JP5310255B2 - 粒度分布測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、粒度分布を測定する粒度分布測定装置に関し、特に、粒度分布の時間的変化を把握する必要がある粉体プロセス等において使用される粒度分布測定装置に関する。

粒度分布を測定する方法としては、例えば、沈降法、レーザ回折法、電気抵抗法、遮光法、ふるい分け法、顕微鏡法等がある。そして、これらのうちのいずれかの方法を利用することにより、粒度分布を測定することができる粒度分布測定装置が実用化されている。
また、粉体プロセス等においては、製造される粉体や原料として用いた粉体等について、粒度分布の時間的変化を知る必要がある。そこで、粉体プロセス等では、粒度分布を測定時間毎に測定して、粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データを測定時間毎に記憶することができる粒度分布測定装置が実用化されている。

そして、使用者が粒度分布の時間的変化を把握するために、記憶した複数の粒度分布データに基づいて、粒子径と粒子量と測定時間と３軸で構成される３次元グラフを表示することができる粒度分布測定装置が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
図８は、従来の粒度分布測定装置によって表示された粒度分布の時間的変化を示す３次元グラフの一例を示す図である。Ｘ軸は上方向に伸び、Ｙ軸は右上斜め方向に伸び、Ｚ軸は左上斜め方向に伸びている。そして、Ｘ軸に粒子量（μｍ）をとり、Ｙ軸に粒子径（％）をとり、Ｚ軸に測定時間をとっている。さらに、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が設定時間毎（０、１、２、・・、１３）に表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が設定粒子径毎（０．０１、０．０２、・・、５００）に表示されている。
これにより、使用者は３次元グラフを観察することで、粒度分布の時間的変化を把握することができるようになっている。例えば、０．１μｍの粒子径における測定時間３での粒子量から測定時間４での粒子量が、どのように増加するか減少するかを識別していた。

特許第２７２２８６６号公報

しかしながら、図８に示す３次元グラフを使用者は観察しただけでは、粒度分布の時間的変化を正確に素早く把握することができないことがあった。つまり、３次元グラフが斜視図であるため、０．１μｍの粒子径における測定時間３での粒子量と測定時間４での粒子量とを結んだ線の傾きが、正であるか負であるかを識別することが困難であることがあった。
また、５μｍの粒子径における測定時間３での粒子量と測定時間４での粒子量とを結んだ線の傾き等は、０．１μｍの粒子径における測定時間３での粒子量と測定時間４での粒子量とを結んだ線等で隠れるため、識別することが困難であることがあった。
そこで、本発明は、粒度分布の時間的変化を正確に素早く把握することができる粒度分布測定装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するためになされた本発明の粒度分布測定装置は、粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データを測定時間毎に記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている複数の粒度分布データに基づいて、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを表示する３次元グラフ表示制御部とを備える粒度分布測定装置であって、前記３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が表示され、同一の粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いに伴って、同一の粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線の色、太さ、及び／又は、輝度を変化させるようにしている。

ここで、「第一測定時間」と「第二測定時間」とは、任意の測定時間であり、使用者等によって予め設定されることになり、例えば、第一測定時間が測定時間０と設定されるとともに、第二測定時間が測定時間１と設定される。
本発明の粒度分布測定装置によれば、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを表示する。そして、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が表示される。このとき、同一の粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いに伴って、同一の粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線の色、太さ、及び／又は、輝度を変化させる。例えば、０．１μｍの粒子径において測定時間０での粒子量から測定時間１での粒子量が、増加する場合には線の色を緑色に変化させ、一方、減少する場合には線の色を赤色に変化させる。また、大幅に変化する場合には線の太さを太く変化させ、一方、少し変化する場合には線の太さを細く変化させる。

