JP4923193B2 - ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力リフレッシュ回路および方法 - Google Patents

ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力リフレッシュ回路および方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4923193B2
JP4923193B2 JP2008185427A JP2008185427A JP4923193B2 JP 4923193 B2 JP4923193 B2 JP 4923193B2 JP 2008185427 A JP2008185427 A JP 2008185427A JP 2008185427 A JP2008185427 A JP 2008185427A JP 4923193 B2 JP4923193 B2 JP 4923193B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refresh
signal
command
auto
decoder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008185427A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008287873A (ja
JP2008287873A5 (ja
Inventor
ビー. コーレス,ティモシー
エム. シャーリー,ブライアン
エー. ブロッドジェット,グレッグ
Original Assignee
ラウンド ロック リサーチ、エルエルシー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ラウンド ロック リサーチ、エルエルシー filed Critical ラウンド ロック リサーチ、エルエルシー
Publication of JP2008287873A publication Critical patent/JP2008287873A/ja
Publication of JP2008287873A5 publication Critical patent/JP2008287873A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4923193B2 publication Critical patent/JP4923193B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40611External triggering or timing of internal or partially internal refresh operations, e.g. auto-refresh or CAS-before-RAS triggered refresh
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40615Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2211/00Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C2211/401Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C2211/406Refreshing of dynamic cells
    • G11C2211/4065Low level details of refresh operations
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2211/00Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C2211/401Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C2211/406Refreshing of dynamic cells
    • G11C2211/4067Refresh in standby or low power modes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Description

本発明は、ダイナミックランダムアクセスメモリに関し、より詳細には、自動リフレッシュモードで動作するときにこのようなメモリによって消費され電力を低下させる回路および方法に関する。
集積回路によって消費される電力は、特定の用途にそれらを用いる際には、重要な要因であり得る。例えば、ポータブルパーソナルコンピュータで用いられるメモリによって消費され電力は、それらのコンピュータがこのようなコンピュータに電力を与えるバッテリーを再充電する必要なく用いられ得る時間に非常に大きな影響を与える。また、電力消費は、メモリデバイスがバッテリーによって電力を供給されない場合であっても重要であり得る。なぜなら、メモリデバイスによって生成され熱を制限する必要があるからである。
概して、メモリデバイスの電力消費は、メモリデバイスの容量および動作速度の両方の増加と共に増える。メモリデバイスによって消費され電力は、また、それらの動作モードによって影響を受ける。ダイナミックランダムアクセスメモリ(「DRAM」)は、例えば、概して、DRAMのメモリセルがリフレッシュされているときに比較的大きな電力量を消費する。なぜなら、メモリセルアレイのメモリセルの行が素早いシーケンスで動作されるからである。メモリセルの行が動作される時間毎に、各メモリセルに対する一対のデジットラインは、相補電圧に切り替えられ、その後、均衡する。これにより、非常に大きな電力量を消費する。アレイの行数がメモリ容量の増加と共に増えるため、それにつれて、各列で動作する際に消費する電力も増加する。電力消費はまた、メモリセルの行が作動する速度が増加する場合も増加する。従って、DRAMの動作速度および容量が増加し続けるにつれて、このようなDRAMのメモリセルのリフレッシュの消費電力も同様に増加する。
DRAMのリフレッシュ中に、電力は、また、メモリセルアレイのコンポーネント以外のコンポーネントによっても消費される。例えば、DRAMデバイスは、概して、非常に多くの制御ラインおよびアドレスラインを内部回路に接続するための非常に多くの入力バッファを含んでいる。DRAMがリフレッシュされている間、これらの入力バッファは、それらの各入力に印加された制御信号およびアドレス信号に応答してスイッチし続ける。しかし、いくつかのリフレッシュモードには、制御信号およびアドレス信号は、DRAMによって用いられない。自動リフレッシュモードでは、例えば、自動リフレッシュコマンドがDRAMに印加される。その後、DRAMは、所定の期間にリフレッシュ動作を内部で実行する。この期間に、DRAMは、その入力バッファに印加された制御信号およびアドレス信号に応答しない。しかし、入力バッファは、この間にスイッチし続ける。自動リフレッシュサイクルの多くの数の入力バッファのスイッチングは、電力の無駄である。なぜなら、上記されたように、入力バッファを通って接続された信号は、自動リフレッシュサイクル中には用いられないからである。
過去に、クロック(「CLK」)信号用およびクロックイネーブル(「CKE」)信号用の入力バッファ以外の全ての入力バッファへの電力を除くことにより、自動リフレッシュのDRAMの電力消費を最小化しようという試みがなされてきた。しかし、クロックアクティブ用の入力バッファを残すことにより、その入力バッファは、自動リフレッシュ期間に非常に多くの量の電力を消費することとなった。なぜなら、入力バッファは、各クロック信号遷移とともにトグル(toggle)するからである。電力は、自動リフレッシュ期間中に、クロック信号用の入力バッファへの電力を取り除くことによって大幅に減少され得る。しかし、そのようにすると、スプリアスなスコマンドが自動リフレッシュ期間の終りにレジスタされることとなる。当該分野に公知なように、メモリコマンドは、クロック信号の片方または両方のエッジに応答して、コマンド信号を各ラッチにラッチすることによって、通常レジスタされる。コマンド信号用の入力バッファが自動リフレッシュ期間後に再び電力を与えられている最中にクロックエッジが生じる場合、入力バッファの遷移状態に対応するスプリアスなコマンドがレジスタされ得る。入力バッファの再電力供給が完了するまで、クロック信号遷移をメモリデバイスに接続することを避けるために、注意が払われるが、スプリアスなクロック信号遷移が生成され得る。スプリアスなクロック信号遷移は、クロック信号用の入力バッファが再び電力供給されるときに、クロック信号がハイ論理レベルを有する場合に生成され得る。スプリアスなクロック信号は、コマンド信号用の入力バッファの出力における論理レベルに対応するどんなスプリアスなコマンドもレジスタする。
過去において、自己リフレッシュ期間中に入力バッファから電力を取り除くことによって、自己リフレッシュサイクルに電力を減少させる試みがなされてきた。自己リフレッシュコマンドに対しては、CKE信号のローからハイへの遷移(これは自己リフレッシュの終了を示す)を最初に検出することによってスプリアスなコマンドを避けている。しかし、コマンド信号およびアドレス信号用の入力バッファは、この時には再び電力を供給されない。その代わりに、CLKに接続された小さな入力バッファの出力が試験されて、CLK信号のハイからローへの遷移を検出する。CLK信号のハイからローへの遷移が検出されると、コマンド信号およびアドレス信号用の入力バッファは、再び電力を供給され、その結果、これらの入力バッファは、コマンドおよびアドレスをレジスタするために用いられるCLK信号の次のローからハイへの遷移が生じる時間まで遷移状態ではなくなる
上記のアプローチが、スプリアスなコマンドおよびアドレスをレジスタする危険なく、自己リフレッシュの電力消費を減少させるが、このアプローチは、自動リフレッシュサイクル中での使用には適していない。自己リフレッシュコマンドとは異なり(自己リフレッシュコマンドに対しては、制御規格は、2つのCLK期間の遅延が自己リフレッシュサイクルを抜け出ることを可能にしている)、自動リフレッシュコマンド用の制御規格は、CLK信号のまさに次の立ち上がりエッジに生じるコマンドをレジスタ可能であるDRAMを必要としている。しかし、コマンドおよびアドレス用の入力バッファは、その時に依然として遷移状態であり得ることにより、スプリアスなコマンドまたはアドレスがレジスタされる
自動リフレッシュ中の電力消費を最小化する1つのアプローチは、自動リフレッシュサイクルの開始後の所定の期間に、クロック信号およびクロックイネーブル信号用の入力バッファではなく、コマンドおよびアドレス入力バッファのうちのいくつかから電力を取り除くことである。例えば、自動リフレッシュサイクルが60ナノ秒間続くことが予測される場合、入力バッファは、最初の40ナノ秒間エネルギーを断たれ得る。このアプローチは、自動リフレッシュサイクルに消費される電力を減少するが、入力バッファがエネルギーを与えられている期間は、依然として、多くの電力量を消費可能にしている。概して、自動リフレッシュサイクルのほぼ全期間で、入力バッファのエネルギーを断つことはできない。なぜなら、入力バッファは、自動リフレッシュサイクルの終了よりも前電力が十分に再供給される必要があり、リフレッシュサイクルの終了は常に精度予測され得るとは限らないからである。従って、各自動リフレッシュサイクルの開始所定の期間だけ入力バッファからエネルギーを断つこと依然として、DRAM大きな電力量を消費することになる
従って、スプリアスなコマンドまたはアドレスをレジスタする危険がなく、自動リフレッシュサイクル中にDRAMによって消費され電力より大きく減少させることを可能にする回路および方法が必要である。
本発明の方法および回路は、自動リフレッシュ中にダイナミックランダムアクセスメモリ(「DRAM」)によって消費され電力を減少させる。このDRAMは、第1のセットの入力バッファを含む。この第1のセットの入力バッファを通して、コマンド信号が接続される。この入力バッファは、自動リフレッシュ中はディセーブルされる。従って、それらの入力バッファは、それらの入力に印加された信号に応答して電力を消費することがない。複数のコマンド信号は、バイアスされて、所定のメモリコマンド(例えば、「ノーオペレーション」コマンド)をアサートする。内部自動リフレッシュタイマがタイムアウトすると、このバイアスは、コマンド信号から取り除かれ、入力バッファがイネーブルされる。DRAMがクロック信号を受信した場合このクロック信号の接続される入力バッファも、自動リフレッシュ中にディセーブルされ得る。このような場合、このクロック信号用の入力バッファは、コマンド信号用の入力バッファを再びイネーブルする前に再びイネーブルされ、その結果、コマンド信号入力バッファの再びイネーブルされるタイミングがクロック信号にして制御され得る。DRAMは、また、所定のコマンド信号の状態をチェックし得、自動リフレッシュの終りで、低電力プレ充電モードへとDRAMを遷移させる。
