JP3472291B2 - 磁気記録媒体及びその製造方法並びに磁気記憶装置 - Google Patents

磁気記録媒体及びその製造方法並びに磁気記憶装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】技術分野 本発明は、磁気記録媒体及びその製造方法並びに磁気記
憶装置に関し、更に詳細には、ハードディスク、フロッ
ピーディスク(登録商標)のようにヘッドが一時的また
は定常的に接触するタイプの磁気記録媒体及びその製造
方法並びに磁気記憶装置に関する。
【0002】背景技術 近年の高度情報化社会の進展に対応して、情報記録装置
の大容量化・高密度化に対するニーズは高まる一方であ
る。かかるニーズに応える情報記録装置の一つとして磁
気記憶装置が知られている。磁気記憶装置は、例えば、
大型サーバー、並列型コンピュータ、パーソナルコンピ
ュータ、ネットワークサーバー、ムービーサーバー、モ
バイルPC等の大容量記憶装置として使用されている。
磁気記憶装置は、情報が記録される磁気記録媒体と、磁
気記録媒体の情報を記録再生するための磁気ヘッドを備
える。磁気記録媒体は、円板状の基板の上に記録層とし
てコバルト合金などの強磁性薄膜がスパッタ法などによ
り形成されており、記録層上には、耐摺動性、耐食性を
高めるために、保護膜と潤滑膜が形成されている。
【0003】磁気記憶装置の大容量化に伴って、磁気記
録媒体の記録層に微細な記録磁区を記録することによる
磁気記録媒体の記録密度の向上が進められており、記録
磁区を微細に記録するための方法として垂直磁気記録方
式が注目されている。垂直磁気記録方式では、垂直磁化
を示す記録層を有する磁気記録媒体を用いて、記録層に
垂直磁化を有する磁区を形成することによって磁気記録
を行なう。かかる垂直磁気記録方式では記録層に微細な
磁区を形成できるため磁気記録媒体の記録密度を高める
ことができる。
【0004】かかる垂直磁気記録方式に従う磁気記録媒
体の記録層の材料としては、従来、Co−Cr系の多結
晶膜が用いられてきた。この多結晶膜は、強磁性を有す
るCoリッチな領域と非磁性のCrリッチな領域とが互
いに分離された構造を有し、非磁性領域が、隣り合う強
磁性領域の間で働く磁気的相互作用を断ち切っている。
これにより高密度化と低ノイズを実現している。
【0005】また、垂直磁気記録方式においては、磁気
ヘッドからの磁界を効率よく記録層に印加させるため
に、軟磁性材料からなる軟磁性層と、硬磁性材料からな
り、情報を記録するための記録層とを組み合わせた2層
の磁性膜を備える磁気記録媒体が提案されている。
【0006】磁気記録媒体の面記録密度を更に向上させ
るためには、媒体ノイズを低減させる必要がある。その
ためには、磁化反転単位の微細化や読み取りヘッドの高
感度化が有効なことがわかっている。このうち、磁化反
転単位を微細化するには、磁性結晶粒を微細化すればよ
いことがわかっている。しかし、磁性結晶粒をあまり微
細化してしまうと、磁性結晶粒の磁化状態が熱的に不安
定になる、いわゆる熱減磁を起こしてしまう。これを防
ぐために、例えば、特開平8−30951号公報には、
非磁性基板上に、軟磁性層、炭素からなる第1中間層、
第2中間層及び人工格子構造を持つ記録膜を順に積層し
た磁気記録媒体が開示されている。
【0007】ところで、磁気記録媒体の記録層として、
上述のCo−Cr系の多結晶膜よりも高い磁気異方性を
有し、熱擾乱に対する耐性に優れる磁性層の研究が進め
られており、かかる磁性層として、例えば、CoとPd
もしくはCoとPtを交互に積層した人工格子多層膜
(交互積層多層膜ともいう)や、FeとPtもしくはC
oとPtなどの合金膜を高温で熱処理することによって
得られる規則格子合金膜などが知られている。これら人
工格子多層膜や規則格子合金膜は、高い磁気異方性を有
するため、熱擾乱に対しては高い耐性が期待される。
【0008】しかしながら、これらの膜はCo−Cr系
多結晶膜と異なり、面内方向(基板表面に対して平行な
方向)の磁気的相互作用が強いために小さな磁区が形成
できず、転移性の媒体ノイズが大きいという欠点があっ
た。前述の特開平8−30951号公報に開示されてい
る磁気記録媒体では、軟磁性層上に形成した炭素からな
る第1中間層の上にPtまたはPdからなる第2中間層
を設け、その上にCo/PtあるいはCo/Pd人工格
子膜を形成することにより、人工格子膜の結晶配向を向
上させ、垂直磁気異方性を高くして保磁力を向上させて
いる。しかしながら、かかる磁気記録媒体では、記録層
の面内方向の磁気的交換結合力が強くなり、線記録密度
が高くなったときにジッターとして現れる遷移ノイズが
高くなってしまい、高記録密度の記録再生は困難であっ
た。また、第1中間層と第2中間層の2つの中間層を用
いているため、磁気ヘッドからの書き込み磁界が軟磁性
層まで有効に到達せず、飽和記録特性が劣るという問題
があった。
【0009】特許公報第2727582号には、耐蝕
性、耐久性等の実用特性に優れるとともに、垂直磁気特
性、磁気光学特性に優れる垂直磁気記録膜として、F
e、Co、Niのいずれかの酸化物あるいは任意の組み
合わせによる複合酸化物からなる下地膜の上にCo−P
t人工格子膜が積層されてなる垂直磁化膜が開示されて
いる。
【0010】本発明は、上記従来技術の問題を解決する
ためになされたものであり、その目的は、記録層の面内
方向の磁気的交換結合力が低く、遷移ノイズが低減さ
れ、高S/Nで情報を再生できる磁気記録媒体及びその
製造方法を提供することにある。
【0011】本発明の別の目的は、優れた耐熱擾乱特性
を備え、高い面記録密度で情報を記録してもその情報を
高S/Nで再生できる磁気記憶装置を提供することにあ
る。
【0012】発明の開示 本発明の第1の態様に従えば、磁気記録媒体であって、
基板と;該基板上に直接または間接的に形成された、F
e酸化物を含む第1シード層と;第1シード層上に直接
形成された、Pd及びPtの少なくとも一方の白金族元
素とSiとNとを含む第2シード層と;第2シード層上
に直接形成された、Pd及びPtの少なくとも一方の白
金族元素層とCo層とを交互に積層して形成された記録
層と;を備えた磁気記録媒体が提供される。
【0013】本発明の第1の態様の磁気記録媒体は、記
録層の下地として、Pd及びPtの少なくとも一方とS
iとNとを含む第2シード層を備え、更に、第2シード
層の下地としてFe酸化物を含む第1シード層を備えて
いる。かかる第1シード層及び第2シード層は、記録層
を白金族元素とCoの交互積層膜から構成した場合に、
その交互積層膜の結晶配向性及び結晶粒子の磁気的交換
結合力を最適に制御することができる。本発明では、上
記記録層が人工格子構造で垂直磁化を示し、上記基板と
第1シード層との間に軟磁性層が形成されていることが
好ましい。
【0014】本発明者らの研究によると、第2シード層
を例えばPd結晶のみから形成した場合、記録層に形成
される記録磁区のサイズが大きくなってしまい、微細な
記録磁区を形成することができなかった。これは、第2
シード層をPd結晶のみから形成した場合、第2シード
層上には粒界が不明瞭な記録層が形成され、記録層の結
晶粒子間で働く面内方向における磁気的交換結合力が強
くなっているためであると考えられる。本発明者らは、
第2シード層を、Pd及びPtの一方とSiとNとから
構成したところ、記録層に微細な磁区を形成することが
できるとともにノイズも低減できることを見出した。こ
れは以下の理由によると考えられる。
【0015】第2シード層を、Pd及びPtの一方とS
iとNとから構成すると、PdまたはPtがSiN(或
いはSiN網構造)中に微結晶或いは部分的非晶質構造
として分散して存在すると考えられる。しかも、このよ
うな第2シード層のSiN中のPdまたはPtの分散
は、Fe酸化物を含む第1シード層を下地として用いて
いることにより、後述する原理により一層促進されてい
る。第2シード層上に形成される交互積層構造を有する
記録層は、分散したPdまたはPtを核として成長する
ため、第2シード層上には、粒界が明瞭な記録層が形成
されると考えられる。したがって、記録層の結晶粒子間
で働く面内方向の磁気的交換結合力が低減され、遷移性
ノイズが低減する。特に第2シード層中の微量のNは、
Siと結合することにより、PdまたはPtの分散を更
に促進させることができるため、記録層の面内方向の磁
気的交換結合力を更に弱めることができる。これにより
遷移性ノイズをより一層低減することができる。
【0016】ここで、Fe酸化物を含む第1シード層を
第2シード層の下地として用いることにより、第2シー
ド層のSiN中のPdまたはPtの分散が一層促進され
る理由について説明する。
【0017】本発明者らの知見によると、第2シード層
を構成する元素のうち金属元素であるPdまたはPt
は、第1シード層を構成するFe酸化物に対して濡れ性
が低い。このため、Fe酸化物を含む第1シード層上に
PdまたはPtを含む第2シード層を形成したときに、
Fe酸化物に対して濡れ性の低いPdまたはPtは、表
面張力によりFe酸化物の層上で一層分散して形成され
ると考えられる。このため、SiN(或いはSiN網構
造)中に微結晶或いは部分的非晶質構造として存在する
PdまたはPtの分散が一層促進されていると考えられ
る。このように、Fe酸化物を含む第1シード層上に、
Pd及びPtの一方とSiとNとを含む第2シード層を
形成し、かかる第2シード層上に記録層を形成すること
により、上述の原理に従って、記録層には極めて微細な
結晶粒子の集合体が形成される。微細な結晶粒子の集合
体から構成された記録層には、微小な記録磁区を形成す
ることができるとともに磁化遷移領域も極めて明瞭にな
るため、従来よりもノイズを低減することができる。
【0018】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、第2シード層中のSi及びNの含有量は、Siが1
0at%〜35at%、より望ましくは20at%〜30at%
の範囲内であり、Nが0.1at%〜5at%、より望まし
くは0.5at%〜5at%の範囲内にあることが望まし
い。第2シード層中のSiとNの含有量をかかる範囲に
制御することにより、記録層の結晶配向と面内方向の磁
気的交換結合力とを最適化することができる。これによ
り、記録層に微細な記録磁区を確実に形成することがで
きるとともに、磁化遷移領域も明瞭となるためノイズを
低減することができる。すなわち、ノイズの低減と分解
能の向上を実現することができる。また、更に、第2シ
ード層は微量のCoを含み得る。この場合、第2シード
層中のSi及びNの含有量が上記範囲を満たしつつ、C
oの含有量が1at%〜10at%の範囲内にあることが好
ましい。また、第2シード層は、微結晶構造あるいは微
結晶の構造内に部分的に非晶質が存在するような構造を
有することが好ましい。
【0019】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、第1シード層はFe酸化物に加え、金属として存在
するFe(以下、Fe金属という)を含むことが好まし
く、かかるシード層を備える磁気記録媒体は一層媒体ノ
イズを低減することができる。その理由について以下に
説明する。
【0020】Fe酸化物に加えてFe金属を含んでなる
第1シード層は、Fe酸化物中に極めて微小なFe金属
粒子が分散した状態であると考えられる。上述したよう
に、Fe酸化物は、例えば第2シード層を構成するPd
またはPtに対して濡れ性が低い。一方、Fe金属はP
dまたはPtに対して濡れ性が高い。そのため、Fe金
属粒子がFe酸化物中で分散した第1シード層上にPd
またはPtを堆積すると、PdまたはPtはFe金属に
選択的に吸着する。このとき、第1シード層中のFe金
属は極めて微小であるため、Fe金属に吸着したPdま
たはPtは、前述のFe酸化物からなるシード層上に形
成した場合よりも一層微小となる。しかも、Fe金属の
周囲には、PdまたはPtに対して濡れ性の低いFe酸
化物が存在するため、第1シード層上に堆積されたPd
またはPtは、二次元的に、すなわち面内方向に広がる
ことが制限され、微小な状態を維持したまま所定の間隔
で個別に分散すると考えられる。したがって、第2シー
ド層のSiN(或いはSiN網構造)中におけるPdま
たはPtは極めて微小な状態で分散して存在していると
考えられる。かかる第2シード層上に記録層を形成する
と、微小に分散したPdまたはPtを単位として記録層
の磁性粒子が成長するため、微小な磁性粒子から形成さ
れた記録層が得られる。これにより、記録層に形成され
る磁区もまた微細化し、ノイズを一層低減することが可
能となる。
【0021】また、本発明においては、第1シード層中
に金属として存在するFeの原子数をFeMetとし、
酸化物として存在するFeの原子数をFeOxiとした
ときに、それらの原子数比(FeMet/FeOxi
が0.02<(FeMet/FeOxi)<0.2を満
足することが好ましい。上記原子数比が0.02よりも
大きいときに、記録層に高密度に情報を記録することが
できるとともに高S/Nでその情報を再生することがで
きる。しかし、上記原子数比が0.2よりも大きくなる
と、シード層中のFe金属が多くなりすぎて白金族元素
の吸着に選択性がなくなって記録層に微小な磁性粒子を
形成できなくなるおそれがある。
【0022】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、Fe酸化物を含む第1シード層は、全体として80
vol%以上のFe酸化物を含むことが好ましい。
【0023】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、第1及び第2シード層の膜厚は、ともに1nm〜3
0nmの範囲内にあることが望ましい。第1及び第2シ
ード層の膜厚がともに1nm未満であると、その上の人
工格子構造の記録層の結晶配向を制御できなくなるおそ
れがある。また、第1及び第2シード層の膜厚がともに
30nmよりも厚くなると記録用磁気ヘッドの磁極と軟
磁性層との距離が増加して、記録用磁気ヘッドからの記
録磁界が記録層に十分に印加されなくなるおそれがあ
る。また、記録層に、記録用磁気ヘッドからの磁界が広
がった状態で印加されてしまい分解能が低下したり、磁
化遷移領域の乱れが増加してジッター性のノイズの原因
となるおそれがある。
【0024】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、記録層は、人工格子構造を有する記録層にし得る。
かかる人工格子構造を有する記録層は、主として白金族
元素とCoとから構成されることが好ましく、白金族元
素とCoとを数原子程度または単原子程度の厚みで交互
に積層した交互積層多層膜であることが好ましい。白金
族元素は例えばPt及びPdの少なくとも一方を用い得
る。かかる交互積層多層膜は室温または比較的低い基板
温度で成膜することができ、しかも大きな磁気異方性を
有するため、高密度記録用の記録層として最適である。
【0025】本明細書において、用語「人工格子構造」
とは、複数の異なる物質を単原子或いは数原子の厚さで
一方向に互いに周期的に積層して得られる構造を意味す
る。かかる人工格子構造を有する膜のことを人工格子膜
或いは交互積層多層膜とも呼ぶ。
【0026】人工格子構造を有する記録層としては、
0.05nm〜0.5nmの範囲から選択された膜厚を
有するCo層と、0.5nm〜2nmの範囲内から選択
された膜厚を有するPd層とを交互に積層したCo/P
d人工格子膜、あるいは、0.05nm〜0.5nmの
範囲内から選択された膜厚を有するCo層と、0.1n
m〜2nmの範囲内から選択された膜厚を有するPt層
とを交互に積層したCo/Pt人工格子膜であることが
望ましい。かかる構造の人工格子膜は最も垂直磁気異方
性が発現しやすい。
【0027】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、上述のCo/Pd人工格子膜、またはCo/Pt人
工格子膜を用いて記録層を形成した場合、Pd層あるい
はPt層に添加元素を含んでもよい。このように、Pd
層あるいはPt層中に添加元素を含ませることによって
組成の揺らぎが発生し、記録層の面内方向の磁気的交換
結合力を低減することができる。添加元素は、Si、A
l、Zr、TiまたはBが望ましく、特にBが好まし
い。Pd層あるいはPt層への添加であればCo層への
添加に比べて磁気特性の劣化が少ない。
【0028】また、Co/Pd人工格子膜、あるいはC
o/Pt人工格子膜中のCoは面内方向において不連続
に分布していることが好ましい。ここで、「人工格子膜
中のCoは面内方向において不連続に分布している」と
は、人工格子膜の断面構造を観察したときに、Co層の
断面は実質的に層状であるように観察されるが、平面観
察をするとCoからなる領域が平面上でアイランド状に
分散したような構造を有していることを意味する。すな
わち、人工格子膜中のCo層が連続膜として形成されて
おらず、Coからなる複数の領域がアイランド状に分散
している状態である。このように人工格子膜中で不連続
に分布しているCoは磁気的交換結合力を部分的に切断
するので、記録層の面内方向の磁気的交換結合力を低減
することができる。
【0029】また、人工格子構造の記録層は、例えば、
円柱形状(カラム状)の結晶粒子の集合体から形成され
得る。カラム状の結晶粒子の回転軸に対して垂直な断面
における直径は2nm〜15nmにし得、結晶粒子の表
面の最上部と、最下部(結晶粒子の境界部の高さ位置)
との差は1nm〜10nmにし得る。かかる構造を有す
る記録層は面内方向の磁気的交換結合力が低減してお
り、記録層に微細な記録磁区を形成しても、その磁区は
安定に存在し、また、磁化遷移領域の直線性も高い。そ
れゆえ、再生時にノイズを一層低減することができる。
【0030】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、人工格子構造を有する記録層は、例えば、交互に膜
を形成することが可能なスパッタ装置を用いて形成する
ことができる。例えば、異なる材料から構成された2つ
以上のターゲットを並設し、それぞれのターゲットに対
して基板キャリアを交互に相対移動させることによって
も形成することができる。或いは、直径の異なる少なく
とも2種類のリング型ターゲットを同一平面で且つ同軸
上に配置し、それらターゲットに対向するように基板を
配置させ、リング型ターゲットを交互に放電させること
により成膜することも可能である。
【0031】人工格子構造の記録膜の膜厚としては、磁
気特性の点から5nm〜60nmが好適である。記録層
は、基板表面に対して垂直な方向で測定したときの保磁
力が1.5〔kOe(キロエルステッド)〕〜10〔k
Oe〕であることが望ましく、記録層の膜厚tと残留磁
化Mrの積である(Mr・t)が、0.3〜1.0〔m
emu/cm〕の範囲にあることが望ましい。保磁力
が1.5〔kOe〕よりも小さくなると、高記録密度
(600kFCI以上)で記録した情報を再生したとき
の出力が小さくなるおそれがある。また、磁気異方性エ
ネルギーが小さくなり、熱減磁しやすくなるおそれがあ
る。また、Mr・tの値が1.0〔memu/cm
より大きくなると分解能が低下し、0.3〔memu/
cm〕よりも小さくなると出力が小さくなりすぎるた
め、150ギガビット/平方インチ以上の高記録密度を
行ったときに十分な記録再生特性を得ることが困難とな
るおそれがある。
【0032】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、軟磁性層は、磁気ヘッドからの磁界を記録層に効率
的に印加するという観点から、Fe中にTa、Nb、Z
rのうちより選ばれる少なくとも1種類の元素の窒化物
あるいは炭化物を均一に分散させた微結晶構造を有する
軟磁性膜が好適である。また、かかる材料以外に、例え
ば、Co−Zrを主体とし、これにTa、Nb、Tiの
うちより選ばれる少なくとも1種類の元素を含んだ非晶
質合金であってもよい。これらの軟磁性膜は1.5T以
上の大きな飽和磁束密度を有するため高密度記録に適し
ている。具体的な材料としては、高透磁率を有するNi
Fe、CoTaZr、CoNbZr、FeTaC等を用
いることができ、これらの材料からなるな磁性層は、膜
厚1000nm以下でスパッタ法や蒸着法等によって形
成することができる。
【0033】本発明の磁気記録媒体においては、軟磁性
層の表面が平坦であることが好ましく、軟磁性層の表面
の表面粗さRaは0.20nm〜0.40nmであるこ
とが好ましい。このように、表面が平坦な軟磁性層を用
いると、後述する実施例に示すように、記録層の磁性結
晶粒子の境界すなわち結晶粒界は極めて明瞭となり、記
録層の磁性結晶粒子の孤立化が一層促進される。かかる
記録層の磁性結晶粒子は結晶粒界によって磁気的に分断
されているため、面内方向の磁気的交換結合力が低減し
ている。これにより記録層には微小な磁区を形成するこ
とが可能となるとともに磁化遷移領域の直線性が高くな
る。軟磁性層の表面を平坦にすることにより、記録層の
結晶粒界が明瞭となるのは以下の原理によるものと考え
られる。
【0034】軟磁性層上シード層を成膜するとき、軟磁
性層表面に凹凸が存在すると、スパッタ粒子が凹凸部に
捕獲されてしまうと考えられる。このため、軟磁性層上
には、シード層を構成する粒子が十分な間隔で隔てられ
ることなく成長した初期成長層が形成されると考えられ
る。一方、軟磁性層の表面が平坦であると、軟磁性層表
面に到達したスパッタ粒子はその面方向に十分拡散する
ため、シード層を形成する粒子が互いに十分に隔てられ
た状態で成長した初期成長層が成膜される。このように
十分な間隔で隔てられた初期成長層に基づいて形成され
たシード層は、SiN(或いはSiN網構造)中におい
て微結晶或いは部分的非晶質構造として存在するPdま
たはPtも十分な間隔で隔てられ、分散が一層促進され
ているものと考えられる。このようにPdまたはPtの
分散が一層促進されたシード層上に記録層を成膜するこ
とにより、記録層に極めて明瞭な結晶粒界が得られてい
ると考えられる。軟磁性層の表面を平坦にするには、例
えば、軟磁性層の成膜後、表面をドライエッチングすれ
ばよい。
【0035】本発明の第1の態様の磁気記録媒体におい
て、基板には、例えば、アルミニウム・マグネシウム合
金基板、ガラス基板、グラファイト基板などの非磁性基
板を用い得る。アルミニウム・マグネシウム合金基板に
は、表面をニッケル・リンでメッキしてもよい。基板を
回転させながら、基板表面にダイヤモンド砥粒や研磨用
テープを押し当てることにより基板表面を平坦に処理し
てもよい。これにより、磁気記録媒体上を磁気ヘッドを
浮上させたときに、磁気ヘッドの走行特性を向上させる
ことができる。基板表面の中心線粗さRaは、基板上に
形成される保護膜の中心線粗さが1nm以下となるよう
に望ましい。ガラス基板においては、強酸などの薬品に
より表面を化学的にエッチングして平坦化してもよい。
また、化学的に表面に微細な高さ、例えば、1nm以下
の突起を形成することにより、負圧スライダーを用いた
場合に安定な低浮上量を実現することができる。
【0036】磁気記録媒体の基板上には、上記軟磁性層
を成膜する前に密着性を向上させるためにTiなどの接
着層を形成しても良い。
【0037】本発明の第1の態様の磁気記録媒体は記録
層上に保護層を備え得る。保護膜としては、例えば、非
晶質炭素、ケイ素含有非晶質炭素、窒素含有非晶質炭
素、ホウ素含有非晶質炭素、酸化ケイ素、酸化ジルコニ
ウム及び立方晶窒化ホウ素のうちのいずれか一種を好適
に用いることができる。これら非晶質炭素保護膜の形成
方法としては、例えば、グラファイトをターゲットとし
た不活性ガス中、あるいは不活性ガスとメタンなどの炭
化水素ガスの混合ガス中のスパッタリングによって形成
する方法や、炭化水素ガス、アルコール、アセトン、ア
ダマンタンなどの有機化合物を単独あるいは水素ガス、
不活性ガスなどを混合してプラズマCVDにより形成す
る方法、あるいは有機化合物をイオン化して電圧をかけ
て加速し、基板に衝突させて形成する方法などがある。
更には、高出力のレーザー光をレンズで集光し、グラフ
ァイト等のターゲットに照射するアブレーション法によ
って保護膜を形成してもよい。
【0038】保護膜の上には、耐摺動特性を良好なもの
にするために、潤滑剤を塗布することができる。潤滑剤
としては、主鎖構造が炭素、フッ素、酸素の3つの元素
からなるパーフルオロポリエーテル系高分子潤滑剤が用
いられる。或いは、フッ素置換アルキル化合物を潤滑剤
として用いることもできる。安定な摺動と耐久性を有す
る材料であれば、他の有機系潤滑剤や無機系潤滑剤を用
いてもよい。
【0039】これらの潤滑剤の形成方法としては溶液塗
布法が一般的である。また、地球温暖化を防ぐため、あ
るいは工程を簡略化するために、溶剤を使わない光CV
D法によって潤滑膜を形成してもよい。光CVD法は、
フッ化オレフィンと酸素の気体原料に紫外光を照射する
ことによって行われる。
【0040】潤滑剤の膜厚としては、平均値として0.
5nm〜3nmが適当である。0.5nmより薄いと潤
滑特性が低下し、3nmよりも厚くなるとメニスカス力
が大きくなり、磁気ヘッドと磁気ディスクの静摩擦力
(スティクション)が大きくなるため好ましくない。こ
れら潤滑膜を形成した後に100℃前後の熱を1〜2時
間窒素中あるいは空気中で与えてもよい。これにより、
余分な溶剤や低分子量成分を飛ばして潤滑膜と保護膜の
密着性を向上させることができる。かかる後処理以外
に、例えば、潤滑膜形成後に紫外線ランプにより紫外線
を短時間照射させる方法を用いてもよく、かかる方法に
よっても同様の効果が得られる。
【0041】本発明の第2の態様に従えば、磁気記録媒
体の製造方法であって、基板を用意する工程と;上記基
板上に、直接または間接的に、Fe酸化物を含む第1シ
ード層を形成する工程と;第1シード層上に、直接、P
d及びPtの少なくとも一方の白金族元素とSiとNと
を含む第2シード層を形成する工程と;第2シード層上
に、直接、Pd及びPtの少なくとも一方の白金族元素
層とCo層とを交互積層して記録層を形成する工程と;
を含む磁気記録媒体の製造方法が提供される。本発明で
は、さらに、上記基板と第1シード層との間に軟磁性層
を形成する工程を含むことが望ましい。
【0042】本発明の第2の態様の製造方法において
は、例えば、Feを主体とするターゲットを、酸素を含
むスパッタガスを用いて反応性スパッタすることによっ
て第1シード層を形成することができる。かかる方法に
より形成された第1シード層はFe酸化物を含んでい
る。
【0043】本発明の第2の態様の製造方法において、
第1シード層上に、Pd及びPtの少なくとも一方とS
iとNとを含む第2シード層を形成するには、例えば、
PdターゲットとSiNターゲットの2種類のターゲッ
トを用いてスパッタを行なえばよい。
【0044】本発明の第2の製造方法において、人工格
子構造を有する記録層として、例えば、白金族元素とC
o元素の人工格子膜を第2シード層上に形成するには、
白金族元素を用いて形成されたターゲットとCoを用い
て形成されたターゲットとを用い、それらターゲットの
シャッターを交互に開閉しながらスパッタすることによ
り形成することができる。
【0045】また、本発明の第2の態様の製造方法で
は、スパッタガス中の酸素ガスの流量を制御することに
よって、Fe酸化物に加えてFe金属を含んだシード層
を形成することができる。Fe酸化物とFe金属とを含
むシード層は、前述したように、記録層の下地として用
いた場合に、記録層に微小な磁性粒子の集合体を形成す
ることができるので、かかるシード層を備える磁気記録
媒体は媒体ノイズを一層低減することができる。
【0046】本発明の第2の態様の製造方法において、
軟磁性層、第1シード層、第2シード層及び記録層の形
成方法としては、例えば、真空蒸着法、MBE法、スパ
ッタ法、イオンビーム法、分子層エピタキシー法、プラ
ズマCVD等を用いることができる。スパッタ法として
は、例えば、ECRスパッタ法、DCスパッタ法、RF
スパッタ法など既に知られたスパッタ法を用いることが
できる。
【0047】本発明の第3の態様に従えば、第1の態様
の磁気記録媒体と;情報を記録または再生するための磁
気ヘッドと;上記磁気記録媒体を上記磁気ヘッドに対し
て駆動するための駆動装置と;を備える磁気記憶装置が
提供される。
【0048】本発明の磁気記憶装置は、本発明の第1の
態様の磁気記録媒体を備えるので、高い面記録密度で情
報を記録してもその情報を高S/Nで再生できるととも
に、優れた耐熱擾乱特性を備えている。
【0049】本発明の磁気記憶装置において、磁気ヘッ
ドは、磁気記録媒体に情報を記録するための記録用磁気
ヘッドと、磁気記録媒体に記録された情報を再生するた
めの再生用磁気ヘッドとから構成され得る。記録用磁気
ヘッドのギャップ長は、0.2μm〜0.02μmが望
ましい。ギャップ長が0.2μmを越えると、400k
FCI以上の高い線記録密度で記録することが困難にな
る。また、ギャップ長が0.02μmより小さい記録ヘ
ッドは製造が困難であり、静電気誘起による素子破壊が
起こりやすくなる。
【0050】再生用磁気ヘッドは、磁気抵抗効果素子を
用いて構成することができる。再生用磁気ヘッドの再生
シールド間隔は、0.2μm〜0.02μmが望まし
い。再生シールド間隔は、再生分解能に直接関係し、短
いほど分解能が高くなる。再生シールド間隔の下限値
は、素子の安定性、信頼性、耐電気特性、出力等に応じ
て上記範囲内で適宜選択することが望ましい。
【0051】本発明の磁気記憶装置において、駆動装置
は、磁気記録媒体を回転駆動させるスピンドルを用いて
構成することができ、スピンドルの回転速度は毎分30
00回転〜20000回転が望ましい。スピンドルの回
転速度が毎分3000回転より遅いとデータ転送速度が
低くなるため好ましくない。また、毎分20000回転
を越えると、スピンドルの騒音や発熱が大きくなるため
望ましくない。これらの回転速度を勘案すると、磁気記
録媒体と磁気ヘッドの最適な相対速度は2m/秒〜3m
/秒となる。
【0052】発明を実施するための最良の形態 以下、本発明に従う磁気記録媒体及びそれを用いた磁気
記憶装置の実施例について図面を用いて具体的に説明す
る。以下の実施例では、磁気記録媒体として、磁気ディ
スク(ハードディスク)を作製したが、本発明は、フロ
ッピーディスク(登録商標)、磁気テープ、磁気カード
などのように、記録または再生時に磁気ヘッドと磁気記
録媒体が接触するタイプの記録媒体にも適用できる。
【0053】実施例1 図1に、本発明の磁気記録媒体の概略断面図を示す。磁
気記録媒体100は、密着層2を有する基板1上に、軟
磁性層3、シード層4、記録層5、保護層6及び潤滑層
7を備える。かかる積層構造を有する磁気記録媒体10
0の製造方法を以下に説明する。
【0054】まず、直径65mmのガラス基板1を用意
し、ガラス基板1上に連続スパッタ装置により、密着層
2として厚さ5nmのTiを成膜した。
【0055】次いで、密着層2上に、軟磁性層3とし
て、Fe79Ta12を膜厚400nmにて成膜し
た。更に、成膜されたFe79Ta12を真空中で
カーボンヒーターにより450℃の温度で30秒間加熱
した後、徐冷した。こうしてFeの微結晶を含有する軟
磁性層3を形成した。
【0056】次いで、基板1を交互スパッタ装置のチャ
ンバーに移送し、軟磁性層3上にシード層4を成膜し
た。シード層4の成膜では、チャンバー内にアルゴンガ
スを導入しながら、PdターゲットをDCスパッタし、
SiNターゲットをRFスパッタすることにより、軟磁
性層3上に、73at%のPdと、26at%のSiと、1
at%のNからなるシード層4を膜厚5nmで成膜した。
【0057】つぎに、シード層4上に人工格子構造の記
録層5を成膜した。記録層5の成膜では、Arガス中、
でCoターゲットとPdターゲットのシャッターを交互
に開閉しながらDCスパッタして、Co層とPd層とが
交互に積層された人工格子構造の記録層5を形成した。
Co層の1層あたりの膜厚は0.12nm、Pd層の1
層あたりの膜厚は0.85nmであり、Pd層とCo層
の積層数はそれぞれ26層であった。
【0058】次いで、記録層5上に、アモルファスカー
ボンからなる保護層6をプラズマCVD法により膜厚3
nmにて形成した。保護層6の形成後、基板を成膜装置
から取り出した。最後に、保護層6上にパーフルオロポ
リエーテル系潤滑剤を1nmの厚さで塗布して潤滑層7
を形成した。
【0059】こうして図1に示す積層構造を有する磁気
記録媒体100を作製した。
【0060】実施例2 シード層に更にCoを含有させた以外は、実施例1と同
様にして磁気記録媒体を作製した。シード層の成膜で
は、Arガスをチャンバー内に導入しながらCoターゲ
ットとPdターゲットをDCスパッタし、SiNターゲ
ットをRFスパッタした。これにより、軟磁性層上に、
6at%のCoと、70at%のPdと、23at%のSi
と、1at%のNからなるシード層を成膜した。
【0061】実施例3 本実施例では、人工格子構造の記録層を、交互スパッタ
法により、膜厚0.15nmのCo層と膜厚0.85n
mのPt層とを15周期繰り返して成膜した。また、か
かる人工格子構造の記録層の結晶成長を良好に制御する
ために、シード層として73at%のPt、26at%のS
i、1at%のNからなるシード層を膜厚5nmにて形成
した。これ以外は、実施例1と同様にして磁気記録媒体
を作製した。
【0062】実施例4 図3に、本発明に従う磁気記憶装置200の概略構成図
を示す。磁気記憶装置200は、磁気記録媒体100
と、磁気記録媒体100を回転駆動するための回転駆動
部18と、磁気ヘッド10と、磁気ヘッド10を磁気記
録媒体上で所望の位置に移動させるヘッド駆動装置11
と、記録再生信号処理装置12を備える。磁気記録媒体
100には実施例1で作製した磁気記録媒体を用いた。
磁気ヘッド10は、単磁極型書き込み素子とGMR (Gi
ant Magneto-Resistive) 読み込み素子を備え、ヘッド
駆動装置11のアームの先端に設けられている。磁気ヘ
ッド10の単磁極型書き込み素子は、情報記録時に磁気
記録媒体に記録するデータに応じた磁界を印加して磁気
記録媒体に情報を記録することができる。磁気ヘッド1
0のGMR読み込み素子は、磁気記録媒体からの漏洩磁
界の変化を検出して磁気記録媒体に記録されている情報
を再生することができる。記録再生信号処理装置12
は、磁気記録媒体100に記録するデータを符号化して
磁気ヘッド10の単磁極型書き込み素子に記録信号を送
信することができる。また、記録再生信号処理装置12
は、磁気ヘッド10のGMR読み込み素子により検出さ
れた磁気記録媒体100からの再生信号を復号すること
ができる。
【0063】かかる磁気記憶装置200を駆動し、磁気
的スペーシング(磁気ヘッド10の主磁極表面と磁気記
録媒体100の記録層表面との距離)を13nmに維持
しながら、線記録密度1000kBPI、トラック密度
150kTPIの条件にて情報を記録し、記録した情報
を再生して記録再生特性を評価したところ、トータルS
/Nとして24.5dBを得た。更に、面記録密度15
0ギガビット/平方インチの記録密度にて記録再生する
ことができた。また、ヘッドシーク試験として、磁気ヘ
ッドを磁気記録媒体上の内周から外周まで10万回シー
クさせ、かかるヘッドシーク試験後に磁気記録媒体のビ
ットエラーを測定したところビットエラー数は10ビッ
ト/面以下であり、30万時間の平均故障間隔を達成す
ることができた。なお、上記S/Nは下記式を用いて求
めた。 S/N=20log(S0−p/Nrms) 式中、S0−pは、ゼロ点からピークまで (zero to pe
ak) の再生信号振幅の半分の値であり、Nrmsはスペ
クトルアナライザーにより測定したノイズの振幅の平行
自乗平均値である。
【0064】比較例1 シード層としてPdからなる層を膜厚5nmで形成した
以外は、実施例1と同様にして磁気記録媒体を作製し
た。
【0065】比較例2 シード層としてPtからなる層を膜厚5nmで形成した
以外は、実施例3と同様にして磁気記録媒体を作製し
た。
【0066】比較例3 比較例1の磁気記録媒体を実施例4に示した磁気記憶装
置200に搭載して記録再生特性を評価した。磁気的ス
ペーシング13nm、線記録密度1000kBPI、ト
ラック密度150kTPIの条件で記録再生特性を評価
したところ、トータルS/Nは18.5dBであり、十
分な記録再生を行なうことができなかった。更に、面記
録密度50ギガビット/平方インチの記録密度で記録し
た後、ヘッドシーク試験として、磁気ヘッドを磁気記録
媒体上の内周から外周まで10万回シークさせ、かかる
ヘッドシーク試験後に磁気記録媒体のビットエラーを測
定したところビットエラー数は150ビット/面以下で
あり、19万時間の平均故障間隔であった。
【0067】〔電磁変換特性の測定〕 つぎに、実施例1〜3及び比較例1、2の磁気記録媒体
の電磁変換特性を、スピンスタンドの記録再生試験機を
用いて測定した。記録再生試験機の磁気ヘッドとしては
単磁極型書き込み素子とGMR読み取り素子の複合型ヘ
ッドを使用した。単磁極型書き込み素子のメインポール
(主磁極)の実効書き込みトラック幅は110nm、B
sは2.1Tであった。また、GMR素子の実効トラッ
ク幅は97nm、シールド間隔は45nmであった。記
録再生試験の際、磁気ヘッドの単磁極型書き込み素子の
主磁極表面と磁気記録媒体の記録層表面との間隔を13
nmとした、電磁変換特性の測定結果を図4に示す。図
4において、S/Ndは500kFCIにおけるS/N
であり、Reは孤立波出力で割った出力分解能である。
また、熱減磁率は、24℃の環境下において、線記録密
度100kFCIにて記録した信号を再生したときの再
生信号振幅の時間に対する変化の割合とした。図4から
明らかなように、実施例1〜3で作製した磁気記録媒体
は、良好なS/Nが得られており、分解能も18%以上
と高いのに対し、比較例の磁気記録媒体では10%に満
たなかった。このことから、実施例1〜3の磁気記録媒
体は、高域でも遷移性ノイズが低減しており、高分解能
と高S/Nが両立されていることがわかる。
【0068】〔記録層の断面構造の観察〕 つぎに、実施例1〜3の磁気記録媒体の記録層の断面構
