JP2011179899A - 粒度分布測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】測定条件の設定項目毎に対応するヘルプ情報を的確に表示できるようにするとともに、そのヘルプ情報を試料の種類及び/又はオペレータの熟練度等のスキル情報に応じて提供する。
【解決手段】試料の粒度分布測定を行う装置本体2と、オペレータからの入力を受け付けて前記装置本体2の駆動制御を行うとともに、装置本体2からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器3とを備えた粒度分布測定装置100であり、インタフェース機器3が、粒度分布測定を行うための測定条件が入力される複数の入力欄W11を画面上に表示するとともに、入力欄W11に入力すべき測定条件に関連するヘルプ情報を入力欄W11毎に画面上に表示するものであり、試料の種類またはオペレータのスキル情報によって、ヘルプ情報を変更する。
【選択図】図4

Description

本発明は、粒度分布測定装置に関するものである。
この種の粒度分布測定装置は、粒度分布測定に際して測定条件を設定するための設定項目が非常に多く、その設定に際して必要な情報量が膨大である。
従来において設定項目を設定するために必要な情報は、ノウハウとして個々のユーザが独自に持っているか、全てのユーザに対して利用可能にするためにマニュアル等の別文書として用意されていることが一般的である。
しかしながら、ノウハウを知らない他のユーザは試行錯誤的に設定項目を選択する必要がある。また、マニュアル等の別文書によって用意するものでは、当該マニュアル中において、ユーザの欲しい情報がどのページに記載されているかを検索する必要があるところ、粒度分布測定装置を操作しながら、一方でマニュアルを見ることは手間であり作業性が極めて悪いという問題もある。
このようなことから、粒度分布測定装置にヘルプ機能を設けて、当該ヘルプ機能により画面上にマニュアル等の情報を表示するものが考えられている。具体的にこのヘルプ機能は、モニタの設定画面に設けられたヘルプメニューを選択するとヘルプ画面が表示され、このヘルプ画面においてオペレータがインデックスを選択したり、キーワード検索をしたりして、設定項目に関連するガイダンス(ヘルプ情報)を抽出するものである。
一方で、特許文献1に示すように、上記のヘルプ機能に加えて、インデックス選択又はキーワード検索を不要とした粒度分布測定装置が考えられている。この粒度分布測定装置は、設定画面に、粒度分布を測定するために必要な設定項目と、当該設定項目に関連する案内画面への移行をするためのリンク手段(例えばヘルプボタン)とを表示し、不明な設定項目があった場合は、オペレータがリンク手段を操作するだけで、当該設定項目に関連するガイダンスが直ちに表示される。
しかしながら、測定条件には試料の種類に特有のものがあり、特許文献1のように設定項目毎にガイダンスを表示したとしても、その表示されたガイダンスが測定する試料に適合したものかどうか不明であり、適合したものかどうかの判断は依然としてノウハウが必要である。また、設定項目毎にガイドラインを表示したとしても、オペレータの熟練度(初心者、中級者、上級者等)によって、設定項目毎に欲しい情報が異なり、単にガイドラインを表示するだけでは不十分であり、当該ガイドライン内の欲しい情報に到達するまでに、従来と同様、スクロールして検索したり、キーワード検索をしたりする必要がある。
なお、特許文献2に示すように、測定条件を入力するための操作画面のレイアウトを、試料の情報及びユーザの操作レベルに合わせて変更して、操作ミスを可及的に少なくするための粒度分布測定装置が考えられている。この粒度分布測定装置は、試料の情報及び操作レベルが入力されると、当該情報及びレベルに対応する測定条件と関連付けて編成した操作画面のレイアウトを呼び出して、表示部に表示するように構成されている。
しかしながら、上記の粒度分布測定装置は、各試料及び操作レベルに応じて、操作画面を操作しやすいレイアウトに変更して、操作ミスを減少させることを目的とするものに過ぎない。つまり、この粒度分布測定装置は、例えば初心者であれば初心者のレベルに合わせたレイアウトの操作画面を表示するものの、その操作画面において各設定項目の入力に必要な情報は依然として、そのヘルプ機能により画面上に表示されるマニュアル等の情報から、オペレータがスクロール検索、インデックス選択又はキーワード検索によって抽出する必要がある。
特開2003−194702号公報 特許3848580号公報
そこで本発明は、上記問題点を一挙に解決するためになされたものであり、測定条件の設定項目毎に対応するヘルプ情報を的確に表示できるようにするとともに、そのヘルプ情報を試料の種類及び/又はオペレータの熟練度等のスキル情報に応じて提供することをその主たる所期課題とするものである。
