JP2000506301A - 高速コマンド入力を有する簡単化されたクロックドdram - Google Patents

高速コマンド入力を有する簡単化されたクロックドdram

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Abstract

(57)【要約】 バースト・エクステンディド・データ・アウト(BEDO)DRAMのような非同期DRAMを比較的複雑でなく修正した同期メモリ・デバイスについて説明する。このメモリ・デバイスは、非同期DRAMで周知のコマンド信号CASと関連する多くの機能を与えるシステム・クロック信号を受信する。チップ及びロー選択機能は、周知のコマンド信号RASにより制御される。新規なコマンド信号CMND0及びCMND1が周知のWE及びOEコマンド信号の代わりに供給される。これらの新規なコマンド信号は、CMND0及びCMND1の論理値が読出、書込及びリフレッシュのような個別の動作モード・コマンドを表すRAS時間においてサンプルされる。RAS時間に続く正のシステム・クロック・エッジにおいて、CMND0及びCMND1の論理値の個別の組合せがNOP、切り換えモード、及びラッチ・アドレスのような個別のコマンドを表す。全書込コマンド割込み及び/又はバイト書込能力は所望のように与えることができる。

Description

【発明の詳細な説明】 高速コマンド入力を有する簡単化されたクロックドDRAM 技術分野 本発明は一般的に電子デバイスに関し、特に、メモリ・デバイスとデータをや り取りするメモリ・デバイス及び方法に関するものである。 発明の背景 コンピュータの設計者は、より高速のコンピュータを設計できるより高速のメ モリ・デバイスをいつも求めている。コンピュータの動作速度に対する顕著な制 約は、プロセッサとメモリ回路間のデータ転送に必要な時間である。ダイナミッ ク・ランダム・アクセス・メモリ(DRAM)のようなメモリ回路は、通常、1 個以上のアレイ配置した多数のメモリ・セルを含んでおり、各メモリ・セルはロ ー及びカラムを有する。メモリ・セルは、プロセッサがデータをストアし取り出 すことができる場所を提供する。プロセッサは、メモリ・セル内のデータに素早 くアクセスできればできるほど、そのデータを用いて一層素早く計算を行なった りプログラムを実行したりすることができる。 図1は代表的なコンピュータ・システムのアーキテクチャを部分的に示す。中 央処理ユニット(CPU)すなわちプロセッサ50はバス・セット52に接続さ れ、このバス・セットは順にシステムすなわちメモリ・コントローラ54とデー タパス集積回路(IC)56に接続される。メモリ・コントローラ54とデータ パスIC56は、プロセッサ50とメモリ60間のインタフェース回路として作 用する。プロセッサはコマンドCとアドレスAを発行し、これらはメモリ・コン トローラ54により受信されてトランスレートされ、メモリ・コントローラは順 次、メモリ60に複数のコマンド・ライン58を介してコマンド信号を、アドレ ス・バス59を介してアドレスを供給する。これらのコマンド信号は当該技術分 野において周知でありRAS(ロー・アドレス・ストローブ)、CAS(カラム ・アドレス・ストローブ)、WE(書込イネーブル)、及びOE(出力イネーブ ル)を含んでいる。プロセッサから発行するコマンドCとアドレスAに対応して 、データDがデータパスIC56とメモリ・データ・バス61を介してプロセッ サ50とメモリ60間で転送される。 メモリ60は典型的に多数のメモリ・バンク62を具え、メモリ・バンクの代 表的な一例を図2に示す。この例では、メモリ・バンク62は32ビット・シス テム用に構成され、8ビットのコンポーネント・デバイス64(0)〜64(3 )を有する。4つの個別のCASコマンド信号(CAS0〜CAS3)が表され ており、各8ビット・デバイス64に対して1つが与えられる。したがって、コ マンド信号CASはしばしばバイト特定(byte-specific)コマンド信号と称さ れる。バイト特定信号というものは、最小の伝搬遅延とスキューを伴う比較的軽 い負荷のコマンド・ラインという利点を提供するが、コントローラ54における ピン数と複雑性が増大する犠牲も生じている(図1参照)。コマンド信号RAS はバンク62の全コンポーネント・デバイス64に供給される。付加的なバンク (図示せず)を有するメモリ60では、個別のRASコマンド信号を各バンクに 供給する。したがって、コマンド信号RASはしばしばバンク特定コマンド信号 と称される。アドレス・バス59は、バンク62内の全コンポーネント・デバイ ス64と、メモリ60の他の全バンク(図示せず)内の他の全コンポーネント・ デバイス(図示せず)に接続される。つまり、アドレス・バス59はグローバル に接続されるとしばしば称される。グローバルに接続されるラインはラインの負 荷が重くなるという付随的な欠点を有するが、コントローラ54の余分なピンと 複雑性を節約する。典型的には、コマンド信号WEとOEはグローバル・コマン ド・ラインを通って搬送される。 再び図1を参照すると、システム・クロック(図示せず)は信号CLKをプロ セッサ50とコントローラ54に供給する。プロセッサ50はコマンドC、アド レスAを発行し、システム・クロックにより制御された正確な時間間隔(典型的 には、正のクロック信号CLKの遷移(transition))でデータDを供給し、ま たは受信している。しかしながら、商業的に市販されているDRAMの多くは非 同期であり、これはメモリ60がそれ自身ではシステム・クロック信号CLKを 直接受信せず、応答もしないことを意味する。代わりに、メモリ60はメモリ・ コントローラ54から発生したコマンド信号にだけ応答する。コントローラ54 はシステム・クロックとプロセッサ・コマンドに応じてコマンド信号を開始(in itiate)しているが、コマンド信号の開始とメモリ60へのコマンド信号の供給 との間に本質的な遅延が存在する。また、データを読み出す場合、メモリ60か ら取り出されるデータはプロセッサ50に対するシステム・クロックと一時的に 整列されて正しく読み出される必要がある。所要とされるコマンド信号の発生に 関連する伝搬遅延とデータ・パスの一時的な整列遅延により、システムの性能が 大幅に制限される。 多くの性能改良が非同期DRAMにおいて実施されている。例えばページ志向 DRAMは、多くの用途において従来のランダム・アクセスDRAMにとって換 っている。従来のランダム・アクセス・データ転送サイクルでは、アドレスされ たメモリ・セルのローはRASコマンド信号に応答してアクチベートされ、アド レスされた単一のカラムだけがCAS信号に応答して(WE及びOEコマンド信 号の状態で、データ転送が読出動作か書込動作か決定する)アクセスされる。こ れに対して、ページ志向メモリ・デバイスを使用して、より多量のデータを取り 出すために必要な個別のコマンド信号の数を最小にする。メモリ・デバイスがペ ージ・モード・サイクルで動作する場合、アドレスされたメモリ・セルのローは RASコマンド信号に応答してアクチベートされ、バイト特定CASコマンド信 号のトグリング(togglig)により、そのローの多数の(ある時には全て)カラ ムでのデータ転送がデータ転送サイクル完了前に行われる。しかしながら、CA Sのトグリングに加えて、負荷の重いグローバル・アドレス・バスを駆動して、 CASによりストローブされる種々のカラム・アドレスを急速に供給するように する必要がある。それにも係わらず、データ転送当たりの平均サイクル時間は、 ページ志向メモリ・デバイスにおいてはランダム・アクセス・デバイスより大幅 に短くすることができる。 従来のページ志向メモリ・デバイスに対するさらなる改良が、メモリ・デバイ スに内蔵されたアドレス・バースト・カウンタにより行われている。カラム・ア ドレスが1つだけ与えられた場合、バースト・カウンタは順番にしたがって続く カラム・アドレスを供給し、負荷の重いアドレス・バスを急速に駆動する必要性 が回避される。コマンド信号CASは、通常のように依然としてトグルされてカ ラム・アドレスをラッチする。別の改良はパイプライン・データ転送サイクルに より行われ、ここでメモリ60は、続くデータ転送サイクルを以前のサイクルが 終了する前に開始できるように構成されている。また別の改良をシステム・アー キテクチャ・レベルで行ない、データ・コマンド信号DCSをコントローラ54 からデータパスIC56へ供給することによって、システム・クロックで読出ア クセスされたデータ・エレメントの一時的な整列を促進するのを助けることがで きる(図1参照)。しかしながら、非同期DRAMを有するコンピュータ・シス テム・アーキテクチャのいずれもがコマンド信号生成の遅延に関連する基本的課 題を克服することができない。 メモリがシステム・クロック信号を受信して直接このクロック信号に応答する 同期DRAMは、コマンド信号生成遅延に関連する課題を克服するように規定さ れている。しかしながら、産業界の同意により規定された同期DRAMは、数個 の新たに規定されたピンに加えて多くの特別な機能を含み、必要とされるダイの サイズがより大きいために製造コストが高い。この結果、現在商業的に市販され ている同期DRAMは大きな商業的な成功を収めていない。 発明の概要 本発明によれば、同期メモリ・デバイスは、バースト・エクステンディド・デ ータ・アウト(BEDO)DRAMのような既存の非同期DRAMを修正するこ とにより構成される。このメモリ・デバイスはシステム・クロック信号を受信し 、これにより非同期DRAMに周知のコマンド信号CASと関連する多くの機能 を提供する。チップ及びロー選択機能は周知のコマンド信号RASにより制御さ れる。新規なコマンド信号CMND0及びCMND1が周知のWE及びOEコマ ンド信号の代わりに供給される。これらの新規なコマンド信号はRAS時間でサ ンプルされ、この時間において、CMND0及びCMND1の論理値の個別の 組合せで読出、書込及びリフレッシュのような個別の動作モード・コマンドを表 す。RAS時間に続く各正のシステム・クロック・エッジにおいて、CMND0 及びCMND1の論理値の個別の組合せで、NOP、切り換えモード、及びラッ チ・アドレスのような個別のコマンドを表す。好適実施例において、CMND1 はバイト特定信号であり、CMND0はグローバル・コマンドであり、バス効率 とメモリ・コントローラのピン総数、複雑性の間の折衷案を表す。好適実施例に おいて、読出及び書込バーストの割込みが行われる。或いは、バイト書込能力は 書込コマンド割込み機能により置き換えることができる。 本発明によれば、データはプロセッサと、ロー及びカラムに配置したメモリ・ セルのアレイを有するメモリ・デバイスとの間で転送される。システム・クロッ ク信号、ロー・アクチベーション信号、並びに第1及び第2のコマンド信号がメ モリ・デバイスのコントロール回路に供給される。ロー・アクチベーション信号 は2つの論理値を有し、第1及び第2のコマンド信号も同様である。ロー・アク チベーション信号は、システム・クロック信号により決定される規則的な時間間 隔でコントロール回路によりサンプルされる。ロー・アクチベーション信号のサ ンプルされた最初の論理値に応じてコントロール回路は1つ以上のコントロール 信号を発生し、アドレスされたメモリ・セルのローのアクチベーションを開始す る。コントロール回路は、第1及び第2のコマンド信号のサンプルされた論理値 の複数の組合せのうち1つに応じて1つ以上のコントロール信号を発生し、複数 のメモリ・デバイス動作モードのうちの1つの動作モード(読出又は書込のよう な)を開始する。続いて、コントロール回路は、第1及び第2のコマンド信号の サンプルされた論理値の複数の組合せに応じて、複数のメモリ・デバイス・コマ ンド(切り換えモード、NOP、又はラッチ・アドレスのような)のうちの1つ に対応する1つ以上のコントロール信号を発生する。 図面の簡単な説明 図1は、従来のコンピュータ・システム・アーキテクチャの機能ブロック図で ある。 図2は、従来のメモリ・デバイスのバンクのブロック図である。 図3は、本発明によるメモリ・デバイスの機能ブロック図である。 図4は、本発明によるメモリ・デバイスのバンクのブロック図である。 図5は、図3のメモリ・デバイスのリフレッシュ動作を示すタイミング図であ る。 図6は、図3のメモリ・デバイスにおけるプリチャージ動作が後続する読出バ ーストを示すタイミング図である。 図7は、図3のメモリ・デバイスにおけるアイドル状態が後続する読出バース トを示すタイミング図である。 図8は、図3のメモリ・デバイスにおけるプリチャージ動作により終結した読 出バーストを示すタイミング図である。 図9は、図3のメモリ・デバイスにおける連続する読出バーストを示すタイミ ング図である。 図10は、図3のメモリ・デバイスにおける後続する読出バーストにより中断 した読出バーストを示すタイミング図である。 図11は、図3のメモリ・デバイスにおける書込バーストが後続する読出バー ストを示すタイミング図である。 図12は、図3のメモリ・デバイスにおける後続する書込バーストにより中断 した読出バーストを示すタイミング図である。 図13は、図3のメモリ・デバイスにおけるアイドル状態が後続する書込切り 換えモード・コマンドにより終了した読出バーストを示すタイミング図である。 図14は、図3のメモリ・デバイスにおけるプリチャージ動作が後続する書込 バーストを示すタイミング図である。 図15は、図3のメモリ・デバイスにおけるアイドル状態が後続する書込バー ストを示すタイミング図である。 図16は、図3のメモリ・デバイスにおけるプリチャージ動作により終了した 書込バーストを示すタイミング図である。 図17は、図3のメモリ・デバイスにおける連続する書込バーストを示すタイ ミング図である。 図18は、図3のメモリ・デバイスにおける後続する書込バーストにより中断 した書込バーストを示すタイミング図である。 図19は、図3のメモリ・デバイスにおける読出バーストが後続する書込バー ストを示すタイミング図である。 図20は、図3のメモリ・デバイスにおける後続する読出バーストにより中断 した書込バーストを示すタイミング図である。 図21は、図3のメモリ・デバイスにおけるアイドル状態が後続する読出切り 換えモード・コマンドが後続する書込切り換えモード・コマンドにより終了した 書込バーストを示すタイミング図である。 図22は、本発明によるコンピュータ・システムの機能ブロック図である。 発明の詳細な説明 図3は本発明によるメモリ・デバイス100の機能ブロック図を示す。メモリ ・デバイス100は、その中央メモリ・エレメントとしてメモリ・アレイ101 を含み、コントロール・ロジック回路102の制御のもとで動作する。メモリ・ アレイ101はロー及びカラムに配置した複数のメモリ・セル(図示せず)を含 む。本発明の一実施例において、メモリ・デバイス100は8ビットのワード幅 を有し、これは各特定されたメモリ・アドレス(ロー及びカラムアドレスで組み 合わされた)に対し、アレイ101中の8個のメモリ・セルと1対1の対応が存 在することを意味する。 システム・クロック(図示せず)は、メモリ・デバイス100のコントロール 回路102と、並びにメモリ・デバイスにアクセスするプロセッサ及び/又はア ドレシング回路(メモリ・コントローラのような)に信号CLKを提供する。コ ントロール回路102に入力されるコマンド信号はコマンド・デコード回路10 4によりデコードされる。これらのコマンド信号は当該分野で周知のRASと、 2つの新規なコマンド信号CMND0及びCMND1を含み、これらコマン ド信号については以下において詳細に説明する。周知のCASコマンド信号に関 連する機能の多くは、代わりにシステム・クロック信号CLKにより提供される 。さらに、周知のWE及びOEコマンド・ラインは存在せず、新規なコマンド信 号CMND0及びCMND1により置き換えられている。供給されるコマンド信 号の順序/組合せに応じて、コントロール回路102はコントロール信号を制御 ライン103A−Jを通してメモリ・デバイス100の別の部分に送出し、アレ イ101内のメモリ・セルに対するアクセス・タイミングを制御する。本発明に よるメモリ・デバイスは、バースト・エクステンディド・データ・アウト(BE DO)DRAMのような既存の非同期DRAMを比較的複雑でなく修正すること により実施することができる。このように本発明の主要な利点は、非同期DRA Mの安価な製造コストで高性能同期DRAMを提供することである。既存の非同 期DRAMを比較的複雑でなく修正することに関連するさらなる利点は、メモリ ・コントローラの複雑さを過剰に増大する必要なしに十分に同期した性能が提供 されることである。 アドレスは、アドレス・バス105を通ってメモリ・デバイス100に供給さ れる。アドレスはロー・アドレスとカラム・アドレスを含み、これらのアドレス は好ましくはメモリ・デバイス100に連続的に供給される。コントロール回路 102により提供される1つ以上のコントロール信号に応答して、ロー・アドレ ス・バッファ回路106はロー・アドレスを受け取り、それをロー・デコード回 路108に供給する。コントロール回路102により提供される1つ以上のコン トロール信号に応答して、ロー・デコード回路はロー・アドレスを受け取り、数 個のロー・アクセス・ライン110のうちの1つを選択することによりメモリ・ アレイ101中の選択したメモリ・セル(図示せず)のロー(row)をアクチベ ートする。コントロール回路102により提供される1つ以上のコントロール信 号に応答して、カラム・アドレス・バッファ回路112はカラム・アドレスを受 け取り、それをカラム・アドレス・マルチプレクサ114に供給する。カラム・ アドレス・マルチプレクサ114はアドレス・バースト・カウンタ116からア ドレシング情報も受け取り、これはコントロール回路102により提供される1 つ以上のコントロール信号に応答して機能する。一例として、バースト・カ ウンタ116はカラム・アドレスの2つの最下位ビットの順序を変えて全部で4 つの個別の(論理的に隣接する)カラム・アドレスを発生する。コントロール回 路102により提供される1つ以上のコントロール信号に応答して、カラム・ア ドレス・マルチプレクサ114はカラム・アドレスをカラム・デコード回路11 8に提供する。コントロール回路102により提供される1つ以上のコントロー ル信号に応答して、カラム・デコード回路118は、I/Oインタフェース回路 122によりメモリ・アレイ101にそれぞれが結合されている数個のカラム・ アクセス・ライン120のうちの1つを選択する。コントロール回路102によ り提供される1つ以上のコントロール信号に応答して、I/Oインタフェース回 路122は、アクチベートされたローにおけるカラム位置に対応するメモリ・セ ルをビットライン124を介して選択する。I/Oインタフェース回路122は 、選択したメモリ・セルの論理状態を決定し増幅するセンス・アンプ(図示せず )と、データをデータイン・バッファ126から受信すると共にデータをデータ アウト・バッファ128に送出するI/Oゲート回路(図示せず)を含む。デー タ・バッファ126及び128はデータ・バス130に接続され、コントロール 回路102により提供されるコントロール信号に応答してメモリ・デバイス10 0とのデータ入力と出力に使用される。 コマンド信号RAS、CMND0及びCMND1はシステム・クロック信号C LKと同期している。RASコマンド信号は、従来の非同期DRAMと同様にサ イクルを開始し、ロー・アクチベーション信号として作用する。CMND0及び CMND1信号は、RASがロウ(low)をサンプルされるときの各正のクロッ ク信号遷移毎にサンプルされる。 図4は本発明による4個のメモリ・デバイス100(0)〜100(3)から なるバンクのブロック図を示す。このバンクは32ビット・システム用に構成さ れ、RASは従来通りにバンク特定コマンドとして機能する。コマンド信号CM ND1はバイト特定メモリバンクとして機能し、4つの個別の信号CMND1( 0)〜CMND1(3)がメモリ・デバイス100(0)〜100(3)とそれ ぞれ関連し、データ・バイトDQ1−DQ8,DQ9−DQ16,DQ17−D Q24,及びDQ25−DQ32すべてとそれぞれ関連する。ク ロック信号CLK及びコマンド信号CMND0はグローバルに接続され、アドレ ス・バス105も同様である。バイト特定コマンドCMD1を提供することによ り負荷の軽いコマンド・ラインを急速にトグリング(toggling)できるが、メモ リ・コントローラ(図示せず)のピン数と複雑性が増大するという犠牲を払うこ とになる。グローバル・コマンドCMND0を用いることによりメモリ・コント ローラのピン数と複雑性が節約されるが、負荷の重いコマンド・ラインについて の伝搬遅延とスキューが増大するという犠牲を払うことになる。バイト特定及び グローバル・コマンド・ライン双方にコマンド信号を提供することは、コントロ ーラのピン総数とバスの効率間の折衷案を意味する。 コマンド信号CMND0及びCMND1双方はRAS時間で、すなわちハイか らロウへRASが遷移した後のシステム・クロック信号のロウからハイへの最初 の遷移でサンプルされ、その時間においてメモリ・セルのローのアクチベートが 開始される。CMND0及びCMND1信号の値の個別の組合せは個別の動作モ ード・コマンドを表す。コントロール回路102のコマンド・デコード回路10 4(図3参照)はCMND0及びCMND1をサンプルし、コントロール回路は このとき選択された動作モードに対応するコントロール信号を発生する。表1は RAS時間におけるCMND0及びCMND1の値と関連する動作モードを示し 、「1」は論理ハイ値を、「0」は論理ロウ値を表す。 表 1CMND1 CMND0 モード 0 0 読出 0 1 書込 1 0 保持 1 1 リフレッシュ 読出又は書込モードがRAS時間において選択される場合は、CMND0及び CMND1の値と関連する動作コマンドの規定は、後続の正のクロック・エッジ でサンプルされたときに変更される。表2は、読出又は書込モードがRAS時間 において選択された後の、どの正のクロック・エッジにおけるCMND0及びC MND1の値とも関連する動作コマンドを示す。 CMND0信号はグローバル・コマンド・ラインを通して搬送されるので、C MND0信号の遷移は単一のクロック・サイクル中では有効にはならない。従っ て、表2に示すように、バイト特定CMND1信号がRAS時間の後にロウをサ ンプルされたときにCMND0はいかなる正のエッジにおいても無視される。 CMND0及びCMND1の値に関連する動作コマンドの規定を表1及び2に 示されるように変更できるようにすると多数の利点が生ずる。4つの個別の論理 値の組合せを有する2つのコマンド信号だけを用い、多くの個別のコマンドを符 号化することができる。この結果、例えば、メモリ・デバイス100と、外部の メモリ・コントローラ(図1参照)又はメモリ・デバイスにアクセスする他の回 路の双方に必要とされる複雑性とピン総数が大幅に節約される。コントローラの 複雑性も、RAS時間において読出又は書込動作モードを選択することによって 、従来の順次選択するものよりむしろ軽減される。 図5〜図21はタイミング図であり、時間T0,T1,T2等で発生する立上 がり、すなわち正のクロック・エッジを有するシステム・クロック信号CLKと 、CLK信号の立上がりエッジに対応する時間で図3のメモリ・デバイス 100に登録されるコマンド信号RAS,CMND0及びCMND1の状態と、 アドレス・バス105を通してメモリ・デバイスに提供されCLK信号の立上が りエッジに対応する時間でメモリ・デバイス100に登録されるロー及びカラム ・アドレスと、CLK信号の立上がりエッジに対応する時間でデータがメモリ・ デバイスに出力され(DOUT)又は入力される(DIN)データ・バス130 の状態とを示している。図5〜図21に示されたパラメータは、現時点での50 〜100MHzのクロック速度に対応する技術の最新の状態を表している。ロー ・アクチベーション時間tRCDは3クロック・サイクルとし、書込回復時間tWR (入力データDINのメモリ・デバイスにおける登録とロー・ディアクチベーシ ョン・プリチャージ・ステップの間に書込アクセスされたローが有効になる間の 時間)は1クロック・サイクルとし、読出待ち時間(アクセスされるべきカラム ・アドレスのメモリ・デバイスにおける登録とデータ・バス上でアクセスされた データが有効になる間の時間)は3クロック・サイクルとする。 図5のタイミング図に示すように、リフレッシュ・サイクルはRASアクティ ブ時間(RASがロウ)とRASプリチャージ時間(RASがハイ)とで構成さ れ、これは従来の非同期DRAMと同様である。RAS時間TOにおいて、CM ND0及びCMND1はそれぞれハイをサンプルされ、リフレッシュ・サイクル が開始される。好適なリフレッシュ方法は、内部発生したロー・アドレスを用い る従来のCAS−BEFORE−RAS法又はAUTO−REFRESH法(つ まり、図5のアドレス・バスの状態が「Don’t Care」となる)である 。上記表1の指定したスロットをアドレス入力と共に用いて、第2のリフレッシ ュ方法を所望のように規定することができる。 図3及び図6を参照し、ここで読出バーストについて説明する。RAS時間T Oにおいて、ROWアドレスがアドレス・バス・ライン105に提供され、メモ リ・アレイ101内の対応するメモリ・セルのローのアクチベートが開始される 。またRAS時間TOにおいて、CMND0及びCMND1の値はそれぞれコマ ンド・デコード回路104によりロウ(low)をサンプルされ、メモリ・デバイ ス100の続く動作を読出モードにする。アドレスされたローのアクチベートを 完了するのに十分な時間(すなわち、TRCD)の後に、CMND0及び CMND1の値はそれぞれハイをサンプルされ、対応するコマンドが発行されて カラム・アドレスをラッチし、読出バーストをスタートする(上記表2を参照) 。同様に、カラム・アドレスCOLbが正のクロック・エッジT3に応答して提 供されメモリ・デバイス100に登録される。選択されたメモリ・セルからのデ ータの読出が開始される。メモリ・デバイス内部に、バースト・カウンタ116 及びカラム・アドレス・マルチプレクサ114が3個の論理的に隣接するカラム ・アドレス(b+1、b+2、b+3)を付加的に提供し、これらのカラム・ア ドレスは次に、連続するクロック・サイクルでメモリ・デバイス100に登録さ れる。信号生成及び選択されたメモリ・セルにストアされているデータのI/O ゲートのための十分な時間(すなわち「読出待ち時間」)に続いて、アクチベー トされたローの4つのカラム位置の各々からデータ・バス130に、4個の連続 するクロック・サイクルでデータが出力される。時間T9において最後の出力デ ータDOUTb+3が提供されるのと同時に、アクセスされたメモリ・セルのロー はRASのロウ(low)からハイ(high)への遷移によりディアクチベートされ 、ロー・プリチャージが開始される。代わりに、図7に示すように、RAS信号 が時間T9においてロウに留まり、続いてメモリ・デバイス100は読出モード においてアイドル状態に入るが、メモリ・セルのこのローは依然としてアクティ ブであり、メモリ・デバイスはこのローについて別の読出及び/又は書込アクセ スに対応するコマンド及びアドレスを待機することになる。或いは、最後の出力 データが提供される前にRASがハイに遷移すると、図8に示すように読出バー ストは終了する。 図3及び図9を参照して、2つの連続する読出バーストについて説明する。R AS時間TOにおいて、アドレスされたROWのアクチベートが開始され読出モ ードが選択される。ロー・アクチベーション期間に続いて、第1のカラム・アド レスCOLbが時間T3においてメモリ・デバイス100に供給され、そこに登 録される。バースト・サイズ(本実施例においては4)に対応する多数のクロッ ク・サイクルに続いて、第2のカラム・アドレスCOLnが時間T7においてメ モリ・デバイス100に供給され登録される。このようにして、データは連続す る8クロック・サイクルで8個の選択されたカラムの各々のアクチベートさ れたメモリ・セルからデータ・バス130に出力され、時間T6で始まり時間T 13(図示せず)で終了する。第2のカラム・アドレスが代わってより早い時間 にメモリ・デバイスに供給された場合、これは、初めに供給されたカラム・アド レスに関連する読出バーストを中断する。例えば、図10は、第1のカラム・ア ドレスCOLbから2クロック・サイクル後の時間T5において第2のカラム・ アドレスCOLnが供給されるのを示す。この場合、COLnからアクセスされ たデータが現れる前に、初めの2つのアクセスされたカラム位置b及びb+1に 対応するメモリ・セルからのデータだけがデータ・バス150に現れる。 図3及び図11を参照して、書込バーストが後続する読出バーストについて説 明する。RAS時間TOにおいて、アドレスされたROWのアクチベーションが 開始され読出モードが選択される。ロー・アクチベーション期間に続いて、第1 のカラム・アドレスCOLbが時間T3においてメモリ・デバイス100に供給 され、そこに登録される。次に、読み出されたデータは、時間T6〜T9におい てデータ・バス130を通して使用可能になる。時間T9において、コマンド・ デコード回路104はCMND0のロウ及びCMND1のハイをサンプルする。 上記表2を参照すると、書込切り換えモード(Switch to Write mode)はコント ロール回路102により開始される。時間T11において、データ・バス130 が反転し、かつCMND0を搬送するグローバル・コマンド・ラインへの信号生 成に十分な時間が与えられると、カラム・アドレスCOLnがアドレス・バス1 05に供給され、4つのバーストの入力データ・エレメントDINnの最初のも のが同時にデータ・バス130に提供される。この時間T11においてサンプル されたCMND0のハイ及びCMND1のハイの値により、コントロール回路1 02はアドレスと入力データのラッチを開始する(上記表2参照)。続いて、残 りの入力データがデータ・バスを通って提供され、時間T14(図示せず)にお いて入力データDINn+3を伴う書込バーストが完了する。代わりに、書込切り 換えモード・コマンド(Switch to Write mode command)がより早い時間にメモ リ・デバイスに供給された場合、これは、第1の供給されたカラム・アドレスに 関連する読出バーストを中断する。例えば、図12は時間T6において初めに 読み出されアクセスされたデータ・エレメントDOUTbの出現と同時に供給さ れた書込切り換えモード・コマンドを示し、これにより読出バーストにおいてそ の後アクセスされるデータの供給を中断する。カラム・アドレス及び入力データ をラッチするコマンドの、カラム・アドレスCOLn及び4つのバーストの入力 データ・エレメントDINnのうちの最初のエレメントと一緒の供給により、時 間T8において書込バーストが始まる。その代わりに、カラム・アドレスと入力 データをラッチするコマンドが時間T8において提供されない場合、図13に示 すように、メモリ・デバイス100は単に書込モードにおけるアイドル状態に入 るだけであり、このメモリ・セルのローは依然としてアクティブであり、メモリ ・デバイスはそのローに対する別の読出及び/又は書込アクセスに対応するコマ ンド及びアドレスを待機する。 図3及び図14を参照して、書込バーストについて説明する。RAS時間TO において、ROWアドレスがアドレス・バス105に提供され、メモリ・アレイ 101の対応するメモリ・セルのローが開始される。また、RAS時間TOにお いて、CMND0及びCMND1の値はハイ及びローをそれぞれサンプルされ、 メモリ・デバイス100のその後の動作を書込モードにする。アドレスされたロ ーのアクチベートを終了させるのに十分な時間の後(すなわちtRCD)、CMN D0及びCMND1の値はハイをそれぞれサンプルされ、対応するコマンドが発 行されカラム・アドレスをラッチすると共に書込バーストを始める(上記表2を 参照)。同時に、カラム・アドレスCOLbがアドレス・バス105に提供され 、かつ入力データDINがデータ・バス130に提供され、選択したメモリ・セ ルへのデータ書込が時間T3において開始される。バースト・カウンタ116と カラム・アドレス・マルチプレクサ114は、3個の論理的に隣接するカラム・ アドレスCOLb+1〜COLb+3を連続するクロック・サイクルでメモリ・デバイ スに付加的に提供し、対応する入力データDINb+1〜DINb+3がデータ・バス 130を通り提供される。最後の入力データDINb+3が時間T6で供給されて 1クロック・サイクル後に、アクセスされたメモリ・セルのローはRASのロウ からハイへの遷移によりディアクチベートされ、ロー・プリチャージが開始され る。これは、周知のように、1クロック・サイクルの最小の書込回 復時間tWRと一致する。その代わりに、メモリ・デバイスが内部書込待ち時間の パイプラインを有する場合、プリチャージ・ステップ開始は対応する時間だけ遅 れて発生させる必要がある。代わりに、図15に示すように、RAS信号が時間 T9においてロウに留まり、続いてメモリ・デバイス100は書込モードにおい てアイドル状態に入るが、メモリ・セルのこのローは依然としてアクティブであ り、メモリ・デバイスはこのローについて別の読出及び/又は書込アクセスに対 応するコマンド及びアドレスを待機することになる。或いは、最後の出力データ が提供される前にRASがハイに遷移すると、図16に示すように書込バースト は終了する。 図3及び図17を参照して、2つの連続する書込バーストについて説明する。 RAS時間TOにおいて、アドレスされたROWのアクチベーションが開始され 書込モードが選択される。このロー・アクチベーション期間に続いて、第1のカ ラム・アドレスCOLbが時間T3においてメモリ・デバイスに供給され、そこ に登録される。バースト・サイズ(本例の場合4)に対応する多数のクロック・ サイクルに続いて、第2のカラム・アドレスCOLnが時間T7においてメモリ ・デバイス100に供給され登録される。このようにして、データは連続する8 クロック・サイクルで8個の選択されたカラムの各々のアクチベートされたメモ リ・セルにデータ・バス130を通して入力され、時間T3で始まり時間T10 (図示せず)で終了する。第2のカラム・アドレスが代わってより早い時間にメ モリ・デバイスに供給された場合、これは、第1の供給されたカラム・アドレス に関連する書込バーストを中断する。例えば、図18は、第1のカラム・アドレ スCOLbから2クロック・サイクル後の時間T5において第2のカラム・アド レスCOLnが供給されるのを示す。この場合、データ・バス150を搬送され るデータは、データがCOLnに入力される前に初めの2つのアクセスされたカ ラム位置b及びb+1と対応するメモリ・セルにだけ入力される。 図3及び図19を参照して、読出バーストが後続する書込バーストについて説 明する。RAS時間TOにおいて、アドレスされたROWのアクチベーションが 開始され書込モードが選択される。ロー・アクチベーション期間に続いて、第1 のカラム・アドレスCOLbが時間T3においてデータ・バス130上の4つの 入力データ・エレメントの最初のものと一緒にメモリ・デバイス100に供給さ れる。時間T9において、コマンド・デコード回路104はCMND0のロウ及 びCMND1のハイをサンプルする。上記表2を参照すると、書込切り換えモー ド(Switch to Read mode)はコントロール回路102により開始される。同時 に、アドレス・バス105上に提供されたカラム・アドレスCOLnがラッチさ れ読出バーストが開始される。読出待ち時間に続いて、4つのバーストの出力デ ータ・エレメントDOUTのうち最初のものが時間T10においてデータ・バス 130上で使用可能になる。続いて、残りの出力データがデータ・バスを通って 提供され、時間T13(図示せず)において出力データDOUTn+3を伴う読 出バーストが完了する。代わりに、読出切り換えモード・コマンド(Switch to Read mode command)がより早い時間にメモリ・デバイスに供給された場合、こ れは、第1の供給されたカラム・アドレスに関連する書込読出バーストを中断す る。例えば、図20は、読出切り換えモード・コマンドと時間T4における第2 の入力データ・エレメントDINb+1の提供に続いて時間T5において登録され た読出アクセス・カラム・アドレスCOLnを示す。これにより、時間T5及び T6での書込バーストにおける続くデータのメモリ・デバイスへの書込は、デー タパスIC(図1参照)のような外部装置がデータ・バス130へのデータの駆 動を続けても中断する。読出待ち時間に続いて、4つのバーストの出力データ・ エレメントDOUTnのうち最初のものが、時間T8で読出バーストを始める。 代わりに、書込切り換えモード・コマンドが時間T5における読出切り換えモー ド・コマンドに続いて直ちに時間T6で登録されると、メモリ・デバイス100 は図21に示すように書込モードにおけるアイドル状態に入り、このメモリ・セ ルのローは依然としてアクティブであり、メモリ・デバイスはこのローに対する 別の読出及び/又は書込アクセスに対応するコマンド及びアドレスを待機する。 読出又は書込アクセスのいずれかが単一のコマンドで発生することができ同時 にカラム・アドレスをラッチするので、一般的にメモリ・デバイス100に書込 モードでアイドリングさせることが望ましい。代わりに、メモリ・デバイス10 0が読出モードでアイドリングする場合、図11に関連して説明したように、後 続の書込アクセスは初めに書込切り換えモード・コマンドを必要とし、遅れて供 給されるカラム・アドレスをこれに続いて必要とする。 上述したメモリ・デバイス100は、読出又は書込モードのどちらかで動作中 にバースト動作を十分に中断できるという望ましい機能を有する。しかしながら 、バイト書込能力が書込コマンド割込みよりも重要であると判断される場合には 、バイト特定コマンド信号CMND1を書込マスク信号として用いることができ る。書込バーストは前述したようにして開始される。しかしながら、各入力デー タ・エレメントは上述した場合よりも1クロック・サイクル遅れて供給される。 この1クロック・サイクルの外部書込待ち時間の必要条件により、 CMND1を書込マスク信号として機能させることができ、データが入力される 正のクロック・エッジの各々でサンプルされる。しかしながら、ここでCMND 1はバースト書込の中断目的では使用出来ず、この場合書込バーストはローのプ リチャージ開始によってのみ終結する。或いは、メモリ・コントローラ(図1参 照)により多くのピンを用いてバイト特定CMND0信号(同じくバイト特定C MND1信号)を供給することにより、バイト書込能力及び書込コマンド割込み 能力双方が許容されることになる。 図22は本発明によるメモリ・デバイス100を用いるコンピュータ・システ ム150のブロック図である。コンピュータ・システム150はコンピュータ機 能を遂行するコンピュータ回路152を含み、ソフトウェアを実行して所望の演 算と仕事を行う。回路152は、典型的にプロセッサ(図示せず)と図示のメモ リ・デバイス100を含む。キーボード又はポインティング・デバイスのような 1以上の入力装置154がコンピュータ回路152に結合され、オペレータ(図 示せず)はデータをマニュアル入力することができる。1以上の出力装置156 がコンピュータ回路152に結合され、オペレータに回路によって発生したデー タを提供することができる。出力装置156の例はプリンタとビデオ・ディスプ レイ・ユニットを含む。1以上のデータ・ストレージ装置158がコンピュータ 回路152に結合され、そこにデータをストアし、また外部ストレージ・メディ ア(図示せず)からのデータを取り出すことができる。ストレージ装置158及 び関連するストレージ・メディアの一例は、ハード・ディスク及びフロッピィ・ ディスクを受け入れる駆動装置、磁気テープ・レコーダ、及びコンパクト・ディ スクのリード・オンリ・メモリ(CD−ROM)リーダを含む。 本発明の実施例について図示して説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱 することなく種々の変更が可能であること明らかである。例えば、上述され添付 図面に示した種々のコマンド信号の論理値は任意のものとすることができる。さ らに、製造コストを高くせず又はシステムを複雑にすることなく同期動作を与え る上述した新規なコマンド信号CMND0及びCMND1は、スタテック・ラン ダム・アクセス・メモリ(SRAM)並びに不揮発性メモリ及びフラッシュ・メ モリのような広い範囲の種々のメモリ・デバイスに適用することができる。従っ て、本発明は添付した請求の範囲以外のものにより限定されるものではない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF ,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE, SN,TD,TG),AP(GH,KE,LS,MW,S D,SZ,UG),UA(AM,AZ,BY,KG,KZ ,MD,RU,TJ,TM),AL,AM,AT,AU ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN, CU,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB,G E,HU,IL,IS,JP,KE,KG,KP,KR ,KZ,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV, MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ,P L,PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,SK ,TJ,TM,TR,TT,UA,UG,UZ,VN, YU

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.外部回路とデータをやり取りするように構成したメモリ・デバイスであって 、 データをストアするように動作できる複数のメモリ・セルと、 外部回路からクロック信号並びに第1及び第2のコマンド信号を受信するよう に構成した回路であって、前記クロック信号と関連する時間間隔で前記第1及び 第2のコマンド信号をサンプルするように動作でき、前記第1及び第2のコマン ド信号の複数の論理値の組合せの各々にそれぞれ対応するメモリ・デバイスの機 能の第1のセットの機能を実行するように動作できるコントロール回路とを具え 、 前記コントロール回路は、前記第1及び第2のコマンド信号の複数の論理値の 組合せの各々にそれぞれ対応する第2のセットの機能を実行するように動作でき 、メモリ・デバイス機能の前記第2のセットがメモリ・デバイス機能の前記第1 のセットとは異なることを特徴とするメモリ・デバイス。 2.請求項1に記載のメモリ・デバイスにおいて、メモリ・デバイス機能の前記 第2のセットの前記複数の論理値の組合せとの相関性が以前に実行したメモリ・ デバイス機能の前記第1のセットのうち1つに依存することを特徴とするメモリ ・デバイス。 3.請求項1に記載のメモリ・デバイスにおいて、メモリ・デバイス機能の前記 第2のセットの機能の実行により、メモリ・デバイス機能の前記第1のセットの うち1つの機能から別の機能へ切り換えることを特徴とするメモリ・デバイス。 4.請求項1に記載のメモリ・デバイスにおいて、メモリ・デバイス機能の前記 第1のセットのうち1つの実行により、読出及び書込モードのうちの1つを開始 することを含むことを特徴とするメモリ・デバイス。 5.請求項1に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記複数のメモリ・セルがロ ー及びカラムに配置され、前記コントロール回路は、外部回路からロー・アクチ ベーション信号を受信するように構成されると共に前記クロック信号と関連する 時間間隔でロー・アクチベーション信号をサンプルするように動作でき、前記コ ントロール回路は、ロー・アクチベーション信号の第1の論理状態に応じて選択 したメモリ・セルのローのアクチベーションをロー・アクチベーション時間にお いて開始するように動作できることを特徴とするメモリ・デバイス。 6.請求項5に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記コントロール回路は、メ モリ・デバイス機能の前記第1のセットの機能を前記ロー・アクチベーション時 間で実行するように動作でき、メモリ・デバイス機能の前記第1のセットの機能 の実行が、読出及び書込動作モードのうち1つの開始を含むことを特徴とするメ モリ・デバイス。 7.請求項6に記載のメモリ・デバイスにおいて、メモリ・デバイス機能の前記 第2のセットの機能の実行により、読出及び書込動作モードのうち1つのモード から別のモードへ実行を切り換えることを特徴とするメモリ・デバイス。 8.外部回路とデータをやり取りするように構成され、ロー及びカラムに配置し たメモリ・セルのアレイを含んでデータをストアするように動作できるメモリ・ デバイスであって、 前記メモリ・セルのアレイが結合されると共にロー・アドレスを受信するよう に構成された回路であって、前記ロー・アドレスをデコードすると共に、第1の コントロール信号に応じて対応するメモリ・セルのローをアクチベートするよう に動作できるロー・アドレス回路と、 ロー・アクチベーション信号を受信するように構成されると共に当該ロー・ア クチベーション信号に応じて前記第1のコントロール信号を供給するように動作 でき、さらに第1及び第2のコマンド信号を受信すると共に、前記第1及び第2 のコマンド信号の複数の論理状態の組合せの各々にそれぞれ対応する複数のコマ ンドを登録するように構成され、その相関性を以前に登録したコマンドの機能と したコントロール回路と を具えることを特徴とするメモリ・デバイス。 9.請求項8に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記メモリ・セルのアレイが 結合されると共にカラム・アドレスを受信するように構成された回路であって、 前記カラム・アドレスをデコードすると共に、第2のコントロール信号に応じて 対応するメモリ・セルのアクチベートしたローの対応するカラムを選択するよう に動作できるカラム・アドレス回路をさらに具え、 前記コントロール回路は、前記コマンドの対応するコマンドの登録に応じて前 記第2のコントロール信号を供給するように動作できる ことを特徴とするメモリ・デバイス。 10.請求項8に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記コントロール回路は、 前記ロー・アクチベーション信号が受信されると同時に読出コマンド又は書込コ マンドを登録するように構成したことを特徴とするメモリ・デバイス。 11.請求項10に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記コントロール回路は 、前記読出コマンド又は前記書込コマンドの登録に続いてラッチ・カラム・アド レス・コマンドを登録するように構成したことを特徴とするメモリ・デバイス。 12.請求項10に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記コントロール回路は 、前記読出コマンド又は前記書込コマンドの登録に続いてモード切り換えコマン ドを登録するように構成され、メモリ・デバイスの動作を以前に受信した読出コ マンド又は書込コマンドに対応するものから書込コマンド又は読出コマンドにそ れぞれ対応する動作に変えるように動作できることを特徴とするメモリ・デバイ ス。 13.請求項8に記載のメモリ・デバイスにおいて、前記コントロール回路は、 クロック信号を受信するように構成されると共に、前記クロック信号と関連する 時間で複数のコントロール信号を発生して前記クロック信号と同期するメモリ・ デバイスの動作を実行するように動作できることを特徴とするメモリ・デバイス 。 14.データ入力装置と、データ出力装置と、前記データ入力装置及び前記デー タ出力装置に結合され、コンピュータ・システム・クロック信号をそれぞれ受信 するプロセッサ及びメモリ・デバイスを含むコンピュータ回路とを具え、前記メ モリ・デバイスが、 アドレス・バスと、 データ・バスと、 ロー及びカラムに配置されデータをストアするように動作できるメモリ・セル ・アレイと、 前記アレイに結合されており、ロー・アドレスを受信し、前記ロー・アドレス をデコードし、かつ第1のコントロール信号に応じて前記ロー・アドレスにより 特定されたメモリ・セルのローをアクチベートするように動作できるロー・アク チベーション回路と、 前記アレイに結合されており、カラム・アドレスを受信し、前記カラム・アド レスをデコードし、かつ第2のコントロール信号に応じてアクチベートされたロ ーにおいて前記カラム・アドレスにより特定されたメモリ・セルのセットを選択 するように動作できるカラム選択回路と、 ロー・アクチベーション信号を受信すると共に、前記コンピュータ・システム ・クロックと関連するアクチベーション時間で表明されたロー・アクチベーショ ン信号の登録に応じて前記第1のコントロール信号を発生する回路であって、前 記第1及び第2のコマンド信号の複数の論理状態の組合せの各々に対応する読出 又は書込コマンドを前記アクチベーション時間で登録するように動作でき、さら に前記アクチベーション時間に続く時間でラッチ・アドレス・コマンドを登録し 、これに対応して前記第2のコントロール信号を発生するように動作で き、前記ラッチ・アドレス・コマンドが前記第1及び第2のコマンド信号の前記 論理状態の組合せの各々に対応するコントロール回路と を具えることを特徴とするコンピュータ・システム。 15.前記コンピュータ回路に結合したデータ・ストレージ装置をさらに具える ことを特徴とする請求項14に記載のコンピュータ・システム。 16.請求項14に記載のコンピュータ・システムにおいて、前記コントロール 回路は、前記アクチベーション時間に続く時間でモード切り換えコマンドを登録 して前記メモリ・デバイスの動作を前記読出コマンド又は前記書込コマンドに関 連する動作から前記書込コマンド又は前記読出コマンドに関連する動作にそれぞ れ切り換えるように動作でき、前記モード切り換えコマンドが前記第1及び第2 のコマンド信号の論理状態の組合せの各々に対応することを特徴とするコンピュ ータ・システム。 17.プロセッサとロー及びカラムに配置したメモリ・セルのアレイを有するメ モリ・デバイスとの間でデータを転送するデータ転送方法であって、 前記メモリ・デバイス及び前記プロセッサにシステム・クロック信号を供給す るステップと、 前記メモリ・デバイスに2つの論理値を有するロー・アクチベーション信号を 供給するステップと、 前記メモリ・デバイスに、2つの論理値をそれぞれ有する第1及び第2のコマ ンド信号を供給するステップと、 前記システム・クロック信号により決定される規則的な時間間隔で前記ロー・ アクチベーション信号をサンプリングするステップと、 前記ロー・アクチベーション信号の第1の論理値のサンプリングに応じて、ロ ー・アドレスにより特定されたメモリ・セルのローのアクチベーションを開始す るステップと、 前記第1及び第2のコマンド信号をサンプリングするステップと、 前記第1及び第2のコマンド信号の複数の論理値の組合せのうち1つに対応す るサンプリングに応じて、複数の選択されたメモリ・デバイスの動作モードのう ち1つを開始するステップと、 前記選択された動作モードを開始した後に、前記第1及び第2のコマンド信号 の前記複数の論理値の組合せのうち1つに対応するサンプリングに応じて、複数 の選択されたメモリ・デバイス・コマンドのうち1つを開始するステップと を具えることを特徴とするデータ転送方法。 18.請求項17に記載の方法において、ローのアクチベーションを開始する前 記ステップ及び選択された動作モードを開始する前記ステップが同時に発生する ことを特徴とする方法。 19.請求項17に記載の方法において、選択されたメモリ・デバイスの動作モ ードを開始する前記ステップは、読出及び書込モードのうちの選択された1つを 開始するステップを含むことを特徴とする方法。 20.請求項17に記載の方法において、選択されたメモリ・デバイスのコマン ドを開始する前記ステップは、ラッチ・アドレス、NOP、及びモード切り換え コマンドのうちの選択された1つを開始するステップを含むことを特徴とする方 法。 21.データをストアする複数のメモリ・セルを有するメモリ・デバイスとの間 でデータをやり取りするデータ転送方法であって、 クロック信号を受信するステップと、 第1及び第2の論理値をそれぞれ有する第1及び第2のコマンド信号を受信す るステップと、 前記クロック信号と関連する第1の時間で前記第1及び第2のコマンド信号を サンプリングするステップと、 前記第1の時間における前記第1及び第2のコマンド信号の複数の論理値の組 合せのうち1つに対応するサンプリングに応じて、メモリ・デバイス・コマンド の第1のセットのうち1つを実行するステップと、 前記クロック信号と関連する第2の時間において前記第1及び第2のコマンド 信号をサンプリングするステップと、 前記第2の時間における前記第1及び第2のコマンド信号の前記複数の論理値 の組合せのうち1つに対応するサンプリングに応じて、メモリ・デバイス・コマ ンドの前記第1のセットに含まれるコマンドとは相違するコマンドを含むメモリ ・デバイス・コマンドの第2のセットのうち1つを実行するステップと を具えることを特徴とするデータ転送方法。 22.請求項21に記載の方法において、前記第1及び第2の論理状態を有する アクチベーション信号を受信するステップと、前記クロック信号と関連する時間 間隔で前記アクチベーション信号をサンプリングするステップとをさらに具え、 前記クロック信号と関連する第1の時間で前記第1及び第2のコマンド信号を サンプリングするステップは、前記アクチベーション信号が前記第1の論理状態 を有する場合に前記第1及び第2のコマンド信号をサンプリングするステップを 含むことを特徴とする方法。 23.請求項21に記載の方法において、メモリ・デバイス・コマンドの第1の セットのうち1つを実行するステップは、第1及び第2のデータ転送モードのう ち1つを実行するステップを含むことを特徴とする方法。 24.請求項21に記載の方法において、メモリ・デバイス・コマンドの第2の セットのうち1つを実行する前記ステップは、前記複数のメモリ・セルのうち1 つを特定するアドレスをラッチするステップを含むことを特徴とする方法。 25.請求項21に記載の方法において、メモリ・デバイス・コマンドの第1の セットのうち1つを実行する前記ステップは、第1及び第2のデータ転送モード のうち1つを実行するステップを含み、メモリ・デバイス・コマンドの第2の セットのうち1つを実行する前記ステップは、1つのデータ転送モードから別の データ転送モードへの切り換えを実行するステップを含むことを特徴とする方法 。 26.データをストアする複数のメモリ・セルを有するメモリ・デバイスとの間 でデータをやり取りするデータ転送方法であって、 前記メモリ・デバイスにクロック信号を供給するステップと、 前記メモリ・デバイスにアクチベーション信号を供給するステップと、 前記メモリ・デバイスに、第1及び第2の論理状態をそれぞれ有する第1及び 第2のコマンド信号を供給するステップと、 前記アクチベーション信号を前記クロック信号と関連する第1の時間で表明す るステップと、 前記第1及び第2のコマンド信号の複数の論理状態の組合せの各々に対応する 第1のコマンドのセットを前記第1の時間で前記メモリ・デバイスに供給するス テップと、 前記第1及び第2のコマンド信号の複数の論理状態の組合せの各々に対応し前 記第1のコマンドのセットとは異なる第2のコマンドのセットの1つを前記クロ ック信号と関連する第2の時間で前記メモリ・デバイスに供給するステップと を具えることを特徴とするデータ転送方法。 27.請求項26に記載の方法において、前記メモリ・デバイスに第1のコマン ドのセットのうち一つを前記第1の時間で供給する前記ステップは、前記メモリ ・デバイスに読出又は書込コマンドを前記第1の時間で供給するステップを含む ことを特徴とする方法。 28.請求項26に記載の方法において、前記メモリ・デバイスに第2のコマン ドのセットのうち一つを前記第2の時間で供給する前記ステップは、前記第1の コマンドのセットのうち前記供給される一つを修正する切り換えコマンドを前記 第2の時間で前記メモリ・デバイスに供給するステップを含むことを特徴とする 方法。 29.ロー及びカラムに配置したメモリ・セルのアレイを有するメモリ・デバイ スにおいて、前記メモリ・デバイスは表明されたRAS信号に応じてRAS時間 でロー・アドレスをラッチするように構成され、前記メモリ・デバイスとデータ をやり取りするデータ転送方法であって、 第1及び第2の動作モード・コマンドのうち1つを前記RAS時間で前記メモ リ・デバイスに供給するステップと、 前記第1及び第2の動作モードのうち所定の1つから別のモードに前記メモリ ・デバイスの動作を切り換える切り換えモード・コマンドを前記RAS時間の後 に前記メモリ・デバイスに供給するステップと を具えることを特徴とするデータ転送方法。 30.請求項29に記載の方法において、第1及び第2の動作モード・コマンド のうち所定の1つを前記メモリ・デバイスに前記RAS時間で供給する前記ステ ップは、読出及び書込モード・コマンドのうち1つを前記RAS時間で前記メモ リ・デバイスに供給するステップを含むことを特徴とする方法。 31.非同期メモリ・デバイスを修正して同期メモリ・デバイスを製造する方法 であって、 カラム・アドレス・ストローブ信号の代わりにシステム・クロック信号を受信 するように前記非同期メモリ・デバイスを構成するステップと、 出力イネーブル信号及び書込イネーブル信号の代わりにそれぞれ第1及び第2 のコマンド信号を受信するように前記非同期メモリ・デバイスを構成するステッ プと、 前記第1及び第2のコマンド信号の前記複数の論理状態の組合せのうち対応す る1つでそれぞれ符号化されている複数のコマンドを登録しデコードするコント ロール回路を構成するステップと を具えることを特徴とする同期メモリ・デバイスの製造方法。 32.請求項31に記載の方法において、ロー・アドレス・ストローブ信号の始 めの表明と一致する前記クロック信号と関連する時間で読出コマンド又は書込コ マンドを登録するように前記非同期メモリ・デバイスを構成するステップをさら に具えることを特徴とする方法。 33.請求項32に記載の方法において、前記ロー・アドレス・ストローブ信号 の前記始めの表明に後続する前記クロック信号と関連する時間でラッチ・カラム ・アドレス・コマンドを登録するように前記非同期メモリ・デバイスを構成する ステップをさらに具えることを特徴とする方法。 34.請求項32に記載の方法において、前記ロー・アドレス・ストローブ信号 の前記始めの表明に後続する前記クロック信号と関連する時間でモード切り換え コマンドを登録するように前記非同期メモリ・デバイスを構成し、前記コントロ ール回路は、以前に登録された読出コマンド又は書込コマンドに対応する動作か ら前記書込コマンド又は読出コマンドに対応する動作にそれぞれ切り換えるよう に動作できるステップをさらに具えることを特徴とする方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009501399A (ja) * 2005-05-03 2009-01-15 マイクロン テクノロジー, インク. コマンド信号と動作状態に基づいてコマンドをデコードするためのシステムおよび方法
US8867300B2 (en) 2011-05-26 2014-10-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device, memory system and access method to semiconductor memory device

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09161471A (ja) * 1995-12-06 1997-06-20 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Dramシステム、dramシステムの動作方法
US5883849A (en) * 1997-06-30 1999-03-16 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for simultaneous memory subarray testing
US5959929A (en) * 1997-12-29 1999-09-28 Micron Technology, Inc. Method for writing to multiple banks of a memory device
DE19830111A1 (de) * 1998-07-06 2000-01-13 Siemens Ag Integrierter Speicher
US6130843A (en) 1998-09-02 2000-10-10 Micron Technology, Inc. Method and circuit for providing a memory device having hidden row access and row precharge times
DE19951677B4 (de) * 1998-10-30 2006-04-13 Fujitsu Ltd., Kawasaki Halbleiterspeichervorrichtung
JP3267259B2 (ja) * 1998-12-22 2002-03-18 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US6201751B1 (en) 1999-03-08 2001-03-13 Micron Technology, Inc. Integrated circuit power-up controllers, integrated circuit power-up circuits, and integrated circuit power-up methods
JP4034923B2 (ja) * 1999-05-07 2008-01-16 富士通株式会社 半導体記憶装置の動作制御方法および半導体記憶装置
US7069406B2 (en) * 1999-07-02 2006-06-27 Integrated Device Technology, Inc. Double data rate synchronous SRAM with 100% bus utilization
JP2001035153A (ja) * 1999-07-23 2001-02-09 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US6404694B2 (en) * 1999-08-16 2002-06-11 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory device with address comparing functions
US20050135180A1 (en) * 2000-06-30 2005-06-23 Micron Technology, Inc. Interface command architecture for synchronous flash memory
US6728798B1 (en) * 2000-07-28 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Synchronous flash memory with status burst output
US6580659B1 (en) 2000-08-25 2003-06-17 Micron Technology, Inc. Burst read addressing in a non-volatile memory device
US6779074B2 (en) 2001-07-13 2004-08-17 Micron Technology, Inc. Memory device having different burst order addressing for read and write operations
DE10143033A1 (de) * 2001-09-01 2003-04-03 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Zugreifen auf Speicherzellen eines DRAM-Speicherbausteins
US7558933B2 (en) * 2003-12-24 2009-07-07 Ati Technologies Inc. Synchronous dynamic random access memory interface and method
US7397727B2 (en) * 2005-12-22 2008-07-08 Infineon Technologies Ag Write burst stop function in low power DDR sDRAM
TW200915313A (en) * 2007-09-21 2009-04-01 Quanta Storage Inc Reading/writing method for an optical method
WO2012049760A1 (ja) * 2010-10-14 2012-04-19 富士通株式会社 ストレージ制御装置における基準時間設定方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2138230B (en) * 1983-04-12 1986-12-03 Sony Corp Dynamic random access memory arrangements
JPS62250593A (ja) * 1986-04-23 1987-10-31 Hitachi Ltd ダイナミツク型ram
JP3100622B2 (ja) * 1990-11-20 2000-10-16 沖電気工業株式会社 同期型ダイナミックram
JP2605576B2 (ja) * 1993-04-02 1997-04-30 日本電気株式会社 同期型半導体メモリ
US5511024A (en) * 1993-06-02 1996-04-23 Rambus, Inc. Dynamic random access memory system
JP2836453B2 (ja) * 1993-08-26 1998-12-14 日本電気株式会社 半導体メモリの初段回路方式
US5457659A (en) * 1994-07-19 1995-10-10 Micron Technology, Inc. Programmable dynamic random access memory (DRAM)
JPH08138374A (ja) * 1994-11-10 1996-05-31 Nec Corp 半導体メモリ装置およびそのリフレッシュ方法
US5544124A (en) * 1995-03-13 1996-08-06 Micron Technology, Inc. Optimization circuitry and control for a synchronous memory device with programmable latency period

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009501399A (ja) * 2005-05-03 2009-01-15 マイクロン テクノロジー, インク. コマンド信号と動作状態に基づいてコマンドをデコードするためのシステムおよび方法
JP4877560B2 (ja) * 2005-05-03 2012-02-15 マイクロン テクノロジー, インク. コマンド信号と動作状態に基づいてコマンドをデコードするためのシステムおよび方法
US8867300B2 (en) 2011-05-26 2014-10-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device, memory system and access method to semiconductor memory device
US9633705B2 (en) 2011-05-26 2017-04-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device, memory system and access method to semiconductor memory device

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