JP2012063148A - 分光蛍光光度計 - Google Patents

Abstract

【課題】 得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークか、あるいは、レーリー散乱光を示すピークであるかを識別することができる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】 光源部１０と、試料が配置される試料室２０と、試料から放出される光を波長分解して、目的波長の光を光検出器３２に対して出射する回折格子３１ａを有する蛍光分光器３１と、目的波長の光強度を検出する光検出器３２とを備える検出部３０と、光検出器３２で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部５０と、表示装置５３とを備える分光蛍光光度計１であって、制御部５０は、設定励起波長に基づいて、得られたスペクトルにおける各ピークが、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークである可能性があるかのいずれかを示唆する表示を行う。
【選択図】 図１

Description

本発明は、試料に励起光を照射したときに生ずる蛍光を測定する分光蛍光光度計に関する。

基底状態の分子に光を照射すると、分子はエネルギーレベルの高い励起状態に遷移する。そして、励起状態の分子は、エネルギーの一部を振動や熱により失った後、光放射による失活により基底状態に戻る。このときに分子が発する光が蛍光である。
そこで、分子が発する蛍光がどのようなものであるかを検討するために、設定励起波長λ_ＥＸ１の光を試料に照射し、そのときに試料から放出されるスペクトル（光の波長分布）を測定する分光蛍光光度計が開発されている（例えば、特許文献１参照）。

図５は、従来の分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。
分光蛍光光度計１０１は、設定励起波長λ_ＥＸ１の光を出射する光源部１０と、試料Ｓが配置される試料室２０と、スペクトルを測定する検出部３０と、分光蛍光光度計１０１全体を制御するコンピュータ１５０とを備える。

光源部１０は、白色光を出射する高輝度のキセノンランプやフラッシュランプ等の光源１１と、白色光を波長分解して設定励起波長λ_ＥＸ１の光を試料Ｓに対して照射する凹面回折格子１２ａを有する励起分光器１２と、励起側スリット１３と、ミラー１５と、モニタ検出器１４（Ｓｉ−ＰＤまたは光電子増倍管）とを備える。凹面回折格子１２ａは、コンピュータ１５０によって回転されるようになっており、任意の設定励起波長λ_ＥＸ１の光を試料Ｓに対して照射することができるようになっている。

検出部３０は、試料Ｓから放出される光を波長分解して目的波長λ_ｎの光を光検出器３２に対して出射する凹面回折格子３１ａを有する蛍光分光器３１と、目的波長λ_ｎの光強度を検出する光検出器（光電子増倍管）３２と、蛍光側スリット３４とを備える。凹面回折格子３１ａは、コンピュータ１５０によって回転されるようになっており、任意の目的波長λ_ｎの光を光検出器３２に対して出射することができるようになっている。これにより、凹面回折格子３１ａは、コンピュータ１５０によって回転されながら、所定領域の目的波長λ_ｎの光を光検出器３２に対して出射すれば、スペクトルを測定することができるようになっている。

コンピュータ１５０においては、ＣＰＵ（制御部）１５１とメモリ１５４とを備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置５２と、表示装置５３とが連結されている。また、ＣＰＵ１５１が処理する機能をブロック化して説明すると、光源部１０を制御する光源部制御部１５１ａと、光検出器３２からの光強度信号を取得する光検出器制御部１５１ｂと、表示装置５３にスペクトルを表示する表示制御部１５１ｃとを有する。

このような分光蛍光光度計１０１によれば、分析者が試料Ｓの分析を実行する際には、入力装置５２を用いて光源部制御部１５１ａを制御することにより、試料Ｓに対して設定励起波長λ_ＥＸ１（例えば、３５０ｎｍ）の光を照射する。光検出器制御部１５１ｂは、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を目的波長範囲（例えば、３００ｎｍ〜８００ｎｍ）で取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。
そして、試料Ｓの分析を実行することが終了すると、表示制御部１５１ｃは、表示装置５３にスペクトルを表示する。図６は、得られたスペクトルの一例を示す図である。縦軸は光強度であり、横軸は波長である。

特開平１０−１６０６７３号公報

しかしながら、分光蛍光光度計１０１で得られるスペクトルには、図６に示すように３５０．１ｎｍのピークＡと３９７．０ｎｍのピークＢと４５０．１ｎｍのピークＣと７００．５ｎｍのピークＤとが現れている。つまり、蛍光を示すピークに加え、試料Ｓを励起するために用いた設定励起波長λ_ＥＸ１と同じ波長λ_ＥＸ１のレーリー散乱光を示すピークや、レーリー散乱光の高次光を示すピークや、分子の振動に起因するストークスラマン散乱光を示すピークが現れることがある。分子は、エネルギーの一部を振動や熱により失った後に、光放射による失活により基底状態に戻るため、光放射によるエネルギーは励起エネルギーよりも小さくなるので、蛍光を示すピークは設定励起波長λ_ＥＸ１よりも長波長側に現れる。ところが、ストークスラマン散乱光を示すピークも、同じように長波長側に現れる。また、レーリー散乱光の高次光を示すピークも長波長側に現れる。すなわち、分光蛍光光度計１０１で得られるスペクトルには、図６に示すように複数のピークＡ〜Ｄが重なりあって複雑になることがあった。よって、分析者は図６に示すスペクトルを一見して、蛍光を示すピークがＡ〜Ｄのいずれであるのかがわからないことがあった。

ここで、図６に示すスペクトルには、設定励起波長λ_ＥＸ１のレーリー散乱光を示すピークＡと、波長λ_ＥＸ１×２のレーリー散乱光の２次光を示すピークＤと、蛍光を示すピークＢと、ストークスラマン散乱光を示すピークＣとが現れている。しかし、分析者が蛍光を示すものであると判断したピークが、実際には蛍光を示すものでなく、レーリー散乱光を示すピークＡ、Ｄやストークスラマン散乱光を示すピークＣであることがあった。

本件発明者らは、上記課題を解決するために、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを識別する識別方法について検討を行った。
まず、得られたスペクトルにおけるピークが、設定励起波長λ_ＥＸ１に基づいて、レーリー散乱光を示すピークであるか否かを判定する一次判定を実行することを見出した。具体的には、設定励起波長λ_ＥＸ１を参照することにより、設定励起波長λ_ＥＸ１と同じ波長λ_ＥＸ１のピークがあれば、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、さらに設定励起波長λ_ＥＸ１のｎ倍である波長λ_ＥＸ１×ｎのピークがあれば、レーリー散乱光のｎ次光を示すピークであることを示唆する表示を行う。なお、一次判定では、レーリー散乱光を示すピーク以外のピークは、蛍光を示すピークである可能性を示唆する表示を行うこととする。

次に、レーリー散乱光を示すピーク以外のピークが、設定励起波長λ_ＥＸ１を変えた際におけるピークの波長位置の変化に基づいて、蛍光を示すピークであるか否かを判定する二次判定を実行することを見出した。ここで、試料Ｓに対して照射する設定励起波長λ_ＥＸ１をより長波長となる設定励起波長λ_ＥＸ２に変えると、蛍光を示すピークの波長位置は変化しないが、ストークスラマン散乱光を示すピークの波長位置は長波長側にシフトすることがわかっている。図７は、複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化の一例を示す図である。図７に示すように、設定励起波長λ_ＥＸ１を、（λ_ＥＸ１＋５）ｎｍと、（λ_ＥＸ１＋１０）ｎｍと、（λ_ＥＸ１＋１５）ｎｍと、（λ_ＥＸ１＋２０）ｎｍとなるように順に変えていくと、蛍光を示すピークの波長位置は、変化していない。一方、ストークスラマン散乱光を示すピークの波長位置は、長波長側にシフトしている。
よって、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・の光を段階的に長波長側に変えて試料Ｓに照射し、そのときに試料Ｓから放出されるスペクトルを測定する。そして、複数のスペクトル間でのピークの波長位置が長波長側にシフトしたのであれば、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、複数のスペクトル間でのピークの波長位置がシフトしないのであれば、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
なお、二次判定を実行する際に、試料Ｓから放出される目的波長範囲３００ｎｍ〜８００ｎｍのスペクトルを測定すると測定時間がかかる。そこで、二次判定を実行する際には、必要最小限の目的波長範囲のスペクトルを測定することにより、非常に短い測定時間で効率よく明確にピークを識別することも見出した。

また、レーリー散乱光のｎ次光を示すピークと、蛍光を示すピークとが重なることがある。図８は、得られたスペクトルの一例を示す図である。図８（ａ）に示すスペクトルには、設定励起波長λ_ＥＸ１のレーリー散乱光を示すピークと、波長λ_ＥＸ１×２のレーリー散乱光の２次光を示すピークとが現れている。そして、波長λ_ＥＸ１×２のレーリー散乱光の２次光を示すピークと、蛍光を示すピークとが重なっている。よって、分析者は図８（ａ）に示すスペクトルを見ても、蛍光を示すピークがわからなかった。
そこで、最適なレーリーカットフィルタを用いて、レーリー散乱光を示すピークを除去することを見出した。ここで、蛍光分光器３１の前方に、遮断波長（例えば、（λ_ＥＸ１＋１０）ｎｍ）以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを配置すると、得られるスペクトルにおいて、設定励起波長λ_ＥＸ１のレーリー散乱光を示すピークと、波長λ_ＥＸ１×２のレーリー散乱光の２次光を示すピークとを除去することができることがわかっている。よって、図８（ｂ）に示すように、設定励起波長λ_ＥＸ１を参照して、遮断波長以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを配置する。これにより、図８（ｃ）に示すようなスペクトルが得られる。
なお、二次判定を実行する場合には、図９に示すように、遮断波長がそれぞれ異なる複数のレーリーカットフィルタを備えておき、λ_ＥＸ１、λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・で指定する各遮断波長のうち、設定励起波長より長波長側で且つ最も励起波長との波長数の差が小さいレーリーカットフィルタを、複数のレーリーカットフィルタから選択して使用するとより正確に判定を行うことができる。

すなわち、本発明の分光蛍光光度計は、白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、前記試料が配置される試料室と、前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、得られたスペクトルにおける各ピークが、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークである可能性があるかのいずれかを示唆する表示を行うようにしている。
ここで、「設定励起波長」とは、分析者等によって分析前に予め決められた任意の波長であり、例えば、３５０ｎｍ等となる。
また、「目的波長領域」とは、分析者等によって分析前に予め決められた任意の波長領域であり、例えば、３００ｎｍ〜８００ｎｍ等となる。

以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるかを識別することができる。

（他の課題を解決するための手段および効果）
また、上記発明において、前記制御部は、前記蛍光分光器を制御することにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、複数のスペクトルを取得し、複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、ストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を行うようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを識別することができる。

また、上記発明において、前記制御部は、前記制御部は、前記入力装置でピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射する際に、前記光検出器で目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得するようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。

また、本発明の分光蛍光光度計は、白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、前記試料が配置される試料室と、前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、前記検出部は、前記蛍光分光器の前方に、前記遮断波長以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを備え、前記レーリーカットフィルタの遮断波長は、前記設定励起波長より長波長側であるようにしている。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、レーリー散乱光を示すピークを除去することができ、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであることを識別することができる。

また、上記発明において、前記制御部は、前記蛍光分光器を制御することにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、複数のスペクトルを取得し、複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、ストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を行うようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを識別することができる。

そして、上記発明において、前記制御部は、前記入力装置でピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射する際に、前記光検出器で目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得するようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。
さらに、上記発明において、前記検出部は、前記遮断波長がそれぞれ異なる複数のレーリーカットフィルタを備え、前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、前記検出部を制御することにより、複数のレーリーカットフィルタから一のレーリーカットフィルタを選択して、前記蛍光分光器の前方にレーリーカットフィルタを配置するようにしてもよい。

実施形態１に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。 得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。 得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。 実施形態２に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。 従来の分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。 得られたスペクトルの一例を示す図である。 複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化の一例を示す図である。 得られたスペクトルの一例を示す図である。 複数のレーリーカットフィルタを説明するための図である。

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれる。

＜実施形態１＞
図１は、実施形態１に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。なお、分光蛍光光度計１０１と同様のものについては、同じ符号を付している。
分光蛍光光度計１は、設定励起波長λ_ＥＸ１の光を出射する光源部１０と、試料Ｓが配置される試料室２０と、スペクトルを測定する検出部３０と、分光蛍光光度計１全体を制御するコンピュータ５０とを備える。

コンピュータ５０においては、ＣＰＵ（制御部）５１とメモリ５４とを備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置５２と、表示装置５３とが連結されている。また、ＣＰＵ５１が処理する機能をブロック化して説明すると、光源部１０を制御する光源部制御部５１ａと、光検出器３２からの光強度信号を取得する光検出器制御部５１ｂと、表示装置５３にスペクトルを表示する表示制御部５１ｃと、表示装置５３に識別表を表示する識別表表示制御部５１ｄとを有する。

このような分光蛍光光度計１によれば、分析者が試料Ｓの分析を実行する際には、入力装置５２を用いて光源部制御部５１ａを制御することにより、試料Ｓに対して設定励起波長λ_ＥＸ１（例えば、３５０ｎｍ）の光を照射する。光検出器制御部５１ｂは、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を目的波長範囲３００ｎｍ〜８００ｎｍで取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。
そして、試料Ｓの分析を実行することが終了すると、表示制御部５１ｃは、表示装置５３にスペクトルを表示する。また、識別表表示制御部５１ｄは、一次判定を実行することで、設定励起波長λ_ＥＸ１を参照することにより、設定励起波長λ_ＥＸ１と同じ波長λ_ＥＸ１のピークがあれば、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、さらに設定励起波長λ_ＥＸ１のｎ倍である波長λ_ＥＸ１×ｎのピークがあれば、レーリー散乱光のｎ次光を示すピークであることを示唆する表示を行う識別表を表示する。

図２は、得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。縦軸は光強度であり、横軸は波長である。図２に示すスペクトルには、３５０．１ｎｍのピークＡと３９７．０ｎｍのピークＢと４５０．１ｎｍのピークＣと７００．５ｎｍのピークＤとが現れている。また、図２に示す識別表には、設定励起波長λ_ＥＸ１のピークＡは、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、波長λ_ＥＸ１×２のピークＤは、レーリー散乱光の２次光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークＢは、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆する表示を行い、ピークＣは、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆する表示を行っている。なお、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆したものについては、二次判定を実行するための表示「△印」も行われている。

さらに、識別表表示制御部５１ｄは、分析者が入力装置５２を用いて所定のピークについて二次判定を実行すると判断したときには、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・の光を段階的に長波長側に変えて試料Ｓに照射し、そのときに試料Ｓから放出される狭波長範囲（λ_ｐｅａｋ−３０ｎｍ）〜（λ_ｐｅａｋ＋５０ｎｍ）のスペクトルを測定する。そして、ピークの波長位置が長波長側にシフトしたのであれば、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークの波長位置がシフトしないのであれば、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
例えば、まず、分析者が入力装置５２を用いて３９７．０ｎｍのピークＢについて二次判定を実行すると判断したときには、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・、λ_ＥＸ５の光を１０ｎｍごと５段階で長波長側に変えて試料Ｓに照射する。光検出器制御部５１ｂは、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を狭波長範囲３７０ｎｍ〜４５０ｎｍで取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしないので、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。

次に、分析者が入力装置５２を用いて４５０．１ｎｍのピークＣについて二次判定を実行すると判断したときには、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・、λ_ＥＸ５の光を１０ｎｍごと５段階で長波長側に変えて試料Ｓに照射する。光検出器制御部５１ｂは、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を狭波長範囲４２０ｎｍ〜５００ｎｍで取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしたので、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
図３は、得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。縦軸は光強度であり、横軸は波長である。図３に示すスペクトルには、３５０．１ｎｍのピークＡと３９７．０ｎｍのピークＢと４５０．１ｎｍのピークＣと７００．５ｎｍのピークＤとが現れている。また、図３に示す識別表には、設定励起波長λ_ＥＸ１のピークＡは、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークＢは、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークＣは、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、波長λ_ＥＸ１×２のピークＤは、レーリー散乱光の２次光を示すピークであることを示唆する表示を行っている。なお、図２に示す蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆したものについては、二次判定を実行したことを示すための表示「済み」も行われている。

以上のように、本実施形態の分光蛍光光度計１によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。

＜実施形態２＞
図４は、実施形態２に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。なお、分光蛍光光度計１０１と同様のものについては、同じ符号を付している。
分光蛍光光度計２０１は、設定励起波長λ_ＥＸ１の光を出射する光源部１０と、試料Ｓが配置される試料室２０と、スペクトルを測定する検出部２３０と、分光蛍光光度計２０１全体を制御するコンピュータ２５０とを備える。

コンピュータ２５０においては、ＣＰＵ（制御部）２５１とメモリ５４とを備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置５２と、表示装置５３とが連結されている。また、ＣＰＵ２５１が処理する機能をブロック化して説明すると、光源部１０を制御する光源部制御部２５１ａと、光検出器３２からの光強度信号を取得する光検出器制御部２５１ｂと、表示装置５３にスペクトルを表示する表示制御部２５１ｃと、表示装置５３に識別表を表示する識別表表示制御部２５１ｄとを有する。

検出部２３０は、試料Ｓから放出される光を波長分解して目的波長λ_ｎの光を光検出器３２に対して出射する凹面回折格子３１ａを有する蛍光分光器３１と、目的波長λ_ｎの光強度を検出する光検出器（光電子増倍管）３２と、蛍光側スリット３４と、遮断波長以下の光を遮断する複数（例えば、５枚）のレーリーカットフィルタ２３３とを備える。複数のレーリーカットフィルタ２３３は、遮断波長がそれぞれ異なっており、コンピュータ２５０によって選択されるようなっており、任意のレーリーカットフィルタ２３３を蛍光分光器３１の前方に配置することができるようになっている。このとき、コンピュータ２５０は、例えば、設定励起波長λ_ＥＸ１に基づいて、蛍光分光器３１の前方に、遮断波長（例えば、（λ_ＥＸ１＋１０）ｎｍ）以下の光を遮断するレーリーカットフィルタ２３３を配置する（図９参照）。

このような分光蛍光光度計２０１によれば、分析者が試料Ｓの分析を実行する際には、入力装置５２を用いて光源部制御部２５１ａを制御することにより、試料Ｓに対して設定励起波長λ_ＥＸ１（例えば、３５０ｎｍ）の光を照射する。光検出器制御部２５１ｂは、設定励起波長λ_ＥＸ１に基づいて、任意のレーリーカットフィルタ２３３を蛍光分光器３１の前方に配置して、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を目的波長範囲３００ｎｍ〜８００ｎｍで取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。

そして、試料Ｓの分析を実行することが終了すると、表示制御部２５１ｃは、表示装置５３にスペクトルを表示する。識別表表示制御部２５１ｄは、所定のピークについて二次判定を実行すると判定したときには、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・の光を段階的に長波長側に変えて試料Ｓに照射し、任意のレーリーカットフィルタ２３３を蛍光分光器３１の前方に配置しながら、そのときに試料Ｓから放出される狭波長範囲（λ_ｐｅａｋ−３０ｎｍ）〜（λ_ｐｅａｋ＋５０ｎｍ）のスペクトルを測定する。そして、ピークの波長位置が長波長側にシフトしたのであれば、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークの波長位置がシフトしないのであれば、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
例えば、まず、３９７．０ｎｍのピークＢについて二次判定を実行すると判定したときには、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・、λ_ＥＸ５の光を１０ｎｍごと５段階で長波長側に変えて試料Ｓに照射する。光検出器制御部２５１ｂは、設定励起波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・、λ_ＥＸ５に基づいて、任意のレーリーカットフィルタ２３３を蛍光分光器３１の前方に配置して、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を狭波長範囲３７０ｎｍ〜４５０ｎｍで取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしないので、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。

次に、４５０．１ｎｍのピークＣについて二次判定を実行すると判定したときには、設定励起波長λ_ＥＸ１と異なる波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・、λ_ＥＸ５の光を１０ｎｍごと５段階で長波長側に変えて試料Ｓに照射する。光検出器制御部２５１ｂは、設定励起波長λ_ＥＸ２、λ_ＥＸ３、・・・、λ_ＥＸ５に基づいて、任意のレーリーカットフィルタ２３３を蛍光分光器３１の前方に配置して、凹面回折格子３１ａを回転させながら、光検出器３２からの光強度信号を狭波長範囲４２０ｎｍ〜５００ｎｍで取得していくことで、試料Ｓから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしたので、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
その結果、識別表には、ピークＢは、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークＣは、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行っている。

以上のように、実施形態の分光蛍光光度計１によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。

＜他の実施形態＞
（１）上述した分光蛍光光度計１では、まず一次判定を実行し、そして分析者が入力装置５２を用いて二次判定を実行する構成を示したが、一次判定を実行すると自動的に二次判定を実行する構成としてもよい。
（２）上述した分光蛍光光度計２０１では、任意のレーリーカットフィルタ２３３を蛍光分光器３１の前方に自動的に配置する構成を示したが、最適なレーリーカットフィルタの種類を表示装置に表示し、分析者がレーリーカットフィルタを配置する構成としてもよい。

本発明は、分光蛍光光度計等に好適に利用できる。

１０ 光源部
１１ 光源
１２ 励起分光器
１２ａ 凹面回折格子
２０ 試料室
３０ 検出部
３１ 蛍光分光器
３１ａ 凹面回折格子
３２ 光検出器
５１ 制御部

Claims (7)

1. 白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、
   前記試料が配置される試料室と、
   前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、
   前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、
   表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、
   前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、得られたスペクトルにおける各ピークが、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークである可能性があるかのいずれかを示唆する表示を行うことを特徴とする分光蛍光光度計。
2. 前記制御部は、前記蛍光分光器を制御することにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、複数のスペクトルを取得し、
   複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、ストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を行うことを特徴とする請求項１に記載の分光蛍光光度計。
3. 前記制御部は、前記入力装置でピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射する際に、前記光検出器で目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得することを特徴とする請求項２に記載の分光蛍光光度計。
4. 白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、
   前記試料が配置される試料室と、
   前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、
   前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、
   表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、
   前記検出部は、前記蛍光分光器の前方に、前記遮断波長以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを備え、
   前記レーリーカットフィルタの遮断波長は、前記設定励起波長より長波長側であることを特徴とする分光蛍光光度計。
5. 前記制御部は、前記蛍光分光器を制御することにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、複数のスペクトルを取得し、
   複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、ストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を行うことを特徴とする請求項４に記載の分光蛍光光度計。
6. 前記制御部は、前記入力装置でピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射する際に、前記光検出器で目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得することを特徴とする請求項５に記載の分光蛍光光度計。
7. 前記検出部は、前記遮断波長がそれぞれ異なる複数のレーリーカットフィルタを備え、
   前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、前記検出部を制御することにより、複数のレーリーカットフィルタから一のレーリーカットフィルタを選択して、前記蛍光分光器の前方にレーリーカットフィルタを配置することを特徴とする請求項４〜請求項６のいずれかに記載の分光蛍光光度計。

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