JP4754655B2 - 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法 - Google Patents

太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4754655B2
JP4754655B2 JP2010516096A JP2010516096A JP4754655B2 JP 4754655 B2 JP4754655 B2 JP 4754655B2 JP 2010516096 A JP2010516096 A JP 2010516096A JP 2010516096 A JP2010516096 A JP 2010516096A JP 4754655 B2 JP4754655 B2 JP 4754655B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solar cell
conductive paste
electrode
cell element
weight
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010516096A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2010016186A1 (ja
Inventor
真志 中山
信雄 落合
崇 樋之津
豊 中山
正美 桜庭
亘 藤森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyoto Elex Co Ltd
Original Assignee
Kyoto Elex Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyoto Elex Co Ltd filed Critical Kyoto Elex Co Ltd
Priority to JP2010516096A priority Critical patent/JP4754655B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4754655B2 publication Critical patent/JP4754655B2/ja
Publication of JPWO2010016186A1 publication Critical patent/JPWO2010016186A1/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/14Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material
    • H01B1/16Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/02168Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties for the solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/52PV systems with concentrators
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及びその導電性ペーストを用いて形成された電極を有する太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法に関する。
一般的な太陽電池素子は、図4に示すように、半導体基板21、拡散層22、反射防止層23、裏面電極24および表面電極25を備えている。
この太陽電池素子は、例えば、以下のように製造される。シリコンからなる半導体基板21の受光面側(表面側)に、不純物の拡散層22と、窒化シリコン、酸化シリコンまたは酸化チタンなどからなる絶縁性の反射防止層23とが順次形成される。ここで、半導体基板21は、例えば、ホウ素などの半導体不純物を1×1016〜1018原子/cm3程度含有することにより、比抵抗1.5Ωcm程度の一導電型(例えば、p型)を呈するようにしたものである。単結晶シリコンの場合は引き上げ法などによって形成され、多結晶シリコンの場合は鋳造法などによって形成される。多結晶シリコンは、大量生産が可能で製造コスト面で単結晶シリコンよりも有利である。半導体基板21は、例えば、引き上げ法や鋳造法によって形成されたインゴットを100ないし300μm程度の厚みにスライスすることにより得られる。
拡散層22は、半導体基板21の受光面に、リンなどの不純物を拡散させることにより形成される、半導体基板21の逆の導電型(例えば、n型)を呈する領域である。この拡散層22は、例えば、半導体基板21を炉中に配置して、オキシ塩化リン(POCl3)などの中で加熱することによって形成される。
反射防止層23は、反射防止機能と併せて太陽電池素子の保護のために拡散層22の受光面側に形成されるものである。反射防止層23が窒化シリコン膜の場合、例えば、シラン(SiH4)とアンモニア(NH3)の混合ガスをグロー放電分解でプラズマ化して堆積させるプラズマCVD法などで形成される。例えば、反射防止層23は半導体基板21との屈折率差などを考慮して、屈折率が1.8〜2.3程度になるようにされ、0.05μmないし1.0μm程度の厚みに形成される。
半導体基板21の表面には表面電極25が形成され、裏面には裏面電極24が形成される。表面電極25は、導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、必要に応じて添加される物質とを含む導電性ペーストを印刷し、乾燥し、焼成することにより形成される。裏面電極24も導電性ペーストを印刷し、乾燥し、焼成することにより形成されるが、表面電極25と同一の導電性ペーストを用いる必要はない。特に、表面電極25はファイヤースルーの役割を担っており、適切な組成と焼成条件の選択は太陽電池の特性を高める上で重要である。このファイヤースルーとは、焼成の際、導電性ペーストに含まれているガラスフリットが反射防止層23に作用して当該層を溶解除去し、その結果、表面電極25と拡散層22が接触し、表面電極25と拡散層22のオーミック接続を得ることをいう。表面電極25と拡散層22との間で安定なオーミック接続が得られないと、太陽電池の直列抵抗が高くなって曲線因子(FF)が小さくなる傾向にある。太陽電池の変換効率は、開放電圧と短絡電流密度とFFとを乗じることにより得られるので、FFが小さくなると変換効率は低下してしまう。
ところで、太陽電池における発電特性を高めるためには、電極の特性が重要である。例えば、電極の抵抗値を下げることによって発電効率が高まる。この目的を達成するため、例えば、特許文献1には、有機バインダーと、溶剤と、ガラスフリットと、導電性粉末と、Ti、Bi、Zn、Y、InおよびMoから選ばれる少なくとも1種の金属又はその金属化合物とを含んでなる導電性ペーストにおいて、金属又はその金属化合物の平均粒径が0.001μm以上0.1μm未満である導電性ペーストが開示されている。
特許文献1には、超微粒子の金属又はその金属化合物を含む導電性ペーストを焼成することで反射防止層を介して存在する半導体と導電性ペーストとの間に安定した高い導通性と優れた接着力を有する表面電極を形成することができると記載されている。しかし、導電性ペーストの組成、特に特許文献1のように、超微粒子の金属又はその金属化合物を含む導電性ペーストを半導体基板表面に印刷・乾燥後、焼成すると、塗膜(ペースト膜)が収縮して接触抵抗が増大したり、場合によっては、ペースト膜と半導体基板の熱収縮挙動(線膨張率)の差違によって、半導体基板表面にマイクロクラックが発生することもある。接触抵抗が増大すれば、上記したようにFFが小さくなり、変換効率が低下してしまうという不都合がある。
特許文献1: 特開2005−243500号公報
本発明は従来の技術の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、接触抵抗の増大を招くことのない太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及びその導電性ペーストを用いて形成された電極を有する太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、アルカリ土類金属を含む有機化合物とを含有することを特徴としている。
また、本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、低融点金属とを含有することを特徴としている。
また、本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、アルカリ土類金属を含む有機化合物と、低融点金属とを含有することを特徴としている。
また、本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、低融点金属系化合物とを含有することを特徴としている。
さらに、本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、アルカリ土類金属を含む有機化合物と、低融点金属系化合物とを含有することを特徴としている。
アルカリ土類金属を含む有機化合物はアルカリ土類金属せっけんであることが好ましい。
アルカリ土類金属せっけんはステアリン酸マグネシウムであることが好ましい。
低融点金属はTe、またはSeであることが好ましい。
低融点金属系化合物はTeO2であることが好ましい。
本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、0.1ないし5重量%のアルカリ土類金属を含む有機化合物を含有することが好ましい。
本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、0.1ないし5重量%の低融点金属を含有することが好ましい。
本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、0.1ないし5重量%のアルカリ土類金属を含む有機化合物と、0.1ないし5重量%の低融点金属とを含有することが好ましい。
本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、0.01ないし10重量%の低融点金属系化合物を含有することが好ましい。
本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストは、0.1ないし5重量%のアルカリ土類金属を含む有機化合物と、0.01ないし10重量%の低融点金属系化合物とを含有することが好ましい。
本発明の太陽電池素子は、半導体基板の受光面側に拡散層を形成し、この拡散層上に反射防止層と表面電極を有し、半導体基板の反受光面側に裏面電極を有する太陽電池素子において、表面電極は上記導電性ペーストを反射防止層上に印刷して焼成することにより形成されたものであることを特徴としている。
本発明の太陽電池素子の製造方法は、半導体基板の受光面側に拡散層を形成し、この拡散層上に反射防止層を形成し、この反射防止層上に上記導電性ペーストを印刷し、半導体基板の反受光面側に裏面電極用導電性ペーストを印刷し、さらに、反射防止層上に印刷された導電性ペーストを焼成することによって拡散層と導通させて表面電極を形成し、裏面電極用導電性ペーストを焼成することによって裏面電極を形成することを特徴としている。
本発明によれば、接触抵抗の増大を招くことのない太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及びその導電性ペーストを用いて形成された電極を有する太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法を提供することができる。
本発明の太陽電池素子の一実施形態の断面図である。 図2(a)は本発明の太陽電池素子の一実施形態の受光面側の平面図、図2(b)は本発明の太陽電池素子の一実施形態の反受光面側の平面図である。 太陽電池モジュールの一例を示す断面図である。 一般的な太陽電池素子の概略構成を示す断面図である。
(1)導電性粒子
導電性粒子としては、銀粉末、酸化銀粉末、炭酸銀粉末、酢酸銀粉末、銀コート粉末、銀含有合金粉末、ニッケル粉末、銅粉末などを挙げることができる。これらを単独または2種以上混合して使用することができる。
導電性粒子は銀を70ないし100質量%含有するものが好ましい。反射防止層上に印刷された導電性ペーストを焼成して拡散層と導通させる場合、約750ないし950℃で焼成されるが、銀の場合は還元性雰囲気としなくても、表面酸化によって導電性が低下するということがないからである。
導電性粒子の配合量は導電性ペースト全体に対して65ないし95重量%であるのが好ましい。65重量%未満では導電性粒子の配合量が少なすぎて焼成して得られる受光面電極の固有抵抗が上昇するという不都合があり、95重量%を超えると印刷性が悪くなり、物理的な接着強度が不足するという不都合があるからである。
導電性粒子の形状は、鱗片状、球形状、フレーク状、不定形状またはこれらを混合したものでもよい。
導電性粒子の平均粒径は、焼結特性に影響を与えるので(粒径の大きい導電性粒子は粒径の小さい導電性粒子よりもゆっくりとした速度で焼結される)、0.1ないし15μmが好ましい。0.1μm未満であると焼結速度が速すぎ、物理的な接着強度が不足するという不都合がある。15μmを超えると、焼結速度はやや緩慢になるが、ペースト中での分散性および印刷性が悪くなり、細いラインを印刷するのが困難になるという不都合がある。本明細書において、平均粒径とは、マイクロトラック式粒度分布測定法により粒径を測定した場合において、小径側から累積50%の粒径をいう。
導電性粒子の比表面積は、0.05ないし5m2/gであるのが好ましい。0.05m2/g未満であると、粒径が大きく、細いラインを描くことができない。5m2/gを超えると粘度調整に多量の溶剤が必要になるなど、作業性が悪くなるという不都合がある。
(2)ガラスフリット
本発明で使用可能なガラスフリットは、導電性ペーストが750ないし950℃で焼成されたときに、反射防止層を浸食し、適切に半導体基板への接着が行われるように、300ないし550℃の軟化点を有するものが好ましい。軟化点が300℃より低いと、焼成が進んで本発明の効果を十分に得ることができないという不都合がある。一方、軟化点が550℃より高いと、焼成時に十分な溶融流動が起こらないため、十分な接着強度が得られないという不都合がある。例えば、ガラスフリットとしては、Bi系ガラス、Bi2O3−B2O3−ZnO系ガラス、Bi2O3−B2O3系ガラス、Bi2O3−B2O3−SiO2系ガラス、Ba系ガラス、BaO−B2O3−ZnO系ガラスなどを用いることができる。
ガラスフリットの形状は限定されず、球状でも、不定形状でもよい。
ガラスフリットの配合量は導電性ペースト全体に対して0.1ないし10重量%であるのが好ましい。0.1重量%未満では接着強度が不十分となる場合がある。10重量%を超えると、ガラスの浮きや後工程での半田付け不良が生じることがある。
ガラスフリットに関するより詳しい性状としては、例えば、Bi系ガラスフリットとしては、B2O3が1ないし10重量%、BaOが1ないし10重量%、Bi2O3が70ないし80重量%、Sb2O3が1重量%以下、その他(前記物質およびZnO、CaOを除くもの)が10重量%以下である組成を有し、軟化点が約430℃のものを挙げることができる。Ba系ガラスフリットとしては、B2O3が20重量%以上、ZnOが20重量%以下、BaOが40重量%以上、CaOが10重量%以上である組成を有し、軟化点が約530℃のものを挙げることができる。
(3)アルカリ土類金属を含む有機化合物と低融点金属と低融点金属系化合物
アルカリ土類金属を含む有機化合物と低融点金属は、焼結抑制剤として作用する。低融点金属とは、融点が500℃以下の金属をいい、例えば、亜鉛(融点419.6℃)、鉛(融点327.5℃)、スズ(融点231.97℃)、ビスマス(融点271.3℃)、テルル(融点449.5℃)、セレン(融点217℃)を挙げることができる。この中で比抵抗が0.436Ωcmの半導体であるテルルを好ましく用いることができる。さらに、低融点金属に代えて導電性ペーストの焼成温度以下の融点を有する物質、例えば、二酸化テルル(融点732.6℃)を用いることもできる。要するに、低融点金属に代えて、導電性ペーストの焼成温度以下の融点を有する物質(二酸化テルルのような低融点金属系化合物)または導電性ペーストの焼成温度以下の温度において化学反応(物理変化)を起こす物質を用いることができる。
アルカリ土類金属(厳密には周期表2族元素金属)を含む有機化合物としてはアルカリ土類金属せっけん(厳密には周期表2族元素の金属せっけん)が好ましい。具体的なアルカリ土類金属せっけんとしては、ステアリン酸Ca、ステアリン酸Mg、ステアリン酸Sr、グルコン酸Mgなどを挙げることができる。

このアルカリ土類金属せっけんは表面活性が高く、導電性粒子を一種の保護コロイドの様に均一分散させると共に、大気中で焼成すると、導電性粒子の過剰な焼結を抑制する。その結果、半導体基板の主成分である半金属元素Siと大差のない熱収縮挙動を示すことが期待できる。また、導電性ペーストが低融点金属または低融点金属系化合物を含む場合、その導電性ペーストを大気雰囲気で焼成すると、低融点金属または低融点金属系化合物が酸化されやすくなる。すなわち、導電性ペーストの焼成過程において酸化物被膜が自然と形成されるため、導電性粒子の過剰な焼結が抑制され、半導体基板の主成分である半金属元素Siと大差のない熱収縮挙動を示すことが期待できる。このようにして、半導体基板表面に本発明の導電性ペーストを印刷・乾燥後、焼成時におけるマイクロクラックの発生や接触抵抗の増大を招くことがないのである。
以上のような効果を得るためには、導電性ペーストは、適正量のアルカリ土類金属を含む有機化合物、適正量の低融点金属、適正量のアルカリ土類金属を含む有機化合物および低融点金属、適正量の低融点金属系化合物、または適正量のアルカリ土類金属を含む有機化合物および低融点金属系化合物を含有することが好ましい。具体的には、導電性ペーストは、0.1ないし5重量%のアルカリ土類金属を含む有機化合物を含有することが好ましい。また、導電性ペーストは、0.1ないし5重量%の低融点金属を含有することが好ましい。また、導電性ペーストは、0.1ないし5重量%のアルカリ土類金属を含む有機化合物および0.1ないし5重量%の低融点金属を含有することが好ましい。また、導電性ペーストは、0.01ないし10重量%、より好ましくは、0.1ないし8重量%、より一層好ましくは0.1ないし4重量%の低融点金属系化合物を含有する。さらに、導電性ペーストは、0.1ないし5重量%のアルカリ土類金属を含む有機化合物および0.01ないし10重量%、より好ましくは、0.1ないし8重量%、より一層好ましくは0.1ないし4重量%の低融点金属系化合物を含有する。上記数値範囲の下限未満であると、導電性粒子の焼結抑制効果が得られず、上記数値範囲の上限を超えると、抵抗が増大してFF値が小さくなるからである。
また、フェロセレン、セレン化合金、二酸化セレン、亜セレン酸塩、セレン酸塩、二硫化セレン、セレン有機金属化合物などのSeの化合物を導電性ペーストに含有することができる。
さらに、塩化テルル、二酸化テルル、亜テルル酸化合物、テルル化亜鉛、四臭化テルル、テルル化アルミニウム、テルル化カドミウム、テルル化水素、テルル化カリウム、テルル化ナトリウム、テルル化ガリウム、テルル化銀、テルル化クロム、テルル化ゲルマニウム、テルル化コバルト、テルル化水銀、テルル化スズ、テルル化タングステン、テルル化チタン、テルル化銅、テルル化鉛、テルル化ビスマス、テルル化砒素、テルル化マンガン、テルル化モリブデン、テルル酸、メタテルル酸アンモニウム、メタテルル酸カリウム、メタテルル酸ルビジウム、メタテルル酸ナトリウム、メタテルル酸鉛、ヨウ化テルル、硫化テルル、ジフェニルジテルリド、オクチル酸テルルなどのテルルの無機化合物、テルルの有機金属化合物などのTeの化合物を導電性ペーストに含有することができる。
上記から選択されるSeの化合物およびTeの化合物の中のいずれか一種類の金属化合物又はSeの化合物およびTeの化合物の両方を導電性ペーストに含有することができる。
特に、ZnTeは最小エネルギーギャップ(価電子帯と空帯とのエネルギー差)が2.26eVの直接遷移型の化合物半導体であって、銀を添加したときの不純物準位は価電子帯の頂点から0.11eVと比較的近いところにある。価電子帯の電子が価電子帯と空帯との間にある禁止帯を超えて空帯に移るに足るエネルギーが与えられなければ、電子は価電子帯に留まっているので電気伝導は生じないが、熱あるいは光の吸収によって電子が価電子帯または不純物準位から飛び上がることによって電気伝導が起こる。この点で、不純物準位と価電子帯とのエネルギー差が小さいことは有利であり、Teの化合物の中で、特にZnTeを好ましく用いることができる。
(4)有機バインダ
有機バインダとしては、限定されるものではないが、メチルセルロース、エチルセルロース等のセルロース誘導体、アクリル樹脂、アルキド樹脂、ポリプロピレン系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ロジン系樹脂、テルペン系樹脂、フェノール系樹脂、脂肪族系石油樹脂、アクリル酸エステル系樹脂、キシレン系樹脂、クマロンインデン系樹脂、スチレン系樹脂、ジシクロペンタジエン系樹脂、ポリブテン系樹脂、ポリエーテル系樹脂、ユリア系樹脂、メラミン系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ポリイソブチル系樹脂等を用いることができる。
有機バインダの配合量は導電性ペースト全体に対して0.1ないし30重量%であるのが好ましい。0.1重量%未満では、十分な接着強度を確保することができない。一方、30重量%を超えると、ペーストの粘度上昇により印刷性が低下する。
(5)溶剤
溶剤としては、限定されるものではないが、ヘキサン、トルエン、エチルセロソルブ、シクロヘキサノン、ブチルセロソルブ、ブチルセロソルブアセテート、ブチルカルビトール、ブチルカルビトールアセテート、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジアセトンアルコール、ターピネオール、メチルエチルケトン、ベンジルアルコール等を挙げることができる。
溶剤の配合量は導電性ペースト全体に対して1ないし40重量%であるのが好ましい。それらの範囲外であると、ペーストの印刷性が低下するからである。
(6)分散剤
ステアリン酸、パルミチン酸、ミリスチン酸、オレイン酸、ラウリン酸などの分散剤を導電性ペーストに配合することができる。なお、分散剤は一般的なものであれば、有機酸に限定されるものではない。これら分散剤の配合量は導電性ペースト全体に対して0.05ないし10重量%であるのが好ましい。0.05重量%未満であるとペーストの分散性が悪くなるという不都合があり、10重量%を超えると焼成によって得られる受光面電極の固有抵抗が上昇するという不都合がある。
(7)その他の添加剤
本発明においては、安定剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、シランカップリング剤、消泡剤、粘度調整剤などの各種添加剤を本発明の効果を妨げない範囲において配合することができる。
(8)太陽電池素子の製造方法
本発明の太陽電池素子の製造方法について詳しく説明する。
図1は、本発明の太陽電池素子の一実施形態の断面の構造を示す概略図である。図2は、本発明の電極形状の一例を示す図であり、図2(a)は太陽電池素子の受光面側(表面)の平面図、図2(b)は太陽電池素子の反受光面側(裏面)の平面図である。
シリコン基板1は、単結晶または多結晶シリコンなどからなる。このシリコン基板1は、ボロンなどの一導電型半導体不純物を含有し、比抵抗は、例えば、1.0ないし2.0Ωcm程度である。単結晶シリコン基板の場合には引き上げ法などによって形成され、多結晶シリコン基板の場合には鋳造法などによって形成される。引き上げ法や鋳造などによって形成されたシリコンのインゴットを200μm以下、好ましくは150μm以下の厚みにスライスしてシリコン基板1とする。なお、以下の説明においてはp型シリコン基板を用いて説明を行うが、n型シリコン基板を用いてもかまわない。
このシリコン基板1は、そのスライス面を清浄化するために、表面をNaOHやKOH、またはフッ酸やフッ硝酸等で微量エッチングされる。
その後、光入射面となるシリコン基板表面(受光面)側に、ドライエッチングやウエットエッチングなどを用いて、光反射率低減機能を有する凹凸面(粗面)を形成することが好ましい。
次に、n型拡散層2を形成する。n型化ドーピング元素としては、リンを用いるのが好ましく、シート抵抗が40ないし100Ω/□程度のn+型とする。これにより、p型シリコン基板1との間にpn接合部が形成される。
n型拡散層2はシリコン基板の受光面に形成されるものであり、ペースト状態にしたP2O5を塗布して熱拡散させる塗布熱拡散法、ガス状態にしたPOCl3を拡散源とした気相熱拡散法、およびP+イオンを直接拡散させるイオン打ち込み法などによって形成される。このn型拡散層2は、0.3ないし0.5μm程度の深さに形成される。
なお、拡散を予定しない部位にも拡散領域が形成された場合、後でエッチングによって除去すればよい。後記するように、裏面(反受光面)のBSF領域をアルミニウムペーストによって形成する場合は、p型ドープ剤であるアルミニウムを十分な濃度で十分な深さまで拡散させることができるので、浅いn型拡散層の影響は無視することができるので、裏面側に形成されたn型拡散層を特に除去する必要はない。
n型拡散層2の形成方法は上記に限定されるものではなく、例えば、薄膜技術を用いて、水素化アモルファスシリコン膜や、微結晶シリコン膜を含む結晶質シリコン膜などを形成してもよい。さらに、p型シリコン基板1とn型拡散層2との間にi型シリコン領域(図示せず)を形成してもよい。
次に、反射防止層3を形成する。反射防止層3の材料としては、SiNx膜(Si3N4を中心にして組成xには幅がある)、TiO2膜、SiO2膜、MgO膜、ITO膜、SnO2膜、ZnO膜などを用いることができる。その厚さは、適当な入射光に対して無反射条件を再現できるよう、半導体材料に対して適宜選択することができる。例えば、シリコン基板1に対しては、屈折率は1.8ないし2.3程度、厚みは500ないし1000Å程度にすればよい。