すなわち本発明に係る粒度分布測定装置は、試料の粒度分布測定を行う装置本体と、オペレータからの入力を受け付けて前記装置本体の駆動制御を行うとともに、当該装置本体からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器とを備えた粒度分布測定装置であって、前記インタフェース機器が、粒度分布測定を行うための測定条件が入力される複数の入力欄を画面上に表示するとともに、当該入力欄に入力すべき測定条件に関連するヘルプ情報を前記入力欄毎に画面上に表示するものであり、前記試料の種類またはオペレータのスキル情報によって、前記ヘルプ情報を変更することを特徴とする。
このようなものであれば、複数の入力欄毎にヘルプ情報を表示することにより、各入力欄の測定条件の入力に必要な情報へのアクセスを早くすることができるとともに操作も簡単にすることができる。また、ヘルプ情報を試料の種類に基づいて変更することによって、試料に適した測定条件の設定を簡単に行うことができる。あるいはヘルプ情報をオペレータのスキル情報に基づいて変更することによって、各オペレータのスキルレベルに合ったヘルプ情報を表示することができ、オペレータの欲しい情報を的確に表示でき、使い勝手を向上させることができる。
試料の種類に応じてヘルプ情報を変更する具体的な構成としては、前記インタフェース機器が、前記試料の種類によってヘルプ情報を変更するものである場合において、試料情報をオペレータが選択するための試料選択画面を表示し、当該試料選択画面により選択された試料情報に基づいて前記ヘルプ情報を変更するものであることが望ましい。これならば、試料特性等の試料情報を入力するだけでヘルプ情報が一括して自動的に変更されるので、その試料に合ったヘルプ情報が表示されることになり、使い勝手を良くすることができる。特に、試料選択画面が試料特性を選択するものである場合には、例えば成分組成等が未知の試料を測定する場合であっても、その試料特性を選択するだけで良く、試料の事前知識を簡単にすることができ初心者であっても取り扱いやすくすることができる。
オペレータのスキル情報に応じてヘルプ情報を変更する具体的な構成としては、前記インタフェース機器が、オペレータのスキル情報によってヘルプ情報を変更するものである場合において、オペレータの熟練度をオペレータが選択するための熟練度選択画面を表示し、当該熟練度選択画面により選択された熟練度に基づいて前記ヘルプ情報を変更するものであることが望ましい。これならば、熟練度選択画面によって熟練度を予め定められた複数レベルに分ける等により、オペレータの入力を簡単にすることができるだけでなく、オペレータの任意入力を排除することになり装置側において熟練度判別を簡単にすることができる。
オペレータのスキルレベルを客観的に評価して、当該オペレータに合ったヘルプ情報を表示できるようにするためには、前記インタフェース機器が、オペレータのログイン回数及び/又はログイン時間からオペレータのスキル情報を推定するものであることが望ましい。
各入力欄に対応するヘルプ情報にいち早くアクセスできるようにするためには、前記インタフェース機器が、前記ヘルプ情報を表示するためのヘルプ表示ボタンを各入力欄毎に表示するものであり、さらに、当該ヘルプ表示ボタンを対応する入力欄の近傍に表示するものであることが望ましい。このとき、オペレータの操作容易性の観点から、各入力欄に対するヘルプ表示ボタンの位置が、全ての入力欄において同一であることが好ましい。
複数の入力欄の中には、既に入力欄に入力された測定条件に応じて、入力すべき測定条件が限定される等の場合がある。このようなものにおいて、限定された範囲内で測定条件を入力するようにヘルプするためには、前記インタフェース機器が、所定の入力欄に入力された測定条件によって、その他の入力欄に対応するヘルプ情報を変更することが望ましい。
このように構成した本発明によれば、測定条件の設定項目毎に対応するヘルプ情報を的確に表示できるようにするとともに、そのヘルプ情報を試料の種類及び/又はオペレータの熟練度等のスキル情報に応じて提供することができる。
本発明の一実施形態における粒度分布測定装置の全体及び情報処理装置の機能ブロックを示す概要図である。 同実施形態における装置本体の各部を示す装置本体概要図である。 同実施形態における情報処理装置のハードウェア構成図である。 同実施形態における測定条件の設定画面を示す図である。 同実施形態における試料選択入力画面を示す図である。 同実施形態における熟練度選択画面を示す図である。 同実施形態における循環ポンプ速度に対応する初心者向けのヘルプ情報表示画面を示す図である。 同実施形態における循環ポンプ速度に対応する中級者向けのヘルプ情報表示画面を示す図である。
以下に本発明に係る粒度分布測定装置の一実施形態について図面を参照して説明する。
本実施形態にかかる粒度分布測定装置100は、試料に光を照射した際に生じる回折光や散乱光の強度の角度分布や揺らぎを測定し、その測定結果をドップラー原理やMIE散乱理論に基づいて演算することで試料中に含まれる粒子群の粒度分布を測定するものであり、実測定にかかる種々の処理を行う装置本体2と、その装置本体2と通信可能に接続され、当該装置本体2における前記各処理の内容及び処理手順を制御するとともに前記装置本体2からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器3とを備えている。
まず装置本体2につき、各部を説明する。
装置本体2は、図2に示すように、測定対象となる粒子群を内部に分散させたセル21と、その粒子群にレンズ22を介して光を照射する光源たる半導体レーザ23と、セル21を透過した透過光及びセル21で回折又は/及び散乱した回折散乱光の強度分布を検出する複数の検出器24と、各検出器24から出力される光強度信号に少なくとも基づいて粒度分布を算出したり、この装置本体2内の前述した各機器の監視/制御を行ったり、前記インタフェース機器3との間で種々のデータの送受信を行ったりする専用の本体側コンピュータとを備えた、いわゆる回折/散乱式のものである。
セル21は、水等の分散媒中に測定対象となる粒子群を分散させてなる試料を収容する透明のもので、図示しないセルホルダ等によってセル収容室(図示しない)の所定位置に着脱可能に取り付けられている。本実施形態では、このセル21を循環湿式タイプのものとし、図示しない試料循環流路上に設けている。この試料循環流路上には攪拌用モータや循環ポンプ、粒子群投入口等(図示しない)が設けられており、セル21内部の試料を循環させている。
半導体レーザ23はコヒーレントな光を発するものであり、光軸や、照射する光の強度を調整可能なものである。
検出器24は、半導体レーザ23の光軸上、及びセル21を中心として光軸から所定角度範囲内の、例えば同一円周上に複数離散配置されており、光軸上を直進する透過光や試料により様々な角度へ散乱する散乱光の角度毎の強度を検出するものである。各検出器24は入射した光の強度に応じた光強度信号を出力する。
本体側コンピュータは、構造的にはCPU、メモリ、A/Dコンバータ、I/Oインタフェース、通信インタフェース等を備えた専用のコンピュータであり、そのメモリに記憶させた所定プログラムに基づいて前記CPUや周辺機器が動作することにより、本体側制御部26や本体側送受信部25としての機能を発揮するものである。
本体側制御部26は、後述するインタフェース機器3から送信されてくるコマンドを解釈する解釈機能や、その解釈結果等に基づき、検出器24、半導体レーザ23、前記撹拌用モータ、循環ポンプ等を監視/制御する監視制御機能、あるいは各検出器24から出力された光強度信号を受信し、それらの値からMIE散乱理論を基礎としたアルゴリズムにしたがって粒度分布を表す粒度分布データを算出する粒度分布算出機能等を備えている。
本体側送受信部25は、前記通信インタフェースを利用して構成されるもので、前記粒度分布データを本体側制御部26から受け取ってインタフェース機器3に送信したり、インタフェース機器3からのコマンドを受信し、半導体レーザ23の光軸調整や前記攪拌用モータの回転制御等を行わせるべく前記本体側制御部26に送り付けたりする。
次にインタフェース機器3につき、説明する。
インタフェース機器3は、例えばパーソナルコンピュータ等の汎用コンピュータであり、構造的には図3に示すように、CPU301、メモリ302、通信ネットワークや前記本体側コンピュータに接続するためのUSBポート、モデム等の通信インタフェース303、ディスプレイ304、マウスやキーボードといった入力手段305等を備える。
そして、前記メモリ302に所定のプログラムをインストールし、そのプログラムに基づいてCPU301や周辺機器が協働することにより、図1に示すように、送受信部31、ヘルプ情報データ格納部32、表示部33、データ管理部34等として機能する。
各部31〜34を説明する。
送受信部31は、前記通信インタフェース304を利用して構成されるもので、装置本体2が行う処理(ステップ)毎に、そのステップを構成する1又は複数のコマンド(ステップを構成する処理要素(例えば、前記攪拌用モータの回転数の設定や前記循環ポンプを制御することによる流速の設定等))を、対応するパラメータとともに前記装置本体2に送信するとともに、送信された前記コマンドに基づいて前記装置本体2が行った処理(ステップ)の結果を示す結果データを受信するものである。
ヘルプ情報データ格納部32は、メモリ302の所定領域に設定されるもので、装置本体2の測定条件を設定するための設定項目を入力するために必要なヘルプ情報を示すヘルプ情報データを格納している。ヘルプ情報データとは、測定条件を設定するためにオペレータが入力操作すべきパラメータ(設定項目)に必要なヘルプ情報を示すデータであり、試料の種類毎及びオペレータの熟練度に代表されるスキル情報毎に対応して格納されている。これらのヘルプ情報データは予め入力手段305等を用いてヘルプ情報データ格納部32に格納されている。
