JP4807407B2 - 偶数段パルス遅延装置 - Google Patents

偶数段パルス遅延装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4807407B2
JP4807407B2 JP2008325661A JP2008325661A JP4807407B2 JP 4807407 B2 JP4807407 B2 JP 4807407B2 JP 2008325661 A JP2008325661 A JP 2008325661A JP 2008325661 A JP2008325661 A JP 2008325661A JP 4807407 B2 JP4807407 B2 JP 4807407B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay line
circuit
pulse
ring delay
inversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008325661A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010148005A (ja
Inventor
高元 渡辺
重徳 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2008325661A priority Critical patent/JP4807407B2/ja
Priority to US12/653,664 priority patent/US7825696B2/en
Priority to DE102009059852.9A priority patent/DE102009059852B4/de
Publication of JP2010148005A publication Critical patent/JP2010148005A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4807407B2 publication Critical patent/JP4807407B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/03Astable circuits
    • H03K3/0315Ring oscillators

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

本発明は、偶数個の反転回路をリング状に連結してなるリングディレイラインを備え、このリングディレイライン内にてパルスエッジを周回させる偶数段パルス遅延装置に関する。
従来、2つのパルス間の位相差を検出し、その位相差を2進デジタル信号に符号化するパルス位相差符号化回路として、偶数段パルス遅延装置を備えたものが知られている(例えば、特許文献1、2等参照)。
この偶数段パルス遅延装置は、入力信号を反転して出力する反転回路が偶数個リング状に連結されたリングディレイラインを備える。そして、リングディレイラインにおいては、偶数個の反転回路の一つが、第1制御信号により反転動作を開始する第1起動用反転回路として構成され、第1起動用反転回路とその次段に接続される反転回路とを除く反転回路の一つが、第2制御信号により反転動作を開始する第2起動用反転回路として構成される。
また、偶数段パルス遅延装置には、例えば、第1起動用反転回路と第2起動用反転回路との間に設けられた反転回路からの出力を第2制御信号として第2起動用反転回路に入力することで、第1起動用反転回路に第1制御信号が入力されて第1起動用反転回路が反転動作を開始してから、その反転動作により最初に発生したパルスのエッジ(メインエッジ)が第2起動用反転回路に伝達されるまでの間に、第2起動用反転回路に第2制御信号を入力する、第2制御信号入力回路が設けられている。
つまり、この第2制御信号入力回路は、第2制御信号にて第2起動用反転回路の反転動作を開始させることで、メインエッジとは反対のレベルに反転するパルスのエッジ(リセットエッジ)を発生させて、リングディレイライン内にて、メインエッジとリセットエッジとを周回させる。
このため、上記偶数段パルス遅延装置によれば、メインエッジとリセットエッジとが所定の間隔(反転回路を複数個分)を空けてリングディレイライン内を繰り返し周回することになり、所望の反転回路から出力を取り出せば、リングディレイライン内の反転回路の個数で決まる遅延時間を一周期とする発振信号を安定に得ることができる。
また、パルス位相差符号化回路では、リングディレイライン内でのメインエッジ(若しくはリセットエッジ)の周回回数と周回位置とを検出して2進デジタル信号に符号化するが、偶数段パルス遅延装置は、リングディレイライン内の反転回路の個数が偶数個であることから、その個数を2のn乗個にすることで、簡単に符号化データを得ることができるようになる。
特開平6−216721号公報 特開平7−183800号公報
しかしながら、偶数段パルス遅延装置においては、リングディレイラインが偶数個の反転回路にて構成されているため、例えば、外乱ノイズなどによって、反転回路の一つが誤動作すると、リングディレイラインは、各反転回路の出力が交互に異なる値となる安定状態となって、各エッジ(延いてはパルス)の周回動作が停止してしまうという問題があった。
特に、偶数段パルス遅延装置は、デジタル回路の一種である論理ゲート回路(インバータゲート回路、NANDゲート回路、NORゲート回路等)で構成できるため、半導体集積回路の製造技術(プロセス技術)の微細化進歩に伴い、他のデジタル回路と同様に小型高速化が可能である。