造を、高分解能透過型電子顕微鏡を用いて観察した。図
2に、人工格子構造の記録層5の断面構造の観察結果を
模式的に示した。図2に示すように、記録層5は、円柱
形状の結晶粒子31の集合体から構成されており、それ
ぞれの結晶粒子31の上面は半球状であった。円柱形状
の結晶粒子の回転軸に対して垂直な断面の直径dは約8
nmであり、結晶粒子の表面の半球の最上部Aと最下部
Bの差hは2nmであった。記録層5は、かかる円柱形
状の結晶粒子から構成されているために面内方向の磁気
的結合力が低減され、微細な記録ビットが安定になり、
磁化遷移領域の直線性がよくなると考えられる。
【0069】更に、図4の24℃における熱減磁率の結
果からわかるように、実施例1〜3の磁気記録媒体にお
いては熱減磁が認められなかったのに対し、比較例1及
び2の磁気記録媒体においては熱揺らぎによる減磁が顕
著に見られた。この結果は、実施例1〜3の磁気記録媒
体においては記録層の磁化遷移領域が明瞭で直線性が高
いのに対し、比較例1及び2の磁気記録媒体においては
磁化遷移領域が乱れて熱的に外乱を受けやすいことを示
していると考えられる。また、オントラックで1000
kBPIにてエラーレートを測定したところ、実施例1
〜3の磁気記録媒体はいずれも1×10−5以下であっ
たのに対し、比較例1及び2の磁気記録媒体は1×10
−4以上であった。
【0070】実施例5 この実施例では、シード層の組成を下記表に示す値に変
更した以外は、実施例1と同様にして9種類の磁気記録
媒体(試料1〜9)を作製した。得られた9種類の磁気
記録媒体について、前述の電磁変換特性の測定と同様に
スピンスタンドの記録再生試験機を用いて、S/Nd、
Re及び熱減磁率を測定した。下記表に測定結果を示し
た。
【0071】
【表1】
【0072】上記表1からわかるように、試料1〜7の
磁気記録媒体において14.6%以上の極めて良好なS
/Ndが得られており、分解能も19%以上と極めて高
かった。すなわち、高S/Nと高分解能が実現されてい
た。また、試料1〜7のいずれの磁気記録媒体も熱減磁
は認められておらず、熱的安定性が高いことがわかる。
一方、試料8及び9の磁気記録媒体は、S/Ndと分解
能のどちらも低かった。また熱減磁が認められていた。
以上の結果からすると、磁気記録媒体のPdSiNのシ
ード層の組成が、Pdが50at%〜80at%、Siが1
0at%〜35at%、Nが0.1at〜10at%のときに、
比較的高い/Nと分解能が得られ、熱的安定性に優れる
と考えられる。
【0073】実施例6 この実施例では、シード層の組成を下記表2に示す値に
変更した以外は、実施例3と同様にして9種類の磁気記
録媒体(試料10〜18)を作製した。得られた9種類
の磁気記録媒体について、前述の電磁変換特性の測定と
同様にスピンスタンドの記録再生試験機を用いて、S/
Nd、Re及び熱減磁率を測定した。下記表2に測定結
果を示した。
【0074】
【表2】
【0075】表2からわかるように、試料10〜16の
磁気記録媒体では14.6%以上の極めて良好なS/N
dが得られており、分解能も19%以上と極めて高かっ
た。すなわち、高S/Nと高分解能が実現されていた。
また、試料10〜16の磁気記録媒体では熱減磁は認め
られておらず、熱的安定性が高いことがわかる。一方、
試料17及び18の磁気記録媒体は、S/Ndと分解能
のどちらも低かった。また熱減磁が認められていた。以
上の結果からすると、磁気記録媒体のPtSiNのシー
ド層の組成が、Ptが50at%〜80at%、Siが10
at%〜35at%、Nが0.1at〜10at%のときに、比
較的高いS/Nと分解能が得られ、熱的安定性に優れる
ことがわかる。
【0076】実施例7 図5に、本実施例の磁気記録媒体の概略断面図を示す。
磁気記録媒体500は、基板上1に、軟磁性層53、シ
ード層54、記録層55、保護層56及び潤滑層57を
備える。かかる磁気記録媒体を以下のようにして製造し
た。
【0077】まず、直径65mmのガラス基板1を用意
し、ガラス基板1上に、軟磁性層53として、Fe79
Ta12を膜厚400nmで成膜した。更に、成膜
されたFe79Ta12の飽和磁化を高めるため
に、真空中でカーボンヒーターにより400℃の温度で
30秒間加熱した後、徐冷した。かかる加熱処理後、軟
磁性層53の表面をプラズマエッチング処理した。プラ
ズマエッチング処理は、Arガス圧0.9Pa、パワー
500Wで120秒間行なった。
【0078】次いで、基板1を交互スパッタ装置のスパ
ッタチャンバーに移送し、軟磁性層53上にシード層5
4を成膜した。シード層54の成膜では、チャンバー内
にアルゴンガスを導入しながら、PdターゲットをDC
スパッタし、SiNターゲットをRFスパッタすること
により、軟磁性層53上に、70at%のPdと、20at
%のSiと、10at%のNからなるシード層54を膜厚
3nmで成膜した。
【0079】つぎに、シード層54上に人工格子構造の
記録層55を成膜した。記録層55の成膜では、Arガ
ス中で、CoターゲットとPdターゲットのシャッター
を交互に開閉しながらDCスパッタして、Co層とPd
層とが交互に積層された人工格子構造の記録層55を形
成した。Co層の1層あたりの膜厚は0.2nm、Pd
層の1層あたりの膜厚は0.8nmであり、Pd層とC
o層の積層数はそれぞれ26層であった。
【0080】次いで、記録層55上に、アモルファスカ
ーボンからなる保護層56をプラズマCVD法により膜
厚3nmにて形成した。保護層56の形成後、基板を成
膜装置から取り出した。最後に、保護層56上にパーフ
ルオロポリエーテル系潤滑剤を1nmの厚さで溶液塗布
して潤滑層57を形成した。
【0081】こうして図5に示す積層構造を有する磁気
記録媒体500を作製した。また、軟磁性層の表面をプ
ラズマエッチングすることによる効果を調べるために、
軟磁性層の表面をプラズマエッチングしなかった以外
は、上記と同様に磁気記録媒体を作製した。
【0082】軟磁性層の表面をエッチング処理した磁気
記録媒体とエッチング処理しない磁気記録媒体につい
て、膜面に対して垂直方向に外部磁界を印加しながら記
録層のカー回転角の変化を測定した。図6に、エッチン
グ処理した磁気記録媒体の外部磁界に対するカー回転角
曲線を示す。記録層のカー回転角は、記録層の磁化の大
きさに比例するので、カー回転角と外部磁界との関係を
表すカー回転角曲線は、通常の磁化測定で求めた磁化曲
線と実質的に同等の形状であり、ヒステリシスを示す。
本実施例では、カー回転角曲線から記録層の保磁力、ニ
ュークリエーション磁界、外部磁界H=Hcにおける曲
線の傾き4π(dM/dH)H=Hcを見積もった。こ
こで、ニュークリエーション磁界とは、所定の方向に外
部磁界を印加して磁化を一旦飽和させた後に、逆方向の
外部磁界を印加させ、逆磁区(飽和された磁区の磁化に
対して逆方向に向いた磁区)が発生するときの磁界であ
る。図6のグラフにおいては、カー回転角曲線の第2象
限の肩の部分(降下開始点)に相当する。
【0083】エッチング処理した磁気記録媒体では、保
磁力Hcは3.9kOe、負のニュークリエーション磁
界は−2.1kOe、外部磁界H=Hcにおける曲線の
傾き4π(dM/dH)H=Hcは1.4であった。一
方、エッチング処理しない磁気記録媒体は、保磁力Hc
は2.6kOe、ニュークリエーション磁界は−1.6
kOe、外部磁界H=Hcにおける曲線の傾き4π(d
M/dH)H=Hcは1.8であった。
【0084】つぎに、軟磁性層にエッチング処理した磁
気記録媒体とエッチング処理しない磁気記録媒体の記録
層の表面を透過型電子顕微鏡(TEM)により観察し
た。図7(a)及び(b)に、それぞれ、エッチング処
理した磁気記録媒体とエッチング処理しない磁気記録媒
体の記録層の表面のTEMによる観察像を示す。図7
(a)に示すように、エッチング処理した磁気記録媒体
の記録層は、孤立した円柱状の結晶粒子の集合体が形成
され、結晶粒子同士の境界すなわち結晶粒界は極めて明
瞭であることがわかる。一方、図7(b)に示すよう
に、エッチング処理しない磁気記録媒体の記録層は、エ
ッチング処理した磁気記録媒体の記録層に比べて、結晶
粒界は不明瞭であった。
【0085】また、記録層の表面のTEM像から結晶粒
子の平均粒径と分散度(標準偏差を平均値で割った値)
を求めた。図8に、記録層の610個の結晶粒子の直径
と結晶粒子の個数との関係をヒストグラムにして示し
た。図8(a)は、エッチング処理した磁気記録媒体の
ヒストグラムであり、図8(b)はエッチング処理しな
い磁気記録媒体のヒストグラムである。エッチング処理
した磁気記録媒体では、平均粒子径は13.7nmであ
り、分散度は21.7%であった。一方、エッチング処
理しない磁気記録媒体では、平均粒子径は11.3nm
であり、分散度は21.0%であった。
【0086】ここで、エッチング処理した磁気記録媒体
のシード層の断面をTEMにより観察したところ、シー
ド層は無秩序構造を有していた。このような無秩序構造
を有するシード層は、その表面上に、Co/Pd初期化
層を分散して形成することができ、かかるCo/Pd初
期化層を単位に柱状の結晶粒子が孤立した状態で成長す
るものと考えられる。
【0087】つぎに、エッチング処理した磁気記録媒体
とエッチング処理しない磁気記録媒体について、実施例
1で用いたスピンスタンドの記録再生試験機を用いて記
録再生試験を行なったところ、エッチング処理した磁気
記録媒体のほうがエッチング処理しない磁気記録媒体よ
りもS/Nが1.6dBだけ高かった。
【0088】原子間力顕微鏡(AFM)を用いて、軟磁
性層の成膜直後の表面粗さと、プラズマエッチング後の
表面粗さを測定した。図9(a)及び(b)に、軟磁性
層の成膜直後の表面と、プラズマエッチング後の表面の
AFMによる観察像をそれぞれ示す。かかる観察像か
ら、軟磁性層の表面粗さを見積もったところ、軟磁性層
の成膜直後の表面粗さは0.46nmであったのに対
し、プラズマエッチングを行なった軟磁性層の表面粗さ
は0.39nmであり、プラズマエッチングを行なうこ
とによって軟磁性層の表面が平坦になっていることがわ
かる。このような軟磁性層の表面のプラズマエッチング
による平坦化が、記録再生特性におけるS/Nの向上に
寄与しているものと考えられる。
【0089】つぎに、エッチング処理した磁気記録媒体
に100kFCI、200kFCI、300kFCI及
び400kFCIの線記録密度で繰り返しパターンを記
録し、記録層に記録された記録マークを磁気力顕微鏡
(MFM)を用いて観察した。図10に、MFMによる
観察像を示す。図10からわかるように、線記録密度が
400kFCIであっても磁化遷移領域は極めて明瞭で
ある。
【0090】次いで、記録層に250kFCIの線記録
密度で繰り返しパターンを記録した後、かかる繰り返し
パターンに隣接するように、記録ヘッドをヘッド幅の分
だけオフトラックして同じ線記録密度で繰り返しパター
ンを記録した。そして、得られた2列の繰り返しパター
ンのトラック幅方向のほぼ中央に、100kFCIの線
記録密度で繰り返しパターンを重ね書きした。また、同
様に、記録層に100kFCIの線記録密度で繰り返し
パターンを記録した後、かかる繰り返しパターンに隣接
するように、記録ヘッドをヘッド幅の分だけオフトラッ
クして同じ線記録密度で繰り返しパターンを記録し、得
られた2列の繰り返しパターンのトラック幅方向のほぼ
中央に、250kFCIの線記録密度で繰り返しパター
ンを重ね書きした。このように、繰り返しパターン上に
異なる線記録密度で繰り返しパターンを重ね書きした記
録層のMFMによる観察像を図11に示す。図11から
わかるように、重ね書きした繰り返しパターン(オーバ
ーライトパターン)は明瞭であり、このオーバーライト
パターンのすぐ両側に存在する重ね書き前の繰り返しパ
ターンは消去されずに残っており、いわゆる、イレース
バンドは殆ど認められていない。このことから、本発明
の磁気記録媒体は、トラックピッチを狭めて記録するこ
とが可能であり、高トラック密度に対応した記録媒体で
あることがわかる。
【0091】以上の結果から、軟磁性層の表面をプラズ
マエッチングして平坦化し、平坦化された軟磁性層上に
Pd−SiNのシード層を形成することにより、シード
層上に、結晶粒子の境界すなわち結晶粒界は極めて明瞭
な記録層を形成することができる。かかる明瞭な結晶粒
界により、結晶粒子は、面内方向の磁気的結合力がより
一層低減されるため、微小な記録ビットを形成すること
が可能となるとともに磁化遷移領域の直線性が高くな
る。これにより高密度記録が可能になるとともに、高密
度記録された情報を低ノイズで再生することが可能とな
る。
【0092】実施例8 この実施例では、軟磁性層の表面のプラズマエッチング
処理として、Arガス圧0.9Pa、パワー400W、
エッチング時間10秒間でプラズマエッチングした以外
は、実施例5と同様にして磁気記録媒体を作製した。プ
ラズマエッチング後の軟磁性層の表面粗さを実施例5と
同様にAFMにより測定したところ、0.40nmであ
った。また、実施例1と同様にスピンスタンドで記録再
生試験を行なったところ、エッチング処理しないで作製
した磁気記録媒体に比べてS/Nが0.5dB高くなっ
ていた。
【0093】実施例9 この実施例では、軟磁性層の表面のプラズマエッチング
処理として、Arガス圧0.9Pa、パワー600W、
エッチング時間300秒間でプラズマエッチングした以
外は、実施例5と同様にして磁気記録媒体を作製した。
プラズマエッチング後の軟磁性層の表面粗さを実施例5
と同様にAFMにより測定したところ、0.20nmで
あった。また、実施例1と同様にスピンスタンドで記録
再生試験を行なったところ、エッチング処理しないで作
製した磁気記録媒体に比べてS/Nが2.0dB高くな
っていた。上述の実施例7及び8の結果とあわせて考え
ると、軟磁性層の表面が平坦化されるほどS/Nが向上
することがわかる。
【0094】実施例10 図12に、本発明に従う磁気ディスクの概略断面図を示
す。磁気ディスク600は、基板1上に、軟磁性材料か
ら形成された軟磁性層63、Fe酸化物からなるシード
層64、硬磁性材料から形成された記録層65及び保護
層66を備える。本実施例の磁気記録媒体600は、軟
磁性層63としてFeTaC膜を用い、記録層65とし
てCoとPdを交互に積層したCo/Pd交互積層膜
(人工格子膜)を用い、Fe酸化物からなるシード層6
4を反応性スパッタ法により形成した場合である。磁気
ディスク600を以下のような方法により製造した。
【0095】[軟磁性層の成膜] 磁気ディスク用の基板1として2.5インチ(約6.2
5cm)直径のガラス基板を用いた。このガラス基板1
上に、軟磁性層63としてFeTaC膜をDCマグネト
ロンスパッタ法により形成した。ターゲットにはFe
79Ta12組成の合金を用いた。膜厚は400n
mとした。成膜後の膜に真空中でランプ加熱処理を施し
た。加熱温度は450℃とした。この加熱処理によっ
て、FeTaC膜中にFe微結晶が析出し、軟磁気特性
が出現する。
【0096】[シード層の成膜] 次いで、軟磁性層63の上にシード層64を反応性スパ
ッタ法により形成した。シード層64の成膜では、Ar
と酸素の混合ガス(Arに対する酸素の流量比=20
%)を導入しながらFeターゲットをDCスパッタする
ことによって、膜厚5nmでFe酸化物を堆積させた。
【0097】[記録層の成膜] つぎに、記録層65としてCo/Pd交互多層膜をDC
スパッタ法により作製した。まず、シード層上にPdを
5nmの厚さで堆積させ、その上にCoとPdを交互に
堆積した。Co/Pd交互多層膜の成膜では、Pdター
ゲットとCoターゲットのシャッターを開閉することに
よって、0.11nm厚のCoと0.76nm厚のPd
を交互に積層し、Co層とPd層の積層数は各26層と
した。Co/Pd交互多層膜の成膜時には基板加熱は行
わなかった。
【0098】[保護層の成膜] 最後に保護層66としてC(カーボン)膜をRFスパッ
タ法により膜厚8nmにて形成して磁気ディクスとし
た。
【0099】実施例11 この実施例では、シード層を高温酸化法により形成した
以外は、実施例10と同様にして磁気ディスクを作製し
た。以下に、高温酸化法によるシード層の形成方法を説
明する。なお、シード層以外の層の成膜方法は、実施例
10と同様であるので、その説明については省略する。
【0100】実施例10と同様に、ガラス基板上に、F
eTaCからなる軟磁性層を形成し、ランプ加熱処理を
施した。加熱終了後、そのまま真空中で1分間保持し、
その後、酸素ガスを流量200sccmで3分間導入し
た。このようにFeTaC膜が加熱処理の余熱でまだ高
温状態にあるうちに酸素ガスに曝すことによってFeT
aC膜表面にFe酸化物の膜、すなわちシード層を形成
した。シード層の膜厚は5nmとした。
【0101】かかるシード層上に記録層及び保護層を実
施例10と同様に形成することにより磁気ディスクを作
製した。
【0102】実施例12 この実施例では、軟磁性層をCoZrTa膜を用いて形
成した以外は、実施例10と同様にして磁気ディクスを
作製した。軟磁性層の成膜では、DCマグネトロンスパ
ッタ法を用い、ターゲットにはCo80Zr12Ta
組成の合金を用いた。層厚は400nmとした。軟磁性
層以外の層の形成方法は実施例10と同様である。
【0103】実施例13 この実施例では、記録層としてCoとPtを交互に積層
したCo/Pt交互多層膜を用いた以外は、実施例10
と同様にして磁気ディスクを作製した。Co/Pt交互
多層膜の成膜にはDCスパッタ法を用い、シード層上
に、まずPtを5nmの厚さで堆積させ、その上に0.
12nm厚のCoと0.80nm厚のPtを交互に積層
した。Pt層とCo層の積層数はともに23層とした。
Co/Pt交互多層膜の成膜時の基板温度は250℃と
した。記録層以外の層の形成方法は実施例10と同様で
ある。
【0104】実施例14 この実施例では、シード層の膜厚を30nmとした以外
は、実施例10と同様にして磁気ディスクを作製した。
【0105】参考例1 ここでは、シード層の膜厚を40nmとした以外は、実
施例10と同様にして磁気ディスクを作製した。
【0106】参考例2 ここでは、シード層の膜厚を50nmとした以外は、実
施例10と同様にして磁気ディスクを作製した。
【0107】比較例4 シード層を設けなかった以外は、実施例10と同様にし
て磁気ディスクを作製した。
【0108】比較例5 シード層を設けなかった以外は、実施例12と同様にし
て磁気ディスクを作製した。
【0109】比較例6 シード層を設けなかった以外は、実施例13と同様にし
て磁気ディスクを作製した。
【0110】比較例7 軟磁性層を設けなかった以外は、実施例10と同様にし
て磁気ディスクを作製した。
【0111】[媒体の評価] 上記実施例10〜14、比較例4〜7及び参考例1、2
の磁気ディスクの保護層上に潤滑剤を塗布した後、各磁
気ディスクの記録再生特性を評価した。記録再生特性の
評価にはスピンスタンド式の記録再生装置を用いた。記
録には1.6Tの飽和磁束密度を有する軟磁性膜を用い
た薄膜磁気ヘッドを用い、再生にはスピンバルブ型GM
R磁気ヘッドを用いた。磁気ヘッドのギャップ長は0.
12μmである。ヘッド面とディスク面との距離は20
nmに保った。
【0112】実施例、参考例及び比較例の磁気ディスク
の評価結果を図13の表に示す。ここでLFop/Nd
は、線記録密度10kFCIの信号を記録したとき再生
出力Fopと、400kFCIを記録した時のノイズで
あるNdとの比であり、媒体のS/Nの指標とした。ま
た、D50は再生出力がLFopの1/2に低下する線
記録密度であり、記録分解能の指標とした。
【0113】シード層を膜厚5nmで反応性スパッタで
形成した実施例10、12及び13の磁気ディスクで
は、高いLFop/Ndと良好なD50が得られている
ことがわかる。またシード層を高温酸化法によって形成
した実施例11の磁気ディスクにおいても優れたLFo
p/NdとD50が得られている。シード層の膜厚を3
0nmとした実施例14の磁気ディスクにおいては、高
いLFop/Ndが得られているもののD50の低下が
見られた。これに対し、シード層を設けなかった比較例
4〜7の磁気ディスクでは、D50は若干高いものの、
LFop/Ndが明らかに低い。特に軟磁性層を設けて
いない比較例7の磁気ディスクではLFop/Ndが極
端に低かった。参考例1及び2の磁気ディスクにおいて
は、LFop/Ndが20dB以上で良好であったが、
D50が若干低下していた。これは、シード層を厚くし
たことにより、磁気ヘッドと軟磁性層との距離が増した
ためであると考えられる。
【0114】作製した磁気ディスクの構造と組成を、高
分解能透過型電子顕微鏡(TEM)およびオージェ電子
分光法(AES)によって分析したところ、実施例10
〜13および比較例7のそれぞれの磁気ディスクにおい
て、軟磁性層上またはガラス基板の上に、Feと酸素を
主成分とするFe酸化物からなる層が約5nmの厚さで
形成されていることを確認した。また、実施例14の磁
気ディスクにおいて、Fe酸化物からなる層が約30n
mの膜厚で形成されていることを確認した。
【0115】つぎに、実施例11の磁気ディスクを、実
施例4と同様に図3に示す磁気ディスク装置に組み込ん
で記録再生特性を評価した。
【0116】実施例11で作製した磁気ディスクに面密
度40Gb/inchに相当する信号(700kFC
I)を記録してディスクのS/Nを評価したところ、3
4dBの値を得た。またエラーレートを測定したとこ
ろ、信号処理を行わない場合の値で1×10−5以下で
あった。
【0117】実施例15 この実施例では、Fe酸化物及びFe金属が含まれるよ
うにシード層を形成した以外は、実施例10と同様にし
て磁気ディスクを作製した。シード層の成膜には、反応
性スパッタ法を用い、Arガスに対して6%の流量比の
酸素ガスを導入しながらFeターゲットをDCスパッタ
した。かかるスパッタによりFe酸化物とFe金属とを
含むシード層を膜厚5nmにて形成した。
【0118】実施例16 この実施例では、シード層を反応性スパッタ法により形
成する際に、Arガスに対する酸素ガスの流量比を2.
5%とした以外は、実施例15と同様にして磁気ディス
クを作製した。
【0119】実施例17 記録層としてCoとPtを交互に積層したCo/Pt多
層膜を用いた以外は、実施例15と同様にして磁気ディ
スクを作製した。Co/Pt交互多層膜の成膜にはDC
スパッタ法を用い、シード層上に、まずPtを5nmの
厚さで堆積させ、その上に0.12nm厚のCoと0.
80nm厚のPtを交互に積層した。Co層とPt層の
積層数はともに23層とした。Co/Pt交互多層膜の
成膜時の基板温度は200℃とした。
【0120】実施例18 この実施例では、シード層を形成した後、シード層の表
面をスパッタエッチングした以外は、実施例15と同様
にして磁気ディスクを作製した。シード層表面のエッチ
ング処理として、実施例10と同じ方法でシード層を形
成した後、真空度が0.9Paになる流量のArガスを
導入してシード層の表面をRFスパッタエッチングし
た。スパッタエッチング時間は30秒とした。かかるス
パッタエッチング後、実施例15と同じ方法で記録層と
保護層を形成して磁気ディスクを作製した。
【0121】実施例19 この実施例では、シード層を反応性スパッタ法により形
成する際に、Arガスに対する酸素ガスの流量比を8%
とした以外は、実施例15と同様にして磁気ディスクを
作製した。
【0122】実施例20 この実施例では、シード層を反応性スパッタ法により形
成する際に、Arガスに対する酸素ガスの流量比を1.
5%とした以外は、実施例15と同様にして磁気ディス
クを作製した。
【0123】実施例21 この実施例では、シード層を膜厚30nmで形成した以
外は、実施例15と同様にして磁気ディスクを作製し
た。
【0124】実施例22 この実施例では、シード層を反応性スパッタ法により形
成する際に、Arガスに対する酸素ガスの流量比を8%
とした以外は、実施例17と同様にして磁気ディスクを
作製した。
【0125】実施例23 この実施例では、シード層を反応性スパッタ法により形
成する際に、Arガスに対する酸素ガスの流量比を1.
5%とした以外は、実施例17と同様にして磁気ディス
クを作製した。
【0126】以上のようにして作製した磁気ディスクの
保護層上に潤滑剤を塗布した後、各磁気ディスクの記録
再生特性を上述の「媒体の評価」と同様の方法により評
価した。図14に、実施例15〜23のそれぞれの磁気
ディスクの記録再生特性を示す。
【0127】また、図14には、シード層中に酸化物と
して存在するFeの原子数FeOxiと、金属として存
在するFeの原子数FeMetの原子数との比(Fe
Met/FeOxi)を示した。原子数比(FeMet
/FeOxi)は、作製した磁気ディスクのシード層の
化学状態をX線光電子分光法(XPS)を用いた深さ方
向分析により分析し、Fe酸化物とFe金属からなるシ
ード層のFeスペクトルを、酸化物由来のピークと金属
由来のピークの2種類のピークに分離することにより求
めた。
【0128】実施例15〜19、22及び23の磁気デ
ィスクでは、21.5〜27.1dBの高いLFop/
Ndが得られている。特に、実施例15〜19の磁気デ
ィスクは、LFop/Nd及びD50ともに良好である
ことがわかる。これら実施例15〜19の磁気ディスク
のFeMet/FeOxiの値は、0.02<Fe
Met/FeOxi<0.2の範囲内にあった。シード
層の表面をスパッタエッチングした実施例18の磁気デ
ィスクにおいては、LFop/Ndの値が27.1と極
めて高かった。また、シード層成膜時の酸素ガスを1.
5%とした実施例20と実施例24の磁気ディスクは、
LFop/Ndはそれぞれ15.7dB、14.8dB
と低くなっていた。実施例20及び24の磁気ディスク
のシード層のFeMet/FeOxi値はそれぞれ0.
22、0.21であった。すなわち、実施例20及び2
4の磁気ディスクは、他の実施例の磁気ディスクに比べ
てシード層中にFe金属が多く含まれていた。このこと
から、シード層中にFe金属を比較的多く含むために、
シード層上に記録層を形成したときに、記録層を構成す
る白金族元素のFe金属への吸着が増大し、微小な磁性
粒子が形成されにくくなっていたものと考えられる。ま
た、シード層の厚さを30nmとした実施例22の磁気
ディスクではD50が144kFCIと低くなってい
た。これは、シード層の膜厚を厚くしたために磁気ヘッ
ドと軟磁性層との間隔が厚くなり、磁気ヘッドからの磁
界が記録層に十分な磁界強度で印加されなかったものと
考えられる。
【0129】つぎに、実施例15の磁気ディスクを、実
施例4と同様に、図3に示す磁気ディスク装置に組み込
んで記録再生特性を評価した。実施例15の磁気ディス
クに面密度40Gb/inchに相当する信号(70
0kFCI)を記録して磁気ディスクのS/Nを評価し
たところ、36dBの値を得た。またエラーレートを測
定したところ、信号処理を行わない場合の値で1×10
−5以下であった。
【0130】実施例24 図15に、本実施例の磁気記録媒体の概略断面図を示
す。磁気記録媒体700は、基板1上に、軟磁性材料か
ら形成された軟磁性層73、Fe酸化物からなる第1シ
ード層74、Pd−SiNからなる第2シード層75、
硬磁性材料から形成された記録層76及び保護層77を
備える。磁気記録媒体700の製造方法を以下に説明す
る。
【0131】[基板の準備] まず、直径65mmのガラス基板1を用意し、ガラス基
板1上に連続スパッタ装置により、密着層72として厚
さ5nmのTiを成膜した。
【0132】[軟磁性層の成膜] 次いで、密着層72上に、軟磁性層73としてFeTa
C膜をDCマグネトロンスパッタ法により形成した。タ
ーゲットにはFe79Ta12組成の合金を用い
た。膜厚は400nmとした。更に、成膜されたFe
79Ta12を真空中でカーボンヒーターにより4
50℃の温度で30秒間加熱した後、徐冷した。こうし
てFeの微結晶を含有する軟磁性層73を形成した。
【0133】[第1シード層の成膜] 次いで、軟磁性層73の上に第1シード層74を反応性
スパッタ法により形成した。第1シード層74の成膜で
は、Arと酸素の混合ガス(Arに対する酸素の流量比
=20%)を導入しながらFeターゲットをDCスパッ
タすることによって、膜厚5nmでFe酸化物を堆積さ
せた。
【0134】[第2シード層の成膜] 次いで、基板1を交互スパッタ装置のチャンバーに移送
し、第1シード層74上に第2シード層75を成膜し
た。第2シード層75の成膜では、チャンバー内にアル
ゴンガスを導入しながら、PdターゲットをDCスパッ
タし、SiNターゲットをRFスパッタした。これによ
り、第1シード層74上に、73at%のPdと、26at
%のSiと、1at%のNからなる第2シード層75を膜
厚5nmで成膜した。
【0135】[記録層の成膜] つぎに、記録層76としてCo/Pd交互多層膜をDC
スパッタ法により作製した。Co/Pd交互多層膜の成
膜では、PdターゲットとCoターゲットのシャッター
を開閉することによって、0.12nm厚のCoと0.
85nm厚のPdを交互に積層した。Co層とPd層の
積層数は各26層とした。
【0136】[保護層及び潤滑層の成膜] 次いで、記録層76上に、アモルファスカーボンからな
る保護層77をプラズマCVD法により膜厚3nmにて
形成した。保護層77の形成後、基板を成膜装置から取
り出した。最後に、保護層77上にパーフルオロポリエ
ーテル系潤滑剤を1nmの厚さで塗布して潤滑層78を
形成した。
【0137】こうして図15に示す積層構造を有する磁
気記録媒体700を作製した。
【0138】かかる磁気記録媒体700を実施例4と同
様に図3に示す磁気記憶装置に装着した。そして、磁気
記憶装置を駆動して、実施例4と同様の条件で記録再生
特性を評価したところ、トータルS/Nとして24.5
dBを得た。更に、面記録密度150Gb/inch
の記録密度にて記録再生することができた。また、ヘッ
ドシーク試験として、磁気ヘッドを磁気記録媒体上の内
周から外周まで10万回シークさせ、かかるヘッドシー
ク試験後に磁気記録媒体のビットエラーを測定したとこ
ろビットエラー数は10ビット/面以下であり、30万
時間の平均故障間隔を達成することができた。
【0139】つぎに、磁気記録媒体700について、前
述の電磁変換特性の測定と同様の条件にてスピンスタン
ドの記録再生試験機を用いて電磁変換特性を測定した。
測定結果を下記表3に示す。表3において、S/Ndは
500kFCIにおけるS/Nであり、Reは孤立波出
力で割った出力分解能である。また、熱減磁率は、24
℃の環境下において、線記録密度100kFCIにて記
録した信号を再生したときの再生信号振幅の時間に対す
る変化の割合とした。
【0140】
【表3】
【0141】表3からわかるように、本実施例において
は良好なS/Nが得られている。また、分解能も18%
以上と極めて高い。このことから、本実施例の磁気ディ
スクは、高域でも遷移性ノイズが低減しており、高分解
能と高S/Nが両立されていることがわかる。
【0142】また、磁気ディスクの記録層の断面構造
を、高分解能透過型電子顕微鏡を用いて観察したとこ
ろ、前述の実施例1〜3の磁気記録媒体と同様に図2に
示すような構造を有していた。図2における円柱形状の
結晶粒子の回転軸に対して垂直な断面の直径dは約8n
mであり、結晶粒子の表面の半球の最上部Aと最下部B
の差hは2nmであった。本実施例の磁気記録媒体の記
録層は、かかる円柱形状の結晶粒子から構成されている
ために面内方向の磁気的結合力が低減され、微細な記録
ビットが安定になり、磁化遷移領域の直線性がよくなる
と考えられる。
【0143】また、上記表3の熱減磁率の結果からわか
るように、本実施例の磁気記録媒体においては熱減磁が
認められなかった。このように、本実施例の磁気記録媒
体において熱減磁が認められなかったのは、記録層の磁
化遷移領域が明瞭で直線性が高くなっていることに起因
すると考えられる。また、オントラックで1000kB
PIにてエラーレートを測定したところ、本実施例の磁
気記録媒体はいずれも1×10−5以下であった。
【0144】実施例25 この実施例では、図15に示す磁気記録媒体と同様の積
層構造を有する磁気記録媒体を作製した。第1シード層
74として、実施例18で用いたFe酸化物とFe金属
を含むシード層を用い、第2シード層75として、実施
例1で用いたPdSiNから構成されたシード層を用い
た。基板1上の軟磁性層73と第1シード層74は実施
例18と同様の方法を用いて形成した。第2シード層7
5、記録層76、保護層77及び潤滑層78は、実施例
1と同様の方法を用いて形成した。本実施例では、第2
シード層を種々の組成に変更して7種類の磁気記録媒体
(試料15〜21)を作製した。それぞれの磁気記録媒
体の第2シード層の組成を下記表4に示した。作製した
それぞれの磁気記録媒体について、前述の電磁変換特性
の測定と同様にスピンスタンドの記録再生試験機を用い
て、S/Nd、Re及び熱減磁率を測定した。下記表4
に測定結果を示した。
【0145】
【表4】
【0146】上記表からわかるように、全てに試料にお
いて14.7dB以上の良好なS/Ndが得られた。ま
たReも19%以上と極めて高かった。すなわち、本実
施例の磁気記録媒体は高分解能と高S/Nが実現されて
いることがわかる。また熱減磁も認められなかったこと
から、熱的安定性に優れていることがわかる。
【0147】以上、本発明の磁気記録媒体について具体
的に説明したが、本発明はこれらに限定されるものでは
なく、種々の変形例及び改良例を含み得る。
【0148】産業上の利用可能性 本発明の第1の態様の磁気記録媒体は、Fe酸化物を含
む第1シード層を、Pd及びPtの一方と、SiとNと
を含む第2シード層の下地として用いているので、第2
シード層のPdまたはPtのSiN中の分散が促進され
ている。更に、PdまたはPtの分散が促進された第2
シード層上に記録層を備えるので、記録層には粒界の明
瞭な微細な結晶粒子が形成される。このため記録層の面
内方向の磁気的結合力が低減されるので、線記録密度を
高めても低ノイズで情報を再生することができる。
【0149】本発明の磁気記録媒体は、人工格子構造を
有する記録層の下地として、Pd及びPtの一方と、S
iとNとを含むシード層を用いているので、記録層の面
内方向の磁気的結合力を低減することができる。これに
より、記録層の磁化遷移領域の乱れが低減するため、線
記録密度を高めても低ノイズで情報を再生することがで
きる。また。磁気異方性の高い人工格子膜を記録層とし
て用いているため、高い熱安定性を有している。
【0150】また、本発明の磁気記録媒体は、Fe酸化
物を主成分とするシード層を、軟磁性材料からなる軟磁
性層と硬磁性材料からなる記録層との間に備えるので、
例えば、記録層として高い磁気異方性を有するCo/P
t人工格子膜を用いた場合であっても、記録層の磁性粒
子を微小化することができ、記録層に微小な磁区を形成
することが可能である。このため、媒体ノイズが低減さ
れ、高S/Nで情報を再生することができる。また、高
い磁気異方性を有する人工格子膜を用いて記録層を形成
することができるので、熱擾乱に対して高い耐性を有
し、高密度に情報を記録することができる。
【0151】本発明の製造によれば、面内方向の磁気的
交換結合力が低減された記録層を備える磁気記録媒体を
製造することができるので、高密度記録された情報を低
ノイズで再生可能な磁気記録媒体を提供することができ
る。
【0152】本発明の磁気記憶装置は、本発明の磁気記
録媒体を備えるため、150Gb/inch(約2
3.25Gb/cm)の高い面記録密度で情報を記録
しても高S/Nで情報を再生することができるととも
に、高い耐熱減磁特性を有している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01F 10/16 H01F 10/16 10/187 10/187 10/30 10/30 41/18 41/18 41/20 41/20 早期審査対象出願 (72)発明者 日永田 晴美 日本国茨城県北相馬郡守谷町久保ヶ丘一 丁目7番2号ガーデンFUJI 1− 201号 (72)発明者 若林 康一郎 日本国茨城県取手市戸頭三丁目34−3− 204 (56)参考文献 特開2001−155329(JP,A) 特開2001−250218(JP,A) 特開 平11−339241(JP,A) 特開 平8−30951(JP,A) 特開 平4−311809(JP,A) 特開 平5−282650(JP,A) 特開2001−155322(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 5/62 - 5/858

Claims (15)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気記録媒体であって、 基板と; 該基板上に直接または間接的に形成された、Fe酸化物
    を含む第1シード層と; 第1シード層上に直接形成された、Pd及びPtの少な
    くとも一方の白金族元素とSiとNとを含む第2シード
    層と; 第2シード層上に直接形成された、Pd及びPtの少な
    くとも一方の白金族元素層とCo層とを交互に積層して
    形成された記録層と;を備えた磁気記録媒体。
  2. 【請求項2】 上記記録層が人工格子構造で垂直磁化を
    示し、上記基板と第1シード層との間に軟磁性層が形成
    されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録
    媒体。
  3. 【請求項3】 第1シード層は金属として存在するFe
    を含む請求項1に記載の磁気記録媒体。
  4. 【請求項4】 第2シード層におけるSiの含有量が1
    0at%〜35at%の範囲内にあり、且つ、Nの含有量が
    0.1at%〜10at%の範囲内にある請求項1に記載の
    磁気記録媒体。
  5. 【請求項5】 第2シード層は更にCoを含む請求項4
    に記載の磁気記録媒体。
  6. 【請求項6】 第1シード層及び第2シード層が、いず
    れも1nm〜30nmの範囲内の膜厚を有する請求項1
    に記載の磁気記録媒体。
  7. 【請求項7】 上記軟磁性層は、Fe中に、Ta、Nb
    及びZrからなる群から選ばれる少なくとも一種の元素
    の窒化物または炭化物を分散させてなる構造を有する請
    求項2に記載の磁気記録媒体。
  8. 【請求項8】 上記軟磁性層は、Co−Zrを主体と
    し、これにTa、Nb及びTiからなる群から選ばれる
    少なくとも一種の元素を含む非晶質合金から形成される
    請求項2に記載の磁気記録媒体。
  9. 【請求項9】 上記記録層が結晶粒子の集合体から構成
    され、各結晶粒子は上記基板の表面に対して垂直な方向
    に円柱状に延び且つその先端が記録層表面において隆起
    しており、該円柱状の結晶粒子の回転軸に対して垂直な
    断面における直径が2nm〜15nmの範囲内にあり、
    該結晶粒子の隆起の高さが1nm〜10nmの範囲内に
    ある請求項1に記載の磁気記録媒体。
  10. 【請求項10】 磁気記録媒体の製造方法であって、 基板を用意する工程と; 上記基板上に、直接または間接的に、Fe酸化物を含む
    第1シード層を形成する工程と; 第1シード層上に、直接、Pd及びPtの少なくとも一
    方の白金族元素とSiとNとを含む第2シード層を形成
    する工程と; 第2シード層上に、直接、Pd及びPtの少なくとも一
    方の白金族元素層とCo層とを交互積層して記録層を形
    成する工程と;を含む磁気記録媒体の製造方法。
  11. 【請求項11】 さらに、上記基板と第1シード層との
    間に軟磁性層を形成する工程を含む請求項10に記載の
    磁気記録媒体の製造方法。
  12. 【請求項12】 酸素を含むスパッタガスを用い、Fe
    を含むターゲットを反応性スパッタすることにより第1
    シード層を形成することを含む請求項10に記載の磁気
    記録媒体の製造方法。
  13. 【請求項13】 上記スパッタガス中の酸素の量を制御
    して、第1シード層中に金属として存在するFeを含有
    させることを含む請求項12に記載の磁気記録媒体の製
    造方法。
  14. 【請求項14】 更に、第1シード層の表面をスパッタ
    エッチングすることを含む請求項13に記載の磁気記録
    媒体の製造方法。
  15. 【請求項15】 請求項1の磁気記録媒体と; 情報を記録または再生するための磁気ヘッドと; 上記磁気記録媒体を上記磁気ヘッドに対して駆動するた
    めの駆動装置と;を備える磁気記憶装置。
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