
ば、エポキシガラス材が使用される。
【0025】熱伝導体4Aには、後述する吸着パッド5
Aの吸着穴に接続する流路41が形成される。流路41
は継ぎ手を介してチューブ6Cが接続され、チューブ6
Cの遠端は真空ポンプなどに接続される。流路41を負
圧にすることにより、吸着パッド5AでIC11を吸着
する。熱伝導体4Aには、加熱温度を検出する温度セン
サ6Bが挿入される。接続体4の1側壁には、発熱体6
Aの接続線と温度センサ6Bの接続線とチューブ6Cが
接続されるための窓42が設けられる。
【0026】圧接体5は、吸着パッド5Aと圧接子5B
とガイドピン5Cと熱伝導体5Dと継手5Eとアーム5
Fで構成される。圧接体5は前記構成が一体となって接
続体4に着脱自在に保持される。IC11の形状が変わ
ると別の圧接体5が接続体4に取り付けられる。
【0027】圧接体5の下面中央部にはIC11を吸脱
着する吸着パッド5Aが配置される。吸着パッド5Aの
周囲には、底面がIC11のリードに接触する圧接子5
Bが設けられる。圧接体5の側面にアーム5Fで張り出
す形で、2つのガイドピン5Cが下向きに突出させる。
【0028】吸着パッド5Aは、継手5Eにより熱伝導
体5Dと熱伝導しない形で保持される。熱伝導体5Dを
圧接子5B内に保持し、熱伝導体4Aの下面と熱伝導体
5Dの上面は密着し、熱伝導体5Dの下面とIC11の
パッケージを密着させて加熱する。吸着パッド5Aと継
手5Eの中央には吸着穴が貫通し、前記貫通穴が流路4
1に接続し、IC11を吸着する。
【0029】図2は図1の吸着ハンドの外観図である。
図1で説明されたように、図2では、支持体1と揺動体
2は連結体7で回転可能に連結しているのでX軸または
Y軸を中心に微小揺動する。遊動体3と接続45と圧接
体5は一体となって、X方向またはY方向に微小移動、
あるいはXY平面を微小回転する。
【0030】次に、図1の吸着ハンドを使用した接触機
構の第1の実施例を図3により説明する。図3では、測
定基板20上の板状のアダプタ20Aが取り付けられ
る。アダプタ20Aには、ICソケット21が取り付け
られ、ICソケット21の周囲には、ガイドピン5Cが
はいる穴22Aをもつガイド22が配置される。
【0031】図3では、基板90には供給ステージ16
と収容ステージ17が載置される。供給ステージ16に
はIC11の姿勢を案内する凹部16Aが形成される。
凹部16Aの周囲にガイドピン5Cがはいる穴62をも
つガイド16Cが配置される。収容ステージ17にはI
C11の姿勢を案内する凹部17Aが形成される。
【0032】図3の30は移動体であり、第1の昇降手
段であるシリンダ31と第2の昇降手段であるシリンダ
32が取り付けられる。シリンダ31はこの発明による
吸着ハンド(以下、吸着ハンド10と呼ぶ。)を昇降
し、シリンダ32は吸着ハンド32Aを昇降する。モー
タ33は移動体30を水平方向に移動する。移動体30
はシリンダ31・32と吸着ハンド10・32Aを一体
にして移動する・
【0033】次に、図3の動作を説明する。吸着ハンド
10を供給ステージ16上に移動する。次に、シリンダ
31を駆動し、吸着ハンド10は凹部6A内のIC11
を吸着する。このとき、圧接体5はガイド16Cにより
精度良く位置決めされて、IC11を保持する。次に、
吸着ハンド10はICソケット21上に移動し、降下す
る。このとき、圧接体5はガイド22によりICソケッ
ト21と精度良く位置決めされ、IC11が圧接され
る。IC11の測定が終了すると、IC11をICソケ
ット21に残し、吸着ハンド10は供給ステージ16側
に移動する。ICソケット21に残留したIC11は吸
着ハンド32Aにより収容ステージ17の凹部17Aに
搬送される。
【0034】次に、図1の吸着ハンドを使用した接触機
構の第2の実施例を図4により説明する。オートハンド
ラとテストヘッドの接続機構では、テストヘッドの構成
により、図3のようにガイド22を測定基板20上に配
置できない場合がある。図4は、このような場合も接続
可能とした実施例である。
【0035】図4の23は案内基板であり、その他の構
成は図3と同じものである。案内基板23には段付き穴
23Aが形成され、段付き穴23Aの段部はICソケッ
ト21の外形より微小大きく形成されているので、段付
き穴23AでICソケット21の外形を規制することが
できる。
【0036】段付き穴23Aの周囲には、ガイドピン5
Cがはいる穴22Aをもつガイド22が配置される。案
内基板23の縁部にはピン23Bが立設する。ピン23
Bは、測定部の基板90の開口部に延設された接続板2
3Cと遊動可能に連結する。圧縮コイルばね23Dはピ
ン23Bに介挿され、案内基板23と接続板23Cが離
反する方向に力を付与する。
【0037】図4では、基板90の水平面に対し、測定
基板20が微小角度傾いていても案内基板23が遊動可
能に弾性的に保持されているので、ICソケット21が
段付き穴23Aに容易に挿入できる。さらに、圧接体5
が浮動するので、IC11はガイド22Aに案内され、
精度良くICソケット21に接触する。
【0038】図3と図4による接触機構の実施例では、
吸着ハンド10を単体で使用する例を示したが、図3お
よび図4では吸着ハンド10を複数使用する複数個並列
測定が可能である。
【0039】
【発明の効果】この発明は、吸着ハンドに遊動可能に保
持される圧接体を設け、圧接体にガイドピンを形成し、
ICソケットにガイドピンで位置決めされるガイドを形
成するので、テストヘッドとオートハンドラの接続が容
易になる。また、この発明の吸着ハンドは吸着パッドと
圧接子を一体にしているので、ICをICソケットに圧
接するとき、ICのリード曲りを軽減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による吸着ハンドの構成図である。
【図2】図1の吸着ハンドの外観図である。
【図3】図1の吸着ハンドを使用した接触機構の第1の
実施例による図である。
【図4】図1の吸着ハンドを使用した接触機構の第2の
実施例による図である。
【図5】従来技術による吸着ハンドおよび搬送接触機構
の構成図である。
【図6】図5の上面図である。
【符号の説明】
1 支持体 2 揺動体 3 遊動体 4 接続体 4A 熱伝導体 4B 熱遮断体 5 圧接体 5A 吸着パッド 5B 圧接子 5C ガイドピン 5D 熱伝導体 6A 発熱体 11 IC 21 ICソケット 22 ガイド 23 案内基板 23A 段付き穴
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 13/04 Z

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 テストヘッドの上面にICソケット(21)
    を配置し、オートハンドラを前記テストヘッドに覆う形
    で接続し、吸着ハンドはIC(11)を搬送してICソケッ
    ト(21) に圧接する接続機構において、 吸着ハンドは支持体(1) と、揺動体(2) と、遊動体(3)
    と、接続体(4) と、圧接体(5) とで構成し、 支持体(1) の下に揺動体(2) を微小揺動可能に連結し、 揺動体(2) は遊動体(3) を微小遊動可能に懸架し、 遊動体(3) は接続体(4) を固定し、 接続体(4) は圧接体(5) を着脱自在に保持し、 圧接体(5) の下面中央部にIC(11)を吸脱着する吸着パ
    ッド(5A)を配置し、 吸着パッド(5A)の周囲に底面がIC(11)のリードに接触
    する圧接子(5B)を設け、 圧接体(5) の側面に張り出す形で少なくとも2つのガイ
    ドピン(5C)を下向きに突出させ、 ICソケット(21)の周囲にガイドピン(5C)がはいる穴(2
    2A) をもつガイド(22)を配置し、 昇降手段(31)は吸着ハンドを降下し、IC(11)を前記I
    Cソケット(21)に圧接することを特徴とする浮動機構つ
    き吸着ハンド。
  2. 【請求項2】 接続体(4) の内部に発熱体(6A)により加
    熱される第1の熱伝導体(4A)を設け、接続体(4) の周壁
    および上壁と第1の熱伝導体(4A)とを熱遮断体(4B)で断
    熱支持し、吸着パッド(5A)と熱伝導しない形で第2の熱
    伝導体(5D)を圧接子(5B)内に保持し、第1の熱伝導体(4
    A)の下面と第2の熱伝導体(5D)の上面は密着し、第2の
    熱伝導体(5D)の下面とIC(11)のパッケージを密着させ
    て加熱することを特徴とする請求項1記載の浮動機構つ
    き吸着ハンド。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の吸着ハン
    ドを複数列配置し、複数個のIC(11)を搬送することを
    特徴とする浮動機構つき吸着ハンドの搬送機構。
  4. 【請求項4】 ICソケット(21)とガイド(22)を一体に
    して測定基板(20)上に配置し、請求項1または請求項2
    記載の吸着ハンド(10)でIC(11)をICソケット(21)に
    接触させることを特徴とする浮動機構つき吸着ハンドの
    接触機構。
  5. 【請求項5】 ガイド(22)が配置される案内基板(23)を
    オートハンドラの測定部底面に遊動可能に保持し、案内
    基板(23)にICソケット(21)の外形で位置を規制する段
    付き穴(23A)を設け、請求項1または請求項2記載の吸
    着ハンドでIC(11)をICソケット(21)に接触させるこ
    とを特徴とする浮動機構つき吸着ハンドの接触機構。
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