図1は、本明細書中で説明された1つ以上の実施形態を含む、本発明を利用し得る従来のシンクロナスダイナミックランダムアクセスメモリ(「SDRAM」)2のブロック図である。しかし、本発明の種々の実施形態が他のタイプのDRAMにおいて使用され得ることが理解される。SDRAM2の動作は、コマンドデコーダ4によって、制御バス6上で受信されるハイレベルコマンド信号に応答して制御される。メモリコントローラ(図1には示されない)によって一般的に生成されるこれらのハイレベルコマンド信号は、クロックイネーブル信号CKE*、クロック信号CLK、チップ選択信号CS*、書き込みイネーブル信号WE*、ロウアドレスストローブ信号RAS*、カラムアドレスストローブ信号CAS*、およびデータマスク信号DM(「*」はその信号をアクティブローとして表す)である。コマンドデコーダ4は、ハイレベルコマンド信号に応答して一連のコマンド信号を生成して、ハイレベルコマンド信号の各々によって表される機能を実行する。これらのコマンド信号、およびこれらの信号が各々の機能を達成する態様は、一般的である。従って、簡略化の観点から、これらの制御信号のさらなる説明を省略する。
SDRAM2は、アドレスバス14上のロウアドレスまたはカラムアドレスのいずれかを受信するアドレスレジスタ12を含む。アドレスバス14は、一般的にメモリコントローラ(図1には図示されない)に結合される。典型的にはロウアドレスは、アドレスレジスタ12によって最初に受信され、ロウアドレスマルチプレクサ18に印加される。ロウアドレスマルチプレクサ18は、ロウアドレスの一部分を形成するバンクアドレスビットの状態に依存して、2つのメモリバンク20、22のいずれかに関連付けられる複数のコンポーネントにロウアドレスを結合させる。メモリバンク20、22の各々に関連付けられるのは、ロウアドレスを格納する各ロウアドレスラッチ26、およびロウアドレスをデコードして、対応する信号をアレイ20または22の内の1つに印加するロウデコーダ28である。
ロウアドレスマルチプレクサ18はまた、アレイ20、22中のメモリセルをリフレッシュする目的のためにロウアドレスラッチ26にロウアドレスを結合させる。ロウアドレスは、リフレッシュコントローラ32によって制御されるリフレッシュカウンタ30によって、リフレッシュする目的のために生成される。リフレッシュコントローラ32は、次いで、コマンドデコーダ4によって制御される。より詳細には、コマンドデコーダ4は、自動リフレッシュコマンドAREFまたは自己リフレッシュコマンドSREFのいずれかをリフレッシュコントローラ32に印加する。上述のように、これらのコマンドは、リフレッシュコントローラに、2つの対応するモード(すなわち、自動リフレッシュモードまたは自己リフレッシュモード)のうちの1つにおいてアレイ20、22中のメモリセルのロウをリフレッシュさせる。自動リフレッシュモードでは、リフレッシュコントローラ32は、SDRAM2に、リフレッシュカウンタ30を用いて、アレイ中のメモリセルの各ロウをアドレスさせる。従って、上述のように、自動リフレッシュモードでは、外部デバイスがSDRAM2のアドレスバス14にアドレスを印加することが必要ではない。しかし、自動リフレッシュコマンドは、アレイ20、22のメモリセル中に格納されたデータの損失を回避するのに十分なように、定期的かつしばしば、SDRAM2に印加されなければならない。自己リフレッシュモードは、データ損失を回避するのに十分な速度で外部デバイスからSDRAM2にコマンドを定期的に印加する必要がないことを除いて、自動リフレッシュモードと実質的に同じである。その代わりに、一旦、リフレッシュコントローラ32が自己リフレッシュモードに置かれると、リフレッシュコントローラ32は、アレイ20、22のメモリセルからデータの損失を回避するのに十分な頻度で自動リフレッシュを自動的に開始する。
リフレッシュコントローラ32に印加されコマンドは、コマンドデコーダ4に印加されコマンド信号の各組み合わせに対応する。これらのコマンド信号は、CS*、RAS*、CAS*、およびWE*、ならびにCKEである。AREFコマンドまたはSREFコマンドのいずれかをアサートするために、CS*、RAS*、CAS*は、全てアクティブローでなければならず、WE*は、インアクティブハイでなければならない。CKE信号は、SDRAM2がコマンドデコーダに自動リフレッシュコマンドまたは自己リフレッシュコマンドを発生させるかどうかを決定する。CKEがハイである場合、コマンドデコーダ4は、AREFコマンドをリフレッシュコントローラ32に印加する。CKEがローである場合、コマンドデコーダ4は、リフレッシュコントローラ32にSREFコマンドを印加する。AREFコマンドに応答して、SDRAM2は、自動リフレッシュサイクルを経て、次いで、別のAREFコマンドであり得る別のコマンドを待つ。SREFコマンドに応答して、SDRAM2は、自己リフレッシュサイクルを経て、CKE信号がハイに遷移するまで、そうすることを継続する。
ロウアドレスがアドレスレジスタ12に印加され、ロウアドレスラッチ26の内の1つに格納された後、カラムアドレスアドレスレジスタ12に印加される。アドレスレジスタ12は、カラムアドレスをカラムアドレスラッチ40に結合させる。SDRAM2の動作モードに応じて、カラムアドレスは、バーストカウンタ42を介してカラムアドレスバッファ44に結合されるか、または、バーストカウンタ42に結合されて、アドレスレジスタ12によって出力されたカラムアドレスで始まる一連のカラムアドレスをカラムアドレスバッファ44に印加する。いずれの場合においても、カラムアドレスバッファ44は、カラムアドレスをカラムデコーダ48に印加し、種々のカラム信号を対応するセンスアンプに印可し、各アレイ20、22の内の1つに対して対応するセンスアンプおよびそれに関連するカラム回路50、52に種々のカラム信号を印可する。
アレイ20、22の内の1つから読み出されるべきデータは、アレイ20、22の内の1つに対するカラム回路50、52にそれぞれ結合される。次いで、データは、データ出力レジスタ56に結合され、このデータをデータ出力レジスタ56がデータバス58に印可する。アレイ20、22の内の1つに書き込まれるべきデータは、データ入力レジスタ60を介してデータバス58からカラム回路50、52に結合され、カラム回路50、52において、データは、アレイ20、22の内の1つにそれぞれ移動される。マスクレジスタ64は、データマスクDM信号に応答して、アレイ20、22から読み出されるべきデータを選択的にマスキングすること等によって、カラム回路50、52へのデータの流れおよびそこからデータの流れを選択的に変更する。
自動リフレッシュサイクルに、SDRAM2またはいくつかの他のDRAMの電力消費を低減するための省電力回路100の一実施形態が図2に示される。図2の省電力回路100のほとんどは、図1のSDRAM2のコマンドデコーダ4に組み込まれるが、省電力回路100の一部は、アドレスレジスタ12に組み込まれる。しかし、図2に示される省電力回路100は、図1のSDRAM2の他の部分または他のタイプのメモリデバイスに配置され得る。
省電力回路100は、外部アドレスバス14を内部アドレスバス106に結合させ、複数の内部アドレスビットIA0―IANをそれに対応する外部アドレスビットA0−ANから提供する第1のセットの入力バッファ102を含む。入力バッファ102は、アドレスレジスタ12に配置されるが、上述のように、入力バッファ102もまた、他の場所に配置されてもよい。入力バッファ102は、アクティブハイIBENADD信号によってイネーブルされる。同様に、第2のセットの入力バッファ110は、外部制御バス6を内部制御バス116に結合させ、複数の内部コマンド信号IC0−ICNをそれに対応する外部コマンド信号から供給する。これらのコマンド信号は、アクティブローアドレスストローブ(「RAS*」)信号、アクティブローカラムアドレスストローブ(「CAS*」信号、アクティブロー書き込みイネーブル(「WE*」)信号、ならびにアクティブローチップ選択(「CS*」)信号を含む。アクティブハイクロックイネーブルCKE信号は、入力バッファ120を介して結合され、内部クロックイネーブル(「ICKE」)信号を生成し、外部クロック(「XCLK」)信号が入力バッファ124を介して結合され、内部クロック(「ICLK」)信号を生成する。第2のセットの入力バッファ110およびICLK信号用の入力バッファ124がアクティブハイIBENCLK信号によってイネーブルされる。コマンド信号用の入力バッファ110は、バッファ110の「Z」入力に印加されるローコマンド入力バッファイネーブルIBENCMDによって「3状態(tri−state)」(すなわち、ハイインピーダンス)状態にスイッチングされ、また、ハイIBENCMD信号によってアクティブローインピーダンス状態にスイッチングされ得る。