ここで設定項目には、粒度分布測定を行うための装置本体2の測定条件を決定する測定条件パラメータと、測定結果を演算するための演算条件パラメータとが含まれる。測定条件パラメータは、例えば試料の循環速度(循環ポンプ速度)、撹拌速度、分散媒の水位、超音波発振器の動作時間(超音波の印加時間)、超音波の強度、測定中の超音波発振器の動作の有無、循環系に混入した気泡の脱泡処理手順、データの取り込み回数、試料濃度などであり、演算条件パラメータは、例えば試料(粒子及び/又は溶媒)の屈折率、粘度、繰り返し演算回数などである。
表示部33は、ディスプレイ304を制御するもので、入力画面表示機能(入力画面表示部としての機能)、結果表示機能(結果表示部としての機能)などを有している。入力画面表示機能とは、測定条件を設定するために必要なパラメータの入力をするための入力画面W1を表示する機能である。結果表示機能とは、装置本体2から送信されてきた粒度分布データなどの測定結果データの内容を、所定形式で表示する機能である。
ここで、入力画面表示機能において表示される、設定すべきパラメータの入力画面W1について説明する。
入力画面W1は、図4に示すように、粒度分布測定を行うための測定条件が入力される複数の入力欄W11と、各入力欄W11毎に対応して設けられ、各入力欄W11に入力すべきパラメータのヘルプ情報を表示するための複数のヘルプ表示ボタンW12とを有する。
入力欄W11は、例えば、ユーザの入力操作の容易性の観点から、クリックによる加算減算を可能とするスピンボタン、クリックによる所定値の選択を可能とするチェックボックス、数直線状でのバーの位置によって値を指定できるスクロールバー、又は予め定めた値を選択的に入力可能とするプルダウンリスト等とすることが考えられるが、テキストボックスに任意に入力可能なものとしても良い。なお、図4に図示されている入力欄W11は、プルダウンリスト又はチェックボックスにより入力可能に構成されている。また、入力欄W11は、予めデフォルトとして所定値が設定されるように構成されている。
ヘルプ表示ボタンW12は、対応する入力欄W11の近傍に設けられている。具体的にヘルプ表示ボタンW12は、本実施形態の複数の入力欄W11が上下方向に並列表示されることから、入力欄W11の左近傍又は右近傍に表示するようにしている。このように配置することによって、各入力欄W11同士の間に表示すると上下方向の表示スペースが大きくなってしまう、各入力欄W11同士が離れすぎてカーソル(マウスポインタ)の移動操作が大きくなる、ヘルプ表示ボタンW12を選択しにくい、又は入力欄W11との対応関係(上の入力欄W11に対応するのか、下の入力欄W11に対応するのか)が分かりにくい等の不具合が生じる可能性を排除している。さらに各入力欄W11に対するヘルプ表示ボタンW12の位置が、全ての入力欄W11において同一(本実施形態では左近傍)である。これにより、各入力欄W11においてヘルプ表示ボタンW12が決まった位置にあることでオペレータの操作を容易にすることができる。
また、表示部33は、入力画面表示機能において、試料の種類又はオペレータのスキル情報によって、ヘルプ表示ボタンW12によりヘルプ情報を変更するための、試料選択画面W2及び熟練度選択画面W3を表示する。
試料選択画面W2は、図5に示すように、予め分類されヘルプ情報データ格納部32に記録された試料特性をオペレータが選択するように構成されており、本実施形態では、チェックボックスにより選択可能に構成されている。この試料特性は、初心者でも容易に認識できる特性により記述されており、例えば、「壊れやすい」、「沈降しやすい」、「凝集しやすい」、「真球度が低い」、「色がついている(「赤色の吸光度が高い」、「青色の吸光度が高い」)」、「分布がシャープ」等である。なお、試料選択画面W2は、試料特性の他に、試料の名称(種類)の試料情報を表示し、当該試料の名称の試料情報をオペレータが選択するように構成しても良い。
熟練度選択画面W3は、図6に示すように、予め分類されヘルプ情報データ格納部32に記録された熟練度レベルをオペレータが選択するように構成されており、本実施形態では、プルダウンリストにより選択可能に構成されている。この熟練度レベルは、オペレータの恣意的な入力を防ぐために記述されており、例えば、「(粒度分布測定装置を用いることに関して)ほとんど経験がない」、「(粒度分布測定装置を用いて)特定のサンプルを複数回測定したことがある」、「(粒度分布測定装置を用いて)いくつかの種類のサンプルを測定したことがある」、「長期間、粒度分布測定に従事している」の4つのレベルに分類されている。
ここで、表示部33の具体的なヘルプ情報の表示態様について説明する。いまオペレータが循環ポンプ速度を設定する場合に、当該循環ポンプ速度の入力欄W11に対応するヘルプ表示ボタンW12をクリックなどの選択動作を行う場合を考える。このとき、前記熟練度選択画面W3において、オペレータが「ほとんど経験がない」を選択した場合(オペレータが初心者の場合)には、データ管理部34はこの熟練度情報を受け付け、表示部33は入力画面W1とは別ウィンドウを表示して、図7に示すように、初心者用のヘルプ情報を表示する。一方で、オペレータが例えば「特定のサンプルを複数回測定したことがある」を選択した場合(オペレータが中級者の場合)には、表示部33は、入力画面W1とは別ウィンドウを表示して、図8に示すように、中級者用のヘルプ情報を表示する。
