JP3992872B2 - マイクロプロセッサと同期するレイテンシを備えたram、及びデータプロセッサ、シンクロナスdram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム - Google Patents

マイクロプロセッサと同期するレイテンシを備えたram、及びデータプロセッサ、シンクロナスdram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム Download PDF

Info

Publication number
JP3992872B2
JP3992872B2 JP11236799A JP11236799A JP3992872B2 JP 3992872 B2 JP3992872 B2 JP 3992872B2 JP 11236799 A JP11236799 A JP 11236799A JP 11236799 A JP11236799 A JP 11236799A JP 3992872 B2 JP3992872 B2 JP 3992872B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
signal
data
control signal
random access
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP11236799A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000029773A (ja
Inventor
シー.ボグリー ウィルバー
エム.バリストレリ アンソニー
エム.グタッグ カール
ディー.クルーガー スチーブン
− ローン ティー.レ デュイ
エィチ.ニール ジョセフ
エイ.ポティート ケネス
ピー.ハーティガン ジョセフ
ディー.ノーウッド ロジャー
Original Assignee
テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド filed Critical テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド
Publication of JP2000029773A publication Critical patent/JP2000029773A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3992872B2 publication Critical patent/JP3992872B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories

Landscapes

  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明はデータプロセシングシステムで動作するランダムアクセスメモリ(RAM)に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来半導体のランダムアクセスメモリは関連するマイクロプロセッサよりも動作が速かった。1970年代の後半および1980年代の前半に、マイクロコンピュータの市場は開発の初期の段階であった。当時、マイクロコンピュータシステムはマイクロプロセッサとダイナミック・ランダムアクセスメモリを含んでいた。マイクロコンピュータシステムでは、マイクロプロセッサはクロック信号と同期して動作したが、ダイナミック・ランダムアクセスメモリはマイクロプロセッサの動作とは同期していなかった。
【0003】
マイクロプロセッサのクロックが、マイクロプロセッサとダイナミック・ランダムアクセスメモリとを結ぶコントローラ回路に使われた。マイクロプロセッサのクロック信号に応答して、コントローラはダイナミック・ランダムアクセスメモリを動作させる他の制御信号やクロック信号を得ていた。
【0004】
一般にマイクロプロセッサとダイナミック・ランダムアクセスメモリの動作速度は異なっていた。マイクロプロセッサのサイクルタイムは400−500ナノ秒の範囲であったが、ダイナミック・ランダムアクセスメモリのサイクルタイムは約300ナノ秒であった。従ってダイナミック・ランダムアクセスメモリは関連するマイクロプロセッサよりも速く動作できた。メモリは全てのタスクを終えてもまだ余裕があった。従ってマイクロプロセッサはメモリがデータを書き込んだり読み出したりするのを待つことなく、最適の速度で動作した。
【0005】
半導体技術が進歩するにつれて、マイクロプロセッサとメモリ装置の動作速度は増加した。しかし、マイクロプロセッサの速度の増加はダイナミック・ランダムアクセス・メモリの速度の増加より急速であった。現在のマイクロプロセッサは関連するダイナミック・ランダムアクセスメモリよりも速く動作する。例えばマイクロプロセッサのサイクルタイムは約40ナノ秒で、ダイナミック・ランダムアクセスメモリのサイクルタイムは約120ナノ秒である。マイクロプロセッサは全てのタスクを終えた後も、ダイナミック・ランダムアクセスメモリをかなりの時間待たなければならない。
【0006】
マイクロプロセッサがメモリを待たなければならないことは、多くのマイクロコンピュータの設計者の注意をひいてきた問題である。高速のスタティック・キャッシュメモリがコンピュータシステムに加わって、メモリに記憶されているデータにアクセスする時間は速くなった。問題の大部分は、マイクロコンピュータシステムのコストを余り増加させずにメモリのデータにアクセスする時間を早めることである。しかしキャッシュメモリはダイナミック・ランダムアクセスメモリよりもかなり高価である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
現在ダイナミック・ランダムアクセスメモリ装置の問題は、いくつかの制御信号を発生するためにマイクロプロセッサとメモリとの間にかなりの周辺回路を必要とすることである。周辺回路の中では多くの相互に関係する制御信号が長い論理連鎖の後に発生するので、マイクロコンピュータシステムの設計者は非常に複雑なタイミングの問題を解決しなければならない。タイミングの問題のために遅れが生じることと、現在ではメモリのアクセス時間がマイクロプロセッサに比べて遅いことのために、マイクロコンピュータシステムの動作に大きな時間遅れを生じることが問題となっている。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この種の問題を解決するには、ランダムアクセスメモリがシステムクロック信号に直接応答して、関連するデジタルプロセッサと同期して動作するようにすればよい。同期ランダムアクセスメモリは、同期ランダムアクセス動作に加えて、更に同期バーストモードまたは同期ラップモードでデータを書き込んだり読み出したりするようになっている。このような同期ランダムアクセスメモリ装置はダイナミックな記憶装置としてもスタティックな記憶装置としても作れる。
【0009】
デジタルプロセッサからの制御信号は各種のメモリ動作を制御するのに用いられる。または、デジタルプロセッサはシステムクロックとして用いられるクロック信号を処理して、デジタルプロセッサおよび同期ランダムアクセスメモリを共に動作させてもよい。デジタルプロセッサはマイクロプロセッサでもよい。
【0010】
【実施例】
図1においてデータプロセッシングシステム15は、バス17を経て入力周辺装置24からデジタルデータを受けるデジタルプロセッサ20を含む。デジタルプロセッサ20はマイクロプロセッサでよい。制御信号は制御バス18を経てデジタルプロセッサ20と入力周辺装置24の間を往来する。デジタルプロセッサ20はこのデータやその他のデータを処理し、それらは全てデータバス25を経て伝送され、同期記憶装置に記憶されたり取り出されたりする。
【0011】
デジタルプロセッサ20はまた出力データバス32を経て出力データを出力周辺装置40に送り、ここで出力データは表示されたり、図示していない他の装置の読み出し、チェック、制御のために用いられたりする。制御信号は制御バス60を経て、デジタルプロセッサ20と同期メモリ装置30との間で伝送される。
【0012】
制御信号はまた制御バス62を経て、デジタルプロセッサ20と出力周辺装置40との間で伝送される。システムクロック信号はシステムクロック装置65で生成され、クロックリード線67を通ってデジタルプロセッサ20、同期メモリ装置30、入力周辺装置24、出力周辺装置40に送られる。
【0013】
データプロセシングシステム15の動作中随時に、デジタルプロセッサ20は同期メモリ30にアクセスして記憶セルにデータを書き込んだり、記憶セルからデータを読み出したりする。デジタルプロセッサ20が生成する記憶セルの行アドレスと列アドレスは、アドレスバス45を通って同期メモリ30に送られる。データはデータバス25を通ってデジタルプロセッサ20から同期メモリ30に書き込まれ、また同期メモリ30からデジタルプロセッサ20に読み出される。
【0014】
デジタルプロセッサ20によって生成され制御バス60を通って同期メモリ30に送られる制御信号は、行アドレス制御信号RE(バー)、列アドレス制御信号CE(バー)、書き込み信号WE(バー)、バースト信号BT(バー)、バースト方向信号+/−、ラップ選択信号WP(バー)、ラップタイプ信号WT、ラップ長信号WLなどを含む。制御信号は同期メモリ30からデジタルプロセッサ20に送られてもよい。
【0015】
図2において同期ランダムアクセスメモリ30は、アドレス可能な行および列に配列された金属酸化膜半導体(MOS)のダイナミック記憶セルのメモリ配列75を含む。記憶セルのメモリ配列75はダイナミック・ランダムアクセスメモリ装置で用いられるよく知られたセルの配列と同様である。メモリ配列75を製作するには、相補形金属酸化膜半導体(CMOS)かバイポーラ相補形金属酸化膜半導体(BICMOS)技術を用いてよい。
【0016】
図2に他のいくつかの回路ブロックを示す。これらの他の回路ブロックは、共通のシステムクロック信号CLKに応答して図1のデジタルプロセッサ20と同期して記憶セル配列を動作させるように設計され配列されており、後で図20で述べるようにシステムクロック信号CLKはデジタルプロセッサでゲートしてよい。記憶セル配列以外の回路ブロックはCMOSまたはBICMOS回路で製作してよい。
【0017】
同期ランダムアクセスメモリ30は、同期ランダムアクセス読み出しまたは書き込み動作、同期バースト読み出しまたは書き込み動作、同期ラップ読み出しまたは書き込み動作ができる。全タイプの同期動作については以下に詳しく述べる。この説明は図3−図5および図7−図17のタイミング図および真理値表を参照して行う。タイミング図では、無関係(DON’T CARE)状態をクロスハッチで示す。
【0018】
同期ランダムアクセス読み出し動作を示す図3および図2で、Nビット幅の行アドレスおよび行アドレス制御信号RE(バー)がアドレスバス45およびリード線46に送られる。信号RE(バー)などの制御信号はアクティブ低位信号である。リード線47の書き込み信号WE(バー)はクロックサイクルタイム2では高位で、読み出し動作を指定する。
【0019】
同期読み出し動作は、信号時間1のシステムクロック信号CLKの立ち下がり端で始まる。この例示の実施態様では、システムクロックはサイクルタイム1、2、3、…などでクロックパルスの負方向端に同期して動作タイミングをとる。ここに図示しない他の実施態様では、クロックパルスの正方向端または負方向端と正方向端の両方で動作タイミングをとってよい。
【0020】
システムクロックCLKが負方向端であり、行アドレスがクロックサイクルタイム1で入り、行アドレス制御信号RE(バー)が低位であれば、行アドレスは行アドレスバッファ48にラッチされる。
【0021】
例示の実施態様ではアドレスバスはNビット幅なので、このバスは行アドレスと列アドレスとで時分割される。行アドレスを行アドレスバッファ48にラッチした後のクロックサイクルタイム2中に、列アドレスがアドレスバス45に送られる。クロックサイクルタイム2で列アドレス制御信号CE(バー)が低位で、かつ書き込み信号WE(バー)が高位のとき、システムクロックが低位になって列アドレスを列アドレスバッファ49にラッチする。
【0022】
列アドレスを列アドレスバッファにラッチすると同時に、行アドレスは行アドレスデコーダ50でデコードされる。行アドレスデコーダ50は二進数の行アドレスを2N から1の選択にデコードする。2N から1の選択の結果、アクティブ信号が選択された一つの行の語線に入る。この語線は以後のランダムアクセス読み出し動作中、選択されたままになっている。
【0023】
ロード開始アドレス信号LIAはシステムクロックCLKの次の負方向端で、1グループのロードカウント伝送ゲート51により開始列アドレスを列アドレスカウンタ52の上位カウント部と下位カウント部に移す。列アドレスの最上位数ビットは上位カウント部にラッチされ、列アドレスの最下位数ビットは列アドレスカウンタ52の下位カウンタ部59にラッチされる。
【0024】
列アドレスカウンタ52のアドレスビットは全て開始列アドレスで、メモリ配列に送られて読み出し動作を行う。ここに述べる動作は同期ランダムアクセス動作なので、開始列アドレスは読み出し動作中にメモリ配列に送られる唯一の列アドレスである。
【0025】
開始列アドレスの最上位数ビットは上位カウント部58からゲート53を通って列アドレスデコーダ54に入り、メモリ配列の記憶セルのM列を選択し、メモリ配列からデータを読み出す。これらの列アドレスの最上位数ビットは列アドレスデコーダ54でデコードされ、メモリ配列75中の記憶セルのM列のブロックを使用可能にする。
【0026】
データビットはM個の記憶セルのグループから読み出される。このM個の記憶セルは、デコードされた列アドレスの一部、すなわち列アドレスのデコードされた最上位数ビットによって決定される。これらのM個のデータビットはメモリ配列75からリード線のグループ55を通って出力マルチプレクサOMUXに並列に伝送され、ここでラッチされ出力される。
【0027】
Mから1の選択は、列アドレスカウンタ52の下位カウント部59から出力マルチプレクサに制御信号が送られたとき、出力マルチプレクサOMUXによって行われる。下位カウント部59にある開始列アドレスの最下位数ビットは、出力マルチプレクサOMUXにラッチされているビットのどれが、出力マルチプレクサを通ってデータバス25のリード線にゲートされるMから1のビットであるかを決定する。
【0028】
図4および図2の同期ランダムアクセス書き込み動作において、行のアドレシングと列のアドレシングは同期ランダムアクセス読み出し動作と同様であるが、クロックサイクルタイム2で書き込み信号WE(バー)が低位のときに同期ランダムアクセス書き込み動作を指定する。行デコーダ50からのデコードされた行アドレスは、メモリ配列75の記憶セル中の1行を使用可能にする。
【0029】
列デコーダ54でデコードされた列アドレスの最上位数ビットは、配列中のM列リードのブロックを使用可能にする。アドレスされた行とアドレスされたM列の組とのアドレスされた交点で選択された記憶セルの組は、書き込みデータを受けることが可能になる。列アドレスの最下位数ビット(列アドレスカウンタ52の下位カウント部59にある)は、入力マルチプレクサIMUXに送る制御信号を決定し、データバス25のMから1のビットのどれを入力マルチプレクサIMUXを通してメモリ配列75に書き込むかを決定する。
【0030】
