JP2011059851A - 半導体集積回路及び半導体集積回路の発振異常検出方法 - Google Patents
半導体集積回路及び半導体集積回路の発振異常検出方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本発明の半導体集積回路1は、第1の発振器(オシレータ2)と、第2の発振器(PLL3)と、第3の発振器(リングオシレータ4)と、第1の発振器2のクロック、第2の発振器3のクロックを第3の発振器4のクロックに基づいて順に切り替えて出力するセレクタ6と、セレクタ6から出力されたクロックを、第3の発振器4のクロックに基づいてアップカウント又はダウンカウントし、アップカウント又はダウンカウントの結果に基づいて、セレクタ6から出力されたクロックと、第3の発振器4のクロックとの整合性を判定し、いずれかのクロックに発振異常が発生しているか否かを判定する判定回路7と、を備える。
【選択図】図1
Description
その理由は、クロックモニタ901では、FlashROM501から供給されるリングオシレータ出力221をサンプリングクロックとして、オシレータ出力21の計測を行っている。そのため、リングオシレータ出力221に発振異常が発生した場合や、リングオシレータ出力221が停止した場合には、オシレータ出力21の計測が正常に行われず、発振異常検出信号241を生成することができないためである。
その理由は、リングオシレータ出力221は、オシレータ出力21を計測するサンプリングクロックとしての役割のみで、リングオシレータ出力221自体を監視するクロック及び機能が無いためである。また、PLL出力231の発振異常を検出するためのPLL出力231の計測手段を有していないためである。
図1に第1の実施の形態の半導体集積回路1のブロック図を示す。
半導体集積回路1は、第1の発振器であるオシレータ2と、第2の発振器であるPLL3と、第3の発振器であるリングオシレータ4と、分周器5と、セレクタ6と、判定回路7と、を備えている。さらに半導体集積回路1は、クロック制御部8と、CPU9と、異常通知部10と、を備えている。すなわち、オシレータ2と、オシレータ出力21を逓倍するPLL3と、リングオシレータ4とを備える半導体集積回路1において、PLL出力22とリングオシレータ出力24が、クロック制御部8にて動作クロックとして選択されてCPU9に供給される。また、分周器5ではPLL出力22が、PLL3の逓倍率だけ分周される。
異常通知部10は、判定回路7から入力される信号に基づいて、発振異常が生じたことを通知する信号を生成し、例えばCPU9に出力する。
本実施の形態の半導体集積回路31は、図3に示すように、カウント部11をアップカウント部(Uカウント部)111とダウンカウント部(Dカウント部)112とに分けた構成としている。なお、本実施の形態の半導体集積回路31は、第1の実施の形態の半導体集積回路1と略同一の構成とされているため、重複する説明は省略するものとする。
このような半導体集積回路31は、分周器5を省略することができる。そのため、半導体集積回路の小型化に寄与できる。
本実施の形態の半導体集積回路32は、図4に示すように、異常通知部10がリセット信号29及び異常検出割込み信号30を生成する構成とされている。なお、本実施の形態の半導体集積回路32は、第1の実施の形態の半導体集積回路1と略同一の構成とされているため、重複する説明は省略するものとする。
このような半導体集積回路32は、リセット信号29及び異常検出割込み信号30を生成するので、適宜、クロックの発振異常発生後の処理を選択することができる。
2 オシレータ
3 PLL
4 リングオシレータ
5 分周器
6 セレクタ
7 判定回路
8 クロック制御部
9 CPU
10 異常通知部
11 カウント部、111 アップカウント部、112 ダウンカウント部
12 第1の判定部、13 第2の判定部
21 オシレータ出力
22 PLL出力
23 分周器出力
24 リングオシレータ出力
25 オーバーフロー信号
26 アンダーフロー信号
27、28 発振異常信号
29 リセット信号
30 発振異常検出信号
31、32 半導体集積回路
Claims (6)
- 第1の発振器と、
第2の発振器と、
第3の発振器と、
前記第1の発振器のクロック、前記第2の発振器のクロックを前記第3の発振器のクロックに基づいて順に切り替えて出力するセレクタと、
前記セレクタから出力されたクロックを、前記第3の発振器のクロックに基づいてアップカウント又はダウンカウントし、前記アップカウント又はダウンカウントの結果に基づいて、前記セレクタから出力されたクロックと、前記第3の発振器のクロックとの整合性を判定し、いずれかの前記クロックに発振異常が発生しているか否かを判定する判定回路と、
を備える半導体集積回路。 - 前記判定回路は、
前記セレクタから出力されたクロックを、前記第3の発振器のクロックに基づいてアップカウント又はダウンカウントし、前記アップカウント又はダウンカウントの結果に基づいて、オーバーフロー信号又はアンダーフロー信号を出力するカウント部と、
前記アップカウントから前記ダウンカウントに切り替わる際のカウント値と、予め設定された第1の閾値とを比較して、前記カウント値が前記第1の閾値未満であると、発振異常信号を出力する第1の判定部と、
前記ダウンカウントから前記アップカウントに切り替わる際のカウント値と、予め設定された第2の閾値とを比較して、前記カウント値が前記第2の閾値以上であると、発振異常信号を出力する第2の判定部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。 - 前記カウント部は、前記第1の発振器のクロックが入力されるアップカウント部と、前記第2の発振器のクロックが入力されるダウンカウント部と、を備え、
前記アップカウント部のビット幅と前記ダウンカウント部のビット幅とは、前記第1の発振器のクロックと前記第2の発振器のクロックとの逓倍分だけ異なることを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路。 - 前記判定回路の判定結果が入力され、発振異常が生じたことを通知する異常通知部を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体集積回路。
- 前記異常通知部は、前記判定回路の判定結果に基づいてリセット信号又は異常検出割込み信号を生成することを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路。
- 第1の発振器のクロック、第2の発振器のクロックを第3の発振器のクロックに基づいて順に切り替えて出力し、前記第1の発振器のクロック又は前記第2の発振器のクロックを、前記第3の発振器のクロックに基づいてアップカウント又はダウンカウントし、前記アップカウント又はダウンカウントの結果に基づいて、前記第1の発振器のクロック又は前記第2の発振器のクロックと、前記第3の発振器のクロックとの整合性を判定する半導体集積回路の発振異常検出方法。
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