JP2003065956A - 蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】３次元測定データから、蛍光強度ピークを効率
よく抽出可能な分光蛍光光度計を実現する。 【解決手段】試料を測定した結果として得られる励起光
側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元設定データか
ら蛍光ピークを検出する蛍光ピーク検出方法において、
三次元測定データの励起光の波長スキャンを行って得ら
れたピーク候補点と、蛍光の波長スキャンを行って得ら
れたピーク候補点とを比較して両方に共通するピーク候
補点を三次元ピーク候補点として選出する。この三次元
ピーク候補点について、蛍光によって得られたピークか
否かを判定する。これにより、３次元データを扱う蛍光
光度計において、散乱光に非常に近いところに現れた蛍
光ピークや、形状が分かりづらいピークであっても精度
よく認識することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する分野】本発明は、分光蛍光光度計に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】分光蛍光光度計においては、光源から放
射される光線が励起光側分光器にて波長設定され、その
波長設定された単色光が試料セル内の測定試料を照射、
励起し、試料から発光した蛍光を蛍光側分光器及び蛍光
検知器を介して検出して、蛍光（励起・発光）スペクト
ルを測定する。

【０００３】このような分光蛍光光度計では、励起波長
方向（Ｅｘ）および蛍光波長方向（Ｅｍ）の２方向に波
長スキャンを行う機能を持つものがある。このような２
方向に波長スキャンを行う分光蛍光光度計により測定さ
れた蛍光データは、励起光波長Ｅｘ、蛍光波長Ｅｍ、お
よび蛍光強度Ｉｘｍによって表される３次元データとな
る。

【０００４】このような３次元測定データから、蛍光強
度のピークを与える励起光波長および蛍光波長を求める
には、計算機によるデータ解析が有効である。

【０００５】しかし、分光蛍光光度計により測定される
蛍光強度測定データには、励起光による散乱や、分光器
内の分散素子として回折格子を用いることに起因した多
次光による散乱の影響が現れる。このような散乱光や多
次光は、データ上では見かけ上は蛍光強度ピークとして
現れる。

【０００６】ここで、図２に散乱ピークを含む測定結果
の例を示す。図２は、励起光波長（Ｅｘ）と蛍光波長
（Ｅｍ）を各座標として等高線表示した３次元測定デー
タの例を示す図である。図２では、ピーク２１、２２以
外に、２本の帯状の線が斜めに表示されているが、これ
は非常に強度の強い２種類の散乱ピークが検出されてい
ることを示している。

【０００７】このような、散乱光や多次光による見かけ
の蛍光ピークと真の蛍光ピークとの判別は、従来では、
例えば、特開平１−２１４７２３号公報や特開平４−１
５７３５０号公報に開示された例のように、任意の波長
における２次元のデータの基での自動判別が行われてい
た。

【０００８】上記特開平１−２１４７２３号公報に開示
された例は、任意の励起光波長における真の蛍光ピーク
を見分けるために、励起光波長をシフトさせて蛍光波長
を測定し、蛍光波長の変動のなかったピークを真の蛍光
ピークとするものである。

【０００９】また、特開平４−１５７３５０号公報に開
示された例は、蛍光スペクトルから、散乱光となる励起
光λｏの前後（または、ｎλｏ、１／ｎλｏの前後）の
極小値（即ち最も谷となる部分）を見つけ出してその間
を散乱光のピークとし、除外するものである。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかし、３次元の測定
データにおける散乱光や多次光による見かけの蛍光ピー
クと真の蛍光ピークとの判別は、２次元のデータにおけ
る判別のときほど容易ではない。

【００１１】例えば、上述した従来技術では、蛍光ピー
ク波長と散乱光波長とが接近している場合や、ある程度
波長が離れていても、散乱光強度が非常に大きく、蛍光
強度が散乱光ピークの裾野にかかってしまうような場合
には、測定データから真の蛍光波長を残して散乱光や多
次光の見かけの蛍光ピークを除外することことは難しく
なる。

【００１２】例えば、図２に示すような例の場合、蛍光
ピーク２１のようなピークは、散乱光ピークに非常に近
接しているため、特開平４−１５７３５０号公報に示さ
れたような散乱光となる波長前後の極小値の間のデータ
を全て散乱光のピークと見なして機械的に削除してしま
うと、検出されることはない。