このMから1のビットは、メモリ配列75中の記憶セルの選択された列ブロックの関連する列のリード線に送られる。データ中のこのビットは、行アドレスと開始列アドレスによって選択されたアドレスにある記憶セルに書き込まれる。選択されたM列の組の中の他のM−1ビットのデータはメモリ配列75に書き込まれない。というのは、入力マルチプレクサIMUXは、これらのM−1ビットをメモリ配列75の関連した列線に送らないからである。
【0031】
同期読み出し動作または同期書き込み動作に続くメモリ配列の次の動作は、他の同期ランダムアクセス動作、すなわち同期読み出し動作または同期書き込み動作であってよい。同じ行アドレスと列アドレスかまたは別の行アドレスと列アドレスを用いて、次のアクセスのために記憶セルを選択してよい。同期バーストまたは同期ラップ動作も同期ランダムアクセス読み出しまたは書き込み動作の後に行ってよい。
【0032】
上に述べた同期読み出しまたは書き込み動作において例示した実施態様は、行アドレスおよび列アドレスで時分割されたNビット幅のアドレスバス45を含む。図示はしていないが他の有用な実施態様では、アドレスバスが十分に広くて行アドレスと列アドレスとを同時に平行に加えてよい。その結果、両アドレスはそれぞれのアドレスバッファ、すなわち行アドレスバッファ48と列アドレスバッファ49に同時にラッチされる。その他の点では、同期ランダムアクセス読み出しおよび書き込み動作はすでに述べたように進行する。
【0033】
同期ランダムアクセス書き込み動作では、行アドレスおよび列アドレスはデータがラッチされる前かまたは同時にラッチされてよい。
【0034】
同期ランダムアクセス読み出しおよび書き込み動作に加えて、図1および図2の実施態様では同期バースト読み出し動作および同期バースト書き込み動作を実行できる。
【0035】
同期バースト読み出し動作では1グループのビットが、メモリ配列75中の記憶セルの共通の行に沿って、一連の列アドレスから迅速に読み出される。一連のアドレスは列アドレスの昇順(アップ)でもよいし列アドレスの降順(ダウン)でもよい。
【0036】
一連の列アドレスの方向すなわち極性は、リード線56のバースト方向信号+/−によって決定される。バーストの長さすなわちバースト中のビット数は、図1のデジタルプロセッサ20がリード線57に送る低位バースト選択信号BT(バー)の持続時間によって決定される。バースト選択信号BT(バー)が高位になれば、同期バースト読み出し動作は終る。
【0037】
一般に同期バースト読み出し動作は、ランダムアクセス読み出し動作と同様である。若干の違いはあるが、それは以下の同期バースト読み出し動作の説明で明らかになる。冗長な説明を省いて違いを十分に説明するために、同様な動作の説明は最少限にする。
【0038】
次に図5は、図2の同期メモリ装置30の同期バースト昇順読み出し動作のタイミング図を示す。行アドレス制御信号RE(バー)とバースト選択信号BT(バー)は、クロックサイクルタイム1でアクティブ低位になり、動作を開始する。バースト方向信号+/−は高位で、一連の列アドレスが増分のシーケンスであることを示す。
【0039】
クロックサイクルタイム1で、行アドレスが行アドレスバッファ48にラッチされる。クロックサイクルタイム2で、開始列アドレスが列アドレスバッファ49にラッチされる。書き込み信号WE(バー)は高位で、これは読み出し動作を示す。行アドレスは行アドレスデコーダ50でデコードされ、メモリ配列75中の記憶セルの行を選択する。ロード開始アドレス信号LIAが来ると、開始列アドレスの最上位数ビットはゲート51を通って列アドレスカウンタ52の上位カウント部58にゲートされ、また同じアドレスの最下位数ビットは列アドレスカウンタ52の下位カウント部59にゲートされる。
【0040】
最上位数ビットは列アドレスデコーダ54でデコードされ、M列を2ブロック選択してメモリ配列75から読み出す。これらの列から1つが選択され、データバス25の所望の一連のビットの開始ビットとして、そのビットは出力マルチプレクサOMUXを通して送られる。
【0041】
次に図6は、列アドレスカウンタ52の上位カウント部58と下位カウント部59の詳細なブロック図を示す。開始アドレスがデコードされた後で、列アドレスカウンタ52の上位カウント部と下位カウント部は、カウントクロック信号COUNTによって増分される。上位カウンタと下位カウンタは二進カウンタステージの連続したシリーズになっている。
【0042】
図2に示すようにゲート51にロード開始アドレス信号LIAが来ると、列アドレスカウンタ52の上位カウント部と下位カウント部に開始列アドレスを送る。列アドレスシーケンスが昇順か降順かはバースト方向信号+/−によって決まる。図6に最下位ビットカウンタステージLSBと最上位カウンタステージMSBを示す。上位カウント部58は、下位カウント部59を形成するlog2 (2M)個の最下位ビットカウンタステージを除く全てのカウンタステージを含む。
【0043】
開始列アドレスがデコードされた後の開始バースト昇順読み出し動作では、上位カウント部58と下位カウント部59にあるアドレスはクロック信号COUNTの制御の下に増分される。上位カウント部58と下位カウント部59に生成される次のアドレスは、開始列アドレスより1大きい。次の一連のビットは出力マルチプレクサOMUXを通って、このようにアドレスされたメモリの記憶セルの列から伝送される。
【0044】
メモリ配列75中の記憶セルのM列の第1ブロックと次に続くM列の高次のブロックは、列アドレスデコーダ54によって同時にアドレスされる。ビットは出力マルチプレクサOMUXを通って、第1ブロックから伝送される。一方、M列の第2ブロックからのビットはメモリ配列からアクセスされて、出力マルチプレクサOMUXに送られる。
【0045】
アドレスの第1組がなくなると一連のアドレスはM個のアドレスの第2組へと続くが、M個のアドレスの第3組が第1組に代わって出力マルチプレクサに送られる。このようにアドレスの組を昇順に一つおきすることによって、ビットの所望のバーストはメモリ配列75から読み出される。
【0046】
このようにアドレスの組を一つおきにしてビットの所望のシーケンスを選択することによって、データは出力マルチプレクサOMUXを通って連続した流れとなってデータバス25に読み出され、図1のデジタルプロセッサ29から各アドレスが与えられるのを待つ必要がない。出力マルチプレクサOMUXから伝送されるデータの一連のビットは、システムクロックCLKと同じ速度で連続して流れる。
【0047】
同期バーストモードでは、メモリ配列から読み出されるデータビットの数は、リード線57の低位アクティブバースト信号BT(バー)の持続期間によって決まる。バーストBT(バー)が高位になると、同期バースト読み出し動作は終る。
【0048】
同期バースト読み出し動作はまた、メモリ配列75中の一連の降順の列アドレスを持つ記憶セルからも行われる。この同期バースト降順読み出し動作は、いま説明した同期バースト昇順読み出し動作とは2つの点で異なる。
【0049】
同期バースト降順読み出し動作を示す図7および図2で、制御信号の唯一の違いはバースト方向信号+/−が低位であることで、これは列アドレスカウンタ52の上位カウント部と下位カウント部のカウントが計数クロックCOUNTのサイクル毎に減分されることを示す。アドレス可能なM列の第1組からのビットと、次に続くアドレス可能なM列の低次の組からのビットは、メモリ配列75から読み出されて出力マルチプレクサOMUXに送られる。
【0050】
ラップアドレススクランブラ61とリード線63を通って下位カウント部59から出力マルチプレクサOMUXに送られる降順の一連のアドレスに応答して、各ビットは出力マルチプレクサを通って伝送される。同期バースト動作ではラップアドレススクランブラにより、下位カウント部59からのアドレスをそのままマルチプレクサに伝送する。列アドレスカウンタのカウントはクロック信号COUNTが来ると減分されるので、出力マルチプレクサOMUXを通って伝送される一連のビットは、メモリ配列75中の一連の降順のアドレスを持つ列から読み出される。
【0051】
M個の列アドレスのブロックは、列アドレスカウンタ52の上位カウント部58にあるカウントによって選択される。列アドレスの一つおきの組からのビットは、列アドレスカウンタ52の下位カウント部59にあるカウントによって決まる個々の列のアドレスによって選択される。
【0052】
図8と図9はそれぞれ、図2の同期ランダムアクセスメモリ30の同期バースト昇順読み出しおよび同期バースト降順読み出し動作の別のタイミング図である。図8および図9のタイミング図と図5および図7のタイミング図との違いは、書き込み信号WE(バー)がクロックサイクルタイム2ではなくてクロックサイクルタイム1でサンプルされる点である。どちらのタイミングでも、同期ランダムアクセスメモリ30は十分に動作できる。
【0053】
今説明した同期バースト読み出し動作(昇順または降順)により、図1のデータプロセシングシステムはバースト信号BT(バー)のアクティブ持続期間中、システムクロックCLKのサイクル毎に1ビットの速度でデータビット(バースト)の全シーケンスをメモリ配列75中にある行から読み出すことができる。
【0054】
1つの行アドレスおよび開始剤アドレスだけが、デジタルプロセッサ20から同期ランダムアクセスメモリ30に送られる。残りの一連の列アドレスは、システムクロックCLKのサイクル毎に1つの新列アドレスの速度で、列アドレスカウンタ52により生成される。
【0055】
データプロセシングシステム15のもう一つの重要な動作は同期バースト書き込み動作で、図1のデジタルプロセッサ20は行アドレスと開始列アドレスだけの一連のデータビットをデータバス25に連続したシステム時間中に送り、同期ランダムアクセスメモリ30のどこに記憶するかを決める。
【0056】
上位カウント部58と下位カウント部59は、開始列アドレスに続く一連の列アドレスを決める。システムクロックサイクルに同期して、データバス25の一連のデータビットはメモリ配列75のアドレスされた記憶セルに記憶される。
【0057】
次に図10は、図2のメモリ配列75に一連のデータビットを記憶するための同期バースト昇順書き込み動作のタイミング図を示す。この動作でデータビットは、同じ行アドレスと昇順の連続した列アドレスを持つ記憶セルに記憶される。
【0058】
図10に示すように、書き込み信号WE(バー)とバースト信号BT(バー)とは低位で、ラップ信号WP(バー)は高位である。これは同期バースト昇順書き込み動作なのでバースト方向信号+/−は高位で、昇順の一連の列アドレスを生成する。行アドレス制御信号RE(バー)は低位なので、図2のタイミングおよび制御回路はシステムクロックサイクルタイム1の間は行アドレスラッチ信号XALを生成する。
【0059】
クロックサイクル2の間は列アドレス制御信号CE(バー)は低位なので、タイミングおよび制御回路はシステムクロックサイクルタイム2の間は列アドレスラッチ信号YALを生成する。行アドレスと開始列アドレスは行および列のアドレスバッファ48および49にそれぞれラッチされ、バースト昇順書き込み動作を開始する。
【0060】
行アドレスは行デコーダ50によってデコードされる。開始列アドレスは列アドレスデコーダ52の上位および下位カウント部に伝送される。最上位数ビットは上位カウント部58に入り、最下位数ビットは下位カウント部59に入る。システムクロックサイクルタイム2の間は、データバス25の一連のデータビットは第1ビットから順に、システムクロックCLKと同期して毎回1ビットずつ、連続して入力マルチプレクサIMUXにラッチされる。
【0061】
データビットは、データバス25を通ってデータイン・ドライバ回路64に送られる。タイミングおよび制御回路42によって生成される書き込み可能信号WENにより、データはデータバスからデータイン・ドライバ64に送られる。またタイミングおよび制御回路42によって生成されるデータイン・ラッチ信号DINLは、データをデータバス25からデータイン・ドライバ64にラッチする。
【0062】
同期バースト動作では、上位カウント部58にある開始列アドレスの最上位数ビットは、デコードされてM列の2ブロックが選択される。下位カウント部59からの信号はラップアドレススクランブラ61の出力に出て、リード線66を経て入力マルチプレクサIMUXの制御入力に入り、2Mから1のビットのどれをメモリ配列75中の記憶セルの関連する列に送るかを決める。
【0063】
開始列アドレスの最下位数ビットはデコードされて2Mから1の選択をし、開始列アドレスに関連するビットの1つがデータバス25から入力マルチプレクサIMUXを通って伝送され、メモリ配列75に記憶される。行アドレスと開始列アドレスの交点にある記憶セルが第1の記憶場所である。
【0064】
システムクロックの順次のサイクル毎に、列アドレスカウンタ52の上位および下位カウント部の二進カウントは共に増分される。システムクロックと同期してデータバス25から選択された後続のデータビットは、メモリ配列75中のアクセスされた行に沿って別個の記憶セルに順次記憶される。
【0065】
クロック信号COUNTが来ると、列アドレスカウンタ52の下位カウント部および上位カウント部のカウントは増分され(バースト方向信号+/−が高位なので)、データバス25からメモリ配列75の記憶セルの連続してアドレスされた列に後続のデータビットを送る。データビットのバーストと昇順の一連のアドレスの生成は、バースト選択信号BT(バー)が高位に戻るまで続く。
【0066】
次に図11は、図2のメモリ配列75中にデータビットを記憶するための同期バースト降順書き込み動作のタイミング図を示す。この動作は今述べた同期バースト昇順書き込み動作と同様である。行アドレス制御信号RE(バー)が低位なので、図2のタイミングおよび制御回路42は行アドレスラッチ信号XALを生成し、システムクロックサイクルタイム1の間は行アドレスをラッチする。
【0067】
システムクロックサイクルタイム2の間は列アドレス制御信号CE(バー)が低位なので、タイミングおよび制御回路42は列アドレスラッチ信号YALを生成し、このシステムクロックサイクルの間は開始列アドレスをラッチする。
【0068】
しかし前に述べた同期バースト昇順書き込み動作とは異なりバースト方向信号+/−は低位で、列アドレスカウンタ52の上位および下位カウント部にあるアドレスをシステムクロックCLKのサイクル毎に減分する。このようにして一連の列アドレスは開始列アドレスから始まり、以降のシステムクロックサイクル毎に順次減少する。
【0069】
データバス25からのデータビットは入力マルチプレクサIMUXを通り、メモリ配列75中のある行に沿って、順次減少するアドレスの列の記憶セルに書き込まれる。
【0070】
図12および図13は、それぞれ図2の同期ランダムアクセスメモリ30の同期バースト昇順書き込みおよび降順書き込み動作の別のタイミング図である。図12および図13のタイミング図と図10および図11のタイミング図との違いは、書き込み信号WE(バー)が、クロックサイクルタイム2ではなくてクロックサイクルタイム1でサンプルされる点である。どちらのタイミングでも、同期ランダムアクセスメモリ30は十分動作できる。
【0071】
今説明した同期バースト書き込み(昇順または降順)動作により、図1のデータプロセシングシステムはバースト信号BT(バー)のアクティブな継続期間中、システムクロックCLKのサイクル毎に1ビットの速度で、データビット(バースト)の全シーケンスをメモリ配列75中のある行に書き込むことができる。
【0072】
1つの行アドレスおよび開始列アドレスだけが、デジタルプロセッサ20から同期ランダムアクセスメモリ30に送られる。残りの一連の列アドレスは、システムクロックCLKのサイクル毎に1つの新列アドレスの速度で、列アドレスカウンタ回路52により生成される。
【0073】