以上のように、本発明の粒度分布測定装置によれば、粒度分布の時間的変化を正確に素早く把握することができる。

（その他の課題を解決するための手段および効果）
また、本発明の粒度分布測定装置は、粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データを測定時間毎に記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている複数の粒度分布データに基づいて、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを表示する３次元グラフ表示制御部とを備える粒度分布測定装置であって、前記３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が表示され、第一粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いと、第二粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いとの平均値の大きさに伴って、第一粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第二粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第一測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線と、第二測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線とで囲まれる面の色、及び／又は、輝度を変化させるようにしている。

ここで、「第一粒子径」と「第二粒子径」とは、任意の粒子径であり、使用者等によって予め設定されることになり、例えば、第一粒子径が粒子径０．０５μｍと設定されるとともに、第二粒子径が粒子径０．０６μｍと設定される。
本発明の粒度分布測定装置によれば、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを表示する。そして、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が表示される。このとき、第一粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いと、第二粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いとの平均値の大きさに伴って、第一粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第二粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第一測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線と、第二測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線とで囲まれる面の色、及び／又は、輝度を変化させる。例えば、０．０５μｍの粒子径において測定時間３での粒子量からの測定時間４での粒子量の変化量と、０．０６μｍの粒子径において測定時間３での粒子量からの測定時間４での粒子量の変化量との平均値の大きさが、正で大きいときには赤色で示し、正で小さいときには橙色で示し、負で小さいときには青色で示し、負で大きいときには緑色で示す。
以上のように、本発明の粒度分布測定装置によれば、粒度分布の時間的変化を正確に素早く把握することができる。

また、本発明の粒度分布測定装置においては、前記３次元グラフにおいて、設定測定時間間隔と設定粒子径間隔とで、線の色、線の太さ、線の輝度、面の色、及び／又は、面の輝度を変化させるようにしてもよい。
ここで、「設定測定時間間隔」とは、任意の測定時間間隔であり、使用者等によって予め設定されることになり、例えば、図３〜図６に示す３次元グラフでは、測定時間０〜測定時間１３と設定されることにより、３次元グラフの全体で実行されることになる。
また、「設定粒子径間隔」とは、任意の粒子径間隔であり、使用者等によって予め設定されることになり、例えば、図３〜図６に示す３次元グラフでは、粒子径０．０１μｍ〜粒子径１００μｍと設定されることにより、３次元グラフのほぼ全体で実行されることになる。

そして、本発明の粒度分布測定装置においては、入力装置を備え、前記３次元グラフ表示制御部は、前記入力装置からの入力信号に基づいて、前記３次元グラフを表示する視線方向を変化させることが可能であるようにしてもよい。
本発明の粒度分布測定装置によれば、３次元グラフを表示する視線方向を変化させることができるので、観察したい領域が隠れることがない。

さらに、本発明の粒度分布測定装置においては、前記３次元グラフ表示制御部は、前記入力装置の第一ボタンからの第一入力信号に基づいて、粒子量の軸方向である第一視線方向に変化させ、前記入力装置の第二ボタンからの第二入力信号に基づいて、測定時間の軸方向である第二視線方向に変化させることが可能であることが可能であるようにしてもよい。

本発明に係るレーザ光回折・散乱式の粒度分布測定装置の構成を示す図である。 図１に示すコンピュータの構成を示す図である。 本実施形態の粒度分布測定装置における表示装置に表示させた３次元グラフの一例を示す図である。 本実施形態の粒度分布測定装置における表示装置に表示させた３次元グラフの一例を示す図である。 本実施形態の粒度分布測定装置における表示装置に表示させた３次元グラフの一例を示す図である。 本実施形態の粒度分布測定装置における表示装置に表示させた３次元グラフの一例を示す図である。 各面の色と輝度とを変化させる方法の一例について説明するための図である。 従来の粒度分布測定装置における表示装置に表示させた３次元グラフの一例を示す図である。

