JPH04157350A - 蛍光測定装置 - Google Patents
蛍光測定装置Info
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- JPH04157350A JPH04157350A JP2283116A JP28311690A JPH04157350A JP H04157350 A JPH04157350 A JP H04157350A JP 2283116 A JP2283116 A JP 2283116A JP 28311690 A JP28311690 A JP 28311690A JP H04157350 A JPH04157350 A JP H04157350A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 13
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 claims description 17
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims description 9
- 230000008030 elimination Effects 0.000 abstract 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 abstract 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
試料の発する蛍光の測定によって分析情報を得る場合、
二つの測定モードがある。一つは試料励起光の波長を変
えて蛍光の一波長における強度変化を測定する励起光ス
ペクトル測定と、励起光波長を固定しておいて蛍光波長
を走査する蛍光スペクトル測定である。本発明はこの両
者に関し、特にスペクトル記録における記録スケールの
自動設定に関する。
二つの測定モードがある。一つは試料励起光の波長を変
えて蛍光の一波長における強度変化を測定する励起光ス
ペクトル測定と、励起光波長を固定しておいて蛍光波長
を走査する蛍光スペクトル測定である。本発明はこの両
者に関し、特にスペクトル記録における記録スケールの
自動設定に関する。
（゛従来の技術）
スペクトル記録における記録スケールの自動設定は従来
、測定されたスペクトルデータの最大値を記録計の最大
記録幅の中に納めるように行われていた。このようなオ
ートスケール機能を蛍光測定の場合にそのま＼適用する
と次のような問題がある。
、測定されたスペクトルデータの最大値を記録計の最大
記録幅の中に納めるように行われていた。このようなオ
ートスケール機能を蛍光測定の場合にそのま＼適用する
と次のような問題がある。
蛍光スペクトルの場合、励起光と同じ波長の所にレーリ
ー散乱によるピークが現われ、通常このピークの方が蛍
光より強（て、記録のスケールがこのレーリー散乱ピー
クにより決まるため、蛍光スペクトルの記録高さが小さ
くなってスペクトル強度の読取りが困難になる。励起光
スペクトルの場合、励起光波長が測定している蛍光の波
長の位置になったとき、やはりレーリー散乱による強い
ピークが現われて、このピークにより記録スケールが決
まるため、肝腎の励起光スペクトルの記録高さが低くな
ってしまう。
ー散乱によるピークが現われ、通常このピークの方が蛍
光より強（て、記録のスケールがこのレーリー散乱ピー
クにより決まるため、蛍光スペクトルの記録高さが小さ
くなってスペクトル強度の読取りが困難になる。励起光
スペクトルの場合、励起光波長が測定している蛍光の波
長の位置になったとき、やはりレーリー散乱による強い
ピークが現われて、このピークにより記録スケールが決
まるため、肝腎の励起光スペクトルの記録高さが低くな
ってしまう。
（発明が解決しようとする課ｒａ）
本発明は蛍光測定時のスペクトル記録における上述した
問題を解決しようとするものである。
問題を解決しようとするものである。
（課題を解決するための手段）
蛍光或は励起光スペクトルから、レーリー散乱光波長位
置およびその高次スペクトル位置のピークを除外し、残
りのスペクトルデータから最大値が記録計の最大記録幅
内に納まるように記録ス）７−−ルを設定するようにし
た。
置およびその高次スペクトル位置のピークを除外し、残
りのスペクトルデータから最大値が記録計の最大記録幅
内に納まるように記録ス）７−−ルを設定するようにし
た。
（作用）
前述したように、蛍光スペクトルでも励起光スペクトル
でもレーリー散乱光の波長位置に現われるピークが最も
強＜、シかもこれは上記何れもスペクトルでもスペクト
ル記録の必要性はないものであるから、これを除外し、
蛍光或は励起光のスペクトル自体の最大値が記録計のフ
ルスケールに納まるようにすればよい。レーリー散乱光
の波長は励起光の波長であるから、その波長自身は既知
であり、スペクトル記録から、その波長を中心とするピ
ークのデータを除外することは容易である。分光手段と
して回折格子を用いる場合、レーリー散乱光の高次回折
光か蛍光スペクトル上に現われるが、そのスペクトル上
の波長位置はもとのレーリー散乱光の波長の２倍、３信
等の位置に現われ、励起光スペクトルの場合、設定しで
ある蛍光波長の１／２．１／３等の波長位置に現われる
ので、これらの波長位置のデータを除外することも容易
である。
でもレーリー散乱光の波長位置に現われるピークが最も
強＜、シかもこれは上記何れもスペクトルでもスペクト
ル記録の必要性はないものであるから、これを除外し、
蛍光或は励起光のスペクトル自体の最大値が記録計のフ
ルスケールに納まるようにすればよい。レーリー散乱光
の波長は励起光の波長であるから、その波長自身は既知
であり、スペクトル記録から、その波長を中心とするピ
ークのデータを除外することは容易である。分光手段と
して回折格子を用いる場合、レーリー散乱光の高次回折
光か蛍光スペクトル上に現われるが、そのスペクトル上
の波長位置はもとのレーリー散乱光の波長の２倍、３信
等の位置に現われ、励起光スペクトルの場合、設定しで
ある蛍光波長の１／２．１／３等の波長位置に現われる
ので、これらの波長位置のデータを除外することも容易
である。
（実施例）
図に本発明の一実施例装置を示し、同実施例における記
録スケール自動設定動作のフローヂャートを第２図およ
び第３図に示す。第１図で１は光源、２は励起光分光器
、３は試料、４は蛍光分光器、５は測光装置、６は測定
データを記憶させるメモリ、７は記録計で８は制御装置
である。
録スケール自動設定動作のフローヂャートを第２図およ
び第３図に示す。第１図で１は光源、２は励起光分光器
、３は試料、４は蛍光分光器、５は測光装置、６は測定
データを記憶させるメモリ、７は記録計で８は制御装置
である。
第２図は上述装置で蛍光スペクトルを測定する場合の動
作を示す。まず励起光分光器２を所定波長λ０に設定し
くイ）、蛍光分光器４を励起波長位置から長波長側に波
長側に波長走査して測光出力をメモリ６に取込むく口）
。この場合、蛍光分光器３には励起光λ０の試料による
レーリー散乱光が入射しており、蛍光スペクトルの起点
λ０の位置にピークを現わしていると共に、このλ０の
高次回折光が波長２λ０，３λ０等の位置にピークを作
っている。そこで次のくハ）のステップでメモリ６内の
データを波長λＯの所から順に読出し、光強度がλ０の
後で極小になる波長λ１を検出（二〉し、次に波長２λ
０の前後で光強度が極小になる波長λ２．λ３を検出し
くホ）、次に波長３λ０の前後で何様の検出動作を行い
（へ〉、以下同様の操作を蛍光測定波長の全域にわたっ
て行って、メモリ６内の全データから波長λＯからλ１
まで、λ２からλ３まで２等のλｏ、２＾０．３λ０の
波長をはさむ領域のデータを除外しくト）、残ったデー
タについて最大値を検索（ヂ）して、その最大値が記録
計７のフルスケールの例えば７０％になるように記録ス
ケールを設定（す）して、メモリ６の内容を記録計７に
送って記録（ヌ）させる。
作を示す。まず励起光分光器２を所定波長λ０に設定し
くイ）、蛍光分光器４を励起波長位置から長波長側に波
長側に波長走査して測光出力をメモリ６に取込むく口）
。この場合、蛍光分光器３には励起光λ０の試料による
レーリー散乱光が入射しており、蛍光スペクトルの起点
λ０の位置にピークを現わしていると共に、このλ０の
高次回折光が波長２λ０，３λ０等の位置にピークを作
っている。そこで次のくハ）のステップでメモリ６内の
データを波長λＯの所から順に読出し、光強度がλ０の
後で極小になる波長λ１を検出（二〉し、次に波長２λ
０の前後で光強度が極小になる波長λ２．λ３を検出し
くホ）、次に波長３λ０の前後で何様の検出動作を行い
（へ〉、以下同様の操作を蛍光測定波長の全域にわたっ
て行って、メモリ６内の全データから波長λＯからλ１
まで、λ２からλ３まで２等のλｏ、２＾０．３λ０の
波長をはさむ領域のデータを除外しくト）、残ったデー
タについて最大値を検索（ヂ）して、その最大値が記録
計７のフルスケールの例えば７０％になるように記録ス
ケールを設定（す）して、メモリ６の内容を記録計７に
送って記録（ヌ）させる。
第３図は励起光スペクトル測定の場合の動作を示す。蛍
光分光器４を所定波長λ０の位置に設定（イ）シ、励起
光分光器２を蛍光分光器の設定波長より短波長側に波長
操作して測光出力をメモリ６に取込む（ロ）。この場合
蛍光分光器には励起光のレーリー散乱光も入射しており
、その波長は蛍光分光器の設定波長より短波長であるが
、励起光がこの設定波長λ０の１／２．１／３等になっ
たとき、そのレーリー散乱光の蛍光分光器の高次回折光
がλ０の１次回折光の位置に出てきて励起光スペクトル
にピークを現わす。従って（ハ）のステップでは蛍光ス
ペクトル測定（ハ）〜（へ）のステップで行っているの
と同様の動作を励起光スペクトルデータのうち波長λ０
．λｏ／２．λｏ／３等の波長前後のデータについて行
って除外波長範囲を決め、〈二）のステップで残りのデ
ータから最大値を求め、記録計の記録スケールを決め（
ホ）、スペクトルデータの記録を行うくべ）。
光分光器４を所定波長λ０の位置に設定（イ）シ、励起
光分光器２を蛍光分光器の設定波長より短波長側に波長
操作して測光出力をメモリ６に取込む（ロ）。この場合
蛍光分光器には励起光のレーリー散乱光も入射しており
、その波長は蛍光分光器の設定波長より短波長であるが
、励起光がこの設定波長λ０の１／２．１／３等になっ
たとき、そのレーリー散乱光の蛍光分光器の高次回折光
がλ０の１次回折光の位置に出てきて励起光スペクトル
にピークを現わす。従って（ハ）のステップでは蛍光ス
ペクトル測定（ハ）〜（へ）のステップで行っているの
と同様の動作を励起光スペクトルデータのうち波長λ０
．λｏ／２．λｏ／３等の波長前後のデータについて行
って除外波長範囲を決め、〈二）のステップで残りのデ
ータから最大値を求め、記録計の記録スケールを決め（
ホ）、スペクトルデータの記録を行うくべ）。
蛍光スペクトル測定においては、試料のラマン散乱光が
蛍光より強い場合がある。上述第２図の動作では、この
ような場合、ラマン散乱線のピークに対して記録スケー
ルの設定がなされることになる。ラマン散乱光は励起光
に対して前後一定波長だけずれた所に現われる。従って
蛍光スペクトル上でラマン散乱ピークを識別するために
は、励起光波長を少し変えて蛍光スペクトルを測定し、
両方のスペクトルデータで、スペクトルの起点（励起光
波長位置）から同じたけ距たった位置に現われているピ
ークがあるおき、そのピークがラマン散乱線のビーク辷
判明する。従って第２図の動作で蛍光スペクトルの記録
を作成し５た場合、−番強いピークがラマン線と疑われ
るときは、励起光波長をずらせて同じことを行っＣみれ
ば、ラマン線か否か判明し、その場合はラマン線を除い
たスペクトルの最大値に対して記録スケールを判定すれ
ばよい、、このような操作も自動的に行うようにするた
めには、第２図の動作に加えて、励起光の波長を基準波
長λ０とそれより若干具るＡ′の二種設定して夫々の励
起光で蛍光スペクトルデータを採取すると云う動作と、
それら二つのスペクトルデータで励起光波長位置から同
じ波長差の位置にあるピークを検出し、基準励起光ス０
に対するスペクトルデータでそのピーク中心の両側の極
小測光出力に対応する波長位置を検出し、それらの波長
位置も加えて第２図の（ハ）〜（へ）のステップの動作
を行って除外波長範囲を決め、２（、ｄｋ。
蛍光より強い場合がある。上述第２図の動作では、この
ような場合、ラマン散乱線のピークに対して記録スケー
ルの設定がなされることになる。ラマン散乱光は励起光
に対して前後一定波長だけずれた所に現われる。従って
蛍光スペクトル上でラマン散乱ピークを識別するために
は、励起光波長を少し変えて蛍光スペクトルを測定し、
両方のスペクトルデータで、スペクトルの起点（励起光
波長位置）から同じたけ距たった位置に現われているピ
ークがあるおき、そのピークがラマン散乱線のビーク辷
判明する。従って第２図の動作で蛍光スペクトルの記録
を作成し５た場合、−番強いピークがラマン線と疑われ
るときは、励起光波長をずらせて同じことを行っＣみれ
ば、ラマン線か否か判明し、その場合はラマン線を除い
たスペクトルの最大値に対して記録スケールを判定すれ
ばよい、、このような操作も自動的に行うようにするた
めには、第２図の動作に加えて、励起光の波長を基準波
長λ０とそれより若干具るＡ′の二種設定して夫々の励
起光で蛍光スペクトルデータを採取すると云う動作と、
それら二つのスペクトルデータで励起光波長位置から同
じ波長差の位置にあるピークを検出し、基準励起光ス０
に対するスペクトルデータでそのピーク中心の両側の極
小測光出力に対応する波長位置を検出し、それらの波長
位置も加えて第２図の（ハ）〜（へ）のステップの動作
を行って除外波長範囲を決め、２（、ｄｋ。
励起波長による蛍光スペクトルデータの残、）だ波長位
置のデータから最大を検出して、記録スケールを設定し
、基準励起波長による蛍光スペク［・ルデータを記録計
に出りすればよい。
置のデータから最大を検出して、記録スケールを設定し
、基準励起波長による蛍光スペク［・ルデータを記録計
に出りすればよい。
（発明の効果）
本発明によれば測定］］的外の強い光によるスペクトル
ピークを自動的に除外し７て記録スケールの設定が行わ
れるので、微弱な蛍光測定の結果を記録計の略々全幅に
記録でき、弱い蛍光の強度の読取りが容易ｍ確にできろ
ようになる−
ピークを自動的に除外し７て記録スケールの設定が行わ
れるので、微弱な蛍光測定の結果を記録計の略々全幅に
記録でき、弱い蛍光の強度の読取りが容易ｍ確にできろ
ようになる−
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は同実
施例による蛍光スペクトル測定時の動作のフローチャー
ト、第３図は同じく励起光スペクトル測定時の動作のフ
ローチャー１・である。 １・・・光源、２・・・励起光分光器、３・・・試料、
４・・・蛍光分光器、５・・・側光装置、６・・・メモ
リ、７・・・記録計、８・・・制御装置。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第１ｗｉ
施例による蛍光スペクトル測定時の動作のフローチャー
ト、第３図は同じく励起光スペクトル測定時の動作のフ
ローチャー１・である。 １・・・光源、２・・・励起光分光器、３・・・試料、
４・・・蛍光分光器、５・・・側光装置、６・・・メモ
リ、７・・・記録計、８・・・制御装置。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第１ｗｉ
Claims (1)
- 蛍光スペクトル或は励起光スペクトルのデータから励
起光のレーリー散乱光の１次および高次回折光、励起光
のラマン散乱光のピーク位置のデータを除外し、残った
スペクトルデータから最大値を検出して、その最大値が
記録計の最大記録幅内に納まるように記録スケールを設
定するデータ処理手段を備えた蛍光測定装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2283116A JPH0718796B2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 蛍光測定装置 |
| US07/772,878 US5212538A (en) | 1990-10-19 | 1991-10-08 | Fluorescence measurement apparatus with an automatic recorder full-scale setting function |
| EP91309676A EP0481823B1 (en) | 1990-10-19 | 1991-10-18 | Fluorescence measurement apparatus |
| DE69108840T DE69108840T2 (de) | 1990-10-19 | 1991-10-18 | Fluoreszenzmessgerät. |
| CN91109838A CN1060907A (zh) | 1990-10-19 | 1991-10-23 | 荧光测定设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2283116A JPH0718796B2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 蛍光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04157350A true JPH04157350A (ja) | 1992-05-29 |
| JPH0718796B2 JPH0718796B2 (ja) | 1995-03-06 |
Family
ID=17661432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2283116A Expired - Lifetime JPH0718796B2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 蛍光測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5212538A (ja) |
| EP (1) | EP0481823B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0718796B2 (ja) |
| CN (1) | CN1060907A (ja) |
| DE (1) | DE69108840T2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009074866A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| WO2011027568A1 (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光蛍光光度計 |
| JP2013011617A (ja) * | 2012-09-13 | 2013-01-17 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| RU2650698C1 (ru) * | 2016-12-23 | 2018-04-17 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" | Устройство для вариативной одноцветной спектроскопии "накачка-зондирование" в терагерцовом диапазоне |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6078390A (en) * | 1998-05-04 | 2000-06-20 | General Scanning, Inc. | Scanning system and method of operation for automatically setting detection sensitivity |
| CA2565172C (en) | 2004-05-13 | 2012-03-06 | As Laser Diagnostic Instruments | A portable device and method for on-site detection and quantification of drugs |
| CN100437092C (zh) * | 2006-11-16 | 2008-11-26 | 天津大学 | 平行光激发与垂直光纤探测固体荧光的方法 |
| CN103134590A (zh) * | 2013-01-31 | 2013-06-05 | 南京邮电大学 | 一种实时动态测试磷光光谱的方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54158288A (en) * | 1978-06-05 | 1979-12-13 | Hitachi Ltd | Spectroscopic fluorescent photometer |
| JPS63243842A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-11 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
| JPH073366B2 (ja) * | 1988-02-24 | 1995-01-18 | 株式会社日立製作所 | 分光蛍光光度計 |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP2283116A patent/JPH0718796B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-10-08 US US07/772,878 patent/US5212538A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-10-18 DE DE69108840T patent/DE69108840T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-10-18 EP EP91309676A patent/EP0481823B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-10-23 CN CN91109838A patent/CN1060907A/zh active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009074866A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| WO2011027568A1 (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光蛍光光度計 |
| JP2011058818A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計 |
| JP2013011617A (ja) * | 2012-09-13 | 2013-01-17 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
| RU2650698C1 (ru) * | 2016-12-23 | 2018-04-17 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" | Устройство для вариативной одноцветной спектроскопии "накачка-зондирование" в терагерцовом диапазоне |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0718796B2 (ja) | 1995-03-06 |
| US5212538A (en) | 1993-05-18 |
| CN1060907A (zh) | 1992-05-06 |
| EP0481823A1 (en) | 1992-04-22 |
| DE69108840D1 (de) | 1995-05-18 |
| EP0481823B1 (en) | 1995-04-12 |
| DE69108840T2 (de) | 1995-09-07 |
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