データ管理部34は、試料選択画面W2によりオペレータが選択した試料特性情報、及び熟練度選択画面W3によりオペレータが選択したスキル情報である熟練度情報を受け付けこれに基づいて、ヘルプ情報データ格納部32から、試料特性及び熟練度に関連付けられた各設定項目のヘルプ情報を抽出して、表示部33に出力するものである。
なお、このデータ管理部34は、オペレータによって選択された又は予め決められたシーケンスデータを、前記シーケンスデータ格納部(不図示)から取得したり、前述の入力画面W1で設定されたパラメータの値を取得してコマンドに付帯させたり、入力画面W1で新たに設定されたシーケンスデータを、前記シーケンスデータ格納部に新規又は更新格納したりする等、各種データの管理を行うものでもある。ここでシーケンスデータとは、装置本体2が行う処理の手順を示すデータである。
次に、本実施形態の粒度分布測定装置100を用いた測定条件の設定に関して説明する。
まずオペレータは、インタフェース機器3のディスプレイ304に表示される初期画面(図示しない)で、シーケンスを選択するなど、必要な初期操作を行う。そしてデータ管理部34が、オペレータによって選択されたシーケンスデータをシーケンスデータ格納部から取得する。
また、表示部33は、インタフェース機器3のディスプレイ304に試料選択画面W2及び熟練度選択画面W3を同時又は順番に表示する。そして、オペレータが試料選択画面W2の試料特性において当てはまる項目を選択して、図示しないOKボタン等の所定ボタンを押す。また、オペレータが熟練度選択画面W3の熟練度レベルにおいて当てはまる項目を選択して、図示しないOKボタン等の所定ボタンを押す。そうすると、データ管理部34がこれら試料特性情報及び熟練度情報を受け付け、選択された試料特性及び熟練度レベルに応じたヘルプ情報をヘルプ情報データ格納部32から抽出して、そのヘルプ情報データを表示部33に出力する。
次に、表示部33が、上記シーケンスに必要な設定項目を設定するために、図4に示すような入力画面W1を表示する。この入力画面W1は、循環経路系における設定画面を示しており、符号W11(a)は、分散媒の水位を指定するパラメータの入力欄を示し、W11(b)は、循環ポンプの速度を指定するパラメータの入力欄を示し、W11(c)は、撹拌速度を指定するパラメータの入力欄を示している。また、W11(d)は、泡抜きを行うか否かを選択する入力欄を示し、W11(e)は、ブランク測定の前に汚れチェックを行うか否かを選択する入力欄を示している。なお、この入力画面W1では、オペレータが入力欄W11でパラメータを入力又は選択する以前においてデフォルトとして所定値又は所定の選択肢が設定されている。また、W12(a)は、入力欄W11(a)における分散媒の水位を指定するためのヘルプ情報表示ボタンであり、W12(b)は、入力欄W11(b)における循環ポンプの速度を指定するためのヘルプ情報表示ボタンであり、W12(c)は、入力欄W11(c)における撹拌速度を指定するためのヘルプ情報表示ボタンであり、W12(d)は、入力欄W11(d)における泡抜きの有無を指定するためのヘルプ情報表示ボタンであり、W12(e)は、入力欄W11(e)における汚れチェックの選択をするためのヘルプ情報表示ボタンである。
次にオペレータが、入力手段305を用いて前記入力欄W11にパラメータ値を入力する。このとき、オペレータが、ある入力欄W11の近傍に表示されたヘルプ表示ボタンW12を押すと、表示部33が、当該ヘルプ表示ボタンW12に対応する入力欄W11のヘルプ情報を別ウィンドウに表示する(図7、図8)。このとき、ヘルプ情報表示画面W4に表示されるヘルプ情報は、上記の試料選択画面W2及び熟練度選択画面W3において選択された試料特性及び熟練度レベルに応じたヘルプ内容である。そして、オペレータは、ヘルプ情報表示画面W4に表示されているヘルプ情報を参照して、入力欄W11に入力すべきパラメータの値や選択枝を選択する。
このように、不明の入力欄W11については当該入力欄W11特有のヘルプ情報を用いながらパラメータの値や選択枝を選択し、全ての入力欄W11の入力が終了した後に、オペレータが図示しないOKボタン等の所定ボタンを押すと、データ管理部34が、入力されたパラメータの値及び選択枝の条件を取得し、当該ステップの実行に必要な1又は複数のコマンドに付帯させる。なお、上記では循環経路系における設定画面について説明したが、その他、光源23、超音波発振器、検出器24等の周辺機器系における設定画面及び屈折率等の演算系における設定画面等も表示して、同様に条件が設定される。
そして送受信部31が、パラメータを付帯させた前記コマンドを装置本体2に送信する。
装置本体2では、送信されてきた前記コマンド等を本体側送受信部25が受信し、本体側制御部26がコマンド等を解釈して、検出器24、半導体レーザ23、前記撹拌用モータ、循環ポンプ等を監視/制御する。また、各検出器24から出力された光強度信号を受信し、それらの値からMIE散乱理論を基礎としたアルゴリズムにしたがって粒度分布を表す粒度分布データを少なくとも算出する。そして、その粒度分布データを含む処理結果データをインタフェース機器3に返信する。
<本実施形態の効果>
このように構成した本実施形態に係る粒度分布測定装置100によれば、複数の入力欄W11毎にヘルプ情報を表示することにより、各入力欄W11の測定条件の入力に必要な情報へのアクセスを早くすることができるとともに操作も簡単にすることができる。また、ヘルプ情報を試料の種類(試料特性情報)に基づいて変更することによって、試料に適した測定条件の設定を簡単に行うことができる。さらに、ヘルプ情報をオペレータのスキル情報(熟練度情報)に基づいて変更することによって、各オペレータのスキルレベルに合ったヘルプ情報を表示することができ、オペレータの欲しい情報を的確に表示でき、使い勝手を向上させることができる。
<その他の変形実施形態>
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
例えば、前記実施形態では、ヘルプ情報を入力画面W1とは別ウィンドウのヘルプ情報表示画面W4に表示しているが、入力画面W1と同一画面上に表示するようにしても良い。また、特にヘルプ情報が短文の場合等には、カーソル(マウスポインタ)をヘルプ表示ボタンW12に合わせた際に表示されるツールチップ内にヘルプ情報を表示するようにしても良い。
また、前記実施形態では、熟練度選択画面W3を表示することによりオペレータが熟練度レベルを選択するように構成しているが、インタフェース機器3(データ管理部34)が自動的にオペレータの熟練度を推定して設定するようにしても良い。このとき、例えばデータ管理部34が、メモリ302内に記憶されているオペレータの過去のログイン回数及びログイン時間により、オペレータの熟練度レベルを推定する。これにより、オペレータによる恣意的なレベル設定を防ぐことができ、オペレータの客観的な熟練度を設定できる。
さらに、前記実施形態では、ヘルプ情報を試料の種類及び熟練度に基づいて変更しているが、その他、バッチ式測定、湿式フロー測定又は乾式フロー測定等の測定方式に基づいて変更しても良い。この場合、ヘルプ情報データ格納部には、それら測定方式毎に対応して格納されている。
その上、前記実施形態では、初期の試料特性及び熟練度レベルの選択結果により一括して、ヘルプ情報が変更されるように構成されているが、その他、所定の入力欄W11に入力された設定内容(パラメータの値や選択内容等)によって、その他の入力欄W11に対応するヘルプ情報を変更するように構成しても良い。この構成により、既に入力された項目を考慮してヘルプ情報を表示することによって、参照する必要がない無駄なヘルプ情報を省いて表示することができ、オペレータの使い勝手を向上させることができる。
また、この粒度分布測定装置は、トータルとしてインタフェース装置と装置本体としての機能さえあればよく、インタフェース装置と装置本体とが物理的に一体のものであっても構わないし、2乃至それ以上の機器に分離していても前記実施形態同様の作用効果を奏し得る。
その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。
100・・・粒度分布測定装置
2 ・・・装置本体
3 ・・・インタフェース機器
W11・・・入力欄
W12・・・ヘルプ表示ボタン
W2 ・・・試料選択画面
W3 ・・・熟練度選択画面

Claims (5)

  1. 試料の粒度分布測定を行う装置本体と、オペレータからの入力を受け付けて前記装置本体の駆動制御を行うとともに、当該装置本体からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器とを備えた粒度分布測定装置であって、
    前記インタフェース機器が、粒度分布測定を行うための測定条件が入力される複数の入力欄を画面上に表示するとともに、当該入力欄に入力すべき測定条件に関連するヘルプ情報を前記入力欄毎に画面上に表示するものであり、前記試料の種類またはオペレータのスキル情報によって、前記ヘルプ情報を変更することを特徴とする粒度分布測定装置。
  2. 前記インタフェース機器が、前記試料の種類によってヘルプ情報を変更するものである場合において、試料情報をオペレータが選択するための試料選択画面を表示し、当該試料選択画面により選択された試料情報に基づいて前記ヘルプ情報を変更するものである請求項1記載の粒度分布測定装置。
  3. 前記インタフェース機器が、オペレータのスキル情報によってヘルプ情報を変更するものである場合において、オペレータの熟練度をオペレータが選択するための熟練度選択画面を表示し、当該熟練度選択画面により選択された熟練度に基づいて前記ヘルプ情報を変更するものである請求項1又は2記載の粒度分布測定装置。
  4. 前記インタフェース機器が、オペレータのスキル情報によってヘルプ情報を変更するものである場合において、オペレータのログイン回数及び/又はログイン時間からオペレータのスキル情報を推定するものである請求項1又は2記載の粒度分布測定装置。
  5. 前記インタフェース機器が、前記ヘルプ情報を表示するためのヘルプ表示ボタンを各入力欄毎に表示するものであり、さらに、当該ヘルプ表示ボタンを対応する入力欄の近傍に表示するものである請求項1、2、3又は4記載の粒度分布測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022097477A1 (ja) * 2020-11-06 2022-05-12 住友金属鉱山株式会社 気泡測定装置及び気泡測定方法

Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01285985A (ja) * 1988-05-13 1989-11-16 Toshiba Corp ガイダンス表示装置
JPH02230311A (ja) * 1989-03-02 1990-09-12 Nec Corp インテリジェント端末におけるヘルプ画面の編集表示方式
WO1990012291A1 (en) * 1989-03-31 1990-10-18 Anritsu Corporation Electronic measuring apparatus having general-purpose processing unit
JPH03171218A (ja) * 1989-11-30 1991-07-24 Canon Inc 電子機器
JPH04155217A (ja) * 1990-10-17 1992-05-28 Iwatsu Electric Co Ltd ヘルプ機能付き電子計測器
JPH0535432A (ja) * 1991-07-26 1993-02-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> メニユー出力処理方式
JPH0588832A (ja) * 1991-09-27 1993-04-09 Fuji Electric Co Ltd 操作ガイド画面表示方法
JPH0844520A (ja) * 1994-07-29 1996-02-16 Toshiba Corp 対話装置及び同装置に適用される操作ガイダンス出力方法
JPH1185442A (ja) * 1997-09-03 1999-03-30 Sanyo Electric Co Ltd 情報出力装置
JPH11203006A (ja) * 1998-01-20 1999-07-30 Fujitsu Ltd ユーザ状況推定装置
JP2000348022A (ja) * 1999-06-02 2000-12-15 Ricoh Co Ltd 情報処理装置
JP2002041200A (ja) * 2000-07-21 2002-02-08 Rinku:Kk 画面からのデータの入力方法及び表示入力装置
JP2003194702A (ja) * 2001-12-27 2003-07-09 Horiba Ltd 粒度分布測定装置、表示プログラムおよび記録媒体
JP2004158358A (ja) * 2002-11-07 2004-06-03 Keyence Corp 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体
JP2006146781A (ja) * 2004-11-24 2006-06-08 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像形成装置及び画像形成装置のヘルプ画面表示方法
JP2006202320A (ja) * 2006-03-06 2006-08-03 Sharp Corp 表示装置、表示方法及び記録媒体
JP3848580B2 (ja) * 2002-02-06 2006-11-22 株式会社堀場製作所 粒径分布測定装置
JP2006343155A (ja) * 2005-06-07 2006-12-21 Canon Inc 粒子挙動解析装置、粒子挙動解析方法、プログラム及び記憶媒体
JP2007233830A (ja) * 2006-03-02 2007-09-13 Omron Corp ユーザインターフェイス表示システム、ユーザインターフェイス表示方法、プログラムおよびコンピュータ読取可能記録媒体
JP2009204553A (ja) * 2008-02-29 2009-09-10 Hioki Ee Corp 測定装置、および測定装置における画面表示方法
JP2009216615A (ja) * 2008-03-12 2009-09-24 Hioki Ee Corp 測定装置、および測定装置における画面表示方法
JP2010197148A (ja) * 2009-02-24 2010-09-09 Shimadzu Corp 分析装置、及び、分析制御用プログラム

Patent Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01285985A (ja) * 1988-05-13 1989-11-16 Toshiba Corp ガイダンス表示装置
JPH02230311A (ja) * 1989-03-02 1990-09-12 Nec Corp インテリジェント端末におけるヘルプ画面の編集表示方式
WO1990012291A1 (en) * 1989-03-31 1990-10-18 Anritsu Corporation Electronic measuring apparatus having general-purpose processing unit
JPH03171218A (ja) * 1989-11-30 1991-07-24 Canon Inc 電子機器
JPH04155217A (ja) * 1990-10-17 1992-05-28 Iwatsu Electric Co Ltd ヘルプ機能付き電子計測器
JPH0535432A (ja) * 1991-07-26 1993-02-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> メニユー出力処理方式
JPH0588832A (ja) * 1991-09-27 1993-04-09 Fuji Electric Co Ltd 操作ガイド画面表示方法
JPH0844520A (ja) * 1994-07-29 1996-02-16 Toshiba Corp 対話装置及び同装置に適用される操作ガイダンス出力方法
JPH1185442A (ja) * 1997-09-03 1999-03-30 Sanyo Electric Co Ltd 情報出力装置
JPH11203006A (ja) * 1998-01-20 1999-07-30 Fujitsu Ltd ユーザ状況推定装置
JP2000348022A (ja) * 1999-06-02 2000-12-15 Ricoh Co Ltd 情報処理装置
JP2002041200A (ja) * 2000-07-21 2002-02-08 Rinku:Kk 画面からのデータの入力方法及び表示入力装置
JP2003194702A (ja) * 2001-12-27 2003-07-09 Horiba Ltd 粒度分布測定装置、表示プログラムおよび記録媒体
JP3848580B2 (ja) * 2002-02-06 2006-11-22 株式会社堀場製作所 粒径分布測定装置
JP2004158358A (ja) * 2002-11-07 2004-06-03 Keyence Corp 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体
JP2006146781A (ja) * 2004-11-24 2006-06-08 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像形成装置及び画像形成装置のヘルプ画面表示方法
JP2006343155A (ja) * 2005-06-07 2006-12-21 Canon Inc 粒子挙動解析装置、粒子挙動解析方法、プログラム及び記憶媒体
JP2007233830A (ja) * 2006-03-02 2007-09-13 Omron Corp ユーザインターフェイス表示システム、ユーザインターフェイス表示方法、プログラムおよびコンピュータ読取可能記録媒体
JP2006202320A (ja) * 2006-03-06 2006-08-03 Sharp Corp 表示装置、表示方法及び記録媒体
JP2009204553A (ja) * 2008-02-29 2009-09-10 Hioki Ee Corp 測定装置、および測定装置における画面表示方法
JP2009216615A (ja) * 2008-03-12 2009-09-24 Hioki Ee Corp 測定装置、および測定装置における画面表示方法
JP2010197148A (ja) * 2009-02-24 2010-09-09 Shimadzu Corp 分析装置、及び、分析制御用プログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022097477A1 (ja) * 2020-11-06 2022-05-12 住友金属鉱山株式会社 気泡測定装置及び気泡測定方法

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