JP5913787B2 - 粒度分布測定装置 - Google Patents
粒度分布測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5913787B2 JP5913787B2 JP2010042315A JP2010042315A JP5913787B2 JP 5913787 B2 JP5913787 B2 JP 5913787B2 JP 2010042315 A JP2010042315 A JP 2010042315A JP 2010042315 A JP2010042315 A JP 2010042315A JP 5913787 B2 JP5913787 B2 JP 5913787B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- graph
- particle size
- parameter
- size distribution
- evaluation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 80
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 82
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 71
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 10
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 10
- 238000013523 data management Methods 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000006386 memory function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
- G01N15/0211—Investigating a scatter or diffraction pattern
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1429—Signal processing
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
このように構成した本実施形態に係る粒度分布測定装置100によれば、操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した評価パラメータの値との関係をグラフ表示することによって、グラフ上に表示された評価パラメータの値に基づいて、どの操作パラメータの値が最適であるかを容易に評価できるようになる。したがって、種々の操作パラメータ毎に評価パラメータとの関係をグラフ表示して、評価パラメータの値に基づいて各操作パラメータの最適な値を選択することによって、試料毎に最適な測定条件を容易に設定できるようになる。
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
2 ・・・装置本体
3 ・・・インタフェース機器
G1 ・・・測定結果グラフ
G2、G3・・・評価用グラフ
Claims (2)
- 試料の粒度分布測定を行う装置本体と、オペレータからの入力を受け付けて前記装置本体の駆動制御を行うとともに、当該装置本体からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器とを備えた粒度分布測定装置であって、
前記インタフェース機器が、粒度分布測定を行うために設定すべき操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した、前記装置本体の測定結果を用いて得られた評価パラメータの値との関係を示す評価用グラフ及び前記装置本体からの測定結果を示す測定結果グラフを同一画面上に同時に表示するものであり、
前記インタフェース機器が、前記測定結果グラフにおいて、前記評価用グラフに示される操作パラメータの前記各値に対応する複数の粒度分布グラフを同時に表示するものであり、
前記評価用グラフが、一方の軸を前記操作パラメータである屈折率とし、他方の軸を前記評価パラメータである残差平方和又は粒子径としたものであることを特徴とする粒度分布測定装置。 - 前記インタフェース機器が、グラフ表示する操作パラメータの種類及び/又は評価パラメータの種類を変更可能に構成されている請求項1記載の粒度分布測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010042315A JP5913787B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | 粒度分布測定装置 |
CN201110035781.4A CN102192868B (zh) | 2010-02-26 | 2011-02-10 | 粒度分布测定装置 |
GB1102787.7A GB2478183B (en) | 2010-02-26 | 2011-02-17 | Particle size distribution measuring device |
US13/036,038 US9297736B2 (en) | 2010-02-26 | 2011-02-28 | Particle size distribution measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010042315A JP5913787B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | 粒度分布測定装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016026399A Division JP6189985B2 (ja) | 2016-02-15 | 2016-02-15 | 粒度分布測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011179876A JP2011179876A (ja) | 2011-09-15 |
JP5913787B2 true JP5913787B2 (ja) | 2016-04-27 |
Family
ID=43859577
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010042315A Expired - Fee Related JP5913787B2 (ja) | 2010-02-26 | 2010-02-26 | 粒度分布測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9297736B2 (ja) |
JP (1) | JP5913787B2 (ja) |
CN (1) | CN102192868B (ja) |
GB (1) | GB2478183B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5785857B2 (ja) * | 2011-11-22 | 2015-09-30 | 大塚電子株式会社 | 超音波粒径測定器、および超音波粒径測定方法 |
CN103018142B (zh) * | 2012-12-05 | 2016-03-16 | 平顶山易成新材料有限公司 | 一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法 |
CN103018143B (zh) * | 2012-12-05 | 2015-04-01 | 平顶山易成新材料有限公司 | 一种碳化硅微粉粒度检测方法 |
JP6218449B2 (ja) * | 2013-06-17 | 2017-10-25 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置 |
JP6240416B2 (ja) * | 2013-06-24 | 2017-11-29 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置 |
JP6218453B2 (ja) | 2013-06-24 | 2017-10-25 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置 |
EP3023770B1 (en) * | 2014-11-21 | 2017-12-27 | Anton Paar GmbH | Determination of a refractive index of a sample and of a particle size of particles in said sample by means of an apparatus for measuring light scattering |
CN104535603B (zh) * | 2014-12-25 | 2017-02-22 | 保定光为绿色能源科技有限公司 | 碳化硅质量检测的方法 |
CN109883896B (zh) * | 2019-03-06 | 2021-01-08 | 中国石油大学(北京) | 一种气溶胶检测方法及系统 |
Family Cites Families (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989004470A1 (en) * | 1987-11-10 | 1989-05-18 | The Secretary Of State For Defence In Her Britanni | Particle monitoring system |
JP2941308B2 (ja) * | 1989-07-12 | 1999-08-25 | 株式会社日立製作所 | 検査システムおよび電子デバイスの製造方法 |
US5248443A (en) * | 1991-07-29 | 1993-09-28 | Armstrong World Industries, Inc. | Seam cleaning composition |
JPH0674892A (ja) * | 1992-08-25 | 1994-03-18 | Fine Ceramics Center | レーザ回折散乱を用いた粒子径分布測定方法および測定装置 |
JP2720340B2 (ja) * | 1992-10-11 | 1998-03-04 | 株式会社堀場製作所 | レーザ回折式粒度分布測定方法 |
CN2251721Y (zh) * | 1995-08-28 | 1997-04-09 | 周定益 | 激光粒度测试仪 |
JP3633168B2 (ja) * | 1997-01-08 | 2005-03-30 | 株式会社島津製作所 | 粒度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置 |
JP3633169B2 (ja) * | 1997-01-08 | 2005-03-30 | 株式会社島津製作所 | 回折/散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置 |
JP3235554B2 (ja) | 1997-12-25 | 2001-12-04 | 株式会社島津製作所 | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 |
US6417920B1 (en) * | 1999-05-11 | 2002-07-09 | Shimadzu Corporation | Particle size analyzer based on laser diffraction method |
JP3996728B2 (ja) * | 2000-03-08 | 2007-10-24 | 株式会社日立製作所 | 表面検査装置およびその方法 |
JP3398121B2 (ja) * | 2000-05-16 | 2003-04-21 | 株式会社堀場製作所 | 粒度分布測定装置 |
JP2002022646A (ja) * | 2000-07-07 | 2002-01-23 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
US7257518B2 (en) * | 2001-02-28 | 2007-08-14 | Felix Alba Consultants, Inc. | Fundamental method and its hardware implementation for the generic prediction and analysis of multiple scattering of waves in particulate composites |
EP1432972A1 (en) * | 2001-09-07 | 2004-06-30 | Inficon, Inc. | Signal processing method for in-situ, scanned-beam particle monitoring |
JP3814190B2 (ja) * | 2001-11-09 | 2006-08-23 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
JP2003194702A (ja) | 2001-12-27 | 2003-07-09 | Horiba Ltd | 粒度分布測定装置、表示プログラムおよび記録媒体 |
JP3936597B2 (ja) * | 2002-02-06 | 2007-06-27 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
JP4201585B2 (ja) * | 2002-11-29 | 2008-12-24 | 株式会社堀場製作所 | 粒子径分布測定装置 |
JP4043417B2 (ja) * | 2003-08-28 | 2008-02-06 | シスメックス株式会社 | 粒子径計測装置 |
GB2429058B (en) * | 2004-03-06 | 2008-12-03 | Michael Trainer | Method and apparatus for determining the size and shape of particles |
US7199796B2 (en) * | 2004-08-05 | 2007-04-03 | Agilent Technologies, Inc. | Method of selecting portion of a graph, and network analyzing apparatus using same |
JP2006084453A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-30 | Horiba Ltd | 分析装置 |
JP4964446B2 (ja) * | 2005-09-14 | 2012-06-27 | シスメックス株式会社 | 分析装置及び検体情報処理プログラム |
US8006195B1 (en) * | 2005-11-28 | 2011-08-23 | Meta Greek, LLC | Spectrum analyzer interface |
JP4835389B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2011-12-14 | 株式会社島津製作所 | 回折・散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置 |
JP2008164539A (ja) * | 2006-12-29 | 2008-07-17 | Horiba Ltd | 粒子径分布測定装置 |
US8629873B2 (en) * | 2007-08-10 | 2014-01-14 | Shimadzu Corporation | Data analysis system |
EP2280305A4 (en) * | 2008-05-15 | 2014-06-11 | Hitachi Chemical Co Ltd | METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOCHROMIC PARTICLES AND INTELLIGENT FILM USING PHOTOCHROMIC PARTICLES MADE THEREBY |
JP5310255B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-10-09 | 株式会社島津製作所 | 粒度分布測定装置 |
JP2011075340A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Sysmex Corp | 粒子分析装置およびコンピュータプログラム |
-
2010
- 2010-02-26 JP JP2010042315A patent/JP5913787B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-02-10 CN CN201110035781.4A patent/CN102192868B/zh active Active
- 2011-02-17 GB GB1102787.7A patent/GB2478183B/en active Active
- 2011-02-28 US US13/036,038 patent/US9297736B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110213581A1 (en) | 2011-09-01 |
GB2478183B (en) | 2014-03-19 |
CN102192868B (zh) | 2015-09-30 |
JP2011179876A (ja) | 2011-09-15 |
US9297736B2 (en) | 2016-03-29 |
CN102192868A (zh) | 2011-09-21 |
GB201102787D0 (en) | 2011-03-30 |
GB2478183A (en) | 2011-08-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5913787B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
JP4915369B2 (ja) | 粒度分布測定装置及びそれを用いた体積濃度算出方法 | |
CN103502772A (zh) | 坐标定位机器控制器 | |
JP6189985B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
JP2003065956A (ja) | 蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計 | |
JP5310255B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
US7483027B2 (en) | Apparatus and method of cataloging test data by icons | |
US9292730B2 (en) | Apparatus for physics and chemistry and method of processing image | |
JP6667380B2 (ja) | 血液分析のための方法、血液分析装置、コンピュータプログラム、キャリブレータセット、及びキャリブレータセットの作製方法 | |
EP2998725A1 (en) | Spectroscopic system and method | |
JP3235554B2 (ja) | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 | |
JP5915758B2 (ja) | 粒度分布データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布データ処理方法及び粒度分布データ処理プログラム | |
Koulountzios | Ultrasound tomography for control of batch crystallization | |
JP6112025B2 (ja) | 粒度分布測定用データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布測定用データ処理方法及び粒度分布測定用データ処理プログラム | |
JP6729724B2 (ja) | データ処理装置及びデータ処理プログラム | |
JP2011179899A (ja) | 粒度分布測定装置 | |
JP2000002644A (ja) | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 | |
WO2015083284A1 (ja) | 粒度分布測定用データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布測定用データ処理方法及び粒度分布測定用データ処理プログラム | |
JP6896459B2 (ja) | 自動分析装置及び自動分析方法 | |
JP5353626B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
JP2021089244A (ja) | 画像生成装置及び画像処理システム | |
JP4222537B2 (ja) | 静的光散乱式粒径分布測定装置 | |
JP5549390B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
JP6695553B2 (ja) | 表示制御装置及び粒子径分布測定装置 | |
JP2013027433A (ja) | 画像処理装置、画像処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130125 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131024 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140106 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140930 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141226 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20150113 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20150320 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160215 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160404 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5913787 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |