JPH03221844A - 分光測定方法 - Google Patents
分光測定方法Info
- Publication number
- JPH03221844A JPH03221844A JP1746790A JP1746790A JPH03221844A JP H03221844 A JPH03221844 A JP H03221844A JP 1746790 A JP1746790 A JP 1746790A JP 1746790 A JP1746790 A JP 1746790A JP H03221844 A JPH03221844 A JP H03221844A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- peak
- difference
- spectra
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 title 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 3
- 239000013076 target substance Substances 0.000 claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 210000003323 beak Anatomy 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は分光光度計による分光測定方法に関する。
（従来の技術）
分光光度計で試料の経時的変化を追跡するような場合、
試料の吸光スペクトル上で特定の波長位置の吸光度変化
を監視すると云う方法が採られる。
試料の吸光スペクトル上で特定の波長位置の吸光度変化
を監視すると云う方法が採られる。
このように分光光度計で特定の波長位置の吸光度変化を
経時的に測定する場合、分光装置自身とか温度等の周囲
環境の変化により分光器の透過光の波長がずれる可能性
がある。このような波長ずれの影響は、測定波長を吸光
スペクトルの急傾斜部に設定しであるような場合、特に
大きく表われる。測光回路の経時的なドリフト等による
波長ずれを伴わないスペクトルのベースラインのドリフ
ト等は測定データを微分することにより除去で・きるが
、波長のずれの影響は微分法では除去できない。
経時的に測定する場合、分光装置自身とか温度等の周囲
環境の変化により分光器の透過光の波長がずれる可能性
がある。このような波長ずれの影響は、測定波長を吸光
スペクトルの急傾斜部に設定しであるような場合、特に
大きく表われる。測光回路の経時的なドリフト等による
波長ずれを伴わないスペクトルのベースラインのドリフ
ト等は測定データを微分することにより除去で・きるが
、波長のずれの影響は微分法では除去できない。
（発明が解決しようとする課題）
本発明は特定波長で経時的に分光的測定を行・う場合に
、装置或は環境の経時変化等による波長ずれを補正し得
る測定方法を提供しようとするしのである。
、装置或は環境の経時変化等による波長ずれを補正し得
る測定方法を提供しようとするしのである。
（課題を解決するための手段）
測定しようとする対象物質の分光スペクトルの一つのピ
ーク中心波長と測定しようとする波長との差△λを予め
求めておき、経時測定中、スペクトル上の上記ビークを
検出し、分光器のその波長位置から上記△λだけ移動し
た分光器位置の測定値をサンプリングするようにした。
ーク中心波長と測定しようとする波長との差△λを予め
求めておき、経時測定中、スペクトル上の上記ビークを
検出し、分光器のその波長位置から上記△λだけ移動し
た分光器位置の測定値をサンプリングするようにした。
く作用）
成る物質の分光的スペクトルのピーク中心波長ぞのもの
は変化しない。従って分光装置の方に波長ずれが生した
場合、見掛は上スペクトル全体が波長方向に横ずれした
ように見えるが、スペクトル上のビーク中心と測定点と
の間の波長差は不変である。本発明では一つのビークの
中心波長から△λだけ離れた位置の測定値をサンプリン
グしているので、分光装置の方に波長ずれが生しても、
測定対象のスペクトル上では常に一定の波長位置の測定
値をサンプリングしていることになる。
は変化しない。従って分光装置の方に波長ずれが生した
場合、見掛は上スペクトル全体が波長方向に横ずれした
ように見えるが、スペクトル上のビーク中心と測定点と
の間の波長差は不変である。本発明では一つのビークの
中心波長から△λだけ離れた位置の測定値をサンプリン
グしているので、分光装置の方に波長ずれが生しても、
測定対象のスペクトル上では常に一定の波長位置の測定
値をサンプリングしていることになる。
（実施例）
第１図は本発明方法を実行する装置の一例を示す。装置
は三光束型の分光光度計と制御装置とよりなっており、
Ｌは光源、Ｃは三光束試料室で、Ｓが試料セルであり、
試料溶液が流通しており、Ｒは対照セルである。Ｍは分
光器であり、Ｐは測光系である。ＣＰＵは制御装置て分
光器の波長駆動、測光系の出力のサンプリング、リーン
ブリングされた測定値に対するデータ処理、制定結果の
記録の制御等を行い、Ｄが記録装置である。
は三光束型の分光光度計と制御装置とよりなっており、
Ｌは光源、Ｃは三光束試料室で、Ｓが試料セルであり、
試料溶液が流通しており、Ｒは対照セルである。Ｍは分
光器であり、Ｐは測光系である。ＣＰＵは制御装置て分
光器の波長駆動、測光系の出力のサンプリング、リーン
ブリングされた測定値に対するデータ処理、制定結果の
記録の制御等を行い、Ｄが記録装置である。
第２図は上述装置の動作のフ１コーチ・１−− ｌ−で
ある。連続測定を行うに当っては予め測定しようとする
物質の吸光度スペクトルを測定しておく。第３図にその
スペクトルの一例を示す。このｆｌｌｌ＋ｌｌｌ表定、
測定中検出を行うビークＱと測定点Ｆを決め、ビークＱ
の中心波長λ０と測定点の波長λとの差△λを求め、Ｃ
ＰＵに波長走査範囲を設定し、差△λを記憶させておく
。波長走査範囲はλとλ０を含み、ビークＱを検出てき
るようにそれより若干広いλｌ、λ２に設定する。以上
の準備を終って連続測定をスタートさせる。ＣＰＵは一
定時間間隔てλ１．λ２間の波長走査を繰返し、波長走
査期間中の測光系出力を取込みデータ処理を行う。即ち
分光器をλ１からλ２まで駆動させ（イ）、その間に一
定波長間隔毎に測光系出力を取込みメモリに格納（ロ）
し、分光器駆動終了後、次回波長走査までにの時間計数
（ハ〉を行うと共に、他方分光器を波長λ１の位置に戻
しく二）、（ロ）のステップで取込んだ測光データによ
りビークＱの中心波長を検出〈ホ）し、検出された中心
波長より△λ離れた位置の測光データを上記記憶データ
から取出しくべ）、これを記録装置りに記録させ（ト）
、次回走査開始時刻到来を待ち（チ）、その時刻が到来
したら動作はくイ）の動作に戻る。
ある。連続測定を行うに当っては予め測定しようとする
物質の吸光度スペクトルを測定しておく。第３図にその
スペクトルの一例を示す。このｆｌｌｌ＋ｌｌｌ表定、
測定中検出を行うビークＱと測定点Ｆを決め、ビークＱ
の中心波長λ０と測定点の波長λとの差△λを求め、Ｃ
ＰＵに波長走査範囲を設定し、差△λを記憶させておく
。波長走査範囲はλとλ０を含み、ビークＱを検出てき
るようにそれより若干広いλｌ、λ２に設定する。以上
の準備を終って連続測定をスタートさせる。ＣＰＵは一
定時間間隔てλ１．λ２間の波長走査を繰返し、波長走
査期間中の測光系出力を取込みデータ処理を行う。即ち
分光器をλ１からλ２まで駆動させ（イ）、その間に一
定波長間隔毎に測光系出力を取込みメモリに格納（ロ）
し、分光器駆動終了後、次回波長走査までにの時間計数
（ハ〉を行うと共に、他方分光器を波長λ１の位置に戻
しく二）、（ロ）のステップで取込んだ測光データによ
りビークＱの中心波長を検出〈ホ）し、検出された中心
波長より△λ離れた位置の測光データを上記記憶データ
から取出しくべ）、これを記録装置りに記録させ（ト）
、次回走査開始時刻到来を待ち（チ）、その時刻が到来
したら動作はくイ）の動作に戻る。
第３図の点線のカーブは分光器の波長ずれの結果見掛は
上被長方向に移動した測定対象物質の吸光スペクトルで
、走査波長範囲の上下λ１．λ２は測定期間中の波長ず
れの最大を子側して、そのずれが充分納まる値に選定さ
れる。ＣＰＵは毎回の波長走査で第３図点線のような測
定データを取込み、そのデータからビークＱ゛の中心波
長λＯ゛を検出し、λ０゛より△λ離れた波長λ゛に対
する測定値を取出して、これを記録しているのである。
上被長方向に移動した測定対象物質の吸光スペクトルで
、走査波長範囲の上下λ１．λ２は測定期間中の波長ず
れの最大を子側して、そのずれが充分納まる値に選定さ
れる。ＣＰＵは毎回の波長走査で第３図点線のような測
定データを取込み、そのデータからビークＱ゛の中心波
長λＯ゛を検出し、λ０゛より△λ離れた波長λ゛に対
する測定値を取出して、これを記録しているのである。
第３図では測定対象物質の吸光度は時間的にｄＡｔ、か
変化していないのであるが、上述した動作を行わず、分
光器の指示波長で一定点λのデータだけを取っていると
、測定対象物質の吸光度が△Ａだけ変化したように測定
されてしまうことになる。
変化していないのであるが、上述した動作を行わず、分
光器の指示波長で一定点λのデータだけを取っていると
、測定対象物質の吸光度が△Ａだけ変化したように測定
されてしまうことになる。
（発明の効果）
本発明によれば、長期的な分光測定においても分光器の
波長ずれの影響を除去した測定が可能となり、安定した
信頼度の高い測定結果が得られる。
波長ずれの影響を除去した測定が可能となり、安定した
信頼度の高い測定結果が得られる。
第１図は本発明方法を実行する装置の一例のブロック図
、第２図は同実施例における動作のフローチャー１・、
第３図は吸光スペクトルのグラフである。 Ｌ・・・光源、Ｃ・・・三光束試料室、Ｓ・・・試料セ
ル、Ｒ・・・対照セル、Ｍ・・・分光器、Ｐ・・・測光
系、ＣＰＵ・・・制御装置。
、第２図は同実施例における動作のフローチャー１・、
第３図は吸光スペクトルのグラフである。 Ｌ・・・光源、Ｃ・・・三光束試料室、Ｓ・・・試料セ
ル、Ｒ・・・対照セル、Ｍ・・・分光器、Ｐ・・・測光
系、ＣＰＵ・・・制御装置。
Claims (1)
- 測定しようとする対象物質の分光的スペクトルの一つの
ピークの中心波長と測定しようとする波長との間の差△
λを予め求めておき、経時的測定中、スペクトル上の上
記ピークを検出し、分光器の上記ピーク中心波長位置か
ら上記△λだけ移動した分光器位置における測定出力を
サンプリングすることを特徴とする分光測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1746790A JPH0635947B2 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 分光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1746790A JPH0635947B2 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 分光測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03221844A true JPH03221844A (ja) | 1991-09-30 |
| JPH0635947B2 JPH0635947B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=11944824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1746790A Expired - Lifetime JPH0635947B2 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 分光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635947B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009008561A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Konica Minolta Sensing Inc | 分光特性測定装置、分光特性測定システム |
-
1990
- 1990-01-26 JP JP1746790A patent/JPH0635947B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009008561A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Konica Minolta Sensing Inc | 分光特性測定装置、分光特性測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0635947B2 (ja) | 1994-05-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4371785A (en) | Method and apparatus for detection and analysis of fluids | |
| US4225233A (en) | Rapid scan spectrophotometer | |
| JPH08304272A (ja) | 光学的測定方法および光学的測定装置 | |
| JPS58120154A (ja) | プラズマ分布モニタ方法 | |
| JP3098768B2 (ja) | 分光測光装置およびその測光方法 | |
| RU2083961C1 (ru) | Способ измерения температуры и коэффициента излучения поверхности | |
| JPH03221843A (ja) | 光による分析計 | |
| EP0176826A2 (en) | Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements | |
| JPS6140928B2 (ja) | ||
| JPH03221844A (ja) | 分光測定方法 | |
| JPH04157350A (ja) | 蛍光測定装置 | |
| JPS62172261A (ja) | 多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法 | |
| KR100205532B1 (ko) | 분체의 수분 측정장치 | |
| JPH08122246A (ja) | 分光分析装置 | |
| JP2661133B2 (ja) | クロマトグラフ検出装置 | |
| JP3203624B2 (ja) | レーザー蛍光検出装置 | |
| JPS6190024A (ja) | 放射温度計 | |
| JPS63259439A (ja) | 半導体レ−ザ評価装置 | |
| JPS6231879Y2 (ja) | ||
| Vickers et al. | On-line monitoring by Raman spectroscopy: instrument control and calibration | |
| JPS63243822A (ja) | アレイ型検出器のデ−タ処理方法 | |
| JPH0545224A (ja) | 偏光変調赤外分光装置 | |
| JPH02120662A (ja) | クロマトグラフィ用装置 | |
| JPS60239649A (ja) | デンシトメ−タにおける測光信号処理方法 | |
| JPS58111728A (ja) | 光学的測定装置 |