反射防止層3の製法としては、CVD法、蒸着法またはスパッタ法などを用いることができる。
次に、BSF(Back Surface Field)層4を形成することが好ましい。ここで、BSF層とは、シリコン基板1の裏面側に一導電型半導体不純物が高濃度に拡散されてなる領域をいい、キャリヤの再結合による変換効率の低下を防ぐ役割を果たすものである。不純物元素としては、ボロンやアルミニウムを用いることができ、不純物元素濃度を高濃度にしてp+型とすることによって後記する裏面電極6との間にオーミック接続を得ることができる。
BSF層4の製法としては、BBr3を拡散源とした熱拡散法を用いて800ないし10000℃程度で形成することができる。熱拡散法を用いる場合は、すでに形成してあるn型拡散層2には酸化膜などの拡散バリアをあらかじめ形成しておくことが好ましい。他の製法として、アルミニウムを用いる場合、アルミニウム粉末および有機ビヒクルを含むアルミニウムペーストを塗布した後、600ないし850℃程度で焼成してアルミニウムをシリコン基板1に向けて拡散する方法を用いることができ、この方法によると塗布面への所望の拡散領域を形成できるとともに、裏面側の不要な拡散層の除去を必要としない。しかも、焼成されたアルミニウムはそのまま裏面電極の集電電極として利用することもできる。
次に、図2(a)に示すバスバー電極5aおよびフィンガー電極5bからなる表面電極5と、図2(b)に示すバスバー電極6aおよび集電電極6bからなる裏面電極6とを、シリコン基板1の表面側および裏面側に形成する。
表面電極5は、シリコン基板1上に公知の塗布法を用いて本発明の太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストを塗布し、ピーク温度が750ないし950℃程度で数十秒ないし数十分間焼成することにより形成できる。
裏面電極6は、図2(b)に示すように、銀粉末とアルミニウム粉末と有機バインダと溶剤とガラスフリットを含む銀−アルミニウムペーストを塗布・焼成して形成されるバスバー電極6aと、アルミニウム粉末と有機バインダと溶剤とガラスフリットを含むアルミニウムペーストをシリコン基板1の略全面に塗布・焼成して形成される集電電極6bとを、一部が重なるように構成してもよい。
なお、表面電極および裏面電極について、それぞれの電極形成用ペーストを塗布・乾燥した後、同時に焼成すれば、製造工程を減らすことができるので好ましい。各ペースト塗布の順序は特に限定されるものではない。
導電性ペーストによる電極形成パターンは、太陽電池素子から効率よく集電するために、一般的に用いられているパターン、例えば、表面電極の場合であれば、図2(a)に示すように、櫛形パターンを採用することができる。
(9)太陽電池モジュールの製造方法
上記のようにして製造した太陽電池素子を用いて太陽電池モジュールを製造する方法の一例について説明する。
図3に示すように、配線11によって、隣接している太陽電池素子12の表面電極と裏面電極とを接続し、透明の熱可塑性樹脂などからなる表側充填材13と透明の熱可塑性樹脂などからなる裏側充填材14によって太陽電池素子12を挟み込み、さらに、表側充填材13の上側にガラスからなる透明部材15を配し、裏側充填材14の下側に機械特性に優れたポリエチレンテレフタレートなどのシートを耐候性に優れたポリフッ化ビニルのフィルムで覆った裏面保護材16を配し、これらの積層部材を適切な真空炉で脱気し、加熱・押圧して一体化することが好ましい。また、複数の太陽電池素子12が直列接続されている場合、複数の素子の中の最初の素子と最後の素子の電極の一端を出力取出部である端子ボックス17に出力取出配線18によって接続することが好ましい。さらに、太陽電池モジュールは、通常長期にわたって野外に放置されるため、アルミニウムなどからなる枠体によって周囲を保護することが好ましい。
以下に本発明の実施例を説明するが、本発明は下記実施例に限定されるものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱しない範囲において適宜変更や修正が可能である。
(1)半導体ウエハの準備
厚さが200μmで、外形が20mm×20mmの大きさで、比抵抗が1.5Ωcmの多結晶シリコンのp型シリコン基板の表面にn型拡散層が形成され、さらに、n型拡散層の上にSiNxの反射防止層が形成された半導体ウエハを準備した。
(2)導電性ペーストの調製
a.BSF層と裏面集電電極形成用の導電性ペースト
平均粒径が約3μmのアルミニウム粉末70重量部と、エチルセルロース(有機バインダ)1重量部と、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール モノイソブチレート(溶剤)28重量部と、軟化点が約405℃のBi2O3−B2O3−ZnO系ガラスフリット1重量部とを3本ロールミルで混合することによりペースト状にして、BSF層と裏面集電電極形成用の導電性ペーストを得た。
b.裏面バスバー電極形成用の導電性ペースト
平均粒径が約1μmの銀粉末80重量部と、平均粒径が約3μmのアルミニウム粉末2.4重量部と、エチルセルロース(有機バインダ)1重量部と、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール モノイソブチレート(溶剤)15重量部と、軟化点が約405℃のBi2O3−B2O3−ZnO系ガラスフリット1.5重量部と、ステアリン酸0.1重量部とを3本ロールミルで混合することによりペースト状にして、裏面バスバー電極形成用の導電性ペーストを得た。
c.表面バスバー電極と表面フィンガー電極形成用の導電性ペースト
《実施例1ないし17(Bi系ガラスフリットを含有する導電性ペースト)の組成》
実施例1ないし7としては、導電性粒子(平均粒径0.4μmのAg粉末)86重量部と、軟化点が約430℃のBi系ガラスフリット(B2O3が1ないし10重量%、BaOが1ないし10重量%、Bi2O3が70ないし80重量%、Sb2O3が1重量%以下、その他(前記物質およびZnO、CaOを除くもの)が10重量%以下である組成のもの)1重量部と、エチルセルロース1重量部(有機バインダ)と、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール モノイソブチレート11重量部(溶剤)と、ステアリン酸0.5重量部(分散剤)に対して、以下の表1に示すように、アルカリ土類金属せっけんとTeを配合した。なお、上記導電性粒子と、Bi系ガラスフリットと、エチルセルロースと、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール モノイソブチレートと、ステアリン酸との配合からなるものを、以下、第一主ペースト組成という。
また、実施例8ないし11としては、第一主ペースト組成に対して、以下の表1に示すように、ステアリン酸Mgのみを配合した。
また、実施例12および13としては、第一主ペースト組成に対して、以下の表1に示すように、ステアリン酸MgとTeO2を配合した。
また、実施例14としては、第一主ペースト組成に対して、以下の表1に示すように、Teのみを配合した。
また、実施例15としては、第一主ペースト組成に対して、以下の表1に示すように、TeO2のみを配合した。
また、実施例16としては、第一主ペースト組成に対して、以下の表1に示すように、Seのみを配合した。
また、実施例17としては、第一主ペースト組成に対して、以下の表1に示すように、ZnTeのみを配合した。
そして、実施例1ないし17の組成を3本ロールミルで混合することによりペースト状にし、さらに、後記するスクリーン印刷時のペーストの粘度が約300Pa・sとなるように、上記有機溶剤を適宜添加して調製した。このようにして、表面バスバー電極と表面フィンガー電極形成用の導電性ペーストを得た。
《実施例18ないし32(Ba系ガラスフリットを含有する導電性ペースト)の組成》
実施例18ないし24としては、導電性粒子(平均粒径0.4μmのAg粉末)86重量部と、軟化点が約530℃のBa系ガラスフリット(B2O3が20重量%以上、ZnOが20重量%以下、BaOが40重量%以上、CaOが10重量%以上である組成のもの)1重量部と、エチルセルロース1重量部(有機バインダ)と、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール モノイソブチレート11重量部(溶剤)と、ステアリン酸0.5重量部(分散剤)に対して、以下の表2に示すように、ステアリン酸MgとTeO2を配合した。なお、上記導電性粒子と、Ba系ガラスフリットと、エチルセルロースと、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール モノイソブチレートと、ステアリン酸との配合からなるものを、以下、第二主ペースト組成という。
また、実施例25ないし31としては、第二主ペースト組成に対して、以下の表2に示すように、TeO2のみを配合した。
また、実施例32としては、第二主ペースト組成に対して、以下の表2に示すように、Teのみを配合した。
そして、実施例18ないし32の組成を3本ロールミルで混合することによりペースト状にし、さらに、後記するスクリーン印刷時のペーストの粘度が約300Pa・sとなるように、上記有機溶剤を適宜添加して調製した。このようにして、表面バスバー電極と表面フィンガー電極形成用の導電性ペーストを得た。
《比較例1ないし6(Bi系ガラスフリットを含有する導電性ペースト)の組成》
