JP3329775B2 - 動的混合ガス送出装置及び方法 - Google Patents

動的混合ガス送出装置及び方法

Info

Publication number
JP3329775B2
JP3329775B2 JP29549599A JP29549599A JP3329775B2 JP 3329775 B2 JP3329775 B2 JP 3329775B2 JP 29549599 A JP29549599 A JP 29549599A JP 29549599 A JP29549599 A JP 29549599A JP 3329775 B2 JP3329775 B2 JP 3329775B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluid
gas
gas mixture
flow
distribution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP29549599A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000223431A (ja
Inventor
ドゥ アルメィダ ボテルホ アレクサンドレ
アンソニー デルプラト トーマス
ウィリアム フォード ロバート
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Air Products and Chemicals Inc
Original Assignee
Air Products and Chemicals Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Air Products and Chemicals Inc filed Critical Air Products and Chemicals Inc
Publication of JP2000223431A publication Critical patent/JP2000223431A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3329775B2 publication Critical patent/JP3329775B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F17STORING OR DISTRIBUTING GASES OR LIQUIDS
    • F17CVESSELS FOR CONTAINING OR STORING COMPRESSED, LIQUEFIED OR SOLIDIFIED GASES; FIXED-CAPACITY GAS-HOLDERS; FILLING VESSELS WITH, OR DISCHARGING FROM VESSELS, COMPRESSED, LIQUEFIED, OR SOLIDIFIED GASES
    • F17C13/00Details of vessels or of the filling or discharging of vessels
    • F17C13/04Arrangement or mounting of valves
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
    • B01F23/00Mixing according to the phases to be mixed, e.g. dispersing or emulsifying
    • B01F23/10Mixing gases with gases
    • B01F23/19Mixing systems, i.e. flow charts or diagrams; Arrangements, e.g. comprising controlling means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
    • B01F35/00Accessories for mixers; Auxiliary operations or auxiliary devices; Parts or details of general application
    • B01F35/20Measuring; Control or regulation
    • B01F35/21Measuring
    • B01F35/211Measuring of the operational parameters
    • B01F35/2111Flow rate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
    • B01F35/00Accessories for mixers; Auxiliary operations or auxiliary devices; Parts or details of general application
    • B01F35/20Measuring; Control or regulation
    • B01F35/21Measuring
    • B01F35/211Measuring of the operational parameters
    • B01F35/2113Pressure
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
    • B01F35/00Accessories for mixers; Auxiliary operations or auxiliary devices; Parts or details of general application
    • B01F35/20Measuring; Control or regulation
    • B01F35/22Control or regulation
    • B01F35/221Control or regulation of operational parameters, e.g. level of material in the mixer, temperature or pressure
    • B01F35/2211Amount of delivered fluid during a period
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
    • B01F35/00Accessories for mixers; Auxiliary operations or auxiliary devices; Parts or details of general application
    • B01F35/90Heating or cooling systems
    • B01F2035/99Heating
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
    • B01F35/00Accessories for mixers; Auxiliary operations or auxiliary devices; Parts or details of general application
    • B01F35/80Forming a predetermined ratio of the substances to be mixed
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/30Hydrogen technology
    • Y02E60/32Hydrogen storage

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
  • Accessories For Mixers (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、2又はそれ以上の
流体を動的に配合し、分配母管を経由して1又は複数の
化学気相成長のための機器に送出される配合気体混合物
を作るための装置及び方法に関する。ここでこの化学気
相成長は、エピタキシャル層成長又は同様な層成長処理
を含む。本発明には他の用途もあるが、特に半導体製造
に適用可能である。
【0002】
【従来の技術】半導体製造者は、シリコンウェハー上に
薄膜(例えば、エピタキシャルシリコン)を成長させる
ために、トリクロロシラン(SiHCl3 )(TCS)
と水素(H2 )との成長気体混合物を使用することが多
い。そのような混合物は通常、気泡装置内において特定
の温度で保持されるTCS液体中にH2 ガスをスパージ
ング又はバブリングさせることによって得られる。この
装置は、TCSで飽和したH2 ガスキャリアー流れを、
半導体製造で使用される処理機器に送出する。しかしな
がら、処理機器への一貫した組成を確実にするためには
流れを飽和させなければならないので、需要側の供給路
内での凝縮を避けるために、気泡装置は処理機器に近接
させて配置しなければならない(凝縮が流れの組成に影
響を与えることによる)。結果として、それぞれの機器
がそれ自身の気泡装置を備えることが典型的であり、こ
れは、TCSを扱うために必要とされる資本費用をかな
り増加させ、半導体製造設備に使用できる床面積を減少
させる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】飽和していない条件で
(従って比較的低いTCSの露点で)、一定した組成の
配合ガス混合物を提供する送出装置及び方法が望まれて
いる。
【0004】配合ガス混合物を複数の装置に送出するこ
とができる分配母管が更に望まれている。これは、床面
積の要求を減少させ、且つ資本費用を節約する。
【0005】また、一定した流れの組成を維持しなが
ら、様々な数の処理機器に配合ガス混合物を提供する能
力を得ることが更に望まれている。
【0006】また、最終用途の要求が変動するときに、
流れの組成を素早く変更する能力を得ることが更に望ま
れている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、動的配合ガス
送出装置及び方法である。また本発明は、この動的配合
方法で製造された配合ガス混合物も含む。この配合ガス
混合物は、化学気相成長機器又は他の同様な処理機器、
例えばエピタキシャル層成長において使用される機器で
使用する。
【0008】本発明の第1の態様は、複数の流体を処理
して配合ガス混合物を作り、そしてこの配合ガス混合物
を分配母管に供給し、この分配母管からこの配合ガス混
合物を少なくと1つの化学気相成長機器又は同様な処理
機器に送出するための方法である。この方法は7つの工
程を含む。第1の工程は、第1の流体を提供する工程で
ある。第2の工程は、この第1の流体の少なくともいく
らかが蒸気になる温度に、この第1の流体を加熱する工
程である。第3の工程は、この第1の流体の蒸気部分を
過熱して、少なくとも1つの化学気相成長機器又は同様
な処理機器に送出される配合ガス混合物の凝縮を避ける
のに十分な温度にする工程である。第4の工程は、第2
の流体を提供する工程である。第5の工程は、第2の流
体を加熱して、過熱された第1の流体の蒸気部分が第2
の流体に接触するときに、この過熱された蒸気部分が凝
縮するのを避けるのに十分な温度にする工程である。第
6の工程は、加熱された第2の流体と過熱された第1の
流体の蒸気部分とを組み合わせて、化学気相成長、エピ
タキシャル層成長、又は同様な処理のために所望とされ
る物理的及び化学的性質を持つ配合ガス混合物を作る工
程である。最後の工程は、配合ガス混合物を分配母管に
送出して、そこからこの配合ガス混合物を、少なくとも
1つの化学気相成長機器又は同様な処理機器に送出する
工程である。
【0009】上述の装置及び方法において、第1の流体
はトリクロロシラン(SiHCl3)(TCS)でよく
第2の流体は水素(H2 )でよい。しかしながら、本発
明を使用して、他の気相成長流体を動的に配合及び送出
してもよい。例えば、第1の流体は別の流体でもよく、
これは限定をするわけではないが、四塩化ケイ素(Si
Cl4 )、ジクロロシラン(SiH2 Cl2 )、テトラ
エチルオルトシリケート(TEOS)、オキシ塩化リン
(POCl3 )、トリメチルシラン(SiH(CH3
3 )、三塩化ホウ素(BCl3 )、六フッ素化タングス
テン(WF6 )を含む。他の可能な第2の流体は、限定
をするわけではないが、ヘリウム、窒素、アルゴン、及
び酸素を含む。
【0010】本発明の第2の態様は、第1と第2の流体
の所望の流量比を自動的に維持し、配合ガス混合物の所
望の物理的及び化学的性質を維持する追加の工程を含
む。この態様の変形では、第1と第2の流体の所望の流
量比を自動的に維持する工程が以下の副工程を含む。
(a)第1の流体の流量を測定し、(b)第2の流体の
流量を測定し、(c)分配母管内圧力の変化を測定し、
そして(d)分配母管内で測定された圧力の変化と反比
例の関係で、所望の流量比において第1と第2の流体の
流量を調節する副工程。
【0011】第3の態様は、上述の第1の態様の工程に
加えて、3つの工程を含む。第1の追加の工程は、第1
の流体とも第2の流体とも配合ガス混合物とも反応しな
い第3の流体を提供する工程である。次の追加の工程
は、第3の流体を加熱して、少なくとも1つの化学気相
成長機器又は同様な処理機器に送出される配合ガス混合
物の凝縮を避けるのに十分な温度にする工程である。最
後の追加の工程は、所定量の気相の加熱された第3の流
体を配合ガス混合物と組み合わせ、それによって、第1
と第2の流体の所望のモル比を維持して、配合ガス混合
物の所望の物理的及び化学的性質を維持するようにし、
且つ、それによって、分配母管における配合ガス混合物
の凝縮を避ける工程である。この態様の1つの変形で
は、第3の流体は不活性ガスである。
【0012】第4の態様は、第3の態様の工程に加えて
1つの工程を有する。この追加の工程は、第1と第2の
流体の所望の流量比を自動的に維持して、配合ガス混合
物の所望の物理的及び化学的性質を維持するようにす
る。
【0013】第5の態様は、第1の態様の工程に加えて
2つの工程を有する。第1の追加の工程は、分配母管の
上流に貯蔵緩衝器を提供する工程である。第2の追加の
工程は、配合ガス混合物を分配母管に送出する前に、配
合ガス混合物をこの貯蔵緩衝器に送出する工程である。
【0014】第6の態様は、配合ガス混合物を分配母管
に供給し、そこから配合ガス混合物を少なくとも1つの
化学気相成長機器又は同様な処理機器に送出するための
動的配合ガス送出装置である。この装置は、(1)第1
の流体を提供する手段、(2)この第1の流体の少なく
ともいくらかが蒸気になる温度に、この第1の流体を加
熱する手段、(3)この第1の流体の蒸気部分を過熱し
て、少なくとも1つの化学気相成長機器又は同様な処理
機器に送出される配合ガス混合物の凝縮を避けるのに十
分な温度にする手段、(4)第2の流体を提供する手
段、(5)第2の流体を加熱して、過熱された第1の流
体の蒸気部分がこの第2の流体に接触するときに、この
過熱された蒸気部分が凝縮するのを避けるのに十分な温
度にする手段、(6)加熱された第2の流体と過熱され
た第1の流体の蒸気部分とを組み合わせて、化学気相成
長、エピタキシャル層成長、又は同様な処理のために所
望とされる物理的及び化学的性質を持つ配合ガス混合物
を作る手段、並びに(7)配合ガス混合物を分配母管に
送出して、そこからこの配合ガス混合物を、少なくとも
1つの化学気相成長機器又は同様な処理機器に送出する
手段、を有する。
【0015】好ましい態様において、第1の流体はトリ
クロロシラン(TCS)であり、第2の流体は水素(H
2 )である。しかしながら、TCS以外の流体を第1の
流体として使用することができ、限定をするわけではな
いが、このTCS以外の流体は、四塩化ケイ素(SiC
4 )、ジクロロシラン(SiH2 Cl2 )、テトラエ
チルオルトシリケート(TEOS)、オキシ塩化リン
(POCl3 )、トリメチルシラン(SiH(CH3
3 )、三塩化ホウ素(BCl3 )、六フッ素化タングス
テン(WF6 )を含む。他の可能な第2の流体は、限定
をするわけではないが、ヘリウム、窒素、アルゴン、及
び酸素を含む。
【0016】第7の態様は、第1と第2の流体の所望の
流量比を自動的に維持し、それによって配合ガス混合物
の所望の物理的及び化学的性質を維持するようにする手
段を有することを除いて、第6の態様と同様な動的配合
ガス送出装置である。好ましい態様において、第1と第
2の流体の所望の流量比を自動的に維持する手段は、流
量比制御装置である。
【0017】第7の態様のもう1つの変形では、第1と
第2の流体の所望の流量比を自動的に維持する手段は、
(1)第1の流体の流量を測定する手段、(2)第2の
流体の流量を測定する手段、(3)分配母管内圧力の変
化を測定する手段、及び(4)前記分配母管内で測定さ
れた圧力の変化と反比例の関係で、所望の流量比におい
て第1と第2の流体の流量を調節する手段、を含む。
【0018】この態様の変形は、第8の態様である。こ
の第8の態様は以下の追加の構成要素を有する。(1)
第1の流体の流量を検知し、この流量を示す信号を提供
する第1のセンサー、(2)第2の流体の流量を検知
し、この流量を示す信号を提供する第2のセンサー、
(3)分配母管内の圧力変化を検知し、この圧力変化を
示す信号を提供する第3のセンサー、並びに(4)第
1、2及び3のセンサーからの信号を受け取り、前記第
1と第2の流体の流量を決定し、前記分配母管内の圧力
変化を決定し、所望の流量比を維持するために第1と第
2の流体の流量に必要とされる全ての調整を決定し、そ
して流量に必要とされる調節を示す少なくとも1つの信
号を、流量比制御装置に送るコンピューター。好ましい
態様において、このコンピューターは、プログラム論理
制御装置である。
【0019】第9の態様は、上述の第6の態様の構成要
素に加えて3つの構成要素を含む。この3つの追加の構
成要素は、(1)第1の流体とも第2の流体とも配合ガ
ス混合物とも反応しない第3の流体を提供する手段、
(2)第3の流体を加熱して、少なくとも1つの化学気
相成長機器又は同様な処理機器に送出される配合ガス混
合物の凝縮を避けるのに十分な温度にする手段、(3)
所定量の気相の加熱された第3の流体を配合ガス混合物
と組み合わせ、それによって、第1と第2の流体の所望
のモル比を維持し、且つ、それによって、分配母管にお
ける配合ガス混合物の凝縮を避ける手段、である。好ま
しい態様では、第3の流体は不活性ガス、例えばアルゴ
ン又はヘリウムである。
【0020】第10の態様は、第9の態様の構成要素に
加えて1つの構成要素を有する。この追加の構成要素
は、第1と第2の流体の所望の流量比を自動的に維持
し、それによって配合ガス混合物の所望の物理的及び化
学的性質を維持するようにする構成要素である。
【0021】本発明の第11の態様は、上述の第6の態
様の構成要素に加えて2つの構成要素を有する。この2
つの追加の構成要素は、(1)分配母管の上流の貯蔵緩
衝器、及び(2)配合ガス混合物を分配母管に送出する
前に、配合ガス混合物を貯蔵緩衝器に送出する手段、で
ある。
【0022】第12の態様では、動的配合ガス送出装置
は装置をパージする手段を有する。
【0023】第13の態様は、成長処理ガスを配合し、
少なくとも1つの化学気相成長機器又は同様な処理機器
に送出する装置である。この装置は、(1)成長ガスを
蓄積し、この成長ガスをそれぞれの機器の需要に応じて
それぞれの機器に分配する分配母管、(2)前記分配母
管からの成長ガス流量の変化によってもたらされる分配
母管における圧力降下を測定するための、この分配母管
に接続されたセンサー、(3)液体成長物質の供給源、
(4)液体成長物質を気化させ、そして得られる蒸気を
過熱する加熱器、(5)加熱器から分配母管への過熱さ
れた蒸気の流量を制御する第1の流量制御装置、及び
(6)第1の流量制御装置を調節して、過熱された蒸気
の流量が分配母管内の圧力変化に反比例の関係になるこ
とを可能にする手段、を有する。
【0024】第14の態様は、第13の態様の構成要素
に加えて以下の(1)〜(5)の構成要素を有する。
(1)少なくとも1種のキャリアーガスの少なくとも1
つの供給源、(2)それぞれのキャリアーガスの流量を
制御するためにそれぞれのキャリアーガスの供給源に接
続された追加の流量制御装置、(3)追加の流量制御装
置を調節して、流量が、第1の流量制御装置を通る過熱
された蒸気の質量流量に対して、所定の比になるように
する手段、(4)流量を制御されたそれぞれのキャリア
ーガスと流量を制御された過熱蒸気とを配合する動的配
合手段、及び(5)得られた配合ガス混合物を分配母管
に送出する手段。この態様の1つの変形では、少なくと
も2種のキャリアーガスが存在する。これらは、反応性
物質である少なくとも1種のキャリアーガスと、不活性
物質である少なくとも1種のキャリアーガスである。
【0025】第15の態様は、配合の前に、それぞれの
キャリアーガスの温度を過熱された蒸気の露点よりも高
い温度まで上昇させる加熱手段である追加の構成要素を
有することを除いて、第14態様と同様である。
【0026】本発明のもう1つの側面は、上述の方法、
限定をするわけではないが第1及び第3の態様の方法で
製造された配合ガス混合物である。
【0027】
【発明の実施の形態】本発明は、1又は複数の化学気相
成長機器又は同様な処理機器に配合ガス混合物を送出す
るための動的配合ガス送出装置を教示する。また、本発
明は複数の流体を処理して配合ガス混合物を作り、そし
て配合ガス混合物を分配母管に送出し、この分配母管か
ら配合ガス混合物を1又は複数の化学気相成長機器又は
同様な処理機器に送出する方法を教示する。
【0028】本発明の好ましい態様を図1で説明してい
る。図1で示し以下で議論する特定の場合では、TCS
をH2 ガスと配合して、飽和した混合物又はわずかに飽
和度を低下させた混合物のいずれかを提供する。しかし
ながら、本発明を使用して、TCSとH2 ガス以外の流
体を動的に配合することができる。限定をするわけでは
ないが、使用することができる流体は、四塩化ケイ素
(SiCl4 )、ジクロロシラン(SiH2 Cl2 )、
テトラエチルオルトシリケート(TEOS)、オキシ塩
化リン(POCl3 )、トリメチルシラン(SiH(C
3 3 )、三塩化ホウ素(BCl3 )、六フッ素化タ
ングステン(WF6 )を含む。使用することができる他
の流体は、限定をするわけではないが、ヘリウム、窒
素、アルゴン、及び酸素を含む。
【0029】図1において点線で囲まれている部分20
0は、随意の部分である。この随意の部分の特徴は、不
活性ガス(例えば、アルゴン又はヘリウム)で気体混合
物の飽和度を低下させて、好適なTCS/H2 比を維持
する能力を提供する。(他の不活性ガスを使用すること
ができる。事実、配合されるガス(例えば、TCS及び
2 )と反応しない任意のガスを使用することができ
る。)
【0030】図1を参照すると、液体のTCS供給物1
2を管路14に通して加熱器18に送る。管路14内の
流れは、空気圧式遮断弁16によって調節する。加熱器
18は、複数の通路を持つ熱交換機として機能する電気
加熱器ブロックである。この加熱器は、液体のTCSを
気化させ、そして下流の設備における凝縮を避け、特に
機器への供給源86において配合ガス混合物の凝縮を避
ける操作温度に蒸気を過熱する。(機器への供給源86
は、1若しくは複数の化学気相成長機器又は同様な処理
機器であってよい)。この加熱器は、温度素子22を具
備している。この温度素子22はTCSの温度を示す信
号を温度表示制御装置24に送り、これは制御装置20
に信号を送り、加熱器を制御する(すなわち、必要に応
じてエネルギーの流入量を増加又は減少させる)。温度
表示制御装置は、高温及び低温警報装置を備えていても
よい。
【0031】過熱されたTCS蒸気は、加熱器18から
管路26を通って流れる。管路26の圧力は、圧力変換
器28によって測定する。この圧力変換器28は、圧力
を示す信号を圧力表示計30に提供する。圧力表示計
は、高圧又は低圧のための警報装置を持つことができ
る。同様に、この管路の温度は温度素子32によって測
定する。この温度素子32は、温度を示す信号を温度表
示計34に提供する。温度表示計は、高温又は低温のた
めの警報装置を持つことができる。
【0032】管路26は、ラプチュアディスク36及び
安全弁38も具備している。安全弁32は圧力表示スイ
ッチ40及び高圧スイッチ42を有する。
【0033】過熱されたTCS蒸気の流量は、空気圧式
の制御弁44によって制御する。これは、分配母管82
内の圧力に比例して機能し、1又は複数の処理機器、一
般的に「機器への供給源」86として示したものに供給
する。分配母管82内の圧力は、圧力変換器72によっ
て測定する。この圧力変換器72は、圧力表示制御装置
46に信号を送り、空気圧式制御弁44を制御する。圧
力表示計74は、高圧及び低圧のための警報装置を備え
ていてもよい。分配母管82での圧力の低下は、TCS
流れの要求量を増加させ、逆に、分配母管での圧力の増
加は、TCS流れの要求量を減少させる。(言い換える
とTCS流量は、分配母管内で測定される圧力変化に反
比例の関係で調整する。)
【0034】過熱TCS蒸気流量は、質量流量素子48
によって測定する。これは、信号を流れ信号表示計50
に送る。この信号は、プログラム論理制御装置(PL
C)又は他のタイプのコンピューター(図示せず)によ
って受け取る。質量流量素子48を通る流量を示すこの
信号は、高高(high−high)流れ警報装置52
にも提供される。PLCは特に、様々なパラメーター
(例えば、温度、圧力、流量等)のための検知手段から
の信号を受け取るようにされており、また、出力信号を
特に、流量を制御してガスの所望の配合を維持する制御
弁を調節する制御装置に送る。
【0035】PLC(図示せず)は、過熱TCS蒸気の
流量を示す信号を流量表示計50’にも提供する。この
流量表示計50’は流量比制御装置118に信号を送
り、この制御装置118が、H2 ガス供給管路114の
空気圧式弁116を制御して、過熱TCS蒸気とH2
ス(キャリアーガス)の所望の流量比を維持する。H2
供給物90は、管路94を通り、加熱器100に流れ
る。管路94を通る流れは、逆止め弁92によって規制
することができ、また手動遮断弁96によって調節する
ことができる。H2 ガス流れは、加熱器100で加熱し
て、過熱TCS蒸気がH2 ガスと接触したときに低温の
2 ガスが凝縮をもたらす可能性を最小化する。
【0036】温度素子104は、温度表示制御装置10
2に信号を提供し、そしてこの温度表示制御装置102
は、制御装置98に信号を送り、H2 供給物の温度を所
望の温度に維持する。加熱したH2 ガスは熱交換機10
0から、管路114を通して、空気圧式弁116に送
る。管路114の温度は、温度素子110で測定する。
この温度素子110は、温度表示計112に温度を示す
信号を送る。この温度表示計112は高温及び低温のた
めの警報装置を備えていてもよい。管路114の圧力
は、圧力変換装置106で測定する。この圧力変換装置
106は、圧力を示す信号を圧力表示計108に提供す
る。この圧力表示計108は、高圧及び定圧のための警
報装置を備えていてもよい。
【0037】流量比制御装置118は、流量表示計5
0’(流量素子48を通る過熱TCS蒸気の流量を示
す)からの信号を受けるのに加えて、流量表示計124
(流量表示計124に指示信号を提供する流量素子12
2を通るガスの流量を表す)からの信号も受ける。流量
表示計124は、高高流量警報装置126にも信号を提
供する。
【0038】加熱されたH2 ガス(キャリアーガス)
は、流量素子122から管路128を通って流れる。こ
の管路128は、管路54に接続されており、ここで過
熱TCS蒸気を加熱H2 ガスと配合する。この配合ガス
混合物は、管路54を通って貯蔵緩衝器56までつなが
っており、これは、下流でのバッチ処理による流量の変
動を和らげ、また装置の全流量が増加又は減少したとき
に組成の変化を最小化する。貯蔵緩衝器は、レベルスイ
ッチ58を具備しており、これは任意の液体を検知し、
高液面(high−liquid)警報装置60に信号
を送る。液が警報レベルまで上昇することは、加熱器1
8及び/又は加熱器100での熱の損失を示し、装置は
保護のために自動的に閉じる。
【0039】配合ガス混合物は、貯蔵緩衝器56から管
路62に流れる。管路62の圧力は、圧力変換装置64
によって測定する。この圧力変換装置64は、圧力を示
す信号を圧力表示制御装置66に提供する。この圧力表
示制御装置66は、空気圧制御弁68を制御する。この
弁は、最終用途(例えば、半導体製造の処理機器)が要
求する装置の操作条件に従って設定される圧力変換器6
4の設定点に基づいて、貯蔵緩衝器の圧力を維持する。
【0040】弁68から、配合ガス混合物を管路62及
びフィルター70に連続的に流す。これは、分配母管8
2に配合ガス混合物を入れる前に、配合ガス混合物をろ
過する。分配母管を通って機器への供給源86に達する
流れは、空気圧式遮断弁80又は手動遮断弁84によっ
て調節することができる。
【0041】解析機器への接続78は、管路62を通っ
て分配母管82に達する流れの試料採取を可能にする。
解析器を解析器接続に取り付けることによって、配合ガ
ス混合物流れの組成を確認することが可能になる。手動
遮断弁76を使用して、解析器接続部への流れを調節す
る。
【0042】装置の随意の部分200は、ヘリウム、ア
ルゴン、又はいくらかの他の不活性ガスを、飽和度を低
下させるガスとして加える能力を提供する。これは、最
終使用者が、ガス分配母管82での凝縮を最小化しなが
ら、TCSとH2 ガスの特定のモル比を維持することを
可能にする。
【0043】不活性ガス202は、管路208を通って
加熱器212に流れる。逆止め弁204及び手動遮断弁
206を利用して、不活性ガスの流量を調節することが
できる。加熱器212は、複数の通路を持つ熱交換器と
して機能する電気加熱ブロックである。この熱交換器
は、熱素子214を具備している。この熱素子214
は、加熱不活性ガスの温度を示す信号を温度表示制御装
置216に提供して、加熱器212を制御する制御装置
210を制御する。
【0044】加熱された不活性ガスは、熱交換器212
から管路218を経由て流れる。この管路の圧力は、圧
力変換器220によって測定する。この圧力変換器22
0は、圧力を示す信号を圧力表示計222に提供する。
この圧力表示計は、高圧及び低圧のための警報装置を備
えていてもよい。同様に、この管路の温度は、温度素子
224で測定する。この温度素子224は、温度表示計
226に信号を提供する。温度表示計は、高温及び低温
のための警報装置を備えていてもよい。
【0045】加熱不活性ガスの流量は、空気式制御弁2
28によって制御する。この弁は、流量比制御装置23
0によって調節する。この制御装置230は、流量表示
計50”から、過熱TCS蒸気の流量を示すPLCから
の信号を受ける。また、流量比制御装置230は、流量
素子238を通る不活性ガスの流量を示す信号を流量表
示計234から受ける。また、流量表示計234は、高
高流量警報装置236に信号を提供する。
【0046】流量素子238から、加熱不活性ガスが管
路240を通り管路54に達して、そこで加熱不活性ガ
ス混合物を配合されたTCS/H2 気体混合物と混合す
る。配合ガス混合物に不活性ガスを第3の成分として加
えることは、TCSとH2 ガスの所望のモル比に影響を
与えることなく、配合された流れの露点を低下させる。
【0047】エピタキシャル機器におけるTCS/H2
の反応は、以下の反応で説明される。 SiHCl3 +H2 =Si+3HCl 化学量論条件では、1モルのTCSとの反応のために1
モルのH2 が必要とされる。理想的な条件下では、TC
S/H2 混合物を等しいモル数の混合物でエピタキシャ
ル機器又は化学気相成長機器に供給する。しかしなが
ら、工業的な選択では過剰のH2 を使用する。
【0048】TCS/H2 系のための飽和曲線を図2に
与える。グラフ中の上側の線は、飽和した流れを示し、
下側の線は15mol%のアルゴンで飽和度を低下させ
た流れを示す。15psia(103.425kPa)
において、全流れ中のTCS/H2 の所定比では、それ
ぞれの線の下の温度は液相の存在を示す。上側又は左側
の流れの条件は、飽和度が低下した条件、例えば既に飽
和した流れにH2 を加えた条件(TCS/H2 比を小さ
くする)を示す。比較のために、第3の成分としたアル
ゴンを加える影響(露点を下げる)もグラフに示してい
る。これは、TCS/H2 モル比に影響を与えずに飽和
度が低下した流れを必要とすることがあるある種の最終
用途に有利なことがある。
【0049】初期の立ち上げの前、保全の間、及び最終
的な操業停止の間に、パージガスを装置の管路に通すこ
とによって装置をパージすることができる。パージガス
130は不活性ガス、例えばアルゴンである。ガスを装
置に通した後で、装置のパージ148をスクラバー、バ
ーナー、又は他の処理装置(図示せず)に送る。パージ
ガス供給源130からのパージガスの流量は、逆止め弁
(132、160、168、172、138)及び手動
遮断弁(134、162、170、174)によって調
節されている。パージガスはパージガス供給源から管路
136を経由して装置に流れる。手動遮断弁140は、
パージガスのベンチュリー管144(又は他の減圧発生
装置)への流れを調節する。圧力変換器152は、管路
150内の圧力を測定し、圧力表示計154への信号を
提供する。これは、高圧で空気圧式遮断弁156を閉じ
るための連動装置である。圧力表示計154は高圧及び
低圧のための警報装置を有することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明を説明する処理の流れ図であ
る。
【図2】図2は、飽和した流れ又は15mol%のアル
ゴンで飽和度を低下させた流れの、15psia(10
3.425kPa)でのTCS/H2 混合物の飽和曲線
を示すグラフである。
【符号の説明】
10…動的混合ガス送出装置 18、100、212…加熱器 20、98、210…制御装置 56…貯蔵緩衝器 70…フィルター 78…解析機器 82…分配母管 144…ベンチュリー管
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI C23C 16/448 C23C 16/448 16/455 16/455 C30B 29/06 504 C30B 29/06 504C (72)発明者 トーマス アンソニー デルプラト アメリカ合衆国,ペンシルバニア 18052,ホワイトホール,クレイ スト リート 3114 (72)発明者 ロバート ウィリアム フォード アメリカ合衆国,ペンシルバニア 18078,シュネックスビル,フェリッジ ドライブ 4525 審査官 守安 太郎 (56)参考文献 特開 平11−278987(JP,A) 特開 平6−283451(JP,A) 特開 平8−17749(JP,A) 特開 平9−143737(JP,A) 特開 平6−163434(JP,A) 特開 平5−15766(JP,A) 特開2000−117086(JP,A) 特開2000−167381(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/205 B01F 3/00 B01F 15/00 B01J 4/00 B01J 7/00 C23C 16/00 C30B 25/00 C30B 29/00

Claims (21)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の流体を処理して配合ガス混合物を
    作り、そしてこの配合ガス混合物を分配母管に供給し、
    この分配母管から前記配合ガス混合物を少なくと1つ
    の化学気相成長機器又は同様な処理機器に送出する方法
    であって、 第1の流体を提供すること、 前記第1の流体を、この第1の流体の少なくともいくら
    かの部分が蒸気になる温度に加熱すること、 前記第1の流体の蒸気部分を過熱して、前記少なくとも
    1つの機器に送出される前記配合ガス混合物の凝縮を避
    けるのに十分な温度にすること、 第2の流体を提供すること、 前記第2の流体を加熱して、過熱された前記第1の流体
    の蒸気部分がこの第2の流体に接触するときに、この過
    熱された蒸気部分が凝縮するのを避けるのに十分な温度
    すること、 加熱された前記第2の流体と過熱された前記第1の流体
    の蒸気部分とを組み合わせて、化学気相成長、エピタキ
    シャル層成長、又は同様な処理のために所望とされる物
    理的及び化学的性質を持つ配合ガス混合物を作ること、 前記第1の流体とも前記第2の流体とも前記配合ガス混
    合物とも反応しない第3の流体を提供すること、 前記第3の流体を加熱して、前記少なくとも1つの機器
    に送出される前記配合ガス混合物の凝縮を避けるのに十
    分な温度にすること、 所定量の加熱された前記第3の流体を気相で前記配合ガ
    ス混合物と組み合わせ、それによって前記配合ガス混合
    物の所望の物理的及び化学的性質を維持するようにして
    前記第1と第2の流体の所望のモル比を維持し、またそ
    れによって前記分配母管における前記配合ガス混合物の
    凝縮を避けること、並びに 前記配合ガス混合物を分配母
    管に送出して、この分配母管からこの配合ガス混合物を
    前記少なくとも1つの機器に送出すること、 を含む方法であって、複数の前記流体及び配合ガス混合
    物を、前記分配母管の上流で定期的にパージする、配合
    ガス混合物を少なくと1つの化学気相成長機器又は同様
    な処理機器に送出する方法。
  2. 【請求項2】 前記第1の流体と前記第2の流体の所望
    の流量比を自動的に維持して、前記配合ガス混合物の所
    望の物理的及び化学的性質を維持することを更に含む
    請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 前記分配母管の上流に貯蔵緩衝器を提供
    すること、 前記配合ガス混合物を前記分配母管に送出する前に、前
    記配合ガス混合物を前記貯蔵緩衝器に送出すること 更に含む請求項1に記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記第1と第2の流体の所望の流量比を
    自動的に維持する前記工程が、 前記第1の流体の流量を測定すること、 前記第2の流体の流量を測定すること、 前記分配母管内圧力の変化を測定すること及び前記分
    配母管内で測定された圧力の変化と反比例の関係で、所
    望の流量比において前記第1と第2の流体の流量を調節
    すること 含む請求項2に記載の方法。
  5. 【請求項5】 配合ガス混合物を分配母管に供給し、こ
    の分配母管から前記配合ガス混合物を少なくとも1つの
    化学気相成長機器又は同様な処理機器に送出する動的配
    合ガス送出装置であって、 第1の流体を提供する手段、 前記第1の流体を加熱して、この第1の流体の少なくと
    もいくらかの部分が蒸気になる温度にする手段、 前記第1の流体の蒸気部分を過熱して、前記少なくとも
    1つの機器に送出される前記配合ガス混合物の凝縮を避
    けるのに十分な温度にする手段、 第2の流体を提供する手段、 前記第2の流体を加熱して、過熱された前記第1の流体
    の蒸気部分が前記第2の流体に接触するときに、この過
    熱された蒸気部分が凝縮するのを避けるのに十分な温度
    にする手段、 加熱された前記第2の流体と過熱された前記第1の流体
    の蒸気部分とを組み合わせて、化学気相成長、エピタキ
    シャル層成長、又は同様な処理のために所望とされる物
    理的及び化学的性質を持つ配合ガス混合物を作る手段 前記第1の流体とも前記第2の流体とも前記配合ガス混
    合物とも反応しない第3の流体を提供する手段、 前記第3の流体を加熱して、前記少なくとも1つの機器
    に送出される前記配合ガス混合物の凝縮を避けるのに十
    分な温度にする手段、 所定量の加熱された前記第3の流体を気相で前記配合ガ
    ス混合物と組み合わせ、それによって前記配合ガス混合
    物の所望の物理的及び化学的性質を維持するようにして
    前記第1と第2の流体の所望のモル比を維持し、またそ
    れによって前記分配母管における前記配合ガス混合物の
    凝縮を避ける手段、 前記配合ガス混合物を前記分配母管に送出して、そこか
    らこの配合ガス混合物を前記少なくとも1つの機器に送
    出する手段、並びに 装置をパージする手段、 を有する動的配合ガス送出装置。
  6. 【請求項6】 前記第1と第2の流体の所望の流量比を
    自動的に維持し、それによって前記配合ガス混合物の所
    望の物理的及び化学的性質を維持するようにする手段を
    更に有する請求項に記載の動的配合ガス送出装置。
  7. 【請求項7】 前記分配母管の上流の貯蔵緩衝器、及び
    前記配合ガス混合物を前記分配母管に送出する前に、前
    記配合ガス混合物を前記貯蔵緩衝器に送出する手段、 を更に有する請求項に記載の動的配合ガス送出装
    置。
  8. 【請求項8】 前記第1と第2の流体の所望の流量比を
    自動的に維持する前記手段が、 前記第1の流体の流量を測定する手段、 前記第2の流体の流量を測定する手段、 前記分配母管内圧力の変化を測定する手段、及び前記分
    配母管内で測定された圧力の変化と反比例の関係で、所
    望の流量比において前記第1と第2の流体の流量を調節
    する手段、 を有する請求項に記載の動的配合ガス送出装置。
  9. 【請求項9】 前記第1と第2の流体の所望の流量比を
    自動的に維持する前記手段が、流量比制御装置である
    請求項に記載の動的配合ガス送出装置。
  10. 【請求項10】 前記第1の流体の流量を検知して、そ
    れを示す信号を提供する第1のセンサー、 前記第2の流体の流量を検知して、それを示す信号を提
    供する第2のセンサー、 前記分配母管内における圧力変化を検知して、それを示
    す信号を提供する第3のセンサー、並びに前記第1、2
    及び3のセンサーからの信号を受け取り、前記第1と第
    2の流体の流量を決定し、前記分配母管内の圧力変化を
    決定し、所望の流量比を維持するために前記第1と第2
    の流体の流量に必要とされる全ての調整を決定し、そし
    て諸流量に必要とされる調節を示す少なくとも1つの信
    号を、流量比制御装置に送るコンピューター、 を更に含む請求項に記載の動的配合ガス送出装置。
  11. 【請求項11】 前記コンピューターがプログラム論理
    制御装置である請求項10に記載の動的配合ガス送出
    装置。
  12. 【請求項12】 前記第1の流体がトリクロロシランで
    あり、前記第2の流体が水素である請求項1に記載の
    方法。
  13. 【請求項13】 前記第3の流体が不活性ガスである
    請求項に記載の方法。
  14. 【請求項14】 前記第1の流体がトリクロロシランで
    あり、前記第2の流体が水素である請求項に記載の
    動的配合ガス送出装置。
  15. 【請求項15】 前記第3の流体が不活性ガスである
    請求項に記載の動的配合ガス送出装置。
  16. 【請求項16】 成長処理ガスを配合して、少なくとも
    1つの化学気相成長機器又は同様な処理機器に送出する
    装置であって、 成長処理ガスを蓄積し、且つ前記機器からの需要に応じ
    てそれぞれの機器に前記成長処理ガスを分配する分配母
    管、 前記分配母管からの成長処理ガスの流量変化によって起
    こる前記分配母管内の圧力降下を測定するための、この
    分配母管に接続されたセンサー、 液体成長物質の供給源、 前記液体成長物質を気化させ、そして得られる蒸気を過
    熱する加熱器、 前記加熱器から前記分配母管への過熱された蒸気の流量
    を制御する第1の流量制御装置 前記第1の流量制御装置を調節して、過熱された前記蒸
    気の流量が前記分配母管内の圧力変化に反比例の関係に
    なることを可能にする手段、及び 装置をパージする手
    段、 を有する装置。
  17. 【請求項17】 少なくとも1種のキャリアーガスの少
    なくとも1つの供給源、 それぞれのキャリアーガスの流量を制御するためにそれ
    ぞれのキャリアーガスの供給源に接続された追加の流量
    制御装置、 前記追加の流量制御装置を調節して、前記第1の流量制
    御装置を通る過熱された前記蒸気の質量流量に対して、
    前記キャリアーガスの流量が所定の比になることを可能
    にする手段、 流量を制御された前記それぞれのキャリアーガスと流量
    を制御された前記過熱蒸気とを配合する動的配合手段、
    及び得られた配合ガス混合物を前記分配母管に送出する
    手段、 を更に有する請求項16に記載の装置。
  18. 【請求項18】 少なくとも2種のキャリアーガスが存
    在し、少なくとも1種のキャリアーガスが反応性物質で
    あり、また少なくとも1種のキャリアーガスが不活性物
    質である請求項17に記載の装置。
  19. 【請求項19】 配合の前に、前記それぞれのキャリア
    ーガスの温度を前記過熱蒸気の露点よりも高くする加熱
    手段を更に有する請求項17に記載の装置。
  20. 【請求項20】 配合の前に、前記それぞれのキャリア
    ーガスの温度を前記過熱蒸気の露点よりも高くする加熱
    手段を更に有する請求項18に記載の装置。
  21. 【請求項21】 請求項1の方法で製造された配合ガス
    混合物。
JP29549599A 1998-10-16 1999-10-18 動的混合ガス送出装置及び方法 Expired - Fee Related JP3329775B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/174,196 US6217659B1 (en) 1998-10-16 1998-10-16 Dynamic blending gas delivery system and method
US09/174196 1998-10-16

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000223431A JP2000223431A (ja) 2000-08-11
JP3329775B2 true JP3329775B2 (ja) 2002-09-30

Family

ID=22635229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29549599A Expired - Fee Related JP3329775B2 (ja) 1998-10-16 1999-10-18 動的混合ガス送出装置及び方法

Country Status (8)

Country Link
US (3) US6217659B1 (ja)
EP (1) EP0994502B1 (ja)
JP (1) JP3329775B2 (ja)
KR (1) KR100360921B1 (ja)
AT (1) ATE350140T1 (ja)
DE (1) DE69934646T2 (ja)
SG (1) SG91836A1 (ja)
TW (1) TW538207B (ja)

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3472482B2 (ja) * 1998-06-30 2003-12-02 富士通株式会社 半導体装置の製造方法と製造装置
JP3905678B2 (ja) * 2000-02-28 2007-04-18 株式会社堀場製作所 薄膜堆積方法とその装置および薄膜堆積方法に用いるftirガス分析計並びに薄膜堆積方法に用いる混合ガス供給装置
US7001640B2 (en) * 2000-05-31 2006-02-21 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus and method for forming deposited film
EP1305107B1 (en) 2000-07-31 2006-09-20 Kinetics Chempure Systems, Inc. Method and apparatus for blending process materials
US7905653B2 (en) * 2001-07-31 2011-03-15 Mega Fluid Systems, Inc. Method and apparatus for blending process materials
US6752166B2 (en) * 2001-05-24 2004-06-22 Celerity Group, Inc. Method and apparatus for providing a determined ratio of process fluids
JP2002350925A (ja) * 2001-05-30 2002-12-04 Fuji Photo Film Co Ltd カメラの絞り切換え装置
US7334708B2 (en) * 2001-07-16 2008-02-26 L'air Liquide, Societe Anonyme A Directoire Et Conseil De Surveillance Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Integral blocks, chemical delivery systems and methods for delivering an ultrapure chemical
US6461436B1 (en) * 2001-10-15 2002-10-08 Micron Technology, Inc. Apparatus and process of improving atomic layer deposition chamber performance
US20090001524A1 (en) * 2001-11-26 2009-01-01 Siegele Stephen H Generation and distribution of a fluorine gas
US6474077B1 (en) 2001-12-12 2002-11-05 Air Products And Chemicals, Inc. Vapor delivery from a low vapor pressure liquefied compressed gas
JP4294910B2 (ja) * 2002-03-27 2009-07-15 株式会社東芝 半導体デバイス製造プラントにおける物質供給システム
DE20205819U1 (de) 2002-04-12 2003-08-21 Kinetics Germany Gmbh Vorrichtung zur Bereitstellung von hochreinen Prozesschemikalien
US20030236489A1 (en) 2002-06-21 2003-12-25 Baxter International, Inc. Method and apparatus for closed-loop flow control system
JP2004039921A (ja) * 2002-07-04 2004-02-05 Watanabe Shoko:Kk 成膜装置
ATE346680T1 (de) * 2002-07-19 2006-12-15 Kinetic Systems Inc Verfahren und vorrichtung zum mischen von prozessmaterialien
US7192486B2 (en) * 2002-08-15 2007-03-20 Applied Materials, Inc. Clog-resistant gas delivery system
JP2004091850A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理方法
US6868869B2 (en) * 2003-02-19 2005-03-22 Advanced Technology Materials, Inc. Sub-atmospheric pressure delivery of liquids, solids and low vapor pressure gases
US6909839B2 (en) * 2003-07-23 2005-06-21 Advanced Technology Materials, Inc. Delivery systems for efficient vaporization of precursor source material
US20050120958A1 (en) * 2003-12-07 2005-06-09 Frank Lin Reactor
KR100591762B1 (ko) * 2004-01-19 2006-06-22 삼성전자주식회사 증착 장치 및 증착 방법
JP2006253696A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Asm America Inc ガスインジェクタ制御システム
US20060243207A1 (en) * 2005-04-20 2006-11-02 Jursich Gregory M Fluid mixing and delivery system
JP2007051002A (ja) * 2005-08-19 2007-03-01 Kyocera Mita Corp 用紙カセット
CN100422628C (zh) * 2006-07-28 2008-10-01 周玉成 一种标准气体的动态配制系统
US20100126417A1 (en) * 2007-03-30 2010-05-27 Tokyo Electron Limited Deposition source unit, deposition apparatus and temperature controller of deposition source unit
US8067061B2 (en) 2007-10-25 2011-11-29 Asm America, Inc. Reaction apparatus having multiple adjustable exhaust ports
US20100051109A1 (en) * 2008-09-04 2010-03-04 Michael Meier CO2 dialer and manifold apparatus and system
US8486191B2 (en) * 2009-04-07 2013-07-16 Asm America, Inc. Substrate reactor with adjustable injectors for mixing gases within reaction chamber
KR20100119346A (ko) * 2009-04-30 2010-11-09 한국에이에스엠지니텍 주식회사 증착 장치
US8950414B2 (en) * 2009-07-31 2015-02-10 Tokyo Electron Limited Liquid processing apparatus, liquid processing method, and storage medium
US8671971B2 (en) 2010-08-25 2014-03-18 Michael Meier Systems and methods for providing a monitoring and deactivation apparatus for a beverage distribution system
JP5395102B2 (ja) 2011-02-28 2014-01-22 株式会社豊田中央研究所 気相成長装置
FR2976258B1 (fr) * 2011-06-09 2014-09-05 Air Liquide Installation de conditionnement de no a debitmetres massiques
JP5430621B2 (ja) * 2011-08-10 2014-03-05 Ckd株式会社 ガス流量検定システム及びガス流量検定ユニット
TWI458843B (zh) * 2011-10-06 2014-11-01 Ind Tech Res Inst 蒸鍍裝置與有機薄膜的形成方法
JP5793103B2 (ja) * 2012-04-13 2015-10-14 岩谷産業株式会社 混合気体の供給方法及び供給装置
DE102014100135A1 (de) * 2014-01-08 2015-07-09 Aixtron Se Gasmischvorrichtung an einem Reaktor mit Wegeventil
JP2016134569A (ja) * 2015-01-21 2016-07-25 株式会社東芝 半導体製造装置
TWI772330B (zh) * 2016-10-14 2022-08-01 荷蘭商蜆殼國際研究所 用於定量分析氣態製程流之方法及設備
US10184496B2 (en) * 2016-12-06 2019-01-22 Airgas, Inc. Automatic pressure and vacuum clearing skid method
CN107058982B (zh) * 2017-01-23 2018-06-19 江苏菲沃泰纳米科技有限公司 一种具有多层结构防液涂层的制备方法
CN109237304A (zh) * 2018-06-04 2019-01-18 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 电气设备混合绝缘气体配制灌充系统
CN113262714A (zh) * 2021-05-19 2021-08-17 核工业理化工程研究院 三氟化溴和载荷气体配料方法及装置

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1298086B (de) * 1965-07-28 1969-06-26 Siemens Ag Verfahren zur Dosierung von SiCl oder SiHCl3 in einem Wasserstoffstrom bei der Silicium-Epitaxie
US3771260A (en) 1970-01-29 1973-11-13 Black Sivalls & Bryson Inc Method of vaporizing and combining a liquefied cryogenic fluid stream with a gas stream
US3751644A (en) 1972-02-22 1973-08-07 Sun Oil Co Automatic blending control system
US3856033A (en) 1973-02-22 1974-12-24 Scott Environmental Tech Dynamic gas blending
US3948281A (en) 1973-02-22 1976-04-06 Scott Environmental Technology, Inc. Gas blending using null balance analyzer
JPS55166163A (en) 1979-06-13 1980-12-25 Citizen Watch Co Ltd Controller for anesthetic gas
US4277254A (en) 1980-02-15 1981-07-07 Energy Systems, Incorporated Control system and apparatus for producing compatible mixtures of fuel gases
US5268327A (en) * 1984-04-27 1993-12-07 Advanced Energy Fund Limited Partnership Epitaxial compositions
JPS61232298A (ja) * 1985-04-04 1986-10-16 Shin Etsu Handotai Co Ltd シリコン単結晶の製造方法
US4963506A (en) * 1989-04-24 1990-10-16 Motorola Inc. Selective deposition of amorphous and polycrystalline silicon
JPH0784662B2 (ja) 1989-12-12 1995-09-13 アプライドマテリアルズジャパン株式会社 化学的気相成長方法とその装置
US5447568A (en) * 1991-12-26 1995-09-05 Canon Kabushiki Kaisha Chemical vapor deposition method and apparatus making use of liquid starting material
JP3156326B2 (ja) * 1992-01-07 2001-04-16 富士通株式会社 半導体成長装置およびそれによる半導体成長方法
US5575854A (en) 1993-12-30 1996-11-19 Tokyo Electron Limited Semiconductor treatment apparatus
US5476115A (en) 1994-03-10 1995-12-19 Praxair Technology, Inc. Automatic gas blending system
JP3122311B2 (ja) 1994-06-29 2001-01-09 東京エレクトロン株式会社 成膜処理室への液体材料供給装置及びその使用方法
US5495875A (en) 1994-12-01 1996-03-05 Scott Specialty Gases, Inc. System for continuous blending of a liquid into a gas
US5761911A (en) * 1996-11-25 1998-06-09 American Air Liquide Inc. System and method for controlled delivery of liquified gases
US5789309A (en) * 1996-12-30 1998-08-04 Memc Electronic Materials, Inc. Method and system for monocrystalline epitaxial deposition
JPH10306377A (ja) * 1997-05-02 1998-11-17 Tokyo Electron Ltd 微量ガス供給方法及びその装置
US6039809A (en) * 1998-01-27 2000-03-21 Mitsubishi Materials Silicon Corporation Method and apparatus for feeding a gas for epitaxial growth
WO1999049101A1 (en) * 1998-03-23 1999-09-30 Mattson Technology, Inc. Apparatus and method for cvd and thermal processing of semiconductor substrates

Also Published As

Publication number Publication date
EP0994502B1 (en) 2007-01-03
US20020054956A1 (en) 2002-05-09
US6217659B1 (en) 2001-04-17
TW538207B (en) 2003-06-21
EP0994502A2 (en) 2000-04-19
KR100360921B1 (ko) 2002-11-22
SG91836A1 (en) 2002-10-15
ATE350140T1 (de) 2007-01-15
DE69934646T2 (de) 2007-10-31
KR20000029100A (ko) 2000-05-25
EP0994502A3 (en) 2000-07-26
DE69934646D1 (de) 2007-02-15
US6514564B2 (en) 2003-02-04
US20010009138A1 (en) 2001-07-26
JP2000223431A (ja) 2000-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3329775B2 (ja) 動的混合ガス送出装置及び方法
EP0931861B1 (en) Method and apparatus for feeding a gas for epitaxial growth
KR100944962B1 (ko) 질량유량분할 시스템과 방법
US4108964A (en) Process for the manufacture of silicon dioxide
CN103797563B (zh) 具备原料浓度检测结构的原料气化供给装置
KR101512961B1 (ko) 오리피스 비율 전도성 제어를 이용하여 유동 분할 에러들을 감소시키기 위한 장치 및 방법들
JP2005503603A (ja) フローを分割するためのシステム及び方法
US20160130727A1 (en) Continuous distillation-type trichlorosilane vaporization supply apparatus, and continuous distillation-type trichlorosilane gas vaporization method
WO1994009344A1 (en) Thermal mass flow controller having orthogonal thermal mass flow sensor
JPH02217474A (ja) 化学蒸着装置
US8851010B2 (en) Systems and methods for measuring, monitoring and controlling ozone concentration
JP2866374B1 (ja) エピタキシャル成長用ガスの供給方法及びその装置
JP5998826B2 (ja) 混合ガス供給装置
JP2602298B2 (ja) 気相成長装置
EP0844432A2 (en) Method and apparatus for producing liquid mixtures of oxygen and nitrogen
JPH07118862A (ja) Cvd装置の反応ガス濃度制御方法
JP4542643B2 (ja) ガス供給装置およびガス供給方法
WO2007032053A1 (ja) 反応ガス供給装置及び半導体製造装置
JPH04261020A (ja) 化学気相成長装置
JP3156858B2 (ja) 液体原料供給装置
US5846340A (en) Process for preparing a heat treatment atmosphere and method for regulating said process
CN115182041A (zh) 管路供应系统
JPH0747251A (ja) 混合ガス発生方法
JPH03146669A (ja) CVD装置におけるHclガス流量の測定方法及び制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070719

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees