JPS62172261A - 多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法 - Google Patents
多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
免見立１１
（産業上の利用分野）
本発明は、多波長検出器を用いたクロマトグラフィーで
得られるクロマトグラムのピークスペクトルからバック
グランドシフトを除去する方法に関し、特に液体クロマ
トグラフの検出器として多波長検出器を用い且つグラジ
ェント溶出などのためベースが変動する場合に、ピーク
成分のスペクトルをより正しく求められ、成分の同定や
不分離ピークの演算による分離に有効な方法に関するも
のである。
得られるクロマトグラムのピークスペクトルからバック
グランドシフトを除去する方法に関し、特に液体クロマ
トグラフの検出器として多波長検出器を用い且つグラジ
ェント溶出などのためベースが変動する場合に、ピーク
成分のスペクトルをより正しく求められ、成分の同定や
不分離ピークの演算による分離に有効な方法に関するも
のである。
（従来の技術）
液体クロマトグラフィーによる分離分析は多方面の分野
で使われており、その検出器としての可視紫外分光光度
計、蛍光分光光度計等から得られる吸光度、蛍光強度等
の時間変化、すなわちスペクトルからなるクロマトグラ
ムに基いて求めたピーク面積、ピークの出力時間（リテ
ンションタイム）により定性ｅ定量分析が行われている
。
で使われており、その検出器としての可視紫外分光光度
計、蛍光分光光度計等から得られる吸光度、蛍光強度等
の時間変化、すなわちスペクトルからなるクロマトグラ
ムに基いて求めたピーク面積、ピークの出力時間（リテ
ンションタイム）により定性ｅ定量分析が行われている
。
こうした液体クロマトグラフの検出器として従来、単波
長の検出器が多く用いられているが、これでは吸光度ま
たは蛍光強度などの情報の一波長における時間的変化、
すなわち２次元情報のクロマトグラムから分析を行って
いるため、ピークの同定や未知成分の検出などは困難で
あった。これに対し、多波長検出器を用いれば各検出波
長について単位時間毎のスペクトルが測定できるため、
上記の問題を含めクロマトグラムの詳細な検討ができ、
最近大いに利用されるようになってきた。
長の検出器が多く用いられているが、これでは吸光度ま
たは蛍光強度などの情報の一波長における時間的変化、
すなわち２次元情報のクロマトグラムから分析を行って
いるため、ピークの同定や未知成分の検出などは困難で
あった。これに対し、多波長検出器を用いれば各検出波
長について単位時間毎のスペクトルが測定できるため、
上記の問題を含めクロマトグラムの詳細な検討ができ、
最近大いに利用されるようになってきた。
例えば、本出願人は先に、多波長検出器を使って３次元
の情報を得、不分離ピークを演算によって分離する方法
を提案した（特開間第６０−２４４４７号）。
の情報を得、不分離ピークを演算によって分離する方法
を提案した（特開間第６０−２４４４７号）。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、溶媒として数種類の混合成分を用いるグラジェ
ント溶出等の場合には、溶媒によるベーススペクトルが
時間とともにシフトしてしまうので、ピークの同定等を
行うときにはそのバックグランドシフトを除去しピーク
成分のスペクトルを正しく求める必要がある。
ント溶出等の場合には、溶媒によるベーススペクトルが
時間とともにシフトしてしまうので、ピークの同定等を
行うときにはそのバックグランドシフトを除去しピーク
成分のスペクトルを正しく求める必要がある。
そのため、一般的にはピーク時のスペクトルからベース
スペクトルを差し引いて成分の正しいスペクトルが求め
られている。しかしながらこうした従来の方法によると
、第１図のようにベースが変化しない場合には、クロマ
トグラム１上のピークＢの位置でもベーススペクトルは
ピーク以外のＡの位置のスペクトルと同じと仮定できる
が、第２図のようにベースが変動する場合には、ピーク
Ｂの位置でのスペクトルはその両側のＡ位置でのベース
スペクトルともＣ位置でのベーススペクトルとも異るた
め、ピークＢのスペクトルからＡまたはＣのベーススペ
クトルを差し引いても、ピーク成分の正しいスペクトル
を推定することはできなかった。
スペクトルを差し引いて成分の正しいスペクトルが求め
られている。しかしながらこうした従来の方法によると
、第１図のようにベースが変化しない場合には、クロマ
トグラム１上のピークＢの位置でもベーススペクトルは
ピーク以外のＡの位置のスペクトルと同じと仮定できる
が、第２図のようにベースが変動する場合には、ピーク
Ｂの位置でのスペクトルはその両側のＡ位置でのベース
スペクトルともＣ位置でのベーススペクトルとも異るた
め、ピークＢのスペクトルからＡまたはＣのベーススペ
クトルを差し引いても、ピーク成分の正しいスペクトル
を推定することはできなかった。
捉って本発明の目的は、グラジェント溶出等によりベー
ススペクトルが変動する場合において、データを２次元
的に処理しピークに対応したベーススペクトルを正確に
求めバックグランドシフトを除去することによって、よ
り正しいスペクトルを得ることにある。
ススペクトルが変動する場合において、データを２次元
的に処理しピークに対応したベーススペクトルを正確に
求めバックグランドシフトを除去することによって、よ
り正しいスペクトルを得ることにある。
魚几夏唱１
（問題点を解決する手段）
上記の目的を達成するため、本発明によるバックグラン
ドシフトの除去法は、多波長検出器を用いてクロマトグ
ラムを測定しピークのスペクトルを求めて定性・定量分
析を行う方法において、ピークの近くにおける２ケ所の
ベーススペクトルから、ベーススペクトルがリニアに変
化するものと仮定してピーク時に対応するベーススペク
トルを推定し、ピーク時のスペクトルからこの推定した
ベーススペクトルを差し引いてピーク成分の正しいスペ
クトルを求めることを特徴とする。
ドシフトの除去法は、多波長検出器を用いてクロマトグ
ラムを測定しピークのスペクトルを求めて定性・定量分
析を行う方法において、ピークの近くにおける２ケ所の
ベーススペクトルから、ベーススペクトルがリニアに変
化するものと仮定してピーク時に対応するベーススペク
トルを推定し、ピーク時のスペクトルからこの推定した
ベーススペクトルを差し引いてピーク成分の正しいスペ
クトルを求めることを特徴とする。
上記の除去法において、ピーク時に対応するベーススペ
クトルは、次式： ％式％） 但しＢ（λ、ｔｌ）は波長λ、時間ｔｉでのピーク時の
ベーススペクトル強度、ｆ（λ、ｔ２）は波長入の時間
ｔ２でのベーススペクトル強度、ｒ（λ、ｔ３） ｌｆ
波長λの時間ｔ３でのスペクトル強度、ｔ ２＜ｔ １
＜ｔ ３でｔ２とｔ３は目的成分の吸収等を含まない時
間 を用いた演算によって推定するのが好ましい。
クトルは、次式： ％式％） 但しＢ（λ、ｔｌ）は波長λ、時間ｔｉでのピーク時の
ベーススペクトル強度、ｆ（λ、ｔ２）は波長入の時間
ｔ２でのベーススペクトル強度、ｒ（λ、ｔ３） ｌｆ
波長λの時間ｔ３でのスペクトル強度、ｔ ２＜ｔ １
＜ｔ ３でｔ２とｔ３は目的成分の吸収等を含まない時
間 を用いた演算によって推定するのが好ましい。
さらに、多波長検出器による３次元的な情報の処理を可
能とするため、ピーク時に対応するベーススペクトルを
推定し、ピーク時のスペクトルからこの推定したベース
スペクトルを差し引いてピーク成分の正しいスペクトル
を求める上記の過程は、多波長検出器の各検出波長毎に
行う。
能とするため、ピーク時に対応するベーススペクトルを
推定し、ピーク時のスペクトルからこの推定したベース
スペクトルを差し引いてピーク成分の正しいスペクトル
を求める上記の過程は、多波長検出器の各検出波長毎に
行う。
（作用）
すなわち本発明による除去法の原理を第３図で説明すれ
ば、従来のようにクロマトグラムｌ上のＡまたはＣいず
れか１点におけるベーススペクトルだけに基くのでなく
、ＡとＣの２点すなわちピークＢに近いが目的成分の吸
収等を含まないその両側の２点を指定し、ＡからＣまで
ベーススペクトルがリニアに変動すると仮定して、ビー
クＢの位置のベーススペクトルを演算により求め、ピー
クＢの測定スペクトルから演算で得たベーススペクトル
を差し引くことによって、ピーク成分の正しいスペクト
ルを求めるものである。
ば、従来のようにクロマトグラムｌ上のＡまたはＣいず
れか１点におけるベーススペクトルだけに基くのでなく
、ＡとＣの２点すなわちピークＢに近いが目的成分の吸
収等を含まないその両側の２点を指定し、ＡからＣまで
ベーススペクトルがリニアに変動すると仮定して、ビー
クＢの位置のベーススペクトルを演算により求め、ピー
クＢの測定スペクトルから演算で得たベーススペクトル
を差し引くことによって、ピーク成分の正しいスペクト
ルを求めるものである。
（実施例）
以下１本発明の好ましい実施例をさらに詳しく説１する
。
。
まず第４図を参照して、ピーク時に対応したベーススペ
クトルを推定する好ましい演算処理例を説明すれば、多
波長検出器でクロマトグラムを測定した場合、得られる
データは波−長と時間の関数ｆ（λ、１）となる。ここ
で、λは波長、ｔは時間であり第４図中Ｘ、Ｙ軸でそれ
ぞれ表わしてあり、又Ｚ軸がｆ（λ、１）を表わし、２
つの波長λ１．入２におけるクロマトグラムは１１．１
２で示しである。
クトルを推定する好ましい演算処理例を説明すれば、多
波長検出器でクロマトグラムを測定した場合、得られる
データは波−長と時間の関数ｆ（λ、１）となる。ここ
で、λは波長、ｔは時間であり第４図中Ｘ、Ｙ軸でそれ
ぞれ表わしてあり、又Ｚ軸がｆ（λ、１）を表わし、２
つの波長λ１．入２におけるクロマトグラムは１１．１
２で示しである。
ある波長入でのクロマトグラムのベースが第４図のよう
に変動する場合、時間Ｅ１における成分の吸収強度は、
測定スペクトル強度ｆ（λ、１）からその時点でのベー
ススペクトル、つまりバックグランドの吸収強度Ｂ（λ
、ｔｌ）を差し引いて得られる。しかし、Ｂ（λ、ｔｌ
）は直接求めることができないので、クロマトグラム上
でビークＢの前後近くに位置するが目的成分の吸収等を
含まない時間ｔ２．ｔ３におけるベーススペクトルの強
度に基き演算処理によって求める。
に変動する場合、時間Ｅ１における成分の吸収強度は、
測定スペクトル強度ｆ（λ、１）からその時点でのベー
ススペクトル、つまりバックグランドの吸収強度Ｂ（λ
、ｔｌ）を差し引いて得られる。しかし、Ｂ（λ、ｔｌ
）は直接求めることができないので、クロマトグラム上
でビークＢの前後近くに位置するが目的成分の吸収等を
含まない時間ｔ２．ｔ３におけるベーススペクトルの強
度に基き演算処理によって求める。
すなわち、バックグランドの吸収はＡから０間において
リニアに変動するものと仮定して、次式から時間ｔｌに
おけるバックグランドの吸収強度を求める： Ｂ（λ、ｔｌ） ＝ （１／１３−ｔ２）ｘ（（ｔ
ｌ−ｔ２）ｉｆ（λ、ｔ３）−（ｔｌ−ｔ３）ｉｆ（λ
、ｔ２）） 促しＢ（λ、ｔｌ）は波長λ、時間ｔ１でのピーク時の
ベーススペクトル強度、１λ、ｔ２）は波長入ノ時１１
Ｊｉｔ２でのベーススペクトル強度、ｆ（λ、ｔ３）は
波長入の時間ｔ３でのスペクトル強度、ｔ ２＜ｔ １
＜ｔ ３でｔ２とｔ３は目的成分の吸収等を含まない時
間 この強度を測定スペクトル値ｆ（λ、ｔｌ）から差し引
けば、波長λ、時間ｔ１におけるピーク成分の正しいス
ペクトル強度が得られる。
リニアに変動するものと仮定して、次式から時間ｔｌに
おけるバックグランドの吸収強度を求める： Ｂ（λ、ｔｌ） ＝ （１／１３−ｔ２）ｘ（（ｔ
ｌ−ｔ２）ｉｆ（λ、ｔ３）−（ｔｌ−ｔ３）ｉｆ（λ
、ｔ２）） 促しＢ（λ、ｔｌ）は波長λ、時間ｔ１でのピーク時の
ベーススペクトル強度、１λ、ｔ２）は波長入ノ時１１
Ｊｉｔ２でのベーススペクトル強度、ｆ（λ、ｔ３）は
波長入の時間ｔ３でのスペクトル強度、ｔ ２＜ｔ １
＜ｔ ３でｔ２とｔ３は目的成分の吸収等を含まない時
間 この強度を測定スペクトル値ｆ（λ、ｔｌ）から差し引
けば、波長λ、時間ｔ１におけるピーク成分の正しいス
ペクトル強度が得られる。
本発明では、上記の操作が多波長検出器の各波長に対し
て行われ、それぞれの波長におけるピーク成分のスペク
トルより正しく求められる。
て行われ、それぞれの波長におけるピーク成分のスペク
トルより正しく求められる。
次に、本発明のバックグランドシフト除去法を実施した
液体クロマトグラフの構成を第５図について説明する。
液体クロマトグラフの構成を第５図について説明する。
同図において、溶媒２０がポンプ２１インジエクタ２２
を通ってカラム２３に送られる。インジェクタ２２から
注入された試料はカラム２３で分離され、可視紫外分光
光度計等の多波長検出器２４に入り、そのスペクトルが
測定される。多波長検出器２４は、周知の分光光学系、
フローセルおよび多波長光感知器等で構成されるため、
ここではこれ以上詳しく説明しない。尚、図中２５はド
レンである。多波長検出器２４で得られたデータは、Ｇ
Ｐ−ＩＢのインターフェイス２６を介して、コンピュー
タなどからなる演算処理装置２７に入力される。演算処
理装置２７は。
を通ってカラム２３に送られる。インジェクタ２２から
注入された試料はカラム２３で分離され、可視紫外分光
光度計等の多波長検出器２４に入り、そのスペクトルが
測定される。多波長検出器２４は、周知の分光光学系、
フローセルおよび多波長光感知器等で構成されるため、
ここではこれ以上詳しく説明しない。尚、図中２５はド
レンである。多波長検出器２４で得られたデータは、Ｇ
Ｐ−ＩＢのインターフェイス２６を介して、コンピュー
タなどからなる演算処理装置２７に入力される。演算処
理装置２７は。
リアルタイムでデータを画面に表示しながらフロッピー
ディスクなどの記録媒体に記録する。
ディスクなどの記録媒体に記録する。
測定終了後、記録媒体からデータを読み出してデータ解
析を行うが、データ解析の一項目としてスペクトルによ
る解析を行う際に、上記したような演算処理を処理装置
２７内で実行し、各波長におけるピーク時のバックグラ
ンドシフトを除去して、 ピーク成分のスペクトルを正
しく求める。
析を行うが、データ解析の一項目としてスペクトルによ
る解析を行う際に、上記したような演算処理を処理装置
２７内で実行し、各波長におけるピーク時のバックグラ
ンドシフトを除去して、 ピーク成分のスペクトルを正
しく求める。
尚、上記の実施例では多波長検出器として可視紫外分光
光度計を用い試料の吸光スペクトルを測定する場合につ
いて説明したが、その他蛍光分光光度計を用いて蛍光ス
ペクトルを測定する場合等にも勿論本発明を適用可能で
ある。
光度計を用い試料の吸光スペクトルを測定する場合につ
いて説明したが、その他蛍光分光光度計を用いて蛍光ス
ペクトルを測定する場合等にも勿論本発明を適用可能で
ある。
（発明の効果）
以上述べたように、本発明によれば、多波長検出器を用
いてクロマトグラムを得る液体クロマトグラフィーで、
グラジェント溶出等のためベースが変動する場合におい
て、ピーク時におけるバックグランドシフトを正確に除
去してより正しくピーク成分のスペクトルが得られるた
め、３次元情報を用いた不分離ピークの演算による分離
とそれに甚くピーク面積の計算等を従来法より高い精度
で行え、ピークの同定や未知成分の検出等をより的確か
つ迅速に可能とする。
いてクロマトグラムを得る液体クロマトグラフィーで、
グラジェント溶出等のためベースが変動する場合におい
て、ピーク時におけるバックグランドシフトを正確に除
去してより正しくピーク成分のスペクトルが得られるた
め、３次元情報を用いた不分離ピークの演算による分離
とそれに甚くピーク面積の計算等を従来法より高い精度
で行え、ピークの同定や未知成分の検出等をより的確か
つ迅速に可能とする。
第１．２図は従来法によるバックグランドシフトの除去
法を説明するための図、第３図は本発明によるバックグ
ランドシフトの除去法の原理を説明するための図、第４
図は本発明の除去法で用いる演算処理を説明するための
図、第５図は本発明の除去法を液体クロマトグラフに適
用した場合の構成図である。 （符号の説明） １．１１．１２・・・クロマトグラム、２４・―・多波
長検出器、 ２７・・ψ演算処理装置、 Ｂ＠−・
ピーク、 Ａ、Ｃ・・・ピークに近いスペクトラム上
の２点。
法を説明するための図、第３図は本発明によるバックグ
ランドシフトの除去法の原理を説明するための図、第４
図は本発明の除去法で用いる演算処理を説明するための
図、第５図は本発明の除去法を液体クロマトグラフに適
用した場合の構成図である。 （符号の説明） １．１１．１２・・・クロマトグラム、２４・―・多波
長検出器、 ２７・・ψ演算処理装置、 Ｂ＠−・
ピーク、 Ａ、Ｃ・・・ピークに近いスペクトラム上
の２点。
Claims (3)
- （１）多波長検出器を用いてクロマトグラムを測定しピ
ークのスペクトルを求めて定性・定量分析を行う方法に
おいて、ピークの近くにおける２ケ所のベーススペクト
ルから、ベーススペクトルがリニアに変化するものと仮
定してピーク時に対応するベーススペクトルを推定し、
ピーク時のスペクトルからこの推定したベーススペクト
ルを差し引いてピーク成分の正しいスペクトルを求める
ことを特徴とするピークスペクトルからのバックグラン
ドシフトの除去法。 - （２）ピーク時に対応するベーススペクトルを、次式： Ｂ（λ ，ｔ１）＝（１／ｔ３−ｔ２）ｘ｛（ｔ１−ｔ
２）ｘｆ（λ，ｔ３）−（ｔ１−ｔ３）ｘｆ（λ，ｔ２
）｝ 但しＢ（λ，ｔ１）は波長λ、時間ｔ１でのピーク時の
ベーススペクトル強度、ｆ（λ，ｔ２）は波長λの時間
ｔ２でのベーススペクトル強度、 ｆ（λ，ｔ３）は波長λの時間ｔ３でのスペクトル強度
、ｔ２＜ｔ１＜ｔ３でｔ２とｔ３ は目的成分の吸収等を含まない時間 を用いた演算によって推定することを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載のピークスペクトルからのバックグ
ランドシフトの除去法。 - （３）ピーク時に対応するベーススペクトルを推定し、
ピーク時のスペクトルからこの推定したベーススペクト
ルを差し引いてピーク成分の正しいスペクトルを求める
上記の過程を、多波長検出器の各検出波長毎に行うこと
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のピークスペク
トルからのバックグランドシフトの除去法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1440286A JPS62172261A (ja) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | 多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1440286A JPS62172261A (ja) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | 多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62172261A true JPS62172261A (ja) | 1987-07-29 |
Family
ID=11860050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1440286A Pending JPS62172261A (ja) | 1986-01-25 | 1986-01-25 | 多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62172261A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01178852A (ja) * | 1988-01-09 | 1989-07-17 | Seiko Instr & Electron Ltd | 原子吸光分光光度計のデータ補正処理方法 |
| EP0521358A2 (en) * | 1991-06-30 | 1993-01-07 | Shimadzu Corporation | Absorbance analyzer and data processing method for chromatograph |
| WO2007141862A1 (ja) * | 2006-06-08 | 2007-12-13 | Shimadzu Corporation | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
| JP2008199801A (ja) * | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd | ファンシステム |
| JP2014149261A (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Jasco Corp | 試料の構成物質の分布画像データを作成する方法 |
| CN114184600A (zh) * | 2021-12-30 | 2022-03-15 | 江苏海洋大学 | 一种基于拉曼光谱背景扣除的水中溶质定量方法 |
-
1986
- 1986-01-25 JP JP1440286A patent/JPS62172261A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH01178852A (ja) * | 1988-01-09 | 1989-07-17 | Seiko Instr & Electron Ltd | 原子吸光分光光度計のデータ補正処理方法 |
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| JP4614002B2 (ja) * | 2006-06-08 | 2011-01-19 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
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