しかし、偶数段パルス遅延装置において、製造技術の微細化により小型高速化するには、電源電圧の低下が必須となり、耐ノイズ性が低下する。このため、偶数段パルス遅延装置は、微細化により小型高速化すると、大きなノイズが到来したときや、瞬時の異常電圧低下が生じたときに、リングディレイライン内でのパルスの周回動作が停止し易くなるという問題があった。
また、微細化に伴いトランジスタの閾値の種類が複数化して、偶数段パルス遅延装置設計時の設計マージンが小さくなるとか、微細化により電気的特性に対する製造バラツキの影響も大きくなるといったことがあり、これらも偶数段パルス遅延装置の安定動作を阻害する要因となっている。
一方、偶数段パルス遅延装置を安定動作させるために、リングディレイラインでの周回動作を周期的に強制停止して再起動することも考えられる。しかし、このような対策では、リングディレイラインが正常動作していても、強制停止及び再起動が実行されることになるため、不要な機能停止期間が生じるとか、無駄な処理電力を浪費するという問題が生じる。また、この対策では、強制停止及び再起動を周期的に行うための専用制御回路を用意する必要があるため、偶数段パルス遅延装置のコストアップを招くという問題もある。
本発明は、こうした問題に鑑みなされたものであり、偶数個の反転回路をリング状に連結してなるリングディレイラインを備えた偶数段パルス遅延装置において、リングディレイライン内でのパルスの周回動作の停止を自動で検出して、再起動等の処理を適正に実行できるようにすることを目的とする。
かかる目的を達成するためになされた請求項1に記載の偶数段パルス遅延装置には、入力信号を反転して出力する反転回路を偶数個リング状に連結し、その偶数個の反転回路の一つを、第1制御信号により入力信号の反転動作を開始する第1起動用反転回路として構成し、偶数個の反転回路の内、第1起動用反転回路及び第1起動用反転回路の次段に接続される反転回路を除く反転回路の一つを、第2制御信号により入力信号の反転動作を開始する第2起動用反転回路として構成してなるリングディレイラインが備えられている。
このリングディレイラインにおいては、第1起動用反転回路に第1制御信号が入力されて、第1起動用反転回路が反転動作を開始すると、その反転動作により発生したパルスのエッジ(メインエッジ)が次段以降の反転回路の反転動作により順次伝達されることになる。
しかし、リングディレイラインは偶数個の反転回路にて構成されているので、第1起動用反転回路の反転動作を開始しただけでは、メインエッジが第1起動用反転回路に戻ってきた時点で、各反転回路の入・出力が全て反転状態となり、メインエッジの伝達(換言すればパルスの遅延動作)が停止する。
このため、偶数段パルス遅延装置には、第2制御信号入力手段が設けられている。つまり、第2制御信号入力手段は、第1起動用反転回路が反転動作を開始してから、その反転動作により最初に発生したパルスのエッジ(メインエッジ)が次段以降の反転回路により順次伝達されて第2起動用反転回路に入力されるまでの間に、第2起動用反転回路に第2制御信号を入力し、第2起動用反転回路による反転動作を開始させることによって、メインエッジとは反対のレベルに反転するパルスのエッジ(リセットエッジ)を発生させる。
この結果、リングディレイライン内では、メインエッジとリセットエッジとが各反転回路にて順次伝達され、これら各エッジ(換言すればパルス)がリングディレイライン内を繰り返し周回することになる。
そして、特に、本発明の偶数段パルス遅延装置には、リングディレイライン内で上記各エッジが周回しているか否かを判定する動作判定手段が設けられている。
このため、本発明の偶数段パルス遅延装置によれば、外乱ノイズや電源電圧の低下等によって、リングディレイラインでのパルスの周回動作が停止した際、その旨を速やかに検出することができることになる。
よって、本発明の偶数段パルス遅延装置によれば、例えば、動作判定手段による判定結果を報知するようにすれば、使用者は、偶数段パルス遅延装置の動作停止や、この偶数段パルス遅延装置を利用する電子回路(例えば、上述のパルス位相差符号化回路や、パルス位相差符号化回路を用いたA/D変換回路、PLL回路等)の動作異常を、速やかに把握することができるようになり、その異常状態に対し、迅速な対応をとることが可能となる。
また、本発明の偶数段パルス遅延装置には、再起動手段と第1制御信号選択回路とが備えられている。
そして、再起動手段は、動作判定手段にてリングディレイラインによる周回動作の停止が判定されると、リングディレイラインによるパルスのエッジの周回動作を再開させるための再起動用の第1制御信号を発生する。
また、第1制御信号選択回路は、外部から入力される初期起動用の第1制御信号と、再起動手段が発生した再起動用の第1制御信号とをそれぞれ取り込み、第1起動用反転回路に選択的に出力する。
このため、本発明の偶数段パルス遅延装置によれば、リングディレイラインの周回動作が停止した際、リングディレイラインを自動で再起動させて、周回動作を再開させることができるようになる。よって、この偶数段パルス遅延装置によれば、偶数段パルス遅延装置を利用する電子回路(パルス位相差符号化回路、A/D変換回路、PLL回路等)の動作についても正常復帰させることができるようになり、その電子回路の誤動作や停止を防止することができる。
また、本発明の偶数段パルス遅延装置によれば、第1起動用反転回路に対し、第1制御信号選択回路を介して、外部から入力される初期起動用の第1制御信号と再起動用の第1制御信号とを選択的に入力することができるようになり、リングディレイラインの周回動作を再起動をさせるための再起動用回路を別途設ける必要がない。
そして、第1制御信号選択回路は、後述の実施形態に記載のように、アンド(AND)ゲート回路等の論理ゲート回路にて簡単に構成できることから、リングディレイラインの再起動を行うための回路構成を簡単にして小型化することができる。
ここで、動作判定手段は、請求項2に記載のように、リングディレイラインを構成する反転回路の一つから出力される出力信号を取り込み、パルスのエッジ(メインエッジ若しくはリセットエッジ)がリングディレイライン内を一周回するのに要する周回時間よりも長い判定時間の間、出力信号が変化しないときに、リングディレイラインの周回動作が停止していると判定するように構成するとよい。
つまりこのようにすれば、リングディレイラインの周回動作を、判定時間毎に周期的に判定することができ、リングディレイラインの周回動作の停止を、速やかにしかも正確に検出することができる。
なお、反転回路から出力される出力信号は、信号レベルが周期的に反転するクロック信号となることから、判定時間もCPU等の駆動クロック等から生成したクロック信号の周期にて規定することにより、動作判定手段は、これら2種類のクロック信号を受けて動作するデジタル回路として簡単に構成することができる。
ところで、リングディレイラインの周回動作が停止した際には、リングディレイラインを構成する各反転回路の出力が交互に異なる値となって安定する。
このため、動作判定手段は、請求項3に記載のように、リングディレイラインを構成する偶数個の反転回路の内、特定の反転回路を1段目とする偶数段目若しくは奇数段目の反転回路から出力信号を取り込み、その出力信号が全て同一レベル(ハイレベル又はローレベル)であるときに、リングディレイラインによるパルスのエッジの周回動作が停止していると判定するようにしてもよい。
そして、リングディレイラインにおける偶数段目若しくは奇数段目の反転回路からの出力信号は、リングディレイラインの周回動作が停止した時点で、全て同一レベルになることから、動作判定手段を請求項3に記載のように構成しても、リングディレイラインの周回動作の停止を、速やかにしかも正確に検出することができるようになる。
また、リングディレイラインを構成する反転回路は、請求項4に記載のように、論理ゲート回路(具体的には、インバータゲート回路、ナンド(NAND)ゲート回路、ノア(NOR)ゲート回路等)にて構成するとよい。
つまり、このようにすれば、リングディレイラインやその周辺回路、延いては、本発明の偶数段パルス遅延装置を利用する電子回路(パルス位相差符号化回路、A/D変換回路、PLL回路等)を、安価なデジタル回路にて構成できるようになる。
また、特に、請求項5に記載のように、リングディレイライン及び動作判定手段を、CMOSプロセスによって形成するようにすれば、CMOSで構成される各種機能回路(乗算器、加算器、メモリ、CPU、アンプ、コンパレータ)と同一ICチップ上(SOC上、SOC:System On a Chip)に構成できるようになる。
以下に本発明の実施形態を図面と共に説明する。
図1は、本発明が適用された実施形態の偶数段パルス遅延装置全体の構成を表す構成図である。
図1に示す如く、本実施例の偶数段パルス遅延装置は、第1起動用反転回路としての2入力ナンドゲート回路(以下、単にナンドゲートという)NAND1と、30個のインバータゲート回路(以下単にインバータという)INV2〜31と、第2起動用反転回路としてのナンドゲートNAND32と、からなる合計32個の反転回路を順次リング状に連結することにより構成されたリングディレイライン10を備える。
なお、ナンドゲート及びインバータを表す符号NAND、INVに付与した数値は、第1起動用反転回路としてのナンドゲートNANDを初段(1段目)として、パルスの伝達方向に沿って順に付与した各ゲート回路の接続段数を表している。
そして、ナンドゲートNAND1のナンドゲートNAND32に接続されない方の入力端子(以下、この入力端子を起動用端子という)には、外部から入力されるスタートパルスPAが第1制御信号として入力され、ナンドゲートNAND32のインバータINV31に接続されない方の入力端子(以下、この入力端子を制御用端子という)には、インバータINV19〜INV31を迂回する迂回経路10aを介して、インバータINV18からの出力Q8が第2制御信号として入力される。
なお、インバータINV18の出力Q8をナンドゲートNAND32の制御用端子に伝達する迂回経路10aは、本発明の第2制御信号入力手段に相当する。
また、インバータINV19〜31において、その偶数段目のインバータの反転応答時間は、立ち上がり出力よりも立ち下がり出力の方が速く、逆に、奇数段目のインバータの反転応答時間は、立ち下がり出力よりも立ち上がり出力の方が速くなるように調整されている。
このように構成されたリングディレイライン10において、スタートパルスPAがローレベル(0)となる初期状態では、図2(a)に示すように、ナンドゲートNAND1の出力がハイレベル(1)となるため、ナンドゲートNAND1から数えて偶数段目のインバータの出力(図1に示す出力Q0〜Q15)はローレベル(0)となり、奇数段目のインバータの出力はハイレベル(1)となって安定する。
また、この初期状態において、ナンドゲートNAND32の制御用端子に入力されるインバータINV18の出力Q8はローレベル(0)であるため、ナンドゲートNAND32だけは、偶数段目に接続されているにも関わらず、その出力Q15がハイレベル(1)となる。
次に、スタートパルスPAがローレベル(0)からハイレベル(1)に変化すると、図2(b)に示すように、ナンドゲートNAND1の出力が、ハイレベル(1)からローレベル(0)に反転し、後続のインバータの出力が順次反転して、奇数段目のインバータの出力はハイレベル(1)からローレベル(0)に変化し、偶数段目のインバータの出力はローレベル(0)からハイレベル(1)に変化していく。
なお、このようにスタートパルスPAの変化によって発生し、リングディレイライン10内にて、奇数段目のナンドゲート及びインバータの立ち下がり出力、偶数段目のナンドゲート及びインバータの立ち上がり出力、として順次周回するパルスのエッジを、メインエッジという。
