JP2826217B2 - 光ディスク装置用のエラー制御方法 - Google Patents

光ディスク装置用のエラー制御方法

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JP2826217B2
JP2826217B2 JP3219405A JP21940591A JP2826217B2 JP 2826217 B2 JP2826217 B2 JP 2826217B2 JP 3219405 A JP3219405 A JP 3219405A JP 21940591 A JP21940591 A JP 21940591A JP 2826217 B2 JP2826217 B2 JP 2826217B2
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    • GPHYSICS
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    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B20/10Digital recording or reproducing
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    • G11B2020/183Testing wherein at least one additional attempt is made to read or write the data when a first attempt is unsuccessful

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光信号または光データ
の記録装置に関するものであり、より具体的には、デー
タとシステムの保全性を提供し、その検査を行う、上記
光記録装置用のエラー制御システムに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】光ディスク記録装置および再生装置に
は、エラーを生じやすいという特徴があり、磁気ディス
ク記録装置など他のデータ記録装置には不要であったエ
ラー回復手順が必要である。多くの光ディスク記録装置
の特徴としては、各セクタごとにエンボスされたセクタ
識別信号、データのビットを記録するのに使用される光
ディスクの面積が小さいことに起因する高いデータ・エ
ラー率、現在使用されている光媒体の老化によるエラー
の増加、シークの信頼性に悪影響を及ぼす高いトラック
密度、あるセクタに割り当てられたデータの別のセクタ
への自動的な再割振りなどに伴う諸問題がある。最後の
項目は、米国規格協会(ANSI)の標準案X3.131-198
X SCSI-II, revision10B(1989年8月22日)、特
に第8−27ないし8−29ページおよび第15−1な
いし15−30ページに記載されている。この標準案
は、委員会 X3B11 によって1989年8月に公布され
た。必要とされているものは、セクタ識別子(ID)と
データ記録域における、一時的なエラー、回復可能なエ
ラー、および回復不可能なエラーを処理するための手順
と機構である。光媒体によって生じたエラーをハードウ
ェア・エラーから分離することも望まれる。記録装置
は、一部のエラーからは自動的に回復することが可能で
ある。このようなエラーを、ソフト・エラーと称する。
光磁気記録装置では、これらのソフト・エラーに対する
再定義が必要である。データを記憶する、または記憶す
るように意図された、データを割り当てられた欠陥セク
タの自動再割り当てを、上述のANSI標準案に記載さ
れた新しいSCSI−II再割振り定義に従って処理す
る機構が望まれる。
【0003】米国特許第3078448号明細書によれ
ば、多重トラック磁気テープ媒体上に記憶された情報を
検査する装置が提供される。検査には、磁気テープ上に
記憶された情報を読み取ってリードバック信号を発生す
る手段が含まれる。この読み取り手段に応答する手段
は、第1および第2の情報チャネルに、それぞれ第1お
よび第2のバージョンのリードバック信号を同時に発生
する。出力信号すなわち2つのバージョンのリードバッ
ク信号は、2つのバージョンのうちの一方を選択できる
ように、この2つのバージョンの間の差を検出する比較
手段に送られる。第1情報チャネルでは、大振幅の信号
クリッピング・レベルを用いてそのバージョンを発生し
て、磁気テープからのリードバック信号を検出するが、
第2情報チャネルでは、より小さな振幅の信号クリッピ
ング・レベルを用いて、読み取った信号を処理する。ハ
イレベルとローレベルのクリッピング・レベルは、ハイ
レベルとローレベルのリードバック判定基準と考えるこ
とができる。ハイレベルのクリッピング・レベルは、雑
音除去機能として働くが、ローレベルのリードバック判
定基準は、比較的小さな振幅の信号を回復するためのも
のである。
【0004】米国特許第3774154号明細書には、
磁気テープ記録装置における強力なエラー検出/訂正コ
ードの使用が教示されている。信号を磁気テープに記録
する場合、書込み後読取り(リード・アフタ・ライト)
手順を使用する。その書込み後読取り手順では、強力な
エラー検出/訂正コード(ECC)によって、最小限の
数のエラーを訂正しながら正しいデータを提供できる場
合には、その信号がそのテープ上に残される。しかし、
書込み後読取り動作中のエラーの数が所定の閾値を越え
る場合には、そのデータはテープから消去され、そのテ
ープ上の異なる記録域に再書き込みされる。信号から誘
導されたエラー位置指示信号(デッド・トラッキング信
号とも称する)をこのECCとともに使用して、エラー
を訂正する。磁気テープ上に記録されたばかりのエラー
を生じた信号を記憶するために、前記のエラー指示信号
が存在しなければならない。
【0005】米国特許第4571714号明細書には、
光ディスク記録装置上で、データ・トラックから分離さ
れた較正トラックが開示されている。上記の較正トラッ
クは、光ディスク記録装置の焦結兼トラッキング回路を
較正するために使用される。
【0006】米国特許第4638472号明細書には、
光ディスクのセクタ内のエラー検出が開示されている。
この動作は、書込み後読取り動作中に行われる。書き込
まれたばかりの光ディスク・セクタ内でエラーが検出さ
れた場合、まだホスト・プロセッサ内にある情報が、バ
ッファ・メモリを使用して、記録媒体の代替記録域上に
再書き込みされる。この動作には、データを別の記録域
に再書き込みできるように、ホスト・プロセッサがその
データの有効なコピーを保持していることが必要であ
る。光ディスクに書き込まれた信号とそこから読み取ら
れた信号は、再割り当て区域に書き込まれないことに留
意されたい。代替記録域に記録されるのは、ホスト・プ
ロセッサが記憶し供給するデータである。
【0007】米国特許第4835757号明細書では、
不良セクタまたは欠陥セクタを指すアドレスを有するデ
ータ用の代替区域が教示されている。この特許は、上記
米国特許第4638472号明細書と重複するものであ
ると思われる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、光デ
ィスク記録システム用の、包括的なエラー検出/回復制
御システムを提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の1態様では、光
媒体への信号またはデータの記録および媒体からの信号
の読取りを含む、媒体との信号の交換に関する様々なデ
ィスク記録装置の動作に対して、ハイレベルとローレベ
ルの判定基準を確立する。前記ハイレベルとローレベル
の判定基準は、動作によって異なり、たとえば、ディス
クの光磁気記録域内での記録と読取りに対する判定基準
は、その媒体のエンボス部分または読み取り専用メモリ
(ROM)部分での読取りに対するものとは異なる。
【0010】本発明のもう1つの態様によれば、ローレ
ベルの判定基準を使用する場合に限って媒体から首尾よ
く信号を読み取れる時は、媒体から読み取られた信号
が、光ディスク媒体の異なる部分に再記録される。この
データの再記録または再割り当ては、その媒体の光磁気
(MO)部分や、ROMなどの事前に記録された部分に
も等しく適用される。
【0011】本発明のもう1つの態様は、まずハイレベ
ルの判定基準を使用して信号交換機能を実行するもので
ある。エラーが検出された場合、ハイレベルの判定基準
で再試行を行うことができる。ハイレベルの判定基準で
の読み取りに失敗した時に、光ディスク記録装置の焦結
兼トラッキング回路が較正される。この較正の後に、媒
体に関連する機能が再度再試行される。この媒体関連機
能が成功した場合、媒体の別の部分へのデータの再割り
当てを延期してよい。焦結兼トラッキング回路の較正
後、媒体関連機能の実行中にエラーが発生した場合は、
再割り当てフラグをセットした後、ローレベルの判定基
準を使用して、この機能(たとえば、読取り、書込みま
たは消去)を再度実行する。このローレベルの判定基準
での動作に成功しても、リード・バックの成功を保証す
るために、媒体から読み取った信号は、その媒体の異な
る位置に記録される。本発明の範囲内に含まれるその他
の手順および判定基準は、以下の記述および特許請求の
範囲を読めば明らかになる。
【0012】
【実施例】添付の図面で、様々な図面を通じて同一の番
号は、同一の部品または機能を示す。まず、データ・エ
ラー回復手順(DRP)、非データ動作用のエラー回復
手順(ERP)、および記録とリードバック動作の受諾
用にハイレベルとローレベルの判定基準を設定するため
のエラー・レベル監視(ECC)のための本発明の配置
構成について説明する。ハイレベルとローレベルの受諾
判定基準は、動作ごとに異なる。様々な光ディスク動作
に対するハイレベルとローレベルの判定基準の影響を明
瞭に把握するために、これらの判定基準を光ディスク記
録装置の例示的機能に関して配列し、下記の表にまとめ
た。
【0013】 表1 各ディスク・セクタに対するハイレベルとローレベルの判定基準 機能 ハイレベルの判定基準 ローレベルの判定基準 消去 2つのIDが有効 2つのIDが有効 (IDフィールド読取 り) 書込みと書込み検査 2つのIDが有効 2つのIDが有効 (IDフィールド読取 り) 書込み検査 1コード・ワードにつ ローレベル(読取り)の (データ・フィールド いて3バイト以下のエ 判定基準のデータは、別 読取り) ラー、データ同期は有 のセクタには割り当てら 効、再同期バイトは全 れず、ホストからあるデ て有効、ストレス式検 バイスに送られない 検出 読取り 2つのIDが有効 1つのIDが有効 (IDフィールド読取 り) 読取り 1コード・ワードにつ 何らかの方法でデータを (データ・フィールド いて3バイト以下のエ 回復 読取り) ラー、データ同期は有 効、再同期バイトは全 て有効 検査 1コード・ワードにつ ローレベル(読取り)の (データ・フィールド いて3バイト以下のエ 判定基準は、図18の回 読取り) ラー、データ同期は有 復のために、ホスト・プ 効、再同期バイトは有 ロセッサにエラーを報告 効、ストレス式検出を しない 使用 検査 2つのIDが有効 2つのIDが有効 (IDフィールド読取 り) ROM読取り 2つのIDが有効 何らかの方法でデータを (IDフィールド読取 回復 り) ROM読取り 1コード・ワードにつ 何らかの方法でデータを (データ・フィールド いて5バイトのエラー、 回復 読取り) 2つのデータ同期が有 効、3つの再同期バイ トがエラー 上記の表は、独立にアドレス可能な各ディスク・セクタ
で行なわれる動作に対するハイレベルとローレベルの判
定基準を示すものである。機能の欄の最初の単語は、セ
クタの消去、セクタへの書込み、書込まれたセクタの検
査、セクタの読取り、ROMセクタの読取りなどの、機
械動作を指す。広義の機械機能の下にある括弧で囲んだ
機能は、セクタのうちでアクセスされ、ハイレベルとロ
ーレベルの判定基準を適用される部分を示す。すなわ
ち、各ディスク・セクタには、識別(ID)フィールド
とデータ・フィールドがある。データ・フィールドに対
して何らかの動作を行えるようにするには、その前に、
IDフィールドを読取って、正しいトラックとそのトラ
ック内の正しいセクタが適切にアドレスされていること
を確認する必要がある。各セクタ内の各IDフィールド
には、セクタID(トラック番号と、円周番号またはセ
クタ番号)のコピーが3つある。上記の表では、装置
は、書込み機能または消去機能の間に、3つのセクタI
Dのうちの(有効な)2つを読取ることができなければ
ならない。セクタにデータを書込む際には、3つのセク
タIDのうちの2つが有効、すなわち、ローレベルとハ
イレベルの両方の判定基準で読取り可能でなければなら
ない。書込み検査で書込まれたデータを検査する際に
は、IDフィールドを「首尾よく」読取るために、デー
タをそのセクタに書込む前に、3つのIDフィールドの
うちの2つが有効になっていなければならない。すなわ
ち、後で読取るためにデータをセクタに記憶する前に、
3つのIDのうちの2つが、書込み後読取り(書込み検
査)動作の際に有効になっていなければならない。しか
し、書込み検査動作中または独立の検査動作中にデータ
を読取る場合は、ハイレベルの判定基準は、部分的に特
定の各実施例で使用されるエラー検出/訂正コード(E
CC)の力による。たとえば、ハイレベルの受諾判定基
準では、データ・フィールド内で1コード・ワードにつ
いて3バイトがエラーであってもよい(後述)。データ
・フィールドのすべてのデータ同期部分が有効でなけれ
ばならない(各セクタ内に3つのデータ同期部分があ
る)。後述するように、データ・フィールド内の再同期
フィールドは、すべて有効でなければならず、ストレス
式検出手順の下でリードバックが成功しなければならな
い。そうでない場合、そのデータは、その媒体上の別の
セクタに再割り当てされる。以下で「抑制式検出手順」
と称するストレス式検出手順とは、単に、信号回復がエ
ラーを発生しやすくなるようなストレスをかけた、信頼
できる信号回復に最適ではない、信号のリードバックと
検出を意味する。これには、信号削除閾値を単に増加す
るだけなどいくつかの既知の技法が使用できる。
【0014】読取り動作は、書込み動作とは多少異な
る。もちろん、読取り動作は、前述の書込み動作に続く
検査動作の後の、様々な時点で行える。読取り動作中に
IDフィールドを読み取る際、ハイレベルの判定基準
は、2つのIDが有効であることであるが、ローレベル
の判定基準は、1つのIDが有効であることである。ど
のIDも読み取れない場合、特殊なエラー回復手順に従
って、そのデータ・フィールドに達するように上流側の
セクタからのトラックの走査のタイミングを調整し、そ
のデータ・フィールドに到達したとき、データ・フィー
ルドの読取りを試みる。そのデータ・フィールドを読み
取ることができる場合には、ホスト・プロセッサ37の
制御下で、そのデータを別のセクタに割り当てて、そこ
に記録する。読取り動作中にデータ・フィールドを読み
取る際には、ハイレベルとローレベルの判定基準が全く
異なることに注意されたい。ROMセクタのIDフィー
ルドを読み取る際の受諾判定基準は、そのディスクのM
O区域内のIDフィールドを読み取る場合と同じであ
る。ROMのデータ・フィールドの判定基準は、より多
数のバイトがエラーであっても受諾判定基準に合致する
という点で多少異なる。すなわち、この受諾判定基準で
は、1コード・ワードについて、MOの記録の場合より
も多数のシンボルがエラーであっても許容される。RO
M区域のプレスまたは成形によるデータまたはシンボル
の印が、ディスク製造時に訂正のために検査されていな
いことが、この相違の理由である。ROM区域内での記
録は、光磁気区域内での記録よりも安定性が高い。光磁
気記録は、媒体自体の欠陥が増加しやすく、このため、
データは、首尾よく記録された後に実際に破壊され得
る。ROMの場合、ディスクまたは媒体を注意深く取り
扱う限り、このような欠陥の増加は、事実上存在しな
い。
【0015】図1を参照すると、書込みまたは消去動作
のためにセクタIDを読み取っている際のDRP10
は、データ・フィールドの書込みまたは消去のためのD
RP11とは分離され、別個である。これらのDRPの
両方が有効である時は、セクタ動作に対するERP12
が活動状態である。セクタID読取り時に不良トラック
が検出された時にこのようなERPが発生する場合は、
シーク・エラー再試行が行われる。この再試行は、セク
タIDの読取りによって光ヘッドが走査中のトラックを
見つけること、宛先トラックへのトラック差分を計算す
ること、および次いで宛先トラックへのシークを行うこ
とを含む、一連のステップである。その後、セクタID
を読み取るため、DRP10を繰り返す。誤ったトラッ
クが再度見つかった場合は、上記に従って第2の再試行
を試みる。その再試行が不成功であった場合は、シーク
の成功度が高まるように、焦結兼トラッキング回路を較
正する。この較正の後に上記に従って第2の複数のシー
クを試みる。このように繰り返しシークを試みても所望
のトラックがシークされない場合には、本発明の範囲を
越える他の回復手順を行う。シークERP12中にシー
クに成功した場合、ソフト・エラーが発生しており、こ
れらの再試行に関連して発生した感知データが、保守要
員などによって後で評価を受けるために、ホスト・プロ
セッサに送られる。シークが完全に不成功である場合
は、ハード・エラーが発生している。この後者の場合に
は、動作は打ち切られ、そのエラーと発生した感知デー
タが、ホスト・プロセッサ内のエラー回復手順または手
動の介入による評価を受けるために、ホスト・プロセッ
サに送られる。DRP10の間に、セクタID部分で検
出されたエラーの数を監視して、そのデータ・フィール
ド内に記憶されたデータを別のセクタに再割り当てする
必要があるか否かを判定する。
【0016】ステップ10および11で記録に成功した
後、DRP14に入って書込み検査を行う。まずセクタ
IDを読み取るが、DRP14内の手順は、DRP10
の手順と全く同一である。その後DRP15で、表1に
記載の判定基準を使用して、記録したばかりのデータ・
フィールドを読み取る。DRP15の完了時に、この書
込み動作が完了する。この動作は、最初に割り当てられ
たセクタ以外のセクタへのデータの再割り当てを含むこ
ともできる。
【0017】通常の読取り動作中、すなわちディスク媒
体上に記録されたデータを、ホスト・プロセッサが使用
するために回復する間、ホスト・プロセッサは、通常、
読み取るべきデータのイメージまたはコピーを実際には
有していない。まずセクタID DRP16が、正しい
セクタを読み取っていることを保証する。上記DRP1
6は、後述するようにエラー回復を含むことができる。
その後、DRP17で、データ・フィールドの読取りが
検査される。これは、後述するように、複数の再試行と
再較正を含むことができる。DRP17の間に、データ
が首尾よく読み取られたが、該当する判定基準に合致し
ない場合には、ディスク媒体から読み取られたデータ
を、読み取ったばかりのセクタ以外のセクタに再割り当
てし、再記録する。このデータは、別のセクタに首尾よ
く再割り当てされた後に、ホスト・プロセッサに送られ
る。所定の回数だけ再割り当ての試行に失敗した後であ
る場合、このデータは、デバイス・エラーを示す感知情
報、および読み取り動作の状況、すなわちデータが回復
されたがハイレベルの判定基準には合致しない旨の状況
と共に、ホスト・プロセッサに送られる。この場合、読
み取られたばかりのセクタは、使用から外される(欠陥
品に入れる)。DRP15の間は、ホスト・プロセッサ
が記録中のデータの有効なコピーを有しているのに対し
て、DRP17では、ホスト・プロセッサがそのような
データの有効なコピーを有していないという点で、DR
P17とDRP15の間には本質的な相違があることに
留意されたい。
【0018】DRP18および19は、ROMセクタの
読取りに関係する。DRP18は、セクタIDの読取り
に関係し、DRP19は、データ・フィールドの読取り
に関係する。セクタIDまたはデータ・フィールドにエ
ラー状態が発生すると、MOセクタに記録するために、
それにデータが再割り当てされることが起こり得る。も
ちろん、ROMだけのディスクでは、再割り当ては不可
能である。これに関連して、「ROMのみ」のディスク
に、追記域(アブレーティブ記録やバブル記録など)を
設けて、限られたデータ再割り当てを可能にすることも
できる。この処置によって、ROMセクタのエラー状態
が防止される。ECCエラー・レベル・モニタ13が、
DRP15、17および19に適用される。これに関連
して、上記の米国特許第3774154号明細書の一部
分を使用して、これらの機能を実行することができる。
また、本発明によって提供される、上記の米国特許第3
774154号明細書を越える追加の制御も幾つかあ
る。
【0019】図2は、本発明の原理を使用して、ハイレ
ベルとローレベルの判定基準をエラー制御に利用する機
械動作を、単純化した形で示す図である。図2で使用す
る用語「機能」は、表1および図1に示すような、ディ
スクへのデータの記録または書込み、上記データの読取
り、上記データの書込み検査、または上記データの消去
を指す。図2は、表1の別々にリストされた各DRP機
能に対して適用される。エラー制御の第1ステップとし
て、ステップ20で、ハイレベルの判定基準で機能を実
行する。その後、ステップ21で、エラーが発生したか
否かを記録装置が調べる。否の場合は、セクタIDの読
取りから、記録、消去、読み取りなど、データ・フィー
ルドに対する所望の機能の実行などの次の通常動作に進
む。ステップ21でエラーが検出された場合、すなわ
ち、エラーがECCによって訂正されなかった場合に
は、ステップ22で、再試行の最大回数に達しているか
否かを判定する。まだ達していなければ、その機能を再
び試行する。もちろん、再試行の数は、当技術分野で既
知のように、その機能が実行されるたびにカウントされ
る。ステップ22で、最大の再試行回数を越えたことが
検出されたなら、ステップ23で、焦結またはトラッキ
ングの動作不良のためにこのエラーが誘発しないよう
に、焦結兼トラッキング回路54(図3)を較正する。
較正の後、ステップ24で、この機能を、ハイレベルの
判定基準で再び実行する。ステップ25でエラーが検出
されない場合には、ステップ34Aで、再割り当てを行
うべきか否かを判定する。行わない場合は、次の通常の
一連の動作に進む。再割り当てが必要な場合は、後述す
る再割り当て手順を実行する。ステップ25でエラーが
検出された場合は、ステップ26で再割り当てフラグ
(図示せず)をセットした後に、ステップ27で、ロー
レベルの判定基準で同じ機能を実行する。図2に示した
手順の別の形では、ステップ24および25を省略し
て、再割り当ての必要を記録し、ステップ27で、実行
すべき機能をローレベルの判定基準で再試行するだけに
してもよい。ステップ28でエラーが検出された場合、
再割り当てが必要とされ、あるいは他のエラー回復手順
が実行される。ステップ29で、再割り当てが必要かつ
可能な場合、後述するようにこれを行う。再割り当てが
必要でないか、または許可されない場合は、エラー状況
がホスト・プロセッサ37(図3)に送られる。ステッ
プ28でエラーが検出されなかった場合は、ステップ3
4Aで再割り当ての必要が査定され、データを別のセク
タに再割り当てすることなく、通常の動作に進む。図2
が読み取り動作を表す時、データがホスト・プロセッサ
に送られるのは、ハイレベルの判定基準に合致するか、
または異なるセクタへのデータの再割り当てと記録が首
尾よく行われた後である。
【0020】本発明による手順と判定基準をどう実行す
るかの詳細に移る前に、本発明が有利に実施される環境
を図3に示す。光磁気記録ディスク30は、モータ32
によってスピンドル31上で回転するように取り付けら
れている。ヘッドアーム33は、フレーム35に取り付
けられている。ヘッドアーム送り機構34は、ディスク
30の半径方向に移動して、対物レンズ45をトラック
からトラックへと移動させる。記録装置のフレーム35
は、半径方向の往復運動が可能なようにヘッドアーム送
り機構34を取り付けている。ヘッドアーム送り機構3
4が半径方向に移動すると、ディスクにデータを記録
し、ディスクからデータを回復するために、複数の同心
円状のトラックまたはスパイラル・トラックのどのトラ
ックにもアクセスできるようになる。粗動アクチュエー
タ36は、フレーム35に適当に取り付けられ、トラッ
クへのアクセスが可能となるようにヘッドアーム送り機
構34を半径方向に移動させる。この記録装置は、1つ
または複数のホスト・プロセッサ37に適当に接続され
る。このホスト・プロセッサは、制御装置、パーソナル
・コンピュータ、大型システム・コンピュータ、通信シ
ステム、画像信号処理装置などでよい。接続回路38
が、光記録装置とこれに接続するホスト・プロセッサ3
7の間の、論理的および電気的接続を行う。
【0021】マイクロプロセッサ40は、ホスト・プロ
セッサ37への接続を含めて、記録装置を制御する。制
御データ、状況データ、コマンドなどは、両方向バス4
3を介して、接続回路38とマイクロプロセッサ40の
間で交換される。マイクロプロセッサ40には、プログ
ラムまたはマイクロコードを記憶する読み取り専用メモ
リ(ROM)41と、データおよび制御信号を記憶する
ランダム・アクセス・メモリ(RAM)42が含まれ
る。
【0022】記録装置の光学系には、微動アクチュエー
タ46によってヘッドアーム33上に焦結と半径方向の
トラッキング移動が可能なように取り付けられた対物レ
ンズまたは焦結レンズ45が含まれる。このアクチュエ
ータには、焦結を行うためにレンズ45をディスク30
に向かいまたこれから離れる方向に移動させる機構と、
たとえば現在アクセス中のトラックに隣接するトラック
にアクセスしようとするたびに、ヘッドアーム送り機構
34を毎回起動させる必要がないように、100トラッ
クの範囲内でトラックを変更するために、ヘッドアーム
送り機構34の移動と平行に半径方向の移動を行う機構
が含まれる。符号47は、レンズ45とディスク30の
間の両方向光経路を示す。
【0023】光磁気記録の際に、組立てられた実施例の
磁石48(磁石48は電磁石である)が、弱い磁気ステ
アリング場を形成して、レンズ45からのレーザ光に照
らされたディスク30上の小さなスポットの残留磁化の
方向を決定する。このレーザ光のスポットは、記録ディ
スク上の照らされたスポットを、光磁気層(図示せず。
米国特許第3949387号明細書に教示されている希
土類と遷移金属の合金とすることができる)のキュリー
点を越える温度まで加熱する。この加熱によって、その
スポットがキュリー点温度以下に冷える時、磁石48に
よって、残留磁化の方向を所望の磁化方向に向けること
ができる。磁石48は、図では「書込み」方向に向いて
いる。すなわち、ディスク30上に記録された2進1
は、通常、「N極の残留磁化」である。ディスク30を
消去するには、S極がディスク30に隣接するように磁
石48を回転させる。破線50で示すように、回転可能
な磁石48に動作可能に結合されている磁石48の制御
回路49が、書込みと消去の方向を制御する。マイクロ
プロセッサ40は、記録方向の反転を行うため、線51
を介して制御回路49に制御信号を供給する。
【0024】トラックに忠実に追従し、所望のトラック
に素早く正確にアクセスするように、光経路47に従う
ビームの半径方向の位置を制御することが必要である。
この目的のため、焦結兼トラッキング回路54が、粗動
アクチュエータ36と微動アクチュエータ46の両方を
制御する。粗動アクチュエータ36によるヘッドアーム
送り機構34の位置決めは、焦結兼トラッキング回路5
4から線55を介して粗動アクチュエータ36に供給さ
れる制御信号によって、正確に制御される。さらに、焦
結兼トラッキング回路54による微動アクチュエータ4
6の制御は、それぞれ線57および58を介して微動ア
クチュエータ46に送られ、焦結動作とトラック追従お
よびシーク動作を行わせる制御信号による。センサ56
は、微動アクチュエータ46のヘッドアーム33に対す
る相対位置を感知して、相対位置誤差(RPE)信号を
発生する。線57は、2本の信号導線からなり、一方の
導線は、焦結兼トラッキング回路54に焦点誤差信号を
送り、第2の導線は、焦結兼トラッキング回路54から
微動アクチュエータ46内の焦結機構に焦点制御信号を
送る。
【0025】焦結およびトラッキング位置の検出は、デ
ィスク30から光経路47を介して反射され、その後レ
ンズ45を通り、ハーフ・ミラー60を通り、ハーフ・
ミラー61によって反射されて、いわゆる「カド検出
器」62に達するレーザー・ビームを分析することによ
って行われる。カド検出器62は、4つの光素子を有
し、これらはそれぞれ、焦結兼トラッキング回路54に
向かう4本の線63上に信号を供給する。カド検出器6
2の1軸をトラック中心線に位置合せすることによっ
て、トラック追従動作が可能になる。焦結動作は、カド
検出器62の4つの光素子によって検出された光強度を
比較することによって行われる。焦結兼トラッキング回
路54は、線63上の信号を分析して、焦結とトラッキ
ングの両方を制御する。
【0026】次に、ディスク30へのデータの記録また
は書込みについて説明する。磁石48は、データを記録
するための所望の位置まで回転しているものと仮定す
る。マイクロプロセッサ40は、線65を介してレーザ
制御回路66に、書込み動作を行うべきことを示す制御
信号を供給する。これは、書込み用の高強度のレーザ光
ビームを発するように、レーザ67がレーザ制御回路6
6によって付勢されることを意味する。これとは対照的
に、読取りの場合、レーザ67の発するレーザ光ビーム
は、ディスク30上のレーザーに照らされるスポットを
キュリー点以上に加熱しないように、低強度である。レ
ーザ制御回路66は、線68を介してレーザ67に制御
信号を供給し、レーザ67の発した光強度を示すフィー
ドバック信号を線69を介して受け取る。線68上の制
御信号は、光強度を所望の値に調整する。レーザ67
は、ガリウムひ素ダイオード・レーザなどの半導体レー
ザであり、放射される光ビームが、強度変調によって記
録されるデータを表すように、データ信号によって変調
することができる。これに関連して、データ回路75
(後述)は、線78を介してレーザ67に、上記の変調
を行わせるためのデータを表す信号を供給する。この変
調された光ビームは、偏光子70(ビームを直線偏光す
る)を通り、コリメータ・レンズ71を通って、ハーフ
・ミラー60に向かい、反射された後、レンズ45を通
ってディスク30に向かう。データ回路75は、線76
を介して適当な制御信号を供給するマイクロプロセッサ
40によって、記録の準備がされる。マイクロプロセッ
サ40は、データ回路75の準備を行う際に、接続回路
38を介してホスト・プロセッサ37から受け取った記
録コマンドに応答する。データ回路75の準備ができる
と、接続回路38を介してホスト・プロセッサ37とデ
ータ回路75の間でデータが直接に転送される。データ
回路75と補助回路(図示せず)は、ディスク30のフ
ォーマット信号、エラー検出/訂正その他に関係する。
データ回路75は、読取り動作または回復動作の間に、
リードバック信号から補助データを取り去ってから、バ
ス77から接続回路38を介してホスト・プロセッサ3
7に訂正済みのデータを供給する。
【0027】ホスト・プロセッサに送るべきデータをデ
ィスク30から読み取りまたは回復するには、ディスク
30からのレーザ光ビームを光学的および電気的に処理
することが必要である。反射光のその(偏光子70から
の直線偏光が、カー効果を使用したディスク30の記録
によって回転された)部分は、2方向の光経路47に沿
い、レンズ45とハーフ・ミラー60および61を通っ
て、ヘッドアーム33の光学系のデータ検出部分79に
達する。ハーフ・ミラーまたはビーム・スプリッタ80
が、この反射ビームを、同じく反射され回転された直線
偏光を有する2つの等強度のビームに分割する。ハーフ
・ミラー80から反射した光は、第1の偏光子81を通
る。偏光子81は、アクセス中のディスク30のスポッ
ト上の残留磁化が、「N極」または2進1を示す時に回
転された反射光だけを通すように設定されている。これ
を通過した光は、光セル82に当たり、差動増幅器85
に適当な表示信号を供給する。この反射光が、「S極」
すなわち消去極の方向の残留磁化によって回転された時
は、偏光子81は、光を全くまたはほとんど通さず、そ
の結果、光セル82から活動信号が供給されない。これ
と反対の動作が偏光子83によって引き起こされる。偏
光子83は、「S極」によって回転されたレーザ光ビー
ムだけを光セル84に通す。光セル84は、受け取った
レーザ光を示す信号を、差動増幅器85の第2入力端に
供給する。差動増幅器85は、その結果得られる差動信
号(データを表す)を、検出のためデータ回路75に供
給する。ここで検出された信号には、記録されたデータ
のみならず、いわゆる補助信号もすべて含まれている。
本明細書で使用する用語「データ」は、好ましくはデジ
タル形式または離散値形式の、情報搬送信号をすべて含
むものである。
【0028】スピンドル31の回転位置と回転速度は、
適当な回転計またはエミッタ・センサ90によって感知
される。センサ90は、スピンドル31の回転計ホィー
ル(図示せず)上の明暗のスポットを感知する光感知型
であることが好ましく、「回転」信号(デジタル信号)
をRPS回路91に送る。RPS回路91は、スピンド
ル31の回転位置を検出し、回転情報搬送信号をマイク
ロプロセッサ40に供給する。マイクロプロセッサ40
は、磁気データ記憶ディスクで広く実施されているよう
に、上記回転情報を利用して、ディスク30上のデータ
記憶セグメントへのアクセスを制御する。さらに、セン
サ90の信号は、スピンドル速度制御回路93にも送ら
れて、スピンドル31を一定の回転速度で回転させるよ
うモータ32を制御する。スピンドル速度制御回路93
は、モータ32の速度を制御するための周知の水晶制御
式発振器を含むことができる。マイクロプロセッサ40
は、線94を介してスピンドル速度制御回路93に通常
の方式で制御信号を供給する。
【0029】次に、図4を参照すると、ディスク30上
のトラック・ゾーンのフォーマットが概略的に示されて
いる。各光ディスクは、円周上で半径方向に広がるアド
レス可能なデータ記憶用セクタに分割される。上記のセ
クタ分割は、現在の磁気記録ディスクに使用されるもの
と類似している。話を簡単にするために、1つのセクタ
100だけを、図4および5に詳細に示す。1対の事前
にフォーマットされたセクタ区域98および99が、デ
ィスクの中心のスピンドル31からディスクの外縁まで
半径方向に延びる直線上にある。周知のように、上記の
セクタ分割は、記録用の区域のみに限られる。符号10
0は、セクタ・マーク98の円周方向の前端から、次の
セクタ・マーク99の円周方向の前端まで延びる1つの
セクタを表す。通常、ディスク30上には、比較的多数
のセクタが、円周方向に配置される。図4に示されてい
るのは、半径方向で内側の部分に光磁気(MO)記録域
101を有し、半径方向で外側の外周に事前記録(RO
M)域102(事前記録には、媒体へのデータの印のエ
ンボスまたは成形が含まれる)を有する光ディスクであ
る。上記区域の半径方向の配置は、任意である。MO記
録域101は、複数の半径方向のゾーンに分割され、各
ゾーンは、所定の数の記録トラックを有する。半径方向
で最も内側のゾーンである制御トラック103は、ディ
レクトリと他の制御情報を記録するための制御域であ
る。制御トラック103内に較正トラックを設けること
もできる。データ記録トラックの第1のゾーンは、主と
してホスト・プロセッサからのデータの記憶に割り当て
られるトラックの帯域104と、帯域104内のトラッ
ク用の予備セクタとなるトラックの第2の帯域105か
らなる。上記の1ゾーン内の帯域分割は、帯域104の
データ・トラック内への予備セクタの割り当てを妨げる
ものではない。もちろん、帯域104内のトラックの数
は、帯域105内のトラック数よりもはるかに多い。第
2のデータ記憶ゾーンは、主にデータを記憶するトラッ
クの帯域106と、帯域106内のトラック用の予備セ
クタとなるトラックの帯域107からなる。トラックの
第3ゾーンは、主にホスト・プロセッサからのユーザ・
データを記憶するトラックの帯域108と、予備トラッ
クの帯域109を含む。MO記録域101内のゾーンの
数は、個々の記憶用途ごとに決定することができる。R
OM記録域102は、エンボスされた形でデータを記憶
するトラックの帯域110からなる単一のゾーンだけを
有するものとして示されている。MO記録域101内の
トラックの帯域111は、ROM記録域102から再割
り当てされたデータを受け取る予備トラックとなる。上
記の説明から、予備トラックがユーザ・トラックに非常
に近接した位置にあることがわかる。媒体のエラー率が
高いと予想されるので、このことは、MO記録域では重
要である。
【0030】図5は、ディスク30に大量に含まれるセ
クタ100のフォーマットを単純化して示す図である。
トラック115のセクタ100は、MO記録域101ま
たはROM記録域102(図4)のどのゾーンにあって
もよい。トラック115の走査は、矢印114の方向に
進む。矢印114は、光経路47からの静止走査ビーム
(図3)に対するディスク30の相対運動を示す。セク
タ100の先頭部分は、事前フォーマットされた(事前
に記録されることが好ましい)セクタ制御域125から
なる。多くの光ディスクでは、セクタ制御域は、ディス
ク表面にエンボスまたは成形される。ソフト・セクタ式
光ディスクでは、上記の事前フォーマットされたセクタ
制御域125は、製造ディスクの検定時に記録される
か、あるいはユーザのディスク記録装置によってその場
で記録される。セクタ100の先頭フィールドは、フェ
ーズ・ロック・ループなどの時限リードバック回路の使
用に頼らずに検出されるように設計された、5バイトの
ROM記録であるセクタ・マークSM116である。S
M116に記録されたパターンは、このセクタの他の区
域には存在しない、すなわちデータではない。SM11
6は、比較的長い半波長を有する交互のビット・パター
ンからなることが好ましい。データ回路75内の記録装
置クロックまたはフェーズ・ロック・ループ(PLL)
は、クロックまたはPLL同期(VFO)フィールドを
検出することによって、ディスクの回転速度に同期され
る。
【0031】各セクタ制御域125は、セクタ識別子
(以下、セクタID)の3つのコピー118〜120を
有する。各セクタIDは、可変周波数発振器(VFO)
部分と、アドレス・マーク(AM)部分と、IDおよび
CRC部分を含む。セクタIDのコピー118内の第1
のVFOフィールドは、単一の信号パターンVFO11
17を有する。VFO1 117は、図3のデータ回路
75内でPLL(図示せず)の所望の周波数と位相の同
期を行うための、一連の繰り返し信号パターンである。
様々なパターンが既知であり、使用可能である。セクタ
IDの第2のコピー119および第3のコピー120
は、ビットとバイトの同期を行うためのVFOフィール
ドVFO2を有する。VFO2は、所定のパターンを有
する16個の記録バイト位置からなる。各コピー11
8、119および120の走査で次に出会うのが、ID
およびCRC部分である。これらの部分はそれぞれ、そ
のセクタのあるトラックの番号すなわちトラックの半径
方向の位置を表すトラック番号、ならびにセクタ100
のディスク上のインデックス・マーク(図示せず)から
の円周方向の位置を含む。IDおよびCRC部分にはそ
