JP4877560B2 - コマンド信号と動作状態に基づいてコマンドをデコードするためのシステムおよび方法 - Google Patents

コマンド信号と動作状態に基づいてコマンドをデコードするためのシステムおよび方法 Download PDF

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Description

本発明は、一般的にメモリシステムのためのコマンドデコードに関する。更に詳しくは、コマンド信号とメモリシステムの動作状態に基づいて、メモリシステムにおいて動作を実行するためのコマンド信号をデコードすることに関する。
プロセッサによってアクセスされるコマンドやデータを格納するために、コンピュータシステムは、同期型DRAM(SDRAM)のようなメモリデバイスを用いる。これらのメモリデバイスは、通常はコンピュータシステム内のシステムメモリとして用いられる。典型的なコンピュータシステムにおいては、プロセッサはプロセッサバスやメモリコントローラを介してシステムメモリと通信する。プロセッサは、リード(READ,読み出し)コマンドなどのメモリコマンドや読み出されるデータやコマンドの位置を示すアドレスを含む、メモリリクエストを発行する。メモリコントローラは、行と列アドレスのみならず適切なコマンド信号を生成するために、システムメモリに供給されるコマンドとアドレスを用いる。コマンドとアドレスの応答として、データがシステムメモリとプロセッサの間に転送される。
図1は、従来のメモリデバイス100の機能ブロック図を示したものである。図1に示したメモリデバイス100は、ダブルデータレート(DDR)SDRAMの例である。デバイス間を転送されるデータワードDQが、供給されるクロック信号の周波数に対応する速度でデータを転送する従来型のSDRAMの2倍の速度(ダブルレート)で転送されるため、メモリデバイス100はダブルデータレートデバイスと呼ばれる。メモリデバイス100は、主としてメモリコントローラ(不図示)のような外部回路からコントロールバスCONTを介して複数のコマンドやクロック信号を受信する制御ロジックとコマンドデコーダ134を含む。コマンド信号は、チップセレクト信号CS#、ライトイネーブル信号WE#、列アドレスストローブ信号CAS#、行アドレスストローブ信号RAS#を含む。クロック信号はクロックイネーブル信号CKE#とコンプリメンタリ(相補的)クロック信号CLK、CLK#を含む。各信号の“#”は、アクテイブLOW(ロー)であることを示す。コマンド信号であるRAS#,CAS#およびWE#は、リード(READ)、ライト(WRITE)またはオートリフレッシュ(auto−refresh)コマンドのような特定なコマンドに対応して、駆動され値を出力する。
クロック信号CLK,CLK#に応じて、コマンドデコーダ134は供給されたコマンドをラッチしデコードする。そして、供給されたコマンドの機能を実行するために、構成要素102−132を制御するための一連の内部クロックと制御信号を生成する。クロックイネーブル信号CKEは、クロック信号CLK,CLK#によってコマンドデコーダ134のクロッキングをイネーブルにする。コマンドデコーダ134は更にモードレジスタ136を含む。モードレジスタ136に書き込まれたデータは、例えば、バーストデータ長、バーストタイプ、パワーダウンモード、CASレイテンシ、などの様々な動作モードをセットするのに用いられる。コマンドデコーダ134は、モードレジスタ136内に格納されたデータによってセットされるモードに基づいて適当な内部クロックと制御信号を生成する。
メモリデバイス100は、主としてアドレスを供給するメモリコントローラ(不図示)とともに、行、列およびバンクアドレスを、アドレスバスADDRを介して受け取るアドレスレジスタ102を更に含む。アドレスレジスタ102は、行アドレスマルチプレクサ104およびバンク制御ロジック回路106にそれぞれ供給される行アドレスとバンクアドレスを受信する。行アドレスマルチプレクサ104は、アドレスレジスタ102から受信した行アドレスまたはリフレッシュカウンタ108から受信したリフレッシュ行アドレスを複数の行アドレスラッチおよびデコーダ110A−Dに供給する。バンク制御論理回路106は、アドレスレジスタ102から受信したバンクアドレスまたはリフレッシュカウンタ108から受信したリフレッシュバンクアドレスに対応して、行アドレスラッチとデコーダ110A−Dをアクティブ化する。そして、アクティブ化された行アドレスラッチとデコーダは、受信した行アドレスをラッチしデコードする。
デコードされた行アドレスの応答として、アクティブ化された行アドレスラッチとデコーダ110A−Dは、対応するメモリバンク112A−Dに様々な信号を出力し、それによって、デコードされた行アドレスに対応してメモリセル行をアクティブ化する。各メモリバンク112A−Dは、複数のメモリセルが行と列に配置されたメモリアレイを含む。そして、アクティブ化された行のメモリセルに格納されたデータは、対応するメモリバンク内センス増幅器に格納される。そして、当業者にはよく知られていることであるが、行アドレスマルチプレクサ104は、リフレッシュ行アドレスを、リフレッシュカウンタ108からデコーダ110A−Dに出力し、そして、メモリデバイス100が、供給されたオートまたはセルフリフレッシュコマンドに応じた動作モードである、オートリフレッシュまたはセルフリフレッシュモードで動作する場合に、バンク制御ロジック回路106は、リフレッシュカウンタからのリフレッシュバンクアドレスを用いる。
列アドレスは、行アドレスとバンクアドレスの後にADDRバスに供給される。そして、アドレスレジスタ102は、列アドレスを列アドレスカウンタおよびラッチ114に加え、これは順に列アドレスをラッチしラッチした列アドレスを複数の列デコーダ116A−Dに出力する。列アドレスカウンタとラッチ114に列アドレスを供給する。バンク制御ロジック106は、受信したバンクアドレスに応じて列デコーダ116A−Dをアクティブ化する。そして、アクティブ化された列デコーダは供給された列アドレスをデコードする。メモリデバイス100の動作モードに応じて、列アドレスカウンタとラッチ114は、ラッチした列アドレスをデコーダ116A−Dに直接出力するかまたは、アドレスレジスタ102によって供給された列アドレスから始まる一連の列アドレスをデコーダに出力する。カウンタおよびラッチ114からの列アドレスに対する応答として、アクティブ化されたデコーダ116A−Dは、デコード信号および制御信号を入出力ゲートおよびデータマスキング回路118に出力し、これは次にアクセスされたメモリバンク112A−D内のメモリセルのアクテイブな行のうち、デコードされた列アドレスに対応して、メモリセルにアクセスする。
データ読み出し(read)動作中は、アドレス指定されたメモリセルから読み出されたデータは、入出力ゲートおよびデータマスキング回路118を介してリード(read)ラッチ120に連結する。入出力ゲートおよびデータマスキング回路118は、リードラッチ120にNビットデータを供給する。そして、リードラッチ120は、2つのN/4ビットワードをマルチプレクサ122に出力する。図3に示す実施例では、回路118は、32ビットをリードラッチ120に供給する。そして、リードラッチ120は4つの8ビットワードをマルチプレクサ122に出力する。データドライバ124は、連続的にN/4ビットワードを、マルチプレクサ122から受信し、また、ストローブ信号ジェネレータ126からデータストローブ信号DQSを受信し、遅延ロックループ123から遅延クロック信号CLKDELを受信する。データ読出(read)動作中、メモリデバイス100からデータをラッチする場合に、DQS信号はメモリコントローラ(不図示)のような外部回路によって用いられる。遅延クロック信号CLKDELに応答して、データドライバ124は、受信したN/4ビットワードを対応するデータワードDQとして連続的に出力する。各データワードは、メモリデバイス100のクロックであるCLK信号の立ち上がりまたは立ち下がりに同期して出力される。データドライバ124は、CLK信号の立ち上がりおよび立ち下がりにそれぞれ同期した立ち上がりおよび立ち下がりを備えるデータストローブ信号DQSを出力する。各データワードDQおよびデータストローブ信号DQSは、まとめてデータバスDATAを規定する。より詳細に下記に説明するが、DATAバスは,データ書き込み動作中の書き込みデータをマスキングするためのマスキング信号DM0−Mを含む。