【００１３】また、蛍光分光光度計において検出される
蛍光ピークは、分光器におけるスリットの大きさ（励起
光側分光器と蛍光側分光器でそれぞれスリットを持つ
が、大きいほうのスリットが間題となる）と、波長方向
のサンプリング間隔（取得するデータの波長間隔）の関
係によって、その形状が大きく変化する。

【００１４】図８の（Ａ）は、サンプリング間隔が例え
ば１０ｎｍで、スリットが４ｎｍの場合を示す。この場
合、４００ｎｍの波長を測定しようとしても、スリット
幅分（約±２ｎｍ）の波長の光が４００ｎｍの測定値と
して検出されてしまう。同様に、４１０ｎｍの位置でも
スリット幅分の波長の影響が出る。しかしながら、各サ
ンプリング間隔におけるデータにおいて、隣接するデー
タの相互干渉は生じていない。

【００１５】これに対して、図８の（Ｂ）は、サンプリ
ング間隔が同じく１０ｎｍで、スリットが２０ｎｍの場
合を示す。この条件の場合、スリット幅が広いため、隣
接するデータの相互千渉が生じてしまう。例えば、４０
０ｎｍおよび４１０ｎｍのデータには、それぞれ４００
ｎｍ〜４１０ｎｍの同じ領域の波長の影響が重複してい
ることになる。

【００１６】一般的に、図８の（Ａ）のような条件の場
合、蛍光ピークとしては、明確なピーク座標を持つピー
ク（鋭いピーク）が検出される。

【００１７】逆に、図８の（Ｂ）のような条件の場合の
蛍光ピークとしては、ピーク座標が分かりづらい、不明
瞭なピーク（山なりのピーク）と成る場合が多い。図２
の例で言えば、例えば、ピーク２２のような形状であ
る。このような形状のピークは、励起光をずらした時
に、同じ蛍光波長の位置にピーク点が存在せず、多少ず
れてしまっていることが多く、特開平１−２１４７２３
号公報のような方法では、蛍光ピークとして認識されな
くなってしまう可能性がある。

【００１８】従って、３次元のデータを扱う従来の分光
蛍光光度計では、図２に示すような３次元のデータを表
示し、分析者が自らピークと思われる点を見つけ出して
いた。

【００１９】しかし、蛍光ピークの点数が非常に多いよ
うな試料の分析では、人の手によって全てのピークを見
つけ出すのは労力がかかりすぎる。

【００２０】また、形状がはっきりしないピークの頂点
を見つけ出すのは、人の感覚では難しく信頼性も低くな
る。

【００２１】本発明の目的は、上記のような場合であっ
ても、分光蛍光光度計における３次元測定データから、
蛍光強度ピークを効率よく抽出可能な分光蛍光光度計を
実現することである。

【００２２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次のように構成される。

【００２３】（１）光源、励起光側分光器、蛍光側分光
器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデ
ータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各
種設定パラメータを表示する表示部とを有する分光蛍光
光度計を用いて試料の測定を行い、試料を測定した結果
として得られる励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度
の三次元測定データから蛍光ピークを検出する蛍光ピー
ク検出方法において、上記三次元測定データの励起光の
波長スキャンを行って得られたピーク候補点と、蛍光の
波長スキャンを行って得られたピーク候補点とを比較し
て両方に共通するピーク候補点を三次元ピーク候補点と
して選出し、上記三次元ピーク候補点について、蛍光に
よって得られたピークか否かを判定する。

【００２４】（２）好ましくは、上記（１）において、
上記データ処理部には、励起光側分光器と蛍光側分光器
の波長正確さを示すパラメータが記億され、上記三次元
ピーク候補点の蛍光ピーク判定時に、Ｅｘは励起光波
長、Ｅｍは蛍光波長、ｎは整数とすると、|Ｅｘ−（Ｅ
ｍ×ｎ）| ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確
さ） （式１）あるいは、|Ｅｘ−（Ｅｍ×１／ｎ）|
＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ） （式
２）を満たすか否かが判定され、上記式１又は式２を満
たす三次元ピーク候補点を、蛍光ピークとして認識す
る。

【００２５】（３）また、好ましくは、上記（２）にお
いて、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三
次元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリ
ット幅とサンプリング間隔が記憶され、判定対象の上記
三次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たし
ていない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデー
タが「サンプリング間隔≧（励起光側スリットあるいは
蛍光側スリットの大きい方の大きさ）」の関係を満たす
とき、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方
向の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候
補点と同じ蛍光波長を中心とした任意の波長領域内に他
のピーク点があれば、上記三次元ピーク候補点を蛍光ピ
ークとして認識する。

【００２６】（４）また、好ましくは、上記（２）にお
いて、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三
次元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリ
ット幅とサンブリング間隔が記憶され、判定対象の上記
三次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たし
ていない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデー
タが「サンプリング間隔＜（励起光側スリットあるいは
蛍光側スリットの大きい方の大きさ）」の関係を満たす
とき、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方
向の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候
補点と同じ蛍光波長に他のピーク点があれば上記三次元
ピーク候補点を蛍光ピークとして認識する。

【００２７】（５）光源、励起光側分光器、蛍光側分光
器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデ
ータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各
種設定パラメータを表示する表示部とを有し、試料を測
定して励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元
測定データを得る分光蛍光光度計において、上記データ
処理部は、上記三次元データから励起光波長と蛍光強度
の関係、及び蛍光波長と蛍光強度の関係からそれぞれピ
ーク候補点を検出し、これら２つの関係で得られた各ピ
ーク候補点を関連付けて三次元ピーク候補点を検出し、
この三次元ピーク候補点が蛍光によって得られたピーク
か否かを判定する。

【００２８】（６）光源、励起光側分光器、蛍光側分光
器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデ
ータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各
種設定パラメータを表示する表示部とを有し、試料を測
定して励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元
測定データを得、この三次元測定データから蛍光ピーク
点を算出する分光蛍光光度計であって、上記表示部は、
上記三次元測定データを励起光側波長と蛍光側波長を座
標とした等高線図として二次元表示を行う第１の表示領
域と、この第１の表示領域に表示された三次元測定デー
タの蛍光ピークをリスト化して表示する第２の表示領域
とを有し、上記第２の表示領域に表示された蛍光ピーク
の内、選択された蛍光ピークに対応する励起光側波長及
び蛍光側波長を上記第１の表示領域の等高線図上にカー
ソルにて表示する。

【００２９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照して説明する。まず、図１を参照して、分光蛍
光光度計について説明する。図１において、光源１から
放射される光線は、励起光側分光器２に入射する。励起
光側分光器２の設定波長は、パルスモータ３によって制
御される。パルスモータ３の動作は、データ処理装置
（演算制御手段）４からインターフェース５を介してパ
ルスモータ３に指示が出されることによって制御され、
データ処理装置４からの指示は、データ処理装置４中の
メモリに記憶されたプログラムによって出される。

【００３０】励起光側分光器２によって取り出された単
色光は、ビームスプリッタ１３を介して試料セル７内の
測定試料８を照射し、測定試料８から放射された蛍光は
蛍光側分光器９に入射する。

【００３１】蛍光側分光器９は、パルスモータ１０によ
って駆動されるが、その動作はパルスモータ３と同様
に、データ処理装置４により制御される。蛍光側分光器
９により選択された波長の蛍光は、検知器１１に入射
し、電気信号に変換される。

【００３２】なお、励起光側分光器２及び蛍光側分光器
９の動作の設定は、ＣＲＴや液晶等の表示装置をもつ操
作パネル６を介して分析者によって設定される。また、
励起光側分光器２及び蛍光側分光器９は、それぞれ光の
入射位置及び出射位置にさまざまな幅を持つ複数のスリ
ットを備えている（図示せず）。スリット幅は、測定に
応じて任意に変更される。

【００３３】検知器１１により変換されたその電気信号
は、アナログ−デジタル変換器１２によってデジタル信
号に変換される。

【００３４】一方、励起光側分光器２から取り出された
単色光の一部は、光源光量をモニタするため、ビームス
プリッタ１３を介して、モニタ検知器１４に入射し、電
気信号に変換される。モニタ検知器１４により変換され
た電気信号も、アナログ−デジタル変換器１２によって
デジタル信号に変換される。

【００３５】検知器１１からのデジタル信号（Ｓ）と、
モニタ検知器１４からのデジタル信号（Ｍ）とは、デー
タ処理装置４に送られ、お互いの比（Ｓ／Ｍ）が算出さ
れ、この比が各波長における蛍光強度として、データ処
理装置４の内部メモリに記憶される。なお、モニタ検知
器１４を省略し、励起光側分光器２から直接デジタル信
号として光量のデータをデータ処理装置４に送ることも
可能である。

【００３６】次に、データ処理装置４における処理につ
いて説明する。上記装置によって得られる測定データ
は、励起光波長、蛍光波長、蛍光強度の３パラメータか
ら成る３次元のマトリクスデータである。測定時は、ま
ず任意の励起光波長において、蛍光側分光器９を所定の
サンプリング間隔で駆動することで蛍光波長を走査して
蛍光強度を検出することで蛍光スペクトルを得る。そし
て、励起光側分光器２をサンプリング間隔分だけ駆動し
て次の波長に設定し、同様に、蛍光側分光器９を駆動す
ることで蛍光スペクトルを得る。これを繰り返すことに
よって３次元の測定データを得ることが出来る。

【００３７】データ処理装置４では、測定を繰り返すご
とにその測定結果（３次元測定データ配列）及び測定条
件（励起光側分光器、蛍光側分光器のそれぞれのスリッ
ト幅、サンプリング間隔等）を記憶し、分析者の要求に
よって出力されるようにしておく。

【００３８】次に、３次元測定データのピーク検出の手
順について示す。ピーク検出に際しては、まず分析者
が、ピーク検出対象となるデータ処理装置４に記憶され
た測定データを指定することから始まる。

【００３９】測定データが指定され、ピーク検出を開始
すると、図３に示す手順で判定を行う。

【００４０】まず、手順１において、励起光波長（Ｅ
ｘ）方向ヘスキャンする。そして、蛍光強度のピーク
（極大値）検出を行い、ピークＭ１点〜ピークＭｎ点を
得る。

【００４１】次に、手順２において、蛍光波長（Ｅｍ）
方向ヘスキャンする。手順１と同様に蛍光強度のピーク
（極大値）検出を行い、ピークＮ１点〜ピークＮｎ点を
得る。

【００４２】手順３において、上記手順１及び２で取得
した各ピーク点のデータの関連性を求める。ピーク点Ｍ
１〜Ｍｍのそれぞれの蛍光波長を調べ、ピーク点Ｎ１〜
Ｎｎの蛍光波長と一致するかどうかを調べる（逆に、ピ
ーク点Ｎ１〜Ｎｍのそれぞれの励起光波長を調べ、ピー
ク点Ｍ１〜Ｍｎの励起光波長と一致するかどうかを調べ
ても良い）。蛍光波長あるいは励起光波長が一致するも
のがあれば、それを正式な３次元ピークの頂点であると
認識して、新たにピーク点Ｐ１〜Ｐｐとして、ナンバリ
ングしていく。

【００４３】手順４において、手順３で求めた各ピーク
点Ｐに対して、正しい蛍光ピークであるかを判定する。
ピーク判定としては、各ピークＰが以下の条件式を満た
すかどうかで行われる。

【００４４】 |Ｅｘ−（Ｅｍ×ｎ）| ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）・・・ 条件−１ あるいは、 |Ｅｘ−（Ｅｍ×１／ｎ）| ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）・ ・・条件−２ ただし、ｎは整数である。

【００４５】ここで、励起光側波長正確さ、蛍光側波長
正確さとは、波長精度のことである。具体的には、装置
の示す波長値が、実際の波長値とどの程度ずれる可能性
があるかを規定する装置仕様値を示す。例えば、励起光
が１００ｎｍの場合、散乱光のピークは１００ｎｍ、あ
るいはそのｎ倍や１／ｎ倍のところに現れるはずである
が、分光器の特性によって、実際にはこの波長からずれ
た波長のところにピークが現れてしまう。

【００４６】したがって、条件式の右辺は、このずれ
量を吸収するために設定されるものである。

【００４７】上式において、ピーク点Ｐが散乱光のピー
クであれば、上記式の左辺の解は「０」となる。ただ
し、励起光側波長正確さ、及び蛍光側波長正確さが、例
えば、それぞれ「３ｎｍ」と設定されているときは、左
辺の解が±６ｎｍ以下であれば、そのピークＰは散乱光
であると見なされる。

【００４８】この励起光側及び蛍光側波長正確さの設定
値を大きくするか、小さくするかで、散乱光として削除
する範囲が変わってくる。適切な設定値を選択すること
によって、図２の散乱光のピーク２１のようなピークに
掛った、いわゆるショルダーピークのようなピークであ
っても、散乱光として機械的に削除してしまうことを防
ぐことが出来る。

【００４９】各ピークＰが上記条件式を満たしている
場合、蛍光ピークであると判断し、ピーク判定を完了す
る。

【００５０】上記条件を満たしていない場合、散乱光、
Ｎ次光、１／Ｎ次光の可能性ありと判定して、手順５の
「散乱光チェック」へ進む。

【００５１】手順５において、散乱光、Ｎ次光、１／Ｎ
次光の可能性ありと判断されたピーク点Ｐを、測定条件
（スリットの大きさ、サンプリング間隔）を基に２つの
判定基準に分け、それぞれの条件式を満たすかどうかを
チェックする。

【００５２】判定基準（Ａ）： 蛍光スペクトルのサンプリング間隔＞＝「励起光側スリ
ットあるいは蛍光側スリットの大きい方の大きさ」 この判定墓準（Ａ）を満たす測定条件で測定されたデー
タの場合、判定を行っているピーク点Ｐの励起光方向の
長波長側のデータを判断し、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長
に他のピーク点があれば（条件−１）、蛍光ピークと
確定する。

【００５３】判定基準（Ｂ）： 蛍光スペクトルのサンプリング間隔＜「励起光側スリッ
トあるいは蛍光側スリットの大きい方の大きさ」 この判定基準（Ｂ）を満たす測定条件で測定されたデー
タの場合、判定を行っているピーク点Ｐの励起光方向の
長波長側のデータを判断し、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長
とその前後何点かの蛍光波長のデータに他のピーク点が
あれば（条件−２）、蛍光ピークと確定する。

【００５４】上記判定における条件を満たせないピー
ク点Ｐについては、散乱光であると判定して、蛍光ピー
クとしない。

【００５５】ここで、判断基準（Ａ）、（Ｂ）を設けた
理由を説明する。発明が解決しようとする課題の欄で説
明したように、実際の装置によって検出される蛍光ピー
クは、分光器におけるスリットの大きさ（励起光側分光
器と蛍光側分光器でそれぞれスリットを持つが、大きい
ほうのスリットが間題となる）と、波長方向のサンプリ
ング間隔（取得するデータの波長間隔）の大小関係によ
って、その形状が大きく変化する。

【００５６】従って、本実施例においては、この大小関
係を基に、上記の判断基準（Ａ）と（Ｂ）の条件を設け
ている。

【００５７】判断基準（Ａ）に係る条件で測定した場
合、蛍光ピークとしては、明確なピーク座標を持つ綺麗
なピーク（鋭いピーク）が検出されるため、判定してい
るピーク点Ｐから励起光をずらしたスペクトルでも、ピ
ーク点Ｐと同じ蛍光波長の位置にピーク点が存在するこ
とが多い。条件−１は、この現象を利用したものであ
る。

【００５８】判断基準（Ｂ）に係る条件の場合の蛍光ピ
ークとしては、ピーク座標が分かりづらい、不明瞭なピ
ーク（山なりのピーク）と成る場合が多いため、判定し
ているピーク点Ｐから励起光をずらしたスペクトルで
は、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長の位置にピーク点が存在
せず、多少ずれてしまっていることが多い。条件−１
は、このような状態でもピークを認識するために、同じ
蛍光波長だけでなく、その前後ろの波長も判断対象とす
るものである。

【００５９】そして、判断対象となった波長にもピーク
が存在すれば、ピーク点Ｐは蛍光ピークであるとして認
識するものである。これにより、判断基準（Ｂ）の条件
においても、漏れなく自動的に蛍光ピークを検出するこ
とが出来るものである。

【００６０】上記の図３のフローチャートに示すよう
に、これら一連の処理によって、蛍光ピークのみを効率
よく検出することができる。

【００６１】次に、本発明の蛍光分光光度計におけるＧ
ＵＩ上の操作画面を説明する。図４は、ピーク検出を実
行する際に、操作パネル６上に表示される画面の概略図
である。図４において、表示画面は３分割されており、
領域Ｉが３次元データの等高線表示画面、領域ＩＩが励
起波長・蛍光波長それぞれについての２次元断面表示、
領域ＩＩＩがピーク波長データ表示画面となる。

【００６２】また、画面右にあるＰは、ピーク検出実行
を指示するためのピーク検出実行アイコンである。ピー
ク検出を行う際には、検出対象となる三次元測定データ
をデータ処理装置４内のメモリから呼び出し、図４の領
域Ｉに表示する。ピーク検出が実行される前の状態で
は、領域ＩＩＩは空白となっている。

【００６３】ピーク検出アイコンＰをマウス等のポイン
ティングディバイスによりクリックすることで、図５に
示すように、ピーク検出のパラメータを設定するための
画面が表示される。

【００６４】ここで表示される設定項目としては、上記
条件の判断に用いる励起光及び蛍光の「波長正確さ」
と、上記条件−２で用いるピーク点Ｐの前後何点まで
のデータを判断範囲とするのかを示す「検出感度」と、
ピークとして認識する蛍光強度レベルを設定する「検出
感度」がある。これらの設定項目の値は、分析者により
設定される。

【００６５】パラメータ決定後、ピーク検出が実行さ
れ、本発明のピーク判定の結果、蛍光ピークとして判定
されたピークが図４の領域ＩＩＩ上に、結果として表示
される。このときの状態を図６に示す。図６の例は、図
２で示した三次元測定データをピーク検出した結果であ
る。

【００６６】図７に、図６の領域ＩＩＩの結果表示の詳
細を示す。図７中、左より、ピークナンバー、ピーク波
長Ｅｘ／Ｅｍ、ピーク値（高さ）を示す。図７のピーク
ナンバー１は、図２のピーク２２に相当する。同じく、
ピークナンバー２は、図２のピーク２１に相当する。

【００６７】この領域ＩＩＩに示されたデータは、ピー
クナンバーごとにポインティングディバイスから選択す
ることが出来、分析者が任意のピークナンバーを選択す
ると、領域Ｉの等高線表示画面において、選択したピー
クナンバーのピーク座標（蛍光波長／励起光波長）に相
当する位置にカーソルが反映される。

【００６８】図６は、ピークナンバー１を選択し、領域
Ｉの対応する波長位置に十字カーソルが表示された例で
ある。同時に、領域ＩＩにも対応する波長のスペクトル
と、カーソルが表示される。

【００６９】このように、それぞれの領域がリンクして
おり、分析者が数値として得られたピーク検出結果か
ら、領域Ｉ、ＩＩを用いて、ピークの位置を視覚的にイ
メージし易くしている。

【００７０】本発明の判定法を用いれば、図２のような
測定結果が得られた場合であっても、図６に示すよう
に、確実に蛍光ピークとして認識することが可能とな
る。

【００７１】

【発明の効果】本発明によれば、３次元データを扱う蛍
光光度計において、散乱光に非常に近いところに現れた
蛍光ピークや、形状が分かりづらいピークであっても、
精度よく認識することが出来る。

【００７２】また、表示画面において、検出したピーク
結果の数値データを、検出対象となった測定データの２
次元及び３次元のスペクトル画面に容易に反映させるこ
とが出来るので、ユーザフレンドリーな測定環境を実現
できる。

【００７３】これにより、測定結果の解析時間短縮や、
解析を行う分析者の能力に依存した解析結果の個人差を
排除する、等の効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用される分光蛍光光度計の概略構成
図である。

【図２】分光光度計によって得られる測定データの例を
示す図である。

【図３】本発明の判定におけるフローチャートである。

【図４】本発明の表示画面の一部を表した例を示す図で
ある。

【図５】図４の画面の具体例を示す図である。

【図６】ピーク検出パラメータ設定ウィンドウの一例を
示す図である。

【図７】領域ＩＩＩの具体例を示す図である。

【図８】スリット幅とサンプリング間隔を説明するため
の図である。

【符号の説明】

１ 光源 ２ 励起光側分光器 ３ 励起光側パルスモータ ４ データ処理装置 ５ インタフェース ６ 操作パネル ７ 試料セル ８ 測定試料 ９ 蛍光側分光器 １０ 蛍光側パルスモータ １１ 検知器 １２ Ａ／Ｄ変換器 １３ ビームスプリッタ １４ モニタ検知器 Ｉ ３次元データ等高線表示画面領域 ＩＩ ２次元断面表示画面領域 ＩＩＩ ピーク波長表示画面領域 Ｐ ピーク検出実行アイコン

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 孝一 茨城県ひたちなか市大字市毛1040番地 株 式会社日立サイエンスシステムズ内 (72)発明者 大和田 実 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器グループ内 Ｆターム(参考） 2G043 AA01 EA01 FA06 GA02 GA04 GA08 GA21 GB21 HA09 JA01 LA01 NA01 NA06

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍
   光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処
   理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定
   パラメータを表示する表示部とを有する分光蛍光光度計
   を用いて試料の測定を行い、試料を測定した結果として
   得られる励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次
   元測定データから蛍光ピークを検出する蛍光ピーク検出
   方法において、 上記三次元測定データの励起光の波長スキャンを行って
   得られたピーク候補点と、蛍光の波長スキャンを行って
   得られたピーク候補点とを比較して両方に共通するピー
   ク候補点を三次元ピーク候補点として選出し、 上記三次元ピーク候補点について、蛍光によって得られ
   たピークか否かを判定することを特徴とする蛍光ピーク
   検出方法。
2. 【請求項２】請求項１記載の蛍光ピーク検出方法におい
   て、上記データ処理部には、励起光側分光器と蛍光側分
   光器の波長正確さを示すパラメータが記億され、上記三
   次元ピーク候補点の蛍光ピーク判定時に、Ｅｘは励起光
   波長、Ｅｍは蛍光波長、ｎは整数とすると、 |Ｅｘ−（Ｅｍ×ｎ）| ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ） （式 １） あるいは、 |Ｅｘ−（Ｅｍ×１／ｎ）| ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ） （式２） を満たすか否かが判定され、上記式１又は式２を満たす
   三次元ピーク候補点を、蛍光ピークとして認識すること
   を特徴とする蛍光ピーク検出方法。
3. 【請求項３】請求項２記載の蛍光ピーク検出方法におい
   て、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三次
   元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリッ
   ト幅とサンプリング間隔が記憶され、判定対象の上記三
   次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たして
   いない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデータ
   が「サンプリング間隔≧（励起光側スリットあるいは蛍
   光側スリットの大きい方の大きさ）」の関係を満たすと
   き、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方向
   の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候補
   点と同じ蛍光波長を中心とした任意の波長領域内に他の
   ピーク点があれば、上記三次元ピーク候補点を蛍光ピー
   クとして認識することを特徴とする蛍光ピーク検出方
   法。
4. 【請求項４】請求項２記載の蛍光ピーク検出方法におい
   て、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三次
   元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリッ
   ト幅とサンブリング間隔が記憶され、判定対象の上記三
   次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たして
   いない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデータ
   が「サンプリング間隔＜（励起光側スリットあるいは蛍
   光側スリットの大きい方の大きさ）」の関係を満たすと
   き、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方向
   の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候補
   点と同じ蛍光波長に他のピーク点があれば上記三次元ピ
   ーク候補点を蛍光ピークとして認識することを特徴とす
   る蛍光ピーク検出方法。
5. 【請求項５】光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍
   光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処
   理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定
   パラメータを表示する表示部とを有し、試料を測定して
   励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元測定デ
   ータを得る分光蛍光光度計において、 上記データ処理部は、上記三次元データから励起光波長
   と蛍光強度の関係、及び蛍光波長と蛍光強度の関係から
   それぞれピーク候補点を検出し、これら２つの関係で得
   られた各ピーク候補点を関連付けて三次元ピーク候補点
   を検出し、この三次元ピーク候補点が蛍光によって得ら
   れたピークか否かを判定することを特徴とする分光蛍光
   光度計。
6. 【請求項６】光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍
   光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処
   理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定
   パラメータを表示する表示部とを有し、試料を測定して
   励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元測定デ
   ータを得、この三次元測定データから蛍光ピーク点を算
   出する分光蛍光光度計であって、 上記表示部は、上記三次元測定データを励起光側波長と
   蛍光側波長を座標とした等高線図として二次元表示を行
   う第１の表示領域と、この第１の表示領域に表示された
   三次元測定データの蛍光ピークをリスト化して表示する
   第２の表示領域とを有し、 上記第２の表示領域に表示された蛍光ピークの内、選択
   された蛍光ピークに対応する励起光側波長及び蛍光側波
   長を上記第１の表示領域の等高線図上にカーソルにて表
   示することを特徴とする分光蛍光光度計。