次に図14は、図2の同期ランダムアクセスメモリの同期ラップ読み出し8ビット動作のタイミング図を示す。メモリ配列75中の1つの行から、8ビットのデータが、シングル行、および列アドレスカウンタ52の上位カウント部58にラッチされている開始列アドレスにより選択された列から読み出される。
【0074】
行のアドレシングと開始列のアドレシングは前に述べたように行われる。システムクロックサイクルタイム1の間にゲート53にラップ制御信号WRAPが入ると、開始列アドレスが列アドレスデコーダに送られ、データがメモリ配列75の列から読み出される。
【0075】
列アドレスカウンタ52の下位カウント部59にラッチされている開始列アドレスの最下位数ビットで選択され、次の変換によって変形されて、このデータは出力マルチプレクサOMUXを通って出る。開始列アドレスの最下位数ビットは、ラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ61が発生する一連のアドレスに変換される。
【0076】
図15はラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサが行う変換プロセスの論理を示す表1である。表1に示すように、ラップ長信号WLはゼロ(WL=0)である。表の列の見出しは入力で、開始列アドレスA0、A1、A2の最下位3ビットを含む。ラップタイプ信号WTは低位(WT=0)または高位(WT=1)のどちらでもよい。
【0077】
真理値表の各ラインは、列アドレスカウンタ52にある開始列アドレスからの最下位3ビットによってラップアドレススクランブラ61が生成する一連の出力アドレスを示す。ラップアドレススクランブラ61はシステムクロック信号CLKに同期して、各ラップタイプWTのシーケンスを生成する。
【0078】
一番上のラインのラップタイプ信号WTがゼロ(WT=0)で開始アドレスA0=0、A1=0、A2=0の場合は、ラップアドレススクランブラが生成する一連のアドレスは0、1、2、3、4、5、6、7である。開始入力アドレスから一連の出力アドレスへの変換は、例えばルックアップテーブルなどいろいろな方法で行われる。
【0079】
ラップアドレススクランブラ61からの出力アドレスは、出力マルチプレクサOMUXからの同様に順序付けられた出力をアクセスする。出力マルチプレクサにラッチされるのは8ビットだけなので、データバス25にビットを読み出すために生成され用いられるのは8アドレスだけである。
【0080】
ラップタイプ信号が1(WT=1)であれば、一連のアドレスは一番右の列に示す順序で起こる。例えばラップタイプ信号WT=1で開始列アドレスの最下位3ビットがA0=0、A1=1、A2=0であれば、出力マルチプレクサに入るアドレスの順番は2、3、0、1、6、7、4、5である。いわゆる出力マルチプレクサポジションからのビットは、この順序で図2のデータバス25に読み出される。
【0081】
次に図16と図17は、同期ラップ読み出し動作のタイミング図と真理値表を示すが、図14および図15の動作では8ビットが読み出されたのに対して、ここでは4ビットが読み出される。4ビットのラップ読み出し動作では、ラップ長信号は1(WL=1)である。出力マルチプレクサから読み出されるのは4ビットだけなので、最下位開始列アドレス2ビットのA0およびA1だけを与えて出力の順序を選択する。
【0082】
ラップタイプはラップタイプ信号WTの状態によって選択され、出力マルチプレクサからデータバス25に読み出すアドレスの順序が決まる。ラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ61は、図17に示す表IIに従って開始剤アドレスの最下位2ビットを所望のラップシーケンスに変換する。
【0083】
今説明した同期ラップ読み出し(8ビットまたは4ビット)動作により、図1のデータプロセシングシステムは、アクセスした最初のビットの列アドレスによって規定された順序でデータビットの1グループをメモリ配列75中のある行から読み出すことができる。選択された8ビットまたは4ビットが読み出されるまで、このビットのグループはシステムクロックCLKのサイクル毎に1ビットの速度で読み出される。
【0084】
1つの行アドレスおよび開始列アドレスだけがアドレスバスを通ってデジタルプロセッサ20から同期ランダムアクセスメモリ30に送られる。残りの列アドレスのグループは、列アドレスカウンタ回路52とラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ61によって、システムクロックCLKのサイクル毎に1つの新列アドレスの速度で生成される。
【0085】
同様な同期ラップ書き込み動作は低位アクティブ書き込み信号WE(バー)が入ることによっても可能になり、動作を開始する。
【0086】
再び図6において、開始列アドレスは列アドレスカウンタ52のステージに並列に入りラッチされる。バースト方向信号+/−は全てのステージに入り、クロック信号COUNTのサイクル毎にカウントを増分するか減分するかを決める。クロック信号COUNTも全てのステージに入る。
【0087】
列アドレスカウンタ52の各ステージは、両側の隣接したステージに相互に接続されている。カウントを増分させるための接続線と、カウントを減分させるための別の接続線が、隣接ステージの間にある。
【0088】
図18は列アドレスカウンタ52の1ステージKを詳細に示す。ステージKの上部には2つの端子があり、列アドレスカウンタ52の次の高次ステージK+1と接続されている。キャリーアウト減分端子CO−とキャリーイン減分端子CI−は隣接のステージK+1と接続されている。ステージKの下部には次の低次のステージK−1と接続されている2つの端子がある。キャリーイン増分端子CI+とキャリーアウト増分端子CO+は隣接のステージK−1と接続されている。
【0089】
開始アドレスデータはデータ入力端子Dに入る。バースト方向信号+/−は増分/減分端子+/−に入る。クロック信号COUNTはクロック入力端子Cに入り、出力アドレス(メモリ配列75と入力および出力マルチプレクサに送られる)は出力端子Qから出る。
【0090】
再び図6において、ラップアドレススクランブラ73には、列アドレスカウンタ52の下位カウント部59から3入力74が入る。
【0091】
図6で同期ランダムアクセスおよび同期バースト動作では、これらの3入力は3出力76、77、78となって直接出る。出力77、78は入力マルチプレクサIMUXと出力マルチプレクサOMUXに直接入って制御する。
【0092】
出力76はマルチプレクサ74に入り、同期バースト動作用として入力マルチプレクサIMUXと出力マルチプレクサOMUXに信号を送る。同期ランダムアクセスと同期バースト動作では、列アドレスカウンタ52内のカウントの最下位数ビットが入力および出力マルチプレクサに直接入って制御する。
【0093】
同期ラップ動作では、ラップアドレススクランブラ73とマルチプレクサ74は列アドレスの最下位数ビットを所望の一連のアドレスに変換し、入力マルチプレクサIMUXと出力マルチプレクサOUMXからビットを読み出す。4ビットラップ長を除いて、ラップ長信号WLは常にアクティブである。
【0094】
次にラップ長信号WLはリード線76の信号を断ち、リード線77と78からは列アドレスカウンタからのアドレスビットを、またマルチプレクサ74からはゼロを、入力マルチプレクサIMUXおよび出力マルチプレクサOMUXに送る。ラップアドレススクランブラは表1および表2に従ってリード線77と78に所望の一連のビットを生成する。
【0095】
図2でマスクレジスタ93には、データバス25からコード化されたマスクデータが入り記憶される。システムクロック信号CLKが入ると、マスクレジスタ93はマスクデータを送ってカウント制御回路94の動作を制御する。
【0096】
カウント制御回路94は、バースト制御信号BURST、ラップ制御信号WRAP、マスクデータ、システムクロックCLKを受けてクロック信号COUNTを生成し、列アドレスカウンタ52とラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ61の動作を制御する。
【0097】
図2のタイミングおよび制御回路42は、行アドレス制御信号RE(バー)、列アドレス制御信号CE(バー)、書き込み信号WE(バー)、バースト信号BT(バー)、バースト方向信号+/−、ラップ選択信号WP(バー)、ラップタイプ信号WT、ラップ長信号WL、システムクロック信号CLKを受けて制御信号を生成する。この制御信号は、行および列アドレスラッチイング信号XALおよびYAL、ラッチ開始アドレス信号LIA、書き込み可能信号WEN、データイン・ラッチ信号DINL、バースト制御信号BURST、ラップ制御信号WRAPなどである。
【0098】
図2のタイミングおよび制御回路42では、制御バス60からの信号は全てリード線67のクロック信号CLKによってゲートされ、信号XAL、YAL、LIA、WEN、DINL、BURST、WRAPなどの同期ランダムアクセスメモリ30内の制御信号は全てシステムクロック信号CLKに同期する。
【0099】
この特徴により、同期ランダムアクセスの諸機能はこのクロックと同期する。同期ランダムアクセスメモリ30外のどの論理回路も、制御バス60に送られる各種の信号間の複雑なタイミング関係を考慮する必要がない。
【0100】
次に図19に、図2のタイミングおよび制御回路42のゲート101の例を示す。図19で、行アドレス制御信号RE(バー)はシステムクロック信号CLKによってゲートされる。すなわちシステムクロック信号CLKのパルスの負方向端でサンプルされる。ゲート101の出力は行アドレスラッチ信号XALである。
【0101】
図20はゲート101の動作のタイミング図である。図20に示すように、出力行アドレスラッチ信号XALは、行アドレス制御信号RE(バー)が低位のときに、システムクロックサイクルタイム2でシステムクロックCLKの負方向端によってアクティブになる。行アドレス制御信号RE(バー)の負方向端のタイミングは、システムクロック信号CLKの負方向端でこの信号が低位である限りは無関係である。
【0102】
同様に他の内部制御信号は全て、システムクロック信号CLKの負方向端において、制御バス60の外部制御信号のサンプルされたレベルに応答する。
【0103】
次に図21は、図2のカウント制御ブロック94内でバースト制御信号BURST、ラップ制御信号WRAP、システムクロック信号CLKに応答し、カウントクロック信号COUNTを生成する回路102の例を示す。
【0104】
図21において、アクティブな高信号BURSTとWRAPがオアゲート103に入り、システムクロック信号をゲートするための信号COUNT ENABLEを生成する。ゲート104は、バースト制御信号BURSTかラップ制御信号WRAPがアクティブ高位のときにシステムクロック信号CLKを伝送する。
【0105】
図2のタイミングおよび制御回路42はバースト制御信号BURSTとラップ制御信号WRAPを生成する。バースト制御信号BURSTとラップ制御信号WRAPは通常は低位であり、高位でアクティブになる。バースト制御信号BURSTとラップ制御信号WRAPの開始端はシステムクロック信号CLKの負方向端と一致する。バースト制御信号BURSTとラップ制御信号WRAPが一度アクティブになると、それぞれの動作中はアクティブのままである。
【0106】
カウントクロック信号COUNTはシステムクロックCLKと同期するクロックパルス列で、信号BURSTか信号WRAPがアクティブの間は続く。バースト方向信号+/−の状態に応じて、カウントクロック信号COUNTのパルスは列アドレスカウンタ52中にある列アドレスを増分または減分させる。
【0107】
次に図22において、タイミング図は図21のカウント信号ゲート配列102の動作例を示す。内部制御信号COUNT ENABLEはシステムクロックサイクルタイム2の前に高位アクティブになり、システムクロックサイクルタイム3の後まで高位アクティブのままである。
【0108】
制御信号COUNT ENABLEの制御の下で図21のゲート104を通ってシステムクロック信号CLKをゲートした結果、カウントクロック信号COUNTはゲートされ、システムクロック信号CLKと同期してサイクルタイム2と3でパルスを生成する。
【0109】
次に図23は選択およびゲート回路と共に配列した出力マルチプレクサOMUXと入力マルチプレクサIMUXのブロック図を示す。これはメモリ配列75からデータバス25へのデータビットの読み出しを制御し、またデータバス25からメモリ配列75へのデータビットの書き込みを制御するためのものである。
【0110】
図23において、図2の列アドレスデコーダ54はブロックゲート回路110の2つのゲートを使用可能にすることによって4列の2ブロックを選択する。ブロックゲート回路に出入りする各リード線は、1データブロック当り4リード線である。一つ置きのデータブロックすなわち偶数次ブロックは、偶数次バス116を通って出力イネーブルゲート120に接続される。出力イネーブルゲートは各ビットのリード線に別個のゲートを含み、書き込みイネーブル信号WEN(バー)の補数が入ると動作する。
【0111】
メモリ配列75からの奇数次ブロックも、奇数次バス122を通って出力イネーブルゲート120に接続される。出力イネーブルゲート120は8つの別個の出力レジスタ124に接続され、メモリ配列75から読み出された各データビットを記憶する。
【0112】
図23において、変換回路126はラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ61からの列アドレスの最下位3ビットを8から1の選択コードに変換し、出力伝送選択ゲート回路128に送る。
【0113】
8つの各出力レジスタ124に対して、個別の8から1の選択コードで制御される出力伝送選択ゲートがあり、この選択コードを出力伝送選択ゲート回路128に送って制御する。出力伝送選択ゲート128は1度に1つづつ動作し、システムクロックに同期してデータビットを出力レジスタからデータバス25に送る。
【0114】
更に図23において入力および出力マルチプレクサのバースト昇順読み出し動作では、図2の列アドレスカウンタ52中の列アドレスはクロック信号COUNTが来ると増分される。クロック信号COUNTの4サイクル毎に、2つの列アドレスデコーダ出力信号はそれぞれ1つづつ上がる、すなわちnとn+1からn+1とn+2になる。これによりこれまで開いていた2つのゲートの1つが閉じ、これまで開いていた1つのゲートと1つの新しいゲート110が開く。
【0115】
4つの出力レジスタ124に記憶されているデータビットは新しいデータブロックに変り、データバス25へ読み出される。データが空になった4出力レジスタ124は、新しいデータを補充される。というのはメモリ配列75からの列アドレスの次の高次の組から、空になった出力列レジスタ124にデータを送るからである。
【0116】
図23においてバースト降順読み出し動作では、列アドレスデコーダ54に入るアドレスの次数が減分中でない限り、今述べたように出力マルチプレクサOMUXは動作する。従ってクロック信号COUNTの4サイクル毎に、可能になる2つのデータブロックは次の低次の2データブロック、すなわち列の組nとn−1からn−1とn−2である。
【0117】
更に図23においてラップ読み出し動作では、出力マルチプレクサOMUXは、開始アドレス選択が終るまで前述のバースト昇順読み出し動作と同様に動作する。8データビットがメモリ配列75から読み出され、8出力レジスタ回路124にラッチされる。その後は、データバス25に読み出される次数は2つの要因によって決まる。第1および第2要因はラップ長信号WLおよびラップタイプ信号WTである。
【0118】
前に述べたようにこれらの2つの信号WLとWTの組み合せにより、図6のラップアドレススクランブラ73は一連の可能化信号コードを生成して出力マルチプレクサOMUXの出力ゲート128に出力する。この一連の可能化信号コードが来ると、出力レジスタ124からの対応するビットは出力伝送選択ゲート128を通って、選択された順序でデータバス25に読み出される。
【0119】
図23にはほぼ同様な配列が入力マルチプレクサIMUXにあり、データバス25からメモリ配列75にデータを書き込む。入力伝送選択ゲート130はラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ61からの8から1のコードによって選択的に可能になる。ビットは個別の入力レジスタ回路132に記憶される。
【0120】
クロック信号COUNTが入って列アドレスの上位カウント部が増分または減分されるのに従って、記憶されたデータビットは4ビットのブロックでメモリ配列75の列の偶数および奇数次のブロックに伝送される。
【0121】
次に図24に、デジタルプロセッサ220を含むデジタルプロセシングシステム215を示す。これは図1のデータプロセシングシステム15と同様であるが、システムクロック65がクロック信号を生成し、このクロック信号がリード線221を通ってデジタルプロセッサ220に入る点が異なる。
【0122】
デジタルプロセッサ220内で、クロック信号はゲートされまたは他の方法で処理されてプロセッサクロック信号になり、これがリード線222を経て同期メモリ30、入力周辺装置24、出力周辺装置40に送られる。他の点では、データプロセシングシステム215は図1および図2で説明したデータプロセシングシステム15と同様に動作する。
【0123】
これまでこの発明の例示の実施態様により、いくつかのデータプロセシングシステムの配列を説明した。この説明から明かな他の実施態様は、特許請求の範囲に入るものと見なされる。
以上の説明に関して更に以下の項を開示する。
【0124】
(1) 同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法において、
a) システムクロック信号を前記の同期ランダムアクセスメモリに送り、
b) 行アドレスと列アドレスによってアドレス可能なセル配列中の記憶セルの行を、前記のシステムクロック信号に同期してアドレスし、
c) 開始列アドレスを列アドレスカウンタに送り、
d) 前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットに応じて列のブロックをアクセスし、データビットを記憶セルの前記のアドレスされた行から出力マルチプレクサに、前記のシステムクロック信号に同期して読み出し、
e) 前記の列アドレスカウンタを前記のシステムクロック信号に同期してクロックすることにより、また得られた一連の列アドレスの最下位数ビットを前記の出力マルチプレクサに送ることによって、選択された一連のデータビットを前記の出力マルチプレクサを通して伝送し、前記の選択された一連のデータビットを前記の出力マルチプレクサを通してデータバスへ、前記のシステムクロック信号に同期して伝送することを制御する、
ステップを含む方法。
【0125】
(2) バースト動作中にバースト増分信号を前記の列アドレスカウンタに送り、前記の列アドレスカウンタ中のアドレスを前記のシステムクロック信号のサイクル毎に増分するステップを更に含む、第1項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0126】
(3) バースト動作中にバースト減分信号を前記の列アドレスカウンタに送り、前記の列アドレスカウンタ中のアドレスを前記のシステムクロック信号のサイクル毎に減分するステップを更に含む、第1項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0127】
(4) 同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法において、
a) システムクロック信号を前記の同期ランダムアクセスメモリに送り、
b) 行アドレスと列アドレスによってアドレス可能なセル配列中の記憶セルの行を、前記のシステムクロック信号に同期してアドレスし、
c) 開始列アドレスを列アドレスカウンタに送り、
d) 前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットに応じて列のブロックをアクセスし、データビットをデータバスから入力マルチプレクサを通して記憶セルの前記のアドレスされた行に、前記のシステムクロック信号に同期して書き込み、
e) 前記の列アドレスカウンタを前記のシステムクロック信号に同期してクロックすることにより、また得られた一連の列アドレスの最下位数ビットを前記の出力マルチプレクサに送ることによって、選択された一連のデータビットを前記のデータバスから前記の入力マルチプレクサを通して伝送し、前記の選択された一連のデータビットを前記のデータバスから前記のマルチプレクサを通して前記のセル配列へ、前記のシステムクロック信号に同期して伝送することを制御する、
ステップを含む方法。
【0128】
(5) 同期バースト動作中にバースト増分信号を前記の列アドレスカウンタに送り、前記の列アドレスカウンタ中の前記のアドレスを前記のシステムクロック信号のサイクル毎に増分するステップを更に含む、第4項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0129】
(6) 同期バースト動作中にバースト減分信号を前記の列アドレスカウンタに送り、前記の列アドレスカウンタ中の前記のアドレスを前記のシステムクロック信号のサイクル毎に減分するステップを更に含む、第4項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0130】
(7) 同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法において、
a) システムクロック信号を前記の同期ランダムアクセスメモリに送り、
b) 行アドレスと列アドレスによってアドレス可能なセル配列中の記憶セルの行を、前記のシステムクロック信号に同期してアドレスし、
c) 開始列アドレスを列アドレスカウンタに送り、
d) 前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットに応じて前記のセル配列中の列のブロックをアクセスし、データビットを記憶セルの前記のアドレスされた行から出力マルチプレクサに、前記のシステムクロック信号に同期して読み出し、
e) 前記の開始列アドレスの最下位数ビットが表す前記の開始列アドレスによって決定される順序で、一組のデータビットの全てのビットを前記の出力マルチプレクサを通してデータバスへ、前記のシステムクロック信号に同期して伝送する、
ステップを含む方法。
【0131】
(8) 前記の開始列アドレスの最下位数ビットを一連の2Mから1の選択コードに変換して、前記の出力マルチプレクサを通る伝送を制御するステップを更に含む、第7項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0132】
(9) 前記の開始列アドレスの1つ以上の最下位ビットを固定した状態信号に変換し、前記の開始列アドレスの他の最下位ビットを一連のMから1の選択コードに変換して、前記の出力マルチプレクサを通る伝送を前記のシステムクロック信号に同期して制御するステップを更に含む、第7項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0133】
(10) 同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法において、
a) システムクロック信号を前記の同期ランダムアクセスメモリに送り、
b) 行アドレスと列アドレスによってアドレス可能なセル配列中の記憶セルの行を、前記のシステムクロック信号に同期してアドレスし、
c) 開始列アドレスを列アドレスカウンタに送り、
d) 前記の列アドレスカウンタにある最上位ビットのグループに応じて前記のセル配列中の列のブロックをアクセスし、データビットを記憶セルの前記のアドレスされた行から出力マルチプレクサに、前記のシステムクロック信号に同期して読み出し、
e) 前記の列アドレスカウンタにあり前記のシステムクロック信号に同期して前記の出力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じて、前記の出力マルチプレクサを通る伝送路を制御することによって、選択されたデータビットを前記の出力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを含む方法。
【0134】
(11) その後は前記のセル配列中の記憶セルの他の行をアドレスし、
前記の開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに再送し、
前記のセル配列中の列ブロックをアクセスすることによって、前記の選択されたビットを前記のセル配列の前記のアドレスされた他の行から前記の出力マルチプレクサへ読み出し、
前記の列アドレスカウンタにあり前記の出力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じ、前記の出力マルチプレクサを通る前記のデータバスへの前記の伝送路を制御することによって、第2の選択されたデータビットを前記の出力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第10項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0135】
(12) その後は前記のセル配列中の記憶セルの同じ行をアドレスし、
別の開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに送り、
前記のセル配列中の列ブロックをアクセスすることによって、前記の選択されたビットを前記の配列の前記のアドレスされた行から前記の出力マルチプレクサへ読み出し、
前記の列アドレスカウンタにあり前記出力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じ、前記の出力マルチプレクサを通る伝送路を制御することによって、第2の選択されたデータビットを前記の出力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第10項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0136】
(13) その後は前記のセル配列中の記憶セルの同じ行をアドレスし、
同じ開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに再送し、
前記の配列中のセルの同じ列ブロックをアクセスすることによって、前記の選択されたビットを前記の配列の前記のアドレスされた行から前記の出力マルチプレクサへ読み出し、
前記の列アドレスカウンタにあり前記の出力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じ、前記の出力マルチプレクサを通る伝送路を制御することによって、同じ選択された記憶セルからのデータビットを前記の出力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第10項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0137】
(14) その後は前記のセル配列中の記憶セルの他の行をアドレスし、
第2の開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに送り、
前記の配列中のセルの第2の列ブロックをアクセスすることによって、他の選択されたビットを前記の配列の他のアドレスされた行から前記の出力マルチプレクサへ読み出し、
前記の列アドレスカウンタにあり前記の出力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じ、前記の出力マルチプレクサを通る第2の伝送路を制御することによって、データビットを他の選択された記憶セルから前記の出力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第10項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0138】
(15) 同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法において、
a) 行アドレスおよび列アドレスによってアドレス可能なセル配列中の記憶セルの行をアドレスし、
b) 開始列アドレスを列アドレスカウンタに送り、
c) 前記の列アドレスカウンタにある最上位ビットのグループに応じて列ブロックにアクセスし、データビットをデータバスから入力マルチプレクサを通して記憶セルの前記のアドレスされた行に書き込み、
d) 前記の列アドレスカウンタにあり前記の入力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じ、前記の入力マルチプレクサを通る伝送路を制御することによって、選択されたデータビットを前記の入力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを含む方法。
【0139】
(16) その後は前記のセル配列中の記憶セルの他の行をアドレスし、
前記の開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに再送し、
前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットに応じて前記の配列中のセルの列ブロックをアクセスし、データビットを前記のデータバスから入力マルチプレクサを通して記憶セルの他のアドレスされた行に書き込み、
前記の列アドレスカウンタにある最下位ビットのグループに応じ、前記の入力マルチプレクサを通る伝送路を制御することによって、選択されたデータビットを前記のデータバスから前記の入力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第15項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0140】
(17) その後は前記のセル配列中の記憶セルの同じ行をアドレスし、
別の開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに送り、
前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットの別のグループに応じて前記の配列中のセルの列ブロックをアクセスし、他のデータビットを前記のデータバスから前記の入力マルチプレクサを通して記憶セルの前記のアドレスされた行に書き込み、
前記の列アドレスカウンタにあり前記の入力マルチプレクサに送られる他の最下位ビットのグループに応じ、前記の入力マルチプレクサを通る他の選択された伝送路を制御することによって、別の選択されたデータビットを前記の入力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第15項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0141】
(18) その後は前記のセル配列中の記憶セルの同じ行をアドレスし、
同じ開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに再送し、
前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットに応じて前記の配列中のセルの列ブロックをアクセスし、データビットを前記のデータバスから前記の入力マルチプレクサを通して記憶セルの前記のアドレスされた行に書き込み、
前記の列アドレスカウンタにあり前記の入力マルチプレクサに送られる最下位ビットのグループに応じ、前記の入力マルチプレクサを通る伝送路を制御することによって、他の選択されたデータビットを前記のデータバスから前記の入力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第15項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0142】
(19) その後は前記のセル配列中の記憶セルの他の行をアドレスし、
別の開始列アドレスを前記の列アドレスカウンタに送り、
前記の列アドレスカウンタにある最上位数ビットの別のグループに応じて前記の配列中のセルの列ブロックをアクセスし、他のデータビットを前記のデータバスから前記の入力マルチプレクサを通して記憶セルの他のアドレスされた行に書き込み、
前記の列アドレスカウンタにあり前記の入力マルチプレクサに送られる他の最下位ビットのグループに応じ、前記の入力マルチプレクサを制御することによって、他の選択されたデータビットを前記の入力マルチプレクサを通して伝送する、
ステップを更に含む、第15項記載の同期ランダムアクセスメモリをアクセスする方法。
【0143】
(20) データプロセシングシステムにおいて、
デジタルプロセッサ、
タイミング端を持つシステムクロック信号を生成して、前記のデジタルプロセッサの動作を制御するシステムクロック回路、
同期ランダムアクセスメモリシステムで、前記のクロック信号の端に直接応答し、前記の同期メモリ中のアドレス可能な記憶セルにアクセスして前記の記憶セルにデータを書き込み、また前記の記憶セルからデータを読み出す同期メモリ、を含むデータプロセシングシステム。
【0144】
(21) 前記のシステムクロック信号の端に直接応答して、前記のシステムクロック信号に同期した制御信号を生成し、前記の同期ランダムアクセスメモリの書き込み、読み出し動作を制御する、タイミングおよび制御回路、
前記の制御およびタイミング回路が生成する第1制御信号に応答し、アドレス可能な記憶セルの行をアクセスして前記の同期メモリにデータを書き込み、またデータを読み出す、行アドレス回路、
前記の制御およびタイミング回路が生成する他の制御信号に応答し、アドレス可能な記憶セルの列ブロックをアクセスして前記の同期メモリにデータを書き込み、またデータを読み出す、列アドレス回路、
を更に含む、第20項記載のデータプロセシングシステム。
【0145】
(22) 前記の同期ランダムアクセスメモリが、スタティック記憶セルの配列を持つ金属酸化膜半導体装置として製作される、第20項記載のデータプロセシングシステム。
【0146】
(23) 前記の同期ランダムアクセスメモリが、ダイナミック記憶セルの配列を持つ金属酸化膜半導体装置として製作される、第20項記載のデータプロセシングシステム。
【0147】
(24) 前記のシステムクロック信号と共にタイミングおよび制御回路に送られる制御信号を前記のデジタルプロセッサが生成し、同期ランダムアクセスメモリ制御信号の発生を制御する、第20項記載のデータプロセシングシステム。
【0148】
(25) ダイナミック記憶セルの前記の配列が相補形金属酸化膜半導体回路として製作される、第24項記載のデータプロセシングシステム。
【0149】
(26) ダイナミック記憶セルの前記の配列がバイポーラ相補形金属酸化膜半導体回路として製作される、第24項記載のデータプロセシングシステム。
【0150】
(27) データプロセシングシステムにおいて
デジタルプロセッサ、
タイミング端を持つシステムクロック信号を生成して、デジタルプロセッサの動作を制御する、システムクロック回路、
行および列アドレスによってアドレス可能な記憶セルの配列中にデータを記憶する、同期ランダムアクセスメモリ、
前記のシステムクロック信号の端に応答し、前記のシステムクロック信号のタイミング端に関連するタイミング端を持ちゲートされたシステムクロック信号を生成する、前記のデジタルプロセッサ、
前記のゲートされたシステムクロック信号の端に直接応答し、記憶セルにアクセスして書き込みおよび読み出し動作をする、前記の同期ランダムアクセスメモリ、
を含むデータプロセシングシステム。
【0151】
(28) 同期ランダムアクセスメモリにおいて、
アドレス可能な行および列に配列された記憶セルの配列、
行アドレスバッファ、
行アドレスデコーダ、
列アドレスバッファ、
列アドレスデコーダ、
マイクロプロセッサから直接送られるシステムクロック信号の端に応答し、行アドレスデータを前記の行アドレスバッファに記憶して前記の行アドレスデコーダを通してデコードし、列アドレスデータを前記の列アドレスバッファに記憶して前記の列アドレスデコーダでデコードする回路、
を含む同期ランダムアクセスメモリ。
【0152】
(29) 前記のクロック信号の端と関連して、行アドレス制御信号が前記の行アドレスバッファに前記の行アドレスデータを記憶させ、
前記のシステムクロック信号の端と関連して、列アドレス制御信号が前記の列アドレスバッファに前記の列アドレスデータを記憶させ、
前記のシステムクロック信号の端と関連して、書き込み信号が書き込み制御信号を発生し、前記の同期ランダムアクセスメモリの入力端子に入るデータを、アドレスされた記憶セルに前記のシステムクロック信号に同期して書き込む、書き込み信号、
前記のクロック信号の端と関連して、読み出し信号が読み出し制御信号を発生し、アドレスされた記憶セルに記憶されているデータを、前記の同期ランダムアクセスメモリの出力端子から前記のシステムクロック信号に同期して読み出す、読み出し信号、
を含む、第28項記載のランダムアクセスメモリ。
【0153】
(30) 同期ランダムアクセスメモリにおいて、
アドレス可能な行および列に配列された記憶セルの配列、
行アドレスバッファ、
行アドレスデコーダ、
列アドレスバッファ、
列アドレスデコーダ、
システムクロック信号の端に応答し、行アドレスデータを前記の行アドレスバッファに記憶して前記の行アドレスデコーダを通してデコードし、列アドレスデータを前記の列アドレスバッファに記憶して前記の列アドレスデコーダでデコードする、回路、
を含む同期ランダムアクセスメモリ。
【0154】
(31) 前記のクロック信号の端と関連して、行アドレス制御信号が前記の行アドレスバッファに前記の行アドレスデータを記憶させ、
前記のクロック信号の端と関連して、列アドレス制御信号が前記の列アドレスバッファに前記の列アドレスデータを記憶させ、
前記のシステムクロック信号の端と関連して、書き込み信号が書き込み制御信号を発生し、前記の同期ランダムアクセスメモリの入力端子に入るデータを、アドレスされた記憶セルに書き込み、
前記のシステムクロック信号の端と関連して、読み出し信号が読み出し制御信号を発生し、アドレスされた記憶セルに記憶されているデータを、前記の同期ランダムアクセスメモリの出力端子から読み出す、
第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0155】
(32) 前記の列アドレスバッファと前記の列アドレスデコーダの間にあり、開始列アドレスを受ける列アドレスカウンタ、
前記の列アドレスカウンタにある最上位ビットのグループに応答し、前記の配列中のセルの列ブロックにアクセスしてデータの書き込みまたはデータの読み出しを行う、列アドレスデコーダ、
前記の列アドレスカウンタにある最下位ビットのグループに応答し、記憶セルの前記の配列にデータビットの書き込みまたは読み出しを行う導通路を作る、入力および出力マルチプレクサ、
を更に含む、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0156】
(33) 前記の同期ランダムアクセスメモリを制御する書き込み信号を受ける回路が、前記のシステムクロック信号の端と同時にデータの書き込みまたは読み出しを選択的に行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0157】
(34) 前記のシステムクロック信号の端に応答して、前記の同期ランダムアクセスメモリが前記のシステムクロック信号に同期してランダムアクセス読み出し動作を行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0158】
(35) 前記のシステムクロック信号の端に応答して、前記の同期ランダムアクセスメモリが前記のシステムクロック信号に同期してランダムアクセス書き込み動作を行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0159】
(36) 前記のシステムクロック信号の端、読み出し信号、バースト選択信号、バースト増分信号に応答して、前記の同期ランダムアクセスメモリが同期バースト昇順読み出し動作を行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0160】
(37) 前記のシステムクロック信号の端、読み出し信号、バースト選択信号、バースト減分信号に応答して、前記の同期ランダムアクセスメモリが同期バースト降順読み出し動作を行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0161】
(38) 前記のシステムクロック信号の端、書き込み信号、バースト選択信号、バースト増分信号に応答して、前記の同期ランダムアクセスメモリが同期バースト昇順書き込み動作を行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0162】
(39) 前記のシステムクロック信号の端、書き込み信号、バースト信号、バースト減分信号に応答して、前記の同期ランダムアクセスメモリが同期バースト降順書き込み動作を行う、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0163】
(40) 記憶セルの前記の配列がスタティックメモリ回路の配列として製作される、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0164】
(41) 記憶セルの前記の配列が金属酸化膜半導体装置として製作される、第40項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0165】
(42) 記憶セルの前記の配列が相補形金属酸化膜半導体回路を含む、第41項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0166】
(43) 記憶セルの前記の配列がバイポーラ相補形金属酸化膜半導体回路を含む、第41項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0167】
(44) 記憶セルの前記の配列がダイナミックメモリ回路の配列として製作される、第30項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0168】
(45) 記憶セルの前記の配列が金属酸化膜半導体装置として製作される、第44項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0169】
(46) 記憶セルの前記の配列が相補形金属酸化膜半導体回路を含む、第45項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0170】
(47) 記憶セルの前記の配列がバイポーラ相補形金属酸化膜半導体回路を含む、第45項記載の同期ランダムアクセスメモリ。
【0171】
(48) 同期ランダムアクセスメモリ30がシステムクロック信号67に直接応答して、関連するマイクロプロセッサに同期して動作する。前記の同期ランダムアクセスメモリは更に同期ランダムアクセス動作に加えて、同期バースト動作(BT)または同期ラップ動作(WT)でデータ25の書き込みまたは読み出しを行う。前記の同期ランダムアクセスメモリ装置はダイナミック記憶装置またはスタティック記憶装置として製作される。
【図面の簡単な説明】
この発明をよく理解するために、以下の図を参照して詳細な説明を読んでいただきたい。
【図1】同期ランダムアクセスメモリを含むデータプロセシングシステムのブロック図。
【図2】同期ランダムアクセスメモリのブロック図。
【図3】同期ランダムアクセス読み出し動作のタイミング図。
【図4】同期ランダムアクセス書き込み動作のタイミング図。
【図5】同期バースト昇順読み出し動作のタイミング図。
【図6】列アドレスカウンタおよびラップアドレススクランブラのブロック図。
【図7】同期バースト降順読み出し動作のタイミング図。
【図8】他の同期バースト昇順読み出し動作のタイミング図。
【図9】他の同期バースト降順読み出し動作のタイミング図。
【図10】同期バースト昇順書き込み動作のタイミング図。
【図11】同期バースト降昇順書き込み動作のタイミング図。
【図12】他の同期バースト昇順書き込み動作のタイミング図。
【図13】他の同期バースト降順書き込み動作のタイミング図。
【図14】同期ラップ読み出し8ビット動作のタイミング図。
【図15】同期ラップ読み出し8ビット動作に用いられる、ラップアドレススクランブラの真理値表を示す図。
【図16】同期ラップ読み出し4ビット動作のタイミング図。
【図17】同期ラップ読み出し4ビット動作に用いられる、ラップアドレススクランブラの真理値表を示す図。
【図18】図17の列アドレスカウンタの1ステージの略ブロック図。
【図19】タイミングゲート回路の論理略図。
【図20】図19のゲート回路の動作のタイミング図。
【図21】他のタイミングゲート回路の論理略図。
【図22】図20のゲート回路の動作のタイミング図。
【図23】図2の同期メモリの、入力マルチプレクサおよび出力マルチプレクサ配列のブロック図。
【図24】同期ランダムアクセスメモリを含む、別のデータプロセシングシステムのブロック図。
【符号の説明】
15 データプロセシングシステム
17 バス
18 制御バス
20 デジタルプロセッサ
24 入力周辺装置
25 データバス
30 同期ランダムアクセスメモリ
32 出力データバス
40 出力周辺装置
42 タイミングおよび制御回路
45 アドレスバス
46、47、56、57 リード線
48 行アドレスバッファ
49 列アドレスバッファ
50 行アドレスデコーダ
51 ロードカウント伝送ゲート
52 列アドレスカウンタ
53 ゲート
54 列アドレスデコーダ
58 上位カウント部
59 下位カウント部
60、62 制御バス
61 ラップアドレススクランブラおよびマルチプレクサ
63、66 リード線
64 データイン・ドライバ
65 システムクロック
67 クロックリード線
73 ラップアドレススクランブラ
74 入力、マルチプレクサ
75 メモリ配列
76、77、78 出力
93 マスクレジスタ
94 カウント制御回路
101、104 ゲート
102 カウント信号ゲート配列
103 オアゲート
110 ブロックゲート回路
116 偶数次バス
120 出力イネーブルゲート
122 奇数次バス
124 出力レジスタ
126 3ビットの8から1の選択回路
128 出力伝送選択ゲート
130 入力伝送選択ゲート
132 入力レジスタ
215 データプロセシングシステム
220 デジタルプロセッサ
221、222 リード線

Claims (20)

  1. データ処理システムであって、
    デジタルプロセッサと、
    前記デジタルプロセッサの動作を制御するシステムクロック信号を生成するためのシステムクロック回路と、
    前記システムクロックに応答してアドレス可能な蓄積セルへデータを書き込み及びデータを読み出しするためのアクセスを行う同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリと、
    行イネーブル信号、列イネーブル信号、第一の外部データ制御信号及び第二の外部データ制御信号を外部から受け取り、前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの書き込み及び読み出し操作を制御する第一のアドレス制御信号、第二のアドレス制御信号、第一のデータ制御信号及び第二のデータ制御信号を前記システムクロックに応答して生成するタイミング及び制御回路と、
    前記第一のデータ制御信号により所定数があらかじめ決定され前記第二のデータ制御信号によりアドレス・シーケンスがあらかじめ決定される前記所定数のデータ・ビットを出力する出力回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの行へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための行アドレスデコーダーと、
    前記第一のアドレス制御信号に応答して、第一のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第一のアドレス信号を前記行アドレスデコーダーへ供給する行アドレス回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの列へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための列アドレスデコーダーと、
    前記第二のアドレス制御信号に応答して、第二のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第二のアドレス信号の最上位の固定される数ビットを前記列アドレスデコーダーへ供給する列アドレス回路からなり、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリにおいて、前記蓄積セルの前記行アドレスデコーダーと列アドレスデコーダーの指定するアドレスから、前記所定数のデータ・ビットが前記出力回路に読み出され、前記アドレス・シーケンスの生成のために、前記ラッチされた第二のアドレス信号の最上位ビットのうち少なくとも1ビットが固定され、前記ラッチされた第二のアドレス信号の前記最上位の固定される数ビットを除いた最下位の数ビットがシステムクロック信号に応答してカウントされ、前記第一のデータ制御信号が前記ラッチされた第二のアドレス信号の固定される最上位ビットの個数を決定するとともに前記出力回路が前記アドレス・シーケンスにしたがって前記所定数のデータ・ビットを出力する、
    データ処理システム。
  2. 前記第二のデータ制御信号が第一の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスが連続順序であり、前記第二のデータ制御信号が第二の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスがインターリーブ順序である、請求項1に記載のデータ処理システム。
  3. 前記出力回路が、前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルから読み出されたデータ・ビットを選択する出力選択回路および前記デジタルプロセッサと接続されたデータ端子を有する、請求項1または2に記載のデータ処理システム。
  4. 前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定される、請求項1、2または3に記載のデータ処理システム。
  5. 前記出力回路が前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルから読み出されたデータ・ビットを選択する出力選択回路および前記デジタルプロセッサと接続されたデータ端子を有し、前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレ スカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定され、前記出力選択回路に接続された前記列アドレスカウンタの出力の最下位ビット少なくとも1ビットが前記第二のデータ制御信号と共に前記出力選択回路を制御する、請求項1または2に記載のデータ処理システム。
  6. データ処理システムであって、
    デジタルプロセッサと、
    前記デジタルプロセッサの動作を制御するシステムクロック信号を生成するためのシステムクロック回路と、
    前記システムクロックに応答してアドレス可能な蓄積セルへデータを書き込み及びデータを読み出しするためのアクセスを行う同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリと、
    行イネーブル信号、列イネーブル信号、第一の外部データ制御信号及び第二の外部データ制御信号を外部から受け取り、前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの書き込み及び読み出し操作を制御する第一のアドレス制御信号、第二のアドレス制御信号、第一のデータ制御信号及び第二のデータ制御信号を前記システムクロックに応答して生成するタイミング及び制御回路と、
    前記第一のデータ制御信号により所定数があらかじめ決定され前記第二のデータ制御信号によりアドレス・シーケンスがあらかじめ決定される前記所定数のデータ・ビットを受け取る入力回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの行へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための行アドレスデコーダーと、
    前記第一のアドレス制御信号に応答して、第一のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第一のアドレス信号を前記行アドレスデコーダーへ供給する行アドレス回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの列へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための列アドレスデコーダーと、
    前記第二のアドレス制御信号に応答して、第二のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第二のアドレス信号の最上位の固定される数ビットを前記列アドレスデコーダーへ供給する列アドレス回路からなり、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリにおいて、前記蓄積セルの前記行アドレスデコーダーと列アドレスデコーダーの指定するアドレスへ、前記所定数のデータ・ビットが前記入力回路に書き込まれ、前記アドレス・シーケンスの生成のため、前記ラッチされた第二のアドレス信号の最上位ビットのうち少なくとも1ビットが固定され、前記ラッチされた第二のアドレス信号の前記最上位の固定される数ビットを除いた最下位の数ビットがシステムクロック信号に応答してカウントされ、前記第一のデータ制御信号が前記ラッチされた第二のアドレス信号の固定される最上位ビットの個数を決定するとともに前記入力回路が前記アドレス・シーケンスにしたがって前記所定数のデータ・ビットを受け取る、
    データ処理システム。
  7. 前記第二のデータ制御信号が第一の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスが連続順序であり、前記第二のデータ制御信号が第二の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスがインターリーブ順序である、請求項6に記載のデータ処理システム。
  8. 前記入力回路が、前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルへ前記所定数のデータ・ビットを供給する入力選択回路および前記デジタルプロセッサと接続されたデータ端子を有する、請求項6または7に記載のデータ処理システム。
  9. 前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定される、請求項6、7または8に記載のデータ処理システム。
  10. 前記入力回路が前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナ ミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルへ前記所定数のデータ・ビットを供給する入力選択回路および前記デジタルプロセッサと接続されたデータ端子を有し、前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定され、前記入力選択回路に接続された前記列アドレスカウンタの出力の最下位ビット少なくとも1ビットが前記第二のデータ制御信号と共に前記入力選択回路を制御する、請求項6または7に記載のデータ処理システム。
  11. システムクロックに応答してアドレス可能な蓄積セルへデータを書き込み及びデータを読み出しするためのアクセスを行う同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリであって、
    行イネーブル信号、列イネーブル信号、第一の外部データ制御信号及び第二の外部データ制御信号を外部から受け取り、前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの書き込み及び読み出し操作を制御する第一のアドレス制御信号、第二のアドレス制御信号、第一のデータ制御信号及び第二のデータ制御信号を前記システムクロックに応答して生成するタイミング及び制御回路と、
    前記第一のデータ制御信号により所定数があらかじめ決定され前記第二のデータ制御信号によりアドレス・シーケンスがあらかじめ決定される前記所定数のデータ・ビットを出力する出力回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの行へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための行アドレスデコーダーと、
    前記第一のアドレス制御信号に応答して、第一のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第一のアドレス信号を前記行アドレスデコーダーへ供給する行アドレス回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの列へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための列アドレスデコーダーと、
    前記第二のアドレス制御信号に応答して、第二のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第二のアドレス信号の最上位の固定される数ビットを前記列アドレスデコーダーへ供給する列アドレス回路からなり、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリにおいて、前記蓄積セルの前記行アドレスデコーダーと列アドレスデコーダーの指定するアドレスから、前記所定数のデータ・ビットが前記出力回路に読み出され、前記アドレス・シーケンスの生成のために、前記ラッチされた第二のアドレス信号の最上位ビットのうち少なくとも1ビットが固定され、前記ラッチされた第二のアドレス信号の前記最上位の固定される数ビットを除いた最下位の数ビットがシステムクロック信号に応答してカウントされ、前記第一のデータ制御信号が前記ラッチされた第二のアドレス信号の固定される最上位ビットの個数を決定するとともに前記出力回路が前記アドレス・シーケンスにしたがって前記所定数のデータ・ビットを出力する、
    同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  12. 前記第二のデータ制御信号が第一の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスが連続順序であり、前記第二のデータ制御信号が第二の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスがインターリーブ順序である、請求項11に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  13. 前記出力回路が、前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルから読み出されたデータ・ビットを選択する出力選択回路を有する、請求項11または12に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  14. 前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定される、請求項11、12または13に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  15. 前記出力回路が前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナ ミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルから読み出されたデータ・ビットを選択する出力選択回路を有し、前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定され、前記出力選択回路に接続された前記列アドレスカウンタの出力の最下位ビット少なくとも1ビットが前記第二のデータ制御信号と共に前記出力選択回路を制御する、請求項11または12に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  16. システムクロックに応答してアドレス可能な蓄積セルへデータを書き込み及びデータを読み出しするためのアクセスを行う同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリであって、
    行イネーブル信号、列イネーブル信号、第一の外部データ制御信号及び第二の外部データ制御信号を外部から受け取り、前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの書き込み及び読み出し操作を制御する第一のアドレス制御信号、第二のアドレス制御信号、第一のデータ制御信号及び第二のデータ制御信号を前記システムクロックに応答して生成するタイミング及び制御回路と、
    前記第一のデータ制御信号により所定数があらかじめ決定され前記第二のデータ制御信号によりアドレス・シーケンスがあらかじめ決定される前記所定数のデータ・ビットを受け取る入力回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの行へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための行アドレスデコーダーと、
    前記第一のアドレス制御信号に応答して、第一のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第一のアドレス信号を前記行アドレスデコーダーへ供給する行アドレス回路と、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの前記蓄積セルの列へ、書き込みまたは読み出しアクセスをするための列アドレスデコーダーと、
    前記第二のアドレス制御信号に応答して、第二のアドレス信号をラッチし、ラッチされた第二のアドレス信号の最上位の固定される数ビットを前記列アドレスデコーダーへ供給する列アドレス回路からなり、
    前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリにおいて、前記蓄積セルの前記行アドレスデコーダーと列アドレスデコーダーの指定するアドレスへ、前記所定数のデータ・ビットが前記入力回路に書き込まれ、前記アドレス・シーケンスの生成のために、前記ラッチされた第二のアドレス信号の最上位ビットのうち少なくとも1ビットが固定され、前記ラッチされた第二のアドレス信号の前記最上位の固定される数ビットを除いた最下位の数ビットがシステムクロック信号に応答してカウントされ、前記第一のデータ制御信号が、前記ラッチされた第二のアドレス信号の固定される最上位ビットの個数を決定するとともに前記入力回路が前記アドレス・シーケンスにしたがって前記所定数のデータ・ビットを受け取る、同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  17. 前記第二のデータ制御信号が第一の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスが連続順序であり、前記第二のデータ制御信号が第二の状態にあるとき、前記所定数のデータ・ビットのアドレス・シーケンスがインターリーブ順序である、請求項16に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  18. 前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルへ前記所定数のデータ・ビットを供給する入力選択回路を有する、請求項16または17に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  19. 前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なくとも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定される、請求項16、17または18に記載の同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリ。
  20. 前記入力回路が前記アドレス・シーケンスに従って前記同期ダイナミック・ランダムアクセスメモリの蓄積セルへ前記所定数のデータ・ビットを供給する入力選択回路を有し、前記列アドレス回路が前記ラッチされた第二のアドレス信号の少なく とも1ビットを蓄積する列アドレスカウンタを有し、前記アドレス・シーケンスの最中、前記列アドレスカウンタの出力の最上位ビットの少なくとも1ビットが固定され、前記入力選択回路に接続された前記列アドレスカウンタの出力の最下位ビット少なくとも1ビットが前記第二のデータ制御信号と共に前記入力選択回路を制御する、請求項16または17に記載のデータ処理システム。
JP11236799A 1991-04-23 1999-04-20 マイクロプロセッサと同期するレイテンシを備えたram、及びデータプロセッサ、シンクロナスdram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム Expired - Lifetime JP3992872B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US69020791A 1991-04-23 1991-04-23
US690207 1991-04-23

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10309492A Division JP3992757B2 (ja) 1991-04-23 1992-04-22 マイクロプロセッサと同期するメモリ、及びデータプロセッサ、同期メモリ、周辺装置とシステムクロックを含むシステム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000029773A JP2000029773A (ja) 2000-01-28
JP3992872B2 true JP3992872B2 (ja) 2007-10-17

Family

ID=24771556

Family Applications (5)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10309492A Expired - Lifetime JP3992757B2 (ja) 1991-04-23 1992-04-22 マイクロプロセッサと同期するメモリ、及びデータプロセッサ、同期メモリ、周辺装置とシステムクロックを含むシステム
JP11238499A Expired - Lifetime JP3992873B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 同期ランダムアクセスメモリ
JP11238899A Expired - Lifetime JP3992874B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 データプロセッサ、同期ram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム
JP11234699A Expired - Lifetime JP3992871B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 同期ランダムアクセスメモリのアクセス方法
JP11236799A Expired - Lifetime JP3992872B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 マイクロプロセッサと同期するレイテンシを備えたram、及びデータプロセッサ、シンクロナスdram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム

Family Applications Before (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10309492A Expired - Lifetime JP3992757B2 (ja) 1991-04-23 1992-04-22 マイクロプロセッサと同期するメモリ、及びデータプロセッサ、同期メモリ、周辺装置とシステムクロックを含むシステム
JP11238499A Expired - Lifetime JP3992873B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 同期ランダムアクセスメモリ
JP11238899A Expired - Lifetime JP3992874B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 データプロセッサ、同期ram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム
JP11234699A Expired - Lifetime JP3992871B2 (ja) 1991-04-23 1999-04-20 同期ランダムアクセスメモリのアクセス方法

Country Status (2)

Country Link
US (6) US5390149A (ja)
JP (5) JP3992757B2 (ja)

Families Citing this family (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6112287A (en) * 1993-03-01 2000-08-29 Busless Computers Sarl Shared memory multiprocessor system using a set of serial links as processors-memory switch
DE68929195T2 (de) * 1988-11-29 2000-12-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Integrierte Schaltung mit synchronem Speicher mit direktem Zugriff, Methode zum Zugriff auf diesen Speicher und System mit einem solchen Speicher
US6751696B2 (en) 1990-04-18 2004-06-15 Rambus Inc. Memory device having a programmable register
US5995443A (en) * 1990-04-18 1999-11-30 Rambus Inc. Synchronous memory device
IL96808A (en) * 1990-04-18 1996-03-31 Rambus Inc Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage
JP2740063B2 (ja) * 1990-10-15 1998-04-15 株式会社東芝 半導体記憶装置
US6223264B1 (en) * 1991-10-24 2001-04-24 Texas Instruments Incorporated Synchronous dynamic random access memory and data processing system using an address select signal
EP0561370B1 (en) * 1992-03-19 1999-06-02 Kabushiki Kaisha Toshiba A clock-synchronous semiconductor memory device and access method thereof
US6310821B1 (en) 1998-07-10 2001-10-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Clock-synchronous semiconductor memory device and access method thereof
US5615358A (en) * 1992-05-28 1997-03-25 Texas Instruments Incorporated Time skewing arrangement for operating memory in synchronism with a data processor
DE69333319T2 (de) * 1992-09-18 2004-09-16 Hitachi, Ltd. Datenverarbeitungssystem mit synchronem, dynamischem Speicher in integrierter Schaltkreistechnik
US5604884A (en) * 1993-03-22 1997-02-18 Compaq Computer Corporation Burst SRAMS for use with a high speed clock
US5861894A (en) 1993-06-24 1999-01-19 Discovision Associates Buffer manager
JP3904244B2 (ja) * 1993-09-17 2007-04-11 株式会社ルネサステクノロジ シングル・チップ・データ処理装置
JP3099931B2 (ja) * 1993-09-29 2000-10-16 株式会社東芝 半導体装置
JP3579461B2 (ja) 1993-10-15 2004-10-20 株式会社ルネサステクノロジ データ処理システム及びデータ処理装置
KR100309800B1 (ko) * 1993-11-08 2001-12-15 윤종용 동기랜덤액세스메모리장치
JP2734957B2 (ja) * 1993-12-24 1998-04-02 日本電気株式会社 半導体記憶回路の制御方法
JP3542380B2 (ja) * 1994-06-06 2004-07-14 株式会社ルネサステクノロジ メモリシステム
TW367656B (en) * 1994-07-08 1999-08-21 Hitachi Ltd Semiconductor memory device
TW304254B (ja) * 1994-07-08 1997-05-01 Hitachi Ltd
JPH0855471A (ja) * 1994-08-12 1996-02-27 Nec Corp 同期型半導体記憶装置
US5923829A (en) 1994-08-25 1999-07-13 Ricoh Company, Ltd. Memory system, memory control system and image processing system
TW399189B (en) * 1994-10-13 2000-07-21 Yamaha Corp Control device for the image display
AU703750B2 (en) * 1994-10-14 1999-04-01 Compaq Computer Corporation Easily programmable memory controller which can access different speed memory devices on different cycles
JP3281211B2 (ja) * 1995-01-31 2002-05-13 富士通株式会社 同期式メモリを有する情報処理装置および同期式メモリ
US5481581A (en) * 1995-05-19 1996-01-02 United Memories, Inc. Programmable binary/interleave sequence counter
KR0154726B1 (ko) * 1995-09-19 1998-12-01 김광호 프리페치방식의 컬럼디코더 및 이를 구비한 반도체 메모리 장치
US6810449B1 (en) 1995-10-19 2004-10-26 Rambus, Inc. Protocol for communication with dynamic memory
US6470405B2 (en) * 1995-10-19 2002-10-22 Rambus Inc. Protocol for communication with dynamic memory
US6035369A (en) 1995-10-19 2000-03-07 Rambus Inc. Method and apparatus for providing a memory with write enable information
US5617555A (en) * 1995-11-30 1997-04-01 Alliance Semiconductor Corporation Burst random access memory employing sequenced banks of local tri-state drivers
US5715476A (en) * 1995-12-29 1998-02-03 Intel Corporation Method and apparatus for controlling linear and toggle mode burst access sequences using toggle mode increment logic
US6055289A (en) * 1996-01-30 2000-04-25 Micron Technology, Inc. Shared counter
US5926828A (en) * 1996-02-09 1999-07-20 Intel Corporation Method and apparatus for controlling data transfer between a synchronous DRAM-type memory and a system bus
US6243768B1 (en) 1996-02-09 2001-06-05 Intel Corporation Method and apparatus for controlling data transfer between a synchronous DRAM-type memory and a system bus
US5835442A (en) * 1996-03-22 1998-11-10 Enhanced Memory Systems, Inc. EDRAM with integrated generation and control of write enable and column latch signals and method for making same
KR100218734B1 (ko) * 1996-05-06 1999-09-01 김영환 싱크로노스 메모리의 내부펄스 신호발생 방법 및 그장치
US6209071B1 (en) 1996-05-07 2001-03-27 Rambus Inc. Asynchronous request/synchronous data dynamic random access memory
JP3455040B2 (ja) * 1996-12-16 2003-10-06 株式会社日立製作所 ソースクロック同期式メモリシステムおよびメモリユニット
US5953263A (en) * 1997-02-10 1999-09-14 Rambus Inc. Synchronous memory device having a programmable register and method of controlling same
JP3523004B2 (ja) * 1997-03-19 2004-04-26 株式会社東芝 同期式ランダムアクセスメモリ
US6014759A (en) 1997-06-13 2000-01-11 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for transferring test data from a memory array
US6115321A (en) * 1997-06-17 2000-09-05 Texas Instruments Incorporated Synchronous dynamic random access memory with four-bit data prefetch
US6266379B1 (en) 1997-06-20 2001-07-24 Massachusetts Institute Of Technology Digital transmitter with equalization
US5883849A (en) * 1997-06-30 1999-03-16 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for simultaneous memory subarray testing
US6044429A (en) 1997-07-10 2000-03-28 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for collision-free data transfers in a memory device with selectable data or address paths
JPH1145568A (ja) * 1997-07-24 1999-02-16 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
US5892729A (en) * 1997-07-25 1999-04-06 Lucent Technologies Inc. Power savings for memory arrays
US5973989A (en) * 1997-08-22 1999-10-26 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for transmitting and receiving data at both the rising edge and the falling edge of a clock signal
KR100275722B1 (ko) * 1997-09-29 2000-12-15 윤종용 동기식 랜덤 엑세스 메모리 제어 장치 및 방법
US6343352B1 (en) 1997-10-10 2002-01-29 Rambus Inc. Method and apparatus for two step memory write operations
AU9693398A (en) * 1997-10-10 1999-05-03 Rambus Incorporated Apparatus and method for pipelined memory operations
US6401167B1 (en) * 1997-10-10 2002-06-04 Rambus Incorporated High performance cost optimized memory
US5943283A (en) * 1997-12-05 1999-08-24 Invox Technology Address scrambling in a semiconductor memory
JPH11203860A (ja) * 1998-01-07 1999-07-30 Nec Corp 半導体記憶装置
US6011733A (en) * 1998-02-26 2000-01-04 Lucent Technologies Inc. Adaptive addressable circuit redundancy method and apparatus
US5970013A (en) * 1998-02-26 1999-10-19 Lucent Technologies Inc. Adaptive addressable circuit redundancy method and apparatus with broadcast write
US5978311A (en) 1998-03-03 1999-11-02 Micron Technology, Inc. Memory with combined synchronous burst and bus efficient functionality
US6081853A (en) * 1998-03-03 2000-06-27 Ip First, Llc Method for transferring burst data in a microprocessor
US5923615A (en) * 1998-04-17 1999-07-13 Motorlola Synchronous pipelined burst memory and method for operating same
US6049505A (en) 1998-05-22 2000-04-11 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for generating memory addresses for testing memory devices
US6128244A (en) * 1998-06-04 2000-10-03 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for accessing one of a plurality of memory units within an electronic memory device
US6405280B1 (en) * 1998-06-05 2002-06-11 Micron Technology, Inc. Packet-oriented synchronous DRAM interface supporting a plurality of orderings for data block transfers within a burst sequence
US6240047B1 (en) 1998-07-06 2001-05-29 Texas Instruments Incorporated Synchronous dynamic random access memory with four-bit data prefetch
KR100306966B1 (ko) * 1998-08-04 2001-11-30 윤종용 동기형버스트반도체메모리장치
US6219283B1 (en) * 1998-09-03 2001-04-17 Micron Technology, Inc. Memory device with local write data latches
US6163852A (en) * 1998-12-07 2000-12-19 Micron Technology, Inc. Apparatus for receiving data from a synchronous random access memory
US6438672B1 (en) 1999-06-03 2002-08-20 Agere Systems Guardian Corp. Memory aliasing method and apparatus
US6425062B1 (en) * 1999-09-14 2002-07-23 Intel Corporation Controlling burst sequence in synchronous memories
US6640266B2 (en) * 2000-03-24 2003-10-28 Cypress Semiconductor Corp. Method and device for performing write operations to synchronous burst memory
JP4011833B2 (ja) 2000-06-30 2007-11-21 株式会社東芝 半導体メモリ
US6606675B1 (en) * 2000-07-20 2003-08-12 Rambus, Inc. Clock synchronization in systems with multi-channel high-speed bus subsystems
JP2002109886A (ja) 2000-09-28 2002-04-12 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US6675272B2 (en) * 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
US8391039B2 (en) * 2001-04-24 2013-03-05 Rambus Inc. Memory module with termination component
TWI258658B (en) * 2003-07-07 2006-07-21 Sunplus Technology Co Ltd Device in CPU using address line to proceed scrambling processing and method thereof
US7042777B2 (en) * 2004-01-28 2006-05-09 Infineon Technologies Ag Memory device with non-variable write latency
US7986733B2 (en) * 2004-07-30 2011-07-26 Broadcom Corporation Tertiary content addressable memory based motion estimator
US7301831B2 (en) * 2004-09-15 2007-11-27 Rambus Inc. Memory systems with variable delays for write data signals
JP2006172240A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Nec Corp データ処理システム及びそのメモリ制御方法
US7419486B2 (en) * 2005-06-15 2008-09-02 St. Jude Medical, Atrial Fibrillation Division, Inc. Treatment and diagnostic catheters with hydrogel electrodes
JP2006244528A (ja) * 2006-06-05 2006-09-14 Renesas Technology Corp マイクロコンピュータ
KR100761848B1 (ko) * 2006-06-09 2007-09-28 삼성전자주식회사 반도체 장치에서의 데이터 출력장치 및 방법
US7885112B2 (en) * 2007-09-07 2011-02-08 Sandisk Corporation Nonvolatile memory and method for on-chip pseudo-randomization of data within a page and between pages
US7606966B2 (en) * 2006-09-08 2009-10-20 Sandisk Corporation Methods in a pseudo random and command driven bit compensation for the cycling effects in flash memory
US7734861B2 (en) * 2006-09-08 2010-06-08 Sandisk Corporation Pseudo random and command driven bit compensation for the cycling effects in flash memory
US10236032B2 (en) * 2008-09-18 2019-03-19 Novachips Canada Inc. Mass data storage system with non-volatile memory modules
JP5343734B2 (ja) * 2009-06-26 2013-11-13 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP4785153B2 (ja) * 2009-10-26 2011-10-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 マイクロコンピュータ及びマイコンシステム
JP2011118932A (ja) * 2011-03-07 2011-06-16 Renesas Electronics Corp マイクロコンピュータ
US8843693B2 (en) 2011-05-17 2014-09-23 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory and method with improved data scrambling
US9251890B1 (en) * 2014-12-19 2016-02-02 Globalfoundries Inc. Bias temperature instability state detection and correction
JP7215427B2 (ja) * 2017-09-27 2023-01-31 ソニーグループ株式会社 無線lan通信装置、無線lan通信方法および無線lan通信プログラム
US11372591B2 (en) * 2020-06-30 2022-06-28 SK Hynix Inc. Memory apparatus, a semiconductor system including the same and an operating method thereof

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4303986A (en) * 1979-01-09 1981-12-01 Hakan Lans Data processing system and apparatus for color graphics display
US4281401A (en) * 1979-11-23 1981-07-28 Texas Instruments Incorporated Semiconductor read/write memory array having high speed serial shift register access
DE2948159C2 (de) * 1979-11-29 1983-10-27 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Integrierter Speicherbaustein mit wählbaren Betriebsfunktionen
JPS5727477A (en) * 1980-07-23 1982-02-13 Nec Corp Memory circuit
GB2112256B (en) * 1981-11-18 1985-11-06 Texas Instruments Ltd Memory apparatus
JPS5956276A (ja) * 1982-09-24 1984-03-31 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPH0782751B2 (ja) * 1983-06-14 1995-09-06 セイコーエプソン株式会社 半導体記憶装置
US4649511A (en) * 1983-07-25 1987-03-10 General Electric Company Dynamic memory controller for single-chip microprocessor
US4618947B1 (en) * 1984-07-26 1998-01-06 Texas Instruments Inc Dynamic memory with improved address counter for serial modes
US4680738A (en) * 1985-07-30 1987-07-14 Advanced Micro Devices, Inc. Memory with sequential mode
JPS62250593A (ja) * 1986-04-23 1987-10-31 Hitachi Ltd ダイナミツク型ram
JPH0612616B2 (ja) * 1986-08-13 1994-02-16 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 半導体記憶装置
JP2684365B2 (ja) * 1987-04-24 1997-12-03 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
US5093807A (en) * 1987-12-23 1992-03-03 Texas Instruments Incorporated Video frame storage system
US4916670A (en) * 1988-02-02 1990-04-10 Fujitsu Limited Semiconductor memory device having function of generating write signal internally
KR940008295B1 (ko) * 1989-08-28 1994-09-10 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 반도체메모리
US5179670A (en) * 1989-12-01 1993-01-12 Mips Computer Systems, Inc. Slot determination mechanism using pulse counting
JPH03230395A (ja) * 1990-02-02 1991-10-14 Hitachi Ltd スタティック型ram
US5243703A (en) * 1990-04-18 1993-09-07 Rambus, Inc. Apparatus for synchronously generating clock signals in a data processing system
US5280594A (en) * 1990-07-25 1994-01-18 Advanced Micro Devices, Inc. Architecture for high speed contiguous sequential access memories
US5077693A (en) * 1990-08-06 1991-12-31 Motorola, Inc. Dynamic random access memory
US5546343A (en) * 1990-10-18 1996-08-13 Elliott; Duncan G. Method and apparatus for a single instruction operating multiple processors on a memory chip
US5126975A (en) * 1990-10-24 1992-06-30 Integrated Device Technology, Inc. Integrated cache SRAM memory having synchronous write and burst read
US5319759A (en) * 1991-04-22 1994-06-07 Acer Incorporated Burst address sequence generator
GB2259589A (en) * 1991-09-12 1993-03-17 Motorola Inc Self - timed random access memories

Also Published As

Publication number Publication date
US5982694A (en) 1999-11-09
US5808958A (en) 1998-09-15
US6088280A (en) 2000-07-11
JP3992871B2 (ja) 2007-10-17
JP2000029775A (ja) 2000-01-28
JP2000029774A (ja) 2000-01-28
US5587954B1 (en) 1998-06-23
JP3992874B2 (ja) 2007-10-17
JPH05120114A (ja) 1993-05-18
US5587954A (en) 1996-12-24
JP3992873B2 (ja) 2007-10-17
JP2000029772A (ja) 2000-01-28
JP3992757B2 (ja) 2007-10-17
US5390149A (en) 1995-02-14
JP2000029773A (ja) 2000-01-28
US5912854A (en) 1999-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3992872B2 (ja) マイクロプロセッサと同期するレイテンシを備えたram、及びデータプロセッサ、シンクロナスdram、周辺装置とシステムクロックを含むシステム
JP3304893B2 (ja) メモリ選択回路及び半導体メモリ装置
US5261068A (en) Dual path memory retrieval system for an interleaved dynamic RAM memory unit
US5729709A (en) Memory controller with burst addressing circuit
US6356987B1 (en) Microprocessing device having programmable wait states
US4888741A (en) Memory with cache register interface structure
JPH0740430B2 (ja) メモリ装置
EP0468141A2 (en) Memory
US5835970A (en) Burst address generator having two modes of operation employing a linear/nonlinear counter using decoded addresses
JPH03206543A (ja) 同期化回路
US6775201B2 (en) Method and apparatus for outputting burst read data
EP0421627B1 (en) Memory device
JP2982618B2 (ja) メモリ選択回路
KR0172025B1 (ko) 반도체 기억 장치
JPH10177790A (ja) メモリ素子のプリフェッチ方法及びこれを適用したメモリ構造
JP3102754B2 (ja) 情報利用回路
JPS6383844A (ja) マイクロプロセツサシステム
JPH0778989B2 (ja) 半導体メモリ装置
SU1287172A1 (ru) Устройство формировани маршрута сообщени в однородной вычислительной системе
KR950003883B1 (ko) 메모리제어논리장치
JP2680328B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6080193A (ja) メモリシステム
JPH04117696A (ja) 半導体メモリ装置
JPH07141880A (ja) メモリ装置及びデータ処理装置
JPH03263686A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20040910

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20050303

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20050308

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070612

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070725

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100803

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110803

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110803

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120803

Year of fee payment: 5

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120803

Year of fee payment: 5