IBENCMD信号は、供給電圧と各内部コマンド信号線との間に結合されるいくつかのPMOSトランジスタ130〜134のゲートおよびインバータ138の入力に結合される。次いでインバータ138は、グランドとICS*信号線との間に結合されたNMOSトランジスタ136のゲートに結合され。入力バッファ110がハイIBENCLK信号によってイネーブルされた後、入力バッファ110が省電力回路100の動作に影響を与えないように、IBENCMD信号がハイに遷移して、入力バッファ110を低インピーダンス状態にスイッチングし、かつ、トランジスタ130〜136をターンオフする。入力バッファ110がローIBENCMD信号によってハイインピーダンス状態にスイッチングされると、トランジスタ130−136がターンオンされ、それらが結合されている各内部コマンド信号ハイにバイアスする。
入力バッファ110からの内部コマンド信号IRAS*、ICAS*、IWE*、ICS*、および他の内部コマンド信号は、コマンドデコーダユニット140に印加される。コマンドデコーダユニット140は、その入力に印可されるコマンド信号の種々の組み合わせから、自動リフレッシュコマンドAREFを含む複数のメモリコマンドを発生させる。上述のように、AREFコマンドは、IRAS*、ICAS*、およびICS*がアクティブローにデコードされ、かつ、IWE*インアクティブハイデコードされたことに応答してアサートされる。
自動リフレッシュコマンドAREFは、内部クロックICLK信号および内部クロックイネーブルICKE信号と共にリフレッシュデコーダ150に印加される。ICKE信号の状態に基づいて、リフレッシュデコーダ150は、AREFコマンドが自動リフレッシュ用であるか、またはAREFコマンドが自己リフレッシュ用であるかどうかを決定する。ICKEがハイである場合、AREFコマンドは、自動リフレッシュコマンドとして解釈される。この場合、リフレッシュデコーダ150は、AREFコマンドをAREF’コマンドとして出力端子に渡す。ICKEがローである場合、AREFコマンドは、自己リフレッシュコマンドとして解釈される。この場合、リフレッシュデコーダ150は、SREFコマンドを発生させる。リフレッシュデコーダ150のコマンドは、ICKE信号がハイに遷移するまでSREFコマンドの発生を継続する。
AREFコマンドタイマー154に印加され、所定の期間の後、TOUTパルスを発生させる。TOUTパルスは、リフレッシュデコーダ150にAREF’コマンドを終了させ、それにより、自動リフレッシュサイクルを終了する。
入力バッファ110、120、124、ならびにトランジスタ130〜136、インバータ138、コマンドデコーダユニット140、リフレッシュデコーダ150およびタイマー154は、コマンドデコーダ4内に配置されるものとして、図2に示される。しかし、上述したように、これらのコンポーネントは、代替的にSDRAM2または他のメモリデバイス内の他の場所に配置され得る。
ここで、省電力回路100の動作は、図3のタイミングを参照して説明される。自動リフレッシュAREFコマンドを構成する制御信号の組み合わせ(「CMD」)、時間T0においてSDRAM2に印加され、時間T1において外部クロックCLK信号の立ち上がりエッジによって記録される。外部クロックイネーブルCKE信号は、時間T1においてハイであり、AREFコマンドは、自己リフレッシュコマンドではなく自動リフレッシュコマンドとして記録される。その結果、コマンドデコーダ140(図2)はハイのAREF’信号を生成し、そして、リフレッシュデコーダ(図2)は、T1よりも少々後に、SREF信号ではなくハイAREF’信号を生成し、自動リフレッシュサイクル開始される。コマンドデコーダユニット140によって生成されるAREFコマンドはまた、タイマー154をトリガする。タイマー154は、自動リフレッシュサイクルの期間を制御する。AREF信号の開始に応じて、リフレッシュデコーダ150はまた、IBENDD、IBENCMD、およびIBENCLK信号をロー駆動する。それにより、入力バッファ102、110、124をディーブルにする。その後、入力バッファ102、110、124は、そのそれぞれの入力に印加される信号遷移に応じないので、信号遷移が急に生じる場合でさえも、電力を消費しない。結果として、SDRAM2は、自動リフレッシュモード、比較的少ししか電力を消費しない。ローのIBENCMD信号は、トランジスタ130〜136をONにし、それにより、自動リフレッシュサイクル、IRAS*、ICAS*、IWE*信号をハイに維持し、IC*信号をローに維持する。この様態でこれらの信号を駆動することは、ノーオペレーション(「NOP」)コマンドをアサートする。しかし、クロック入力バッファ124は、時間T1においてローに遷移するIBENCLKによってディセーブルされるので、コマンドデコーダユニット140は、ノーオペレーション(「NOP」)コマンドとしてこれらの信号を記録およびデコードしない。
タイマー154は、時間T2においてTOUTパルスを生成する。それにより、リフレッシュデコーダ150は、AREF’信号をローに遷移させて、自動リフレッシュサイクルを終了させる。リフレッシュデコーダ150はまた、時間T2においてIBENCLK信号をハイ駆動し、入力バッファ124を介してCLK信号を結合する。外部クロックCLK信号が時間T2でローである場合、入力バッファ124をイネーブルにしても、CLK信号の次の立ち上がりエッジまでなにも影響がない。しかし、CLK信号が時間T2においてハイである場合、時間T2においてバッファ124をイネーブルにすることは、入力バッファ124の出力におけるICLK信号を時間T2において遷移させる。これは、入力バッファ110の出力におけるコマンド信号を有効なメモリコマンドとして記録する。しかし、IBENCMDは時間T2において依然としてローであるので、メモリコマンドは、NOPコマンドとして記録される。NOPコマンド、SDRAM2どんなメモリ動作実行させない。意義深いことに、スプリアスICLK立ち上がりエッジSDRAM2スプリアスコマンドを記録させることはない。もしIRAS*、ICAS*、IWE*、ICS*信号がNOPコマンドにバイアスされていなければ、スプリアスコマンドを記録することが起こりえたであろう。リフレッシュデコーダ150は、IBENCLK信号をハイに遷移させてから一定期間に、IBENCMD信号をハイに遷移する。ハイIBENCMD信号は、コマンド信号のための入力バッファ110の出力をローインピーダンス状態にスイッチし、トランジスタ130〜136をOFFにする。そして、IRAS*、ICAS*、IWE*信号は、もはやハイにバイアスされず、ICS*信号は、もはやローにバイアスされない。図3を参照すると、リフレッシュデコーダ150はまた、時間T3においてIBENADD信号をハイに遷移する。しかし、リフレッシュデコーダ150は、時間T2または他のいくつかの時間においてIBENADD信号をハイに遷移し得る。
省電力回路100は、従って、自動リフレッシュサイクル、SDRAM2によって消費される電力を減少する。これは、コマンド信号のための入力バッファ110が自動リフレッシュ期間の終了時にイネーブルされることに応じてスプリアスなメモリコマンドが記録される可能性を避けるように、行われる
省電力回路200の別の実施形態を図4に示す。省電力回路200は、図2に示される省電力回路100と実質的に同一であり、実質的に同様の様態で動作する。従って、簡潔のために、省電力回路100に用いられる回路コンポーネントと同一である、省電力回路200に用いられる回路コンポーネントは、同様の参照符号が提供される。回路コンポーネントの動作の説明は繰り返されない。省電力回路200は、常にイネーブルにされる入力バッファ220を用いて外部クロックCLK信号から内部クロックICLK信号を生成するという点で、省電力回路100と異な。省電力回路200はまた、内部クロックバッファ230を含む。内部クロックバッファ230は、IBENCLK信号によってイネーブルにされる。
