JP2936700B2 - クロマトグラムピークの成分純度測定装置 - Google Patents
クロマトグラムピークの成分純度測定装置Info
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- JP2936700B2 JP2936700B2 JP31242090A JP31242090A JP2936700B2 JP 2936700 B2 JP2936700 B2 JP 2936700B2 JP 31242090 A JP31242090 A JP 31242090A JP 31242090 A JP31242090 A JP 31242090A JP 2936700 B2 JP2936700 B2 JP 2936700B2
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- Japan
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- peak
- chromatogram
- component purity
- spectrum
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は液体クロマトグラフィーやフローインジェク
ション分析において、測定されたピークの成分純度を測
定する装置に関するものである。
ション分析において、測定されたピークの成分純度を測
定する装置に関するものである。
（従来の技術） 液体クロマトグラフィーやフローインジェクション分
析では時間の経過に従ってクロマトグラムが得られる
が、得られたピークが仮りに単一形状のピークであって
も、そのピークに含まれる成分は単一であるとは限ら
ず、２以上の成分が分離されないで含まれている場合も
ある。
析では時間の経過に従ってクロマトグラムが得られる
が、得られたピークが仮りに単一形状のピークであって
も、そのピークに含まれる成分は単一であるとは限ら
ず、２以上の成分が分離されないで含まれている場合も
ある。
得られたクロマトグラムピークが単一成分のみである
か否かを測定する方法として、光学検出器を異なる２つ
の波長でクロマトグラムを測定し、その２つのクロマト
グラムの比をとることによりピークの成分純度を測定す
る比クロマトグラム法が用いられている。ピークを検出
したとき、そのピークが単一の成分からなるものである
ときは、そのピークのどの場所でも波長特性は変わらな
いので、２波長によるクロマトグラムの比はピークのど
の場所でも一定した値になる。それに対し、もしそのピ
ークが２以上の成分を含んでいるときは、ピークの場所
によって成分の割合が異なるので、ピークの場所によっ
てスペクトルの波長特性が異なり、クロマトグラムの比
はピークの場所によって変化する。
か否かを測定する方法として、光学検出器を異なる２つ
の波長でクロマトグラムを測定し、その２つのクロマト
グラムの比をとることによりピークの成分純度を測定す
る比クロマトグラム法が用いられている。ピークを検出
したとき、そのピークが単一の成分からなるものである
ときは、そのピークのどの場所でも波長特性は変わらな
いので、２波長によるクロマトグラムの比はピークのど
の場所でも一定した値になる。それに対し、もしそのピ
ークが２以上の成分を含んでいるときは、ピークの場所
によって成分の割合が異なるので、ピークの場所によっ
てスペクトルの波長特性が異なり、クロマトグラムの比
はピークの場所によって変化する。
（発明が解決しようとする課題） 比クロマトグラム法で成分純度を測定すると、そのピ
ークが単一成分であるか２以上の成分を含んでいるかを
判断することはできる。しかし、ピークの開始点から終
了点までの範囲において、ある範囲が単一成分である可
能性がどのくらい高いかを判断することは困難であり、
そのため例えば分取を行なう場合など、分取の範囲を決
めるのに比クロマトグラム法を用いることは難しい。
ークが単一成分であるか２以上の成分を含んでいるかを
判断することはできる。しかし、ピークの開始点から終
了点までの範囲において、ある範囲が単一成分である可
能性がどのくらい高いかを判断することは困難であり、
そのため例えば分取を行なう場合など、分取の範囲を決
めるのに比クロマトグラム法を用いることは難しい。
本発明はクロマトグラムピークの開始点から終了点ま
での範囲に渡って成分純度を表示することができ、例え
ば分取を行なう場合にはその分取に適する範囲を容易に
知ることができるような成分純度測定装置を提供するこ
とを目的とするものである。
での範囲に渡って成分純度を表示することができ、例え
ば分取を行なう場合にはその分取に適する範囲を容易に
知ることができるような成分純度測定装置を提供するこ
とを目的とするものである。
（課題を解決するための手段） 第１図に本発明のブロック図を示す。
２はクロマトグラムの多波長検出器の検出信号を記憶
するデータ記憶部、４はデータ記憶部２に記憶されてい
るデータから特定の波長についてクロマトグラムを作成
するクロマトグラム作成部、６は作成されたクロマトグ
ラムのピークを検出するピーク検出部、８はクロマトグ
ラムピークについてピーク頂点のスペクトルとそのピー
クの他の位置でのスペクトルとの一致度を算出してピー
クの各位置での成分純度を算出する成分純度算出部、10
は算出された成分純度を表示する表示部である。
するデータ記憶部、４はデータ記憶部２に記憶されてい
るデータから特定の波長についてクロマトグラムを作成
するクロマトグラム作成部、６は作成されたクロマトグ
ラムのピークを検出するピーク検出部、８はクロマトグ
ラムピークについてピーク頂点のスペクトルとそのピー
クの他の位置でのスペクトルとの一致度を算出してピー
クの各位置での成分純度を算出する成分純度算出部、10
は算出された成分純度を表示する表示部である。
（作用） 液体クロマトグラフィーやフローインジェクション分
析で各時刻ごとにスペクトルを測定して得たデータから
ある波長についてクロマトグラムを作成すると、その１
つのピークが例えば第２図（Ａ）に示されるように得ら
れる。そのピークの頂点T0の時点のスペクトルを同図
（Ｂ）のS0（λ）とする。一方、そのピークの別の任意
の位置Ｔの時点のスペクトルをＳ（λ）とする。ピーク
頂点T0でのスペクトルを基にしてそのピークの任意の位
置の成分純度は、スペクトルS0（λ）とＳ（λ）の一致
の度合いを算出することにより求めることができる。そ
の成分純度を表わす一致度の式は例えば次のように表現
される。
析で各時刻ごとにスペクトルを測定して得たデータから
ある波長についてクロマトグラムを作成すると、その１
つのピークが例えば第２図（Ａ）に示されるように得ら
れる。そのピークの頂点T0の時点のスペクトルを同図
（Ｂ）のS0（λ）とする。一方、そのピークの別の任意
の位置Ｔの時点のスペクトルをＳ（λ）とする。ピーク
頂点T0でのスペクトルを基にしてそのピークの任意の位
置の成分純度は、スペクトルS0（λ）とＳ（λ）の一致
の度合いを算出することにより求めることができる。そ
の成分純度を表わす一致度の式は例えば次のように表現
される。
表示は例えば一致度を範囲別に色分けしてディスプレ
ー装置上に表示したり、数値としてディスプレー装置や
プリンターに表示することができる。
ー装置上に表示したり、数値としてディスプレー装置や
プリンターに表示することができる。
（実施例） 第３図は本発明が適用される液体クロマトグラフの一
例を表わしている。
例を表わしている。
12はカラムであり、溶離液14が送液ポンプ16によりカ
ラム12に送られる。溶離液ポンプ16とカラム12の間には
試料注入部18が設けられており、注入された試料は溶離
液とともにカラム12に送られ、カラム12で分離されて検
出器20で検出される。検出器20を経た溶出液はドレイン
へ排出される。
ラム12に送られる。溶離液ポンプ16とカラム12の間には
試料注入部18が設けられており、注入された試料は溶離
液とともにカラム12に送られ、カラム12で分離されて検
出器20で検出される。検出器20を経た溶出液はドレイン
へ排出される。
検出器20はクロマトグラムを測定できるとともに、各
時点においてスペクトルを測定することのできる光学検
出器であり、例えば紫外・可視分光光度計である。検出
器20の検出信号はデータ処理装置22へ送られて処理され
る。
時点においてスペクトルを測定することのできる光学検
出器であり、例えば紫外・可視分光光度計である。検出
器20の検出信号はデータ処理装置22へ送られて処理され
る。
第１図の各部はデータ処理装置22により実現される。
一実施例の動作を第４図と第５図を参照して説明す
る。
る。
検出器20からのデータを取り込みデータ記憶部に記憶
していく。このデータはカラム12で分離された成分の時
々刻々のスペクトルを表わす三次元データである。記憶
されたデータから特定の波長が選ばれ、その波長につい
ての吸光度の時間変化からクロマトグラムが作成され
る。クロマトグラムは表示部のCRTなどに表示される。
していく。このデータはカラム12で分離された成分の時
々刻々のスペクトルを表わす三次元データである。記憶
されたデータから特定の波長が選ばれ、その波長につい
ての吸光度の時間変化からクロマトグラムが作成され
る。クロマトグラムは表示部のCRTなどに表示される。
作成されたクロマトグラムからピークが検出され、成
分純度を求めようとするピークの開始点T1、頂点T0及び
終了点T2が求められる。
分純度を求めようとするピークの開始点T1、頂点T0及び
終了点T2が求められる。
T0のスペクトルを基準して（１）式の演算式に基づい
てT1〜T2の反域の各時点での成分純度が算出される。そ
の算出結果は予め設定されている純度レベルに従って分
類され、例えばその範囲に従って色分けがなされる。そ
の色分けは、例えば成分純度により、 0〜0.5 ……赤 0.5〜0.7 ……橙 0.7〜0.8 ……黄 0.8〜1.0 ……緑 というように行なう。
てT1〜T2の反域の各時点での成分純度が算出される。そ
の算出結果は予め設定されている純度レベルに従って分
類され、例えばその範囲に従って色分けがなされる。そ
の色分けは、例えば成分純度により、 0〜0.5 ……赤 0.5〜0.7 ……橙 0.7〜0.8 ……黄 0.8〜1.0 ……緑 というように行なう。
この操作が１つのピークについて開始点T1から終了点
T2まで行なわれて、その結果がCRTなどの表示部に例え
ば第５図に示されるように色分けして表示される。
T2まで行なわれて、その結果がCRTなどの表示部に例え
ば第５図に示されるように色分けして表示される。
成分純度を求めようとする全てのピークについて上記
の動作が繰り返される。
の動作が繰り返される。
成分純度は第５図のように色分けして表示すると見や
すいが、必ずしも色分けしなければならないものではな
く、成分純度の値を時間についてプロットするようにす
るなど、他の表示方法を採ってもよい。
すいが、必ずしも色分けしなければならないものではな
く、成分純度の値を時間についてプロットするようにす
るなど、他の表示方法を採ってもよい。
（発明の効果） 本発明ではクロマトグラムピークの頂点のスペクトル
を基準にして他の位置でのスペクトルの一致度からクロ
マトグラムピークの各点での成分純度を測定するように
したので、測定されたピークが単一成分のものであるの
か２以上の成分を含んでいるのか、さらにどの範囲が単
一成分であるのかということを容易に判断することがで
きるようになる。その結果、例えば分取を行なう場合に
はその成分純度の測定結果を基にして分取範囲を設定す
ることができるようになる。
を基準にして他の位置でのスペクトルの一致度からクロ
マトグラムピークの各点での成分純度を測定するように
したので、測定されたピークが単一成分のものであるの
か２以上の成分を含んでいるのか、さらにどの範囲が単
一成分であるのかということを容易に判断することがで
きるようになる。その結果、例えば分取を行なう場合に
はその成分純度の測定結果を基にして分取範囲を設定す
ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明を示すブロック図、第２図（Ａ）クロマ
トグラムピークを示す図、（Ｂ）は頂点と他の点のスペ
クトルの一例を示す図、第３図は本発明が適用される液
体クロマトグラムの一例を示す流路図、第４図は実施例
の動作を示すフローチャート図、第５図は測定された成
分純度を色分けして表示する例を示す図である。 ２……データ記憶部、４……クロマトグラム作成部、６
……ピーク検出部、８……純度算出部、10……表示部、
20……検出器、22……データ処理装置。
トグラムピークを示す図、（Ｂ）は頂点と他の点のスペ
クトルの一例を示す図、第３図は本発明が適用される液
体クロマトグラムの一例を示す流路図、第４図は実施例
の動作を示すフローチャート図、第５図は測定された成
分純度を色分けして表示する例を示す図である。 ２……データ記憶部、４……クロマトグラム作成部、６
……ピーク検出部、８……純度算出部、10……表示部、
20……検出器、22……データ処理装置。
Claims (1)
- 【請求項１】クロマトグラフの多波長検出器の検出信号
を記憶するデータ記憶部と、データ記憶部に記憶されて
いるデータから特定の波長についてクロマトグラムを作
成するクロマトグラム作成部と、作成されたクロマトグ
ラムのピークを検出するピーク検出部と、クロマトグラ
ムピークについてピーク頂点のスペクトルとそのピーク
の他の位置でのスペクトルとの一致度を算出してピーク
の各位置での成分純度を算出する成分純度算出部と、算
出された成分純度に基づいてクロマトグラムピーク内を
区分し、成分純度区分ごとに異なる表示をする表示部と
を備えたクロマトグラムピークの成分純度測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31242090A JP2936700B2 (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | クロマトグラムピークの成分純度測定装置 |
| EP91119468A EP0486030B1 (en) | 1990-11-16 | 1991-11-14 | Fraction purity measuring apparatus for chromatogram peak |
| DE69124199T DE69124199T2 (de) | 1990-11-16 | 1991-11-14 | Fraktionsreinheitsmessvorrichtung für Chromatogrammpeak |
| US07/792,404 US6002986A (en) | 1990-11-16 | 1991-11-15 | Fraction purity measuring apparatus for chromatogram peak |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31242090A JP2936700B2 (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | クロマトグラムピークの成分純度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04184166A JPH04184166A (ja) | 1992-07-01 |
| JP2936700B2 true JP2936700B2 (ja) | 1999-08-23 |
Family
ID=18029014
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31242090A Expired - Fee Related JP2936700B2 (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | クロマトグラムピークの成分純度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2936700B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013171014A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 |
| US10386346B2 (en) | 2011-09-05 | 2019-08-20 | Shimadzu Corporation | System and method for processing chromatogram data |
| US10481138B2 (en) | 2013-03-04 | 2019-11-19 | Shimadzu Corporation | Chromatogram data processing device and processing method |
| US10802005B2 (en) | 2013-09-02 | 2020-10-13 | Shimadzu Corporation | Chromatogram data processing system |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4586288B2 (ja) * | 2001-03-28 | 2010-11-24 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| WO2015056311A1 (ja) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラムデータ処理装置 |
-
1990
- 1990-11-16 JP JP31242090A patent/JP2936700B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10386346B2 (en) | 2011-09-05 | 2019-08-20 | Shimadzu Corporation | System and method for processing chromatogram data |
| JP2013171014A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 |
| US10481138B2 (en) | 2013-03-04 | 2019-11-19 | Shimadzu Corporation | Chromatogram data processing device and processing method |
| US10802005B2 (en) | 2013-09-02 | 2020-10-13 | Shimadzu Corporation | Chromatogram data processing system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04184166A (ja) | 1992-07-01 |
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Legal Events
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