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。

図１は、本発明に係るレーザ光回折・散乱式の粒度分布測定装置の構成を示す図である。また、図２は、図１に示すコンピュータの構成を示す図である。図１及び図２中で、光学系の構成を表す模式図と、データサンプリング回路やコンピュータからなる信号処理系構成を表すブロック図とを併記して示している。
分散槽２１０は、攪拌羽根等を有する攪拌機２１２と超音波振動子２１３とを備える。
そして、媒液Ｌが、分散槽２１０内に媒液供給ポンプ２１１から供給されるともに、粒子群Ｐも分散槽２１０内に投入される。さらに、攪拌機２１２と超音波振動子２１３とを駆動させることによって、分散槽２１０内で媒液Ｌ中に粒子群Ｐが均一に分散してなる試料Ｓが生成するようになっている。

フローセル２３０は、下端部に下側接続口２３０ａを、上端部に上側接続口２３０ｂを有するものである。そして、フローセル２３０の下側接続口２３０ａは、配管２２１を介して分散槽２１０の循環ポンプ２２２と接続されている。また、上側接続口２３０ｂは、配管２２０を介して分散槽２１０と接続されている。
このような構成において、循環ポンプ２２２が駆動することによって、分散槽２１０内の粒子群Ｐと媒液Ｌとを含む試料Ｓが、下側接続口２３０ａからフローセル２３０内に流入し、そして、フローセル２３０内を下方から上方へ流れ、その後、上側接続口２３０ｂから流出することになる。

粒度分布測定装置２００の左側には、レーザ光源２４１と集光レンズ２４２と空間フィルタ２４３とコリメータ２４４とが左からこの順に配置されるとともに、粒度分布測定装置２００の中央には、フローセル２３０が配置される。
このような構成において、レーザ光源２４１で発生されたレーザ光は、集光レンズ２４２、空間フィルタ２４３、コリメータ２４４を通過して平行光とされ、前方向（左から右へ）に向かうようにフローセル２３０に照射される。このとき、フローセル２３０内には、粒度分布を測定するための試料Ｓが下から上へ流れるように導入されている。
これにより、レーザ光は、フローセル２３０内の粒子群Ｐで回折・散乱して、空間的に回折・散乱光の強度分布パターンが生ずることになる。

粒度分布測定装置２００の右側には、集光レンズ２５１とリングディテクタ（前方散乱光センサ）２５２とが左からこの順に配置されている。
リングディテクタ２５２は、互いに異なる半径を持つリング状ないしは半リング状の受光面を持つ複数（例えば、６４個）の光検出素子を、集光レンズ２５１の光軸を中心とするように同心円状に配置してあり、各光検出素子には、それぞれの位置に応じた回折・散乱角度を持つ光が入射するようにしてある。したがって、各光検出素子の出力信号は、各回折・散乱角度ごとの光の強度を表すことになる。
このような構成において、前方向に対して６０°以内の回折・散乱光は、集光レンズ２５１を介してリングディテクタ２５２の受光面上に集光されて、リング状の回折・散乱像を結ぶようになる。

また、前方向に対して６０°を越えることになる側方（後上方向）への散乱光は、側方散乱光センサ２５３によって検出される。
さらに、前方向に対して６０°を越えることになる後方（後下方向）への散乱光は、複数の後方散乱光センサ２５４によって検出される。
後方散乱光センサ２５４は、複数（例えば、５個）の光検出素子を、左から右へ一直線状に並ぶように配置してあり、各光検出素子には、それぞれの位置に応じた回折・散乱角度を持つ光が入射するようにしてある。したがって、各光検出素子の出力信号は、各回折・散乱角度ごとの光の強度を表すことになる。
リングディテクタ２５２、側方散乱光センサ２５３及び後方散乱光センサ２５４の各光センサの出力信号は、アンプ、マルチプレクサ及びＡ−Ｄ変換器からなるデータサンプリング回路２６０によって順次デジタル化され、光強度データとしてコンピュータ２７０に送信される。

コンピュータ２７０は、キーボード、タッチパネル、マウス、スタイラスペン等の入力装置１と、ＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）、プラズマディスプレイ等の表示装置２と、入力装置１から入力される各種命令に応じて処理を実行する制御部４と、制御部４で作成されたデータ等を記憶する記憶部５とにより構成される。
制御部４は、データサンプリング回路２６０から受信した光強度データを取得して記憶部５に記憶させる光強度データ取得部１１と、光強度データから粒度分布データを作成して記憶部５に記憶させる粒度分布データ作成部１２と、粒度分布データから３次元グラフを作成して、３次元グラフを表示装置２に表示する３次元グラフ表示制御部１４と、ポインタ３１を表示装置２に表示するポインタ表示制御部１５と、操作画面３０を表示装置２に表示する操作画面表示制御部１６とを有する。
また、記憶部５は、光強度データ記憶領域２１と、粒度分布データ記憶領域２２とを有する。光強度データ記憶領域２１では、例えば、データサンプリング回路２６０から受信した光強度データとして、測定された光強度、測定位置及び測定時間（なお、測定時間は測定時刻ともいい、さらに測定時間は測定の順番で代替することもできる）のデータが記憶される。また、粒度分布データ記憶領域２２では、同一の測定時間における粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データが記憶される。

光強度データ取得部１１は、リングディテクタ２５２、側方散乱光センサ２５３及び後方散乱光センサ２５４の各光センサからの光強度データ（デジタル化された増幅信号）、つまり回折・散乱光の空間強度分布データを、光強度データ記憶領域２１に記憶させる制御を行う。
粒度分布データ作成部１２は、回折・散乱光の空間強度分布データと、予め記憶させた粒子及び媒液の屈折率とを用いて、フラウンホーファ回折理論やミーの散乱理論に基づいた公知の演算を行うことによって、粒子群の粒度分布を算出して、粒度分布データを粒度分布データ記憶領域２２に記憶させる制御を行う。つまり、ある測定時間における粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データが記憶されることになる。

３次元グラフ表示制御部１４は、粒度分布データ記憶領域２２に記憶されている複数の粒度分布データに基づいて、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを作成して、３次元グラフを表示装置２に表示する制御を行う。
ここで、図３〜図６は、表示装置に表示させた３次元グラフの一例を示す図である。図３は、任意の一方向から見た３次元グラフである。また、図４は、図３と同じ方向から見た３次元グラフであり、図５は、図４に示す３次元グラフを異なる一方向から見たものである。さらに、図６は、図３〜図５に示す３次元グラフを異なる一方向から見たものである。
図３では、Ｘ軸は上方向に伸び、Ｙ軸は右上斜め方向に伸び、Ｚ軸は左上斜め方向に伸びている。そして、Ｘ軸に粒子量（％）をとり、Ｙ軸に粒子径（μｍ）をとり、Ｚ軸に測定時間をとっている。さらに、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が設定時間毎（０、１、２、・・、１３）に表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が設定粒子径毎（０．０１、０．０２、・・、５００）に表示されている。
そして、本実施形態の粒度分布測定装置２００では、同一の粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いに伴って、同一の粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線の色と太さとを変化させる。なお、このような線の色と太さとの変化は、３次元グラフのほぼ全体において実行させている。

具体的には、同一の粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が、増加する場合には、線の色を緑色に変化させ、一方、減少する場合には、線の色を赤色に変化させる。
また、下記式（１）に基づいて、各線の太さを変化させる。
線の太さ＝（MAXw−MINw）×ABS(dy)／MAXdy・・・（１）
ここで、MAXwは、予め設定した線の太さの最大値であり、MINwは、予め設定した線の太さの最小値であり、ABS(dy)は、同一の粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量の変化量の絶対値であり、MAXdyは、３次元グラフの全体における粒子量の変化量の最大値である。

また、図４では、Ｘ軸は上方向に伸び、Ｙ軸は右上斜め方向に伸び、Ｚ軸は左上斜め方向に伸びている。そして、Ｘ軸に粒子量（％）をとり、Ｙ軸に粒子径（μｍ）をとり、Ｚ軸に測定時間をとっている。さらに、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が設定時間毎（０、１、２、・・、１３）に表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が設定粒子径毎（０．０１、０．０２、・・、５００）に表示されている。
そして、第一粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いと、第二粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いとの平均値の大きさに伴って、第一粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第二粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第一測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線と、第二測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線とで囲まれる面の色と輝度とを変化させる。なお、このような面の色と輝度との変化は、３次元グラフのほぼ全体において実行させている。

具体的には、平均値の大きさが、正になる場合には、各面の色を緑色に変化させ、一方、負になる場合には、各面の色を赤色に変化させる。
また、下記式（２）に基づいて、各面の輝度を変化させる（図７参照）。
面の輝度＝（MAXcol−MINcol）×ABS(E)／MAX-E・・・（２）
ここで、MAXcolは、予め設定した面の輝度の最大値であり、MINcolは、予め設定した面の輝度の最小値であり、ABS(E)は、第一粒子径（Ｒ１）において第一測定時間（Ｔ１）での粒子量（Ａ）から第二測定時間（Ｔ２）での粒子量（Ｂ）の変化量と、第二粒子径（Ｒ２）において第一測定時間（Ｔ１）での粒子量（Ｃ）から第二測定時間（Ｔ２）での粒子量（Ｄ）の変化量との平均値の絶対値であり、MAX-Eは、３次元グラフの全体における粒子量の変化量の平均値の最大値である。

また、図５では、Ｘ軸は紙面と垂直方向に伸び、Ｙ軸は右方向に伸び、Ｚ軸は上方向に伸びている。そして、Ｘ軸に粒子量（％）をとり、Ｙ軸に粒子径（μｍ）をとり、Ｚ軸に測定時間をとっている。さらに、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が設定時間毎（０、１、２、・・、１３）に表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が設定粒子径毎（０．０１、０．０２、・・、５００）に表示されている。
そして、図４と同様にして、式（２）に基づいて、各面の色と輝度とを変化させる。すなわち、図５は、図４に示す３次元グラフを異なる一方向（粒子量の軸方向である第一視線方向）から見たものである。

さらに、図６では、Ｘ軸は紙面の上方向に伸び、Ｙ軸は右方向に伸び、Ｚ軸は紙面と垂直方向に伸びている。そして、Ｘ軸に粒子量（％）をとり、Ｙ軸に粒子径（μｍ）をとり、Ｚ軸に測定時間をとっている。さらに、３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が設定時間毎（０、１、２、・・、１３）に表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が設定粒子径毎（０．０１、０．０２、・・、５００）に表示されている。
そして、図３と同様にして、式（１）に基づいて、各線の色と太さとを変化させるとともに、図４及び図５と同様にして、式（２）に基づいて、各面の色と輝度とを変化させている。

そこで、３次元グラフ表示制御部１４は、図３〜図６に示すような３次元グラフのいずれか１つを表示装置２に表示することになる。このとき、後述するポインタ表示制御部１５と操作画面表示制御部１６とからの入力信号によって、図３〜図６に示すような３次元グラフのいずれか１つが選択されるようになっている。
ポインタ表示制御部１５は、表示装置２にポインタ３１を表示するとともに、マウス等から出力された入力信号に基づいて、表示されたポインタ３１を移動したり、ポインタ３１で表示画面中の位置を指定したりする制御を行う。
操作画面表示制御部１６は、表示装置２に操作画面３０を表示するとともに、ポインタ３１で操作画面３０中の位置が指定されることにより、指定された位置に基づいて、３次元グラフ表示制御部１４に入力信号を出力する制御を行う。

例えば、図３〜図６に示すように、右下には操作画面３０として、水平回転コントロールバー３０ａと、垂直回転コントロールバー３０ｂと、変化有無表示ボタン（第二ボタン）３０ｃと、全体像表示ボタン（第一ボタン）３０ｆと、緑色ボタン３０ｄと、塗りつぶしボタン３０ｅとが表示されている。
そして、使用者が水平回転コントロールバー３０ａをポインタ３１で指定して左右に移動させることにより、３次元グラフ表示制御部１４が移動量に応じて３次元グラフを水平回転させる。また、使用者が垂直回転コントロールバー３０ｂをポインタ３１で指定して左右に移動させることにより、３次元グラフ表示制御部１４が移動量に応じて３次元グラフを垂直回転させる。
また、使用者が変化有無表示ボタン３０ｃをポインタ３１で指定することにより、３次元グラフ表示制御部１４が図６に示すような３次元グラフを表示する。つまり、３次元グラフが、測定時間の軸方向である第二視線方向から見たものとなる。一方、使用者が全体像表示ボタン３０ｆをポインタ３１で指定することにより、３次元グラフ表示制御部１４が図５に示すような３次元グラフを表示する。つまり、３次元グラフが、粒子量の軸方向である第一視線方向から見たものとなる。
また、使用者が緑色ボタン３０ｄをポインタ３１で指定することにより、３次元グラフ表示制御部１４が各線の色と太さとを変化させるか否かを決定する。つまり、３次元グラフが、図３に示すような各線の色と太さとが変化させたものとなったり、従来と同様に各線の色と太さとが変化させないものとなったりすることになる。一方、使用者が塗りつぶしボタン３０ｅをポインタ３１で指定することにより、３次元グラフ表示制御部１４が各面の色と太さとを変化させるか否かを決定する。つまり、３次元グラフが、図４に示すような各面の色と太さとが変化させたものとなったり、従来と同様に各面の色と太さとが変化させないものとなったりすることになる。

以上のように、本発明の粒度分布測定装置によれば、粒度分布の時間的変化を正確に素早く把握することができる。さらに、３次元グラフを表示する視線方向を変化させることがとできるので、観察したい領域が隠れることがない。

本発明は、粒度分布を測定する粒度分布測定装置に利用することができる。

５： 記憶部
１４： ３次元グラフ表示制御部
２００： 粒度分布測定装置

Claims (5)

1. 粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データを測定時間毎に記憶する記憶部と、
   前記記憶部に記憶されている複数の粒度分布データに基づいて、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを表示する３次元グラフ表示制御部とを備える粒度分布測定装置であって、
   前記３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が表示され、
   同一の粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いに伴って、同一の粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線の色、太さ、及び／又は、輝度を変化させることを特徴とする粒度分布測定装置。
2. 粒子径と粒子量との２軸で構成される粒度分布データを測定時間毎に記憶する記憶部と、
   前記記憶部に記憶されている複数の粒度分布データに基づいて、粒子径と粒子量と測定時間との３軸で構成される３次元グラフを表示する３次元グラフ表示制御部とを備える粒度分布測定装置であって、
   前記３次元グラフには、同一の測定時間における粒子量を結んだ線が表示されるとともに、同一の粒子径における粒子量を結んだ線が表示され、
   第一粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いと、第二粒子径において第一測定時間での粒子量から第二測定時間での粒子量が増減する度合いとの平均値の大きさに伴って、第一粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第二粒子径における第一測定時間での粒子量と第二測定時間での粒子量とを結んだ線と、第一測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線と、第二測定時間における第一粒子径での粒子量と第二粒子径での粒子量とを結んだ線とで囲まれる面の色、及び／又は、輝度を変化させることを特徴とする粒度分布測定装置。
3. 前記３次元グラフにおいて、設定測定時間間隔と設定粒子径間隔とで、線の色、線の太さ、線の輝度、面の色、及び／又は、面の輝度を変化させることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の粒度分布測定装置。
4. 入力装置を備え、
   前記３次元グラフ表示制御部は、前記入力装置からの入力信号に基づいて、前記３次元グラフを表示する視線方向を変化させることが可能であることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の粒度分布測定装置。
5. 前記３次元グラフ表示制御部は、前記入力装置の第一ボタンからの第一入力信号に基づいて、粒子量の軸方向である第一視線方向に変化させ、
   前記入力装置の第二ボタンからの第二入力信号に基づいて、測定時間の軸方向である第二視線方向に変化させることが可能であることを特徴とする請求項４に記載の粒度分布測定装置。