省電力回路200の動作は、実質的に省電力回路100と同じである。詳細には、AREFコマンドの記録に応答して、入力バッファ102、110、および内部クロックバッファ230をディセーブルにするために、IENCMD、IBENADD、およびIBENCLK信号はローに遷移する。結果として、入力バッファ102、110も内部クロックバッファ230より下流の回路部(図示せず)も、AREFコマンドに応答して開始される自動リフレッシュサイクル中に電力を消費しない。しかし、クロック信号のための入力バッファ220およびICLK信号に応答するリフレッシュデコーダ150内の回路部は、自動リフレッシュサイクル中に電力を消費する。タイマー154がタイムアウトしてTOUTパルス生成した場合、リフレッシュデコーダ150は、それに先立つICLK信号の立ち上がりエッジの後、ICLK信号の周期の半分だけ単に待機し、IBENCMD、IBENADD、およびIBENCLK信号をハイに遷移する。従って、省電力回路200は、図2の省電力回路100より多くの電力を消費する欠点を有するが、スプリアスコマンドを生成することなく、入力バッファ102、110をイネーブルにすることを可能にする利点を有する。
省電力回路300の別の実施形態を図5に示す。省電力回路300はまた、図2に示される省電力回路100と極めて類似し、最初は、実質的に同様の様態で動作する。従って、簡潔のために、省電力回路100に用いられる回路コンポーネントと同一である、省電力回路300に用いられる回路コンポーネントは、同様の参照符号が提供される。回路コンポーネントの動作の説明は繰り返されない。省電力回路300は、SDRAM2が、あるモードで動作することを可能にさせるという点で、省電力回路100と異なる。このモードは、減少した電力の自動リフレッシュサイクルの最後に、SDRAM2を省電力プレチャージモードに自動的に遷移する。図2の省電力回路100に用いられるコンポーネントに加えて、図5の省電力回路は、モードデコーダ310を含む。モードデコーダ310は、CKE信号およびDM入力端子に印加されるデータマスク(「DM」)信号をデコードする。上述したように、DM信号、SDRAM2から読み出されるか、またはSDRAM2に書き込まれるデータをマスクするのに用いられる。従って、DM端子は、SDRAM2のリフレッシュ中に必要とされない。なぜなら、データは、SDRAM2から読み出されず、またSDRAM2に書き込まれないからである。図5に示される実施形態においてはDM入力端子が用いられるが、リフレッシュ中に使用されないいくつか他の端子が、自動リフレッシュコマンドをアサートするために用いられ得ることは、理解される。
モードデコーダ310は、以下のようにこれらの信号をデコードする。
従って、AREFまたはSREFコマンドがアサートされるときにDM信号がハイ(“1”)である場合、SDRAM2は、従来の様態で動作する。しかし、AREFコマンドがアサートされるときにDM信号がロー(“0”)である場合、SDRAM2は、CKE信号の状態に関わらず、先に図2および3を参照して述べたロー電力AREFモードで動作する。AREFコマンドがアサートされる時または自動リフレッシュ中のいつでもCKE信号がハイであると、TOUTパルスがAREFサイクルの終わりに生成されるときに、SDRAM2はノーマル動作モードに戻って、別のメモリコマンドを待つ。しかし、AREFコマンドがアサートされた時にCKE信号がローであり、かつ、自動リフレッシュサイクルの全体を通してローのままであれば、TOUTパルスがAREFサイクルの終わりに生成されるときに、リフレッシュデコーダ150’がアクティブハイロー電力プレチャージ(「LPP」)信号を生成する。ロー電力プレチャージモードにおいてまた、SDRAM2はロー電力のAREFモードのままであ、リフレッシュデコーダ150’はAREFサイクルの終わりにIBENCMD、IBENADD、およびIBENCLK信号をハイに遷移しない。SDRAM2における回路部(図示せず)は、ハイLPP信号に応答して、メモリアレイ20、22(図1)に格納されるデータを保持するための電力を供給される必要がない、SDRAM2における回路コンポーネントから電力を除去し得る。例えば、電力は、コマンドデコーダ4(図1)、カラムデコーダ48、およびロウデコーダ28の一部から除去し得る。
SDRAM2は、CKE信号がハイ(“1”)に遷移するまで、上記のロー電力AREFモードおよびロー電力プレチャージモードのままである。また、上述のように、CKE信号がAREFサイクル中の任意の時間においてハイに遷移する場合、アクティブハイLPP信号は、AREFサイクルの終わりに生成されない。CKE信号がハイに遷移するとき、リフレッシュデコーダ150’は、上記のように、IBENCMD、IBENADD、およびIBENCMD信号をアクティブハイに遷移する。リフレッシュデコーダ150’はまた、LPP信号をイナクティブローに遷移し、SDRAM2における回路部に電力を再印加する。従って、LPPモードを伴うロー電力AREFモードは、自動リフレッシュサイクル中SDRAM2によって消費される電力を最小化するだけでなく、自動リフレッシュサイクルの終わりに、SDRAM2を、さらに少ない電力が消費される動作モードに自動的にスイッチする。
図5に示される省電力回路300は、DM信号を用いて、ロー電力プレチャージモードを伴うロー電力自動リフレッシュモードとロー電力プレチャージモードを伴わないロー電力自動リフレッシュモードとを区別するが、これらのモード間を区別する他の手段が用いられ得る。例えば、従来のモードレジスタ(図示せず)を用いれば選択された動作モードを示すために、SDRAM2の初期化中に1以上のビットを用いてプログラムすることができる
図6は、SDRAM2またはいくつかの他のメモリデバイスを用い得るコンピュータシステム400の実施形態を示す。いくつかの他のメモリデバイスは、本明細書中に記載される省電力回路の実施形態または本発明による省電力回路のいくつかの他の実施形態を含む。コンピュータシステム400は、例えば、特定の計算またはタスクを実行するための特定のソフトウェアの実行といった、多様なコンピューティング機能を実行するためのプロセッサ402を含む。プロセッサ402は、アドレスバス、コントロールバス、およびデータバスを通常含むプロセッサバス404を含む。さらに、コンピュータシステム400は、例えば、プロセッサ402に結合されるキーボードまたはマウスといった1つ以上の入力デバイス414を含む。1つ以上の入力デバイス414により、オペレータは、コンピュータシステム400とインターフェースをとることが可能になる。典型的に、コンピュータシステム400はまた、例えば、プリンタまたはビデオ端子である出力デバイスといった、プロセッサ402に結合される1つ以上の出力デバイスを含む。1つ以上のデータ格納デバイス418はまた、一般に、プロセッサ402に結合され、外部格納メディア(図示せず)からのデータを格納するか、またはデータを取り出す。典型的な格納デバイス418の例示は、ハード、フロッピー(登録商標)ディスク、テープカセット、およびコンパクトディスクリードオンリーメモリ(CD−ROM)を含む。プロセッサ402はまた、典型的に、一般にスタティックランダムアクセスメモリ(「SRAM」)であるキャッシュメモリ426に結合され、かつ、メモリコントローラ430を介してSDRAM2に結合される。メモリコントローラ430は、アドレスバス14(図示せず)に結合されるアドレスバスを含み、上述のように、ロウアドレスおよびカラムアドレスをDRAM2に結合する。メモリコンロローラ430は、前述のように、DRAM2にロウアドレスおよびカラムアドレス結合するように、アドレスバス14(図1)に結合されたアドレスバスを含む。メモリコントローラ430はまた、SDRAM2のコントロールバス6にコマンド信号を結合するコントロールバスを含む。SDRAM2の外部データバス58は、メモリコントローラ430に直接か、またはメモリコントローラ430を介して、プロセッサ402のデータバスに結合される。メモリコントローラ430は、適切なコマンド信号をSDRAM2に印加する。これにより、SDRAM2は、上述の1つ以上の省電力モードにおいて動作する。
前述から、本発明の特有の実施形態が例示の目的のために記載されてきたが、多様な変更が本発明の意図および範囲から逸脱することなくなされ得ることは理解される。従って、本発明は、添付の特許請求の範囲によって限定される以外は、限定されない。
図1は、従来のメモリデバイスのブロック図であり、この図において、本発明の省電力回路が用いられ得る。 図2は、本発明による省電力回路の1つの実施形態のブロック図である。 図3は、図2の省電力回路に存在する様々な信号を示すタイミング図である。 図4は、本発明に従う省電力回路の別の実施形態のブロック図である。 図5は、本発明に従う省電力回路のさらに別の実施形態のブロック図である。 図6は、本発明に従う省電力回路を含むメモリデバイスを用いるコンピュータシステムのブロック図である。

Claims (11)

  1. ダイナミックランダムアクセスメモリ(「DRAM」)の自動リフレッシュに、該ダイナミックランダムアクセスメモリにおいて使用される省電力回路であって、
    入力バッファの第1のセットであって、該入力バッファに印加される外部コマンド信号から各内部コマンド信号を発生させるように動作可能であり、かつ、第1の制御信号が印加されることによってディセーブルされる、入力バッファの第1のセットと、
    第2の制御信号が印加されることに応答して前記各内部コマンド信号のうちの少なくとも一つをバイアスして、バイアスが施されている期間中は、バイアスされたコマンド信号をアサートするように動作可能であるバイアス回路と、
    DRAMのリフレッシュを指示する少なくとも1つの内部コマンドをデコードし、そのデコードに応じて自動リフレッシュ信号を出力して自動リフレッシュサイクルを開始するように動作可能であるリフレッシュデコーダと、
    外部クロック信号が印加されて内部クロック信号を発生させるクロック入力バッファと
    を含み
    前記リフレッシュデコーダが、前記自動リフレッシュサイクル中には、前記第1の制御信号を前記入力バッファの第1のセットに印加することで、前入力バッファの第1のセットをディセーブルし、その後、前記自動リフレッシュサイクルの終了時に、前記第1の制御信号を前記入力バッファの第1のセットから除去することで、前入力バッファの第1のセットをイネーブルするように動作可能であって、これにより、低電力の自動リフレッシュを可能にし、また、
    前記リフレッシュデコーダが、前記自動リフレッシュサイクルの終了時に前記入力バッファの第1のセットのうちの少なくともいくつかがイネーブルされるよりも前に、前記第2の制御信号を前記バイアス回路に印加することで、前記バイアス回路に、前記バイアスされたコマンド信号をアサートさせ、その後、前記自動リフレッシュサイクルの終了時に前記入力バッファの第1のセットのすてがイネーブルされた後に、前記第2の制御信号を前記バイアス回路から除去して前記バイアスを解除することで、前記バイアスされたコマンド信号をアサートすると共に前記各内部コマンド信号のうちの前記少なくとも一つを再びアサートするように動作可能であって、これにより、前記入力バッファにスプリアスな信号が発生することを防止する
    ことを特徴とする省電力回路。
  2. 記クロック入力バッファは、前記第1の制御信号が印加されることによってディセーブルされ、
    前記リフレッシュデコーダは、前記DRAMの自動リフレッシュサイクルに前記第1の制御信号を発生させるように動作可能である、請求項1に記載の省電力回路。
  3. 前記リフレッシュデコーダは、前記第1の制御信号を終了させてから一定期間後に、前記第2の制御信号を終了させるように動作可能である請求項1に記載の省電力回路。
  4. 前記バイアス回路は、前記少なくとも1つの内部コマンド信号が結合される前記第1のセットの入力バッファの出力端子に結合されるトランジスタを含む、請求項1に記載の省電力回路。
  5. 前記バイアス回路は、複数の内部コマンド信号のそれぞれを、ノーオペレーションコマンドをアサートする状態にバイアスするように動作可能である、請求項1に記載の省電力回路。
  6. 前記リフレッシュデコーダは、
    前記DRAMのリフレッシュを指示する前記少なくとも1つの内部コマンドをデコードし、該内部コマンドに応答して、自動リフレッシュコマンドを発生させるように動作可能である第1のデコーダと、
    該第1のデコーダに結合されたタイマーであって、該タイマーは、該自動リフレッシュコマンドによってトリガされて、該自動リフレッシュコマンドの所定期間後にリフレッシュ終了信号を発生させる、タイマーと、
    該第1のデコーダおよび該タイマーに結合された第2のデコーダであって、該第2のデコーダは、該自動リフレッシュコマンドに応答して、前記自動リフレッシュ信号ならびに前記第1および第2の制御信号を発生させるように動作可能であり、該第2のデコーダは、前記リフレッシュ終了信号に応答して、前記自動リフレッシュ信号および前記第1の制御信号を終了させ、また、前記第1の制御信号の終了から一定期間後に前記第2の制御信号を終了させるように動作可能である、第2のデコーダと
    を含み、
    記第2のデコーダが、前記自動リフレッシュサイクル中には、前記第1の制御信号を前記入力バッファの第1のセットに印加することで、前入力バッファの第1のセットをディセーブルし、その後、前記自動リフレッシュサイクルの終了時に、前記第1の制御信号を前記入力バッファの第1のセットから除去することで、前入力バッファの第1のセットをイネーブルするように動作可能であって、これにより、低電力の自動リフレッシュを可能にし、また
    前記第2のデコーダが、前記自動リフレッシュサイクルの終了時に前記入力バッファの第1のセットのうちの少なくともいくつかがイネーブル状態にされるよりも前に、前記第2の制御信号を前記バイアス回路に印加することで、前記バイアスされたコマンド信号をアサートさせ、その後、前記自動リフレッシュサイクルの終了時に前記入力バッファの第1のセットのすてがイネーブル状態にされた後に、前記第2の制御信号を前記バイアス回路から除去して前記バイアスを解除することで、前記バイアスされたコマンド信号をアサートすると共に前記各内部コマンド信号のうちの前記少なくとも一つを再びアサートするように動作可能であって、これにより、前記入力バッファにスプリアスな信号が発生することを防止する
    ことを特徴とする、請求項1に記載の省電力回路。
  7. 記リフレッシュデコーダが、クロックイネーブル信号およびデータマスク信号の各状態を検出するようにさらに動作可能であり、前記クロックイネーブル信号および前記データマスク信号の状態にはそれぞれ第1の状態(“0”)および前記第1の状態とは論理的逆である第2の状態(“1”)があり、
    前記リフレッシュデコーダが、自動リフレッシュコマンドのデコード、ならびに前記クロックイネーブル信号の前記第1の状態(“0”)および前記データマスク信号の前記第の状態(“1”)の検出に応答して、前記DRAMの自己リフレッシュを実行するように動作可能であり、
    前記リフレッシュデコーダが、自動リフレッシュコマンドのデコード、ならびに前記クロックイネーブル信号の前記第2の状態(“1”)および前記データマスク信号の前記第の状態(“1”)の検出に応答して、前記DRAMの自動リフレッシュを実行するように動作可能であり、
    前記リフレッシュデコーダが、自動リフレッシュコマンドのデコード、ならびに前記クロックイネーブル信号の前記第の状態(“1”)および前記データマスク信号の前記第の状態(“0”)の検出に応答して、前記DRAMの自動リフレッシュを実行すると共に前記第1および第2の制御信号を発生させるように動作可能であって、これにより、低電力プレチャージを伴わない低電力自動リフレッシュを可能にし
    前記リフレッシュデコーダが、自動リフレッシュコマンドのデコード、ならびに、前記クロックイネーブル信号の前記第の状態(“0”)および前記データマスク信号の前記第の状態(“0”)の検出に応答して、前記DRAMの自動リフレッシュを実行すると共に前記第1および第2の制御信号を発生させ、その後、自動リフレッシュサイクル全体を通して前記クロックイネーブル信号が前記第1の状態(“0”)のままであることに応答して、自動リフレッシュサイクルの終了時に、前記入力バッファの第1のセット以外の前記DRAMのコンポーネントをディセーブルするように動作可能であって、これにより、低電力プレチャージを伴う低電力自動リフレッシュを可能にする、
    ことを特徴とする、請求項1記載の省電力回路。
  8. 前記クロック入力バッファは、前記第1の制御信号が印加されることによってディセーブルされる、請求項に記載の省電力回路。
  9. 前記クロックイネーブル信号の前記第の状態(“1”)および前記データマスク信号の前記第の状態(“0”)が検出された場合、前記リフレッシュデコーダは、前記自動リフレッシュの終了時に前記第1の制御信号を終了させてから一定期間後に、前記第2の制御信号を終了させるように動作可能であり、
    前記クロックイネーブル信号の前記第の状態(“0”)および前記データマスク信号の前記第の状態(“0”)が検出された場合、前記リフレッシュデコーダは、前記自動リフレッシュの終了時に前記第1および前記第2の制御信号の発生を継続するようにさらに動作可能である、請求項に記載の省電力回路。
  10. ダイナミックランダムアクセスメモリ(「DRAM」)において使用される請求項1記載の省電力回路であって、
    前記ダイナミックランダムアクセスメモリ(「DRAM」)は、
    外部端子に印加されるロウアドレス信号を受信かつデコードするように動作可能なロウアドレス回路と、
    外部端子に印加されるカラムアドレス信号を受信かつデコードするように動作可能なカラムアドレス回路と、
    ダイナミックランダムアクセスメモリセルのアレイであって、該デコードされたロウアドレス信号および該デコードされたカラムアドレス信号によって決定された位置に、該アレイに書き込まれたデータを格納するように動作可能である、ダイナミックランダムアクセスメモリセルのアレイと、
    該アレイと外部データ端子との間の該データに対応するデータ信号を結合するように動作可能なデータパス回路と、
    各内部コマンド信号を発生させるために、各外部端子に印加され、第1のセットの入力バッファを介して結合されるコマンド信号に対応する制御信号のシーケンスを発生させるように動作可能なコマンド信号発生器と、
    を含ことを特徴とする省電力回路。
  11. コンピュータシステムにおいて使用されるDRAMにおいて使用される請求項10記載の省電力回路であって、
    前記コンピュータシステムは、
    プロセッサバスを有するプロセッサと、
    データが該コンピュータシステムに入力されることを可能にするように適応された該プロセッサバスを介して該プロセッサに結合される入力デバイスと、
    データが該コンピュータシステムから出力されることを可能にするように適応された該プロセッサバスを介して該プロセッサに結合される出力デバイスと、
    複数のロウアドレスビットを有するロウアドレスに続いて、複数のカラムアドレスビットを有するカラムアドレスを発生させるメモリコントローラであって、該メモリコントローラは、該複数のカラムアドレスビットを発生させる前に、アレイ選択信号を発生させ、該アレイ選択信号は、カラムアドレスビットに対応し、第1の状態または前記第1の状態とは論理的逆である第2の状態を有する、前記ダイナミックランダムアクセスメモリに接続したメモリコントローラと
    を含ことを特徴とする省電力回路。
JP2008185427A 2001-10-18 2008-07-16 ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力リフレッシュ回路および方法 Expired - Fee Related JP4923193B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/056,935 2001-10-18
US10/056,935 US6771553B2 (en) 2001-10-18 2001-10-18 Low power auto-refresh circuit and method for dynamic random access memories