れぞれ、セクタIDの各コピーからのトラック番号とセ
クタ番号のリードバックの正確さを検証する巡回冗長検
査(CRC)冗長度が含まれる。多くのディスクでは、
セクタの番号が、データ記憶域の半径方向の一方の端か
ら反対の端に向かって、順番に付けられる。すなわち、
トラック番号とセクタ番号を別々には使用しない。セク
タIDのコピーを複数にすると、ディスク30の読取り
動作と書込み動作の信頼性が向上する。
【0032】PAフィールド122は、ポストアンブル
を記憶する。このポストアンブルを使用すると、ランレ
ングス制限(RLL)2,7 d,kコードが使用でき
るようになり、前のIDおよびCRCフィールド123
内のデータの最終バイトの正確なフレーム指示が可能に
なる。PAフィールド122の次は、ODFおよびギャ
ップ126である。ODFは、トラック追従オフセット
検出域であり、ミラー・マークとも称する。セクタ制御
域125とデータ記憶域127〜133は、ディスク3
0の溝つき部分にある。ODFは、記録域を横切る半径
方向の線であり、その中には溝がない。すなわちディス
クの溝を中断する第1の表面ミラーとして作用する。O
DFおよびギャップ126の末端部分の溝の中には、溝
内部でフォーマットされていないギャップがあり、光デ
ィスク記録装置がセクタ制御域125の処理を完了する
のに要する時間をかせぎ、読取りモードから書込みモー
ドへの遷移、すなわち図3の磁石48で表される磁化ま
たはバイアス・フィールドの反転などを可能にする。必
要に応じてこのギャップ内に他の制御情報を記録するこ
ともできる。その次に出会うのが、クロック同期フィー
ルドVFO3 127であり、データ・フィールドVF
O同期とも称する。このフィールドは、それ自体の信号
同期パターンを有する。VFO3 127の次は、デー
タ同期フィールドまたはデータ・フレーム指示フィール
ドS130である。このフィールドは、データ・フィー
ルド131に記録された信号に対するPLL動作をd,
kコード境界に整列させるのに特に適した、複数バイト
の同期パターンである。データ・フィールド131は、
図6に示すように、ECC冗長バイトと再同期バイトを
含む、所定数のデータ・バイトである。PAフィールド
132は、データ・フィールド131に対するポストア
ンブルであり、ディスク30への記録に使用する上述の
RLL2,7ブロック・コード化の正確なフレーム指示
を可能にする。PAフィールド132には、記録または
書込み動作中および消去動作中に様々なディスク30の
回転速度に対処するための、速度バッファまたはギャッ
プが含まれる。次に走査されるセクタ134は、SM1
16と同じであるSM133から始まる。
【0033】次に、図6を参照すると、データ同期フィ
ールドS130とデータ・フィールド131の論理構成
が示されている。データ同期フィールドS130は、
d,kコード記号の境界に対してPLL動作を識別また
はフレーム指示するための3つのフレーム指示バイト
(同期バイト)SB137からなる。エラー制御の一部
は、同期バイトSBの妥当性すなわち有効性の測定であ
り、データ・フィールド131に記録されたデータの、
信頼できる、エラー訂正が可能なリードバックを保証す
るために、所定数の同期バイトSBが有効であることを
必要とする。データ・フィールド131は、データ・フ
ィールド内のデータ・エラーの訂正を容易にする再同期
バイトRSによって分離された、ECCで決定される、
一連のインタリーブ式セグメントからなる。インタリー
ブ式セグメントの対は、単一の再同期バイトRS140
によって分離されている。最初の2つのインタリーブ式
セグメント138および139が、データ同期フィール
ドS130の走査に続いて、光経路47からの静止走査
ビームによってまず走査される。再同期バイトRS14
0が、インタリーブ式セグメント139を、インタリー
ブ式セグメント141から始まるインタリーブ式セグメ
ントの第2の対から分離する。省略符号142は、それ
ぞれ再同期バイトによって分離された多数のインタリー
ブ式セグメント対を表す。データ・フィールド131の
末尾は、それぞれECC冗長度を含む2つのインタリー
ブ式セグメント146からなる。ECC冗長度を含むイ
ンタリーブ式セグメント対146は、再同期バイトRS
145によって、データを含む隣接コード・ワード(省
略符号142で表される)から分離される。データ・フ
ィールド131内に記録されたデータの間にこれらの再
同期バイトを点在させると、d,kコード記号の境界に
対するデータ・リードバック動作のフレーム再指定が可
能になり、より信頼性の高い信号リードバックがもたら
される。図6でインタリーブ式セグメント対146に含
まれるECC冗長度コード・ワードによって表されてい
るECCの能力が、このフレーム再指定によって、容易
に使用できるようになる。データ・フィールド131内
の各コード・ワードは、データの全バイトとECC冗長
度からなり、これらは、寸法線147で示されるよう
に、それぞれのインタリーブ式セグメント138〜14
2および146内で、同じ相対バイト位置を占める。上
記コード・ワード内のエラーのあるバイトの数は、本発
明のハイレベルとローレベルの判定基準の1ファクタで
ある。
【0034】図7は、本発明と共に使用され、制御トラ
ック103の帯域内に記録される3つの制御構造を示
す、単純化されたブロック図である。ただし、当技術分
野で知られているように、半径方向で内側の部分と外側
の部分に、追加のトラック帯域を使用して、トラック追
従とシーク用のいわゆるガード帯域と獲得帯域を設ける
ことができることに留意されたい。ディレクトリ150
は、ディスク30上のユーザ・データの物理的位置を識
別する。上記のANSI標準案では、ディレクトリは、
ディスク定義構造(DDS)と称する。DDSは、相対
ブロック・アドレスをディスク30の物理ブロック・ア
ドレスに自動的に変換できるようにする情報を保持す
る。このディレクトリは、いわゆるサブディレクトリ内
に配置され、セクタ番号とトラック番号を指定する、ユ
ーザ・データの論理ブロック・アドレスと、物理アドレ
スの間のテーブル索引である。ディレクトリ150は、
MO記録域101のみならず、ROM記録域102のア
ドレス指定も可能にする。ディスク30の製造時または
ディスク検定中にこれに書き込まれる一次欠陥リスト1
51は、検出された欠陥セクタの物理アドレスのリスト
を保持している。ディスク30のフォーマッティング中
に、欠陥セクタに論理アドレスが与えられない場合、す
なわちアドレス指定がトラックの長さに沿って「スリッ
プ」した場合には、一次欠陥リストなしでもよい。光磁
気媒体の性質上、ディスク30がユーザに出荷された後
に欠陥が発生する可能性がある。このような新規の欠陥
ならびに複数のセクタに及ぶ拡大する欠陥に対処するた
めに、制御トラック103内に二次欠陥リスト152を
設ける。このリストは、随時更新され、欠陥区域を素早
く識別できるようにソートされる。さらに、制御トラッ
ク103内またはそれぞれのデータ域内に、代替セクタ
を指すポインタを設けることができ、ROM記録域10
2用の代替ポインタを二次欠陥リスト内に設けたり、ト
ラックの帯域111内に別のリストを設けてもよい。
【0035】ホスト・プロセッサによる選択を介してデ
ィスク30のゾーン分割を制御するための手配もなされ
ている。図8は、この動作を単純化して示す流れ図であ
る。ディスク30をフォーマットするために記録装置を
活動化する前に、ステップ155で、ホスト・プロセッ
サ37がモード設定コマンドを発行する。このようなモ
ード設定コマンドは周知であるが、このモード設定コマ
ンドは、ゾーンを確立するのに使用されるものであり、
ステップ156で、このステップ155のモード設定コ
マンドの指定に従って、マイクロプロセッサ40を介し
て光ディスク記録装置によりトラックの予備セクタ帯域
を含むゾーンが設定される。その後、ステップ157
で、ROM記録域102をディレクトリ150内で定義
して、アドレス指定を可能にする。ROM記録域102
は、製造時にディスク30に含まれ、したがって、光デ
ィスク記録装置は、ディレクトリ情報を得るため、RO
M記録域102を検査しなければならないことに留意さ
れたい。ROMならびにMO記録域101の代替セクタ
設定は、ディレクトリ150を介して実施できる。
【0036】図9は、パリティ検査付きの1組のROM
セクタを示す。このようなROMセクタのパリティ・セ
ットは、ROM記録域102内の1トラック全体また
は、ROM記録域102内の上記トラックの半分からな
る。別法として、本明細書では説明しない分散アルゴリ
ズムに従って、パリティ・セクタをROM記録域102
内に分散することも可能である。いずれの場合でも、R
OMトラック160は、S0161にあるセクタ0から
始まり、セクタSN−1 162まで延びる1組のセク
タを含み、N個のデータ記憶セクタを提供する。中間の
セクタは、省略符号163で示されている。パリティ・
セクタSP164が、1組のROMセクタの末尾に付加
される。セクタ161〜163内のECC冗長度を含ま
ないデータ全体の排他的論理和をとって、SP164内
のパリティ・バイトを生成する。この時、パリティ冗長
度を生成するためにHマトリックスを使用するが、これ
は既知であるのでこれ以上説明しない。セクタS0〜S
N−1のフォーマットは、図5に示されたフォーマット
と同じであり、MO記録域101に使用されるものと同
じデータ回路75内のデータ処理回路の使用が容易にな
る。このようにして、様々なアプリケーションに対処で
きるように、ディスク30から、ROM記録域102な
らびにMO記録域101のサイズを調整することができ
る。後述するように、図9のフォーマットは、読み取り
不能なROMセクタからデータを回復するのに有用であ
る。ROM記録域と書き込み可能区域の両方を有するデ
ィスクでは、データ修正のためにパリティ・セクタが必
要である時には、エラーを発生したセクタからのデータ
が、連結されたままで、書き込み可能なセクタの1つに
再割り当てされる。このような再割り当てにより、パリ
ティ訂正の計算が不要になる。
【0037】図10は、本発明の教示および原理を使用
して図3の光ディスク記録装置を動作させるための、単
純化された機械動作図である。図10の流れ図で実施さ
れる手順は、図2に関して述べた原理に従う。線168
で示されるように、通常のように書込み動作が開始され
る。この開始には、シーク動作などによって適当にアド
レスされたトラックに対して光経路47に沿って半径方
向でビームの向きを合わせること、および読み取るべき
セクタを走査するために回転方向で位置決めを行うこと
が含まれる。図10の説明では、この動作が完了してい
るものと仮定する。更新の書込み動作では、消去ステッ
プ169で、書き込みに備えて、アドレスされたセクタ
を消去する。上記のステップ169には、データ・フィ
ールド131を消去する前にセクタ制御域125を読み
取ることが含まれる。消去ステップ169で障害が発生
すると、その結果、現セクタに割り当てるはずのデータ
が、別のまたは予備のセクタに再割り当てされる。書込
み動作では、まずステップ170で、セクタ制御域12
5を走査して読み取る。ステップ171で、書込み動作
中のセクタ制御域125のセクタIDの読取りとその前
の消去ステップ169のためのハイレベルの判定基準
が、読み取りの品質に関して検査される(セクタIDの
3つのコピー118〜120のうちの2つを読み取
る)。各セクタへの信号の記録を可能にするためには、
セクタIDのコピー118〜120のうちの2つが読み
取り可能でなければならない。セクタIDの3つのコピ
ーのうちの2つが首尾よく読み取れない場合は、ステッ
プ172で、DRP10に関して上述した原理に基づく
DRPが呼び出される。すなわち、セクタIDデータの
回復が開始される。回復ステップ172の詳細は、図1
1に示されている。セクタIDがハイレベルの判定基準
で回復された場合、すなわちセクタIDの3つのコピー
118〜120のうちの2つが首尾よく読み取られた場
合は、経路173に沿ってステップ175に進み、デー
タが実際にデータ・フィールド131に記録される。セ
クタIDデータの回復に成功しなかった場合は、経路1
74に従ってステップ176に進み、現在アドレスされ
ているセクタに割り当られるはずのデータが、ホスト・
プロセッサ37によって別のセクタに再割り当てされ
る。別のセクタに書き込まれるデータのこの再割り当て
は、既知の技法に従う。ステップ176には、再割り当
ての詳細を示す感知情報をホスト・プロセッサ37に送
ることも含まれる。書込み後読取り中などステップ17
5でのデータの記録中にエラーが発生した場合は、ステ
ップ177に進む。ステップ177で、この記録ステッ
プが、ステップ175でのデータ・フィールド書込みの
最初の再試行であるか否かを判定する。これが最初の再
試行である場合には、上述のステップ169以降を繰り
返す。別法として、最初の再試行では、ステップ170
以降のみを繰り返してもよい(消去を繰り返さなくても
よい)。これが最初の再試行ではない、すなわち2回目
またはそれ以降の再試行である場合は、ステップ178
を実行する。ステップ178で、焦結兼トラッキング回
路54が較正されたか否かを検査し、この書き込み中に
