JP2010078468A - 粒子物性測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】液体試料中に分散している粒子の形状物性値を求める形状物性値測定機構と、該粒子の粒径を測定する粒径測定機構と、該粒子のゼータ電位を測定するゼータ電位測定機構と、を少なくとも備えた粒子物性測定装置であって、前記形状物性値測定機構及び前記粒径測定機構における測定結果データに基づき、粒子表面形状と粒子の大きさを画像として表示するための粒子画像データと、前記ゼータ電位測定機構における測定結果データに基づき、粒子のゼータ電位を該粒子の粒子表面からの層の大きさ及び/又は粒子表面からの層の色として表示するためのゼータ電位画像データと、を作成する画像データ作成部を更に備えているようにした。
【選択図】図1
Description
アスペクト比や凝集度等を測定する形状物性値測定機構は、図2に示すように、レーザ3と、偏光子11、14と、1/4波長板12、13と、受光部41と、から構成される。偏光子11はレーザ3から射出されたレーザ光Lの偏光方向を固定するために使用されているが、1/4波長板12、13は光軸を中心に回転可能であり、1/4波長板12で直線偏光を楕円偏光に変換し、1/4波長板13と、偏光子14で楕円偏光を直線偏光に戻す。
各測定機構により測定された結果を画像として出力する(ステップS5)。
62・・・画像データ作成部
S、B、A・・・粒子
E・・・電場
Claims (2)
- 液体試料中に分散している粒子の形状物性値を求める形状物性値測定機構と、該粒子の粒径を測定する粒径測定機構と、該粒子のゼータ電位を測定するゼータ電位測定機構と、を少なくとも備えた粒子物性測定装置であって、
前記形状物性値測定機構及び前記粒径測定機構における測定結果データに基づき、粒子表面形状と粒子の大きさを画像として表示するための粒子画像データと、
前記ゼータ電位測定機構における測定結果データに基づき、粒子のゼータ電位を該粒子の粒子表面からの層の大きさ及び/又は粒子表面からの層の色として表示するためのゼータ電位画像データと、を作成する画像データ作成部を更に備えていることを特徴とする粒子物性測定装置。 - 前記ゼータ電位測定機構における測定結果データと、前記粒子表面からの層の大きさ及び/又は前記粒子表面からの層の色とを関連付けているテーブルを格納するテーブル格納部を更に備えていることを特徴とする請求項1記載の粒子物性測定装置。
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