そして、このメインエッジがインバータINV18に到達して、インバータINV18の出力Q8がローレベル(0)からハイレベル(1)に反転すると、その時点では、インバータINV31の出力は未だハイレベル(1)であるため、ナンドゲートNAND32の2つの入力信号は、共にハイレベル(1)となって、ナンドゲートNAND32が反転動作を開始し、その出力Q15がハイレベル(1)からローレベル(0)に反転する。
なお、このようにメインエッジがナンドゲートNAND32の制御用端子に入力されることによりナンドゲートNAND32によって反転され、リングディレイライン10内にて、奇数段目のナンドゲート及びインバータの立ち上がり出力、偶数段目のナンドゲート及びインバータの立ち下がり出力、として順次周回するパルスのエッジをリセットエッジという。そして、このリセットエッジが、ナンドゲートNAND1により発生したメインエッジと共に、リングディレイライン10内を移動する。
また、その後、メインエッジは、インバータINV18からの後続の各インバータにより順次反転されてインバータINV31まで伝達され、その伝達により、インバータINV31の出力がハイレベル(1)からローレベル(0)に反転することにより、ナンドゲートNAND32に入力されるが、このときナンドゲートNAND32の制御用端子の入力、即ちインバータINV18の出力Q8は、ハイレベル(1)となっているため、メインエッジはそのままナンドゲートNAND32及びナンドゲートNAND1以後の各インバータによって順次反転されて、パルス周回回路10内を移動する。
なお、メインエッジが、インバータINV19〜31を経由して、ナンドゲートNAND32に到達したときに、インバータINV18の出力Q8が未だハイレベル(1)であるのは、インバータINV19からインバータINV31までのインバータの数が13個であるのに対して、ナンドゲートNAND32からインバータINV18までのナンドゲートを含むインバータの数が19個であるためであり、これにより、リセットエッジが、ナンドゲートNAND32からインバータINV18まで伝達するよりも早く、メインエッジがナンドゲートNAND32に入力されるからである。
一方、ナンドゲートNAND32によって発生したリセットエッジは、ナンドゲートNAND1を含む各インバータを経由して、再びインバータINV18に到達し、ナンドゲートNAND32の制御用端子の信号レベルをハイレベル(1)からローレベル(0)に反転させるが、このときは、ナンドゲートNAND32のインバータINV31からの入力信号が、既にメインエッジによってローレベル(0)となっているため、ナンドゲートNAND32の出力Q15は変化せず、リセットエッジは、インバータINV18からインバータINV19〜31の正規ルートで順次ナンドゲートNAND32へ伝達される。
そして、リセットエッジが、インバータINV31に到達すると、ナンドゲートNAND32のインバータINV31からの入力信号が、ローレベル(0)からハイレベル(1)へと反転する。また、これとほぼ同時に、メインエッジがインバータINV18に到達して、ナンドゲートNAND32の制御用端子の入力信号もローレベル(0)からハイレベル(1)へと反転する。
これは、メインエッジが、ナンドゲートNAND1から始まり、リングディレイライン10内を正規ルートで一周してから、再びナンドゲートNAND1を通過してインバータINV18へ到達するのに対し、リセットエッジは、メインエッジがナンドゲートNAND1からインバータINV18へ到達してから、ナンドゲートNAND32の反転動作開始により発生され、その後、リングディレイライン10内を正規ルートで一周するというように、両エッジがナンドゲートNAND32へ到達するまでに経由するナンドゲートを含むインバータの延べ総数が、50個と全く同一であるからである。
しかし、本実施形態では、インバータINV19〜31において、その偶数段目のインバータの反転応答時間は、立ち上がり出力よりも立ち下がり出力の方が速く、逆に、奇数段目のインバータの反転応答時間は、立ち下がり出力よりも立ち上がり出力の方が速くなるように調整されているため、リセットエッジの方が、メインエッジよりも若干速くナンドゲートNAND32に到達する。
この結果、リセットエッジによって、インバータINV31の出力がローレベル(0)からハイレベル(1)に反転しても、ナンドゲートNAND32の制御用端子の入力信号は、未だローレベル(0)のままであるため、ナンドゲートNAND32の出力Q15は反転せず、やや遅れてメインエッジがインバータINV18に到達し、ナンドゲートNAND32の制御用端子の入力信号のレベルがローレベル(0)からハイレベル(1)に反転したときに、ナンドゲートNAND32の出力Q15がハイレベル(1)からローレベル(0)に反転する。つまり、リセットエッジは、ここで一旦消滅し、メインエッジによって再発生される。
また、メインエッジにより再発生されたリセットエッジは、ナンドゲートNAND32からナンドゲートNAND1へ伝達され、メインエッジは、インバータINV18から正規ルートでナンドゲートNAND32へ向けて伝達される。従って、その後、リセットエッジは、メインエッジ一周毎に再発生されて、メインエッジと共に、リングディレイライン10内を繰り返し周回することになる。
そして、リングディレイライン10において、上記のような一連の周回動作を停止させたいときには、スタートパルスPAをハイレベル(1)からローレベル(0)にすればよく、その周回動作を再開させたいときには、スタートパルスPAをローレベル(0)からハイレベル(1)にすればよい。
ところで、リングディレイライン10は、偶数個の反転回路(NAND1、INV2〜31、NAND32)にて構成されていることから、スタートパルスPAがローレベル(0)からハイレベル(1)に切り換えられて、リングディレイライン10が周回動作を開始してから、外乱ノイズや電源電圧の低下等によって反転回路の一つが誤動作し、エッジの伝達が停止すると、図2(b)に示すように、奇数段目の反転回路の出力がローレベル(0)、偶数段目の反転回路の出力(図1に示すQ0〜Q15)がハイレベル(1)、となる。そして、この状態では、リングディレイライン10が安定するため、リングディレイライン10でのパルスの周回動作が完全に停止してしまう。
そこで、本実施形態の偶数段パルス遅延装置には、図1に示すように、リングディレイライン10の周回動作を監視し、周回動作が停止した際には、スタートパルスPAを一旦ローレベル(0)に戻し、再度ハイレベル(1)に切り換えることにより、リングディレイライン10を再起動する動作判定部20が設けられている。
図3に示すように、動作判定部20には、リングディレイライン10内の任意の判定回路(本実施形態ではインバータINV31)の出力をリングディレイライン10の動作クロックRCKとして取り込み、その動作クロックRCKの数をカウントするカウンタ22と、外部入力クロックEXCKに同期してカウンタ22のカウント値をラッチするラッチ回路23と、外部入力クロックEXCKに同期してラッチ回路23の出力をラッチするラッチ回路24と、これら各ラッチ回路23、24からの出力の差DT(DT=「ラッチ回路23の出力」−「ラッチ回路24の出力」)を演算する減算器26と、が設けられている。
また、外部入力クロックEXCKの周期は、上記各エッジ(換言すればパルス)がリングディレイライン10内を一周回するのに要する周回時間よりも長い周期に設定されている。
このため、リングディレイライン10から動作クロックRCKが周期的に出力されている場合(つまり、リングディレイライン10が正常動作している場合)には、減算器26からの出力DTは「1」以上となり、リングディレイライン10からの動作クロックRCKの出力が停止した場合(つまり、リングディレイライン10の動作が停止している場合)には、減算器26からの出力DTは「0」となる。
また、動作判定部20には、減算器26からの出力DTが「0」であるか否か(つまり、リングディレイライン10の動作が停止しているか否か)を判定する判定部28と、この判定部28の判定結果に応じて再起動信号PArを発生する再起動部30と、が設けられている。
この再起動部30は、判定部28にてリングディレイライン10の動作が停止していると判断された場合(DT=0のとき)に、通常ハイレベル(1)となっている再起動信号PArをローレベル(0)することで、リングディレイライン10に入力されるスタートパルスPAを一旦ローレベル(0)にし、その後、再起動信号PArをハイレベル(1)することで、スタートパルスPAをハイレベル(1)にして、リングディレイライン10を再起動する。
つまり、リングディレイライン10へのスタートパルスPAの入力経路には、リングディレイライン10を起動するために外部から入力される初期起動信号PAsと、動作判定部20の再起動部30から出力された再起動信号PArとを取り込み、スタートパルスPAを生成するアンドゲート回路(以下、単にアンドゲートという)12が設けられている(図1参照)。
そして、図4に示すように、再起動部30は、通常、ハイレベル(1)の再起動信号PArを出力することにより、アンドゲート12から初期起動信号PAsが選択的に出力されるようにし、初期起動信号PAsがハイレベル(1)で、リングディレイライン10が動作しているときに、その動作の停止を検出すると、再起動信号PArを一時的にローレベル(0)にして、アンドゲート12からローレベル(0)の再起動信号PArを選択的に出力させることで、リングディレイライン10を再起動する。
以上説明したように、本実施形態の偶数段パルス遅延装置には、リングディレイライン10によるパルスの周回動作を監視し、その動作停止を判定する動作判定部20が設けられており、動作判定部20にて、リングディレイライン10の動作停止が検出されると、再起動部30が再起動信号PArを一時的にローレベル(0)にしてリングディレイライン10を初期状態に戻し、その後再起動信号PArをハイレベル(1)にすることで、リングディレイライン10を再起動させる。
このため、本実施形態の偶数段パルス遅延装置によれば、外乱ノイズや電源電圧の低下等によって、リングディレイライン10内でのパルスの周回動作が停止しても、その旨を速やかに検出して、リングディレイライン10を自動で再起動することができるようになる。
また、このようにリングディレイライン10を自動で再起動させることができるので、本実施形態の偶数段パルス遅延装置を利用する電子回路(パルス位相差符号化回路、A/D変換回路、PLL回路等)の動作についても正常復帰させることができるようになり、その電子回路の誤動作や停止を防止することができる。
また、本実施形態では、リングディレイライン10を、外部から入力される初期起動信号PAsで起動し、再起動部30から出力される再起動信号PArで再起動することができるように、これら各信号を取り込み、これら各信号を選択的に出力することで、リングディレイライン10にスタートパルスPAを入力するアンドゲート12が設けられていることから、リングディレイライン10の初期起動と再起動とを行うための起動用回路を別途設ける必要がなく、偶数段パルス遅延装置の回路構成を簡単にすることができる。
また、リングディレイライン10はインバータ及びナンドゲートからなる論理ゲート回路にて構成されており、動作判定部20もデジタル回路で構成されることから、本実施形態の偶数段パルス遅延装置は、アンドゲート12を含めて、CMOSプロセスによって同一ICチップ上に形成することができる。
また、このように偶数段パルス遅延装置をCMOSUプロセスにより形成するようにすれば、CMOSで構成される他の機能回路(乗算器、加算器、メモリ、CPU、アンプ、コンパレータ)と共に同一ICチップ上(SOC上)に構成できるようになる。
そしてこの場合、リングディレイライン10の動作判定に用いられる外部入力クロックEXCKは、その同一ICチップ上に形成された他の機能回路で用いられるクロック信号を利用するようにすれば、リングディレイライン10の動作判定を極めて簡単に行うことができるようになる。
なお、本実施形態において、動作判定部20は、本発明の動作判定手段に相当し、再起動部30は、本発明の再起動手段に相当し、アンドゲート12は、本発明の第1制御信号選択回路に相当する。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内にて種々の態様をとることができる。
例えば、上記実施形態では、動作判定部20は、リングディレイライン10を構成する反転回路の一つから出力信号を取り込み、その信号が、外部入力クロックEXCKの周期で決まる判定時間の間変化しないときに、リングディレイライン10の動作停止を判定するものとして説明した。
しかし、図2(b)に示すように、リングディレイライン10の動作停止時には、偶数段目の反転回路からの出力が全てハイレベル(1)となり、奇数段目の反転回路からの出力が全てローレベル(0)となることから、動作判定部20は、リングディレイライン10の偶数段目若しくは奇数段目の反転回路からの出力が全て同一レベルに固定されたか否かを判断することにより、リングディレイライン10の動作停止を判定するようにしてもよい。
そして、この場合、動作判定部20は、例えば図5に示すように構成すればよい。
すなわち、図5に示す動作判定部20は、リングディレイライン10の偶数段目の反転回路から出力される信号を、外部入力クロックEXCK等を用いて周期的にラッチするラッチ回路42と、ラッチ回路42でラッチされた各信号の論理積をとるアンドゲート44と、アンドゲート44からの出力がハイレベル(1)であるか否かを判定する判定部46と、この判定部46でアンドゲート44からの出力がハイレベル(1)であると判定されたとき(つまり、リングディレイライン10の動作が停止しているとき)にリングディレイライン10を再起動する再起動部30と、から構成されている。
従って、図5の動作判定部20によれば、リングディレイライン10の動作が停止して、偶数段目の反転回路からの出力が全てハイレベル(1)となったときに、アンドゲート44からの出力がハイレベル(1)となって、判定部46にてリングディレイライン10の動作停止が検出され、その検出結果に従い再起動部30がリングディレイライン10を再起動することになる。
そして、動作判定部20をこのように構成しても、リングディレイライン10の動作停止時に、その旨を速やかに検出して、リングディレイライン10を再起動することができるため、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。
また次に、上記実施形態では、動作判定部20にて、リングディレイライン10の動作停止を検出すると、再起動部30にて、リングディレイライン10を再起動するものとして説明したが、リングディレイライン10の動作停止を検出した際には、リングディレイライン10の異常を使用者に報知するようにしてもよい。
そして、このようにすれば、使用者は、リングディレイライン10が動作を停止した際、その原因を究明して、適正な対策を施した後、リングディレイライン10を再起動することができるようになる。
また次に、上記実施形態では、リングディレイライン10を構成する反転回路(ナンドゲート及びインバータ)の数は32個であり、第2起動用反転回路としてのナンドゲートNAND32は、第1起動用反転回路としてのナンドゲートNAND1の前段に配置され、しかも、ナンドゲートNAND32の制御用端子には、迂回経路10aを介して、18段目のインバータINV18からの出力が入力されるものとして説明したが、リングディレイライン10を構成する反転回路の数や、第2起動用反転回路の位置、第2起動用反転回路への第2制御信号の入力経路等は、適宜変更することができる。
例えば、図6に示すリングディレイライン10は、反転回路(ナンドゲート及びインバータ)の数が64個であり、第2起動用反転回路としてのナンドゲートNAND46は、第1起動用反転回路としてのナンドゲートNAND1から数えて46段目に配置されており、しかも、このナンドゲートNAND46の制御用端子には、迂回経路10aを介して、20段目のインバータINV20からの出力が入力されるように構成されているが、リングディレイライン10がこのように構成されていても、本発明は、上記実施形態と同様に適用して、同様の効果を得ることができる。
また、上記実施形態では、第1及び第2起動用反転回路として、共にナンドゲートを使用したが、例えば、共にノアゲートを使用してもよい。但しこの場合は、スタートパルスPAが、ハイレベル(1)のときにリングディレイライン10が初期状態となり、ローレベル(0)に反転させたときにリングディレイライン10が起動されることになる。
実施形態の偶数段パルス遅延装置全体の構成を表す構成図である。 リングディレイラインが初期状態及び停止状態であるときの反転回路の入・出力レベルを表す説明図である。 動作判定部の構成を表すブロック図である。 リングディレイラインを起動させる初期起動信号及び再起動信号を説明するタイムチャートである。 動作判定部の他の構成例を表すブロック図である。 リングディレイラインの他の構成例を表す回路図である。
符号の説明
10・・・リングディレイライン、NAND1,NAND32・・・ナンドゲート、INV2〜INV31・・・インバータ、10a・・・迂回経路、12・・・アンドゲート、20・・・動作判定部、22・・・カウンタ、23,24・・・ラッチ回路、26・・・減算器、28・・・判定部、30・・・再起動部、42・・・ラッチ回路、44・・・アンドゲート、46・・・判定部。

