JP2011075340A - 粒子分析装置およびコンピュータプログラム - Google Patents

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    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/14Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers

Abstract

【課題】粒子径に関する3つ以上のパラメータ、または、粒子形状に関する3つ以上のパラメータの比較を容易に行うことができる粒子分析装置を提供する。
【解決手段】粒子分析装置は、撮像対象となる複数の粒子を含有する試料をフローセルに流し、フローセルに流れる試料中の粒子を撮像し、撮像された粒子像を解析し、解析結果を表示する。粒子分析装置に含まれる情報処理装置の表示部には、チャート132が表示される。チャート132には、3つの試料の特徴が視覚的に比較可能となるレーダチャートが表示されている。このレーダチャートには、粒子径に関する3つのパラメータと、粒子形状に関する3つのパラメータが示されている。このようにレーダチャートが表示されると、3つの試料の特徴が、6つのパラメータに基づいて視覚的に把握され得る。
【選択図】図4

Description

本発明は、粒子像を画像解析することによって、粒子の大きさや形状に関する情報を求める粒子分析装置および粒子像に基づいて粒子の大きさや形状に関する情報を表示する機能をコンピュータに付与するコンピュータプログラムに関する。
従来、粒子懸濁液をシースフローセルに流し、該シースフローセルを流れる粒子懸濁液中の粒子を撮像し、撮像された粒子像を解析し、解析結果を表示する粒子分析装置が知られている(特許文献1、2参照)。特許文献1に記載の粒子分析装置では、粒子の特徴を示す2つのパラメータ(円相当径と円形度)による2次元スキャッタグラムが表示され、特許文献2に記載の粒子分析装置では、粒子の特徴を示す3つのパラメータ(円相当径、円形度、アスペクト比)による3次元スキャッタグラムが表示される。円相当径は、粒子径に関するパラメータであり、円形度およびアスペクト比は、粒子形状に関するパラメータである。
特開平8−136439号公報 特開平10−318904号公報
粒子分析においては、粒子径に関する3つ以上のパラメータを比較することで、有益な情報が得られることがある。たとえば、粒子径に関する2つのパラメータを比較すると、2つの粒子は略同じ大きさであると判断されるような場合にも、これに、粒子径に関する3つ目のパラメータが加わると、2つの粒子の大きさや形状に顕著な差があったことが分かる場合がある。したがって、より的確に粒子分析を行うには、粒子径について3つ以上のパラメータを比較できるようにするのが望ましい。この点は、粒子形状のパラメータにおいても同様である。
しかしながら、上記特許文献1、2では、粒子径または粒子形状について、それぞれ3つ以上のパラメータを比較することはできなかった。
本発明は、以上の点に鑑みて為されたものであり、粒子径に関する3つ以上のパラメータ、または、粒子形状に関する3つ以上のパラメータの比較を容易に行うことができる粒子分析装置およびコンピュータプログラムを提供することを目的とする。
本発明の第1の態様は、粒子分析装置に関する。この態様に係る粒子分析装置は、撮像対象となる複数の粒子を含有する試料を通過させるフローセルと、前記フローセルを通過する前記試料を撮像する撮像部と、撮像により得られた粒子画像に基づいて、粒子径に関する第1のパラメータについての第1特徴値と、粒子径に関する第2のパラメータについての第2特徴値と、粒子径に関する第3のパラメータについての第3特徴値と、を取得する特徴値取得手段と、前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力する出力手段とを備える。
本態様に係る粒子分析装置によれば、粒子径に関する3つのパラメータについての特徴値が同一画面上に表示されるため、撮像対象となった粒子について有益な情報が得られ得る。
本態様に係る粒子分析装置において、前記比較画面はレーダチャートを含む構成とされ得る。これにより、粒子の特徴が直感的に把握され易くなる。
本態様において、前記第1のパラメータは円相当径であり、前記第2のパラメータは長軸径であり、前記第3のパラメータは短軸径であるのが望ましい。こうすると、粒子の大きさの他、粒子の外形が把握し易くなる。
また、本態様に係る粒子分析装置において、前記撮像部は、前記粒子画像を複数回撮像し、前記特徴値取得手段は、得られた複数の粒子画像に基づいて前記第1ないし第3特徴値を取得するよう構成され得る。これにより、試料の特徴が、複数の粒子画像から得られる特徴値によって統計的に把握され得る。
この場合、前記特徴値取得手段は、前記複数の粒子画像それぞれについて前記第1ないし第3のパラメータについての特徴値を取得し、取得した前記第1ないし第3のパラメータについての特徴値をそれぞれ平均した平均値を、前記第1ないし第3特徴値として取得するよう構成され得る。
また、本態様に係る粒子分析装置において、前記撮像部は、前記粒子画像を複数回撮像し、前記特徴値取得手段は、得られた個々の粒子画像に基づいて前記第1ないし第3特徴値を取得するよう構成され得る。これにより、個々の粒子についての特徴値が比較可能となる。
この場合、前記出力手段は、前記複数の粒子を示す一覧から選択された前記粒子について前記比較画面を出力するよう構成され得る。これにより、操作者が所望する粒子の特徴を比較可能に表示させ得る。
また、本態様に係る粒子分析装置において、前記比較画面は、正規化された第1ないし第3特徴値を表示するよう構成され得る。これにより、各パラメータの特徴値が相対的な値として比較可能となる。
また、本態様に係る粒子分析装置において、前記比較画面は、第1試料について取得された第1ないし第3特徴値と、第2試料について取得された第1ないし第3特徴値と、を同時に表示するよう構成され得る。これにより、2つの試料の特徴が同時に比較可能となる。
また、本態様に係る粒子分析装置において、前記特徴値取得手段は、生成された前記粒子画像に基づいて、粒子の形状に関する第4のパラメータについての第4特徴値をさらに取得し、前記比較画面は、前記第1ないし第4特徴値を同一画面上に表示するよう構成され得る。これにより、粒子径に関する3つのパラメータの特徴値に加えて、同時に粒子形状に関する1つのパラメータの特徴値が比較可能となる。
この場合、前記特徴値取得手段は、生成された前記粒子画像に基づいて、粒子の形状に関する第5のパラメータについての第5特徴値と、粒子の形状に関する第6のパラメータについての第6特徴値と、をさらに取得し、前記比較画面は、前記第1ないし第6特徴値を同一画面上に表示するよう構成され得る。これにより、粒子径に関する3つのパラメータの特徴値に加えて、同時に粒子形状に関する3つのパラメータの特徴値が比較可能となる。
本態様において、前記第4のパラメータは円形度であり、前記第5のパラメータはアスペクト比であり、前記第6のパラメータは包絡度であるのが望ましい。こうすると、粒子の形状を的確に把握することができる。
また、本態様に係る粒子分析装置は、前記第1ないし第3のパラメータを設定するための設定手段をさらに備えるよう構成され得る。これにより、比較したいパラメータに応じて、比較画面が表示され得る。
本発明の第2の態様は、粒子分析装置に関する。この態様に係る粒子分析装置は、撮像対象となる複数の粒子を含有する試料を通過させるフローセルと、前記フローセルを通過する前記試料を撮像する撮像部と、撮像により得られた粒子画像に基づいて、粒子形状に関する第1のパラメータについての第1特徴値と、粒子形状に関する第2のパラメータについての第2特徴値と、粒子形状に関する第3のパラメータについての第3特徴値と、を取得する特徴値取得手段と、前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力する出力手段とを備える。
本態様に係る粒子分析装置によれば、粒子形状に関する3つのパラメータについての特徴値が同一画面上に表示されるため、撮像対象となった粒子について有益な情報が得られ得る。
本発明の第3の態様は、粒子画像を処理して粒子に関する情報を表示する機能をコンピュータに付与するコンピュータプログラムに関する。この態様に係るコンピュータプログラムは、粒子径に関する第1、第2および第3のパラメータについての第1、第2および第3特徴値を前記粒子画像から取得するステップと、前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力するステップとを含む。
本発明の第4の態様は、粒子画像を処理して粒子に関する情報を表示する機能をコンピュータに付与するコンピュータプログラムに関する。この態様に係るコンピュータプログラムは、粒子形状に関する第1、第2および第3のパラメータについての第1、第2および第3特徴値を前記粒子画像から取得するステップと、前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力するステップとを含む。
本発明の第3および第4の態様に係るコンピュータプログラムにおいても、上記第1および第2の態様と同様の効果が奏される。
以上のとおり、本発明によれば、粒子径に関する3つ以上のパラメータ、または、粒子形状に関する3つ以上のパラメータの比較を容易に行うことができる粒子分析装置およびコンピュータプログラムを提供することができる。
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下に示す実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態により何ら制限されるものではない。
実施形態に係る粒子分析装置の構成を示す図である。 実施形態に係る情報処理装置の表示部に表示されるレコード一覧を示す画面の例示図である。 実施形態に係る情報処理装置の表示部に表示される解析結果を示す画面の例示図である。 実施形態に係る情報処理装置の表示部に表示される解析結果を示す画面の例示図である。 実施形態に係る情報処理装置の表示部に表示される表示パラメータ設定画面を示す画面の例示図である。 実施形態に係る試料名とパラメータ値を表す図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係る情報処理装置の表示部に表示される粒子画像一覧を示す画面の例示図である。 実施形態に係る情報処理装置の表示部に表示される個別粒子表示画面を示す画面の例示図である。 実施形態に係る粒子名とパラメータ値を表す図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係るレーダチャートの例示図である。 実施形態に係る情報処理装置の構成を示す図である。 実施形態に係る粒子撮像処理および解析結果1の表示処理のフローチャートを示す図である。 実施形態に係る解析結果2の表示処理および個別粒子の解析表示処理のフローチャートを示す図である。 実施形態に係るレーダチャートの変更例を示す図である。
以下、本実施の形態に係る粒子分析装置について、図面を参照して説明する。
図1は、本実施の形態に係る粒子分析装置の構成を示す図である。粒子分析装置は、測定装置1と情報処理装置2を備える。測定装置1は、試料をフローセルに流し、フローセルに流れる試料中の粒子を撮像し、情報処理装置2は、撮像された粒子像を解析し、解析結果を表示する。
まず試料は、ダイヤフラムポンプ等の吸引手段(図示せず)により、吸引ピペット11から吸引され、サンプルフィルター12を通り、フローセル15の上部の試料チャージングライン13へ引き込まれる。試料がサンプルフィルター12を通されると、試料中の粗大な粒子やごみが取り除かれる。これにより、流路の狭いフローセル15が詰まらないようになる。また、サンプルフィルター12は、粗大な擬集塊をほぐす効果も有している。
試料チャージングライン13に引き込まれた試料は、シースシリンジ14が動作されることにより、フローセル15に導かれる。フローセル15に導かれた試料は、サンプルノズル15aの下方先端から少しずつ押し出される。これと同時に、シース液ボトル16からシース液チャンバー17を介して、シース液がフローセル15に送り込まれる。フローセル15内に導かれた試料は、シース液で取り囲まれ、扁平な試料流に形成される。
このように扁平に絞られた試料流に対して、ストロボ18からパルス光が60分の1秒間隔で照射され、試料が含有している粒子の静止画像が、対物レンズ19を介して、約2μ秒ごとにカメラ20によって撮像される。カメラ20から出力される画像信号は、情報処理装置2に入力される。
情報処理装置2は、画像信号の受信と並行して、入力された画像信号に基づき個々の粒子画像を取得する。また、情報処理装置2は、取得した個々の粒子画像に基づき、粒子の特徴を示すパラメータ値を取得して、試料に関する解析結果を表示部に表示する。なお、情報処理装置2の構成については、追って図20を参照して説明する。
ここで、粒子画像に基づいて情報処理装置2によって取得される粒子の特徴を示すパラメータについて説明する。
