JP4036863B2 - 液晶ディスプレイパネルに接合した電子装置の接触抵抗を測る方法および、この測定方法用の液晶ディスプレイ - Google Patents
液晶ディスプレイパネルに接合した電子装置の接触抵抗を測る方法および、この測定方法用の液晶ディスプレイ Download PDFInfo
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Description
11 画素領域
12 周囲領域
14 端子パッド
14a 端子パッド
14b 端子パッド
14c 端子パッド
20 ドライバ集積回路チップ
21 導電電極
22 凸部
30 カラーフィルター
40 端子リードアレイ
50 異方性導電膜
51a 導電粒子
51b 導電粒子
60 テストパッドアレイ
61 導電テストパッド
61’ 導電テストパッド
61a 導電テストパッド
61b 導電テストパッド
61c 導電テストパッド
61d 導電テストパッド
70 ダミーリードアレイ
70a リード線
70b リード線
70c リード線
70d リード線
71 ダミーリード
80 リード線
81 ディバイス
82 リード線
90 プリント回路板
r1 抵抗
r2 抵抗
R 接触抵抗
1B 点線領域
6B 点線領域
Claims (14)
- 液晶ディスプレイパネルの表面にテストパッドアレイを提供するステップと、
前記テストパッドアレイを前記液晶ディスプレイパネルの表面に設置された一組の端子パッドに電気接続し、一組の端子パッドを導電材にて第一電子装置に接合するステップと、
前記テストパッドアレイを用いて、テストパッドアレイと第一電子装置とを接合した導電材の接触抵抗を測定するステップと、
を含む液晶ディスプレイパネルに接続された電子装置の接触抵抗の測定方法。 - 前記第一電子装置は、集積回路チップ、フレキシブルプリント回路、テープキャリアパッケージ、またはチップオンフィルムから選ばれる、請求項1に記載の測定方法。
- 前記導電材は、異方性導電膜である、請求項1に記載の測定方法。
- 前記テストパッドアレイは、前記液晶ディスプレイパネルの周囲領域に設置される、請求項1に記載の測定方法。
- 前記テストパッドアレイは、一組の前記端子パッドに隣接して設置される、請求項1に記載の測定方法。
- 前記液晶ディスプレイパネルの表面に、ダミーリードアレイを提供するステップと、
前記ダミーリードアレイを前記テストパッドアレイに電気接続するステップと、
前記ダミーリードアレイに電気接続した前記テストパッドアレイを用いて、液晶ディスプレイパネルと第二電子装置とを接合した導電材の接触抵抗を測定するステップと
を含む、請求項1から請求項5いずれか1項に記載の測定方法。 - 前記第二電子装置は、集積回路チップ、フレキシブルプリント回路、テープキャリアパッケージ、またはチップオンフィルムから選ばれる請求項6に記載の測定方法。
- 液晶ディスプレイパネルと、
前記液晶ディスプレイパネルの表面に設置された一組の端子パッドと、
第一電子装置と、
前記第一電子装置を一組の前記端子パッドに電気接続する導電材と
前記液晶ディスプレイパネルの表面に設置されるとともに、一組の前記端子パッドに電気接続され、前記導電材の接触抵抗を測るためのテストパッドアレイとを備えることを特徴とする、液晶ディスプレイ。 - 前記第一電子装置は、集積回路チップ、フレキシブルプリント回路、テープキャリアパッケージ、またはチップオンフィルムから選ばれる、請求項8に記載の液晶ディスプレイ。
- 前記導電材は、異方性導電膜である請求項8に記載の液晶ディスプレイ。
- 前記テストパッドアレイは、前記プラズマディスプレイパネルの周囲領域に設置される請求項8に記載の液晶ディスプレイ。
- 前記テストパッドアレイは、一組の前記端子パッドに隣接して設置される請求項8に記載の液晶ディスプレイ。
- 液晶ディスプレイパネル表面に、導電材と接合される第二電子装置を備えるとともに、前記テストパッドアレイに電気接続され、前記導電材の接触抵抗を測定するためのダミーリードアレイを備えたものである、請求項8から請求項12のいずれか1項に記載の液晶ディスプレイ。
- 前記第二電子装置は、集積回路チップ、フレキシブルプリント回路、テープキャリアパッケージ、またはチップオンフィルムから選ばれる請求項13に記載の液晶ディスプレイ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/734,371 US6940301B2 (en) | 2003-12-12 | 2003-12-12 | Test pad array for contact resistance measuring of ACF bonds on a liquid crystal display panel |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005175492A JP2005175492A (ja) | 2005-06-30 |
JP4036863B2 true JP4036863B2 (ja) | 2008-01-23 |
Family
ID=34592510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004357226A Active JP4036863B2 (ja) | 2003-12-12 | 2004-12-09 | 液晶ディスプレイパネルに接合した電子装置の接触抵抗を測る方法および、この測定方法用の液晶ディスプレイ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6940301B2 (ja) |
JP (1) | JP4036863B2 (ja) |
CN (1) | CN100390548C (ja) |
TW (1) | TWI252318B (ja) |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113963642A (zh) * | 2020-07-20 | 2022-01-21 | 苏州华星光电显示有限公司 | 显示装置及检查显示装置的导线绑定位置的方法 |
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-
2003
- 2003-12-12 US US10/734,371 patent/US6940301B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-08-20 TW TW093125117A patent/TWI252318B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-09-17 CN CNB2004100786970A patent/CN100390548C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-09 JP JP2004357226A patent/JP4036863B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1580793A (zh) | 2005-02-16 |
JP2005175492A (ja) | 2005-06-30 |
US6940301B2 (en) | 2005-09-06 |
TW200519392A (en) | 2005-06-16 |
TWI252318B (en) | 2006-04-01 |
US20050127936A1 (en) | 2005-06-16 |
CN100390548C (zh) | 2008-05-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071023 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071030 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101109 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111109 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121109 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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