JP2564894B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- JP2564894B2 JP2564894B2 JP63159625A JP15962588A JP2564894B2 JP 2564894 B2 JP2564894 B2 JP 2564894B2 JP 63159625 A JP63159625 A JP 63159625A JP 15962588 A JP15962588 A JP 15962588A JP 2564894 B2 JP2564894 B2 JP 2564894B2
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- complementary
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- complementary mos
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路装置に関し、特にディジタル
・アナログ回路混在の半導体集積回路装置に関する。
・アナログ回路混在の半導体集積回路装置に関する。
〔従来の技術〕 従来、ディジタル・アナログ回路混在の半導体集積回
路装置は第2図に示すように同一半導体基板101上に、
ディジタル回路120,アナログ回路130が形成されてお
り、製造面においてはディジタル回路部とアナログ回路
部は選択酸化法によってLOCOS(Local Oxidigation of
Sillicon)102を形成して分離することにより互いの影
響を受け難いように施してある。また、マスクレイアウ
ト面においてディジタル回路はディジタル回路部領域
で、アナログ回路はアナログ回路部領域でレイアウトを
施し、ディジタル回路部とアナログ回路部が点在しない
ように配置を考慮しており、かつ、アナログ回路は電源
をVDD106、ディジタル回路は電源をVDD107というように
それぞれ独立した電源を使用している。103はNウェ
ル、104はNチャンネルトランジスタ、105はPチャンネ
ルトランジスタ、109,110,111はGNDである。
路装置は第2図に示すように同一半導体基板101上に、
ディジタル回路120,アナログ回路130が形成されてお
り、製造面においてはディジタル回路部とアナログ回路
部は選択酸化法によってLOCOS(Local Oxidigation of
Sillicon)102を形成して分離することにより互いの影
響を受け難いように施してある。また、マスクレイアウ
ト面においてディジタル回路はディジタル回路部領域
で、アナログ回路はアナログ回路部領域でレイアウトを
施し、ディジタル回路部とアナログ回路部が点在しない
ように配置を考慮しており、かつ、アナログ回路は電源
をVDD106、ディジタル回路は電源をVDD107というように
それぞれ独立した電源を使用している。103はNウェ
ル、104はNチャンネルトランジスタ、105はPチャンネ
ルトランジスタ、109,110,111はGNDである。
上述した従来のディジタル・アナログ回路混在の半導
体集積回路装置は先に述べた製造面、レイアウト面から
の対策にもかかわらず、半導体基板の共通接地GND111を
使用しているため、ディジタル回路120のディジタルノ
イズが共通接地GND111を通じてアナログ回路130に影響
を与え、S/N比の劣化などの悪影響を与えるという欠点
がある。
体集積回路装置は先に述べた製造面、レイアウト面から
の対策にもかかわらず、半導体基板の共通接地GND111を
使用しているため、ディジタル回路120のディジタルノ
イズが共通接地GND111を通じてアナログ回路130に影響
を与え、S/N比の劣化などの悪影響を与えるという欠点
がある。
本発明の目的は前記課題を解決した半導体集積回路装
置を提供することにある。
置を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明に係る半導体集積回
路装置は、相補型MOSアナログ回路と、相補型MOSディジ
タル回路と、対をなす電源端子及び接地端子とを有する
半導体集積回路装置であって、 相補型MOSアナログ回路と相補型MOSディジタル回路と
は、相補型トランジスタの組合せにより、同一の入力信
号に対し、それぞれ逆特性の出力信号を生ずる相補回路
であり、 前記相補型MOSアナログ回路と相補型MOSディジタル回
路のうち一方の回路は、第1導電型の半導体基板上に形
成され、他方の回路は、前記半導体基板上に第2導電型
のウェル領域を介して形成された第1導電型のウェル領
域内に分離して形成されたものであり、 対をなす電源端子と接地端子のうち電源端子は、前記
相補回路に電源を供給するものであり、接地端子は前記
相補回路を接地するものであり、 前記対をなす電源端子と接地端子とは、相互に分離さ
れた前記相補型MOSアナログ回路と前記相補型MOSディジ
タル回路とに対して別個独立に設けられたものである。
路装置は、相補型MOSアナログ回路と、相補型MOSディジ
タル回路と、対をなす電源端子及び接地端子とを有する