較正を行っていない場合は、ステップ179で、焦結兼
トラッキング回路54を較正し、現在アドレスされてい
るセクタに対してこの回路が較正されたことを記録す
る。次のセクタに進む時、この較正記録は消去される。
焦結兼トラッキング回路54を首尾よく較正した後、上
述のステップ169以降を繰り返す。較正ステップ17
9は、図2のステップ23に対応させると有利である。
焦結兼トラッキング回路の較正に成功したがセクタID
を首尾よく読み取れない場合は、ステップ178からス
テップ182に進んで、永続エラー、すなわち、データ
記録に対するローレベルの判定基準でもある、現セクタ
に対するハイレベルの判定基準に合致しなかった旨を報
告する。したがって、セクタIDの読取りが必要な判定
基準に合致しなかったので、現セクタへのデータ記録は
許可されない。このとき、このデータは、別のセクタに
再割り当てされることになる。
【0038】本発明のエラー制御のもう1つの部分は、
あるセクタから別のセクタへのデータの再割り当ての監
視である。光ディスク記録装置に欠陥が生じて、他のセ
クタへのデータの再割り当てに果てしなく失敗しつづけ
ることがあり得る。ところが、媒体がまだ不良ではない
時に、何らかのエラーの結果、連続して再割り当てに失
敗することもあるので、再割り当ての試みは、3回連続
して失敗するまでは許される。3回目の再割り当てに失
敗した後に、ステップ186で、装置エラーが報告され
る。すなわち、ディスク30に書き込まれるデータの再
割り当てを3回試みて、そのいずれでも、書込み後読取
り検査でそのデータの記録に成功しなかった場合であ
る。別のセクタへのデータの再割り当ての一連の試みの
際に、この失敗が3回繰り返された時、記録ハードウェ
アのエラー状態を示す信号が、ホスト・プロセッサ37
に送られる。したがって、ステップ182で後でホスト
・プロセッサ37に報告するために永続エラーを報告し
た後に、ステップ183に進んで、再割り当ての試みに
連続して失敗した回数を検出する。ステップ184で行
われた再割り当ての試みの失敗が3回未満である場合
は、記録されるデータの再割り当てが成功した。連続し
て失敗した再割り当ての回数が、現在の書き込み動作に
関して記録される。この書き込み動作から脱出する時、
再割り当てのカウントは消去される。上記の再割り当て
のカウントは、既知のプログラミング技法を使用して、
マイクロプロセッサ40によって行なわれ、RAM42
に記憶される。再割り当ては、ディレクトリ150(図
7)の更新を含む、現データに関する物理セクタのアド
レス指定能力を提供するだけである。再割り当てを首尾
よく完了した後、新規に割り当てられたセクタのセクタ
制御域125のセクタIDの読取りを再び試みることに
よって、書込み動作を再開する。このセクタIDを読み
取れない場合には、もちろん、上述のステップに従っ
て、3回目の再割り当てが不成功であったと検出される
まで再割り当てを行う。この時点で、機械動作は、経路
185に沿って進み、ステップ186で、装置エラー
と、ステップ182で記録された永続エラーを報告す
る。重大な装置エラーが存在するので、この書き込み動
作は打ち切られ、本開示の範囲を越える適当なエラー回
復手順が実施されない限り、この記録装置によるこれ以
上の動作は許されない。
【0039】もちろん、ステップ175でのデータ・フ
ィールドの書込みは、通常は成功する。ステップ175
でデータ・フィールド131の書込みを完了した後に、
ステップ190で、現在のデータの書き込み中に再試行
が行なわれるか否かを判定する。再試行は、セクタID
読取りの再試行、あるいは後述する書込み検査動作中に
行なわれる再試行を含む、データ・フィールド131の
書込み中の再試行である。175から出ている記録エラ
ーの経路をとるのは、トラッキング・エラーまたは焦結
エラーが発生した場合である。いずれにせよ、データ・
フィールド131の記録中に再試行に失敗した場合は、
ステップ191で一時エラーを記録して、後でマイクロ
プロセッサ40がホスト・プロセッサ37に報告する。
この一時エラーの記録には、エラーの種類を定義する通
常の感知データと、その回復の活動記録が含まれる。デ
ータ・フィールド131の記録中に再試行が行れなかっ
た場合、またはステップ191で一時エラーを記録した
後、書き込み検査手順が線192から始まる。あるセク
タに記憶されたデータの現在の品質を検査するため、矢
印193で示すように、独立の検査コマンドを使用し
て、検査動作を開始することができる。表1に示すよう
に、セクタへのデータの書込みの後に自動的に実行され
る書込み検査と、独立の書き込みコマンドのどちらも使
用可能である。この書込み検査は、ステップ194でセ
クタを読み取ることからなる。上記の読取りについて
は、図11および12の正規または正常の読取り動作に
関して後述する。セクタの読取りを完了した後に、ステ
ップ198で、ハイレベルの判定基準に合致したか否か
を判定する。ほとんどの書込み動作では、ハイレベルの
判定基準に合致する。ステップ199で、ハイレベルの
判定基準に合致するために書込み再試行が必要であった
か否かを検査する。このような書込み再試行が必要であ
った場合は、ステップ200で、一時エラーならびに、
他のエラーが存在するならそれをホスト・プロセッサ3
7に報告する。ホスト・プロセッサ37のプログラム
は、ステップ200で報告されたエラーに注意して、現
セクタから別のセクタへのデータの再割り当てを独立に
決定することができる。このような再割り当ては、本発
明の説明を越えるものである。ステップ199で再試行
が示されなかった場合には、現セクタの書込み動作から
脱出して、他の機械動作に移る。
【0040】ステップ198の「ハイレベルの判定基準
に合致するか否か」の検査に戻って、ハイレベルの判定
基準に合致しない場合には、ステップ201で、この検
査が、ホスト・プロセッサ37が記録されたばかりのデ
ータのコピーを有する、書込み検査(経路192からこ
の検査動作に入る)であるか、それともホスト・プロセ
ッサが通常は記録されたデータの有効なコピーを有しな
い、検査コマンド(経路193からこの検査動作に入
る)であるかを判定する。書込み検査の場合には、ステ
ップ203以降を実行するが、独立の検査の場合には、
図18に示される機械動作を実行する。書込み検査であ
ると仮定すると、ステップ203で、現在の再試行が最
初の再試行であるか否かを判定する。これが最初の検査
再試行である場合には、ステップ194で示される動作
を繰り返す。2回目以降の再試行である場合は、ステッ
プ204で、2回目の再試行であるか否かを判定する。
2回目の再試行である場合は、ステップ205で焦結兼
トラッキング回路54を較正し、ステップ194のセク
タ読取りを繰り返す。ステップ204で2回目の再試行
でなかった場合は、3回目以降の再試行である。この場
合、ステップ206で、3回目の再試行であるか否かを
判定する。3回目の再試行である場合は、ステップ20
7で、ステップ175で記録されたデータを消去する。
ステップ207から書込み動作を再開して、データの書
込みを試行し、書込み検査動作によってそれを首尾よく
読み取ることができる。これは、マイクロプロセッサ4
0によって、3回目の再試行としてRAM42に記録さ
れることに留意されたい。ステップ206で、3回目の
再試行でない場合には、4回目の再試行である。4回目
の再試行である場合は、現セクタの記録は成功できない
と見なされる。ステップ208で、後でホスト・プロセ
ッサ37に報告するために永続エラーを記録し、書込み
検査または検査が不成功であったので、このデータ域を
再割り当てする。ステップ209で、ディスク30上の
現セクタへのレコードの書込みを試みて連続して行われ
た再割り当ての回数を判定する。連続して不成功であっ
た再割り当ての試みが3回未満である場合は、ステップ
210で、記録すべきデータを別のセクタに割り当て、
その別のセクタに対してこの書込み動作を繰り返す。こ
のとき、再試行のカウントがゼロの状態で新しいセクタ
が開始されるように、上述のセクタの再試行カウントを
消去する。この再割り当てカウントは、装置の動作を検
査するために保持される。ステップ209で、3回の再
試行の試みがすべて不成功であった場合、すなわち再試
行の4回目の試みである場合には、ステップ186に進
んで、装置エラーとその他すべての記録されたエラーを
報告する。その後、システムのアーキテクチャに応じて
他の機械動作を実行するが、後でホスト・プロセッサ3
7に報告するためにRAM42にエラーを記録する代わ
りに、ホスト・プロセッサ37に直接エラーを送ること
も可能である。
【0041】次に、図11を参照すると、本発明を実施
した読取り動作が示されている。この読取り動作は、線
215から始まる。再割り当てカウントと再試行カウン
トが、すべて0にリセットされ、光経路47上のビーム
が、読み取るべき現セクタに位置決めされている。ステ
ップ216で、この装置は、上述の書込み動作と同様
に、セクタ制御域125を読み取る。ステップ217
で、3つのセクタIDのコピー118〜120のうちの
少なくとも2つが首尾よく読み取られたか否かを検査す
る。そうである場合は、読取り動作中のセクタID読取
りに対するハイレベルの判定基準に合致したのでステッ
プ228へ進み、図12に詳細を示すようにデータ・フ
ィールド131を読み取ることができる。セクタIDの
成功裡の読取りには、そのセクタIDが、アドレスされ
ているセクタを識別することの検査、すなわちアドレス
検査が含まれる。しかし、図11のステップ216でセ
クタIDの3つのコピー118〜120のうちの2つが
首尾よく読み取れなかった場合は、経路346を経て一
点鎖線の枠で囲ったステップ172に進んで、セクタI
D読取り中にハイレベルの判定基準に合致しなかった状
態からの回復を試みる。セクタIDデータ回復ステップ
172内に記載された機械動作ステップは、図10に関
して説明した書込み動作でも使用される。
【0042】ステップ172での回復の最初の機械動作
は、ステップ220で光経路47からのビームが正しい
トラックを走査しているか否かを判定することである。
ビームが正しいトラック上にない、すなわちセクタID
が首尾よく読み取られたが、目的のセクタIDと一致し
ない場合は、ステップ221で、シーク回復を行う。ス
テップ221で、シーク・エラーが適当に記録される。
このシーク回復については、既述したので、ここでは繰
り返さない。シーク回復が完了した後、ステップ216
のID読取りを繰り返す。ステップ221でシーク再試
行の回数が所定の数を越えると判定された場合は、焦結
兼トラッキング回路54のシーク回路内で装置エラーが
発生した。この時点で、ステップ235で、装置エラー
が報告され、この読取り動作が打ち切られる。上記のシ
ーク・エラーからの回復には、本明細書の範囲を越える
エラー回復が必要である。シーク再試行の回数のカウン
トは、マイクロプロセッサ40が、RAM42内でシー
ク再試行タリーを生成することによって行われる。シー
ク回復の再試行に成功した後に現セクタを離れる時、一
時シーク・エラーが、後で通常の方式でホスト・プロセ
ッサ37に報告されることになる。
【0043】一方、通常の場合であるが、光経路47の
光ビームが、アドレスされたトラックを走査している場
合には、ステップ222で、再試行の最大回数に達した
か否か、すなわちハイレベルの判定基準を使用してセク
タIDの読取りの再試行が最大回数実行されたか否かを
判定する。達していない場合は、ステップ216を繰り
返す。ハイレベルの判定基準での再試行の最大回数に達
した場合は、ステップ223で、読取り中の現セクタに
対してデータの再割り当てが可能とのマークをRAM4
2内に記憶することによって、データ再割り当てフラグ
をセットする。ステップ224で、焦結兼トラッキング
回路54を較正する。焦結回路とトラッキング回路の両
方を較正することが好ましいが、焦結回路またはトラッ
キング回路のどちらか一方だけを較正することも本発明
の範囲内に含まれる。その後、ステップ225で、セク
タIDをもう一度読み取る。その後、ステップ226
で、現コマンドが読取りコマンドであるか否かを判定す
る。読取りコマンドの場合、次の機械動作は、再試行回
数のカウントであるが、この実施例ではこのカウントは
最大で3である。ステップ227で、首尾よく読み取ら
れたセクタIDのコピー118〜120の数を調べる。
1つのコピーしか読み取られなかった場合は、ステップ
228で、データ・フィールド131を読み取る(一時
エラーを記録して、後で、コマンド実行終了時のいわゆ
る終了状態の間に、ホスト・プロセッサ37に報告す
る)。読み取ったセクタIDのコピー118〜120の
数が1以外である場合には、ステップ350で、セクタ
IDのコピーを2つ以上読み取ったか否かを判定する。
セクタIDのコピー118〜120を2つ以上読み取っ
た場合は、ステップ352で、ステップ223でセット
された再割り当てビットをリセットし(この動作を行う
には、ホスト・プロセッサ37に一時エラーを報告する
必要がある)、ステップ228で、データ・フィールド
131を読み取る。ステップ350でセクタIDのコピ
ーを2つ以上読み取っていなかった場合は、コピー11
8〜120は、全く読み取られなかった。すなわち、現
セクタのセクタIDのコピーがすべて読取り不能であ
る。この時は、ステップ236以降を実行して、データ
・フィールド131の読取りを試みる。
【0044】読取り動作中に、セクタIDのコピー11
8〜120がすべて読取り不能であった場合は、ステッ
プ350からステップ236に進む。ステップ236
で、エラー回復手順は、上流セクタのセクタIDを読み
取る。この上流セクタのセクタIDは、現セクタの走査
の直前に光経路47の光ビームによって走査されたセク
タのIDである。ステップ237で、上流セクタのID
119の読取りの成否を検査する。上流セクタのID読
取りに成功した場合は、上流セクタのデータ・フィール
ドをスキップする。ステップ238で、タイムアウトを
使用して、光経路47上のビームによる走査が現セクタ
のデータ・フィールド131に達する時間を設定する。
これが可能であるのは、全セクタが同一のサイズであ
り、ディスク30の回転速度が既知であり、したがっ
て、ステップ236での上流セクタIDの読取りから、
ODFおよびギャップ126によって示されるデータ・
フィールド131の始めまでの経過時間がわかるからで
ある。別法として、上流セクタ内と現セクタ内の2つの
ODFおよびギャップ126をカウントして、データ・
フィールド131の始めを識別することも可能である。
【0045】図11で、ステップ217、227から、
または352から経路218を経てステップ228に進
み、データ・フィールドの読取りを開始する。データ・
フィールド131(図5)の読取りが不成功である場合
には、経路229に従ってステップ228からステップ
216以降に進んで、現セクタ読取りの再試行を開始す
る。通常は、ステップ228でのデータ・フィールド1
31の読取りは成功し、経路230に従ってこの読取り
動作から脱出して、データ再割り当ての検査を実行し、
ホスト・プロセッサ37に終了状況を提示する。本発明
の原理を使用する後述の再試行によってステップ228
でデータ・フィールド131を読み取ることができない
場合は、経路231を経て判断ステップ232に進む。
ステップ232で、現セクタが、ROM記録域102の
ROMセクタであるか、それともMO記録域101のM
Oセクタであるかを判定する。現セクタがROMセクタ
である場合は、経路234を経て、図14ないし16に
関して後述するROM回復に進む。一方、現セクタがM
Oセクタである場合には、経路233に従って、永続エ
ラーを報告する。読取り動作中の永続エラーには、本明
細書の範囲を越えるエラー回復手順が必要である。
【0046】ステップ228でデータ・フィールド13
1の読取りに成功した後、経路230を経てステップ3
30に進む。ステップ330で、マイクロプロセッサ4
0が、RAM42の再割り当てフラグがセットされてい
るか否かを検査する。再割り当てフラグがセットされて
いない(読取りのハイレベルの判定基準が満たされてい
る)場合には、ステップ333で、ホスト・プロセッサ
37にデータを送る。このステップは、2つの動作のう
ちのいずれかを表す。図3の装置が、バッファまたはキ
ャッシュ・メモリを有さない場合には、データ信号をホ
スト・プロセッサ37に送ることができるが、その妥当
性は検査されない。この場合は、ステップ333で、デ
ータが有効であることをホスト・プロセッサ37に示
し、データ転送を完了させる、いわゆる終了状況を送
る。図3の装置が、十分なバッファ機能またはキャッシ
ュ機能を有する場合は、ステップ333でデータの妥当
性を検査し、ホスト・プロセッサ37に送る準備ができ
るまで、このデータが実際に装置内に保持される。
【0047】RAM42の再割り当てフラグまたは再割
り当てビットが(ステップ223などで)セットされて
いる時は、読み取ったばかりのデータをホスト・プロセ
ッサ37に送るか、あるいは正しいデータであると妥当
性検査で確認する前に、現セクタとは別のセクタにこの
データを記憶しなければならない。ステップ331で、
このデータの再割り当てのためのアドレス指定を行う。
すなわち、読取りに成功したが、ハイレベルの判定基準
に合致しないディスクからのデータを受け取る、新しい
セクタを識別し、ディレクトリ150(図7)に記憶す
るが、このセクタは、記憶済みであると妥当性検査で確
認されない。ステップ332で、データ回路75内にあ
る(キャッシュまたはバッファ内にある)読み取ったば
かりのデータが、図12に示される機械動作によって新
しいセクタに記録される。このデータがホスト・プロセ
ッサ37に送られている場合は、上記データをホスト・
プロセッサ37から検索して、新しいセクタに記録す
る。ステップ333は、読み取ったばかりのデータの新
しいセクタへの記録が首尾よく完了した後に実行され
る。装置内で開始されるこの再割り当てと再記録の処理
を使用することにより、ディスク30上の記録の品質が
維持される。
【0048】機械動作ステップ172は、図10の書込
み動作でも使用される。図10から、ステップ340で
経路219を経てステップ172に入る。この書込み再
試行が最初の再試行の試みである場合には、焦結兼トラ
ッキング回路54を較正し、シーク動作を検査しなけれ
ばならない。したがって、ステップ220以降を実行し
て、これらの所望の動作を行う。一方、この再試行が2
回目以降の再試行である場合には、上記のステップ22
5および226を実行することにより、較正は省略され
る。ステップ226で、実行中のホスト・コマンドが読
取りコマンドではない時は、図10に示された書込みコ
マンドの実行である。書込み回復動作は、ステップ22
6から経路218’を経てステップ354に進み、セク
タIDのコピー118〜120のうち1つだけが読み取
られたか否かを検査する。そうである場合には、経路1
74を経て図10のステップ176に戻る。読み取った
セクタIDの数が1個以外である場合には、ステップ3
55で、セクタIDのコピーを2つ以上読み取ったか否
かを判定する。そうである場合は、経路173を経てス
テップ175に再度入る。すなわち、ハイレベルの判定
基準に合致した。ステップ355で、2つ以上のセクタ
IDのコピーを読み取っていない場合には、コピーを全
く読み取っていない。この場合は、経路174を経て図
10の機械動作に戻る。
【0049】図12は、図11に示された機械動作のう
ち、データ・フィールド読取りステップ228の詳細を
流れ図の形で示す図である。まず、ステップ240で、
図3の装置が、データ・フィールド131を読み取る。
ステップ241で、訂正不能なエラー状況かどうか検査
する。ハイレベルの判定基準に合致する場合は、経路2
30に従って、図11のステップ330に進む。ステッ
プ241でハイレベルの判定基準に合致しない場合(表
1参照)は、ステップ340で、読取り再試行カウント
(retry MAX)を検査して、ハイレベルの判定基準での
再試行の最大回数が実行されたか否かを調べる。そうで
ない場合は、ステップ341で、再度セクタ制御域12
5を読み取り、ステップ240でデータ・フィールドの
読取りを繰り返す(再試行の1サイクルには、ディスク
30が1回転する必要があること、および再試行カウン
トが増分されることに留意されたい)。ステップ340
で、再試行の最大回数に達している場合は、ステップ3
43で、焦結兼トラッキング回路54を較正する。上記
の較正には、較正トラックへのシークが必要であり、デ
ィスク30が数回転する必要があることに留意された
い。焦結回路部分とシーク回路部分の両方を較正するこ
とが好ましいが、本発明はそれだけに限定されるもので
はない。較正ステップ343の後、ステップ344で、
もう一度セクタ制御域125を読み取る。ステップ34
4には、上記図11のステップ216以降に示した再試
行が含まれることに留意されたい。セクタIDの読取り
に成功した後、ステップ345で、再度データ・フィー
ルド131を読み取る。その後、ステップ346で、デ
ータ・フィールド読取りステップ345のエラー状態を
検出する。データが読み取られ、データ・エラーが訂正
された場合は、図11のステップ330以降を実行す
る。しかしステップ346で訂正されたエラーの数がデ
ータ読取りのハイレベルの判定基準を越える場合は、ス
テップ347で、RAM42内で再割り当てフラグ(図
示せず)がセットされる。ステップ348で、再試行の
最大回数を越えたか否かを検査する。越えていない場合
は、ステップ344以降を繰り返して、障害を克服し、
所望のハイレベルの判定基準に合致するよう試みる。再
試行の最大回数を越えている場合は、ステップ349
で、エラーを記録し、後で終了状況の間にホスト・プロ
セッサに報告する。
【0050】ステップ243で、訂正済みデータのデー
タ・エラーの状況を検査する。エラー訂正コードによっ
てデータが訂正された場合は、ステップ245で、3回
目の再割り当ての試みが行なわれたか否かを調べる。そ
うでない場合は、ステップ246で、このデータを再割
り当てし、ステップ247で、新しいセクタに書き込
む。その後、経路230を経て図11のステップ330
に進む。ステップ243でデータ・エラーが訂正されな
かった場合、またはステップ245で3回目の再割り当
てが試みられた場合は、ステップ249で、ホスト・プ
ロセッサ37にデータを送らず、装置エラーを報告す
る。その後、図の機械動作から脱出する。
【0051】図13は、再割り当ての機械動作の流れ図
である。ステップ254の完了した再試行は、図10な
いし12に関して前述したものである。ステップ255
で、書き込み中または書き込み検査中のセクタID読取
りエラー(IDエラーWまたはV)かどうか検査する。
上記エラーが発生した時は、後述するステップ263以
降を実行する。ID読取りエラーでない場合は、ステッ
プ256で、図10に示された、適当な記録を検査する
ためにデータ読取りが可能かどうか書き込み検査状況を
検査する。上記のエラーが発生した時は、別のセクタへ
のデータの再割り当ては、ディスク30から首尾よく読
み取られたデータではなくて、ホスト・プロセッサ37
から得られたデータに基づいて行われる。ステップ25
7で、読取りコマンド中のセクタIDエラーを感知す
る。このエラーも、データの再割り当てを引き起こす。
このタイプのエラーも、ホスト・プロセッサ37に報告
される。セクタID119の読取りエラーでない場合
は、ステップ258に移るが、この再試行は、データ・
フィールド131の読取りの際のエラー検出の判定基準
に合致しなかったことから引き起こされたものである。
ステップ258でデータの読取りに成功したが、エラー
の数Eが判定基準Kを越えた場合は、ステップ263以
降を実行する。エラーの数が判定基準を越えない場合に
は、ステップ259に進んで、ROMエラー回復手順を
決定する。ROMエラーが許容される数を越える場合
は、ステップ263以降に進んで、ROMデータをMO
記録域内のトラックの帯域111に再割り当てする。そ
うでない場合には、図13の機械動作から脱出する。図
13の機械動作は、読取り、消去その他の内容のプログ
ラムに通常の方法で組み込まれたプログラムによって実
行される。
【0052】ステップ258に戻って、MO記録域の読
取りエラー状態の結果、データが訂正できない場合に
は、ステップ260で、永続エラー・フラグをセットす
る。線261は、判断ステップ255〜259の各 "ye
s" 出力を、ステップ263以降の入り口に連結する経
路である。前述のANSI標準案に記載の自動再割り当
てフラグがオフにセットされている場合、すなわち、ホ
スト・プロセッサ37のプログラムが再割り当ての処理
を行おうとする場合は、線264で示されるように、エ
ラー・フラグをセットし、このエラーをホスト・プロセ
ッサ37に報告する。その後、ホスト・プロセッサ37
が、書込み動作の場合にはすでに所有している読取りデ
ータを使用し、そうでない場合はディスク30から読み
取ったばかりのデータを使用して、再割り当てを行い、
このデータをディスク30に再記録する。自動再割り当
てフラグがセットされている場合には、ステップ265
で、上述のデータ再割り当てが実行される。ステップ2
66で、図10の書き込み検査動作が実行される。ステ
ップ267で、書き込みの成否を検査し、成功した場合
は、エラーを記述する感知データをホスト・プロセッサ
37に転送して、図10の機械動作から脱出する。一
方、再割り当ての試みに失敗した場合には、ステップ2
68で、再割り当ての最大回数を検査する。すなわち、
これまでに3回再割り当てに失敗したか否かを調べる。
そうである場合は、装置エラーを報告して、機械動作を
終了する。再割り当ての最大回数に達していない場合
は、ステップ265以降を繰り返す。
【0053】図14ないし16は、ROM記録域102
内のROMトラックに関する動作を示す図である。所望
のまたはアドレスされたセクタをシークし、そのセクタ
に対して光経路47上のビームを円周上または回転方向
で位置決めした後、線272で、単一のROMセクタの
読取りを開始する。図5に示すように、各ROMセクタ
内の信号のフォーマットは、MOセクタ内のそれと同じ
であることに留意されたい。したがって、これらの機械
動作は、MOでは図3に示した検出が必要であるのに対
して、ROM信号の検出には光強度の変動の検出を使用
する点を除いて、実質的に同じである。この2つの検出
動作を組み合わせる方法は、既知であるので、説明しな
い。
【0054】現在アクセスされているROMセクタに対
する最初のステップとして、ステップ273で、セクタ
IDを読み取る。ステップ274で、セクタIDのコピ
ー118〜120のうちの2つが首尾よく読み取られた
か否かを判定する。セクタIDのコピーのうちの2つを
首尾よく読み取った場合、経路275に沿って、図15
に示すROMデータ読取りの機械動作に進む。一方、2
つのセクタIDのコピーを首尾よく読み取れなかった場
合は、ステップ276で、光経路47に沿ったビームが
正しいトラックを走査しているか否かを判定する。この
動作は、走査中のトラックに沿ってセクタIDを読み取
ることによって行われる。ビームが正しいトラックにア
クセスしていない場合は、ステップ277で、シークを
指令して、図1のERP12に関して説明したシーク再
試行を行わせる。その後、ステップ273と274を繰
り返す。ステップ276で、光経路47上のビームが正
しいトラックを走査しているものとすると、その後ステ
ップ278で、最初のID読取り再試行が実行中である
か否かを判定する。そうである場合は、RAM42内の
再試行カウントを、0から1に増分する。最初の再試行
の場合には、同じハイレベルの判定基準を使用して、デ
ィスク30の次の回転でセクタIDのコピーの読取りを
試みる。最初の再試行がすでに完了している場合には、
ステップ279で、2回目の再試行であるか否かを判定
する。再試行カウントが1に等しい場合、この動作は2
回目の再試行であり、ステップ280で、焦結兼トラッ
キング回路54を較正する。較正の後に、ステップ27
3をもう一度繰り返す。上記のセクタIDのコピー11
8〜120のうちの2つの読取りが今度も成功しなかっ
た場合は、この2回目の再試行は不成功であり、その結
果、3回目の再試行を行う。3回目の再試行では、ステ
ップ281で、セクタIDの読取りが行われるが、この
読取りは、ローレベルの判定基準で行われる、すなわ
ち、セクタID119の3つのコピー118〜120の
うちの1つの読取りに成功すればよい。ステップ282
で、この読取りの成否を検査する。セクタIDのコピー
の1つを首尾よく読み取れた場合、経路275を経て、
現ROMセクタのデータ・フィールドの読取りに進む。
読取りに成功したセクタIDのコピーが1つもない場合
は、ステップ284で、RAM42内の再割り当てフラ
グをセットする。ROMセクタのみを有するディスク3
0では、再割り当てを使用することはできない。ステッ
プ285で、ディスク30の次の回転の際に、上流側の
隣接するセクタ(ID−1)のセクタIDのコピーを読
み取る。セクタID−1を読み取る手順は、ステップ2
73以降について説明したものと同じである。セクタI
D−1の読取りに成功した後に、ステップ286で、タ
イムアウトをセットして、光経路47のビームが、アド
レスされたばかりのセクタのデータ・フィールドまで走
査するのに要する時間を設定する。タイムアウトが経過
した時点で、図15に示す機械動作に関して次に述べる
手順に従って、ROMのデータ・フィールド131を読
み取る。
【0055】ROMデータ・フィールドの読取りは、R
OMのデータ・フィールド131に記録されたデータを
感知するステップ289(図15)から始まる。ステッ
プ290で、読取りの判定基準がハイレベルであるかロ
ーレベルであるかを判定する。ハイレベルである場合、
すなわち最初の読取りである場合は、ステップ291
で、ハイレベルの判定基準に合致したか否かを判定す
る。通常なら合致するが、その場合には、ステップ29
2で、読み取ったばかりのデータを、感知情報と共にホ
スト・プロセッサ37に送る。ステップ291でハイレ
ベルの判定基準に合致しなかった場合には、ステップ2
95で、最後の読取りが最初の再試行であるか否かを判
定する。最初の再試行である場合には、経路296を経
て、図14の機械動作に再度入る。一方、最後の読取り
が最初の再試行ではない場合、すなわちRAM42内の
再試行カウントが1またはそれ以上である場合は、ステ
ップ297で、これが2回目の再試行であるか否かを判
定する。上記2回目の再試行は、RAM42内の再試行
カウントが1に等しいことによって示される。2回目の
再試行である場合は、ステップ298で、焦結兼トラッ
キング回路54を較正する。その後、経路296を経て
図14に進み、現ROMセクタの再読取りを行う。一
方、2回目の再試行が不成功である場合は、ステップ2
97から経路299へ進み、ステップ298の較正後に
2回目の読取りを試みる経路296と合流する。この時
点で、図2のステップ24で表される、ハイレベルの判
定基準で行われる最初の再試行の後に、判定基準をハイ
レベルからローレベルに切り替え、このROMセクタの
現データ・フィールドに関してRAM42にその旨を記
録する。ステップ289でデータ・フィールド131を
読み取った後に、ステップ290で、この読取りがハイ
レベルとローレベルのいずれの判定基準に合致したかを
判定する。ステップ302で、ローレベルの判定基準に
合致するか否かを判定する。ローレベルの判定基準に合
致しない場合は、ステップ303で、最後の読取りの試
みが4回目の再試行であるか否か、すなわち経路299
をたどる機械動作によって開始された前の再試行が3回
目の再試行であったか否かを判定する。現在の再試行が
4回目の再試行である場合は、ステップ304で、デー
タ回路75の刻時システム(図示せず)のVFO(可変
周波数発振器)のエラーがこのエラーを引き起こしてい
るのか否かを判定する。そうでない場合は、経路296
を経て図14の機械動作に戻って、4回目の再試行を実
行する。ステップ304でVFOエラーが検出された場
合は、ステップ305で、データ回路75がVFO3フ
ィールド127の信号によってタイミングを設定される
という利益なしで、セクタ制御域125を含むセクタの
読取りを試みる。ステップ306でデータが正しく読み
取られた(データOK)場合は、ステップ310で、一
時エラーを記録して、ホスト・プロセッサ37用の感知
情報にそれを含める。その後、ステップ293で、再割
り当て手順を実行する。ステップ306でデータが正し
い場合には、このデータがホスト・プロセッサ37に転
送されることに留意されたい。データOKとは、エラー
検出/訂正回路が、ディスク30からのデータ・リード
バック中の全エラーを検出し、訂正することができたこ
とを意味する。データOKではない場合は、ステップ3
07で、図9に示す1組のセクタ全体を、たとえばホス
ト・プロセッサ37に読み込めるように、トラック全体
を読み取る。つまり、各ROMは、パリティ・セットの
1要素である。セクタS0〜SN−1内の情報を使用し
て、SP164内でパリティ信号を再生成することがで
きる(これらの信号は、ディスク30の製造時にディス
クに記録された)。現ROMセクタがその1要素である
トラックまたは1組のパリティ・セクタの読取りを完了
した後、ステップ309で、パリティ訂正手順を実行す
る。上記のパリティ訂正では、既知のパリティ技法を使
用する。パリティ訂正の後、ステップ293で、再割り
当て手順を開始する。ステップ302でローレベルの判
定基準に合致した場合は、ステップ310で、データを
ホスト・プロセッサ37に転送し、一時エラーを報告す
る。
【0056】図16は、ROM記録域102内のROM
セクタに対するエラー訂正の概略流れ図である。ステッ
プ314で、図11の読取り手順を使用して、ROMセ
クタを読み取る。ROMセクタのうちの1つが読取り不
能である場合には、ステップ315で、そのようなRO
Mセクタのパリティ・セットに含まれる全セクタを読み
取る。その後、ステップ316で、ホスト・プロセッサ
37内でパリティ訂正を行う。ステップ317で、読取
り不能セクタまたは不良セクタのデータが、パリティ訂
正ステップ316によって再生成される。この再生成さ
れたデータは、ROMセクタから書き込み可能セクタへ
の上記データの再割り当てとして、MO記録域101の
トラック予備帯域111に記録される。
【0057】図17は、図1のECCエラー・レベル・
モニタ13の実施態様を示す図であり、上記米国特許第
3774154号明細書に記載の動作に類似している。
ECC回路320は、通常の方法で組み立てられる。デ
ィスク30から読み取られたデータが、ECC回路32
0を含むデータ回路75に供給される。入力データ・バ
ッファ322が、線321を介して、データ回路75内
の検出器(図示せず)からデータを1バイトずつ順次受
け取る。上記データ検出器は、光ディスク記録装置内の
通常のデータ検出器である。出力データ・バッファ32
3が、訂正済みデータを記憶し、このデータはその後ケ
ーブル77を介して接続回路38に供給されて、ホスト
・プロセッサ37に送られる。検出されたエラーの数
と、そのそれぞれの位置が、ケーブル326を介してE
CC回路320からエラー・レジスタ325に供給され
る。各セクタの読取りの始めに、マイクロプロセッサ4
0から線327を介して供給されるリセット信号が、エ
ラー・レジスタ325をリセットする。デコーダ328
は、エラー・レジスタ325内に記憶されたエラー信号
に応答し、読取り動作または書き込み検査動作の終り、
すなわちデータ・フィールド131の読取りの後に、マ
イクロプロセッサ40から線329または330を介し
て与えられる信号によって起動される。デコーダ328
は、表1に示された判定基準を使用して、エラー検出/
訂正状況を表す信号を作成する。線333上の信号は、
ハイレベルの判定基準に合致することを表す。線334
上の信号は、ローレベルの判定基準に合致することを表
す。線335上の信号は、訂正不能なエラーを表し、線
336上の信号は、他の信号が、それぞれ読取り動作ま
たは書き込み検査動作に対するものであることを確認す
る。マイクロプロセッサ40は、これらの信号に応答し
て、他の図に示した諸機械動作を制御する。デコーダ3
28は、プログラムによって実施できることも理解され
たい。
【0058】本明細書を読めば理解できる通り、光ディ
スク記録装置内でエラー制御を行うための様々な判定基
準と機械動作は変更可能であることを理解されたい。ハ
イレベルとローレベルの判定基準は、各種の光ディスク
の光磁気媒体またはROM光媒体ごとに経験的に決定す
るのが最良である。エラー検出/訂正コードの特性、な
らびに、焦結兼トラッキング回路54の信頼性および焦
結機能およびトラッキング機能の実行時のその精度は、
ハイレベルおよびローレベルの判定基準の確立の際とエ
ラー回復手順で確認すべきファクタである。各再試行お
よび各再割当てには、光ディスク30の追加の回転が必
要であることを理解されたい。この時間の遅延は、シス
テムの性能にマイナスの影響を及ぼし得るが、データの
保全性とシステムの保全性を高めることは、これらの保
全性を欠いて性能を高めることよりも重要である。
【0059】図18は、図3に示した装置による検査コ
マンドの実行で、不合格を示した(検査コマンドの実行
によって、表1にリストしたハイレベルの基準に合致し
ないことが示された)状態からのデータ回復を示す図で
ある。図18の機械動作には、図10のステップ201
から入る。ステップ400で、図3の装置が、不合格の
検出をホスト・プロセッサ37に通知する。ホスト・プ
ロセッサ37内で実行されるステップ401で、ホスト
・プロセッサ37が、図3の装置に読取りコマンドを送
って、不合格になった記録データを記憶しているディス
ク30のセクタ100に記憶されたデータを読み取らせ
る。読取りに成功するための読取りコマンドの判定基準
は、検査コマンドの判定基準よりも低いので、不合格に
なったセクタ100に記憶されたデータでも首尾よく回
復できる可能性がある。図11に示した機械動作は、図
3の装置によって実行される。ステップ402で、図3
の装置が、不合格になったセクタ内のデータの読取りに
成功したか否かを判定する。この読取りコマンドの実行
でデータの読取りに失敗した場合は、ステップ403
で、ホスト・プロセッサ37が、場合によっては手動の
介入によって、本明細書の範囲を越える他のエラー回復
手順を実行する。読取りコマンドの実行によってデータ
の読取りに成功した場合は、図3の装置が、図11のス
テップ330〜332でこのデータを別のセクタに再割
り当てしていたならば、ホスト・プロセッサ37による
これ以上の活動は必要でない。ホスト・プロセッサ37
に供給された感知情報、またはステップ401の読取り
コマンド実行の結果を用いると、ホスト・プロセッサ3
7が、ステップ405〜407を使用していることをつ
きとめることができるようになる。ステップ401で実
行された読取りコマンドが、ハイレベルの判定基準に合
致して行なわれたり(読取りの検出は、検査に使用され
る抑制式検出ではない)、図3の装置が、ステップ33
0〜332を実行しないこともある。この場合、データ
の再割り当ては、ホスト・プロセッサ37の介入によっ
てのみ実行される。ホスト・プロセッサ37が再割り当
てコマンドを発行する場合には、ステップ405で、既
知の再割り当てコマンドを図3の装置に発行すると、ス
テップ406でデータが新しいセクタに再割り当てさ
れ、ステップ407でその新しいセクタに記録される。
【0060】本発明を実施する際に、本明細書に示され
た機械動作を変更し、ホスト・プロセッサ37または図
3に示す装置によってその一部を実行することも可能で
ある。ホスト・プロセッサ37とこのプロセッサに接続
された任意の装置との間での動作の分割は、設計選択の
問題である。ホスト・プロセッサ37と図3に示す装置
の間に制御装置を挿入して、ホスト・プロセッサ、制御
装置および装置の間で、図示の機械動作を分割すること
もできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光ディスク記録装置内で実行され
る、様々なデータ・エラー回復手順(DRP)およびそ
の他のエラー制御機能を示すブロック図である。
【図2】図1に示されたDRP機能を全般的に示す、機
械動作の流れ図である。
【図3】本発明が有利に実施される光ディスク記録装置
の単純化したブロック図である。
【図4】本発明に従って有利に使用することのできる、
図3に示した光ディスク記録装置と共に使用可能な光デ
ィスク記録媒体の概略平面図である。
【図5】図4に示した光ディスク記録媒体のセクタ・フ
ォーマットを示す図である。
【図6】図5に示したセクタと共に使用可能なエラー訂
正データ・マトリクスの概略図である。
【図7】図4に示した光ディスク媒体上に記録できる、
媒体欠陥制御を示す図である。
【図8】図4に示したディスクを使用して、本発明によ
る動作を実施するため、ホストが開始する記録装置の動
作のセットアップを示す単純化した流れ図である。
【図9】本発明を有利に使用することができるROMセ
クタを単純化して示す図である。
【図10】本発明を使用する図4のディスク媒体上に、
データを記録する(書込み動作)ための1組の機械動作
を示す図である。
【図11】図4の光ディスク媒体からデータを読み取
り、所定のエラー条件が発生した時に前記データの再割
り当てを可能にする、媒体に対する読み取り動作のため
の機械動作の単純化した流れ図である。
【図12】データ・フィールド読取りの際のエラー制御
への本発明の適用を含む、図4の光ディスクからのデー
タ・フィールドの読取りを示す流れ図である。
【図13】本発明のハイレベルおよびローレベルの判定
基準を使用する再試行の結果に基づく自動再割り当ての
単純化した流れ図である。
【図14】ROMセクタのID部分の読取りと、前記読
取りへの本発明の適用を単純化して示す流れ図である。
【図15】ROMデータ・フィールドの読取りと、前記
読取りへの本発明の教示の適用を単純化して示す流れ図
である。
【図16】図4のディスクの読み取り不能なROMセク
タからのエラー回復と、その光磁気記憶域への再割り当
ての機械動作を単純化して示す流れ図である。
【図17】図3に示した光学装置で使用可能な、ECC
データ・エラー検出/訂正システムの概略図である。
【図18】記録検査に関連するデータ回復のための機械
動作を単純化して示す流れ図である。
【符号の説明】
30 光磁気記録ディスク 36 粗動アクチュエータ 37 ホスト・プロセッサ 38 接続回路 40 マイクロプロセッサ 42 RAM 45 レンズ 46 微動アクチュエータ 54 焦結兼トラッキング回路 62 カド検出器 67 レーザ 81 偏光子 82 光セル 83 偏光子 84 光セル 100 セクタ 116 セクタ・マーク(SM) 125 セクタ制御域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G11B 20/18 572 G11B 20/18 572F 7/00 7/00 M 20/12 20/12 (72)発明者 ジャドソン・アレン・マックダウェル アメリカ合衆国85715、アリゾナ州トゥ ーソン、イースト・ハーディー 7930番 地 (72)発明者 ロドニー・ジェローム・ミーンズ アメリカ合衆国85715、アリゾナ州トゥ ーソン、イースト・カレ・シルカ 6988 番地 (56)参考文献 特開 平2−177064(JP,A) 特開 平1−196775(JP,A) 特開 平1−112573(JP,A) 特開 昭63−2173(JP,A) 特開 昭61−292269(JP,A) 特開 昭61−271672(JP,A) 特開 昭60−231982(JP,A) 特開 昭57−167143(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 20/18 G11B 20/12 G11B 7/00

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アドレス可能な複数のデータ記憶位置を有
    する光記憶媒体と、焦結用光学系とを備えた光ディスク
    装置において、 (イ)前記複数のデータ記憶位置のうち任意のデータ記
    憶位置に保持されている記録データの感知データに対す
    る受諾判定基準(この受諾判定基準に合致することを感
    知した場合には、前記記録データに付随するエラー検出
    /訂正コードの能力の範囲内で訂正可能な所定の第1の
    数までの訂正済みデータ・エラーを含む、前記記録デー
    タの正しいコピーが生ぜられたものと判定される)のハ
    イレベルの閾値として、前記第1の数を確立するととも
    に、この記録データの感知データが前記ハイレベルの
    に合致しない場合でも、この感知データを受諾するた
    めの受諾判定基準のローレベルの閾値を確立するステッ
    プと、 (ロ)前記複数のデータ記憶位置のうち第1のデータ記
    憶位置に保持されている記録データを光学的に感知して
    その感知データを生成するステップと、 (ハ)前記感知データのエラーを検出及び訂正して訂正
    済みデータを生成し、この訂正済みデータが前記記録デ
    ータの正しいコピーであるか否かを調べるとともに、こ
    の訂正済みデータが前記記録データの正しいコピーでな
    い場合は、この訂正済みデータを拒否し且つ前記第1の
    データ記憶位置が欠陥を有することを指示し、他方、こ
    の訂正済みデータが前記記録データの正しいコピーであ
    る場合は、前記感知データを調べてその訂正済みデータ
    ・エラーの数を第2の数として決定するステップと、 (ニ)前記第1の数と前記第2の数とを互いに比較して
    両者の大小関係を決定するとともに、前記第1の数が前
    記第2の数よりも小さくない場合は、前記感知データが
    前記ハイレベルの閾値に合致することを指示し、他方、
    前記第1の数が前記第2の数よりも小さい場合は、前記
    感知データが前記ハイレベルの閾値に合致しないことを
    指示するステップと、 (ホ)前記ハイレベルの閾値に合致しないという前記ス
    テップ(ニ)の指示に応答して、前記焦結用光学系の焦
    点を較正した後、前記ハイレベルの閾値を使用して、前
    記第1のデータ記憶位置に保持されている記録データを
    再感知して再感知データを生成するとともに、この再感
    知データについて、前記ステップ(ハ)及び(ニ)を反
    復するステップと、 (ヘ)前記ステップ(ホ)の間に行われる記録データの
    再感知が不成功である場合は、前記ローレベルの閾値
    使用して、前記第1のデータ記憶位置に保持されている
    記録データの追加の再感知を行い、この再感知データが
    前記ローレベルの閾値に合致することが指示される場合
    は、この再感知データの訂正済みデータをデータ処理動
    作に使用するとともに、この訂正済みデータを前記複数
    のデータ記憶位置のうち第2のデータ記憶位置に記録す
    るステップとを含むことを特徴とする、エラー制御方
    法。
  2. 【請求項2】前記ステップ(ニ)が、前記ハイレベルの
    閾値に合致することを指示する場合には、前記感知デー
    タをデータ処理動作のためにホストに供給するステップ
    と、前記ステップ(ニ)が、前記ハイレベルの閾値に合
    致しないことを指示する場合には、前記再感知データの
    訂正済みデータを前記第2のデータ記憶位置に記録する
    のに成功した後にだけ、前記再感知データを前記データ
    処理動作のために前記ホストに供給するステップとを含
    むことを特徴とする、請求項1記載のエラー制御方法。
  3. 【請求項3】アドレス可能な複数のデータ記憶位置を有
    する光記憶媒体が、読取り専用(RO)部分及びこのR
    O部分に直接隣接する半径方向の内側の位置に配設され
    た書込み可能(RW)部分から構成され、このRO部分
    及びRW部分の各々におけるフォーマットを、アドレス
    可能な複数のセクタから成るように選択し、各セクタ
    を、前記データ記憶位置のうちの1つとなり、セクタI
    D域及びデータ記憶域を有するように選択した光ディス
    ク装置において、 (イ)前記光ディスク装置と前記光記憶媒体のデータ交
    換動作のために、前記各セクタのセクタID域及びデー
    タ記憶域に対し、受諾判定基準のハイレベルの閾値及び
    受諾判定基準のローレベルの閾値を確立するステップ
    と、 (ロ)第1のデータ交換動作の間に、前記光記憶媒体上
    の第1のデータ記憶位置に対応する一のセクタ内のセク
    タID域及びデータ記憶域にデータを記録するととも
    に、このデータがこのセクタ内に首尾よく記録されて、
    前記光記憶媒体上にデータを記録するための前記ハイレ
    ベルの閾値に合致することを検証するステップと、 (ハ)前記第1のデータ交換動作によって前記第1のデ
    ータ記憶位置に対応する前記セクタ内に記録されたデー
    タを感知するために、前記第1のデータ交換動作の後に
    行われる所定のデータ交換動作が、前記ローレベルの
    に合致するが、前記ハイレベルの閾値には合致しない
    ことを検出するステップと、 (ニ)前記ステップ(ハ)の肯定結果に応答して、前記
    第1のデータ記憶位置に対応する前記セクタから感知さ
    れたデータを、第2のデータ記憶位置に対応する前記R
    W部分内の別のセクタ内に記録するステップとを含むこ
    とを特徴とする、エラー制御方法。
  4. 【請求項4】前記RW部分内の各セクタに対して確立さ
    れる前記ハイレベルの閾値が、前記RO部分内の各セク
    タに対して確立される前記ハイレベルの閾値よりも、高
    品質の感知されたデータを必要とするようにすることを
    特徴とする、請求項3記載のエラー制御方法。
  5. 【請求項5】記第1のデータ記憶位置に対応する前記
    セクタから感知されたデータのエラーの検出及び訂正を
    行い、このエラー訂正済みのデータを、前記第2のデー
    タ記憶位置に対応する前記RW部分内の前記別のセクタ
    内に記録することを特徴とする、請求項3記載のエラー
    制御方法。
  6. 【請求項6】アドレス可能な複数のデータ記憶位置を有
    する光記憶媒体と、焦結用光学系とを備え、前記光記憶
    媒体内のフォーマットを、アドレス可能な複数のセクタ
    から成るように選択し、各セクタを、前記データ記憶位
    置のうちの1つとなり、セクタID域とデータ記憶域を
    有するように選択した光ディスク装置において、 (イ)前記光ディスク装置と前記光記憶媒体のデータ交
    換動作のための、受諾判定基準のハイレベルの閾値及び
    受諾判定基準のローレベルの閾値を確立するステップ
    と、 (ロ)第1のデータ交換動作の間に、前記光記憶媒体上
    の第1のデータ記憶位置に対応する一のセクタ内の前記
    セクタID域及び前記データ記憶域にデータを記録する
    とともに、このデータが当該セクタID域及びデータ記
    憶域に首尾よく記録され、前記ハイレベルの閾値に合致
    することを検証するステップと、 (ハ)前記第1のデータ交換動作によって前記第1のデ
    ータ記憶位置に対応する前記セクタ内のセクタID域及
    びデータ記憶域に記録されたデータを感知するために、
    前記第1のデータ交換動作の後に行われる所定のデータ
    交換動作が、前記ローレベルの閾値に合致するが、前記
    ハイレベルの閾値には合致しないことを検出するステッ
    プと、 (ニ)前記ステップ(ハ)の肯定結果に応答して、前記
    焦結用光学系を較正するステップと、 (ホ)前記ステップ(ニ)の後に、前記ハイレベルの
    を使用して、前記第1のデータ記憶位置に対応する前
    記セクタ内のセクタID域及びデータ記憶域に保持され
    ている記録データを感知するステップと、 (ヘ)この感知された記録データが前記ハイレベルの
    に合致しない場合は、前記ローレベルの閾値を使用し
    て、前記セクタ内のセクタID域及びデータ記憶域に保
    持されている記録データを感知するステップと、 (ト)前記ローレベルの閾値に合致する場合に限って、
    前記第1のデータ記憶位置に対応する前記セクタ内のセ
    クタID域及びデータ記憶域から感知されたデータを、
    第2のデータ記憶位置に対応する別のセクタ内のセクタ
    ID域及びデータ記憶域に記録するステップとを含むこ
    とを特徴とする、エラー制御方法。
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