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003537075A Division JP2005506647A (ja) 2001-10-18 2002-10-16 ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力自動リフレッシュ回路および方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008287873A JP2008287873A (ja) 2008-11-27
JP2008287873A5 JP2008287873A5 (ja) 2009-08-13
JP4923193B2 true JP4923193B2 (ja) 2012-04-25

Family

ID=22007458

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003537075A Pending JP2005506647A (ja) 2001-10-18 2002-10-16 ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力自動リフレッシュ回路および方法
JP2008185427A Expired - Fee Related JP4923193B2 (ja) 2001-10-18 2008-07-16 ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力リフレッシュ回路および方法

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003537075A Pending JP2005506647A (ja) 2001-10-18 2002-10-16 ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力自動リフレッシュ回路および方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US6771553B2 (ja)
EP (1) EP1446804B1 (ja)
JP (2) JP2005506647A (ja)
KR (1) KR100779871B1 (ja)
CN (2) CN101714406A (ja)
WO (1) WO2003034435A1 (ja)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6771553B2 (en) * 2001-10-18 2004-08-03 Micron Technology, Inc. Low power auto-refresh circuit and method for dynamic random access memories
US6957307B2 (en) * 2002-03-22 2005-10-18 Intel Corporation Mapping data masks in hardware by controller programming
JP2003297083A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6731548B2 (en) * 2002-06-07 2004-05-04 Micron Technology, Inc. Reduced power registered memory module and method
US7124260B2 (en) * 2002-08-26 2006-10-17 Micron Technology, Inc. Modified persistent auto precharge command protocol system and method for memory devices
US20050088894A1 (en) * 2003-10-23 2005-04-28 Brucke Paul E. Auto-refresh multiple row activation
KR100587077B1 (ko) * 2004-04-28 2006-06-08 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치에 사용되는 클락 인에이블 신호용 버퍼 장치
US20060218424A1 (en) * 2005-03-23 2006-09-28 Miron Abramovici Integrated circuit with autonomous power management
US7206234B2 (en) * 2005-06-21 2007-04-17 Micron Technology, Inc. Input buffer for low voltage operation
KR100819683B1 (ko) * 2005-07-04 2008-04-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
US7433261B2 (en) * 2005-10-17 2008-10-07 Infineon Technologies Ag Directed auto-refresh for a dynamic random access memory
US7330391B2 (en) * 2005-10-17 2008-02-12 Infineon Technologies Ag Memory having directed auto-refresh
US20070086261A1 (en) * 2005-10-17 2007-04-19 Freebern Margaret C Directed auto-refresh for a dynamic random access memory
JP4916699B2 (ja) 2005-10-25 2012-04-18 エルピーダメモリ株式会社 Zqキャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置
KR100810060B1 (ko) * 2006-04-14 2008-03-05 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자 및 그의 구동방법
JP4829029B2 (ja) 2006-08-02 2011-11-30 株式会社東芝 メモリシステム及びメモリチップ
US7733731B2 (en) 2007-03-05 2010-06-08 Micron Technology, Inc. Control of inputs to a memory device
US8874831B2 (en) 2007-06-01 2014-10-28 Netlist, Inc. Flash-DRAM hybrid memory module
WO2009076511A2 (en) * 2007-12-12 2009-06-18 Zmos Technology, Inc. Memory device with self-refresh operations
US8045416B2 (en) * 2008-03-05 2011-10-25 Micron Technology, Inc. Method and memory device providing reduced quantity of interconnections
US8369178B2 (en) 2010-03-08 2013-02-05 Micron Technology, Inc. System and method for managing self-refresh in a multi-rank memory
US8446793B2 (en) 2010-03-31 2013-05-21 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device including clock control circuit and method for operating the same
KR20120070436A (ko) 2010-12-21 2012-06-29 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
JP5795513B2 (ja) 2011-09-28 2015-10-14 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. 半導体装置
KR101878902B1 (ko) * 2011-10-04 2018-07-17 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그의 구동 방법
KR101980162B1 (ko) * 2012-06-28 2019-08-28 에스케이하이닉스 주식회사 메모리
US9251048B2 (en) 2012-10-19 2016-02-02 International Business Machines Corporation Memory page management
US9183917B1 (en) 2012-12-21 2015-11-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device, operating method thereof, and system having the memory device
KR20140081288A (ko) * 2012-12-21 2014-07-01 삼성전자주식회사 메모리 장치의 커맨드 제어 회로 및 이를 포함하는 메모리 장치
TW201437805A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 Wistron Corp 電子裝置及其電源管理方法
KR102174818B1 (ko) * 2014-04-07 2020-11-06 에스케이하이닉스 주식회사 휘발성 메모리, 이를 포함하는 메모리 모듈 및 메모리 모듈의 동작 방법
KR20170045795A (ko) * 2015-10-20 2017-04-28 삼성전자주식회사 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템
WO2018081746A1 (en) * 2016-10-31 2018-05-03 Intel Corporation Applying chip select for memory device identification and power management control
KR20180047778A (ko) * 2016-11-01 2018-05-10 삼성전자주식회사 단계별 저전력 상태들을 갖는 메모리 장치
JP2021047829A (ja) * 2019-09-20 2021-03-25 キヤノン株式会社 メモリ制御装置およびその制御方法
CN110821633A (zh) * 2019-10-28 2020-02-21 奇瑞汽车股份有限公司 一种无级风扇在发动机控制器更新软件过程中的控制方法

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3359827A (en) * 1964-09-14 1967-12-26 Gen Motors Corp Transmission
US5262998A (en) * 1991-08-14 1993-11-16 Micron Technology, Inc. Dynamic random access memory with operational sleep mode
US5831467A (en) * 1991-11-05 1998-11-03 Monolithic System Technology, Inc. Termination circuit with power-down mode for use in circuit module architecture
US5450364A (en) 1994-01-31 1995-09-12 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for production testing of self-refresh operations and a particular application to synchronous memory devices
US6175901B1 (en) * 1994-04-15 2001-01-16 Micron Technology, Inc. Method for initializing and reprogramming a control operation feature of a memory device
US5400289A (en) 1994-07-15 1995-03-21 Micron Technology, Inc. Lockout circuit and method for preventing metastability during the termination of a refresh mode
US5787489A (en) * 1995-02-21 1998-07-28 Micron Technology, Inc. Synchronous SRAM having pipelined enable
US5848431A (en) * 1995-02-21 1998-12-08 Micron Technology, Inc. Synchronous SRAMs having multiple chip select inputs and a standby chip enable input
US6205514B1 (en) * 1995-02-21 2001-03-20 Micron Technology, Inc. Synchronous SRAM having global write enable
US6094703A (en) * 1995-02-21 2000-07-25 Micron Technology, Inc. Synchronous SRAM having pipelined memory access enable for a burst of addresses
US5636173A (en) 1995-06-07 1997-06-03 Micron Technology, Inc. Auto-precharge during bank selection
JP3566429B2 (ja) * 1995-12-19 2004-09-15 株式会社ルネサステクノロジ 同期型半導体記憶装置
US6058448A (en) * 1995-12-19 2000-05-02 Micron Technology, Inc. Circuit for preventing bus contention
US5627791A (en) * 1996-02-16 1997-05-06 Micron Technology, Inc. Multiple bank memory with auto refresh to specified bank
JPH09288614A (ja) * 1996-04-22 1997-11-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置、半導体記憶装置およびそのための制御回路
US6130602A (en) * 1996-05-13 2000-10-10 Micron Technology, Inc. Radio frequency data communications device
JP4000206B2 (ja) 1996-08-29 2007-10-31 富士通株式会社 半導体記憶装置
US6172935B1 (en) * 1997-04-25 2001-01-09 Micron Technology, Inc. Synchronous dynamic random access memory device
US6499073B1 (en) * 1997-05-13 2002-12-24 Micron Electronics, Inc. System using programmable processor for selectively enabling or disabling power to adapter in response to respective request signals
US5881016A (en) 1997-06-13 1999-03-09 Cirrus Logic, Inc. Method and apparatus for optimizing power consumption and memory bandwidth in a video controller using SGRAM and SDRAM power reduction modes
US5999481A (en) 1997-08-22 1999-12-07 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for controlling the operation of an integrated circuit responsive to out-of-synchronism control signals
US5949657A (en) * 1997-12-01 1999-09-07 Karabatsos; Chris Bottom or top jumpered foldable electronic assembly
US5959929A (en) * 1997-12-29 1999-09-28 Micron Technology, Inc. Method for writing to multiple banks of a memory device
JPH11203866A (ja) 1998-01-16 1999-07-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6370662B2 (en) * 1998-03-16 2002-04-09 S3 Incorporated Modifying circuit designs running from both edges of clock to run from positive edge
US6253340B1 (en) 1998-06-08 2001-06-26 Micron Technology, Inc. Integrated circuit implementing internally generated commands
JP2000173263A (ja) 1998-12-04 2000-06-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6115278A (en) 1999-02-09 2000-09-05 Silicon Graphics, Inc. Memory system with switching for data isolation
US6233199B1 (en) * 1999-02-26 2001-05-15 Micron Technology, Inc. Full page increment/decrement burst for DDR SDRAM/SGRAM
JP4187346B2 (ja) 1999-03-31 2008-11-26 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 同期型半導体記憶装置
JP4056173B2 (ja) 1999-04-14 2008-03-05 富士通株式会社 半導体記憶装置および該半導体記憶装置のリフレッシュ方法
KR100324821B1 (ko) * 1999-06-29 2002-02-28 박종섭 반도체 메모리 소자의 자동 리프레쉬 방법 및 장치
JP2001014847A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Toshiba Corp クロック同期回路
JP4216415B2 (ja) * 1999-08-31 2009-01-28 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP2001118383A (ja) 1999-10-20 2001-04-27 Fujitsu Ltd リフレッシュを自動で行うダイナミックメモリ回路
JP2001338489A (ja) 2000-05-24 2001-12-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6304497B1 (en) * 2000-06-30 2001-10-16 Micron Technology, Inc. Synchronous memory status register
US6442076B1 (en) * 2000-06-30 2002-08-27 Micron Technology, Inc. Flash memory with multiple status reading capability
US6359827B1 (en) * 2000-08-22 2002-03-19 Micron Technology, Inc. Method of constructing a very wide, very fast distributed memory
US6580659B1 (en) * 2000-08-25 2003-06-17 Micron Technology, Inc. Burst read addressing in a non-volatile memory device
US6570804B1 (en) 2000-08-29 2003-05-27 Micron Technology, Inc. Fuse read sequence for auto refresh power reduction
US6304510B1 (en) * 2000-08-31 2001-10-16 Micron Technology, Inc. Memory device address decoding
US6449203B1 (en) 2001-03-08 2002-09-10 Micron Technology, Inc. Refresh controller and address remapping circuit and method for dual mode full/reduced density DRAMs
US6560158B2 (en) 2001-04-27 2003-05-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Power down voltage control method and apparatus
JP2002367370A (ja) 2001-06-07 2002-12-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6549479B2 (en) 2001-06-29 2003-04-15 Micron Technology, Inc. Memory device and method having reduced-power self-refresh mode
US6483347B1 (en) * 2001-07-11 2002-11-19 Micron Technology, Inc. High speed digital signal buffer and method
US6552596B2 (en) 2001-08-10 2003-04-22 Micron Technology, Inc. Current saving mode for input buffers
US6510099B1 (en) 2001-09-28 2003-01-21 Intel Corporation Memory control with dynamic driver disabling
US6771553B2 (en) * 2001-10-18 2004-08-03 Micron Technology, Inc. Low power auto-refresh circuit and method for dynamic random access memories
US6552955B1 (en) 2001-10-30 2003-04-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device with reduced power consumption
US6731548B2 (en) * 2002-06-07 2004-05-04 Micron Technology, Inc. Reduced power registered memory module and method

Also Published As

Publication number Publication date
KR100779871B1 (ko) 2007-11-27
CN100590730C (zh) 2010-02-17
JP2008287873A (ja) 2008-11-27
CN101714406A (zh) 2010-05-26
KR20050036881A (ko) 2005-04-20
US7079439B2 (en) 2006-07-18
US20040268018A1 (en) 2004-12-30
EP1446804A4 (en) 2007-05-23
US20030076726A1 (en) 2003-04-24
CN1605105A (zh) 2005-04-06
JP2005506647A (ja) 2005-03-03
US6771553B2 (en) 2004-08-03
WO2003034435A1 (en) 2003-04-24
EP1446804B1 (en) 2014-07-16
EP1446804A1 (en) 2004-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4923193B2 (ja) ダイナミックランダムアクセスメモリ用の低電力リフレッシュ回路および方法
US6741515B2 (en) DRAM with total self refresh and control circuit
EP0830682B1 (en) Auto-activate on synchronous dynamic random access memory
US9772969B2 (en) Detection circuit for mixed asynchronous and synchronous memory operation
US7027337B2 (en) Memory device and method having low-power, high write latency mode and high-power, low write latency mode and/or independently selectable write latency
JP4877560B2 (ja) コマンド信号と動作状態に基づいてコマンドをデコードするためのシステムおよび方法
US20030151966A1 (en) High speed DRAM architecture with uniform access latency
US7633825B2 (en) Semiconductor memory device with reduced current consumption
JPH11176156A (ja) 半導体集積回路装置
KR20030071783A (ko) 반도체 기억 장치 및 리프레시 제어 회로
US6456563B1 (en) Semiconductor memory device that operates in sychronization with a clock signal
US5986488A (en) Method and apparatus for fast reset of a one-shot circuit
USRE38903E1 (en) Method and apparatus for generating a pulse
KR100630976B1 (ko) 로우 바운더리 구간에서 리프레쉬가 수행되는 디램셀에스램
JPH11265575A (ja) 半導体装置及びデータ処理システム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20080814

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080814

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090624

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20090624

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100824

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20101122

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20101122

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20101203

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110224

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110224

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111115

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20111214

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20111214

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20111214

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111214

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150217

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees