JPH0316092A - 集積回路素子の出力フィードバック制御回路 - Google Patents

集積回路素子の出力フィードバック制御回路

Info

Publication number
JPH0316092A
JPH0316092A JP1227633A JP22763389A JPH0316092A JP H0316092 A JPH0316092 A JP H0316092A JP 1227633 A JP1227633 A JP 1227633A JP 22763389 A JP22763389 A JP 22763389A JP H0316092 A JPH0316092 A JP H0316092A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
latch
node
feedback control
conduction type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1227633A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0748306B2 (ja
Inventor
Yun-Ho Choi
潤浩 崔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JPH0316092A publication Critical patent/JPH0316092A/ja
Publication of JPH0748306B2 publication Critical patent/JPH0748306B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/062Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、集積回路素子の出力フィードバック制御回
路に関するもので、より詳しくは高密度に作製された集
積回路素子(以下、IC素子と称する)内の単位セルで
出る微弱な出力が、外的な雑音要所によって状態遷移を
起こす場合に、上記のIC素子の外部に連結される他の
素子により以上のエラー信号が供給されないようにする
ために、上記のIC素子の最終の出力状態によりICの
出力段の動作をフィードバック制御する回路に関する。
〔従来の技術〕
半導体製造分野において、VLS I級以上の高密度の
ICを開発するようになった動機は、チップに対する集
積度を高めることにより、IC素子当たりの価格を下げ
るためのものであり、これを実現するためにトランジス
タの構造やセルの設計を改選させて基本セルの占有面積
を減少して来なのである。
その一つの例として、書込及び続出可能なメモリ素子で
あるRAMセルの設計の段階は、フリップ・フロップで
誘導された動的4−トランジスタのセルからセルのフィ
ードバック通路を共有する3−トランジスタセルに、そ
のつぎには一つのMOSトランジタと電荷を貯蔵するキ
ャパシタとから形成された1−トランジスタセルまで進
行されて来た。しかし、このように所定の機能ブロック
を形成する基本セルの占有面積、又は構造を簡単にして
集積度を高める過程に於いては、その構造の単純性のた
め各種の問題が惹起されたのである。
例えば、1−トランジスタセルで形戒されたRAMの場
合、ゲートキャパシタンスがそれ自体としては貯蔵キャ
パシタとして不足すると言う点等を挙げ得る.このよう
な理由で、出力を読み出す時にセルに貯蔵された情報が
損傷されてしまう危険性もあり、その上に出力電圧が低
いので大変敏感な再生増幅器が必要になる問題があった
(Stein,K. U. et al. 1972“
Storage Array and Sense/R
efresh Circuit for Single
 Transistor MemoryCe11s” 
IEEE Journal of Solid Sta
te Ciruits,SC−7, No. 5. p
p. 336−40.参照)。
ところが、微弱なセルの出力電圧を高い増幅度を持って
増幅し得る増幅器が具備されたとしても、上記の増幅器
が静的増幅器(static amplifier)で
構成されている場合には、セルの出力電圧に外的な雑音
が混入された時には、上記の静的増幅器はこの外的な雑
音によって変動されたセルの出力電圧をそのままに増幅
して希望していない信号を持続的に出力する減少を誘発
する。
〔発明の目的] この発明の目的は、所定の機能ブロックのセルで発生す
る出力が外的な雑音によって状態遷移されることを抑制
するために、上記セルの出力を予めラッチしてデータの
流れを遮断すると共にデータセンス増幅器をディスエー
ブルさせて、そのデータ入力を随意状態にすることによ
り、微弱なセル出力信号に外的な雑音が印加されても、
ブロックの最終出力がその外的雑音から影響を受けない
ようにした集積回路素子の出力フィードバック制御回路
を提供することにある。
この発明の他の目的は、素子の最終出力ノードの出力が
定常的な動作過程により状態遷移を起こした時にデータ
センス増幅器をディスエーブルさせることによりデータ
センス増幅器での電力損失を減少させ得るようにした集
積回路素子の出力フィードバック制御回路を提供するこ
とにある。
〔目的の達威〕
上記の目的を達成するため、この発明による回路は次の
特徴を有する。
セルで出力されて発生して微弱な信号は、一時的にI/
Oラインセンス増幅器及びリードドライバーによって増
幅された後に、データラッチ/伝送ブロックを通じてデ
ータ出力バッファ−に伝送され、状態遷移検出ブロック
はデータラッチ/伝送ブロックの出力ノードでの状態遷
移を検出して、例えば正論理で論理「0」に該当するク
ロックを発生する。発生したこのクロックはフィードバ
ックされてデータラッチ/伝送ブロックでデータの流れ
を遮断すると共にI/Oラインセンス増幅器をディスエ
ーブルさせる。また、新たなサイクルでデータの流れチ
ェーンを活性化させるプリチャージクロックによってデ
ータプリチャージブロックが動作して、上記データ/伝
送ブロックの出力ノードを一定のレベルにプリチャージ
させ、これにより状態遷移検出ブロックは上記フィード
バック制御クロックのレベルを更に論理「1」に転換し
て、更にセンス増幅器とリードドライバ、そしてデータ
ラッチブロックを活性化させる。
〔実 施 例〕 添付図を参照して、以下にこの発明を詳細に説明する. 第1図には、一般的なMOS型メモリ素子の一つである
DRAMの基本的な構戒が図示されている。この図面に
は、説明の便宜のために各種の制御信号ラインを図示し
ていない。信号の流れとしては、アドレス信号ADを外
部のアドレッシングクロックに同期してロウドレスバソ
ファ一RAB及びカラムアドレスバッファ一CABを受
けてラッチし、ロウアドレスデコーダーRADで一つの
ロードラインを選択的に駆動してセルアレイCA内で上
記のロードラインに連結されたメモリセルを選択する。
選択されたメモリセルの情報は、ビットラインに伝送さ
れて、ビットラインセンス増幅器SA.で増幅される。
次いで、カラムアドレスバッファ一CABからカラムア
ドレス信号を受け取ったカラムアドレスデコーダーCA
Dはビットラインセンス増幅器SA0とI/Oラインセ
ンス増幅器SAを一緒に選択する。選択されたビットラ
インセンス増幅器SA.で出力された情報は、I/Oデ
ータラインを通じてI/Oラインセンス増幅器SAで更
に増幅された後、リードドライバーRDを経由して出力
バッファ−DOBに供給する。第1図で点線で区画され
た人カバッファ一IBとライトドライバーWD及びバス
ラインは、データ入力D inをメモリセルに書込する
場合に使用されるものとして、第1図の中でデータ入力
を書き込むための手段を除外すると、前述の構戒は大体
にROMの機能的な表現と同じであることが判る。
ここで、上記I/Oラインセンス増幅器SAが静的セン
ス増幅器で構成された場合には、セルで読出された信号
はセンス増幅器SA、リードドライバーRD及び出力バ
ッファ−DOBを経由してデータ出力端子D0に伝達さ
れるので、データ出力が維持される限り、センス増幅器
SAGζ印加される入力信号も継続的に維持されなけれ
ばならない。この場合、セルで読み出されてセンス増幅
器SAに入力される微弱な信号が雑音等の影響によって
変動されると、これがスタッチクデータ流れチェーンを
通じてデータ出力端子D0にも及ぶようになって、デー
タ出力がやはり変動されてしまう。また、データ流れチ
ェーンが駆動される間に静的なセンス増幅器はmVt的
に直流の電力を消費する。
第2図には、データの出力段に静的センス増幅器を具備
してあるセルを有する集積回路素子において、上記のよ
うな問題点を解消させ得る出力制御回路が図示してある
。参照記号SA’およびRD′は各々ディスエーブル端
子を有するI/Oラインセンス増幅器及びリードドライ
バを示しており、OLBリードドライバRD’の出力信
号をフィードバック制御クロックに同期してラッチ又は
伝送する出力ラッチ/伝送ブロックを示している.そし
て、プリチャージクロックCPによって、上記の出力ラ
ッチ/伝送ブロックOLBの出力ノードNd,Ndを電
源電圧VCCによる一定レヘルにプリチャージさせるプ
リチャージブロックFRBの出力は上記出力ノードに共
通接続されている。
状態遷移検出ブロックSTDは、上記出力ラッチ/伝送
ブロックOLBの出力ノードNd,Ndでの出力の状態
遷移を検出してフィードバック制御用クロックCrを発
生する回路で、上記フィードバック制御用クロツクCr
はセンス増幅器SA’及びリードドライバRD’をディ
スエーブルさせると共に出力ラッチ/伝送ブロックOL
Bに伝達されて出力データの流れを遮断するようになっ
ている。
第3図は、第2会うに示した集積回路素子の出力フィー
ドバック制御回路の詳細な構戒を図示した図面である。
センス増幅器SA’はセルアレイCAで読み出されて第
一及び第二!/○ラインDL及びr丁を経由して伝達さ
れる微弱なデータを増幅するもので、下記のような構成
を有する。即ち、ノード100とノード102との間に
、直列結合された第一伝導型トランジスタと第二伝導型
トランジスタの対Q1及びQ2,Q3及びQ4,Q5及
びQ6,Q7及びQ8が並列に接続されている。ノード
100は第一伝導型トランジスタQ1、Q3,Q5及び
Q7の各々のソースに対する共通接続点を形成し、ノー
ド102は第二伝導型トランジスタQ2,Q4.Q6及
びQ8の各々のソースに対する共通接続点を形戒する。
第一トランジスタQ1と第三トランジスタQ3の各々の
ゲートは一緒に第一トランジスタQlのドレイン104
に接続されることによって一つの電流累ラーを構成する
。第五トランジスタQ5及び第七トランジスタQ7の各
々のゲートは一緒に第七トランジスタQ7のドレイン1
10に接続されて他の一つの電流旦ラーを構成する。第
一I/OラインDLは、第二及び第六トランジスタQ2
及びQ6のゲートに接続してあり、第二I/Oライン百
丁は第四及び第八トランジスタQ4及びQ8のゲートに
接続してある。
そして、第三トランジスタQ3と第四トランジスタQ4
の両ドレインの接続ノード106はセンス増幅器SA’
の第一出力端を構成し、第五トランジスタQ5と第六ト
ランジスタQ6の両ドレインの接続ノード10Bはセン
ス増幅器SA’の第二出力端を構成するが、第二出力端
は第一出力端に対するコンブリメントな関係を有する。
また、この発明の一つの特徴として、第一電源線VCC
とノード100との間に、又は第二電源線■,,とノー
ド102との間に直流(DC)パワーゲーティングトラ
ンジスタが設けてある。
第3図の実施例においては、ノード102と第二電源線
VSSとの間にDCパワーゲーティングトランジスタと
して第二伝導型トランジスタQ9が設けてあるが、この
トランジスタQ9のゲート端子に接続されたノード11
2は状態遷移検出ブロックSTDから制御用クロックを
受け取るディスエーブル端子の役割をする。ディスエー
ブル端子112の電位がハイ(high)であると、ト
ランジスタQ9はターンオンされることにより、第一電
源線VCCと第二電源線VSSとの間には、少なくとも
一つのDC電流通路が形成される状態、言い換えると、
センス増幅33 S A ’のエネイブル状態が達成さ
れる。こん状態の下で、第一出力端106及び第二出力
端108の電位は各々第一I/OラインDL及び第二I
/OラインDLの電位に対応する。反対に、ディスエー
ブル端子112の電位がロウ( low)であると、第
一電源線VCCと第二電源線VSSとの間には、DC電
流通路が全く形成されないようになり、従ってセンス増
幅器SA’はディスエーブル状態になる。
リードドライバRD’は、大体三つの部分、即ち非同期
型RSラッチLTOと、反転増幅手段IAと、RSラッ
チLTOに対するプルアップ手段PLIとから構成され
る。非同期型RSラッチLTOは二つノNORゲートO
GI及びOG2から形成され、そのR入力端子200は
センス増幅器SA′の第一出力端106に、そのS入力
端子202はセンス増幅器SA’の第二出力端108に
連結されている。反転増幅手段IAはRSラッチLTo
の第一及び第二出力端204尾よ非206の信号を各々
反転増幅する二つの反転増幅部を具備する。
第一反転増幅部は、RSラッチLTOの第二出力端20
6の信号を反転サセル第一インバータ■1と、そのゲー
トは第一インバータ11の出力端に、そのソースは第一
電源線VCCに、そのドレインは第一反転増幅部の出力
ノード208に各々連結される第一伝導型トランジスタ
Q11と、そのゲートはRSラッチLTOの第一出力端
204に、そのソースは第二電源線VSSに、そのドレ
インは第一反転増幅部の出力ノード208に各々連結さ
れる第二伝導型トランジスタQ12等で形成され、その
出力ノード208はRSラッチLTOの第一出力端20
4の信号に対して反転された信号を出力するようになっ
ている。第二反転増幅部はRSラッチLTOの第一出力
端204の信号を反転させる第二インバータI2と、そ
のゲートは第二インバータ【2の出力端に、そのソース
は第一電源線VCCに、そのドレインは第二反転増幅部
の出力ノード210に各々連結される第一伝導型トラン
ジスタQ13と、そのゲートはRSラ・ノチの第二出力
端206に、そのソースは第二電源線VSSに、そのド
レインは第二反転増幅部の出力ノード2lOに各々連結
される第二伝導型トランジスタQ14等を有していて、
その出力ノード210はRSラッチLT○の第二出力端
206の信号に対して反転された信号を出力するように
なっている。
一方、プルアップ手段PUはRSラッチLTOPのR,
  S入力端を強制にハイ状態に立ち上がらせてやるこ
とにより、第一及び第二反転増幅部の出力ノード208
及び210を随意状態に作る。
第3図に示した実施例において、プルアップ手段PUは
二つの第一伝導型トランジスタQ15及びQ16とから
構成される。これ等のトランジスタQ15及びQ16の
各々のソースは第一電a線Vccに連結される一方、各
々のゲートは共に状態遷移検出ブロンクSTDから制御
クロックCfを受け取るノード212に接続されている
。そして、トランジスタQ15及びQ16のドレインは
各々RSラッチLT○のR入力端子とS入力端子に連結
してある。従って、ノード212のハイ信号はトランジ
スタQ15及びQ16をターンオフさせて、RSラッチ
LTOをして定常的なラッチ動作を遂行するようにする
反面、ノード212のロウ蔭号はトランジスタQ15及
びQ16をターンオンさせて、RSラッチLTOのRS
入力を全てハイレベルに立ち上げる。その結果、RSラ
ッチLTOは禁止状態となって第一反転増幅部の出力ノ
ード208及び第二反転増幅部の出力ノード210を随
意状態にする。
出力ラッチ/伝送ブロック○LBは、状態遷移検出ブロ
ックSTDから伝達される制御クロックCfを反転させ
る第三インバーター■3と、その第一(伝導型)ゲート
は制御クロックCfを受け取るノード300に、その第
二(伝導型)ゲートは第三インバータI3の出力端に各
々連結されて制御クロックCfのレベルによりリードド
ライバーRDの第一出力ノード208の信号を通過、又
は遮断する第一伝送ゲートTMIと、その第一(伝導型
)ゲートは上記のノード300に、その第二(伝導型)
ゲートは上記の第三インバータI3の出力端に各々連結
されて制御クロックCfのレベルによりリードドライバ
RD’の第二出力ノード210の信号を通過、又は遮断
する第二伝送ゲートTM2を有する。また、出力ラッチ
/伝送ブロックOLBは上記の第一及び第二伝送ゲート
TMI及びTM2の出力を各々反転させた状態にラッチ
して、その第一出力ノードNd及び第二出カノードπ丁
に印加する第一ラッチ手段LTI及び第二ラッチ手段K
T2を具備している。この実施例において、これ等の各
々のラッチ手段LTI及びLT2は相互フィードバック
(back to back)に連結された二つのイン
バータI4及びl5,T6及びI7とから構成されてい
る。従って、第一出力ノードNdは第一ラッチ手段LT
Iの入力端302の信号に対して反転された信号を、第
二出カノードπ丁は第二ラッチ手段LT2の入力端30
4の信号に対して反転された信号を維持できる.結局、
上記の制御クロックCfを受け取るノード3000レベ
ルがハイであると、リードドライバRD’の第一及び第
二出力ノード208及び210の信号は各々ターンオン
さらた伝送ゲートTM1及びTM2を通過して後に更に
第一ラッチ手段LTI及び第二ラッチ手段LT2によっ
て反段LT1及び第二ラッチ手段LT2によって反転さ
れた状態に第一及び第二出力ノードNd,Ndに印加さ
れる。反対に、ノード300のレベルがロウであると、
伝送ゲートTM1及びTM2は、全てターンオフされて
リードドライバRD’の出力等は遮断され、第一及び第
二ラッチ手段LTl及びLT2は第一出力ノードNd及
び第二出力ノードNdのレベルをそのままにラッチさせ
る。
プリチャージブロックFRBは、各々のリードサイクル
でプリチャージク口ックCpの印加時毎に出力ラッチ/
伝送ブロックOLBの第一及び第二出力ノードNd,π
Tを全て第一電源線VCCのレベルにラッチさせるもの
として、一対の第二伝導型トランジスタQ21.Q22
とから構成されている。これ等のトランジスタQ21及
びQ22のソースは共通に第一電源線VCCに連結され
ており、トランジスタQ21のドレインはノードNdに
、そしてトランジスタQ22のドレインはノードπ丁に
連結されいる。また、これ等のトランジスタのゲートに
は全てプリチャージクロックCpが印加される。この様
な構戒のもとで、ロウレベルのクロックCpが印加され
ると、トランジスタQ21及びQ22は全”C V c
c L/ ヘル、即ちNd=1,Nd=1にセットされ
る。一方、クロックCpがハイレベルに維持されると、
トランジスタQ21及びQ22はターンオフされるし、
これによりブロックOLBの第一、第二出力ノードNd
,Ndはプリチャージ用の電圧VCCから隔離され、そ
の現在の状態の値を持続的に維持する。
状態遷移検出ブロックSTDは、出力ラッチ/伝送ブロ
ックOLBの第一、第二出力ノードNd,π丁の状態遷
移を検出してフィードバック制御用クロックCfを生或
するものであるし、ブロックOBLの第一、第二ノード
Nd,Ndの信号を入力するNANDゲートACと、こ
のNANDゲートAGの出力を反転するインバータ■8
を具備している。
以下に上記回路の全体的な動作を説明する。プリチャー
ジ状態、即ちNd=Nd=1においては、状態遷移検出
ブロックSTD論理「l」 (ハイ)の制御出力を発生
してセンス増幅器SA’及びリードドライバRD’を活
性化させると共に、出力ラッチ/伝送ブロックOLBを
伝送モードにすることにより、センス増幅器SA’の入
力端に連結された第一、第二r/OラインDL,DLか
ら出力ラッチ/伝送ブロックOLBの第一、第二出力ノ
ードNd,Ndまでの間に信号の流れチェーンが形成さ
れる。この時、第3図に示したような構によると、出力
ノードNd,Ndは、各々第一第二I/OラインDL,
DLの信号に対して反転されたレベルのNdが第一、第
二■/○ラインの信号に基づきプリチャージ状LQ(N
d=1、Nd−1)からg+t理rO」 (Nd=O,
N丁一l)、又は論理rlJ  (Nd=1,Nd=O
)に転換されると、状態遷移検出ブロックSTDはロウ
レベルのクロックCfを発生させる。その発生された論
理ro,レベルのクロックCfは出力ラッチ/伝送ブロ
ックOLBにフィードバックされて、現在の出力をラッ
チさせた状態でデータの流れを遮断する一方、センス増
幅器SA’及びリードドライバRD’に供給されて、こ
れ等をディスエーブルさせる。従って、微弱なセルの出
力DL,DLが外的な雑音によって変動されてセンス増
幅器SA′に印加されても、既にセンス増幅器SA’や
リードドライバRD’は増幅機能を遂行できないので、
出力ノードNd,Ndの出力状態は影響を受けないで、
データ出力バッファ−DOBを通じて出力端子D0に出
力される。
続いて、新たな出力サイクルがスタートされながら、プ
リチャージク口ックCpがプリチャージブロックFRB
を駆動すると、出力ノードNd,Ndはプリチャージ状
態となる。これによって、状態遷移検出ブロックSTD
は上記の論理「0」レベルとなっていた制御用クロック
Cfのレベルを更に論理「1」に転換させるし、その結
果、センス増幅器SA’及びリードドライハRD’を更
に活性化させて、新たなデータ入力を増幅して、出力ラ
ッチ/伝送ブロック○LBを経由して出力ノードNd,
π丁に伝送する。
前述の説明のように、この発明によるフィードバック制
御回路を集積回路素子の出力端に採用したら、出力ノー
ドにラッチされてあるデータが新たなサイクルでプリチ
ャージクロックが発生する前まで、入力ノイズに関係な
しに安定状態に維持されることができる。また一方、セ
ンス増幅器及びリードドライバ゛は一回のリードサイク
ルを通して、その入力信号を増幅した後にディスエーブ
ル状態となるので直流電力の消耗を抑制することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図、集積回路素子の一つである一般のMOS型メモ
リ素子の基本的な構戊を示したブロック図。 第2図、この発明による集積回路素子の出力フィードバ
ック制御回路を示したグロック図。 第3図、第2図の詳細回路図。 図中引用記号: CA・・・セルアレイ、 SA’  ・・・ディスエーブル端子を有するセンス増
幅器、 ・ディスエーブル端子を有するリード ドライバ、 ・出力ラッチ/伝送ブロック、 ・プリチャージブロック、 ・状態遷移検出ブロック、 ・データ出力バッファーブロック。 OLB  ・ PRB  ・ STD  ・ DOB  ・ RD’

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、特定の機能ブロックを形成するセルアレイの基本セ
    ルで読み出された微弱信号を増幅して送り出す集積回路
    素子の出力段において、 上記のセルから出力される微弱な信号を増幅し、状態遷
    移検出ブロックからのフィードバック制御クロックが印
    加されるディスエーブル端子を備えたI/Oラインセン
    ス増幅器(SA′)と、 上記I/Oラインセンス増幅器(SA′)の出力を増幅
    し、状態遷移検出ブロックからのフィードバック制御ク
    ロックが印加される時ディスエーブル端子を具備したリ
    ードドライバ(RD′)と、 上記リードドライバ(RD′)の出力信号を状態遷移検
    出ブッロクからのフィードバック制御クロックのレベル
    によりラッチ又は伝送する出力ラッチ/伝送ブロック(
    OLB)と、 上記出力ラッチ/伝送ブロック(OLB)の出力ノード
    (Nd、■)をプリチャージクロックに同期してプリチ
    ャージさせるプリチャージブロック(PRB)と、 上記出力ノード(Nd、■)の出力状態の 遷移可否を検出して、フィードバック制御クロックを発
    生する状態遷移検出ブロック(STD)等を含むことに
    よって、 上記出力ノード(Nd、■)がプリチャー ジ状態で状態遷移を起こす場合に上記状態遷移検出ブロ
    ック(STD)からのフィードバック制御クロック(C
    F)がI/Oラインセンス増幅器(SA′)及びリード
    ドライバ(RD′)をディスエーブルさせると共に出力
    ラッチ/伝送ブロック(OLB)の現在の出力をらっち
    させると同時に、データの流れを遮断し、新たなサイク
    ルでプリチャージクロックに同期して、出力ノード(N
    d、■)が更にプリチャージ状態に復元される場合に、
    上記フィードバック制御クロック(Cf)がリセット状
    態になって上記I/Oラインセンサ増幅器(SA′)、
    リードドライバ(RD′)及びラッチ/伝送ブロック(
    OLB)が活性化されて新たなデータ入力に対する通路
    が形成されるように構成されたことを特徴とする集積回
    路素子の出力フィードバック制御回路。 2、上記I/Oラインセンサ増幅器(SA′)は、(A
    )第一電源線(V_c_c)と第二電源線(V_s_s
    )との間に相互並列結合される四対の第一伝導型トラン
    ジスタ及び第二伝導型トランジスタ(Q1及びQ2)、
    (Q3及びQ4)、(Q5及びQ6)、(Q7及びQ8
    )とから形成され、各対のトランジタは直列に結合され
    るトランジスタ群として、 (イ)上記第一伝導型トランジスタ(Q1及びQ3)、
    (Q5及びQ7)は各々電流みらーを形成するように接
    続され、 (ロ)上記第二伝導型トランジスタ(Q2及びQ6)の
    各々のゲートには、第一I/Oライン(DL)が、上記
    第二伝導型トランジスタ(Q4及びQ8)の各々のゲー
    トには第二I/Oライン(■)が印加されていて、 (ハ)上記第一及び第二伝導型トランジスタ(Q3及び
    Q4)の両ドレインの第一接続ノード(106)は、上
    記センス増幅器(SA′)の第一出力端を、第一及び第
    二伝導型トランジスタ(Q5及びQ6)の両ドレインの
    第二接続ノード(108)は上記センス増幅器(SA′
    )の第二出力端を構成しており、 (ニ)上記第一伝導型トランジスタ(Q1、Q3、Q5
    及びQ7)のソースの共通接続端(100)には第一電
    源線(V_c_c)の電源が、第二伝導型トランジスタ
    (Q2、Q4、Q6及びQ8)のソースの共通接続端(
    102)には第二電源線(V_s_s)の電圧が印加さ
    れるように構成されたトランジスタ群と、 (B)上記第一電源線(V_c_c)と第一接続ノード
    (100)との間に、又は上記第二電源線(V_s_s
    )と第二接続ノード(102)との間に設けられものと
    して、 状態遷移検出ブッロク(STD)からの制御クロック(
    Cf)を受け取るためのディスエーブル端子(112)
    にそのゲートが接続されるDCパワーゲーテイングトラ
    ンジスタ(Q9)とを含んで形成されたことを特徴とす
    る第1項に記載の集積回路素子の出力フィードバック制
    御回路。 3、上記DCパワーゲーテイングトランジスタ(Q9)
    は第一伝導型トランジスタとして、そのソース及びドレ
    インが各々上記第二電源線(V_s_s)と第二接続ノ
    ード(102)に連結されることを特徴とする第2項に
    記載の集積回路素子の出力フィードバック制御回路。 4、上記リードドライバ(RD′)は、 (A)上記センス増幅器(SA′)の第一及び第二出力
    端(106、108)の信号をそのRS入力信号として
    受け取る非同期型RSラッチ(LTD)と、 (B)上記RSラッチ(LTD)の第一及び第二出力端
    (204、206)の信号を各々反転増幅する第一及び
    第二反転増幅部を含む反転増幅手段(IA)として、 (イ)第一反転増幅部はRSらっち(LTO)の第二出
    力端(206)の信号を反転させる第一インバータ(1
    1)と、そのゲートは第一インバータ(11)の出力端
    に、そのソースは第一電源線(V_s_s)に、そのド
    レインは第一反転増幅部の出力ノード(208)に各々
    連結される第一伝導型トランジスタ(Q11)と、その
    ゲートはRSラッチ(LTO)の第一出力端(204)
    に、そのソースは第二電源線(V_s_s)に、そのド
    レインは第一反転増幅部の出力ノード(208)に各々
    連結される第二伝導型トランジスタ(Q12)とから形
    成され、その出力ノード(208)はRSラッチ(LT
    O)の第一出力端(204)の信号に対して反転さらた
    信号を出力するように構成され、 (ロ)第二反転増幅部はRSラッチ(LTO)の第一出
    力端(204)の信号を反転させる第二インバータ(I
    2)と、そのゲートは第二インバータ(I2)の出力端
    に、そのソースは第一電源線(V_s_s)に、そのド
    レインは第二反転増幅部の出力ノード(210)の各々
    連結される第一伝導型トランジスタ(Q13)と、その
    ゲートはRSラッチの第二出力端(206)に、そのソ
    ースは第二電源線(V_s_s)に、そのドレインは第
    二反転増幅部の出力ノード(210)に各々連結される
    第二伝導型トランジスタ(Q14)等を含み、その出力
    ノード(210)はRSラッチ(LTO)の第二出力端
    (206)の信号に対して反転された信号を出力するよ
    うに構成してある反転増幅手段(IA)と、 (C)二つの第一伝導型トランジスタ(Q15及びQ1
    6)から構成されるものとして、 これ等のトランジスタ(Q15及びQ16)の各々のソ
    ースは第一電源線(V_s_s)に連結される一方、各
    々のゲートは共に状態遷移検出ブロック(STD)から
    の制御用クロック(Cf)を受け取るディスエーブル端
    子(212)に接続され、各々のドレインはRSラッチ
    (LTO)のR入力端とS入力端とに接続されて構成さ
    れるプルアップ手段(PU)とを含んだ形成されること
    を特徴とする第1項に記載の集積回路素子の出力フィー
    ドバック制御回路。 5、上記ディスエーブル端子(212)のハイ信号は上
    記トランジスタ(Q15及びQ16)をターンオフさせ
    て、RSラッチ(LTO)をして定常的なラッチ動作を
    遂行するようにする一方、上記ディスエーブル端子(2
    12)のロウ信号は上記トランジスタ(Q15及びQ1
    6)をターンオンさせてRSラッチ(LTO)のR、S
    入力を全てハイレベルに立ち上がらせ、その結果RSラ
    ッチ(LTO)は禁止状態となって第一反転増幅部の出
    力ノード(208)及び第二反転増幅部の出力ノード(
    210)を随意状態に作られるようになることを特徴と
    する第4項に記載の集積回路素子の出力フィードバック
    制御回路。 6、上記出力ラッチ/伝送ブロック(OLB)は、状態
    遷移検出ブロック(STD)から伝達される制御ブロッ
    ク(Cf)を反転させる第三インバータ(I3)と、 その第一伝導型ゲートは制御クロック(Cf)を受け取
    るノード(300)に、その第二(伝導型)ゲートは第
    三インバータ(I3)の出力端に各々連結されて、制御
    ブロック(Cf)のレベルによりリードドライバ(RD
    ′)の第一出力ノード(208)の信号を通過、又は遮
    断する第一伝送ゲート(TM1)と、 その第一(伝導型)ゲートは上記のノード (300)に、その第二(伝導型)ゲートは上記第三イ
    ンバータ(I3)の出力端に各々連結されて制御クロッ
    ク(Cf)のレベルによりリードドライバ(RD′)の
    第二出力ノード(210)の信号を通過、又は遮断する
    第二伝送ゲート(TM2)と、 上記第一及び第二伝送ゲーォ(TM1及びTM2)の出
    力を各々反転させた状態にラッチしてその第一出力ノー
    ド(Nd)及び第二出力ノード(■)に印加する第一ラ
    ッチ手段(LT1)及び第二ラッチ手段(LT2)とを
    含んで形成されていることを特徴とする第1項に記載の
    集積回路素子の出力フィードバック回路。 7、上記状態遷移検出ブロック(STD)は出力ラッチ
    /伝送ブロック(OLB)の第一、第二出力ノード(N
    d、■)の信号を入力するNANDゲート(AG)と、
    このNANDゲート(AG)の出力を反転するインバー
    タ(I8)を含み、出力ラッチ/伝送ブロック(OLB
    )の第一、第二出力ノード(Nd、■)の状態遷移を検
    出してフィードバック制御クロック(Cf)を生成する
    ように構成したことを特徴とする第1項に記載の集積回
    路素子の出力フィードバック回路。
JP1227633A 1988-12-30 1989-09-04 集積回路素子の出力フィードバック制御回路 Expired - Fee Related JPH0748306B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880017888A KR910008101B1 (ko) 1988-12-30 1988-12-30 반도체 메모리 소자의 피드백형 데이타 출력 회로
KR88-17888 1988-12-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0316092A true JPH0316092A (ja) 1991-01-24
JPH0748306B2 JPH0748306B2 (ja) 1995-05-24

Family

ID=19280906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1227633A Expired - Fee Related JPH0748306B2 (ja) 1988-12-30 1989-09-04 集積回路素子の出力フィードバック制御回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5015891A (ja)
JP (1) JPH0748306B2 (ja)
KR (1) KR910008101B1 (ja)
DE (1) DE3930932A1 (ja)
GB (1) GB2227140B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5071622A (en) * 1989-09-15 1991-12-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for odor control
US5137687A (en) * 1989-09-15 1992-08-11 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for odor control
JPH0684373A (ja) * 1992-01-30 1994-03-25 Samsung Electron Co Ltd 半導体メモリ装置のデータ出力回路
JP2003323800A (ja) * 2002-05-02 2003-11-14 Infineon Technologies Ag Sram半導体メモリーセルのメモリー状態を評価するための差動電流評価回路およびセンスアンプ回路

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR920013458A (ko) * 1990-12-12 1992-07-29 김광호 차동감지 증폭회로
KR930008311B1 (ko) * 1990-12-28 1993-08-27 삼성전자 주식회사 센스 앰프의 출력 제어회로
US5294847A (en) * 1992-08-31 1994-03-15 Motorola, Inc. Latching sense amplifier
US5729160A (en) * 1994-07-20 1998-03-17 Mosaid Technologies Incorporated Self-timed circuit control device and method
US5481500A (en) * 1994-07-22 1996-01-02 International Business Machines Corporation Precharged bit decoder and sense amplifier with integrated latch usable in pipelined memories
ATE219599T1 (de) * 1995-03-31 2002-07-15 Infineon Technologies Ag Nieder-leistungs-leseverstärker des typs gain speicherzelle
KR0144017B1 (ko) * 1995-06-28 1998-08-17 김주용 센스 증폭기
KR0167687B1 (ko) * 1995-09-11 1999-02-01 김광호 고속액세스를 위한 데이타 출력패스를 구비하는 반도체 메모리장치
US5883838A (en) * 1996-01-19 1999-03-16 Stmicroelectronics, Inc. Device and method for driving a conductive path with a signal
KR100255511B1 (ko) * 1996-12-18 2000-05-01 김영환 이중센싱출력경로를구비한동기화메모리장치
US5770953A (en) * 1997-01-17 1998-06-23 Hewlett-Packard Co. Destructive read sense-amp
DE19739960C2 (de) * 1997-09-11 2000-11-30 Siemens Ag Signalregenerierungsschaltung
DE19828657C2 (de) * 1998-06-26 2001-01-04 Siemens Ag Integrierter Speicher
DE10004648C2 (de) * 2000-02-03 2002-03-14 Infineon Technologies Ag Integrierter Halbleiterspeicher
KR100673699B1 (ko) * 2000-10-10 2007-01-23 주식회사 하이닉스반도체 센스 증폭기 출력 제어 회로
JP3506665B2 (ja) * 2000-10-20 2004-03-15 Necエレクトロニクス株式会社 レシーバ回路
KR100518559B1 (ko) * 2003-02-26 2005-10-04 삼성전자주식회사 센스 앰프 회로 및 이를 구비한 비트 비교 회로.
KR100571649B1 (ko) * 2005-03-31 2006-04-17 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치의 데이터 래치회로
DE102005045311B4 (de) * 2005-09-22 2007-05-10 Infineon Technologies Ag Halbleiterspeicher, insbesondere Halbleiterspeicher mit Leseverstärker und Bitleitungs-Schalter
JP2007095254A (ja) * 2005-09-28 2007-04-12 Hynix Semiconductor Inc 半導体メモリ装置
KR100930418B1 (ko) * 2008-09-10 2009-12-08 주식회사 하이닉스반도체 데이터 레지스터 제어 회로 및 이를 포함하는 데이터 레지스터 회로

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62205597A (ja) * 1986-03-05 1987-09-10 Toshiba Corp 半導体感知増幅回路
JPS62271296A (ja) * 1986-05-20 1987-11-25 Fujitsu Ltd 半導体集積回路

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4233675A (en) * 1979-06-08 1980-11-11 National Semiconductor Corporation X Sense AMP memory
US4546455A (en) * 1981-12-17 1985-10-08 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
JPS58169383A (ja) * 1982-03-30 1983-10-05 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
EP0170285B1 (en) * 1984-08-03 1991-04-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device
US4584493A (en) * 1984-10-05 1986-04-22 Signetics Corporation Self referenced sense amplifier
JPS61110394A (ja) * 1984-10-31 1986-05-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH0652632B2 (ja) * 1985-01-23 1994-07-06 株式会社日立製作所 ダイナミツク型ram
JP2514330B2 (ja) * 1986-05-30 1996-07-10 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 センスアンプ回路
US4701644A (en) * 1986-08-13 1987-10-20 Harris Corporation Low power sense amplifier

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62205597A (ja) * 1986-03-05 1987-09-10 Toshiba Corp 半導体感知増幅回路
JPS62271296A (ja) * 1986-05-20 1987-11-25 Fujitsu Ltd 半導体集積回路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5071622A (en) * 1989-09-15 1991-12-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for odor control
US5137687A (en) * 1989-09-15 1992-08-11 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for odor control
JPH0684373A (ja) * 1992-01-30 1994-03-25 Samsung Electron Co Ltd 半導体メモリ装置のデータ出力回路
JP2003323800A (ja) * 2002-05-02 2003-11-14 Infineon Technologies Ag Sram半導体メモリーセルのメモリー状態を評価するための差動電流評価回路およびセンスアンプ回路
US7099218B2 (en) 2002-05-02 2006-08-29 Infineon Technologies Ag Differential current evaluation circuit and sense amplifier circuit for evaluating a memory state of an SRAM semiconductor memory cell

Also Published As

Publication number Publication date
GB2227140A (en) 1990-07-18
KR900010788A (ko) 1990-07-09
DE3930932C2 (ja) 1992-07-09
KR910008101B1 (ko) 1991-10-07
US5015891A (en) 1991-05-14
JPH0748306B2 (ja) 1995-05-24
GB8920389D0 (en) 1989-10-25
GB2227140B (en) 1993-04-07
DE3930932A1 (de) 1990-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0316092A (ja) 集積回路素子の出力フィードバック制御回路
US6862208B2 (en) Memory device with sense amplifier and self-timed latch
KR100871673B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 센스 앰프 회로 및 그 동작 방법
JPH0253879B2 (ja)
US20080159045A1 (en) Semiconductor memory device capable of controlling drivability of overdriver
JPS5812676B2 (ja) センス増幅器
JPH02201797A (ja) 半導体メモリ装置
JPH0785675A (ja) 半導体記憶装置
JP3810807B2 (ja) Sram用センス増幅器およびラッチング回路
US5648935A (en) Sense amplifier
US7031199B2 (en) Semiconductor memory device
US5160861A (en) Circuit for controlling the output of a sense amplifier
JP4379641B2 (ja) データ読み出し回路
JP2005517264A (ja) メモリセルを読み取るための読取回路
US7466613B2 (en) Sense amplifier for flash memory device
US5729160A (en) Self-timed circuit control device and method
JP3169835B2 (ja) 半導体装置
JP2892697B2 (ja) 半導体記憶装置
JP3828847B2 (ja) 半導体記憶装置
US7286424B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP3082229B2 (ja) メモリ装置
JP2905302B2 (ja) 記憶装置の情報読出し回路
JPS63184990A (ja) 半導体メモリ
GB2314951A (en) DRAM sense amplifier arrays
KR100474553B1 (ko) 이중데이타버스라인센스앰프를갖는반도체메모리장치

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090524

Year of fee payment: 14

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees