JP2011058818A - 分光蛍光光度計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】3次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による2次元グラフ上に、励起光の散乱光とn次光、1/n次光の波長領域、溶媒のラマン散乱光とn次光、1/n次光の波長領域、蛍光の存在しないアンチストークス領域を自動的に計算してグラフ上に描画する機能を備え、サンプル自身の蛍光ピークを瞬時に間違いなく識別する。
【選択図】図6
Description
前記操作・データ処理用GUI部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする。
さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする。
さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする。
〔レーリー散乱の表示除外領域〕
初めに、図2において、レーリー散乱に起因する表示除外領域について説明する。サンプルの3次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外に、レーリー散乱光201、レーリー散乱光に起因する高次回折光202、203(k=2、3、4、・・・、もしくは1/2、1/3、1/4・・・)の信号が得られる。これらの信号は蛍光信号とは異なるので、この領域はサンプルの蛍光とは異質の表示除外領域となる。
〈レーリー散乱の表示除外領域〉
k×A−α×E≦B≦k×A+α×E・・・・・・(1)
(→k=1、2、3、・・・もしくはk=1/2、1/3、・・・・)
A: 励起波長(nm)、 開始:Wex1〜終了:Wexm
B: 蛍光波長(nm)、 開始:Wems〜終了:Weme
C: 励起側スリット幅(nm)、 Sex(領域201の軸A方向幅)
D: 蛍光側スリット幅(nm)、 Sem(領域201の軸B方向幅)
E: CとDのいずれか大きい値
以上により表示除外領域201、202、203を求めて、等高線上に表示する。
〔ラマン散乱の表示除外領域〕
次に、図3において、ラマン散乱の表示除外領域について説明する。図3においてサンプルの3次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外にラマン散乱光301、ラマン散乱光に起因する高次光302、303(k=2、3、4、・・・、もしくは1/2、1/3、1/4・・・)が得られる。
〈ラマン散乱の表示除外領域〉
k×(1/(1/A−L))−α×E≦B≦k×(1/(1/A−L))+α×E
・・・・・・(2)
(→k=1、2、3、・・・もしくはk=1/2、1/3、・・・・)
A: 励起波長(nm)、 開始:Wex1〜終了:Wexn
B: 蛍光波長(nm)、 開始:Wems〜終了:Weme
C: 励起側スリット幅(nm)、 Sex
D: 蛍光側スリット幅(nm)、 Sem
E: CとDのいずれか大きい値
L: 溶媒情報(溶媒のラマンシフト)(cm−1)
以上によりラマン散乱の表示除外領域301、302、303を求めて、等高線上に表示する。
〔アンチストークス領域の表示除外領域〕
次に、図4において、アンチストークス領域の表示除外領域について説明する。ストークスの定理により励起光よりも短い蛍光は生じることは無いので、この領域は蛍光波長の表示除外領域となり、式(3)によって定められる。
〈アンチストークス領域の表示除外領域〉
下記の式(3)を満足するB蛍光波長領域は除外される。
A−α×E≧B・・・・・・・(3)
A: 励起波長(nm)、 開始:Wex1〜終了:Wexn
B: 蛍光波長(nm)、 開始:Wems〜終了:Weme
C: 励起側スリット幅(nm)、 Sex
D: 蛍光側スリット幅(nm)、 Sem
E: CとDのいずれか大きい値
以上によりアンチストークス領域401を求めて、等高線上に表示する。
102:操作・データ処理用GUI部
103:分析手順設定部
105:制御部
106:光度計条件設定部
107:2次元スペクトルデータ測定部
108:3次元スペクトルデータ測定部
109:測定結果取得部
110:スペクトル領域ガイド表示部
111:試料室
112:光学系
Claims (14)
- 蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 請求項1の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示グラフは、3次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による2次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 請求項1または2の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 請求項1または2の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 請求項1または2の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 請求項1または2の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 請求項1または2の蛍光分光光度計の表示方法において、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
- 本体分析部と、操作・データ処理用GUI部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定資料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、2次元スペクトルデータ測定部と、3次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
前記操作・データ処理用GUI部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。 - 請求項8の蛍光分光光度計において、前記表示グラフは、3次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による2次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計。
- 請求項8または9の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
- 請求項8または9の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
- 請求項8または9の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
- 請求項8または9の蛍光分光光度計において、前記制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計。
- 請求項8または9の蛍光分光光度計において、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする蛍光分光光度計。
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