また、比較例1ないし5として、第一主ペースト組成に対して、以下の表3に示すように、1重量部のTeに加えてアルカリ土類金属せっけんに代えて他の化合物を配合した。
また、比較例6として、第一主ペースト組成に対して、以下の表3に示すように、何も配合しなかった。
そして、比較例1ないし6の組成を3本ロールミルで混合することによりペースト状にし、さらに、後記するスクリーン印刷時のペーストの粘度が約300Pa・sとなるように、上記有機溶剤を適宜添加して調製した。このようにして、比較例としての表面バスバー電極と表面フィンガー電極形成用の導電性ペーストを得た。
《比較例7(Ba系ガラスフリットを含有する導電性ペースト)の組成》
また、比較例7として、第二主ペースト組成に対して、以下の表4に示すように、何も配合しなかった。
そして、比較例7の組成を3本ロールミルで混合することによりペースト状にし、さらに、後記するスクリーン印刷時のペーストの粘度が約300Pa・sとなるように、上記有機溶剤を適宜添加して調製した。このようにして、比較例としての表面バスバー電極と表面フィンガー電極形成用の導電性ペーストを得た。
《参考例1ないし9の組成》
また、参考例1ないし3として、第一主ペースト組成に対して、以下の表5に示すように、ステアリン酸Mgを多量に配合し、参考例4として、第一主ペースト組成に対して、以下の表5に示すように、Teを多量に配合し、参考例5として、第一主ペースト組成に対して、以下の表5に示すように、Seを多量に配合し、参考例6として、第一主ペースト組成に対して、以下の表5に示すように、TeO2を多量に配合し、参考例7として、第一主ペースト組成に対して、以下の表5に示すように、ZnTeを多量に配合し、参考例8、9として、第二主ペースト組成に対して、以下の表5に示すように、TeO2を多量に配合した。そして、参考例1ないし9の組成を3本ロールミルで混合することによりペースト状にし、さらに、後記するスクリーン印刷時のペーストの粘度が約300Pa・sとなるように、上記有機溶剤を適宜添加して調製した。このようにして、参考例としての表面バスバー電極と表面フィンガー電極形成用の導電性ペーストを得た。
Figure 0004754655
Figure 0004754655
Figure 0004754655
Figure 0004754655
Figure 0004754655
(3)導電性ペーストの印刷
上記(2)aのように調製した導電性ペーストを、(1)のように準備した半導体ウエハの裏面側の略全面にスクリーン印刷により塗布し、その導電性ペーストの上に、図2(b)の6aに示すような形状となるように(2)bのように調製した導電性ペーストをスクリーン印刷により塗布し、150℃で5分間乾燥を行った後、自然放冷により室温まで冷却した。
次に、(1)のように準備した半導体ウエハの表面側に、図2(a)の5aおよび5bに示すような形状となるように(2)cのように調製した導電性ペーストをスクリーン印刷により塗布し、150℃で5分間乾燥を行った後、自然放冷により室温まで冷却した。(4)焼成
以上のように導電性ペーストを塗布した半導体ウエハを、BTU社製のモデルPV309で4ゾーンの加熱ゾーンがある高速焼成炉に挿入して、Datapaq社の温度ロガーで半導体ウエハ表面の最高温度を確認しながら、その表面最高温度を焼成温度として、800℃の焼成温度で1分間焼成した。この焼成過程において、半導体ウエハの裏面側に塗布したアルミニウムが半導体ウエハ側に拡散することにより、図1の4に示すようなBSF層が形成され、同時に図1の6bに示すような集電電極が形成されるのである。
(5)電気特性の評価
以上のようにして作製した太陽電池素子試験片のFF値を求めた。具体的には、共進電機株式会社製の商品名KST−15Ce−1sのテスターと、関西科学機器社製の商品名XES−502Sのソーラーシミュレーターとを用いて、電圧−電流曲線からFF値を求めた。表1、表2、表3、表4、表5には、各実施例、比較例および参考例のFF値を示す。FF値の数値が大きいほど変換効率が高いことを示している。
表1、表2と表3、表4、表5との比較で分かるように、本発明の実施例1ないし32のFF値は、比較例1ないし7および参考例1ないし3に比べて大きなFF値を示している。
実施例1ないし7と実施例8ないし11との比較で分かるように、適正量のTeに加えて適正量のアルカリ土類金属せっけんを含有するもののFF値は、Teを含有せずアルカリ土類金属せっけん(ステアリン酸Mg)のみを含有するもののFF値より大きくなることが分かる。
また、実施例1ないし4の比較より、アルカリ土類金属せっけんの中でもステアリン酸Mgを配合したもののFF値が他のアルカリ土類金属せっけんを添加したもののFF値より大きいことが分かる。
また、実施例4と実施例12の比較より、ステアリン酸Mgに加えてTeO2を配合したもののFF値は、ステアリン酸マグネシウムに加えてTeを配合したもののFF値より大きくなることが分かる。
焼結抑制効果を奏するとともにFF値を大きくするためには、1重量部のTeに対するステアリン酸Mgの添加量は1ないし5重量部程度とすることが好ましいことが分かる。さらに、表1より、そのようなステアリン酸Mgの添加量範囲においてFF値を最も大きくするためには、1重量部のTeに対するステアリン酸Mgの添加量は2重量部及びその近傍(1.5ないし2.5重量部程度)が好ましいことが推定される。
また、実施例12と実施例20および実施例13と実施例21および実施例15と実施例28の比較より、Bi系ガラスフリットよりBa系ガラスフリットを用いる方がFF値が大きくなる傾向にあることが分かる。
さらに、Ba系ガラスフリットを用いた場合において、実施例25ないし31の比較より、TeO2を2ないし4重量部配合することにより、0.75より高いFF値が得られることが分かる。また、Ba系ガラスフリットを用いた場合、実施例18ないし24の比較より、TeO2と1重量部のステアリン酸Mgをともに含有する場合、TeO2が0.5重量部でも0.75より高いFF値が得られ、1重量部のステアリン酸Mgと1ないし4重量部のTeO2を含有すると、FF値は最も大きくなることが分かる。さらに、Ba系ガラスフリットを用いた場合、実施例32より、ステアリン酸Mgを含有しなくても、Teを4重量部含有すると、0.75より高いFF値が得られることが分かる。
また、実施例4ないし7と参考例1、2との比較で分かるように、1重量部のTeを含有してもステアリン酸マグネシウムの配合量が多すぎると、Ag粒子の焼結抑制効果は十分に発揮されるが、一方、抵抗が増大するのでFF値は低下することが分かる。
また、実施例8ないし11と参考例3との比較で分かるように、ステアリン酸マグネシウムの配合量が多すぎると、Ag粒子の焼結抑制効果は十分に発揮されるが、一方、抵抗が増大するのでFF値は低下することが分かる。
また、比較例1ないし5より、1重量部のTeを含有しても、アルカリ土類金属を含む有機化合物を含有しない導電性ペーストのFF値は低いことが分かる。
なお、Te粉末、Se粉末、TeO2粉末またはZnTe粉末を多量に配合した参考例4ないし9は、ファイヤースルーによる反射防止層の導通効果が大き過ぎて、表面電極とp型シリコンのシャント(短絡)が発生し、FF値の測定ができなかった。
以上の実施例と比較例と参考例のFF値に関する評価結果をまとめると、以下のようになる。
(1)適正量のステアリン酸Mg、低融点金属または低融点金属系化合物を導電性ペーストに配合することによりFF値は増加する。
(2)適正量のTeに加えて適正量のアルカリ土類金属石鹸を含有する導電性ペーストのFF値は、Teを含有せずアルカリ土類金属石鹸のみを含有する導電性ペーストのFF値より大きくなる。このアルカリ土類金属石鹸としてはステアリン酸Mgが好ましい。
(3)ステアリン酸MgとTeを導電性ペースト中に含有する場合、Te1重量部に対して、ステアリン酸Mgを1.5ないし2.5重量部程度含有すると、その配合における導電性ペーストのFF値は最も大きくなる可能性がある。
(4)アルカリ土類金属を含む有機化合物を含有しなくてもTeO2を導電性ペースト中に含有することによりFF値は大きくなる。その場合、ガラスフリットとしてBa系ガラスフリットを用いることにより、FF値はさらに大きくなる。
(5)ステアリン酸MgとTeを含有する導電性ペーストのFF値より、ステアリン酸MgとTeO2を含有する導電性ペーストのFF値の方が大きくなる。その場合、ガラスフリットとしてBa系ガラスフリットを用い、ステアリン酸Mg1重量部に対してTeO2を1ないし4重量部程度含有すると、FF値は最も大きくなる可能性がある。
(6)Teを含有しても、アルカリ土類金属を含む有機化合物以外の物質を含有する導電性ペーストのFF値は低い。
また、表1、表2に示すように、実施例1ないし32の太陽電池素子試験片のFF値は比較例1ないし7ならびに参考例1ないし3のものより大きいことから、実施例1ないし32の太陽電池素子試験片の接触抵抗の値は比較例1ないし7ならびに参考例1ないし3より小さいことが分かる。
本発明は、太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子として好適である。
1 シリコン基板
2 n型拡散層
3 反射防止層
4 BSF層
5 表面電極
5a 表面バスバー電極
5b 表面フィンガー電極
6 裏面電極
6a 裏面バスバー電極
6b 裏面集電電極
11 配線
12 太陽電池素子
13 表側充填材
14 裏側充填材
15 透明部材
16 裏面保護材
17 端子ボックス
18 出力取出配線
21 半導体基板
22 拡散層
23 反射防止層
24 裏面電極
25 表面電極