情報処理装置2により取得される粒子の特徴を示すパラメータは、粒子径を定量化したパラメータと、粒子形状を定量化したパラメータに分類される。粒子径を定量化したパラメータには、円相当径、最大長、最大長垂直長、長軸径、短軸径、Feret径(水平)、Feret径(垂直)、周長円相当径、粒子周囲長、粒子面積、包絡周囲長、包絡面積、面積円相当径が含まれる。粒子形状を定量化したパラメータには、円形度、アスペクト比、水平外接矩形縦横比、平均輝度値、輝度分散値、包絡度(周囲長)、包絡度(面積)、円形度(面積)が含まれる。各パラメータの内容は、以下のとおりである。
Figure 2011075340
Figure 2011075340
図2は、情報処理装置2の表示部に表示されるレコード一覧を示す画面の例示図である。同図の画面は、レコード一覧タブ110が押下された場合に表示される。
図示の如く、この場合の表示部には、メニュー100と、レコード一覧111と、選択解除ボタン112が含まれている。メニュー100は、レコード一覧タブ110と、解析結果タブ120、130と、粒子画像一覧タブ140を含み、各タブが押下されるとタブに対応した画面に切り替えられる。
レコード一覧111には、測定装置1によって測定された試料についてのレコードが表示される。ここで、レコードとは、所定の測定条件下で測定された測定結果のことである。例えば、測定が開始されてからユーザが測定終了を指示することにより測定が終了される場合、この測定期間内に得られた測定結果が1件のレコードとして作成される。また、測定が開始されてから測定された粒子個数が所定数に達すると測定が終了するよう設定されている場合、この測定期間内に得られた測定結果が1件のレコードとして作成される。
図示の如く、レコードの項目には、レコードナンバーと、測定日時と、試料番号と、パラメータ(円相当径、円形度)の統計値(平均、SD、CVなど)が含まれている。レコードナンバーの項目は、レコードを識別するための固有の番号であり、測定日時の項目は、レコードに関する測定が終了した日時を示し、試料番号の項目は、試料を識別するための番号である。なお、試料番号には試料名が対応づけられている。
各統計値(平均、SD、CVなど)の項目は、それぞれ、1件のレコードにおける全ての粒子のパラメータ値が統計されたものである。例えば、あるレコードにおける円相当径の平均の項目は、このレコードの測定における全ての粒子の円相当径の値が平均されたものを表している。なお、SDの項目は、パラメータ値の標準偏差を表しており、CVの項目は、平均とSDにより算出される変動係数(ばらつきの度合い)を示している。
また、レコード一覧111中のセルが押下されると、図示の如く、そのセルを含むレコードが反転表示されて選択状態となり、選択解除ボタン112が押下されると、全てのレコードの選択が解除される。なお、レコード一覧111は、レコードを複数選択することもできるように構成されている。
なお、レコード一覧111の右端と下端には、上下左右に表示領域を変更するスクロールバーが設置されている。縦方向のスクロールバーにより、全てのレコードが参照可能となり、横方向のスクロールバーにより、全ての項目が表示可能となる。
図3は、情報処理装置2の表示部に表示される解析結果1を示す画面の例示図である。同図の画面は、図2のレコード一覧111で1件のレコードが選択された状態で、解析結果タブ120が押下された場合に表示される。
図示の如く、この場合の表示部には、図2と同様のメニュー100に加えて、レコード情報リスト121と、粒子径ヒストグラム122と、粒子径パラメータ選択ボックス123と、粒子形状ヒストグラム124と、粒子形状パラメータ選択ボックス125と、スキャッタグラム126が含まれている。
レコード情報リスト121には、図2のレコード一覧111で選択された1件のレコードに関する情報が表示される。
粒子径ヒストグラム122には、レコード情報リスト121に表示されているレコードにおいて測定された個々の粒子の粒子径パラメータの分布が、ヒストグラムとして表示される。粒子径ヒストグラム122で表示される粒子径パラメータは、粒子径パラメータ選択ボックス123が押下されることで選択可能な粒子径パラメータの一覧から選択される。なお、粒子径ヒストグラム122の横軸は、表示されている粒子径パラメータに応じたレンジに設定され、縦軸の左側と右側は、それぞれ、頻度とその累積を表している。
粒子形状ヒストグラム124には、レコード情報リスト121に表示されているレコードにおいて測定された個々の粒子の粒子形状パラメータの分布が、ヒストグラムとして表示される。粒子形状ヒストグラム124で表示される粒子形状パラメータは、粒子形状パラメータ選択ボックス125が押下されることで選択可能な粒子形状パラメータの一覧から選択される。なお、粒子形状ヒストグラム123の縦軸は、表示されている粒子形状パラメータに応じたレンジに設定され、横軸の下側と上側は、それぞれ、頻度とその累積を表している。
このように、粒子径ヒストグラム122と粒子形状ヒストグラム124が表示されると、レコード情報リスト121に表示されているレコードにおいて測定された個々の粒子が、それぞれ、どのような粒子径パラメータ値と粒子形状パラメータ値を有しているかが分かる。
スキャッタグラム126は、粒子径ヒストグラム122と粒子形状ヒストグラム124の内容を合わせて、2次元的または3次元的に表現するグラフである。なお、スキャッタグラム126の横軸と縦軸は、それぞれ、粒子径ヒストグラム122の横軸と粒子形状ヒストグラム124の縦軸と同じである。
このように、スキャッタグラム126が表示されると、レコード情報リスト121に表示されているレコードで測定された個々の粒子が、どのような粒子径パラメータ値と粒子形状パラメータ値に分布しているかが分かる。
図4は、情報処理装置2の表示部に表示される解析結果2を示す画面の例示図である。同図の画面は、図2のレコード一覧111で1件以上のレコードが選択された状態で、解析結果タブ130が押下された場合に表示される。
図示の如く、この場合の表示部には、図2と同様のメニュー100に加えて、パラメータ値リスト131と、チャート132と、表示パラメータ設定ボタン133が含まれている。
パラメータ値リスト131には、図2のレコード一覧111で選択された1件以上のレコードの試料についてのパラメータの統計値が表示される。横方向の項目は、レコード一覧111で選択されたレコードに対応した試料名を表し、縦方向の項目は、パラメータを表している。パラメータは、同図に示す6つの項目(円相当径、長軸径、短軸径、円形度、アスペクト比、包絡度(面積))にデフォルト設定されている。後述の如く、表示パラメータ設定ボタン133を押下して、表示パラメータ設定画面を表示することにより、パラメータを変更することができる。なお、パラメータ値リスト131の右端と下端には、上下左右に表示領域を変更するスクロールバーが設置されている。表示内容が、パラメータ値リスト131の表示領域を超えているとき、これらスクロールバーにより、全てのレコードの試料名とパラメータが表示可能となる。
チャート132には、パラメータ値リスト131に表示されたパラメータ値に基づくレーダチャートが表示される。図4の例示図には、パラメータ値リスト131に表示されている3つの試料と、これら試料の6つのパラメータの統計値に基づいて、粒子径に関する3つのパラメータの統計値および粒子形状に関する3つのパラメータの統計値を同一画面上に表示したレーダチャートが表示されている。このようにチャート132が表示されると、複数の試料の複数のパラメータが同時に比較可能となる。
表示パラメータ設定ボタン133は、パラメータ値リスト131およびチャート132に表示されるパラメータ項目等を設定するためのボタンである。表示パラメータ設定ボタン133が押下されると、図5に示す表示パラメータ設定画面が表示される。
図5を参照して、表示パラメータ設定画面200には、設定領域201〜205と、OKボタン206が含まれている。
設定領域201では、図4のパラメータ値リスト131とチャート132で表示される粒子径パラメータの項目が選択される。設定領域201内の粒子径パラメータの項目が押下されると、図示の如く、チェックボックスにチェックが入り、この項目が選択状態となる。設定領域202では、図4のパラメータ値リスト131とチャート132で表示される粒子形状パラメータ項目が選択される。設定領域202内の粒子形状パラメータの項目が押下されると、図示の如く、チェックボックスにチェックが入り、この項目が選択状態となる。
設定領域203では、図4のパラメータ値リスト131とチャート132で表示されるパラメータの統計値の種類が選択される。選択可能な統計値の種類には、図2で示したパラメータの統計値の種類(平均、SD、CVなど)が含まれている。
設定領域204では、図4のパラメータ値リスト131とチャート132で表示されるパラメータ値を正規化するときの基準パラメータが設定される。たとえば、図示の如く、正規化基準項目として長軸径が設定されると、長軸径の値が1となるように他のパラメータ値が設定され、この値が図4で表示されるようになる。なお、平均輝度値は、0〜1.0の範囲で正規化される。たとえば、平均輝度値が予め設定された固有の閾値の範囲内にある場合は、その値に応じて、0〜1.0の範囲で正規化され、平均輝度値が前記閾値を超える場合は、一律“1.0”とされる。また、正規化基準項目が設定されない場合、各統計値として実測値が用いられる。
設定領域205では、図4のチャート132で表示される軸の表示範囲が設定される。同図のように表示範囲が0〜1に設定されると、レーダチャートの軸は、図4のように中心が0で最も外側が1となる。
OKボタン206が押下されると、表示パラメータ設定画面200内で設定された項目が、図4の解析結果2の画面に反映されて、図4のパラメータ値リスト131とチャート132の表示が更新される。
ここで、図4のチャート132に表示される種々のレーダチャートを図7〜11に例示する。
図6は、レーダチャート生成時に参照されるレコードの試料名と、これらレコードの試料名についてのパラメータ値を表している。同図(a)のパラメータ値は、個々の粒子の実測値の平均を正規化したものであり、ここでは長軸径で正規化されている。なお、平均輝度値は、上述したように、0〜1.0の範囲で正規化される。同図(b)のパラメータ値は、CV(ばらつきの度合い)である。同図(c)のパラメータ値は、個々の粒子の実測値の平均である。なお、同図(c)のFeret径は、便宜上、Feret径(水平)の平均と、Feret径(垂直)の平均のうち、大きい方の値が示されている。
図7(a)、(b)は、図6(a)で示した試料とパラメータの中から3つの試料と6つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。6つのパラメータは、デフォルト設定されたものである。なお、“LATEX”は、標準サンプル粒子と呼ばれる試料であり、球に近い形状の粒子で構成されている。
同図(a)に示す如く、“LATEX 4204A”、“Tonar”、“Almina”のレーダチャートは、この順に、正六角形に近い形状となっている。これにより、“LATEX 4204A”、“Tonar”、“Almina”は、この順に、球に近い形状の粒子で構成されていることがわかる。
同図(b)に示す如く、“LATEX 4203A”、“LATEX 4204A”、“LATEX 4202A”のレーダチャートは、この順に、正六角形に近い形状となっている。これにより、“LATEX 4203A”、“LATEX 4204A”、“LATEX 4202A”は、この順に、球に近い形状の粒子で構成されていることがわかる。なお、同図(b)の軸の表示範囲は、0.6〜1の範囲に設定されている。この設定は、図5の表示パラメータ設定画面の設定領域205の表示範囲により行われる。
図8(a)、(b)は、図6(b)から3つの試料と6つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。6つのパラメータは、デフォルト設定されたものである。
同図(a)のレーダチャートにより、“LATEX 4204A”、“LATEX 4203A”、“LATEX 4202A”は、この順に、ばらつき度合いが小さいことが分かる。同図(b)のレーダチャートにより、“LATEX 4204A”、“Tonar”、“Almina”は、この順に、ばらつき度合いが小さいことが分かる。また、試料によってばらつき度合いが大きく異なることが分かる。
図9(a)〜(c)は、図6(c)から3つの試料と、5、3、4つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。パラメータは、図5に示す表示パラメータ設定画面を用いて、デフォルト設定の状態から変更されている。この場合も、図9(a)〜(c)のレーダチャートが、それぞれ、正五角形、正三角形、正方形に近いかが判断されることにより、試料の粒子が球に近いかどうかが分かる。また、これらのレーダチャートのパラメータ値は実測値の平均であるため、特定のパラメータについて試料間のパラメータ値の差も確認することができる。
なお、同図(a)〜(c)のレーダチャートで表示されているパラメータは、全て粒子径パラメータである。このように粒子径パラメータのみが選択される場合、円相当径、長軸径、短軸径の3つの粒子径パラメータが含められることが望ましい。これら3つのパラメータを参照すれば、粒子の大きさの他、粒子の外形が把握し易くなる。
図10(a)〜(c)は、図6(a)から3つの試料と3つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。パラメータは、図5に示す表示パラメータ設定画面を用いて、デフォルト設定の状態から変更されている。この場合も、各レーダチャートが、正三角形に近いかが判断されることにより、試料の粒子が球に近いかどうかが分かる。
また、同図(b)は、同図(a)のパラメータの表示範囲が0.5〜1に設定された場合のレーダチャートである。このため、同図(a)よりも同図(b)において、レーダチャートの形状が容易に把握される。また、同図(c)では、3つの試料のレーダチャートの形状の違いが判断され難いため、パラメータの表示範囲が0.8〜1に設定されている。これにより、“LATEX 4203A”の粒子が、最も球に近い形状であることが容易に分かる。
なお、同図(a)〜(c)のレーダチャートで表示されているパラメータは、全て粒子形状パラメータである。このように粒子形状パラメータのみが選択される場合、円形度、アスペクト比、包絡度の3つの粒子径パラメータが含められることが望ましい。これら3つのパラメータを参照すれば、粒子の形状を的確に把握することができる。
図11(a)〜(d)は、図6(a)から3つの試料と4〜5つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。パラメータは、図5に示す表示パラメータ設定画面を用いて、デフォルト設定の状態から変更されている。この場合も、各レーダチャートが、正方形または正五角形に近いかが判断されることにより、試料の粒子が球に近いかどうかが分かる。
また、同図(b)は、同図(a)のパラメータの表示範囲が0.5〜1に設定された場合のレーダチャートであり、同図(d)は、同図(c)のパラメータの表示範囲が0.5〜1に設定された場合のレーダチャートである。このため、同図(a)よりも同図(b)、同図(c)よりも同図(d)において、レーダチャートの形状が容易に把握される。
図12は、情報処理装置2の表示部に表示される粒子画像一覧を示す画面の例示図である。同図の画面は、図2のレコード一覧111で2件以上のレコードが選択された状態で、粒子画像一覧タブ140が押下された場合に表示される。
図示の如く、この場合の表示部には、図2と同様のメニュー100に加えて、レコード情報リスト141、143と、粒子画像一覧142、144が含まれている。
レコード情報リスト141、143には、図2のレコード一覧111で選択されたレコードについての情報が表示される。
粒子画像一覧142、144には、それぞれ、レコード一覧141、143で表示されているレコードにおいて測定された全ての粒子の画像が表示される。なお、粒子画像一覧142、144の右端には、上下に表示領域を変更するスクロールバーが設置されている。これにより、粒子画像一覧142、144の全ての粒子画像が表示可能となる。
なお、図12では2件のレコードが表示されている場合を例示しているが、図2のレコード一覧111で1件のレコードが選択された場合は、レコード情報リスト141と粒子画像一覧142のみにレコード内容が表示される。また、図2のレコード一覧111で3件以上のレコードが選択された場合は、選択されたレコード数に応じて、レコード情報リストと粒子画像一覧が画面上に配置される。この場合、各レコードに対応するレコード情報リストと粒子画像一覧の表示領域が、画面内で適宜調整される。
粒子画像一覧142、144の粒子画像が選択されると、粒子選択範囲145が設定される。この粒子選択範囲145に対してサブメニューを表示させる動作が行われると、選択表示メニュー146が表示される。なお、粒子選択範囲145は、図示のように連続する粒子画像について設定されるだけでなく、粒子画像一覧142、144に表示されている任意の粒子画像について任意の個数が選択可能である。
選択表示メニュー146には、“個別粒子の解析表示”の項目が設けられており、この項目が押下されると、図13に示す個別粒子表示画面が表示される。
図13を参照して、個別粒子表示画面150には、パラメータ値リスト151と、粒子画像リスト152と、チャート153と、表示パラメータ設定ボタン154が含まれている。
パラメータ値リスト151には、図12の粒子画像一覧において粒子選択範囲145によって選択されていた粒子についての情報が表示される。横方向の項目は、粒子選択範囲145で選択された粒子の試料名を表し、縦方向の項目は、この粒子についてのパラメータを表している。6つのパラメータは、デフォルト設定されたものである。パラメータは、表示パラメータ設定ボタン154を押下して、後述する表示パラメータ設定画面を表示することにより、変更可能である。
粒子画像リスト152には、パラメータ値リスト151に表示されている粒子の画像が表示される。また、粒子画像に併せて、試料名に通し番号が付された粒子名が表示されている。
チャート153には、パラメータ値リスト151に表示されたパラメータ値に基づくレーダチャートが表示される。図13の例示図には、パラメータ値リスト151に表示されている2つの粒子と、これら粒子の6つのパラメータ値に基づいて、粒子径に関する3つのパラメータ値および粒子形状に関する3つのパラメータ値を同一画面上に表示したレーダチャートが表示されている。このようにチャート153が表示されると、複数の粒子の複数のパラメータが同時に比較可能となる。
表示パラメータ設定ボタン154は、パラメータ値リスト151およびチャート153に表示されるパラメータ項目等を設定するためのボタンである。表示パラメータ設定ボタン154が押下されると、図5に示す表示パラメータ設定画面200と同様の設定画面が表示される。なお、この場合の表示パラメータ設定画面には、設定領域203に相当する領域は省略されている。
この設定画面でパラメータが変更されると、この変更が図13の個別粒子表示画面150に反映されて、図13のパラメータ値リスト151とチャート153の表示が更新される。
ここで、図13のチャート151に表示される種々のレーダチャートを図15〜19に例示する。
図14は、レーダチャート生成時に参照されるレコードの粒子名と、これら粒子についてのパラメータ値を表している。同図(a)のパラメータ値は個々の粒子の実測値を正規化したものであり、ここでは、長軸径で正規化されている。なお、平均輝度値は、上述したように、0〜1.0の範囲で正規化される。同図(b)のパラメータ値は個々の粒子の実測値である。なお、同図(c)のFeret径は、便宜上、Feret径(水平)とFeret径(垂直)の値のうち、大きい方の値が示されている。
図15(a)は、図14(a)から同一試料の2つの粒子と6つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。6つのパラメータは、デフォルト設定されたものである。この場合、図15(a)のレーダチャートが正六角形に近いかが判断されることにより、粒子画像が円に近いかどうかが分かる。
図15(b)は、図14(b)から同一試料の2つの粒子と3つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。パラメータは、表示パラメータ設定画面を用いて、デフォルト設定の状態から変更されている。この場合も、図15(b)のレーダチャートが正三角形に近いかが判断されることにより、粒子画像が円に近いかどうかが分かる。なお、同図(b)の軸の表示範囲は、10〜20の範囲に設定されている。
図15(c)は、図14(a)から同一試料の2つの粒子と3つのパラメータが選択されたときのレーダチャートである。パラメータは、表示パラメータ設定画面を用いて、デフォルト設定の状態から変更されている。この場合も、図15(c)のレーダチャートが正五角形に近いかが判断されることにより、粒子画像が円に近いかどうかが分かる。
図16、17においても、図15と同様に、レーダチャートの形状が判断されることにより、粒子画像が円に近いかどうかが分かる。また、図18、19は、異なる試料の2つの粒子が選択されたときのレーダチャートである。この場合も、レーダチャートの形状が判断されることにより、粒子画像が円に近いかどうかが分かる。
図20は、情報処理装置2の構成を示す図である。
情報処理装置2は、パーソナルコンピュータからなっており、本体300と、入力部310と、表示部320から構成されている。本体300は、CPU301と、ROM302と、RAM303と、ハードディスク304と、読み出し装置305と、入出力インターフェース306と、画像出力インターフェース307と、通信インターフェース308を有する。
CPU301は、ROM302に記憶されているコンピュータプログラムおよびRAM303にロードされたコンピュータプログラムを実行する。RAM303は、ROM302およびハードディスク304に記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、RAM303は、これらのコンピュータプログラムを実行するときに、CPU301の作業領域としても利用される。
ハードディスク304には、オペレーティングシステムおよびアプリケーションプログラムなど、CPU301に実行させるための種々のコンピュータプログラムおよびコンピュータプログラムの実行に用いるデータがインストールされている。すなわち、ハードディスク304には、カメラ20から出力された画像信号を受信し、画像信号に基づいて粒子ごとの画像を作成し、粒子画像に基づいて試料の解析を行うためのプログラムや、解析結果を表示部320上に表示を行う表示プログラムがインストールされている。これらプログラムがインストールされることで、上記図2〜図19に示した解析処理や表示処理が行われる。
読出装置305は、CDドライブまたはDVDドライブ等によって構成されており、記録媒体などの外部記憶に記録されたコンピュータプログラムおよびデータを読み出すことができる。これにより、情報処理装置2で実行されるプログラムは、記録媒体などの外部記憶を介して更新可能となっている。
入出力インターフェース306には、マウスやキーボードからなる入力部310が接続されており、ユーザが入力部310を使用することにより、情報処理装置2に対する指示が行われる。画像出力インターフェース307は、ディスプレイ等で構成された表示部320に接続されており、画像データに応じた映像信号を、表示部320に出力する。表示部320は、入力された映像信号をもとに、画像を表示する。また、通信インターフェース308により、カメラ20から出力された画像信号の受信が可能となる。
図21(a)は、情報処理装置2内で行われる粒子撮像処理を示すフローチャートである。
カメラ20で粒子画像が撮像されると、カメラ20から出力される画像信号は、情報処理装置2により通信インターフェース308を介して受信される(S1)。受信された画像信号は、所定の画像加工が施された後、個々の粒子ごとに切り出され、粒子ごとに粒子画像が生成される。生成された粒子画像は、ハードディスク304に格納される(S2)。粒子画像に基づき、上述したような粒子径と粒子形状についての全てのパラメータ値が算出される(S3)。各パラメータは、粒子画像に対応づけてハードディスク304に格納される。続いて、各粒子の円相当径と円形度の実測値に基づき、円相当径と円形度の統計値(平均、SD、CVなど)が算出され、ハードディスク304に格納される(S4)。これにより、粒子撮像処理が終了する。
しかる後、図2に示すレコード一覧画面が表示されると、一覧中に、今回測定した試料に関するレコード情報が追加され、このレコード情報に、S4で取得された統計値(平均、SD、CVなど)が含められる。
図21(b)は、解析結果1の表示処理を示すフローチャートである。
この処理は、図2のレコード一覧111で1件のレコードが選択された状態で、解析結果タブ120が押下された場合に実行される。
まず、図2のレコード一覧111で選択されたレコードについて、粒子径と粒子形状に関する全てのパラメータ値がハードディスク304から取得される(S11)。
次に、取得されたパラメータ値に基づいて、解析結果1の初期画面が生成され、表示される(S12)。ここでは、図3のレコード情報リスト121に、図2のレコード一覧111で選択されたレコード情報が表示される。また、粒子径パラメータ選択ボックス123と粒子形状パラメータ選択ボックス125にデフォルト設定されたパラメータ項目(円相当径、円形度)に基づき、粒子径ヒストグラム122と、粒子形状ヒストグラム124と、スキャッタグラム126が生成され、図3の対応する領域に表示される。
こうして、解析結果1の初期画面が表示されると、次に、粒子径パラメータ選択ボックス123と粒子形状パラメータ選択ボックス125のパラメータ項目が変更されたかが判別される(S13)。ここで、何れかのパラメータ項目が変更されると(S13:YES)、変更後のパラメータ項目に基づき、粒子径ヒストグラム122と、粒子形状ヒストグラム124と、スキャッタグラム126が生成され、図3の対応する領域に表示される(S14)。その後、S13に戻り、再度、パラメータ項目が変更されたかが判別される。かかる判別の間に、図3のメニュー100を介して、解析結果タブ120以外のタブが選択されると、解析結果1の表示処理が終了する。
図22(a)は、解析結果2の表示処理を示すフローチャートである。
この処理は、図2のレコード一覧111で1件以上のレコードが選択された状態で、解析結果タブ130が押下された場合に実行される。
まず、図2のレコード一覧111で選択されたレコードについて、粒子径と粒子形状に関する全てのパラメータ値がハードディスク304から取得される(S21)。次に、取得されたパラメータ値に基づいて、解析結果1の初期画面が生成され、表示される(S22)。ここでは、図5に示す設定項目のデフォルト値に基づいて、各パラメータの値が求められる。そして、デフォルト設定されたパラメータと、求めたパラメータの値に基づいて、図4のパラメータ値リスト131と、チャート132が表示される。解析結果1の初期画面は、たとえば図4のようになる。
こうして、解析結果2の初期画面が表示されると、次に、図5に示す表示パラメータ設定画面をもとに、パラメータ項目(設定領域201、202)、統計項目(設定領域203)、正規化基準項目(設定領域204)または表示範囲(設定領域205)が変更されたかが判別される(S23)。ここで、パラメータ項目、統計項目、正規化基準項目または表示範囲の何れかが変更されると(S23:YES)、変更後の内容に基づき、パラメータ値リスト131とチャート132が再構成され、図4の対応する領域に表示される(S24)。その後、S23に戻り、再度、パラメータ項目、統計項目、正規化基準項目または表示範囲の何れかが変更されたかが判別される。かかる判別の間に、図3のメニュー100を介して、解析結果タブ130以外のタブが選択されると、解析結果2の表示処理が終了する。
図22(b)は、個別粒子の解析表示処理を示すフローチャートである。
この処理は、図12の粒子画像一覧142、144上で設定された粒子選択範囲145に基づく選択表示メニュー146の“個別粒子の解析表示”が押下された場合に実行される。なお、ここでは、図12に示す粒子画像一覧画面が表示される際に、既に、当該一覧画面に表示されるべきレコードについて、粒子径と粒子形状に関する全てのパラメータ値がハードディスク304から取得されている。
まず、図12の粒子画像一覧142、144上で設定された粒子選択範囲145に含まれる粒子の粒子径と粒子形状に関する全てのパラメータ値が取得される(S31)。次に、取得されたパラメータ値に基づいて、“個別粒子の解析表示”の初期画面が生成され、表示される(S32)。ここでは、図5に示す設定項目のデフォルト値に基づいて、各パラメータの値が求められる。そして、デフォルト設定されたパラメータと、求めたパラメータの値に基づいて、図4のパラメータ値リスト151と、チャート153が表示される。“個別粒子の解析表示”の初期画面は、たとえば図13のようになる。
こうして、“個別粒子の解析表示”の初期画面が表示されると、次に、図13の表示パラメータ設定ボタン154が押下されて、設定項目が変更されたかが判別される(S33)。上記の如く、表示パラメータ設定ボタン154が押下されると、図5に示す表示パラメータ設定画面から設定領域203が削除された画面が表示され、設定項目の変更が可能となる。この画面が操作され、パラメータ項目(設定領域201、202)、正規化基準項目(設定領域204)または表示範囲(設定領域205)の何れかが変更されると(S33:YES)、変更後の内容に基づき、パラメータ値リスト151とチャート153が再構成され、図13の対応する領域に表示される(S34)。その後、S33に戻り、再度、パラメータ項目、正規化基準項目または表示範囲の何れかが変更されたかが判別される。かかる判別の間に、“個別粒子の解析表示”の終了操作がなされると、“個別粒子の解析表示”の表示処理が終了する。
図21、22の処理は、図20のハードディスク304にインストールされたプログラムに従って、CPU301により行われる。このプログラムの処理により、図2〜図19にて説明した解析および表示が行われる。
以上、本実施の形態によれば、図4のチャート132には、1つの試料について、任意の粒子径パラメータと任意の粒子形状パラメータが比較可能となるレーダチャートが表示される。これにより、1つの試料の特徴が、複数のパラメータに基づいて、視覚的に把握され得る。
また、この場合に、複数の試料のレーダチャートを併せて表示できるため、各試料の特徴が、視覚的に比較され得る。
また、本実施の形態によれば、図13のチャート153には、1つの粒子について、任意の粒子径パラメータと任意の粒子形状パラメータが比較可能となるレーダチャートが表示される。これにより、1つの粒子の特徴が、複数のパラメータに基づいて、視覚的に把握され得る。
また、この場合に、複数の粒子のレーダチャートを併せて表示できるため、各粒子の特徴が、視覚的に比較され得る。
以上、本発明の実施形態ついて説明したが、本発明は、上記実施形態に制限されるものではなく、また、本発明の実施形態も上記以外に種々の変更が可能である。
たとえば、上記実施の形態では、図4のチャート132と図13のチャート153には、レーダチャートが表示されたが、複数の試料または粒子について、複数のパラメータ値が比較可能であれば、レーダチャート以外でのチャートでも良い。
図23は、レーダチャートに替わるチャートを示す図である。
同図(a)、(b)は、3つの試料と6つのパラメータが選択されたときの折れ線グラフと棒グラフである。このようなチャートが表示されれば、レーダチャートと同様、複数の試料について、複数のパラメータが比較可能となる。また、同図(a)、(b)のチャートは、複数の粒子の複数のパラメータについても表示可能である。この場合も、複数の粒子について、複数のパラメータが比較可能となる。
また、上記実施の形態では、図12、13に示したように、チャート153に個々の粒子についてのレーダチャートが表示されたが、以下のように、図12において複数の粒子を含む粒子選択範囲を比較単位として、この比較単位ごとに図13のレーダチャートが表示されるようにしても良い。
すなわち、図12において複数の粒子からなる粒子選択範囲が設定された後、この選択範囲に含まれる粒子が1つの比較単位として設定される。続いて、異なる粒子により構成される別の比較単位が設定される。これら比較単位に含まれる粒子の各パラメータの統計値が、図13のレーダチャートに表示される。これにより、粒子ごとの比較ではなく、複数の粒子で構成される比較単位が相互に比較され得る。なお、この場合の表示パラメータ設定画面には、図5の設定領域203に相当する領域が設けられており、表示されるパラメータの統計値の種類が選択可能となる。
