JPS6053823A - 分光光度計の合成スペクトル表示装置 - Google Patents
分光光度計の合成スペクトル表示装置Info
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- JPS6053823A JPS6053823A JP16278783A JP16278783A JPS6053823A JP S6053823 A JPS6053823 A JP S6053823A JP 16278783 A JP16278783 A JP 16278783A JP 16278783 A JP16278783 A JP 16278783A JP S6053823 A JPS6053823 A JP S6053823A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、スペクトル記録の可能な分光光度計に係り、
特に２成分の混合試料を夫々の成分に別けて２種のスペ
クトルとして表示する表示装置に関する。
特に２成分の混合試料を夫々の成分に別けて２種のスペ
クトルとして表示する表示装置に関する。
従来から未知濃度試料の成分が２種の混合であることか
解っており、かつ、夫々の成分のスペクトルが予め解っ
ている場合には、未知濃度試料の混合比をめるに異る２
波長の測光値を用いれば良いことが知られている。
解っており、かつ、夫々の成分のスペクトルが予め解っ
ている場合には、未知濃度試料の混合比をめるに異る２
波長の測光値を用いれば良いことが知られている。
一方、この方式でまった混合比の夫々の成分のスペクト
ル（混合前の単独のスペクトル）の合成が実際の混合後
のスペクトルになるかどうか知る必要に迫られることが
ある。例えば混合後化学反応を起こした場合や、２種の
試料が相互干渉を起こしてスペクトルを変形させる場合
には、２波長測定による混合比判定は使用できない。そ
こで従来は計算で得られた濃度の試料を２種類用意し夫
々の波長について吸光度をめ、加算ののちグラフにプロ
ットする手法を用いていた。この手法では測定に手間が
かかり、また、測定値の読取り誤差などによる精度の低
下にもつながる。
ル（混合前の単独のスペクトル）の合成が実際の混合後
のスペクトルになるかどうか知る必要に迫られることが
ある。例えば混合後化学反応を起こした場合や、２種の
試料が相互干渉を起こしてスペクトルを変形させる場合
には、２波長測定による混合比判定は使用できない。そ
こで従来は計算で得られた濃度の試料を２種類用意し夫
々の波長について吸光度をめ、加算ののちグラフにプロ
ットする手法を用いていた。この手法では測定に手間が
かかり、また、測定値の読取り誤差などによる精度の低
下にもつながる。
本発明の目的は、混合成分比が不明な試料を異る２波長
において測定し、夫々の単成分のスペクトルに分けて表
示し、混合成分がどのようなスベクトルの合成でできて
いるのかを直接表示することのできる分光光度剖の合成
スペクトル表示装置を提供することにある。
において測定し、夫々の単成分のスペクトルに分けて表
示し、混合成分がどのようなスベクトルの合成でできて
いるのかを直接表示することのできる分光光度剖の合成
スペクトル表示装置を提供することにある。
本発明は、ａ度の判明している単成分試料のスペクトル
を２種類記憶部に記憶しておき、２種の混合比率が未知
である混合試料を異る２波長について測光し、混合比を
め請求まった混合比を記憶スペクトルに捌けてその結果
を表示部に表示することにより、混合成分がどのような
スペクトルの合成でできているかを直接表示１〜ようと
いうものである。
を２種類記憶部に記憶しておき、２種の混合比率が未知
である混合試料を異る２波長について測光し、混合比を
め請求まった混合比を記憶スペクトルに捌けてその結果
を表示部に表示することにより、混合成分がどのような
スペクトルの合成でできているかを直接表示１〜ようと
いうものである。
以下、本発明の実施例について説明する。
第１図には、本発明の一実施例が示されている。
図において、光源部１から出力される光を分光器部２に
おいて、波長λ菖、λ２を出力する。この分光器部２の
光の後方には検知部３を介し前置増幅器５が設けられて
いる。この前置増幅器５には主増幅器６が接続されてい
る。また、分光器部２内には、波長駆動モータ７が設け
られている。
おいて、波長λ菖、λ２を出力する。この分光器部２の
光の後方には検知部３を介し前置増幅器５が設けられて
いる。この前置増幅器５には主増幅器６が接続されてい
る。また、分光器部２内には、波長駆動モータ７が設け
られている。
この波長駆動モータ７は、機構系制御部９によって制御
きれてお９、この機構系制御部９には、マイクロコンピ
ュータ８が接続されている。このマイクロコンピュータ
８には、主増幅器６と、演算部１２と、記録線形状選択
部１４が接続されている。
きれてお９、この機構系制御部９には、マイクロコンピ
ュータ８が接続されている。このマイクロコンピュータ
８には、主増幅器６と、演算部１２と、記録線形状選択
部１４が接続されている。
この光源部１と、分光器部２と、検知器部３と、前置増
幅器５と、主増幅器６とによって分光光度計４が構成さ
れている。この分光光度計４の主増幅器６には、演算部
１２が接続されている。この演算部１２には、データ記
憶部１０．１１からの信号が入力され、記録部１３に演
算結果が出力されるように構成されている。
幅器５と、主増幅器６とによって分光光度計４が構成さ
れている。この分光光度計４の主増幅器６には、演算部
１２が接続されている。この演算部１２には、データ記
憶部１０．１１からの信号が入力され、記録部１３に演
算結果が出力されるように構成されている。
このように構成されるものであるから、光源部１、分光
器部２、検知器部３より成シ立つ分光光変態４の検知器
出力は前置増幅器５及び主増幅器６により吸光度値とし
て出力する。波長駆動モータ７はマイクロコンピュータ
８０制御命令で制御する機構系制御部９の制御信号によ
シ、所定の波長に設定したり、波長自動走立を行ってス
ペクトルを得る。
器部２、検知器部３より成シ立つ分光光変態４の検知器
出力は前置増幅器５及び主増幅器６により吸光度値とし
て出力する。波長駆動モータ７はマイクロコンピュータ
８０制御命令で制御する機構系制御部９の制御信号によ
シ、所定の波長に設定したり、波長自動走立を行ってス
ペクトルを得る。
データ記憶部ＩＱ、１１は試料Ａ及び試料Ｂについて濃
度α及びβのときの吸収スペクトルを記憶する記憶部で
、未知濃度試料測定とは別に記憶している。未知濃度試
料を設定すると、マイクロコンピュータ８は機構系制御
部９に指命を与え、異る２波長、λ１ 、λ２に波長を
設定するよう波長駆動モータ７を動かし、夫々の波長で
の吸光度ｈ（λ、）、１１（λ２）を主増幅器６から読
み出し、演算部１２に記憶させる。まだ、マイクロコン
ピュータ８はデータ記憶部１０．１１からλ１．λ２の
２波長での吸光度ｆ（λ＋）、’てλｚ）、ｇ（λＩ）
＋ｇ（λ２）を１抗み出し１演算部１２に記憶させ、式
（３１，（４）の演算を行い、ａ、 ｌ）を剪出する。
度α及びβのときの吸収スペクトルを記憶する記憶部で
、未知濃度試料測定とは別に記憶している。未知濃度試
料を設定すると、マイクロコンピュータ８は機構系制御
部９に指命を与え、異る２波長、λ１ 、λ２に波長を
設定するよう波長駆動モータ７を動かし、夫々の波長で
の吸光度ｈ（λ、）、１１（λ２）を主増幅器６から読
み出し、演算部１２に記憶させる。まだ、マイクロコン
ピュータ８はデータ記憶部１０．１１からλ１．λ２の
２波長での吸光度ｆ（λ＋）、’てλｚ）、ｇ（λＩ）
＋ｇ（λ２）を１抗み出し１演算部１２に記憶させ、式
（３１，（４）の演算を行い、ａ、 ｌ）を剪出する。
更にマイク「１コンピユータ８は、記憶部１０及び１１
に記憶している試ＦＩＡ、１３の吸収スペクトルにａ、
ｌ）を掛け、記録部１３にその演算結果を表示するよう
演算部１２と表示部１３に指命を与える。記録部１３は
ＣＲＴを用いた画面であった記録部１３が数字表示がで
きる場合には、ａ、ｌ）の値を表示する指令もあわせ行
う。
に記憶している試ＦＩＡ、１３の吸収スペクトルにａ、
ｌ）を掛け、記録部１３にその演算結果を表示するよう
演算部１２と表示部１３に指命を与える。記録部１３は
ＣＲＴを用いた画面であった記録部１３が数字表示がで
きる場合には、ａ、ｌ）の値を表示する指令もあわせ行
う。
更に、記録部１３が実線表示の他に点腺表示の機能があ
る場合には、マイクロコンピュータ８は記録線形状選択
部１４に制御信月を与え、２種のスペクトルの線形状を
かえて表示する。
る場合には、マイクロコンピュータ８は記録線形状選択
部１４に制御信月を与え、２種のスペクトルの線形状を
かえて表示する。
いま、Ａ及びＢの２種の成分試料について、Ａ及びＢの
試料の濃度がα及びβで、波長Ｘで吸光度ｆ（λ）２ｇ
（λ）を持っている場合、Ａの試別濃度がａ・αの場合
には、波長λでの吸光度はａ・ｆ（λ）、Ｂの試料濃度
が１）・βの場合にはｂ・ｇ（λ）となる。
試料の濃度がα及びβで、波長Ｘで吸光度ｆ（λ）２ｇ
（λ）を持っている場合、Ａの試別濃度がａ・αの場合
には、波長λでの吸光度はａ・ｆ（λ）、Ｂの試料濃度
が１）・βの場合にはｂ・ｇ（λ）となる。
もし、ＡとＢの混合試料においてＡの試料濃度がａ・α
、Ｂの試料濃度がｂ・βの場合、混合試料の吸光度はａ
−ｆ（λ）十ｂ −ｇ（λ）となる。
、Ｂの試料濃度がｂ・βの場合、混合試料の吸光度はａ
−ｆ（λ）十ｂ −ｇ（λ）となる。
ところで、波長λ１．λ２での混合試料の吸光度をｈ（
λＩ）、ｈ（λ２）とすると、次式が成り立つ。
λＩ）、ｈ（λ２）とすると、次式が成り立つ。
ｈ（λ＋）＝ａ−ｆ（λ＋）＋ｂ−ｇ（λ＋ ） ・＝
−・・（１）ｈ（λ２）−ａ−ｆ（λ２）＋ｂ−ｇ（λ
２）・・・・・・・・・（２）式＋＋）、 ＋２１より
次式がまる。
−・・（１）ｈ（λ２）−ａ−ｆ（λ２）＋ｂ−ｇ（λ
２）・・・・・・・・・（２）式＋＋）、 ＋２１より
次式がまる。
これが第２図に示されている。なお、（３１，＋４１式
より、１］（λｔＬ”（λ２）は未知濃度試料のλｌ、
λ２での吸光度であり、実測値である。ｆ（λ＋）＋ｆ
（λｚ）、ｇ（λ＋）、ｇ（λ２）はすでに得られてい
る数値である。ａ、 ｌ）がまることによ、ＤＡの試料
濃度ａ・α、Ｂの試料濃度ｂ・βがまる。
より、１］（λｔＬ”（λ２）は未知濃度試料のλｌ、
λ２での吸光度であり、実測値である。ｆ（λ＋）＋ｆ
（λｚ）、ｇ（λ＋）、ｇ（λ２）はすでに得られてい
る数値である。ａ、 ｌ）がまることによ、ＤＡの試料
濃度ａ・α、Ｂの試料濃度ｂ・βがまる。
第３図には、未知濃度試料の吸収スペクトルを実線、単
成分の吸収スペクトルが点線と一漬鎖腺で示されている
。この第３図によれば、実線の未知濃度試料が２種のス
ペクトルの合成であることと、夫々の成分の混合度合を
直接スペクトル上から読みとることができる。この第３
図の場合は、未知濃度の混合試料は２種のスペクトルの
合成であることを前提と［−１また混合したことにより
化学反応などによって変質したシ、スペクトル形状に相
互影響を及ぼしたりすることがない場合にのみ成シ立ち
つる。実際には、２種の物質を混合すると化学反応や相
互影響によシ合成スペクトルは必ずしも算術和にならな
い。
成分の吸収スペクトルが点線と一漬鎖腺で示されている
。この第３図によれば、実線の未知濃度試料が２種のス
ペクトルの合成であることと、夫々の成分の混合度合を
直接スペクトル上から読みとることができる。この第３
図の場合は、未知濃度の混合試料は２種のスペクトルの
合成であることを前提と［−１また混合したことにより
化学反応などによって変質したシ、スペクトル形状に相
互影響を及ぼしたりすることがない場合にのみ成シ立ち
つる。実際には、２種の物質を混合すると化学反応や相
互影響によシ合成スペクトルは必ずしも算術和にならな
い。
第４図には、恥知濃度試料の吸収スペクトルが実線で、
ａ−ｆ（λ）＋ｂ −ｇ（λ）に基づいてめられた計算
結果の合成スペクトル力点・・＊でそれぞれ示されてい
る。この第４図の例では、λ１゜λ２の２波長に関して
は計算式が成立するが、合成スペクトルと実スペクトル
が異ることから、未知濃度試料は化学反応や相互影響な
どの何らかの変化があったことを示している。あるいは
、未知濃度試料は２種の試料の合成でなく別種の試料の
合成であることを示している。
ａ−ｆ（λ）＋ｂ −ｇ（λ）に基づいてめられた計算
結果の合成スペクトル力点・・＊でそれぞれ示されてい
る。この第４図の例では、λ１゜λ２の２波長に関して
は計算式が成立するが、合成スペクトルと実スペクトル
が異ることから、未知濃度試料は化学反応や相互影響な
どの何らかの変化があったことを示している。あるいは
、未知濃度試料は２種の試料の合成でなく別種の試料の
合成であることを示している。
これらの操作手順をまとめたものが第５図のフロー図で
ある。
ある。
すなわち、ステップ１００において、試料Ａ。
Ｂの吸収スペクトルを記憶すると共に、λｌ。
λ２．ｆ（λ＋）、ｇ（λ＋）、ｆ（λ２）、ｇ（λ２
）を記憶する。次に、ステップ１０１において試料をセ
ラ） Ｌ６＋１１定を開始し、ステップ１０２において
、混合試料のスペクトルを記録する。次にステップ１０
３において１１（λ、）、ｈ（λ２）を測定し、ステッ
プ１０４において、”ｌｌ）を算出する。次にステップ
１ｏ５において、ａ−ｆ（λ）、ｂ−ｇ（λ）のスペク
トルを記録し、ステップ１０６において、ｈ（λ）＝ａ
−ｆ（λ） −１−１）・ｇ（λ）の合成スペクトルを
記録する。
）を記憶する。次に、ステップ１０１において試料をセ
ラ） Ｌ６＋１１定を開始し、ステップ１０２において
、混合試料のスペクトルを記録する。次にステップ１０
３において１１（λ、）、ｈ（λ２）を測定し、ステッ
プ１０４において、”ｌｌ）を算出する。次にステップ
１ｏ５において、ａ−ｆ（λ）、ｂ−ｇ（λ）のスペク
トルを記録し、ステップ１０６において、ｈ（λ）＝ａ
−ｆ（λ） −１−１）・ｇ（λ）の合成スペクトルを
記録する。
したがって、本実施例によれば、２種の混合成分の濃度
をめた上で、合成スペクトルの中の単成分スペクトルの
形状を直接表示することができる。また、計算上得られ
た合成スペクトルと実際に混合した試料のスベクＩ・ル
を比較することによシ、混合後に吸収スペクトルがどの
ように変るかを知ることができる。
をめた上で、合成スペクトルの中の単成分スペクトルの
形状を直接表示することができる。また、計算上得られ
た合成スペクトルと実際に混合した試料のスベクＩ・ル
を比較することによシ、混合後に吸収スペクトルがどの
ように変るかを知ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、混合成分比が不
明な試料を異る２波長において測定し、夫々の単成分の
スペクトルに分けて表示し、混合成分がとのよ・うなス
ペクトルの合成でできている（９） のかを直接表示することができる。
明な試料を異る２波長において測定し、夫々の単成分の
スペクトルに分けて表示し、混合成分がとのよ・うなス
ペクトルの合成でできている（９） のかを直接表示することができる。
第１図は本発明の実施例を示すブロック図、第２図はＡ
とＢの混合試料の吸光度を示す図、第３図は未知濃度試
料の吸収スペクトル表示例を示す図、第４図は未知濃度
試料の吸収スペクトル比較例を示す図、第５図は操作フ
ローチャートである。 ４・・・分光光度計、８・・・マイクロコンピュータ、
１０．１１・・・データ記憶部、１２・・・演算部、１
３・・・記録部。 代理人 弁理士 鵜沼辰之 （１０） 電２図 λ・ λ２ −レ尚長 △ 人１ △７ も４−図 λ１ △２
とＢの混合試料の吸光度を示す図、第３図は未知濃度試
料の吸収スペクトル表示例を示す図、第４図は未知濃度
試料の吸収スペクトル比較例を示す図、第５図は操作フ
ローチャートである。 ４・・・分光光度計、８・・・マイクロコンピュータ、
１０．１１・・・データ記憶部、１２・・・演算部、１
３・・・記録部。 代理人 弁理士 鵜沼辰之 （１０） 電２図 λ・ λ２ −レ尚長 △ 人１ △７ も４−図 λ１ △２
Claims (1)
- １、波長走査を行い、試料のスペクトルを表示するもの
において、２柚の基本スペクトルを記憶する記憶部と、
異る２波長での測光＋ｔｉ ｋ記憶する記憶部と、試料
のスペクトル’ｋ ２１１’：４のスペクトルの合成成
分として演算する演算部と、２種のスペクトルをそれぞ
れの成分比で表示する表示部に設けたことを特徴とする
分光光度計の合成スペクトル表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16278783A JPS6053823A (ja) | 1983-09-05 | 1983-09-05 | 分光光度計の合成スペクトル表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16278783A JPS6053823A (ja) | 1983-09-05 | 1983-09-05 | 分光光度計の合成スペクトル表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6053823A true JPS6053823A (ja) | 1985-03-27 |
Family
ID=15761196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16278783A Pending JPS6053823A (ja) | 1983-09-05 | 1983-09-05 | 分光光度計の合成スペクトル表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6053823A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07103961A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Shimadzu Corp | クロマトグラフィーのデータ処理装置 |
| JP2016133429A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 日本電信電話株式会社 | 成分分布抽出方法および成分波形抽出方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55162057A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-17 | Nippon Kensa Kk | Method and device for qualitative and quantitative analysis by pattern matching method using computer |
-
1983
- 1983-09-05 JP JP16278783A patent/JPS6053823A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55162057A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-17 | Nippon Kensa Kk | Method and device for qualitative and quantitative analysis by pattern matching method using computer |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07103961A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Shimadzu Corp | クロマトグラフィーのデータ処理装置 |
| JP2016133429A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 日本電信電話株式会社 | 成分分布抽出方法および成分波形抽出方法 |
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