JP4636207B2 - 表面改質された希土類系焼結磁石の製造方法および表面改質された希土類系焼結磁石 - Google Patents
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Description
そこで本発明は、湿度が変動する環境においても十分な耐食性が酸化熱処理によって付与されているとともに、酸化熱処理による磁気特性の低下が抑制された希土類系焼結磁石およびその製造方法を提供することを目的とする。
また、請求項2記載の方法は、請求項1記載の方法において、酸素分圧と水蒸気分圧の比率(酸素分圧/水蒸気分圧)を1〜400とすることを特徴とする。
また、請求項3記載の方法は、請求項1記載の方法において、常温から熱処理を行う温度までの昇温を、酸素分圧が1×102Pa〜1×105Paで水蒸気分圧が1×10−3Pa〜100Paの雰囲気下で行うことを特徴とする。
また、請求項4記載の方法は、請求項1記載の方法において、さらに、熱処理を行う工程の前および/または後に、酸素分圧が1×10−2Pa〜50Paで水蒸気分圧が1×10−7Pa〜1×10−2Paの雰囲気下、200℃〜600℃で熱処理を行うことを特徴とする。
また、本発明の表面改質された希土類系焼結磁石は、請求項5記載の通り、請求項1記載の方法にて製造されてなることを特徴とする。
また、請求項6記載の磁石は、請求項5記載の磁石において、表面改質された部分が、磁石の内側から順に、R、Fe、Bおよび酸素を含む主層、少なくともR、Feおよび酸素を含む非晶質層、ヘマタイトを主体とする酸化鉄を構成成分として含む最表層の少なくとも3層を有する表面改質層からなることを特徴とする。
また、本発明の表面改質された希土類系焼結磁石は、請求項7記載の通り、表面改質された部分が、磁石の内側から順に、R、Fe、Bおよび酸素を含み、横方向に断続的に伸びる長さが0.5μm〜30μmで厚みが50nm〜400nmのR濃化層を有する主層、少なくともR、Feおよび酸素を含む非晶質層、ヘマタイトを主体とする酸化鉄を構成成分として含む最表層の少なくとも3層を有する表面改質層からなることを特徴とする。
また、請求項8記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層の厚みが0.5μm〜10μmであることを特徴とする。
また、請求項9記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層中の主層の厚みが0.4μm〜9.9μmであることを特徴とする。
また、請求項10記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層中の非晶質層の厚みが100nm以下であることを特徴とする。
また、請求項11記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層中の最表層の厚みが10nm〜300nmであることを特徴とする。
また、請求項12記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層中の主層の組成が、表面改質されていない磁石の組成を比較すると、Feの含量が減少し、酸素の含量が増加していることを特徴とする。
また、請求項13記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層中の主層の酸素の含量が2.5mass%〜15mass%であることを特徴とする。
また、請求項14記載の磁石は、請求項7記載の磁石において、表面改質層中の最表層の構成成分として含まれる酸化鉄の75mass%以上がヘマタイトであることを特徴とする。
25質量%以上40質量%以下の希土類元素Rと、0.6質量%〜1.6質量%のB(硼素)と、残部Feおよび不可避不純物とを包含する合金を用意する。ここで、Rの一部は重希土類元素RHで置換されてもよい。また、Bの一部はC(炭素)によって置換されていてもよいし、Feの一部は(50質量%以下)は、他の遷移金属元素(例えば、CoまたはNi)によって置換されていてもよい。この合金は、種々の目的により、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、Ga、Zr、Nb、Mo、Ag、In、Sn、Hf、Ta、W、Pb、およびBiからなる群から選択された少なくとも1種の添加元素Mを0.01〜1.0質量%程度含有していてもよい。
上記の合金は、原料合金の溶湯を例えばストリップキャスト法によって急冷して好適に作製され得る。以下、ストリップキャスト法による急冷凝固合金の作製を説明する。
まず、上記組成を有する原料合金をアルゴン雰囲気中において高周波溶解によって溶解し、原料合金の溶湯を形成する。次に、この溶湯を1350℃程度に保持した後、単ロール法によって急冷し、例えば厚さ約0.3mmのフレーク状合金鋳塊を得る。こうして作製した合金鋳片を、次の水素粉砕処理前に例えば1〜10mmのフレーク状に粉砕する。なお、ストリップキャスト法による原料合金の製造方法は、例えば、米国特許第5、383、978号明細書に開示されている。
[粗粉砕工程]
上記のフレーク状に粗く粉砕された合金鋳片を水素炉の内部へ収容する。次に、水素炉の内部で水素脆化処理(以下、「水素粉砕処理」や単に「水素処理」と称する場合がある)工程を行う。水素粉砕処理後の粗粉砕粉合金粉末を水素炉から取り出す際、粗粉砕粉が大気と接触しないように、不活性雰囲気下で取り出し動作を実行することが好ましい。そうすれば、粗粉砕粉が酸化・発熱することが防止され、磁石の磁気特性の低下が抑制できるからである。
水素粉砕処理によって、希土類合金は0.1mm〜数mm程度の大きさに粉砕され、その平均粒径は500μm以下となる。水素粉砕処理後、脆化した原料合金をより細かく解砕するとともに冷却することが好ましい。比較的高い温度状態のまま原料を取り出す場合は、冷却処理の時間を相対的に長くすればよい。
[微粉砕工程]
次に、粗粉砕粉に対してジェットミル粉砕装置を用いて微粉砕を実行する。本実施形態で使用するジェットミル粉砕装置にはサイクロン分級機が接続されている。ジェットミル粉砕装置は、粗粉砕工程で粗く粉砕された希土類合金(粗粉砕粉)の供給を受け、粉砕機内で粉砕する。粉砕機内で粉砕された粉末はサイクロン分級機を経て回収タンクに集められる。こうして、0.1〜20μm程度(典型的には平均粒径3〜5μm)の微粉末を得ることができる。このような微粉砕に用いる粉砕装置は、ジェットミルに限定されず、アトライタやボールミルであってもよい。粉砕に際して、ステアリン酸亜鉛などの潤滑剤を粉砕助剤として用いてもよい。
[プレス成形]
本実施形態では、上記方法で作製された磁性粉末に対し、例えばロッキングミキサー内で潤滑剤を例えば0.3wt%添加・混合し、潤滑剤で合金粉末粒子の表面を被覆する。次に、上述の方法で作製した磁性粉末を公知のプレス装置を用いて配向磁界中で成形する。印加する磁界の強度は、例えば1.5〜1.7テスラ(T)である。また、成形圧力は、成形体のグリーン密度が例えば4〜4.5g/cm3程度になるように設定される。
[焼結工程]
上記の粉末成形体に対して、650〜1000℃の範囲内の温度で10〜240分間保持する工程と、その後、上記の保持温度よりも高い温度(例えば、1000〜1200℃)で焼結を更に進める工程とを順次行うことが好ましい。焼結時、特に液相が生成されるとき(温度が650〜1000℃の範囲内にあるとき)、粒界相中のRリッチ相が融け始め、液相が形成される。その後、焼結が進行し、焼結磁石体が形成される。焼結工程の後、時効処理(400℃〜700℃)や寸法調整のための研削を行ってもよい。
Nd:23.0、Pr:7.0、Dy:1.2、B:1.00、Co:0.9、Cu:0.1、Al:0.2、残部:Fe(単位は質量%)の組成を有する厚さ0.2〜0.3mmの合金薄片をストリップキャスト法により作製した。
次に、この合金薄片を容器に充填し、水素処理装置内に収容した。そして、水素処理装置内を圧力500kPaの水素ガスで満たすことにより、室温で合金薄片に水素吸蔵させた後、放出させた。このような水素処理を行うことにより、合金薄片を脆化し、大きさ約0.15〜0.2mmの不定形粉末を作製した。
上記の水素処理により作製した粗粉砕粉末に対し粉砕助剤として0.04wt%のステアリン酸亜鉛を添加し混合した後、ジェットミル装置による粉砕工程を行うことにより、粉末粒径が約3μmの微粉末を作製した。
こうして作製した微粉末をプレス装置により成形し、粉末成形体を作製した。具体的には、印加磁界中で粉末粒子を磁界配向した状態で圧縮し、プレス成形を行った。その後、成形体をプレス装置から抜き出し、真空炉により1050℃で4時間の焼結工程を行った。こうして、焼結体ブロックを作製したあと、この焼結体ブロックを機械的に加工することにより、厚さ6mm×縦7mm×横7mmの焼結磁石(以下、「磁石体試験片」と称する)を得た。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った磁石体試験片に対し、露点0℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧600Pa,酸素分圧/水蒸気分圧=33.3)の雰囲気下、400℃で15分間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温は、露点−40℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧12.9Pa)の雰囲気下、約900℃/時間の昇温速度で行った(昇温時間は25分)。また、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行った。この磁石体試験片を樹脂埋め研磨後、イオンビーム断面加工装置(SM09010:日本電子社製)を用いて試料作製し、デジタルマイクロスコープ(VHX−200:キーエンス社製)を用いて断面観察を行ったところ、磁石体試験片の表面に形成された改質層の厚みは約2.6μmであること、この改質層は複数の層からなり、少なくとも主層と、厚みが50nm〜300nmの最表層が存在することがわかった。改質層中の主層の組成と素材(磁石体試験片)の組成をエネルギー分散型X線分析装置(Genesis2000:EDAX社製)を用いて分析した結果を表1に示す。表1から明らかなように、改質層中の主層は素材に比較してFeの含量が少ない反面、酸素の含量が非常に多いことがわかった。また、別途、表面改質された磁石体試験片の表面からX線回折装置(RINT2400:Rigaku社製)を用いて改質層中の最表層を分析した結果を図2に示す。図2から明らかなように、改質層中の最表層はヘマタイトを主体とする層であることがわかった。このヘマタイトを主体とする最表層は、熱処理によって素材の主相の一部が分解されたことでFeが主相から流出するとともに酸化して形成されたものであると推測された。
アルコール洗浄した磁石体試験片に対し、実施例1と同じ条件で熱処理を行った後、酸素分圧が5Paで水蒸気分圧が2.5×10−3Paの雰囲気下、500℃で5分間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。この磁石体試験片について実施例1と同様の評価を行ったところ、磁石体試験片の表面に形成された改質層は、厚みが約5.5μmであり、その構成は実施例1で得た表面改質された磁石体試験片における改質層と同様であることがわかった(表1)。
アルコール洗浄した磁石体試験片に対し、酸素分圧が5Paで水蒸気分圧が2.5×10−3Paの雰囲気下、500℃で5分間の熱処理を行った後、実施例1と同じ条件で熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。この磁石体試験片について実施例1と同様の評価を行ったところ、磁石体試験片の表面に形成された改質層は、厚みが約4.1μmであり、その構成は実施例1で得た表面改質された磁石体試験片における改質層と同様であることがわかった(表1)。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った磁石体試験片に対し、露点0℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧600Pa,酸素分圧/水蒸気分圧=33.3)の雰囲気下、400℃で2時間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温と、熱処理後の降温は、実施例1と同様の条件で行った。この磁石体試験片について実施例1と同様の方法で試料作製し、電界放出型走査電子顕微鏡(S−4300:日立ハイテクノロジー社製)を用いて断面観察を行った結果を図3に示す。図3から明らかなように、磁石体試験片の表面に形成された改質層の厚みは約6.1μmであること、この改質層は複数の層からなり、少なくとも主層と、厚みが約200nmの最表層が存在することがわかった。さらに、改質層中には、厚みが約100nmで長さが約5μmのNdからなる層状構造(Ndの組成が85mass%以上のNd濃化層)が水平方向(磁石体の表面と略平行方向)に形成されていることが確認できた。改質層中の主層の組成と素材の組成を実施例1と同様の方法で分析した結果を表1に示す。表1から明らかなように、改質層中の主層は素材に比較してFeの含量が少ない反面、酸素の含量が非常に多いことがわかった。また、別途、実施例1と同様の方法で行った改質層中の最表層の分析により、この最表層はヘマタイトを主体とする層であることがわかった。さらに、表面改質された磁石体試験片の表面付近の断面観察を、透過型電子顕微鏡(HF2100:日立ハイテクノロジー社製)を用いて行った結果を図4に示す(図4は図3の改質層の表面付近の拡大像に相当する)。図4から明らかなように、主層と厚みが約200nmの最表層の間には、厚みが約50nmの層が存在することがわかった。また、この層は非晶質であることがわかった(電子線回折分析による)。改質層中の非晶質層と最表層の組成を、エネルギー分散型X線分析装置(EDX:NORAN社製)を用いて分析した結果を表2に示す。表2から明らかなように、改質層中の最表層はNdがほとんど存在しない酸化鉄から構成されること、非晶質層はNdとFeの複合酸化物から構成されることがわかった。さらに、改質層中の最表層を構成する酸化鉄は100mass%がヘマタイトであることがわかった(ラマン分析による)。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った磁石体試験片に対し、露点15℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧2000Pa)の雰囲気下、400℃で15分間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温は、露点−40℃のアルゴンの雰囲気下(水蒸気分圧12.9Pa)、約900℃/時間の昇温速度で行った(昇温時間は25分)。また、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行った。以上の処理によって磁石体試験片の表面に形成された改質層の厚みは3.5μmであった。
アルコール洗浄した磁石体試験片に対し、酸素分圧が100Paで水蒸気分圧が5×10−2Paの雰囲気下、500℃で30分間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温は、真空雰囲気下(真空度1×10−4Pa以下)、約190℃/時間の昇温速度で行った(昇温時間は2.5時間)。また、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行った。以上の処理によって磁石体試験片の表面に形成された改質層の厚みは8.0μmであった。
アルコール洗浄した磁石体試験片に対し、酸素分圧が1×10−4Paで水蒸気分圧が5×10−8Paの雰囲気下、500℃で1時間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温と、熱処理後の降温は、比較例2と同様の条件で行った。以上の処理によって磁石体試験片の表面に形成された改質層の厚みは0.5μmであった。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った磁石体試験片を、2%HNO3水溶液中に2分間浸漬し、その後、超音波水洗を行った。この磁石体試験片に対し、露点40℃の窒素の雰囲気下(水蒸気分圧7000Pa)、450℃で10分間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温は、露点−40℃の窒素の雰囲気下(水蒸気分圧12.9Pa)、約1000℃/時間の昇温速度で行った(昇温時間は25分)。また、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行った。以上の処理によって磁石体試験片の表面に形成された改質層の厚みは7.4μmであった。また、改質層中の最表層の厚みは約100nmであった。また、別途、実施例1と同様の方法で改質層中の最表層を分析した結果を図5に示す。図5から明らかなように、改質層中の最表層はマグネタイトを主体とする層であることがわかった。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った磁石体試験片に対し、露点5℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧875Pa,酸素分圧/水蒸気分圧=22.9)の雰囲気下、350℃で2時間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温は、露点−40℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧12.9Pa)の雰囲気下、約800℃/時間の昇温速度で行った(昇温時間は25分)。また、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行った。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った磁石体試験片に対し、露点−10℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧260Pa,酸素分圧/水蒸気分圧=76.9)の雰囲気下、350℃で2時間の熱処理を行うことで、表面改質された磁石体試験片を得た。なお、磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温と、熱処理後の降温は、実施例5と同様の条件で行った。
磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温を、露点−25℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧63.6Pa)の雰囲気下、約900℃/時間の昇温速度で行い(昇温時間は25分)、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行うこと以外は実施例1と同様にして、表面改質された磁石体試験片を得た。
磁石体試験片の室温から熱処理温度までの昇温を、露点−40℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧12.9Pa)の雰囲気下、約450℃/時間の昇温速度で行い(昇温時間は50分)、熱処理後の降温も、同様の雰囲気下で行うこと以外は実施例1と同様にして、表面改質された磁石体試験片を得た。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った厚さ1mm×縦7mm×横7mmの焼結磁石(作製方法は上記と同じ)に対し、露点0℃の大気(酸素分圧20000Pa,水蒸気分圧600Pa,酸素分圧/水蒸気分圧=33.3)の雰囲気下、400℃で15分間の熱処理を行うことで、磁石の表面を改質した。なお、磁石の室温から熱処理温度までの昇温と、熱処理後の降温は、実施例1と同様の条件で行った。
アルコール洗浄した後、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理を行った厚さ1mm×縦7mm×横7mmの焼結磁石(作製方法は上記と同じ)に対し、露点40℃の窒素の雰囲気下(水蒸気分圧7000Pa)、450℃で10分間の熱処理を行うことで、磁石の表面を改質した。なお、磁石の室温から熱処理温度までの昇温と、熱処理後の降温は、比較例4と同様の条件で行った。
JIS H8502−1999に基づく中性塩水噴霧サイクル試験方法を参考にし、塩水噴霧を除いた乾燥と湿潤だけのサイクル試験(サイクル数:3)を、実施例1〜実施例8と比較例1〜比較例4で得た表面改質された磁石体試験片に対して行い、試験後のレイティングナンバ評価(JIS H8502−1999に基づく腐食欠陥評価)を実施した。結果を表3に示す。また、表3には、アルコール洗浄した磁石体試験片に対し、真空中にて490℃で2.5時間の時効処理だけを行った場合の評価結果をあわせて示す(参考例)。
実施例9と比較例5で表面改質を行ったそれぞれの焼結磁石の磁気特性を、磁気測定装置(SK−130:メトロン技研社製)を用いて測定した結果を図6に示す。また、図6には、時効処理を行った直後の焼結磁石の磁気特性を測定した結果をあわせて示す(参考例)。図6から明らかなように、実施例9で表面改質を行った焼結磁石は、表面改質を行ったことによる磁気特性の低下は全く認められなかったが、比較例5で表面改質を行った焼結磁石は、表面改質を行うことで磁気特性の著しい低下が認められた。この違いは、比較例5で表面改質を行った焼結磁石では、酸素を含まずに水蒸気のみを大量に含む窒素の雰囲気下で熱処理を行ったことで、磁石の表面で起こる酸化反応によって水素が副産物として大量に生成し、磁石が生成した水素を吸蔵して脆化してしまったのに対し、実施例9で表面改質を行った焼結磁石では、酸素と水蒸気を適度に含む雰囲気下で熱処理を行ったことで、水蒸気による磁石表面における過度の酸化反応が抑えられ、その結果として水素の発生が抑えられたことによって磁石の水素吸蔵量が皆無であったことに基づくと考えられた。
Claims (14)
- 表面改質された希土類系焼結磁石の製造方法であって、磁石体に対し、酸素分圧が1×102Pa〜1×105Paで水蒸気分圧が0.1Pa〜1000Pa(但し1000Paを除く)の雰囲気下、200℃〜600℃で熱処理を行う工程を含んでなることを特徴とする方法。
- 酸素分圧と水蒸気分圧の比率(酸素分圧/水蒸気分圧)を1〜400とすることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 常温から熱処理を行う温度までの昇温を、酸素分圧が1×102Pa〜1×105Paで水蒸気分圧が1×10−3Pa〜100Paの雰囲気下で行うことを特徴とする請求項1記載の方法。
- さらに、熱処理を行う工程の前および/または後に、酸素分圧が1×10−2Pa〜50Paで水蒸気分圧が1×10−7Pa〜1×10−2Paの雰囲気下、200℃〜600℃で熱処理を行うことを特徴とする請求項1記載の方法。
- 請求項1記載の方法にて製造されてなることを特徴とする表面改質された希土類系焼結磁石。
- 表面改質された部分が、磁石の内側から順に、R、Fe、Bおよび酸素を含む主層、少なくともR、Feおよび酸素を含む非晶質層、ヘマタイトを主体とする酸化鉄を構成成分として含む最表層の少なくとも3層を有する表面改質層からなることを特徴とする請求項5記載の磁石。
- 表面改質された希土類系焼結磁石であって、表面改質された部分が、磁石の内側から順に、R、Fe、Bおよび酸素を含み、横方向に断続的に伸びる長さが0.5μm〜30μmで厚みが50nm〜400nmのR濃化層を有する主層、少なくともR、Feおよび酸素を含む非晶質層、ヘマタイトを主体とする酸化鉄を構成成分として含む最表層の少なくとも3層を有する表面改質層からなることを特徴とする磁石。
- 表面改質層の厚みが0.5μm〜10μmであることを特徴とする請求項7記載の磁石。
- 表面改質層中の主層の厚みが0.4μm〜9.9μmであることを特徴とする請求項7記載の磁石。
- 表面改質層中の非晶質層の厚みが100nm以下であることを特徴とする請求項7記載の磁石。
- 表面改質層中の最表層の厚みが10nm〜300nmであることを特徴とする請求項7記載の磁石。
- 表面改質層中の主層の組成が、表面改質されていない磁石の組成を比較すると、Feの含量が減少し、酸素の含量が増加していることを特徴とする請求項7記載の磁石。
- 表面改質層中の主層の酸素の含量が2.5mass%〜15mass%であることを特徴とする請求項7記載の磁石。
- 表面改質層中の最表層の構成成分として含まれる酸化鉄の75mass%以上がヘマタイトであることを特徴とする請求項7記載の磁石。
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