JP3314630B2 - クロマトグラフ装置,及びクロマトグラフ分析方法 - Google Patents
クロマトグラフ装置,及びクロマトグラフ分析方法Info
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Description
マトグラフ装置,吸光度検出方法、及びクロマトグラフ
分析方法に関する。
て吸光度検出器が多く用いられている。この吸光度検出
器は、試料が特定波長の光を吸収する現象を利用したも
のであり、特定波長(以下サンプル測定波長と称す)に
おける吸収された光量を検出することにより、試料特性
を検出するものである。すなわち、入射した光量と通過
した光量を比較することにより試料量等を検出するもの
である。このような技術は、例えば、特開平3−226632
号公報に記載されている。
る光量が試料に入射される光量と一致しないことが知ら
れている。この理由は、光が試料を通過するとき、及
び、光が光学系の各要素を通過するときに、屈折率等の
変化の影響を受けるからである。そのために、試料に吸
収されにくい波長の光(以下参照波長と称す)を用い、
この波長の検出値と検出波長の検出値を比較して吸収度
を検出するようにしている。
光量が安定しないと、吸光度が正確に測定できないとい
う問題が発見された。一般に、光源強度は安定するのに
時間がかかる。また、安定後も細かな変動は避け得られ
ない。例えば、液体クロマトグラフ装置では数分間から
長いときには数時間にわたり連続測定するのであり、光
源の光量のふらつきによる影響は大きい。
も、検出精度が維持可能なクロマトグラフ装置、及びク
ロクトグラフ検出方法を提供することにある。
前に、まず、発明者の意図を説明する。発明者は光源の
光量が変化すると放射スペクトルが変化し、これが検出
精度に影響を与えることを見い出した。すなわち、光源
温度が変化し、波長間の強度変動率が異なってくるので
ある。もう少し詳細に説明すると、光源の光量が変化し
たときに、サンプル測定波長の強度変化は参照波長の強
度変化と必ずしも一致しない。この波長間の光強度変動
率の差によって、いわゆるベースラインドリフトが発生
し、吸光度が正確に検出できなくなるのである。
検出値と、当該試料測定波長と異なる波長である参照波
長の光強度検出値から、参照波長の光強度検出値から前
記試料測定波長のフローセルへの入射光強度を推定し、
前記試料測定波長の光強度と推定した入射光強度から、
試料測定波長の吸光度を算出することを特徴とするもの
である。
光量変動により、測定波長と参照波長との間の強度変動
率が異なったとしても、適切な補正が可能となり、正確
に吸光度の検出ができる。
する。図2はクロマトグラフ装置(アミノ酸分析計)の
全体構成図である。緩衝液1〜4又はカラム再生液5の
いずれか1つが電磁弁シリーズ6によって選択される。
選択された緩衝液1〜4(又は再生液5)は緩衝液ポン
プ7で加圧され、さらに、アンモニアフィルタカラム8
を介してオートサンプラ9に供給される。オートサンプ
ラ8によりアミノ酸試料が混合されると、この混合液は
分離カラム10で分離される。一方、ニンヒドリン試薬
11とニンヒドリン用緩衝液17が混合し、ニンヒドリ
ンポンプ12によって加圧され、ミキサ13に供給され
る。ここで、分離された試料とニンヒドリン試薬11が
混合され、反応コイル14で反応が促進され、発色す
る。発色したアミノ酸は光度計15内のフローセル18
に供給される。そこでは、光源19の光が発色したアミ
ノ酸を通過し、通過した光がデータ処理装置16により
検出及び処理され、クロマトグラムとして出力(表示)
されると共に、記録,保存される。
明する。光源19より射出された白色光がフローセル1
8に入射する。入射した白色光はフローセル18内に流
れる発色したアミノ酸により波長570nm付近の光が
吸収を受け、減光する。吸収を受け減光した白色光はグ
レーティング20により波長ごとの光に分光され、検知
素子21,22によりサンプル測定波長(サンプル吸収
の影響を受ける波長。本例では570nm)の光強度I
t(570nm)と参照波長(サンプル吸収の影響を受け
ない波長。本例では700nm)の光強度Ii(700n
m)を検出する。サンプル測定波長及び参照波長の検出
信号をコンピュータ23へ送り、吸光度を出力する。な
お、サンプル波長570nmを440nmに代えても同
様に吸光度が求められる。
t (700nm)に基づいて、次のように吸光度A(5
70nm)を求める。このことを、図1を用いて説明す
る。It(700nm)からIi (570nm)へ任意
の関数により変換し、吸光度を求める。つまり Ii(570nm)=f{It(700nm)} …式1 という変換を実施し、 A(570nm)=−log10[{It(570nm)/f{It(700nm)}] …式2 を用いて計算する。
が選択できる。
に、吸光度検出の基本概念を説明する。すなわち、ま
ず、単波長(サンプル測定波長)による吸光度検出を説
明する。
(570nm)は以下の式6である。 A(570nm)=−log10{It(570nm)/Ii(570nm)} …式6 ここでIt(570nm)は透過光強度、Ii(570n
m)は入射光強度である。本来It(570nm)とIi
(570nm)は同じ波長を用いる。
ル測定波長570nm及び参照波長700nm)による
吸光度検出を説明する。
に示されるように、波長570nmでは試料による吸収
がなされるが、一方、波長700nmでは試料による吸
収がほとんどない。すなわち、700nmはほとんど試
料により吸収されない波長であり、屈折率の影響のみ5
70nmとほぼ同様に受けている。また、スリットやマ
スクなどでカットされる光の像の大きさ及びレンズやグ
レーティングなどを透過してきた光の経路は570nm
と700nmはほぼ同一である。このため、単純に70
0nmの透過光が570nmの入射光と比例すると仮定
できる。
0nm)から変換して求めた理由を説明する。本来It
(570nm)とIi(570nm)は同じ波長の強度
を用いるべきである。しかし実際は、検出器フローセル
内では、吸光度変化だけではなく屈折率の変化も起こる
場合があり、また、真にフローセルに入射する光の強度
を、フローセルに入射する以前に測定することは困難で
ある。この2つの理由から、フローセル透過光の波長と
異なる参照光の強度(本例では700nm)を入射光強
度に代用する。
長に対して変化するものである。具体的に、波長570
nm及び波長700nmについて検出した例を図6に示
す。すなわち、光源強度変動による参照波長の強度変動
率と測定波長の強度変動率が比例関係でなく、そのため
光源光強度が変動した場合、フローセル内のサンプル吸
収が変化しなくても光源変動に対する波長間の変動率の
差により、吸光度が変り、ベースラインドリフトを引き
起こす。
による参照波長の強度変動と測定波長の強度変動の関係
を得て、最小2乗法を用いて式3,式4又は式5に示す
係数を演算するのである。
下の〜により演算することができる。
黒体放射のプランク公式を用いて、温度を変化パラメー
タとして求めるのが基本的である。
めるほうが、黒体放射モデルからの修正ができ、実際の
光学系を反映している。例えばよう素等のハロゲンラン
プを用いる場合は、実測値を用いることが望ましい。実
測方法は、フローセルに空気か水か満たし液体を静止さ
せ、屈折率の変化をなくする。次に光源への印加電圧を
変化させ、光源温度を変化させる。
ようにそれぞれ縦軸横軸にプロットする。この散布図
(図6)から1次式,2次式または高次式へ回帰し、変
換関数を得る。具体的には、コンピュータ23内の各プ
ロットを記憶し、コンピュータ23内のCPUで演算処
理することによって式3〜5の各係数を求める。
ローセル内の空気または水を静止させているため屈折率
の変化は起こっていない。式3,4,5を屈折率の影響
を考慮した方法として利用することができる。この場合
は光源の印加電圧は一定のまま(つまりランプ温度一
定)、アミノ酸分析計のポンプ7及びポンプ12を運転
し、溶離液と反応液をフローセル内に流す。この状態は
サンプルを注入していないため、ベースラインを測定し
ていることに対応する。ここでIt(570nm)とI
t(700nm)の関係のプロットを測定すると、液の吸
光度および屈折率の変化を反映したプロットになってい
る。実際はIt(700nm)の関係のプロットを測定す
ると、液の吸光度および屈折率の変化を反映したプロッ
トになっている。実際はIt(570nm)の吸光度変化
はIt(700nm)変化には反映されず、主に屈折率の
変化が散布図のフィッティングカーブとして描かれる。
このフィッティングカーブを関数f(x)として利用で
きる。
ンヒドリン成分を除去しニンヒドリン用緩衝液17だけ
を流し吸光度変化をなくし屈折率変化だけを測定するこ
とも可能である。
ータ処理装置16のコンピュータ画面24に従っての動
作を説明する。ユーザは本装置の搭載機能を用いて、画
面24に従い、ノイズ・ドリフトサプレス機能を動作す
ることができる。まず、シュミレーションのタイプを選
択しOKする。これに従ってコンピュータ23が次の
〜のように動作する。
液1のみを送り、満たす。次に光源19の印加電圧を1
1Vから13Vまで自動的に1分間で変化させる。その
時の参照波長強度とサンプル波長強解の散布図(図6)
を作成し、2次式(式4)に回帰して回帰係数を求め
る。ここで動作を終了する。
図1のように吸光度を出力する。
点通過する1次式(比例式)に変更することができる。
ンプ12によりニンヒドリン試用緩衝液17を流す。こ
の時の流量は、最新の設定された分析条件の値を用い
る。変更する場合はいったん分析条件を変更してから本
機能を動作させる。以下光源電圧変動と同様に散布図を
作成し、回帰係数を求め動作を終了する。 吸光度変動を選択した場合 光源電圧を一定に保ち、ポンプ7により緩衝液1を、ポ
ンプ12によりニンヒドリン試薬11およびニンヒドリ
ン用緩衝液17を流す。この時の流量は、最新の設定さ
れた分析条件の値を用いる。変更する場合はいったん分
析条件を変更してから本機能を動作させる。以下光源電
圧変動と同様に散布図を作成し、回帰係数を求め動作を
終了する。また、屈折率変動を実際の分析条件により近
づけるためには、ニンヒドリン試薬11の代わりに吸収
のない水か緩衝液を流すこともできる。
る。
動を抑えられ、長時間安定した測定が行える。
化するまでの数時間、ウォームアップを要していたもの
が、大幅に短縮でき、光源点灯から短時間で分析が開始
できる。
光強度の違いによる測定値の変動を抑えることができ
る。
源の光量変化が生じても吸光度の検出精度が維持可能と
なる。
m)の相関を示す図である。
る。
…第4緩衝液、5…カラム再生液、6…電磁弁シリー
ズ、7…緩衝液ポンプ、8…アンモニアフィルタカラ
ム、9…オートサンプラ、10…分離カラム、11…ニ
ンヒドリン試薬、12…ニンヒドリンポンプ、13…ミ
キサ、14…反応コイル、15…光度計、16…データ
処理装置、17…ニンヒドリン用緩衝液、18…フロー
セル、19…光源、20…グレーティング、21…参照
波長強度検知素子、22…サンプル測定波長強度検知素
子、23…コンピュータ。
Claims (7)
- 【請求項1】試料を移動相と混合する試料混合部と、当
該試料混合部から溶出した混合液を分離する分離カラム
と、複数の波長を含んだ光を発する光源と、前記分離カ
ラムからの液が通過し且つ前記光源からの光が照射され
るフローセルと、当該フローセルを通過した光を検出す
る検出器と、当該検出器の出力信号を得てデータ処理を
行うデータ処理部とを備えたクロマトグラフ装置であっ
て、 前記データ処理部は、前記検出器より、試料測定波長の
光強度検出値と、当該測定波長と異なる波長である参照
波長の光強度検出値を得て、参照波長の光強度検出値か
ら前記試料測定波長のフローセルへの入射光強度を推定
し、前記試料測定波長の光強度と推定した入射光強度か
ら、試料測定波長の吸光度を算出する ことを特徴とする
クロマトグラフ装置。 - 【請求項2】請求項1において、前記入射光強度の推定は、参照波長の光強度検出値を任
意の関数を用いて変換することで行うこと を特徴とする
クロマトグラフ装置。 - 【請求項3】 請求項2において、 前記推定によって得られる入射光強度は、黒体放射のプ
ランク公式に基づいて求められることを特徴とするクロ
マトグラフ装置。 - 【請求項4】請求項2において、前記データ処理部に、前記フローセルに水あるいは空気
を満たして静止させた状態で、前記光源への印加電圧を
変化させ、この際の試料測定波長及び参照波長の光強度
の変化をデータベースとして備え、 前記関数に用いる係数を前記データベースを利用して求
めること を特徴とするクロマトグラフ装置。 - 【請求項5】請求項2において、前記データ処理部に、前記光源への印加電圧を一定にし
た状態で、前記フローセルに移動相を流し、この際の試
料測定波長及び参照波長の光強度の変化をデータベース
として備え、 前記関数に用いる係数を前記データベースを利用して求
めること を特徴とするクロマトグラフ装置。 - 【請求項6】請求項2において、 前記データ処理部は、前記関数に用いる係数を求めるた
めの処理を複数表示する表示画面を備えた ことを特徴と
するクロマトグラフ装置。 - 【請求項7】試料を移動相と混合する試料混合部と、当
該試料混合部から溶出した混合液を分離する分離カラム
と、複数の波長を含んだ光を発する光源と、前記分離カ
ラムからの液が通過し且つ前記光源からの光が照射され
るフローセルと、当該フローセルを通過した光を検出す
る検出器と、当該検出器の出力信号を得てデータ処理を
行うデータ処理部とを用いて行うクロマトグラフ分析方
法であって、 前記フローセルを通過した光から、試料測定波長の光強
度と、当該試料測定波長と異なる波長である参照波長の
光強度を検出し、参照波長の光強度検出値から前記試料
測定波長のフローセルへの入射光強度を推定し、前記試
料測定波長の光強度と推定した入射光強度から、試料測
定波長の吸光度を算出することを特徴とするクロマトグ
ラフ分析方法。
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