データ書き込み(write)動作中は、メモリコントローラ(不図示)のような外部回路は、データバスDATAに、N/4ビットデータワードDQ,ストローブ信号DQSおよび対応するデータマスキング信号DMを出力する。データ受信器128は、各DQワードと、関連DM信号を受信し、これらの信号をDQS信号がクロックである入力レジスタ130に出力する。DQS信号の立ち上がりに応じて、入力レジスタ130は、最初のN/4ビットDQワードおよび関連するDM信号をラッチする。そして、DQS信号の立ち下がりに応じて、入力レジスタは第2のN/4ビットDQワードおよび関連するDM信号をラッチする。入力レジスタ130は、ラッチした2つのN/4ビットDQワードを、Nビットワードとして、書き込みFIFOおよびドライバ132に提供する。つまり、供給されたDQワードとDM信号は、書き込みFIFOおよびドライバ132にDQS信号に応じてクロックにより入力される。DQ信号は、CLK信号に応じて書き込みFIFOおよびドライバ132からクロックにより出力され、入出力ゲートおよびマスキング回路118に供給される。入出力ゲートおよびマスキング回路118は、DQワードを、DM信号に従って、アクセスされたバンク112A−D内のアドレス指定されたメモリセルに転送する。このDM信号は、アドレス指定されたメモリセルに書き込まれる、DQワードにおける(例えば、書き込みデータにおける)ビットまたはビットグループを選択的にマスクするために用いられることがある。
上述したように、コマンドは、コマンド信号の形式でメモリデバイス100に発行され、要求された動作を行うための内部クロックと制御信号を生成するためにコマンドデコーダ134によってデコードされる。図2は、メモリデバイス100のためのコマンドデコード真理値表である。3つのコマンド信号RAS#,CAS#,WE#は8つの異なるコマンドをメモリデバイス100に供給する。これらのコマンドは、LOAD MODE,REFRESH,PRECHARGE,BANK ACTIVE,WRITE,READ,NOP(no operation)、及びさらなるコマンドのために将来使われる可能性があるRESERVEDコマンドを含んでいる。LOAD MODEコマンドは、例えば、バーストデータ長、バーストタイプ、パワーダウンモード、CASレイテンシなどの様々な動作モードを設定するために用いられる、前述した、前記モードレジスタ136にデータをロードするのに用いられる。REFRESHコマンドは、メモリバンク112A−Dにおいて、リフレッシュシーケンスを起動させるのに用いられる。PRECHARGEコマンドは、非アクティブ化、またはアクティブを終結させるまたは、メモリバンク112A−Dをオープンするのに用いられる。BANK ACTIVATEコマンドは、バンクアドレスによって選択されたときに、メモリアクセス動作の準備として、少なくともメモリバンク112A−Dの一つをオープンするのに用いられる。WRITEコマンドとREADコマンドは、上述のように、データ書き込み動作およびデータ読み出し動作をそれぞれ起動するのに用いられる。NOP動作は、メモリデバイス100のアイドルまたは待ち状態の間に、不要なコマンドが登録されるのを防ぐのに用いられる。
RAS#、CAS#、WE#信号の使用は、メモリデバイス100にコマンドを発行するのに効果的な方法である。しかしながら、この伝統的手法には特有の制限がある。その制限の一つは、従来のメモリデバイス100のコマンドデコード法によって提供される利用可能な異なるコマンドの最大数である。上述したように、RAS#、CAS#、WE#信号のバイナリの種類であるため、3つのコマンド信号は、最大8つの異なるコマンドのデコードを可能とする。現在の技術においては、8つの異なるコマンドで十分であるが、将来、上述した8つのコマンド以上のものが必要となることは容易に想像される。コマンドが追加されることが求められる場合、更なる命令信号が使用される必要がある。例えば、二つのコマンドが追加されて、全部で10コマンドが求められる場合、ひとつのコマンドは、RESERVEDコマンドを用いてデコードされる。しかしながら、もうひとつのコマンドを追加するには、現在存在する3つのコマンド信号に1つまたはそれ以上の信号が求められる。4つのコマンド信号によって、16個の異なるコマンドがデコード可能となる。
コマンドのために更なる選択をすることが有利なことのように見えるが、メモリデバイス100によって実行される従来のコマンドのデコード法に、他の制限が生じる。すなわちデコード可能な異なるコマンド数を増やすためにコマンド信号の数を増やすことは、コマンド信号を受信することが求められるメモリデバイス100の外部端子、すなわち“ピンの数”を増やすことになる。本実施例では、メモリデバイス100は、RAS#、CAS#,WE#信号を受信するのに3つの外部端子を用いる。8つのコマンドよりも多くのコマンドを備えるためには、コマンドをデコードするために少なくとも4つの外部端子が必要である。異なる各コマンド信号を用いるシステムであって、各コマンド信号が、二つの外部端子を必要とする一組の相補的な信号としてメモリデバイスに供給されるシステムの開発の観点からは、その数は二倍にまで増加し得る
現在は、従来法でパッケージされたメモリデバイスで備えることができる外部端子の数は、物理的限界に達している。いつも、追加される外部端子を収めるためるに、メモリデバイスパッケージの物理的容積は増加される。しかしながら、この解決方法は、小型携帯型の電子システムの開発要求と対立する。更に、外部端子を追加によって、メモリコントローラとメモリデバイス間の通信に用いられる信号線の数が増加する。メモリモジュールにおいて各メモリデバイスに外部端子を追加することは、プリント基板(“PCB”)の異なるレイヤ上に導電配線の追加が必要となり、PCB(プリント基板)の設計および製造がより複雑になる。結果として、コマンドの追加のために外部端子を増やすという選択肢は、非常に好ましくないということになる。
それゆえ、コマンド数を増やし、かつ/またはコマンドのデコードにおいて用いられるコマンド信号を減少させるという柔軟性のあるコマンドデコードのための代替のシステムおよび方法が必要である。
本発明の実施例は、コマンド信号のデコードシステムおよび方法を対象としている。本発明の一態様によれば、メモリシステムが第1の動作状態の時、コマンド信号のラッチされた論理レベルに応じて、第1の動作セットから選択された動作を実行するために内部制御信号を生成するようにコマンドデコーダを構成する。コマンドデコーダは、更に、メモリシステムが第2の動作状態の時、コマンド信号のラッチされた論理レベルに応じて、第2の動作セットから選択された動作を実行するための内部制御信号を生成するようにコマンドデコーダを構成する。また、他の本発明の一態様は、コマンド信号を受信し、メモリシステムが第1の動作状態にあるときにコマンド信号に従って第1の動作セットから動作を選択し、メモリシステムが第2の動作状態にあるときコマンド信号に基づいて第2の動作セットから動作を選択することを特徴とする、コマンド信号のデコード方法である。
本発明は、コマンド信号とメモリの動作状態との組み合わせに基づいて、コマンドをデコードするメモリのコマンドデコードのためのシステムおよび方法を提供する。以下に発明の十分な理解を提供するために実施の形態を詳細に説明する。しかしながら、本発明が当業者には、ある特定の詳細説明がなくても実施されうるであろうことは明らかである。本発明を不必要に不明確にすることを避けるために、他の場合、よく知られた回路、制御信号、タイミングプロトコル、ソフトウェア動作については詳細には示していない。
本発明の実施例に基づいた、コントロールロジック(制御論理)及びコマンドデコーダ334を備えるメモリデバイス300を図3に示す。メモリデバイス300に含まれる多くの回路は、図1のメモリデバイス100についての説明で上述したので、簡略するためにここでは再度説明することは省略する。メモリデバイス300におけるこれらの回路の動作は、図3で同一の符号を用いて示されている上述した図1のメモリデバイス100の回路の動作と同様である。しかしながら、コマンドデコーダ334は、メモリデバイス100のコマンドデコーダ134とは異なる。コマンドデコーダ334は、メモリデバイス300に供給されたコマンド信号をデコードし、コマンド信号とメモリデバイス300の動作状態との組み合わせに基づいて要求されたコマンドを実行するための内部クロックと制御信号を生成する。このように、メモリデバイス100のコマンドデコーダ134と異なり、コマンドデコーダ334はメモリデバイス300に供給されたコマンド信号とメモリデバイスの動作状態の組み合わせに基づいて要求された動作を実行するための内部信号を生成する。その結果として、利用可能な異なるコマンドの数を同じに維持しながら、コマンドデコードに必要なコマンド信号の数を減少させることが可能である。あるいは、コマンド信号の数を増加させることなく、異なるコマンドの数を増やすことが可能である。
例えば、メモリデバイス300は、上述したメモリデバイス100および図2に示した表と同じ数のコマンドを備える。すなわち、8つの異なるコマンドは、LOAD MODE REGISTERS, REFRESH, PRECHARGE,BANK ACTIVATE,WRITE, READ, RESERVED,NOPである。これらのメモリデバイス100のための8つのコマンドは、3つのコマンド信号RAS#,CAS#,WE#の論理状態の組み合わせ基づいて選択され得る。一方、下記に詳述するが、メモリデバイス300は、ただ二つのコマンド信号RAS#、WE#バンクアクティブ状態の監視組み合わせ用いるだけで、メモリデバイス100と同じ8つのコマンドのうちの一つを選択することができる。本実施例においては、コマンドデコーダ334は、メモリバンク112A−Dのいずれかがオープン(すなわちアクティブ)かまたは全てのバンクがクローズ(すなわちプリチャージ)かを示す論理状態を有するバンクアクティブ状態信号BACTIVEを受信するために、バンクコントロールロジック306に接続される。
図4は、本発明の実施例である図3のメモリデバイス300におけるコマンドデコードのための真理値表を示す。列402は、メモリバンク312A−Dのいずれがオープンな場合のRAS#およびWE#信号の異なる組み合わせのためのコマンドをリストアップしたものである。列404は、メモリバンクA−Dがすべてクローズの場合のRAS#およびWE#信号の異なる組み合わせのためのコマンドをリストアップしたものである。たとえば、メモリバンク312A−Dのうちの少なくとも1つがオープンであることを示す、BACTIVE信号がアクティブのとき、コマンドデコーダ334はHIGH RAS#信号とLOW WE#信号を受信すると、上述したように、コマンドデコーダ334は、メモリバンク312A−Dにおいて、前述したように、アドレスおよびバンク信号によって識別される少なくとも一つのメモリ位置にWRITE動作を実行するための内部クロックと制御信号を生成する。しかしながら、すべてのメモリバンク312A−Dがクローズであることを示す、BACTIVE信号がアクティブでないときに、HIGH RAS#信号とLOW WE#信号がメモリデバイス300に供給されると、上述したように、コマンドデコーダ334は、モードレジスタ136にモード情報をロードするLOAD MODEコマンドを実行するための内部クロックと制御信号を生成する。図4および図2に示した真理値表を比較すると、メモリデバイス300はメモリデバイス100と同一の8つのコマンドを備えるが、三つの信号RAS#とCAS#とWE#の代わりに、RAS#とWE#の二つの信号だけが必要であることがわかる。
図5は、図4に示したコマンドデコードの真理値表について上述したメモリデバイス300のコマンドデコードを示す状態遷移図である。図5において、円で示されるものはメモリデバイスの様々な動作を示しており、影のついた円で示されるものはメモリデバイスの様々な状態を示している。メモリデバイス300は、RAS#およびWE#のコマンド信号に応じて、(コマンド信号の組み合わせによって決定される)コマンドのシーケンス(sequence)および矢印でメモリデバイスの状態からメモリデバイスへの動作へと示される状態変化のように、状態を遷移し、動作を実行する。図5の太い矢印は、メモリデバイス300が、メモリデバイス動作の後、メモリデバイス状態に戻るという、自動シーケンスを示している。より詳細に後述するが、図5は、メモリデバイス300のメモリバンク112A−Dに対応する、メモリバンク0からNのバンクごとに、コマンドをデコードすることを示している。メモリバンクの選択は、コマンド信号がラッチされた際のメモリデバイスに加えられるバンクアドレスによって行われる。
メモリデバイス300への電源の供給については、メモリデバイス300をPOWER ON状態502にするためにパワーオン(電源オン)シーケンスが実行される。パワーオンシーケンスが完了すると、メモリデバイスはPOWER ON状態を抜け、ALL BANK PRECHARGED状態504に遷移する。ALL BANK PRECHARGED状態504および全てのメモリバンク112A−Dがクローズの間は、供給されるRAS#およびWE#信号は、コマンドデコーダ334によって3つのコマンドのうちの1つ(RESERVEDコマンドを含まない)にデコードされる。図5に示される3つのコマンドとは、メモリデバイス300がAUTO REFRESH動作506を実行するためのREFRESHコマンド、メモリデバイス300がLOAD MRS動作508を実行するためのLOAD MODEコマンド、メモリデバイス300がメモリバンク0からNのうちの特定のメモリバンクに対してACTIVATE BANKコマンド509を実行するためのBANK ACTIVATEコマンドである。
REFRESHコマンドは、メモリデバイス300がALL BANK PRECHARGED状態504にある間、LOW RAS#信号とLOW WE#信号がコマンドデコーダ334に供給されることによってデコードされる。それに応じて、メモリデバイス300は、ALL BANK PRECHARGED状態504からAUTO REFRESHシーケンス506を実行するように遷移する。AUTO REFRESHシーケンス506が完了すると、AUTO REFRESH状態506からALL BANK PRECHARGED状態504に戻る太い矢印が示しているように、メモリデバイス300はALL BANK PRECHARGED状態504に戻り、次のコマンドを待つ。同様に、メモリデバイス300がALL BANK PRECHARGED状態の間に、LOAD MODEコマンドはHIGH RAS#及びLOW RAS#信号からデコードされる。LOAD MODEコマンドは、図5には、HIGH RAS#信号とLOW WE#信号の組み合わせを表す“WR”で示されている。そしてLOAD MODEコマンドは、メモリデバイスがBANK ACTIVE状態510の場合、WRITEコマンドにデコードされる。LOAD MODEコマンドに応じて、メモリデバイス300の状態は、ALL BANK PRECHARGED状態504からLOAD MRS動作508を実行するように遷移する。そして、それが完了すると、メモリデバイス300は、ALL BANK PRECHARGED状態504に戻る。
メモリデバイス300がBANK CLOSED状態504のとき、デコードされうる第3のコマンドは、BANK ACTIVATEコマンドである。BANK ACTIVATEコマンドは、LOW RAS#信号とHIGH WE#信号からデコードされる。BANK ACTIVATEコマンドは、図5においてLOW RAS#信号とHIGH WE#信号の組み合わせを表わす“ACT”と示されている。上述したように、BANK ACTIVEコマンドは、バンクアドレス信号によって特定される、メモリバンク312A−Dの少なくとも一つをアクティブ化するバンクごとのコマンドである。BANK ACTIVATEコマンドは、メモリデバイス300がALL BANK PRECHAGED状態504から特定のメモリバンクに対してACTIVATE BANK動作509を実行するように変化させる。ACTIVATE BANK動作509が完了すると、特定のメモリバンクのためのメモリデバイス300の状態はBANK ACTIVE状態510に遷移する。アクティブなメモリバンク312A−Dは、PRECHARGEコマンドがメモリデバイス300によってデコードされるまでアクティブなままである。そして、PRECHARGEコマンドがデコードされるとすぐに、メモリデバイス300の状態は、BANK ACTIVE状態510からPRECHARGE BANK動作511を実行するよう遷移する。PRECHARGE BANK動作511が完了すると、メモリデバイス300は、BANK PRECHARGE状態505を経て、ALL BANK PRECHARGED状態504に戻る。メモリデバイス300がBANK PRECHARGE状態の間にデコードされたBANK ACTIVATEコマンドは、ACTIVATE BANK動作509を実行し、メモリデバイス300の状態をBANK ACTIVE状態510に遷移させる。メモリデバイス300がBANK ACTIVE状態510の間に、RAS#信号およびWE#信号からデコードされるPRECHARGEコマンドに加えて、デコードされ得る他の2つのコマンドは、メモリデバイス300にREAD動作512を実行させるREADコマンドと、メモリデバイスにWRITE動作514を実行させるWRITEコマンドである。動作をしないNOPコマンドも、メモリデバイス300がBANK ACTIVE状態510の間、コマンドデコーダ334によって、RAS#信号およびWE#信号からNOP(no operation)コマンドもデコードされうる。しかし、よく知られているように、通常NOPコマンドはメモリデバイスに何も動作させない。図5に示すように、BANK ACTIVE状態510の間にNOPコマンドがデコードされた時、メモリデバイスは状態を遷移させない。READおよびWRITEコマンドがデコードされると、それぞれのコマンドが実行され、完了し、メモリデバイス300はBANK ACTIVE状態510に戻る。
状態遷移図500が示すように、メモリデバイス300の特定の動作状態に基づいて、コマンドの異なるセットを実行するために、コマンドデコーダ334によって、RAS#信号およびWE#信号の同じ特定の組み合わせがデコードされ得る。例えば、状態遷移図500において、LOW RAS#信号とLOW WE#信号の組み合わせは、“PRE”と示されている。メモリデバイスがALL BANK PRECHARGED状態504の時は、RAS#信号とWE#信号の組み合わせのPREは、メモリデバイス300をALL BANK PRECHARGED状態504から、オートリフレッシュシーケンスを実行させるAUTO REFRESH動作506の実行に遷移させる。しかしながら、メモリデバイス300がBANK ACTIVE状態510の時にRAS#信号とWE#信号の組み合わせのPREが供給されると、メモリデバイス300はPRECHARGE BANK動作511を実行することによって、BANK ACTIVE状態510からBANK PRECHARGED状態505に遷移する。このように、RAS#とWE#信号の組み合わせであるPRE信号を用いるだけで、二つの異なるコマンドをデコードできる。
図6は、本発明の他の実施例における、メモリデバイス300がコマンドをデコードするのに用いる真理値表600である。コマンドデコードのための真理値表600は、更なるコマンドデコードの選択肢を提供するために、通常はコマンド信号としては用いられない入力信号を用いることを示している。図6を参照して説明される実施例では、列606に示される特定のリフレッシュまたはプリチャージ機構を選択するために、列602で示されるRAS#およびWE#コマンド信号の組み合わせにおいて、更には列604で示されるメモリバンクオープン/クローズ状態の組み合わせにおいて、アドレス信号A10が用いられる。従来のメモリデバイスは、通常はコマンドに用いられない、たとえばA10のような信号を、異なるリフレッシュおよびプリチャージ機構を選択するために用いていた。しかしながら、従来のデバイスは、本発明の実施例に基づく上述したコマンドデコード法を利用していない。このように本発明の実施例のコマンドデコーディングの組み合わせにおいて、通常はコマンドには用いられないA10信号のような信号を利用するで、本発明の更なる他の実施例を示すことができる。
真理値表600において示されるコマンドデコードの動作は、メモリデバイス300に関して記述される。メモリデバイス300がBANK CLOSED状態で、LOW RAS#信号とLOW WE#信号がメモリデコーダ334に供給されている時、リフレッシュコマンドがデコードされる。A10信号の論理レベルは、メモリバンクごとにリフレッシュシーケンスを実行するかまたはメモリバンク312A−Dを同時にリフレッシュするかを選択するために用いられる。列606および608で示されるように、LOW A10信号は、メモリバンクごとのリフレッシュ動作を選択し、HIGH A10信号は、すべてのメモリバンクのリフレッシュ動作を選択する。更に列608で示されるようにA10信号は、メモリデバイス300がBANK CLOSED状態の間にBANK ACTIVATEコマンドまたはLOAD MODEコマンドが発行されると、A10信号は有効な値の一部として解釈される。
上述したように、A10信号は、BANK CLOSED状態の間にリフレッシュコマンドが発行された時に、リフレッシュシーケンスを選択するために用いられる。更に、A10信号はBANK OPEN状態の間にプリチャージコマンドが発行された時に、様々なプリチャージシーケンスを選択するのに用いられる。列608に示すように、A10信号は、単一のまたは全てのバンクプリチャージを選択するためのRAS#信号とWE#信号の組み合わせと、書き込み(write)コマンドに続くオートプリチャージ、および読み出し(read)コマンドに続くオートプリチャージにおいて用いられる。A10信号はアクセスするための特定のメモリ位置を選択するのには用いられないため、A10信号は書き込み(write)または読み出し(read)コマンドに続いてオートプリチャージシーケンスが実行されるか否かを選択するのに用いられる。
図7は、本発明の他の実施例において、メモリデバイス300がコマンドをデコードする状態遷移図を示したものである。図7の状態遷移図700は図5に示した状態遷移図500に似ている。そして、メモリデバイスの状態、メモリデバイスの動作、コマンドシーケンス、自動シーケンスについて上述したものと同様である。図5の状態遷移図500と同様に、メモリバンク0からNなる各メモリバンクにおいてメモリデコードが行われる。特定のメモリバンクは、コマンド信号RAS#およびWE#がラッチされた時にメモリデバイス300に供給されるバンクアドレス信号によって選択される。図5に示した状態遷移図500と比較すると、コマンド信号の数を増加させずに、状態遷移図700において示されているコマンド状態および動作状態が増加している。図7の状態遷移図700に示されるすべてのコマンドおよび状態は、メモリデバイス300の特定の動作状態の組み合わせにおいて、RAS#およびWE#信号に基づいてデコードされる。
状態遷移図700において新たに加わった状態は、POWER DOWN状態702である。POWER DOWM状態702は、回路の多く、たとえば、出力駆動回路(ドライバ)124(図3)、入力受信回路128およびDLL123などが消費電力を低減するためにアクティブでない間に、メモリデバイス300が低電力状態である条件を示している。HIGH RAS#信号とHIGH WE#信号が供給されることによって、ALL BANK PRECHARGED状態504からPOWER DOWN状態702に至る。図4の真理値表に示したコマンドデコードと比較すると、状態遷移図700において、POWER DOWN状態702に遷移するためにRESERVEDコマンドを用いている。RESERVEDコマンドは、図7には、HIGH RAS#信号とHIGH WE#信号の組み合わせを表す“RD”と示されている。“RD”は、BANK ACTIVE状態510におけるREADコマンドのためのコマンド信号の組み合わせである。POWER DOWN状態702から、メモリデバイス300の状態は、RAS#およびWE#信号の供給によって、SLEEP POWER DOWN状態704またはSELF REFRESH状態706に遷移する。メモリデバイス300がPOWER DOWN状態702の時HIGH RAS#信号とHIGH WE#信号がコマンドでコーダ334に加えられる場合、動作状態は、SLEEP POWER DOWN状態704に遷移する。SLEEP POWER DOWN状態704は、メモリデバイス300がPOWER DOWN状態702よりもずっと低電力状態に遷移したこと示している。例えば、SLEEP POWER DOWN状態704は、CLK(クロック)信号の供給を必要とせず、その結果、メモリデバイス300のクロックバッファは、入出力回路に加えて非アクティブ化される。SLEEP POWER DOWN状態704からPOWER DOWN状態702に戻ると、LOW RAS#信号およびLOW WE#信号がコマンドデコーダ334に供給される。メモリデバイス300がPOWER DOWN状態702からSELF REFRESH状態706に遷移するために、LOW RAS#信号とLOW WE#信号がコマンドデコーダ334に供給される。SELF REFRESH状態706の間、メモリデバイス300は、メモリバンク312A−Dのメモリセルをリフレッシュするためにセルフリフレッシュシーケンスを実行する。セルフリフレッシュシーケンスが完了すると、メモリデバイス300の状態はPOWER DOWN状態702に戻る。
図7に示したように、RAS#信号および#WE信号の特定の組み合わせに対して、メモリデバイス300の様々な動作状態の間、RAS#信号およびCAS#信号の特定の組み合わせが供給されることによって、より多数のコマンドがデコードされる。例えば、状態遷移図700で“PRE”と示されている、LOW RAS#信号とLOW WE#信号の組み合わせをとりあげてみると、4つの異なるコマンドが同じPREの組み合わせからデコードされている。第1のコマンドは、ALL BANK PRECHARGED状態504の間に、RAS#信号とWE#信号の組み合わせのPREが供給されることに起因するものであって、該第1のコマンドによって、メモリデバイス300は、ALL BANK PRECHARGED状態504から、AUTO REFRESH動作506を実行するように遷移する。第2のコマンドは、BANK ACTIVE状態510の間に、RAS#信号とWE#信号の組み合わせのPREが供給されることに起因するものであって、該第2のコマンドによって、メモリデバイス300はBANK PRECHARGED状態505に遷移するために、PRECHARGED BANKコマンド511を実行する。第3のコマンドは、POWER DOWN状態702の間にRAS#信号とWE#信号の組み合わせのPREが供給されることに起因するものであって、該第3のコマンドによって、メモリデバイス300はセルフリフレッシュシーケンスを実行するために、SELF REFRESH状態706に遷移する。第4のコマンドは、SLEEP POWER DOWN状態704の間に、RAS#信号とWE#信号の組み合わせのPREが供給されることに起因するものであって、該第4のコマンドによって、メモリデバイス300は、SLEEP POWER DOWN状態704を終了し、POWER DOWN状態702に遷移する。このように、メモリデバイス300のメモリ状態と組み合わせて2つのRAS#およびWE#信号の組み合わせを用いるだけで、4つの異なるコマンドがデコードされる。
図8は、本発明の実施例に基づくコマンドデコード法を利用するコマンドデコーダ334を備えるメモリデバイス300を含む処理回路802を含む処理システム800を示す図である。通常、処理回路802は、メモリデバイスへ書き込みデータを書き込み、メモリデバイスから読み出しデータを読み出すために、アドレスバス、データバス、コントロールバスを介してメモリデバイス300に接続する。処理回路802は、例えば、特定の動作やタスクを実行するための特定のソフトウェアを実行するような、様々な処理機能を実行するための回路を備えている。更に、処理システム800は、たとえばキーボードやマウスといった、入力デバイス804を1つ以上備えている。該入力デバイス804は、処理回路802に接続し、オペレータと処理システム800のインタフェースとなる。通常、処理システム800は、たとえばプリンタ端子やビデオ端子を含み処理回路802に接続される出力装置のような、出力デバイス806を1つ以上備えている。データを格納したり、不図示の外部記憶媒体からデータを読み出すための、1つ以上のデータ記憶装置808も処理回路802に接続している。一般的な記憶装置808の例としては、ハードディスク、フロッピーディスク、カセットテープ、読み出し専用コンパクトディスク(CD−ROM)、読出/書込コンパクトディスク(CD−RW),デジタルビデオディスク(DVD)などがある。
以上、本発明の特定の実施例について例示のため説明したが、本発明の精神と範囲を変更しない範囲内で適宜変更して実施し得ることは言うまでもない。例えば、本発明の上記の実施例では、コマンド信号をデコードするための監視動作状態の例として、バンクメモリ112A−Dのオープン状態またはクローズ状態を監視することについて説明した。しかしながら、コマンド信号をデコードする際に、例えばパワーダウン状態およびリフレッシュ状態のような、上述した様々の動作状態を含む、他の動作状態を監視するように変更することも可能である。このように、本願特許請求の範囲によって主張する場合を除いて、本発明は限定されることはない。
図1は、従来のコマンドデコードを備えるメモリシステムの機能ブロック図である。 図2は、図1に示した従来のメモリシステムにおいて用いられるコマンドデコードの真理値表である。 図3は、本発明の実施例のコマンドデコードを備えるメモリシステムの機能ブロック図である。 図4は、図3に示した本発明の実施例のメモリシステムにおいて用いられるコマンドデコードの真理値表である。 図5は、図4の真理値表に示したコマンドデコードのための状態遷移図である。 図6は、本発明の他の実施例に基づいて、図3のメモリシステムおいて用いられるコマンドデコードの真理値表である。 図7は、図6は、本発明の他の実施例に基づいて、図3のメモリシステムおいて用いられるコマンドデコードの状態遷移図である。 図8は、本発明の実施例に基づくコマンドデコードを備えるメモリシステムを備える処理システムの機能ブロック図を示す図である。

Claims (30)

  1. 複数のコマンドと複数の動作状態とを有するメモリシステムであって、
    複数のコマンド信号が供給されるコマンド入力ノードを有するコマンドラッチであって、前記コマンド信号をラッチするように構成されたコマンドラッチと、
    前記メモリシステムの現在の動作状態をモニタして、前記現在の動作状態を示す論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号を生成するように構成された動作状態回路と、
    前記コマンドラッチに接続されたコマンドデコーダであって、前記動作状態信号に基づいて、前記ラッチされたコマンド信号の同一の組み合わせを少なくとも2つのメモリコマンドへとデコードするように構成されたコマンドデコーダと、
    を備えるメモリシステム。
  2. 前記コマンドデコーダは、
    前記コマンドラッチと前記動作状態回路とに接続されたコマンドデコーダ回路であって、前記メモリシステムが第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示しているときに、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルに基づいて、第1の動作セットの中から選択された動作を実行するための内部制御信号を生成するように構成され、また、前記メモリシステムが第2の動作状態にあることを前記動作状態信号が示しているときに、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルに基づいて、前記第1の動作セットとは異なる少なくとも1つの動作を有する第2の動作セットの中から選択された動作を実行するための内部制御信号を生成するように構成されたコマンドデコーダ回路、
    を備える、請求項1記載のメモリシステム。
  3. 記コマンドデコーダは、
    前記コマンドラッチと前記動作状態回路とに接続されたコマンドデコーダ回路であって、前記ラッチされたコマンド信号の論理状態の第1の組み合わせおよび前記動作状態信号の論理レベルの第1の組み合わせに応答して、第1の動作を実行するためのクロックおよび制御信号の第1のセットを生成するように構成され、かつ、前記コマンド信号の論理状態の前記第1の組み合わせおよび前記動作状態信号の論理レベルの第2の組み合わせに応答して、第2の動作を実行するためのクロックおよび制御信号の第2のセットを生成するように構成されたコマンドデコーダ回路、
    を備える、請求項1記載のメモリシステム。
  4. 行と列から構成されるメモリセルを有する少なくとも一つのメモリセルアレイであって、アクティブ状態および非アクティブ状態を有するメモリセルアレイ、を更に備え
    前記動作状態回路は、
    前記メモリセルアレイに接続されたアレイ状態回路であって、前記メモリセルアレイが前記アクティブ状態にある場合に、第1の論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号を生成し、かつ、前記メモリセルアレイが前記非アクティブ状態にある場合に、第2の論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号を生成する、アレイ状態回路、
    を備え、
    前記コマンドデコーダは、
    コマンド信号が供給されるコマンドノードと、前記アレイ状態回路に接続されて前記動作状態信号が供給されるメモリ状態ノードと、メモリコマンドを実行するための内部制御信号が供給される内部制御信号ノードと、を有するコマンドデコーダ回路であって、前記コマンド信号の第1の組み合わせと、前記第1の論理レベルの組み合わせを有する前記動作状態信号とに応答して、前記複数のメモリコマンドのうちの第1のメモリコマンドを実行するための内部制御信号を生成し、かつ、前記コマンド信号の前記第1の組み合わせと、前記第2の論理レベルの組み合わせを有する前記動作状態信号とに応答して、前記複数のメモリコマンドのうちの第2のメモリコマンドを実行するための内部制御信号を生成するように構成されたコマンドデコーダ回路、
    を備える、請求項1記載のメモリシステム。
  5. 前記コマンドデコーダの前記コマンドデコーダ回路は、前記メモリシステムが前記第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している時に、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせを受信するのに応答して、第1の動作を実行するための内部制御信号を生成するように構成され、かつ、前記メモリシステムが前記第2の動作状態にあることを前記動作状態信号が示しているときに、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの前記組み合わせを受信するのに応答して、第2の動作を実行するための内部制御信号を生成するように構成される、請求項2記載のメモリシステム。
  6. 前記コマンドデコーダの前記コマンドデコーダ回路は、前記メモリシステムが、前記第1の動作セットの動作うちの1つの動作が選択されたことに応答して前記第1の動作状態から遷移した第3の動作状態にあることを、前記動作状態信号が示しているとき、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルに応答して、第3の動作セットの中から選択された動作を実行するための内部制御信号を生成するように更に構成される、請求項2記載のメモリシステム。
  7. 前記コマンドデコーダ回路は、前記メモリシステムが前記第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している時、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせを受信するのに応答して、第1の動作を実行するための内部制御信号を生成し、かつ、前記メモリシステムが前記第2の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している時、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの前記組み合わせを受信するのに応答して、第2の動作を実行するための内部制御信号を生成し、かつ、前記メモリシステムが前記第3の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している時、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの前記組み合わせを受信するのに応答して、第3の動作を実行するための内部制御信号を生成するように構成される、請求項6記載のメモリシステム。
  8. 前記コマンドデコーダの前記コマンドデコーダ回路は、更に、前記ラッチされたコマンド信号の論理状態の前記第1の組み合わせおよび前記動作状態信号の論理レベルの第3の組み合わせに応答して、第2の動作を実行するためのクロックおよび制御信号の第3のセットを生成するように構成される、請求項3記載のメモリシステム。
  9. 前記コマンドデコーダの前記コマンドデコーダ回路は、更に、前記ラッチされたコマンド信号の論理状態の第2の組み合わせおよび前記動作状態信号の論理レベルの前記第1の組み合わせに応答して、前記動作状態が第1の動作状態から第2の動作状態に遷移する動作を実行するためのクロックおよび制御信号を生成するように構成される、請求項3記載のメモリシステム。
  10. 前記メモリシステムは、複数のメモリバンクに分割されたメモリセルアレイから成り、該メモリバンクの各々は、メモリアクセス動作の準備状態である第1の動作状態と、前記メモリバンクを非アクティブにするための第2の動作状態とを有し、
    前記コマンドデコーダは、
    前記メモリバンクのいずれかが前記第1の動作状態にあることを示す前記動作状態信号と、前記複数のコマンド信号の第1の組み合わせとに応答して、前記複数のコマンドのうちの第1のコマンドを実行するための内部制御信号の第1のセットを生成し、かつ、前記メモリバンクの全てが前記第2の動作状態にあることを示す前記動作状態信号と、前記複数のコマンド信号の第1の組み合わせとに応答して、前記複数のコマンドのうちの第2のコマンドを実行するための内部制御信号の第2のセットを生成するように構成されるコマンドデコーダ回路、
    を備える、請求項1記載のメモリシステム。
  11. 前記メモリシステムの前記第1の動作状態はバンク非アクティブ状態を含み、前記第2の動作状態はバンクアクティブ状態を含み、前記複数のコマンドのうちの前記第1のコマンドはリフレッシュコマンドを含み、前記複数のコマンドのうちの前記第2のコマンドは前記バンクアクティブ状態から前記バンク非アクティブ状態に変化させるプリチャージコマンドを含む、請求項10記載のメモリシステム。
  12. 前記メモリシステムは、アドレス信号が入力されるアドレス入力ノードを有するアドレスラッチを更に備え、該アドレスラッチは前記アドレス信号をラッチするように構成され、
    前記コマンドデコーダ回路は、前記アドレスラッチに接続され、更に、第1の論理状態を有する前記アドレス信号のうちの1つに応答して、前記複数のコマンドのうちの前記第1のコマンドの第1の選択肢を実行するための内部制御信号を生成し、また、第2の論理状態を有する前記アドレス信号のうちの1つに応答して、前記複数のコマンドのうちの前記第1のコマンドの第2の選択肢を実行するための内部制御信号を生成するように構成される、請求項10記載のメモリシステム。
  13. 前記メモリシステムの前記複数のコマンドのうちの前記第1のコマンドはリフレッシュコマンドを含み、前記第1の選択肢はバンク毎のリフレッシュ選択肢を含み、前記第2の選択肢はすべてのバンクのリフレッシュ選択肢を含む、請求項12記載のメモリシステム。
  14. 前記メモリシステムの前記コマンドデコーダは、
    前記メモリシステムが第1の動作状態であることを前記動作状態信号が示している間、前記ラッチされたコマンド信号の組み合わせに応答して、前記複数のコマンドのうちの第1のコマンドを実行するための内部制御信号の第1のセットを生成し、かつ、前記メモリシステムが第2の動作状態であることを前記動作状態信号が示している間、前記ラッチされたコマンド信号の前記組み合わせと同じ組み合わせに応答して、前記複数のコマンドのうちの第2のコマンドを実行するための内部制御信号の第2のセットを生成するように構成されたコマンドデコーダ回路、
    を備える、請求項1記載のメモリシステム。
  15. 前記コマンドデコーダ回路は、更に、前記第1の動作状態から前記第2の動作状態に遷移する動作状態にさせる複数のコマンドのうちの第3のコマンドを実行するように構成される、請求項14記載のメモリシステム。
  16. 前記メモリシステムの前記メモリセルアレイは、複数のメモリバンクに配置されたメモリセルアレイであり、各メモリバンクはアクティブ状態と非アクティブ状態を有し、
    前記アレイ状態回路は、前記メモリバンクのいずれかが前記アクティブ状態にあることに応答して、前記第1の論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号を生成し、かつ、前記メモリバンクの全てが前記非アクティブ状態にあることに応答して、前記第2の論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号を生成するように構成される、請求項4記載のメモリシステム。
  17. 前記メモリシステムの前記コマンドデコーダ回路は、前記メモリシステムに供給される第1および第2の状態を有する信号が入力される入力ノードを更に備え、更に、前記コマンド信号の前記第1の組み合わせと、前記第1の論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号と、前記第1の状態を有する信号応答して、前記複数のメモリコマンドのうちの前記第1のメモリコマンドの第1の選択肢を実行するための内部制御信号を生成し、かつ、前記コマンド信号の前記第1の組み合わせと、前記第1の論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号と、前記第2の状態を有する信号応答して、前記複数のメモリコマンドのうちの前記第1のメモリコマンドの第2の選択肢を実行するための内部制御信号を生成するように構成される、請求項16記載のメモリシステム。
  18. 前記メモリシステムの前記複数のメモリコマンドのうちの前記第1のメモリコマンドはリフレッシュコマンドを含み、前記第1の選択肢は前記メモリバンクのうちの1つをリフレッシュすることであり、前記第2の選択肢は前記メモリバンクの全てをリフレッシュすることである、請求項17記載のメモリシステム。
  19. データ入力装置と、
    データ出力装置と、
    前記データ入力装置と前記データ出力装置とに接続されたプロセッサと、
    前記プロセッサに接続され、かつ、それぞれの動作が実行される複数の動作状態を有する、請求項1乃至18のいずれか1項記載のメモリシステムと、
    を備えるコンピュータ処理システム。
  20. 要求された動作を実行するために、メモリシステムに供給されたコマンド信号をデコードする方法であって、
    前記コマンド信号を受信するステップと、
    前記メモリシステムの現在の動作状態をモニタして、前記現在の動作状態を示す論理レベルの組み合わせを有する動作状態信号を生成するステップと、
    前記メモリシステムが第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している間、前記コマンド信号に基づいて第1の動作セットの中から1つの動作を選択するステップと、
    前記メモリシステムが第2の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している間、前記コマンド信号に基づいて第2の動作セットの中から1つの動作を選択するステップと、
    を含む方法。
  21. 記コマンド信号を受信するステップは、
    コマンド信号をラッチするステップであって、各コマンド信号がそれぞれの論理レベルを有する、ステップと、
    前記コマンド信号をその論理レベルの組み合わせに基づいてデコードするステップと、
    を含み、
    前記第1の動作セットの中から1つの動作を選択するステップは、
    前記メモリシステムが前記第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示していること応答して、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせに基づき、第1の動作を実行するための内部制御信号の第1のセットを生成するステップを含み、
    前記第2の動作セットの中から1つの動作を選択するステップは、
    前記メモリシステムが前記第2の動作状態にあることを前記動作状態信号が示していること応答して、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせに基づき、第2の動作を実行するための内部制御信号の第2のセットを生成するステップを含む、
    請求項20記載の方法。
  22. 前記メモリシステムの前記現在の動作状態は、前記メモリシステムバンクアクティブ状態バンク非アクティブ状態を含む、請求項21記載の方法。
  23. 前記メモリシステムが第3の動作状態にあることを前記動作状態信号が示していること応答して、前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせに基づき、第3の動作を実行するための内部制御信号の第3のセットを生成するステップを更に含む、請求項21記載の方法。
  24. 前記ラッチされた前記コマンド信号の論理レベルの組み合わせに基づき、第1の動作を実行するための内部制御信号の第1のセットを生成するステップは、前記メモリシステムが前記第1の動作状態から前記第3の動作状態に遷移する動作を実行するための内部制御信号を生成するステップを含む、請求項22記載の方法。
  25. 前記メモリシステムに供給される信号の論理状態をモニタするステップを更に含み、
    前記第1の動作を実行するための内部制御信号の第1のセットを生成するステップは、
    前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせと、第1の論理レベルを有する前記信号とに基づいて、前記第1の動作の第1の選択肢を実行するための内部制御信号を生成するステップと、
    前記ラッチされたコマンド信号の論理レベルの組み合わせと、第2の論理レベルを有する前記信号とに基づいて、前記第1の動作の第2の選択肢を実行するための内部制御信号を生成するステップと、
    を含む、請求項21記載の方法。
  26. 前記信号の論理状態をモニタするステップは、前記メモリシステムに供給されるアドレス信号の論理状態をモニタするステップを含む、請求項25記載の方法。
  27. 前記第1の動作状態はバンクアクティブ状態を含み、前記第2の動作状態はバンク非アクティブ状態を含む、請求項20記載の方法。
  28. 前記メモリシステムが第3の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している間、前記コマンド信号に基づいて第3の動作セットの中から1つの動作を選択するステップを更に含む、請求項20記載の方法。
  29. 前記メモリシステムが第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している間、前記コマンド信号に基づいて第1の動作セットの中から1つの動作を選択するステップは、前記メモリシステムが前記第1の動作状態から前記第3の動作状態に遷移する動作を選択するステップを含む、請求項28記載の方法。
  30. 前記メモリシステムに供給される信号の論理レベルをモニタするステップを更に含み、
    前記メモリシステムが第1の動作状態にあることを前記動作状態信号が示している間、前記コマンド信号に基づいて第1の動作セットの中から1つの動作を選択するステップは、
    第1の論理レベルを有する前記信号に応答して動作の第1のモードを選択するステップと、
    第2の論理レベルを有する前記信号に応答して動作の第2のモードを選択するステップと、
    を含む、請求項28記載の方法。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7757061B2 (en) * 2005-05-03 2010-07-13 Micron Technology, Inc. System and method for decoding commands based on command signals and operating state
JP2007035151A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Elpida Memory Inc 半導体メモリ装置およびメモリシステムのリフレッシュ制御方法
CN104305834B (zh) * 2007-12-21 2017-06-09 陶氏环球技术有限责任公司 地毯,地毯衬垫和使用烯烃嵌段共聚物制备它们的方法
US8787086B1 (en) * 2008-08-29 2014-07-22 The Arizona Board Of Regents For And On Behalf Of Arizona State University Inhibiting address transitions in unselected memory banks of solid state memory circuits
US8942056B2 (en) 2011-02-23 2015-01-27 Rambus Inc. Protocol for memory power-mode control
US9117542B2 (en) 2013-09-27 2015-08-25 Intel Corporation Directed per bank refresh command
KR102166524B1 (ko) * 2014-01-06 2020-10-15 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치 및 반도체시스템
US10141042B1 (en) 2017-05-23 2018-11-27 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for precharge and refresh control
US10552087B2 (en) * 2018-06-04 2020-02-04 Micron Technology, Inc. Methods for performing multiple memory operations in response to a single command and memory devices and systems employing the same
US10963336B2 (en) 2019-08-29 2021-03-30 Micron Technology, Inc. Semiconductor device with user defined operations and associated methods and systems
US11042436B2 (en) 2019-08-29 2021-06-22 Micron Technology, Inc. Semiconductor device with modified access and associated methods and systems
US11200118B2 (en) 2019-08-29 2021-12-14 Micron Technology, Inc. Semiconductor device with modified command and associated methods and systems
US10991415B2 (en) * 2019-09-19 2021-04-27 Micron Tehcnology, Inc. Semiconductor device performing implicit precharge operation
US11735246B2 (en) 2021-11-15 2023-08-22 Micron Technology, Inc. Semiconductor device performing refresh operation
US11922031B1 (en) * 2022-09-23 2024-03-05 Micron Technology, Inc. Apparatus with directed refresh management mechanism

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58166579A (ja) * 1982-03-29 1983-10-01 Fujitsu Ltd メモリ制御方式
JPH09161475A (ja) * 1995-12-01 1997-06-20 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPH11250657A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Sharp Corp 同期型半導体記憶装置
JP2000506301A (ja) * 1996-02-29 2000-05-23 マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド 高速コマンド入力を有する簡単化されたクロックドdram
JP2001028190A (ja) * 1999-05-07 2001-01-30 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置の動作制御方法および半導体記憶装置
JP2002074952A (ja) * 2000-08-31 2002-03-15 Fujitsu Ltd 同期型半導体記憶装置及びその入力回路の制御方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4507761A (en) 1982-04-20 1985-03-26 Mostek Corporation Functional command for semiconductor memory
US5996027A (en) 1992-12-18 1999-11-30 Intel Corporation Transmitting specific command during initial configuration step for configuring disk drive controller
JP2988804B2 (ja) 1993-03-19 1999-12-13 株式会社東芝 半導体メモリ装置
US5721860A (en) * 1994-05-24 1998-02-24 Intel Corporation Memory controller for independently supporting synchronous and asynchronous DRAM memories
US5748551A (en) 1995-12-29 1998-05-05 Micron Technology, Inc. Memory device with multiple internal banks and staggered command execution
JPH09288614A (ja) 1996-04-22 1997-11-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置、半導体記憶装置およびそのための制御回路
JP3039380B2 (ja) 1996-07-04 2000-05-08 日本電気株式会社 マルチメディア通信端末装置
US5935220A (en) 1996-08-09 1999-08-10 Motorola Inc. Apparatus and method for high speed data and command transfer over an interface
US6347354B1 (en) * 1997-10-10 2002-02-12 Rambus Incorporated Apparatus and method for maximizing information transfers over limited interconnect resources
TW394898B (en) 1998-12-09 2000-06-21 Via Tech Inc A device making use of NOP command for common main memory
KR100351446B1 (ko) * 1999-12-21 2002-09-09 주식회사 하이닉스반도체 동기식 디램
DE10031223A1 (de) 2000-06-27 2002-01-10 Philips Corp Intellectual Pty Mikrocontroller
US6477598B1 (en) * 2000-07-20 2002-11-05 Lsi Logic Corporation Memory controller arbitrating RAS, CAS and bank precharge signals
US6438062B1 (en) * 2000-07-28 2002-08-20 International Business Machines Corporation Multiple memory bank command for synchronous DRAMs
KR100396894B1 (ko) 2001-06-27 2003-09-02 삼성전자주식회사 버스 효율을 향상시키는 메모리 시스템 및 반도체 메모리장치와 상기 반도체 메모리 장치의 리프레쉬 방법
US6560161B1 (en) 2001-08-30 2003-05-06 Micron Technology, Inc. Synchronous flash memory command sequence
DE10149192B4 (de) 2001-10-05 2005-07-14 Infineon Technologies Ag Vorrichtung zum Erzeugen von Speicher-internen Befehlssignalen aus einem Speicheroperationsbefehl
US7302503B2 (en) 2002-04-01 2007-11-27 Broadcom Corporation Memory access engine having multi-level command structure
US20030217223A1 (en) * 2002-05-14 2003-11-20 Infineon Technologies North America Corp. Combined command set
KR100535071B1 (ko) * 2002-11-07 2005-12-07 주식회사 하이닉스반도체 셀프 리프레쉬 장치
US7757061B2 (en) 2005-05-03 2010-07-13 Micron Technology, Inc. System and method for decoding commands based on command signals and operating state

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58166579A (ja) * 1982-03-29 1983-10-01 Fujitsu Ltd メモリ制御方式
JPH09161475A (ja) * 1995-12-01 1997-06-20 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2000506301A (ja) * 1996-02-29 2000-05-23 マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド 高速コマンド入力を有する簡単化されたクロックドdram
JPH11250657A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Sharp Corp 同期型半導体記憶装置
JP2001028190A (ja) * 1999-05-07 2001-01-30 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置の動作制御方法および半導体記憶装置
JP2002074952A (ja) * 2000-08-31 2002-03-15 Fujitsu Ltd 同期型半導体記憶装置及びその入力回路の制御方法

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