Claims (5)

  1. 入力信号を反転して出力する反転回路を偶数個リング状に連結し、前記偶数個の反転回路の一つを、第1制御信号により入力信号の反転動作を開始する第1起動用反転回路として構成し、前記偶数個の反転回路の内、前記第1起動用反転回路及び前記第1起動用反転回路の次段に接続される反転回路を除く反転回路の一つを、第2制御信号により入力信号の反転動作を開始する第2起動用反転回路として構成してなるリングディレイラインと、
    前記リングディレイラインの第1起動用反転回路に前記第1制御信号が入力されて前記第1起動用反転回路が反転動作を開始してから、その反転動作により最初に発生したパルスのエッジがメインエッジとして次段以降の反転回路の反転動作により順次伝達されて前記第2起動用反転回路に入力されるまでの間に、前記第2起動用反転回路に前記第2制御信号を入力して該第2起動用反転回路に反転動作を開始させることにより、前記リングディレイライン内にて、前記メインエッジと、前記メインエッジとは反対のレベルに反転するパルスのエッジとを周回させる第2制御信号入力手段と、
    を備えた偶数段パルス遅延装置において、
    前記リングディレイライン内で前記各パルスのエッジが周回しているか否かを判定する動作判定手段と、
    前記動作判定手段が前記リングディレイライン内でのパルスのエッジの周回動作が停止していると判定すると、前記リングディレイラインによる前記パルスのエッジの周回動作を再開させるための再起動用の第1制御信号を発生する再起動手段と、
    外部から入力される初期起動用の第1制御信号と、前記再起動手段が発生した再起動用の第1制御信号とをそれぞれ取り込み、前記第1起動用反転回路に選択的に出力する第1制御信号選択回路と、
    備えたことを特徴とする偶数段パルス遅延装置。
  2. 前記動作判定手段は、前記リングディレイラインを構成する反転回路の一つから出力される出力信号を取り込み、前記パルスのエッジが前記リングディレイライン内を一周回するのに要する周回時間よりも長い判定時間の間、前記出力信号が変化しないときに、前記リングディレイラインによる前記パルスのエッジの周回動作が停止していると判定することを特徴とする請求項1に記載の偶数段パルス遅延装置。
  3. 前記動作判定手段は、前記リングディレイラインを構成する偶数個の反転回路の内、特定の反転回路を1段目とする偶数段目若しくは奇数段目の反転回路から出力信号を取り込み、その出力信号が全て同一レベルであるときに、前記リングディレイラインによる前記パルスのエッジの周回動作が停止していると判定することを特徴とする請求項1に記載の偶数段パルス遅延装置。
  4. 前記リングディレイラインを構成する反転回路は、論理ゲート回路からなることを特徴とする請求項1〜請求項3の何れか1項に記載の偶数段パルス遅延装置。
  5. 前記リングディレイライン及び前記動作判定手段は、CMOSプロセスによって形成されることを特徴とする請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の偶数段パルス遅延装置。
JP2008325661A 2008-12-22 2008-12-22 偶数段パルス遅延装置 Expired - Fee Related JP4807407B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008325661A JP4807407B2 (ja) 2008-12-22 2008-12-22 偶数段パルス遅延装置
US12/653,664 US7825696B2 (en) 2008-12-22 2009-12-16 Even-number-stage pulse delay device
DE102009059852.9A DE102009059852B4 (de) 2008-12-22 2009-12-21 Impulsverzögerungs-Vorrichtung mit gerader Stufenanzahl

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008325661A JP4807407B2 (ja) 2008-12-22 2008-12-22 偶数段パルス遅延装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010148005A JP2010148005A (ja) 2010-07-01
JP4807407B2 true JP4807407B2 (ja) 2011-11-02

Family

ID=42263100

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008325661A Expired - Fee Related JP4807407B2 (ja) 2008-12-22 2008-12-22 偶数段パルス遅延装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7825696B2 (ja)
JP (1) JP4807407B2 (ja)
DE (1) DE102009059852B4 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5206833B2 (ja) 2010-09-28 2013-06-12 株式会社デンソー A/d変換回路
RU2450432C1 (ru) * 2011-05-05 2012-05-10 Александр Иосифович Иванов Управляемая линия задержки
JP5753013B2 (ja) 2011-07-06 2015-07-22 オリンパス株式会社 リングオシュレータ回路、a/d変換回路、および固体撮像装置
TWI444017B (zh) 2011-12-16 2014-07-01 Ind Tech Res Inst 具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法
JP6447335B2 (ja) 2014-05-19 2019-01-09 株式会社デンソー A/d変換回路
JP2020072549A (ja) * 2018-10-31 2020-05-07 株式会社豊田中央研究所 電源装置
EP4293907A1 (en) * 2022-06-16 2023-12-20 STMicroelectronics S.r.l. Clock generator circuit, corresponding device and method

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63185121A (ja) * 1987-01-27 1988-07-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発振停止防止回路
JPH01232827A (ja) * 1988-03-14 1989-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd リングカウンタ装置
JP2659594B2 (ja) * 1989-10-11 1997-09-30 株式会社日本自動車部品総合研究所 物理量検出装置
JP2868266B2 (ja) * 1990-01-25 1999-03-10 株式会社日本自動車部品総合研究所 信号位相差検出回路及び信号位相差検出方法
JP3127517B2 (ja) * 1991-10-04 2001-01-29 株式会社デンソー パルス発生装置及びパルス発生方法
JPH05122032A (ja) * 1991-10-28 1993-05-18 Okuma Mach Works Ltd 発振停止検出装置
JP3455982B2 (ja) * 1993-01-14 2003-10-14 株式会社デンソー 偶数段リングオシレータ及びパルス位相差符号化回路
JP3427423B2 (ja) * 1993-07-07 2003-07-14 株式会社デンソー デジタル制御遅延装置及びデジタル制御発振装置
JP3443896B2 (ja) * 1993-10-08 2003-09-08 株式会社デンソー デジタル制御発振装置
JP2900772B2 (ja) * 1993-12-24 1999-06-02 株式会社デンソー パルス位相差符号化回路とパルス発生回路との複合装置及びデジタル制御pll装置
JP2739102B2 (ja) 1994-05-13 1998-04-08 セイコープレシジョン株式会社 バックライト用el
JPH08162946A (ja) * 1994-11-30 1996-06-21 Fujitsu Ltd カウンタ回路
JPH11317663A (ja) * 1998-05-07 1999-11-16 Sony Corp Pll回路
JP2990171B1 (ja) * 1998-08-24 1999-12-13 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 Pll回路とその制御方法
JP3633374B2 (ja) * 1999-06-16 2005-03-30 株式会社デンソー クロック制御回路
JP4904620B2 (ja) * 2000-12-26 2012-03-28 富士通株式会社 周波数及びデューティ比制御可能な発振器
JP2004221697A (ja) * 2003-01-09 2004-08-05 Ricoh Co Ltd Pll回路
US7710208B2 (en) * 2007-04-18 2010-05-04 Vns Portfolio Llc Multi-speed ring oscillator

Also Published As

Publication number Publication date
DE102009059852A1 (de) 2010-07-22
US7825696B2 (en) 2010-11-02
DE102009059852B4 (de) 2020-10-15
JP2010148005A (ja) 2010-07-01
US20100156468A1 (en) 2010-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4807407B2 (ja) 偶数段パルス遅延装置
TWI673595B (zh) 半導體裝置之輸出時序控制電路及其方法
US7586337B2 (en) Circuit for switching between two clock signals independently of the frequency of the clock signals
JP2011180736A (ja) クロック制御信号生成回路、クロックセレクタ、及び情報処理装置
US10033389B2 (en) Clock signal stop detection circuit
JP2011059851A (ja) 半導体集積回路及び半導体集積回路の発振異常検出方法
JP4127283B2 (ja) リセット回路とディジタル通信装置
JP5281448B2 (ja) 電子制御装置、異常監視方法
JP5743092B2 (ja) 情報処理システム
CN109521863B (zh) 芯片及芯片上电启动方法
US9384794B2 (en) Semiconductor device and method of operating the same
JP2013206149A (ja) 半導体集積回路装置及びそれを用いたシステム
JP2009038128A (ja) 半導体集積回路装置
WO2001069606A1 (fr) Circuit generateur de signaux monostables
JP2008181170A (ja) 非同期式回路の制御回路
JP2008072573A (ja) 出力制御装置
JP2008021340A (ja) 半導体装置
JP4951739B2 (ja) 半導体集積回路及び動作条件制御方法
JP2008252864A (ja) 半導体装置及びその駆動方法
JP2003122600A (ja) ウォッチドッグタイマ装置
JP6580815B2 (ja) バスアクセスタイミング制御回路
JP2010003199A (ja) 半導体集積回路装置
JP2013102371A (ja) 半導体集積回路装置
JP2006059008A (ja) 監視装置
JP2011134063A (ja) ウォッチドッグタイマ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100531

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100921

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110719

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110801

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140826

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4807407

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees