JPS63243822A - アレイ型検出器のデ−タ処理方法 - Google Patents
アレイ型検出器のデ−タ処理方法Info
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- JPS63243822A JPS63243822A JP8038987A JP8038987A JPS63243822A JP S63243822 A JPS63243822 A JP S63243822A JP 8038987 A JP8038987 A JP 8038987A JP 8038987 A JP8038987 A JP 8038987A JP S63243822 A JPS63243822 A JP S63243822A
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- Japan
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- spectrum
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は液体クロマトグラフの検出器として用いられる
フォトダイオードアレイ分光光度計などのアレイ型検出
器のデータ処理方法に関するものである。
フォトダイオードアレイ分光光度計などのアレイ型検出
器のデータ処理方法に関するものである。
（従来の技術）
第１図に液体クロマトグラフの検出器として用いられる
フォトダイオードアレイ分光光度計を示す。
フォトダイオードアレイ分光光度計を示す。
２は光源、４はフローセル、６は分光器、８は分光器６
の出口位置に設けられたフォトダイオードアレイである
。フォトダイオードアレイ８では各波長に対応した位置
にフォトダイオード素子が設けられており、各フォトダ
イオード素子から各波長に対応した光量が信号として検
出される。
の出口位置に設けられたフォトダイオードアレイである
。フォトダイオードアレイ８では各波長に対応した位置
にフォトダイオード素子が設けられており、各フォトダ
イオード素子から各波長に対応した光量が信号として検
出される。
１０は検出された各波長の信号をデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器、１２はデジタル信号に変換された各波
長の出力からスペクトルを求めたり、所定のデータ処理
を行なうＣＰＵである。
るＡ／Ｄ変換器、１２はデジタル信号に変換された各波
長の出力からスペクトルを求めたり、所定のデータ処理
を行なうＣＰＵである。
（発明が解決しようとする問題点）
アレイ型検出器では紫外域から可視域に及ぶ広い範囲の
測定を行なう場合があるが、紫外域から可視域に渡って
一度に走査を行なうと、フォトダイオードアレイ８に回
折格子６での二次光が入力し、満足な直線性が得られな
くなる。そのため、二次光を何らかの形で補正する必要
がある。
測定を行なう場合があるが、紫外域から可視域に渡って
一度に走査を行なうと、フォトダイオードアレイ８に回
折格子６での二次光が入力し、満足な直線性が得られな
くなる。そのため、二次光を何らかの形で補正する必要
がある。
本発明は回折格子での二次光の影響を補正して紫外域か
ら可視域にわたる測定を単一の光源で一度に行なえるよ
うにするデータ処理方法を提供することを目的とするも
のである。
ら可視域にわたる測定を単一の光源で一度に行なえるよ
うにするデータ処理方法を提供することを目的とするも
のである。
（問題点を解決するための手段）
本発明では、分光器出口位置に設けられたアレイ型検出
器の検出スペクトルを、光源と分光器の間に単調な透過
率をもつフィルタを入れた場合と入れない場合とで測定
し、二次光の影響のある波長領域での真のスペクトルを
Ｉｏ（λ）、二次光の影響のある見かけのスペクトル測
定値を工（λ）とすると、 Ｉｏ（λ）＝Ｉ（λ）−Ｋ（λ／２） Ｉ （λ／２）
とし。
器の検出スペクトルを、光源と分光器の間に単調な透過
率をもつフィルタを入れた場合と入れない場合とで測定
し、二次光の影響のある波長領域での真のスペクトルを
Ｉｏ（λ）、二次光の影響のある見かけのスペクトル測
定値を工（λ）とすると、 Ｉｏ（λ）＝Ｉ（λ）−Ｋ（λ／２） Ｉ （λ／２）
とし。
Ｋ（λ／２）＝
（Ｉ（λ）Ｔ（λ）−Ｉ’（λ））／（１（λ／２）
（Ｔ（λ）−丁（λ／２）） ）としてＩｏ（λ）を算
出する。
（Ｔ（λ）−丁（λ／２）） ）としてＩｏ（λ）を算
出する。
ただし、λは波長、Ｔ（λ）はフィルタの透過率、■（
λ）はフィルタを入れない場合の測定スペクトル）とし
てＩｏ（λ）を算出するアレイ型検出器の測定スペクト
ルである。
λ）はフィルタを入れない場合の測定スペクトル）とし
てＩｏ（λ）を算出するアレイ型検出器の測定スペクト
ルである。
（実施例）
本発明を液体クロマトグラフ用フォトダイオードアレイ
分光光度計検出器に適用した場合を例として説明する。
分光光度計検出器に適用した場合を例として説明する。
第１図に示される光学系において、光源２と分光器６の
間、より具体的には光源２とフローセル４の間に単調な
透過率をもつフィルタ１４を着脱可能に設ける。
間、より具体的には光源２とフローセル４の間に単調な
透過率をもつフィルタ１４を着脱可能に設ける。
通常の分光系の場合、１３０ｎｍ以下では光量はＯとみ
なせるため、二次光は３６０ ｎｍを越えた波長で問題
となる。
なせるため、二次光は３６０ ｎｍを越えた波長で問題
となる。
まず、このフォトダイオードアレイ検出器でフィルタ１
４を設けないで光源スペクトルを測定する。
４を設けないで光源スペクトルを測定する。
この場合の出力は二次光を含んだ見かけのスペクトルで
ある。この見かけのスペクトルを１（λ）とし、二次光
の影響のない真のスペクトルをＩｏ（λ）とする。二次
光の割合をＫ（λ）とする。ただしλは波長である。こ
のとき、 λ≦３６０ｎｍでは 工（λ）＝Ｉｏ（λ） ・ （１
）λ＞ ３６０ ｎ ｍでは ■（λ）＝Ｉｏ（λ）十Ｋ（λ／２）Ｉｏ（λ／２）
・（２）である。ただし、Ｉｏ（λ／２）＝Ｉ（λ／
２）とすることができる。
ある。この見かけのスペクトルを１（λ）とし、二次光
の影響のない真のスペクトルをＩｏ（λ）とする。二次
光の割合をＫ（λ）とする。ただしλは波長である。こ
のとき、 λ≦３６０ｎｍでは 工（λ）＝Ｉｏ（λ） ・ （１
）λ＞ ３６０ ｎ ｍでは ■（λ）＝Ｉｏ（λ）十Ｋ（λ／２）Ｉｏ（λ／２）
・（２）である。ただし、Ｉｏ（λ／２）＝Ｉ（λ／
２）とすることができる。
これらの式において、第２図に示されるＩ（λ）は測定
値であるので、Ｋ（λ／２）（λ＞３６０ｎｍ）を求め
ると第３図に示される未知の真のスペクトルＩｏ（λ）
を算出することができる。
値であるので、Ｋ（λ／２）（λ＞３６０ｎｍ）を求め
ると第３図に示される未知の真のスペクトルＩｏ（λ）
を算出することができる。
この検出器の光路にフィルタ１４を入れた場合の光源ス
ペクトルを１’（λ）（第５図参照）とする。フィルタ
１４の透過率Ｔ（λ）は第４図に示されるように単調に
変化している。透過率Ｔ（λ）は予め測定しておく。
ペクトルを１’（λ）（第５図参照）とする。フィルタ
１４の透過率Ｔ（λ）は第４図に示されるように単調に
変化している。透過率Ｔ（λ）は予め測定しておく。
λ≦３６０ｎｍでは
Ｉ’（λ）＝Ｔ（λ）Ｉｏ（λ） ・・・（
３）λ＞ ３６０ ｎ ｍでは Ｉ’（λ）＝Ｔ（λ）Ｉｏ（λ）＋Ｔ（λ／２）Ｋ （
λ／２）Ｉｏ（λ／２）・・・（４）（４）式を変形す
ると、 Ｉ’（λ）／Ｔ（λ）＝Ｉｏ（λ）十Ｔ（λ／２）Ｋ
（λ／２）Ｉｏ（λ／２）／Ｔ（λ）・・・・・・（４
′） （１）、（２）、（４’）式より λ＞ ３６０ ｎ ｍにおいて、 Ｋ（λ／２）＝ （１（λ）Ｔ（λ）−Ｉ’（λ））／（Ｉ（λ／２）
（Ｔ（λ）−丁（λ／２）） ）・・・・・・（５） フォトダイオードアレイ検出器では、各波長に対応した
光量が信号として出力され、それがＡ／Ｄ変換器１０で
変換された後、コンピュータ（ＣＰＵ）１２で演算され
るようになっている。試料測定前に常に光源スペクトル
からＫ（λ／２）を求め、フローセル４に試料を流して
測定を行なったとき測定スペクトルエ（λ）の代りにＩ
ｏ（λ）を用いて演算するようにすれば、二次光の影響
が補正され、直線性が損なわれることがなくなる。
３）λ＞ ３６０ ｎ ｍでは Ｉ’（λ）＝Ｔ（λ）Ｉｏ（λ）＋Ｔ（λ／２）Ｋ （
λ／２）Ｉｏ（λ／２）・・・（４）（４）式を変形す
ると、 Ｉ’（λ）／Ｔ（λ）＝Ｉｏ（λ）十Ｔ（λ／２）Ｋ
（λ／２）Ｉｏ（λ／２）／Ｔ（λ）・・・・・・（４
′） （１）、（２）、（４’）式より λ＞ ３６０ ｎ ｍにおいて、 Ｋ（λ／２）＝ （１（λ）Ｔ（λ）−Ｉ’（λ））／（Ｉ（λ／２）
（Ｔ（λ）−丁（λ／２）） ）・・・・・・（５） フォトダイオードアレイ検出器では、各波長に対応した
光量が信号として出力され、それがＡ／Ｄ変換器１０で
変換された後、コンピュータ（ＣＰＵ）１２で演算され
るようになっている。試料測定前に常に光源スペクトル
からＫ（λ／２）を求め、フローセル４に試料を流して
測定を行なったとき測定スペクトルエ（λ）の代りにＩ
ｏ（λ）を用いて演算するようにすれば、二次光の影響
が補正され、直線性が損なわれることがなくなる。
単調に透過率が変化するフィルタ１４を用いるので、（
５）式の右辺の分母は０となることがなく、したがって
、常にＫ（λ／２）を求めることができる。
５）式の右辺の分母は０となることがなく、したがって
、常にＫ（λ／２）を求めることができる。
（発明の効果）
本発明ではアレイ型検出器の光路の光源と分光器の間に
単調な透過率をもつフィルタを着脱可能に挿入し、フィ
ルタを入れた場合と入れない場合とでスペクトルを測定
し、計算によって二次光の影響を補正するようにしたの
で、紫外域から可視域にわたる測定を単一の光源ランプ
を用いて行なうことができる。
単調な透過率をもつフィルタを着脱可能に挿入し、フィ
ルタを入れた場合と入れない場合とでスペクトルを測定
し、計算によって二次光の影響を補正するようにしたの
で、紫外域から可視域にわたる測定を単一の光源ランプ
を用いて行なうことができる。
第１図は本発明が適用されるフォトダイオードアレイ分
光光度計検出器を示す概略図、第２図はフィルタを入れ
ない場合の見かけの光源スペクトルを示す図、第３図は
二次光を除去した真の光源スペクトルを示す図、第４図
はフィルタの透過スペクトルを示す図、第５図はフィル
タを挿入した場合の光源スペクトルを示す図である。 ２・・・・・・光源、 ４・・・・・・フローセル、 ６・・・・・・回折格子、 ８・・・・・・フォトダイオードアレイ、ＩＯ・・・・
・・Ａ／Ｄ変換器。 １２・・・・・・ＣＰＵ、 １４・・・・・・フィルタ。
光光度計検出器を示す概略図、第２図はフィルタを入れ
ない場合の見かけの光源スペクトルを示す図、第３図は
二次光を除去した真の光源スペクトルを示す図、第４図
はフィルタの透過スペクトルを示す図、第５図はフィル
タを挿入した場合の光源スペクトルを示す図である。 ２・・・・・・光源、 ４・・・・・・フローセル、 ６・・・・・・回折格子、 ８・・・・・・フォトダイオードアレイ、ＩＯ・・・・
・・Ａ／Ｄ変換器。 １２・・・・・・ＣＰＵ、 １４・・・・・・フィルタ。
Claims (1)
- （１）分光器出口位置に設けられたアレイ型検出器の検
出スペクトルを、光源と分光器の間に単調な透過率をも
つフィルタを入れた場合と入れない場合とで測定し、二
次光の影響のある波長領域での真のスペクトルをＩｏ（
λ）、二次光の影響のある見かけのスペクトル測定値を
Ｉ（λ）とすると、Ｉｏ（λ）＝Ｉ（λ）−Ｋ（λ／２
）Ｉ（λ／２）とし、 Ｋ（λ／２）＝ ｛Ｉ（λ）Ｔ（λ）−Ｉ′（λ）｝／｛Ｉ（λ／２）（
Ｔ（λ）−Ｔ（λ／２））｝（ただし、λは波長、Ｔ（
λ）はフィルタの透過率、Ｉ（λ）はフィルタを入れな
い場合の測定スペクトル、Ｉ′（λ）はフィルタを入れ
た場合の測定スペクトル） としてＩｏ（λ）を算出するアレイ型検出器のデータ処
理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8038987A JPS63243822A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | アレイ型検出器のデ−タ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8038987A JPS63243822A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | アレイ型検出器のデ−タ処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63243822A true JPS63243822A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13716931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8038987A Pending JPS63243822A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | アレイ型検出器のデ−タ処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63243822A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018009851A (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | ソーラーフロンティア株式会社 | バンドギャップ測定方法、バンドギャップ測定装置 |
| JP2018031712A (ja) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計における検出信号値の補正方法及び検出信号値の補正機能を備えた分光光度計 |
| US11002604B2 (en) | 2019-02-04 | 2021-05-11 | Shimadzu Corporation | Correction method of detection signal value in spectrophotometer and spectrophotometer having correction function of detection signal value |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP8038987A patent/JPS63243822A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018009851A (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | ソーラーフロンティア株式会社 | バンドギャップ測定方法、バンドギャップ測定装置 |
| JP2018031712A (ja) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計における検出信号値の補正方法及び検出信号値の補正機能を備えた分光光度計 |
| US11002604B2 (en) | 2019-02-04 | 2021-05-11 | Shimadzu Corporation | Correction method of detection signal value in spectrophotometer and spectrophotometer having correction function of detection signal value |
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