また、上記実施の形態では、測定時に、円相当径と円形度の統計値が算出されたが、図3の解析結果1または図4の解析結果2が表示されるときに、これらパラメータの統計値が算出されるようにしても良い。もしくは、測定時に全てのパラメータの統計値が算出されるようにしても良い。
さらに、上記実施の形態では、分析結果2の初期画面(デフォルト)および“個別粒子の解析表示”の初期画面(デフォルト)において、円相当径、長軸径、短軸径を粒子径パラメータとし、また、円形度、アスペクト比、包絡度(面積)を粒子形状パラメータとする表示が行われたが、これら初期画面において、これら項目以外の組み合わせの項目が設定されても良く、また、4つ以上の粒子径パラメータまたは4つ以上の粒子形状パラメータが設定されていても良い。但し、粒子径パラメータとしては、円相当径、長軸径、短軸径が含まれるのが好ましく、また、粒子形状パラメータとして円形度、アスペクト比、包絡度(周囲長または面積)が含まれるのが好ましい。
また、選択可能なパラメータは、図5に示すパラメータに限らず、選択設定可能な粒子径パラメータおよび粒子形状パラメータとして、さらに他のパラメータを含めても良い。
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
1 … 測定装置
2 … 情報処理装置
15 … フローセル
20 … カメラ
301 … CPU

Claims (16)

  1. 撮像対象となる複数の粒子を含有する試料を通過させるフローセルと、
    前記フローセルを通過する前記試料を撮像する撮像部と、
    撮像により得られた粒子画像に基づいて、粒子径に関する第1のパラメータについての第1特徴値と、粒子径に関する第2のパラメータについての第2特徴値と、粒子径に関する第3のパラメータについての第3特徴値と、を取得する特徴値取得手段と、
    前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力する出力手段と、
    を備える粒子分析装置。
  2. 前記比較画面はレーダチャートを含む、
    請求項1記載の粒子分析装置。
  3. 前記第1のパラメータは円相当径であり、前記第2のパラメータは長軸径であり、前記第3のパラメータは短軸径である、
    請求項1または2記載の粒子分析装置。
  4. 前記撮像部は、前記粒子画像を複数回撮像し、
    前記特徴値取得手段は、得られた複数の粒子画像に基づいて前記第1ないし第3特徴値を取得する、
    請求項1ないし3の何れか一項に記載の粒子分析装置。
  5. 前記特徴値取得手段は、前記複数の粒子画像それぞれについて前記第1ないし第3のパラメータについての特徴値を取得し、取得した前記第1ないし第3のパラメータについての特徴値をそれぞれ平均した平均値を、前記第1ないし第3特徴値として取得する、
    請求項4記載の粒子分析装置。
  6. 前記撮像部は、前記粒子画像を複数回撮像し、
    前記特徴値取得手段は、得られた個々の粒子画像に基づいて前記第1ないし第3特徴値を取得する、
    請求項1ないし3の何れか一項に記載の粒子分析装置。
  7. 前記出力手段は、前記複数の粒子を示す一覧から選択された前記粒子について前記比較画面を出力する、
    請求項6記載の粒子分析装置。
  8. 前記比較画面は、正規化された第1ないし第3特徴値を表示する、
    請求項1ないし7の何れか一項に記載の粒子分析装置。
  9. 前記比較画面は、第1試料について取得された第1ないし第3特徴値と、第2試料について取得された第1ないし第3特徴値と、を同時に表示する、
    請求項1ないし8の何れか一項に記載の粒子分析装置。
  10. 前記特徴値取得手段は、生成された前記粒子画像に基づいて、粒子の形状に関する第4のパラメータについての第4特徴値をさらに取得し、
    前記比較画面は、前記第1ないし第4特徴値を同一画面上に表示する、
    請求項1ないし9の何れか一項に記載の粒子分析装置。
  11. 前記特徴値取得手段は、生成された前記粒子画像に基づいて、粒子の形状に関する第5のパラメータについての第5特徴値と、粒子の形状に関する第6のパラメータについての第6特徴値と、をさらに取得し、
    前記比較画面は、前記第1ないし第6特徴値を同一画面上に表示する、
    請求項10記載の粒子分析装置。
  12. 前記第4のパラメータは円形度であり、前記第5のパラメータはアスペクト比であり、前記第6のパラメータは包絡度である、
    請求項11記載の粒子分析装置。
  13. 前記第1ないし第3のパラメータを設定するための設定手段をさらに備える、
    請求項1ないし12の何れか一項に記載の粒子分析装置。
  14. 撮像対象となる複数の粒子を含有する試料を通過させるフローセルと、
    前記フローセルを通過する前記試料を撮像する撮像部と、
    撮像により得られた粒子画像に基づいて、粒子形状に関する第1のパラメータについての第1特徴値と、粒子形状に関する第2のパラメータについての第2特徴値と、粒子形状に関する第3のパラメータについての第3特徴値と、を取得する特徴値取得手段と、
    前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力する出力手段と、
    を備える粒子分析装置。
  15. 粒子画像を処理して粒子に関する情報を表示する機能をコンピュータに付与するコンピュータプログラムであって、
    粒子径に関する第1、第2および第3のパラメータについての第1、第2および第3特徴値を前記粒子画像から取得するステップと、
    前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力するステップと、
    を含むコンピュータプログラム。
  16. 粒子画像を処理して粒子に関する情報を表示する機能をコンピュータに付与するコンピュータプログラムであって、
    粒子形状に関する第1、第2および第3のパラメータについての第1、第2および第3特徴値を前記粒子画像から取得するステップと、
    前記第1ないし第3特徴値を同一画面上に表示した比較画面を出力するステップと、
    を含むコンピュータプログラム。
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