Claims (11)

  1. 導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、低融点金属とを含有する太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストにおいて、
    低融点金属がTeまたはSeであり、当該TeまたはSeを0.01ないし10重量%で含有することを特徴とする太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  2. 導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットとを含有する太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストにおいて、
    さらに、周期表2族元素の金属せっけんと、低融点金属とを含有し、当該低融点金属がTeまたはSeであることを特徴とする太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  3. 周期表2族元素の金属せっけんが、ステアリン酸カルシウム、ステアリン酸マグネシウム、ステアリン酸ストロンチウム、またはグルコン酸マグネシウムであることを特徴とする請求項2記載の太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  4. 前記周期表2族元素の金属せっけんはステアリン酸マグネシウムであることを特徴とする請求項記載の太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  5. 0.01ないし10重量%のTeまたはSeを含有することを特徴とする請求項2、3または4記載の太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  6. 0.1ないし5重量%のステアリン酸マグネシウムと、0.01ないし10重量%のTeまたはSeを含有することを特徴とする請求項4記載の太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  7. 0.1ないし5重量%のTeまたはSeを含有することを特徴とする請求項1、5または6に記載の太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  8. 導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、TeO2とを含有する太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストにおいて、
    0.01ないし10重量%のTeO2を含有することを特徴とする太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  9. 導電性粒子と、有機バインダと、溶剤と、ガラスフリットと、ステアリン酸マグネシウムと、TeO2とを含有する太陽電池素子の電極形成用導電性ペーストにおいて、
    0.1ないし5重量%のステアリン酸マグネシウムと、0.01ないし10重量%のTeO2を含有することを特徴とする太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト。
  10. 半導体基板の受光面側に拡散層を形成し、この拡散層上に反射防止層と表面電極を有し、半導体基板の反受光面側に裏面電極を有する太陽電池素子において、
    表面電極は請求項1、2、3、4、5、6、7、8または9記載の導電性ペーストを反射防止層上に印刷して焼成することにより形成されたものであることを特徴とする太陽電池素子。
  11. 半導体基板の受光面側に拡散層を形成し、この拡散層上に反射防止層を形成し、この反射防止層上に請求項1、2、3、4、5、6、7、8または9記載の導電性ペーストを印刷し、半導体基板の反受光面側に裏面電極用導電性ペーストを印刷し、さらに、反射防止層上に印刷された導電性ペーストを焼成することによって拡散層と導通させて表面電極を形成し、裏面電極用導電性ペーストを焼成することによって裏面電極を形成することを特徴とする太陽電池素子の製造方法。
JP2010516096A 2008-08-07 2009-07-07 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法 Expired - Fee Related JP4754655B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010516096A JP4754655B2 (ja) 2008-08-07 2009-07-07 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法

Applications Claiming Priority (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008204294 2008-08-07
JP2008204294 2008-08-07
JP2008323940 2008-12-19
JP2008323940 2008-12-19
JP2009104088 2009-04-22
JP2009104088 2009-04-22
JP2009113475 2009-05-08
JP2009113475 2009-05-08
PCT/JP2009/003151 WO2010016186A1 (ja) 2008-08-07 2009-07-07 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2010516096A JP4754655B2 (ja) 2008-08-07 2009-07-07 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010101472A Division JP2010283340A (ja) 2008-08-07 2010-04-26 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP4754655B2 true JP4754655B2 (ja) 2011-08-24
JPWO2010016186A1 JPWO2010016186A1 (ja) 2012-01-12

Family

ID=41663415

Family Applications (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010516096A Expired - Fee Related JP4754655B2 (ja) 2008-08-07 2009-07-07 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2010101472A Pending JP2010283340A (ja) 2008-08-07 2010-04-26 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2014014189A Expired - Fee Related JP5870124B2 (ja) 2008-08-07 2014-01-29 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2014264627A Pending JP2015122506A (ja) 2008-08-07 2014-12-26 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法

Family Applications After (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010101472A Pending JP2010283340A (ja) 2008-08-07 2010-04-26 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2014014189A Expired - Fee Related JP5870124B2 (ja) 2008-08-07 2014-01-29 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2014264627A Pending JP2015122506A (ja) 2008-08-07 2014-12-26 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (2) US8852465B2 (ja)
EP (3) EP2637216B1 (ja)
JP (4) JP4754655B2 (ja)
KR (2) KR101135337B1 (ja)
CN (1) CN101828267B (ja)
TW (1) TWI485866B (ja)
WO (1) WO2010016186A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014045900A1 (ja) 2012-09-18 2014-03-27 株式会社村田製作所 導電性ペースト及び太陽電池
US9130075B2 (en) 2012-07-18 2015-09-08 Noritake Co., Limited Silver electrode-forming paste composition, method of production thereof, and solar cell
US10347787B2 (en) 2009-10-28 2019-07-09 Shoei Chemical Inc. Method for forming a solar cell electrode with conductive paste

Families Citing this family (89)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5559510B2 (ja) * 2009-10-28 2014-07-23 昭栄化学工業株式会社 太陽電池素子及びその製造方法
US9947809B2 (en) 2009-11-11 2018-04-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste
JP5362615B2 (ja) * 2010-02-22 2013-12-11 Dowaエレクトロニクス株式会社 銀粉及びその製造方法
JP2011171673A (ja) * 2010-02-22 2011-09-01 Kyoto Elex Kk 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP5285639B2 (ja) * 2010-02-26 2013-09-11 京都エレックス株式会社 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト
JP2011204872A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Kyoto Elex Kk 太陽電池素子の受光面電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
WO2011140197A1 (en) 2010-05-04 2011-11-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thick-film pastes containing lead- and tellurium-oxides, and their use in the manufacture of semiconductor devices
CN102456427A (zh) * 2010-10-30 2012-05-16 比亚迪股份有限公司 一种导电浆料及其制备方法
US8691612B2 (en) * 2010-12-10 2014-04-08 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of creating micro-scale silver telluride grains covered with bismuth nanoparticles
MY166077A (en) * 2010-12-24 2018-05-23 Shinetsu Chemical Co Method for manufacturing solar cell element and solar cell element
JP5884077B2 (ja) * 2010-12-29 2016-03-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 太陽電池及び太陽電池モジュール
JP5789544B2 (ja) * 2011-03-02 2015-10-07 韓國電子通信研究院Electronics and Telecommunications Research Institute 伝導性組成物並びにこれを含むシリコン太陽電池及びその製造方法
KR101814014B1 (ko) 2011-03-25 2018-01-03 삼성전자주식회사 도전성 페이스트, 상기 도전성 페이스트를 사용하여 형성된 전극을 포함하는 전자 소자 및 태양 전지
US8512463B2 (en) 2011-04-05 2013-08-20 E I Du Pont De Nemours And Company Thick film paste containing bismuth-tellurium-oxide and its use in the manufacture of semiconductor devices
US20120255605A1 (en) * 2011-04-06 2012-10-11 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method of manufacturing solar cell electrode
CN102185001B (zh) * 2011-04-18 2013-04-17 西安交通大学 硅基纳米氧化锌粉体薄膜异质结太阳能的结构及其制备
JP5338846B2 (ja) * 2011-04-25 2013-11-13 横浜ゴム株式会社 太陽電池集電電極形成方法、太陽電池セルおよび太陽電池モジュール
WO2012160921A1 (ja) * 2011-05-26 2012-11-29 株式会社 村田製作所 導電性ペースト及び太陽電池
US20150099352A1 (en) * 2011-07-19 2015-04-09 Hitachi Chemical Company, Ltd. COMPOSITION FOR FORMING n-TYPE DIFFUSION LAYER, METHOD OF PRODUCING n-TYPE DIFFUSION LAYER, AND METHOD OF PRODUCING PHOTOVOLTAIC CELL ELEMENT
US8691119B2 (en) 2011-08-11 2014-04-08 E I Du Pont De Nemours And Company Thick film paste containing lead-tellurium-lithium-titanium-oxide and its use in the manufacture of semiconductor devices
US8696948B2 (en) 2011-08-11 2014-04-15 E I Du Pont De Nemours And Company Thick film paste containing lead—tellurium—lithium—titanium—oxide and its use in the manufacture of semiconductor devices
WO2013062549A1 (en) * 2011-10-27 2013-05-02 Wuxi Calex Science And Technology Co., Ltd. Electro-conductive composition for forming semiconductor electrodes
KR20130064659A (ko) * 2011-12-08 2013-06-18 제일모직주식회사 태양전지 전극용 페이스트 조성물 및 이로부터 제조된 전극
KR101985929B1 (ko) 2011-12-09 2019-06-05 삼성전자주식회사 도전성 페이스트, 상기 도전성 페이스트를 사용하여 형성된 전극을 포함하는 전자 소자 및 태양 전지
JP5339014B1 (ja) * 2012-01-10 2013-11-13 日立化成株式会社 バリア層形成用組成物、太陽電池用基板の製造方法及び太陽電池素子の製造方法
CN104067395A (zh) * 2012-01-10 2014-09-24 日立化成株式会社 掩模形成用组合物、太阳能电池用基板的制造方法及太阳能电池元件的制造方法
KR101363344B1 (ko) 2012-01-10 2014-02-19 주식회사 젠스엔지니어링 전도성 페이스트를 전극으로 사용하는 실리콘 태양전지 모듈 및 그 제조 방법.
TW201331312A (zh) * 2012-01-10 2013-08-01 Hitachi Chemical Co Ltd 遮罩形成用組成物、太陽電池用基板的製造方法以及太陽電池元件的製造方法
KR101909143B1 (ko) * 2012-01-20 2018-10-17 엘지전자 주식회사 양면 수광형 태양전지
US8952245B2 (en) * 2012-01-23 2015-02-10 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Conductive thick film paste for solar cell contacts
JP5839574B2 (ja) * 2012-03-21 2016-01-06 京都エレックス株式会社 加熱硬化型導電性ペースト組成物
US20130248777A1 (en) * 2012-03-26 2013-09-26 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Low silver content paste composition and method of making a conductive film therefrom
JP5600702B2 (ja) * 2012-03-28 2014-10-01 京都エレックス株式会社 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト
KR20130117345A (ko) 2012-04-17 2013-10-25 헤레우스 프레셔스 메탈즈 노스 아메리카 콘쇼호켄 엘엘씨 태양 전지 접촉을 위한 전도성 후막 페이스트용 텔루륨 무기 반응 시스템
CN103377751B (zh) 2012-04-17 2018-01-02 赫劳斯贵金属北美康舍霍肯有限责任公司 用于太阳能电池触点的导电厚膜膏
JP5706998B2 (ja) * 2012-04-26 2015-04-22 国立大学法人大阪大学 透明導電性インク及び透明導電パターン形成方法
US8845932B2 (en) 2012-04-26 2014-09-30 E I Du Pont De Nemours And Company Thick film paste containing bismuth-tellurium-oxide and its use in the manufacture of semiconductor devices
JP2013243279A (ja) * 2012-05-22 2013-12-05 Namics Corp 太陽電池の電極形成用導電性ペースト
US20150155401A1 (en) * 2012-06-12 2015-06-04 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Electroconductive paste with adhesion enhancer
KR101999795B1 (ko) 2012-06-27 2019-07-12 삼성전자주식회사 도전성 페이스트, 상기 도전성 페이스트를 사용하여 형성된 전극을 포함하는 전자 소자 및 태양 전지
TW201407635A (zh) * 2012-08-09 2014-02-16 Darfon Materials Corp 銀漿及其用於製造光伏元件之用途
US8900488B2 (en) 2012-09-06 2014-12-02 E I Du Pont De Nemours And Company Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith
JP2014078594A (ja) * 2012-10-10 2014-05-01 Noritake Co Ltd ペースト組成物と太陽電池
CN102956283B (zh) * 2012-10-25 2016-08-03 上海玻纳电子科技有限公司 一种新型高效晶硅太阳能电池用无铅化银浆及其制备与应用
EP2749545B1 (en) 2012-12-28 2018-10-03 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Binary glass frits used in N-Type solar cell production
CN103000249B (zh) * 2012-12-28 2016-09-28 上海匡宇科技股份有限公司 一种太阳能电池正面银浆及其制备方法
KR20140092744A (ko) 2012-12-29 2014-07-24 제일모직주식회사 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극
EP2763141B1 (en) 2013-02-01 2016-02-03 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLC Low fire silver paste
KR101587683B1 (ko) 2013-02-15 2016-01-21 제일모직주식회사 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극
EP2787510B1 (en) * 2013-04-02 2018-05-30 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Particles comprising Al, Si and Mg in electro-conductive pastes and solar cell preparation
JP6170710B2 (ja) * 2013-04-10 2017-07-26 株式会社ノリタケカンパニーリミテド 太陽電池用導電性ペースト組成物の製造方法
KR102032280B1 (ko) * 2013-04-25 2019-10-15 엘지전자 주식회사 태양 전지의 전극용 페이스트 조성물
WO2014185537A1 (ja) * 2013-05-17 2014-11-20 株式会社カネカ 太陽電池およびその製造方法、ならびに太陽電池モジュール
TW201511296A (zh) 2013-06-20 2015-03-16 Plant PV 用於矽太陽能電池之核-殼型鎳粒子金屬化層
CN104347735A (zh) * 2013-07-25 2015-02-11 比亚迪股份有限公司 一种太阳能电池片和太阳能电池组件
US9159864B2 (en) * 2013-07-25 2015-10-13 First Solar, Inc. Back contact paste with Te enrichment and copper doping control in thin film photovoltaic devices
US9761742B2 (en) 2013-12-03 2017-09-12 E I Du Pont De Nemours And Company Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith
US9793025B2 (en) 2013-12-03 2017-10-17 E I Du Pont De Nemours And Company Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith
JP6242198B2 (ja) 2013-12-10 2017-12-06 京都エレックス株式会社 半導体デバイスの導電膜形成用導電性ペースト、および半導体デバイス、並びに半導体デバイスの製造方法
TWI517430B (zh) 2013-12-31 2016-01-11 東旭能興業有限公司 太陽能電池單元及其製造方法
CN104752556A (zh) * 2013-12-31 2015-07-01 东旭能兴业有限公司 太阳能电池单元及其制造方法
US9218979B2 (en) * 2014-01-16 2015-12-22 Phononic Devices, Inc. Low resistivity ohmic contact
KR101600874B1 (ko) * 2014-05-16 2016-03-09 덕산하이메탈(주) 은 페이스트 조성물 및 이를 이용하여 제조된 태양전지
CN104021841B (zh) * 2014-06-25 2016-09-28 西安工程大学 一种碳纳米管复合铜厚膜导电浆料及其制备方法
TWI505294B (zh) * 2014-12-08 2015-10-21 Giga Solar Materials Corp 一種含無鉛玻璃熔塊之導電漿(六)
JP2016115873A (ja) * 2014-12-17 2016-06-23 京都エレックス株式会社 太陽電池電極形成用導電性ペースト、並びに、これを用いた太陽電池素子および太陽電池モジュール
KR101696985B1 (ko) * 2014-12-30 2017-01-17 삼성에스디아이 주식회사 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극
KR20170014734A (ko) * 2015-07-31 2017-02-08 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
US10784383B2 (en) 2015-08-07 2020-09-22 E I Du Pont De Nemours And Company Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith
JP2018525832A (ja) 2015-08-14 2018-09-06 ヘンケル・アクチェンゲゼルシャフト・ウント・コムパニー・コマンディットゲゼルシャフト・アウフ・アクチェンHenkel AG & Co. KGaA 太陽光電池において使用される焼結性組成物
WO2017035103A1 (en) 2015-08-25 2017-03-02 Plant Pv, Inc Core-shell, oxidation-resistant particles for low temperature conductive applications
US10418497B2 (en) 2015-08-26 2019-09-17 Hitachi Chemical Co., Ltd. Silver-bismuth non-contact metallization pastes for silicon solar cells
WO2017051775A1 (ja) * 2015-09-24 2017-03-30 東洋アルミニウム株式会社 ペースト組成物及びシリコンゲルマニウム層の形成方法
US10696851B2 (en) 2015-11-24 2020-06-30 Hitachi Chemical Co., Ltd. Print-on pastes for modifying material properties of metal particle layers
JP2016122840A (ja) * 2015-12-18 2016-07-07 日立化成株式会社 素子及び太陽電池並びに電極用ペースト組成物
GB201601034D0 (en) 2016-01-20 2016-03-02 Johnson Matthey Plc Conductive paste,electrode and solar cell
JP6714275B2 (ja) * 2016-08-23 2020-06-24 ナミックス株式会社 導電性ペースト及び太陽電池
TWI745562B (zh) 2017-04-18 2021-11-11 美商太陽帕斯特有限責任公司 導電糊料組成物及用其製成的半導體裝置
TWI638793B (zh) * 2017-04-28 2018-10-21 碩禾電子材料股份有限公司 用於太陽能電池的導電漿、太陽能電池及其製造方法以及太陽能電池模組
CN107274965B (zh) * 2017-07-03 2019-07-05 云南科威液态金属谷研发有限公司 基于低熔点金属微纳米粉末的电子浆料及其制造方法
CN107879635B (zh) * 2017-08-31 2021-05-04 无锡帝科电子材料股份有限公司 用于制备太阳能电池电极的玻璃粉料、包括其的糊剂组合物、太阳能电池电极及太阳能电池
JP6877750B2 (ja) * 2017-12-06 2021-05-26 ナミックス株式会社 導電性ペースト
RU2690091C1 (ru) * 2018-11-08 2019-05-30 Общество с ограниченной ответственностью "Научное Предприятие Монокристалл Пасты" Алюминиевая паста для изготовления тыльного контакта кремниевых солнечных элементов c тыльной диэлектрической пассивацией
CN114946039A (zh) * 2020-02-14 2022-08-26 硕禾电子材料股份有限公司 用于异质结太阳能电池的导电糊膏、异质结太阳能电池与电极结构
KR102455164B1 (ko) * 2020-03-13 2022-10-17 주식회사 헤드솔라 페이스트, 이의 제조방법 및 이를 이용한 태양전지 광전극용 차단층 제조방법
EP4129531A4 (en) 2020-03-26 2024-05-15 Dowa Electronics Materials Co., Ltd. SILVER POWDER, ASSOCIATED PRODUCTION METHOD AND CONDUCTIVE PASTE
CN112909128A (zh) * 2021-02-07 2021-06-04 宣城睿晖宣晟企业管理中心合伙企业(有限合伙) 异质结太阳能电池片的制造方法及异质结太阳能电池片
BR112023022604A2 (pt) * 2021-04-30 2024-01-16 Arkion Life Sciences Llc Composições e métodos para controle de insetos, bactérias e/ou fungos
US12055737B2 (en) * 2022-05-18 2024-08-06 GE Precision Healthcare LLC Aligned and stacked high-aspect ratio metallized structures

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05128910A (ja) * 1991-11-07 1993-05-25 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 導体ペースト
JP2001284754A (ja) * 2000-03-30 2001-10-12 Kyocera Corp ガラスセラミック回路基板
JP2001313400A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Kyocera Corp 太陽電池素子の形成方法
JP2005243500A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Kyocera Chemical Corp 導電性ペースト、太陽電池及び太陽電池の製造方法
JP2006302890A (ja) * 2005-04-14 2006-11-02 E I Du Pont De Nemours & Co 半導体デバイスの製造方法、およびそこで使用される導電性組成物
WO2007032151A1 (ja) * 2005-09-13 2007-03-22 Toyo Aluminium Kabushiki Kaisha アルミニウムペースト組成物およびそれを用いた太陽電池素子
JP2007134387A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Sharp Corp 光電変換素子およびその電極形成方法
JP2007281023A (ja) * 2006-04-03 2007-10-25 Kyocera Corp 太陽電池素子用導電性ペースト及びそれを用いた太陽電池素子の製造方法。
WO2007125879A1 (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Sharp Corporation 太陽電池電極用導電性ペースト

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5066621A (en) * 1990-06-21 1991-11-19 Johnson Matthey Inc. Sealing glass composition and electrically conductive formulation containing same
BR9610739A (pt) 1995-10-05 1999-07-13 Ebara Sola Inc Célula solar e processo para sua fabricação
US6599446B1 (en) * 2000-11-03 2003-07-29 General Electric Company Electrically conductive polymer composite compositions, method for making, and method for electrical conductivity enhancement
WO2004090942A2 (en) 2003-04-01 2004-10-21 Aguila Technologies, Inc. Thermally conductive adhesive composition and process for device attachment
US8721931B2 (en) * 2005-12-21 2014-05-13 E I Du Pont De Nemours And Company Paste for solar cell electrode, solar cell electrode manufacturing method, and solar cell
WO2008001518A1 (fr) 2006-06-30 2008-01-03 Mitsubishi Materials Corporation Composition de fabrication d'une électrode dans une cellule solaire, procédé de fabrication de l'électrode, et cellule solaire utilisant une électrode obtenue par le procédé de fabrication
CN101164943A (zh) 2006-10-19 2008-04-23 北京印刷学院 一种用作电子浆料组成中粘接相的无铅碲酸盐低熔玻璃
JP5272373B2 (ja) * 2007-10-17 2013-08-28 セントラル硝子株式会社 多結晶Si太陽電池
CN102037573A (zh) 2008-06-11 2011-04-27 E.I.内穆尔杜邦公司 形成硅太阳能电池的方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05128910A (ja) * 1991-11-07 1993-05-25 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 導体ペースト
JP2001284754A (ja) * 2000-03-30 2001-10-12 Kyocera Corp ガラスセラミック回路基板
JP2001313400A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Kyocera Corp 太陽電池素子の形成方法
JP2005243500A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Kyocera Chemical Corp 導電性ペースト、太陽電池及び太陽電池の製造方法
JP2006302890A (ja) * 2005-04-14 2006-11-02 E I Du Pont De Nemours & Co 半導体デバイスの製造方法、およびそこで使用される導電性組成物
WO2007032151A1 (ja) * 2005-09-13 2007-03-22 Toyo Aluminium Kabushiki Kaisha アルミニウムペースト組成物およびそれを用いた太陽電池素子
JP2007134387A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Sharp Corp 光電変換素子およびその電極形成方法
JP2007281023A (ja) * 2006-04-03 2007-10-25 Kyocera Corp 太陽電池素子用導電性ペースト及びそれを用いた太陽電池素子の製造方法。
WO2007125879A1 (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Sharp Corporation 太陽電池電極用導電性ペースト

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10347787B2 (en) 2009-10-28 2019-07-09 Shoei Chemical Inc. Method for forming a solar cell electrode with conductive paste
US9130075B2 (en) 2012-07-18 2015-09-08 Noritake Co., Limited Silver electrode-forming paste composition, method of production thereof, and solar cell
WO2014045900A1 (ja) 2012-09-18 2014-03-27 株式会社村田製作所 導電性ペースト及び太陽電池

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120032573A (ko) 2012-04-05
CN101828267A (zh) 2010-09-08
JP2015122506A (ja) 2015-07-02
US9461188B2 (en) 2016-10-04
EP2637215A1 (en) 2013-09-11
KR20100075661A (ko) 2010-07-02
TWI485866B (zh) 2015-05-21
US20150020880A1 (en) 2015-01-22
KR101225909B1 (ko) 2013-01-24
JP2010283340A (ja) 2010-12-16
EP2323171A4 (en) 2012-12-05
US8852465B2 (en) 2014-10-07
US20110192457A1 (en) 2011-08-11
EP2637216A1 (en) 2013-09-11
EP2323171A1 (en) 2011-05-18
CN101828267B (zh) 2013-10-23
TW201007957A (en) 2010-02-16
EP2637215B1 (en) 2019-02-27
JP2014116627A (ja) 2014-06-26
EP2323171B1 (en) 2019-07-03
JPWO2010016186A1 (ja) 2012-01-12
JP5870124B2 (ja) 2016-02-24
WO2010016186A1 (ja) 2010-02-11
EP2637216B1 (en) 2014-12-17
KR101135337B1 (ko) 2012-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4754655B2 (ja) 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
US10038109B2 (en) Silver solar cell contacts
US10030156B2 (en) Conductive paste for forming conductive film for semiconductor devices, semiconductor device, and method for producing semiconductor device
US20060102228A1 (en) Method of making solar cell contacts
TWI660369B (zh) 太陽電池電極用的組成物、使用該組成物製造的電極以及具有該電極的太陽電池
JP6487842B2 (ja) 導電性ペースト及び結晶系シリコン太陽電池の製造方法
JP5113710B2 (ja) 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
WO2016084915A1 (ja) 導電性組成物
JP5285639B2 (ja) 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト
JP6137852B2 (ja) 太陽電池の電極形成用導電性ペースト
TW202326759A (zh) 導電漿料組合物及其製備方法和應用、晶矽太陽能電池
JP2011204872A (ja) 太陽電池素子の受光面電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP5297123B2 (ja) 太陽電池素子の電極形成用導電性ペースト及び太陽電池素子並びにその太陽電池素子の製造方法
JP2019106524A (ja) 太陽電池
JP2019106525A (ja) 太陽電池
JP2016115873A (ja) 太陽電池電極形成用導電性ペースト、並びに、これを用いた太陽電池素子および太陽電池モジュール
CN111183491B (zh) 太阳能电池电极形成用导电性糊剂
KR20200094555A (ko) 태양전지 전극 형성 방법, 이로부터 제조된 태양전지 전극 및 태양전지
KR20190066157A (ko) 태양전지

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110524

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110525

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140603

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4754655

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees