JPS6190024A - 放射温度計 - Google Patents

放射温度計

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Publication number
JPS6190024A
JPS6190024A JP21314384A JP21314384A JPS6190024A JP S6190024 A JPS6190024 A JP S6190024A JP 21314384 A JP21314384 A JP 21314384A JP 21314384 A JP21314384 A JP 21314384A JP S6190024 A JPS6190024 A JP S6190024A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
infrared rays
infrared
temperature
variable optical
Prior art date
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Pending
Application number
JP21314384A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiki Seto
瀬戸 俊樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP21314384A priority Critical patent/JPS6190024A/ja
Publication of JPS6190024A publication Critical patent/JPS6190024A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/60Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
    • G01J5/601Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature using spectral scanning

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は物体の放射する赤外線を利用し、非接触で温
度測定可能な放射温度計、特に物体の放射率に無関係に
温度測定する方法に関するものである。
〔従来の技術〕
第5図は従来の放射温度計を示す構成図であり。
(1)け防塵フィルタ、(2)は赤外レンズ、(3)は
赤外レンズ(2)で集光された赤外線に応じた信号を出
力する赤外線検出器、(4)は赤外線検出器(3)の出
力を増幅するアンプ、(5)は被測定物体の放射率デー
タ。
(6)は放射率データ(5)によりアンプ(4)のゲイ
ンを調整するアンプゲイン可変装置、(7)は温度表示
部である。
従来の放射温度計は上記のように構成され9例えば温度
測定しようとする物体の放射率データ(5)を予めアン
プゲイン可変装置(6)にセットしておいて、物体の放
射する赤外線を赤外線検出器(3)で検出し、ゲイン調
整さfLタアンプ(4)を通して放射率補正された温度
が温度表示部(7)に表示される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のような従来の放射温度計では、温度測定を行う前
に、対象とする物体の放射率を知らねばならず、その放
射率も物体の材質や表面状態によって大きく変化するた
めに、温度測定ごとの正確な放射率の把握は難しく精度
ある温度測定がさhにくい問題点があった。
この発明は、このような問題点を解決するためになさh
fCもので、容易に、また正確に得ることの難しい放射
率とけ無関係に物体の温度1111i定が可能な放射・
温度計の実現を目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る放射温度計は、物体より放射さり、る赤
外線を可変光学フィルタを通して複数波長成分に分けて
受光し、またそれぞれのフィルタを使甲した場合の信号
出力を用い、放射理論に基づいて物体温度を算出する演
算回路を加えたものである。
〔作用〕 この発明においては、可変光学フィルタによつで選択さ
れたある波長λと、それよりわずかに異なる波長λ+Δ
λそれぞれの入射赤外線電力より。
その波長での物体の放射電力と、放射電力の波長に対す
る変化率を求め、放射理論に基づき物体温度を演算後表
示する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図であり、 +
11. +21. +31. +41. +71は上記
従来装置と全く同一のものである。(81は回転型可変
光学フィルタ。
(9)はその駆動用同期モータ、(10−a)〜(10
−c)は回転型可変光学フィルタ(8)による異なる波
長ごとの信号を取り込むサンプルホールド回路、C0け
サンプルホールド回路(10−a1〜(10−C) の
出力値を使って温度を下記の放射理論に基づいて算出す
る演算回路、C2け全体のタイミングを制御する同期回
路である。
上記のように構成された放射温度計においては。
次の放射理論に基づいて温度を算出している。
黒体の放射発散度W(λ、  T)け式(りで表わせる
・・・・・・−・・・−・・(1ま ただし T:黒体の温度(0K) (!1=174X1G  (watt/3 gxrn 
)C2=1.44X10’ (μm・’K)λ:波長(
μm) 上記式+1+を波長λで偏微分し、さら忙常温付近(2
50”K≦T≦350°K)で赤外線を扱う場合では 、c+/、n >> 、    ・・・・・・・・・・
・−・・・・・・・・・・・・・・・・・・・、・・・
・・・121を考慮すると2次式が得られる。
上記式(11および式(3)より次式が得られる。
黒体でなく一般の物体では放射率εけ波長の関数ε(λ
)で表わせられるが、ある節回の波長帯ではε〈1なる
定数(灰色体)と近似できるつしたがって一般の物体よ
りの放射発散度はε・W(λ、T)となり2式(4)は
そのまま一般の物体の温度に関しても成り立つ。
上記理論式(4)に従うと、ある波長λと、そhよりわ
ずかに異なる波長λ+Δλでの赤外線入射電力が測定さ
れれば、物体の温度Tは求まることになる。
この発明での2回転型可変光学フィルターの一実施例を
第2図に示す。メで(8a)は透過中心波長がλの干渉
フィルタ、  (8b)は透過中心波長がλ+Δλの干
渉フィルタ、 (f3C)は基糸レベルとなる無反射板
である。回転によって、赤外線入射光路中に時分割に異
なるフィルタが挿入さhる0 したがって、波長λ、λ
+Δλ、 および基醜温度の各赤外線が赤外線検出器(
3)で検出さり、アンプ(4)の出力にはそれぞれの信
号が時分割で出力される。
上記三信号はサンプルホールド回路(10a3〜(10
c)で同期回路(13に従うタイミングでサンプルホー
ルドされる。サンプルホールド回路でホールドされた上
記三信号は演算回路+I11で式(4)に従って演算さ
り、その結果は温度表示部(71に表示される。なお。
第3図は同期回路a2により制御される回転型可変光学
フィルタ(8)、サンプルホールド回路(10a)〜(
10(り、  演算回路a9そhぞれの動作タイミング
チャートである。また第4図は演算回路(I9の内部構
成ブロック図の一例で、  (11a)、  (11b
)は減算回路 rllc) 、  (11e)は除算回
路、  (11d)は加算回路、  (11f) 、 
 (11g)は定数回路である。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したとおり、可変光学フィルタと演
算回路を用論ることにより、物体の放射率を知ることな
しに、物体の放射赤外線より物体の温度を求めることが
できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図は第
1図で示す回転型可変光学フィルタの一実施例を示す図
、第3図は第1図で示きれる回転型可変光学フィルタ、
サンプルホールド回路、演算回路の動作のタイミングチ
ャート、第4図は第1図で示す演算回路の一実施例を示
す構成図、第5圀は従来の放射温度計を示す構成図であ
る。 図において、(2)は赤外レンズ、(3)は赤外線検出
器、(4)はアンプ、(8)は回転型可変光学フィルタ
。 (9)は同期モータ、  (10a)〜(10C)はサ
ンプルホールド回路、Qりは演算回路、(12は同期回
路である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示″fO

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 物体より放射される赤外線のうち、複数波長の成分を順
    次選択する可変光学フィルタ、この可変光学フィルタに
    より選択された波長の赤外線を検出する赤外線検出器、
    上記選択された赤外線各波長成分の、上記赤外線検出器
    による各出力をサンプルホールドするサンプルホールド
    回路、このサンプルホールドされた信号を用い、放射理
    論に基づいて物体の温度を算出する演算回路、この演算
    結果を表示する温度表示部、可変光学フィルタの切換え
    、サンプルホールド回路、演算回路の動作のタイミング
    を制御する同期回路を備えたことを特徴とする放射温度
    計。
JP21314384A 1984-10-11 1984-10-11 放射温度計 Pending JPS6190024A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06201474A (ja) * 1990-12-07 1994-07-19 Ag Processing Technol Inc バイチャネル放射検出装置
KR100807678B1 (ko) * 2001-02-27 2008-03-03 에이에스엠엘 유에스, 인크. 레이저의 출력 빔 특성을 최적화하는 방법 및 장치
CN103256988A (zh) * 2012-02-20 2013-08-21 上海山景集成电路股份有限公司 红外线检测装置
KR20160091586A (ko) * 2015-01-26 2016-08-03 엘지이노텍 주식회사 필터 어레이, 이를 포함하는 이미지 센서 및 적외선 카메라

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