半導体集積回路装置であって、 相補型MOSアナログ回路と相補型MOSディジタル回路と
は、相補型トランジスタの組合せにより、同一の入力信
号に対し、それぞれ逆特性の出力信号を生ずる相補回路
であり、 前記相補型MOSアナログ回路と相補型MOSディジタル回
路のうち一方の回路は、第1導電型の半導体基板上に形
成され、他方の回路は、前記半導体基板上に第2導電型
のウェル領域を介して形成された第1導電型のウェル領
域内に分離して形成されたものであり、 対をなす電源端子と接地端子のうち電源端子は、前記
相補回路に電源を供給するものであり、接地端子は前記
相補回路を接地するものであり、 前記対をなす電源端子と接地端子とは、相互に分離さ
れた前記相補型MOSアナログ回路と前記相補型MOSディジ
タル回路とに対して別個独立に設けられたものである。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す縦断面図である。
P型半導体基板1上に形成したNチャンネルトランジ
スタ7とNウェル6の領域に形成したPチャンネルトラ
ンジスタ8で構成された回路を相補型MOSアナログ回路4
0とし、P型チャンネルストッパ11と、Nチャンネルト
ランジスタ7のソース21を電気的に接続して相補型MOS
アナログ回路の接地(GND)61とし、Pチャンネルトラ
ンジスタ8のソース24とN型のチャンネルストッパ12を
電気的に接続してこの回路の電源62として回路を構成す
る。22,23はドレインである。
スタ7とNウェル6の領域に形成したPチャンネルトラ
ンジスタ8で構成された回路を相補型MOSアナログ回路4
0とし、P型チャンネルストッパ11と、Nチャンネルト
ランジスタ7のソース21を電気的に接続して相補型MOS
アナログ回路の接地(GND)61とし、Pチャンネルトラ
ンジスタ8のソース24とN型のチャンネルストッパ12を
電気的に接続してこの回路の電源62として回路を構成す
る。22,23はドレインである。
次に、Nウェル3の領域内に形成されたPウェル4領
域に形成したNチャンネルトランジスタ9と、Pウェル
4領域内に形成されたNウェル5領域に形成したPチャ
ンネルトランジスタ10とで構成された回路を相補型MOS
ディジタル回路50とし、P型のチャンネルストッパ13と
Nチャンネルトランジスタ9のソース31を電気的に接続
してこの回路の接地(GND)64とし、Nウェル5領域内
のPチャンネルトランジスタ10のソース34とN型のチャ
ンネルストッパ14を電気的に接続してこの回路の電源63
として回路を構成する。半導体基板としてP型を使用し
たので、基板の電位を接地(GND)65としておく。2はL
OCOS、32,33はドレインである。
域に形成したNチャンネルトランジスタ9と、Pウェル
4領域内に形成されたNウェル5領域に形成したPチャ
ンネルトランジスタ10とで構成された回路を相補型MOS
ディジタル回路50とし、P型のチャンネルストッパ13と
Nチャンネルトランジスタ9のソース31を電気的に接続
してこの回路の接地(GND)64とし、Nウェル5領域内
のPチャンネルトランジスタ10のソース34とN型のチャ
ンネルストッパ14を電気的に接続してこの回路の電源63
として回路を構成する。半導体基板としてP型を使用し
たので、基板の電位を接地(GND)65としておく。2はL
OCOS、32,33はドレインである。
尚、実施例において、相補型MOS回路で説明したが、
これに限らず、N型,P型回路でも良い。また半導体基板
上に形成した回路をアナログ回路として説明したが、こ
れに限らず、ディジタル回路でもよく、さらに半導体基
板をP型で説明したが、もちろんN型であってもよい。
これに限らず、N型,P型回路でも良い。また半導体基板
上に形成した回路をアナログ回路として説明したが、こ
れに限らず、ディジタル回路でもよく、さらに半導体基
板をP型で説明したが、もちろんN型であってもよい。
以上説明したように本発明はMOSディジタル回路とMOS
アナログ回路とが混在する1つの半導体集積回路装置に
おいて双方の回路のうち一方の回路は第1の導電型の半
導体基板上に形成し、他方の回路は第2の導電型のウェ
ル領域内に第1の導電型で形成したウェル領域に形成す
ることにより、MOSディジタル回路のMOSアナログ回路の
電源、接地を各々独立することができ、特にMOSディジ
タル回路の接地を通じてのディジタルノイズのアナログ
回路への回り込みを防ぐことができ、S/N比のよいMOSデ
ィジタル・アナログ混在の半導体集積回路装置が製造で
きる効果がある。
アナログ回路とが混在する1つの半導体集積回路装置に
おいて双方の回路のうち一方の回路は第1の導電型の半
導体基板上に形成し、他方の回路は第2の導電型のウェ
ル領域内に第1の導電型で形成したウェル領域に形成す
ることにより、MOSディジタル回路のMOSアナログ回路の
電源、接地を各々独立することができ、特にMOSディジ
タル回路の接地を通じてのディジタルノイズのアナログ
回路への回り込みを防ぐことができ、S/N比のよいMOSデ
ィジタル・アナログ混在の半導体集積回路装置が製造で
きる効果がある。
第1図は本発明の一実施例による相補型MOSディジタル
・アナログ混在の半導体集積回路装置を示す縦断面図、
第2図は従来の相補型MOSディジタル・アナログ混在の
半導体集積回路装置を示す断面図である。 1……P型半導体基板、3,5,6……Nウェル 4……Pウェル 7,9……Nチャンネルトランジスタ 8,10……Pチャンネルトランジスタ 22,23,32,33……ドレイン、21,24,31,34……ソース 11,12,13,14……チャンネルストッパ 62……アナログ回路の電源 63……ディジタル回路の電源 40……相補型MOSアナログ回路 50……相補型MOSディジタル回路
・アナログ混在の半導体集積回路装置を示す縦断面図、
第2図は従来の相補型MOSディジタル・アナログ混在の
半導体集積回路装置を示す断面図である。 1……P型半導体基板、3,5,6……Nウェル 4……Pウェル 7,9……Nチャンネルトランジスタ 8,10……Pチャンネルトランジスタ 22,23,32,33……ドレイン、21,24,31,34……ソース 11,12,13,14……チャンネルストッパ 62……アナログ回路の電源 63……ディジタル回路の電源 40……相補型MOSアナログ回路 50……相補型MOSディジタル回路
Claims (1)
- 【請求項1】相補型MOSアナログ回路と、相補型MOSディ
ジタル回路と、対をなす電源端子及び接地端子とを有す
る半導体集積回路装置であって、 相補型MOSアナログ回路と相補型MOSディジタル回路と
は、相補型トランジスタの組合せにより、同一の入力信
号に対し、それぞれ逆特性の出力信号を生ずる相補回路
であり、 前記相補型MOSアナログ回路と相補型MOSディジタル回路
のうち一方の回路は、第1導電型の半導体基板上に形成
され、他方の回路は、前記半導体基板上に第2導電型ウ
ェル領域を介して形成された第1導電型のウェル領域内
に分離して形成されたものであり、 前記第1導電型のウェル領域内には、第1導電型のウェ
ルを有する第2導電型のチャンネルトランジスタを含
み、さらに前記第1導電型のウェルの中に、第2導電型
のウェルを有する第1導電型のチャンネルトランジスタ
を含み、 対をなす電源端子と接地端子のうち電源端子は、前記相
補回路に電源を供給するものであり、接地端子は前記相
補回路を接地するものであり、 前記対をなす電源端子と接地端子とは、相互に分離され
た前記相補型MOSアナログ回路と前記相補型MOSディジタ
ル回路とに対応して別個独立に設けられたものであるこ
とを特徴とする半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63159625A JP2564894B2 (ja) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63159625A JP2564894B2 (ja) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | 半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH029161A JPH029161A (ja) | 1990-01-12 |
JP2564894B2 true JP2564894B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=15697810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63159625A Expired - Lifetime JP2564894B2 (ja) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2564894B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4517410B2 (ja) * | 1998-11-25 | 2010-08-04 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
TW201434136A (zh) * | 2013-02-27 | 2014-09-01 | Fitipower Integrated Tech Inc | 半導體器件及顯示裝置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111357A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Nec Corp | C−mos集積回路とその使用方法 |
JPS62285463A (ja) * | 1986-06-03 | 1987-12-11 | Mitsubishi Electric Corp | 相補型mos集積回路装置 |
-
1988
- 1988-06-28 JP JP63159625A patent/JP2564894B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH029161A (ja) | 1990-01-12 |
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