JP2018197398A - アルカリ水電解用隔膜、アルカリ水電解装置、水素の製造方法及びアルカリ水電解用隔膜の製造方法 - Google Patents
アルカリ水電解用隔膜、アルカリ水電解装置、水素の製造方法及びアルカリ水電解用隔膜の製造方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本発明に係るアルカリ水電解用隔膜は、高分子樹脂と親水性無機粒子を含む高分子多孔膜を有し、前記高分子多孔膜の気孔率が30%以上60%以下であり、前記高分子多孔膜の両表面の平均孔径が、0.5μm以上2.0μm以下であり、前記高分子多孔膜の平均孔径に対する前記親水性無機粒子のモード粒径の比(モード粒径/平均孔径)が、2.0以上である。
【選択図】図1
Description
[1]
高分子樹脂と親水性無機粒子を含む高分子多孔膜を有し、
前記高分子多孔膜の気孔率が30%以上60%以下であり、
前記高分子多孔膜の両表面の平均孔径が、0.5μm以上2.0μm以下であり、
前記高分子多孔膜の平均孔径に対する前記親水性無機粒子のモード粒径の比(モード粒径/平均孔径)が、2.0以上である、アルカリ水電解用隔膜。
[2]
高分子樹脂と親水性無機粒子を含む高分子多孔膜を有し、
前記高分子多孔膜の気孔率が30%以上60%以下であり、
周波数40kHz、音圧190dbの超音波洗浄処理を60分間行うキャビテーション試験の前後において、90℃で測定される前記高分子多孔膜のバブルポイントが100kPa以上である、アルカリ水電解用隔膜。
[3]
前記高分子多孔膜の両表面の平均孔径が、0.5μm以上2.0μm以下であり、
前記高分子多孔膜の平均孔径に対する前記親水性無機粒子のモード粒径の比(モード粒径/平均孔径)が、2.0以上である、[2]に記載のアルカリ水電解用隔膜。
[4]
前記高分子多孔膜の両表面において、粒子解析測定により算出される前記親水性無機粒子の存在割合が、前記キャビテーション試験前後において、10%以上である、[2]又は[3]に記載のアルカリ水電解用隔膜。
[5]
前記高分子多孔膜の断面において、粒子解析測定により算出される前記親水性無機粒子の存在割合が、前記キャビテーション試験前後において、10%以上である、[2]〜[4]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜。
[6]
前記高分子多厚膜の両表面又は断面における前記親水性無機粒子の存在割合の、前記キャビテーション試験による減少度が0.20未満である、[4]又は[5]に記載のアルカリ水電解用隔膜。
[7]
前記高分子樹脂が、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン及びポリフェニルスルホンからなる群より選ばれる少なくとも1種を含む、[1]〜[6]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜。
[8]
前記高分子多孔膜の厚みが、300μm以上600μm以下である、[1]〜[7]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜。
[9]
前記親水性無機粒子が、酸化ジルコニウムを含む、[1]〜[8]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜。
[10]
多孔性支持体をさらに含む、[1]〜[9]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜。
[11]
前記多孔性支持体が、メッシュ、不織布、織布、及び、不織布と前記不織布に内在する織布とを含む複合布からなる群より選ばれるいずれか1種である、[10]に記載のアルカリ水電解用隔膜。
[12]
前記多孔性支持体が、ポリフェニレンサルファイドを含む、[10]又は[11]に記載のアルカリ水電解用隔膜。
[13]
陽極と、
陰極と、
前記陽極と前記陰極との間に配置された、[1]〜[12]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜と、
を備える、アルカリ水電解装置。
[14]
[13]に記載のアルカリ水電解装置に対して、変動電源を用いて電圧を印加することにより、アルカリ水を電解する工程を含む、水素の製造方法。
[15]
(A)前記高分子樹脂と、当該高分子樹脂を溶解する溶媒と、前記親水性無機粒子とを含有する溶液を調製する工程と、
(B)前記溶液を基材に塗工し、当該基材上に塗膜を形成する工程と、
(C)前記塗膜の基材とは反対側の表面を、前記高分子樹脂の貧溶媒の蒸気を含む気体に晒す工程と、
(D)基材上の塗膜を、前記高分子樹脂の貧溶媒を含む凝固浴に浸漬させ、高分子多孔膜を形成する工程と、
を含む、[1]〜[12]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
[16]
前記凝固浴中の前記貧溶媒が、更に前記溶媒を含む、[15]に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
[17]
前記凝固浴中の溶媒の濃度が、30〜70質量%である、[15]又は[16]に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
[18]
前記溶媒が、N−メチル−2−ピロリドンを含む、[15]〜[17]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
[19]
(E)前記高分子樹脂と、当該高分子樹脂を溶解する溶媒と、前記親水性無機粒子とを、得られる分散溶液の相分離温度よりも高い温度で混合して均一な分散溶液を得る工程と、
(F)前記分散溶液を分散溶液の相分離温度よりも高い温度で押出して成形して押出成形物を得る工程と、
(G)前記(F)工程で得た押出成形物を分散溶液の相分離温度以下に冷却して凝固させる工程と、
(H)前記(G)工程で得た押出成形物から溶媒を抽出して高分子多孔膜を得る工程と、
を含む、[1]〜[12]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
[20]
さらに延伸工程を含む、[19]に記載のアルカリ水電解隔膜の製造方法。
[21]
(I)高分子樹脂及び親水性無機粒子を含む混合物をペースト押出する工程と、
(J)押出されたペーストを圧延してシート状多孔質膜を得る工程と、
(K)得られたシート状多孔質膜をさらに縦方向及び/又は横方向に延伸する工程と、
を含む、[1]〜[12]のいずれかに記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
このように構成されているため、本実施形態のアルカリ水電解用隔膜は、ガス遮断性が良好であり、長期の電解においても親水性が維持され、気泡の付着によるイオン透過性の阻害が抑制され、また、変動電源環境下においても、親水性無機粒子の欠落を抑え、アルカリ水電解用隔膜に保持することにより、低い電圧損失とガス遮断性を維持できる。
また、本実施形態の他の態様に係るアルカリ水電解用隔膜は、高分子樹脂と親水性無機粒子を含む高分子多孔膜を有し、高分子多孔膜の気孔率が30%以上60%以下であり、周波数40kHz、音圧190dBの超音波洗浄処理を60分間行うキャビテーション試験の前後において、90℃で測定されるバブルポイントが100kPa以上である、アルカリ水電解用隔膜である。
上記のような構成を有するアルカリ水電解用隔膜も、ガス遮断性が良好であり、長期の電解においても親水性が維持され、気泡の付着によるイオン透過性の阻害が抑制され、また、変動電源環境下においても、親水性無機粒子の欠落を抑え、維持することにより、低い電圧損失とガス遮断性を維持できる。
なお、本実施形態においては、上述の他の態様に係るアルカリ水電解用隔膜を達成するための一手段として、上述の隔膜の構成を採用することができる。すなわち、上述の他の態様に係るアルカリ水電解用隔膜において、高分子多孔膜の両表面の平均孔径が、0.5μm以上2.0μm以下であり、高分子多孔膜の平均孔径に対する前記親水性無機粒子のモード粒径の比(モード粒径/平均孔径)が、2.0以上であることが好ましい。
本実施形態において、高分子多孔膜とは、高分子樹脂と親水性無機粒子を含む多孔膜であり、親水性無機粒子が存在することによって多孔膜に親水性が付与される。高分子樹脂としては、以下に限定されないが、例えば、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリフェニルスルホン、ポリビニリデンフロライド、ポリカーボネート、テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体、テトラフルオロエチレン・エチレン共重合体、ポリビニリデンフルオライド、ポリテトラフルオロエチレン、パーフルオロスルホン酸、パーフルオロカルボン酸、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリパラフェニレンベンゾビスオキサゾール、ポリケトン、ポリイミド、ポリエーテルイミド等が挙げられる。さらに、ポリフェニレン共重合体やポリエーテルエーテルケトンを用いてもよい。これらの中でも、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリフェニルスルホンであることが好ましく、ポリスルホンであることがより好ましい。これらは1種単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
本実施形態における高分子多孔膜は、分離能、強度など適切な膜物性を得る為に両表面の孔径を制御しなければならない。即ち、アルカリ水電解用隔膜として、陽極から発生する酸素ガス及び陰極から発生する水素ガスの混合を防止し、かつ電解時の電圧損失が低くなるように孔径を制御しなければならない。ここで、両表面とは、陽極又は陰極と向かい合う高分子多孔膜の2つの表面を意味し、孔径は後述する平均孔径に基づいて制御する。高分子多孔膜の平均孔径が大きい程、高分子多孔膜のイオン透過性が良好であり、電圧損失を低減しやすい傾向にある。また、高分子多孔膜の平均孔径が大きい程、電解液との接触表面積が小さくなるので、高分子樹脂の劣化を抑制できる傾向にある。一方、高分子多孔膜の平均孔径が小さい程、高分子多孔膜の分離精度が高くなり、アルカリ水電解用隔膜のガス遮断性が良好となる傾向にある。さらに、後述する粒径の小さな親水性無機粒子が凝集した二次粒子に対しても、欠落せずしっかりと保持することができる。これにより、親水性無機粒子の高い保持能力を付与でき、長期に亘ってその効果を維持することができる。
ここで、上記モード粒径/平均孔径比は、高分子多孔膜の表裏それぞれの面の平均孔径に対して、2.0以上である。上記モード粒径/平均孔径比は、特に限定されないが、後述のアルカリ水電解用隔膜の製造方法により制御することができる。
平均透水孔径(m)=32ηLμ0/(εP)
ここで、ηは水の粘度(Pa・s)、Lは高分子多孔膜の厚み(m)、μ0は見かけの流速でありμ0(m/s)=流量(m3/s)/流路面積(m2)である。また、εは気孔率、Pは圧力(Pa)である。
最大孔径(m)=4γcosθ/P
ここで、γは水の表面張力(N/m)、cosθは高分子多孔膜表面と水の接触角(rad)、Pはバブルポイント(Pa)である。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜は、ガス遮断性、親水性の維持、気泡の付着によるイオン透過性低下の防止、さらには長時間安定した電解性能(低電圧損失等)が得られるといった観点から、高分子多孔膜の気孔率を制御する。高分子多孔膜の気孔率は、平均孔径が上記範囲にあり、かつ、平均孔径に対する親水性無機粒子のモード粒径の比が上記範囲にある孔が、高分子多孔膜に占める割合と関連するものともいえる。
高分子多孔膜の気孔率が高い程、電解においてはイオン透過性が良好で、目詰まりを起こし難くなり、電圧損失を低減し易くなる傾向にある。また、単位体積当たりの重量が軽くなる為、ハンドリング性が良好になる傾向にある。
一方で、高分子多孔膜の気孔率が低い程、機械強度の低下を抑制できる為、破れや裂け等の機械的破損の発生が少なく、安全性を高めることが出来、厚みを薄くすることが可能となる。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜では、ガス遮断性や低電圧損失等を高いレベルで両立させるといった観点から、高分子多孔膜の気孔率は30%以上であり、35%以上であることが好ましく、40%以上であることがより好ましい。また、高分子多孔膜の気孔率は60%以下であり、55%以下であることが好ましい。高分子多孔膜の気孔率が上記範囲であれば、低い電圧損失と高いガス遮断性を両立し、機械強度を担保することで厚みを薄くすることができる。
高分子多孔膜の気孔率は、特に限定されないが、例えば、後述のアルカリ水電解用隔膜の製造方法等により制御することができる。
気孔率P(%)=ρ/(1+ρ)×100
ここで、ρ=(W3−W1)/(W3−W2)であり、W1は高分子多孔膜の乾燥質量(g)、W2は高分子多孔膜の水中質量(g)、W3は高分子多孔膜の飽水質量(g)である。水中重量とは、水中で測定した重量を表す。また、飽水重量とは、孔内に水を含んだ状態の多孔膜を空気中で測定した重量を表す。
高分子多孔膜の厚みは、特に限定されないが、300μm以上600μm以下であることが好ましい。高分子多孔膜の厚みが、300μm以上であれば、一層優れたガス遮断性が得られ、また、衝撃に対する多孔膜の強度が一層向上する傾向にある。同様の観点より、高分子多孔膜の厚みの下限は、350μm以上であることがより好ましく、400μm以上であることが更に好ましい。一方で、高分子多孔膜の厚みが、600μm以下であれば、運転時に孔内に含まれる電解液の抵抗によりイオンの透過性を阻害されにくく、一層優れたイオン透過性を維持できる傾向にある。同様の観点から、高分子多孔膜の厚みの上限は、550μm以下であることがより好ましく、500μm以下であることが更に好ましい。特に、高分子樹脂が、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン及びポリフェニルスルホンからなる群より選ばれる少なくとも1種を含むものである場合に、かかる効果は一層向上する傾向にある。
なお、本実施形態において、高分子多孔膜の厚みは、後述の実施例に記載の方法により測定することができる。
本実施形態における高分子多孔膜は、親水性を付与することや、多孔膜孔内の表面形状を制御する目的で、親水性無機粒子を含有する。この場合、親水性無機粒子は、高分子多孔膜あるいは高分子多孔膜の空孔の表面に付着していてもよい。また、高分子多孔膜から親水性無機粒子が欠落すると、上記の機能が損なわれる可能性がある為、親水性無機粒子は、その一部が高分子樹脂に埋没する形で含有されていてもよい。さらに、親水性無機粒子は高分子樹脂により結着していてもよい。
親水性無機粒子のモード粒径を制御する方法としては、例えば、焼結法であれば焼結温度を変える方法が挙げられる。
なお、本実施形態において、「親水性無機粒子の存在割合」とは、後述する粒子解析測定により算出されるものであり、高分子多孔膜の特定部分に含まれる親水性無機粒子の量を評価するための指標である。本実施形態における粒子解析測定では、高分子多孔膜の両表面又は断面を表面処理した後、走査型電子顕微鏡(SEM)で観察し、当該SEM観察において撮像した画像を画像解析して、縦軸を画素数、横軸を輝度とする輝度分布を得る。すなわち、無機粒子存在割合は、所定の値以上の輝度を有する画素の数を全画素数で除した値(%)として得られる。詳細な粒子解析測定の方法については、実施例に記載する。
減少度=(α−β)/α
ここで、α及びβは、それぞれ、キャビテーション試験前の親水性無機粒子の存在割合(%)、及びキャビテーション試験後の親水性無機粒子の存在割合(%)を表す。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜は、多孔性支持体をさらに含むことが好ましい。好ましくは高分子多孔膜が多孔性支持体を内在した構造であり、より好ましくは、多孔性支持体の両面に高分子多孔膜を積層した構造である。また、多孔性支持体の両面に、対称に高分子多孔膜を積層した構造であってもよい。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜を用いて電解を行う際のセル電圧の評価指標の1つとして、隔膜のイオン透過性が挙げられる。イオン透過性が高ければ、電解時の電気抵抗を低減でき、これに伴って隔膜に起因する電圧損失も低減できる。この点、本実施形態の隔膜は高いイオン透過性を維持できるので、これを用いることで、電解時のセル電圧を小さくできる。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜のガス遮断性の評価指標の1つとして、アルカリ水電解用隔膜のバブルポイントの評価が挙げられる。本評価方法におけるバブルポイントは、隔膜を水で十分に濡らして、孔内を水で満たした後、隔膜の片側面を窒素で加圧し、隔膜の反対側面から、150mL/分の割合で気泡が連続して発生してくるときの圧力とする。隔膜のガス遮断性が低いほど、バブルポイントの値は小さくなり、隔膜のガス遮断性が高いほど、ガスが通過し難いため、バブルポイントの値は大きくなる。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜の製造方法は、特に限定されないが、以下の工程を備えることが好ましい:
(A)高分子樹脂と、溶媒と、親水性無機粒子とを含有する溶液を調製する工程、
(B)溶液を基材に塗工し、基材上に塗膜を形成する工程、
(C)前記塗膜の基材とは反対側の表面を、この高分子樹脂の貧溶媒の蒸気を含む気体に晒す工程、
(D)基材上の塗膜を、この高分子樹脂の貧溶媒を含む凝固浴に浸漬させ、高分子多孔膜を形成する工程。
本実施形態の作用効果が得られる範囲であれば、上記各工程はこの順に行うことに限定されるものではなく、必要に応じて同時に行ってもよいし、連続的に行ってもよい。
(E)高分子樹脂と、前記高分子樹脂を溶解する溶媒と、親水性無機粒子とを、得られる分散溶液の相分離温度よりも高い温度で混合して均一な分散溶液を得る工程と、
(F)前記分散溶液を分散溶液の相分離温度よりも高い温度で押出して成形して押出成形物を得る工程と、
(G)前記(F)工程で得た押出成形物を分散溶液の相分離温度以下に冷却して凝固させる工程と、
(H)前記(G)工程で得た押出成形物から溶媒を抽出して高分子多孔膜を得る工程。
前記工程(E)における高分子樹脂と高分子樹脂の溶媒との重量比(高分子樹脂:溶媒)は5:95から50:50の範囲であることが好ましい。
(I)高分子樹脂及び親水性無機粒子を含む混合物をペースト押出する工程と、
(J)押出されたペーストを圧延してシート状多孔質膜を得る工程と、
(K)得られたシート状多孔質膜をさらに縦方向(MD)及び/又は横方向(TD)に延伸する工程。
尚、粉砕混合後の分散媒は、加熱などにより除去してもよい。
また、混合物を得る別の方法として、高分子樹脂及び親水性無機粒子を含むマスターバッチを作製する方法が挙げられる。マスターバッチを作製することで、均一な粒径の親水性無機粒子を高分子樹脂内に均一に分散できる傾向にある。
本実施形態のアルカリ水電解用隔膜は、アルカリ水電解装置の部材として用いることができる。すなわち、本実施形態のアルカリ水電解装置としては、例えば、陽極と、陰極と、陽極と陰極との間に配置された本実施形態のアルカリ水電解用隔膜とを備えたものが挙げられる。より具体的な例として、アルカリ水電解装置の内部は、アルカリ水電解用隔膜を介して、陽極が備えられている陽極室と、陰極が備えられている陰極室に仕切られ、それぞれの電極で発生した酸素ガスと水素ガスが混合しないよう構成されているもの等が挙げられる。また、本実施形態のアルカリ水電解用隔膜は、容易に複極式電解セルに組み込むことができ、大量の水素を製造できる大型の電解槽を工業的に提供する事ができる。本実施形態のアルカリ水電解装置は、上記したアルカリ水電解用隔膜を備えるものであれば、その装置構成は特に限定されるものではない。例えば、公知の電極や電解槽を適宜採用することもできる。具体的には、発生したガスと電解液を分離する為の気液分離タンクを備えていてもよい。また、電解を安定して行う為のコンデンサーやミストセパレータを備えていてもよい。電解を行うに当たっては必要なガス生成量に応じて、電解セルの面積やスタック数を適宜変更することが出来る。例えば6kA/m2の電流を投入し、1000Nm3/hrの水素を得たい場合、面積約3m2の電解セルを150対スタックすればよい。一方で、同様の電流で50Nm3/hrの水素を得たい場合、面積約0.25m2の電解セルを80対スタックすればよい。
本実施形態のアルカリ水電解装置を使用して行う電解の方法や条件等は、特に限定されず、公知の方法や条件を採用することができる。例えば、アルカリ水電解装置の内部をアルカリ溶液で満たし、陽極と陰極の間に直流電流を印加して行うものとする。電解液としては、例えば、水酸化ナトリウムや水酸化カリウムの水溶液が用いられる。電解液の濃度は、特に限定されないが、15質量%以上40質量%以下であることが好ましい。電解液の濃度が上記範囲であれば、溶液のイオン伝導性が十分発現され、溶液による電圧の損失を軽減し易い。
高分子多孔膜の両表面の平均孔径の測定は、走査型電子顕微鏡(SEM、日立ハイテクノロジーズ社製、「Miniscope TM3000」)を使用して行った。まず、アルカリ水電解用隔膜を芯材(多孔性支持体)も含めて5mm角の大きさに切り出して、これをサンプルとした。このサンプルに対して、マグネトロンスパッタ装置(真空デバイス社製、「MSP−1S型」)を用いて1分間Au−Pdコーティングを行った。次に、このサンプルをSEMの観察用試料台にセットして測定を開始した。このとき、SEMによる観察が測定対象の膜表面の垂直方向から行えるように、測定試料である隔膜をセットした。測定が開始すると、測定画面内に、観察対象の高分子多孔膜面に存在する孔が100個以上400個以下写るようにSEMの倍率を調節して撮像し、その撮像画面を画像として保存した。得られた画像は、画像解析ソフト(三谷商事社製、「WinROOF」)を用いて2値化し、写った孔のそれぞれに対し、0.5μm以上の絶対最大長の個数平均を算出した。この平均を、高分子多孔質膜の平均孔径とし、2つの表面について求めた。SEMによる観察は膜の観察面と垂直になるように行い、周囲を途切れなく樹脂で囲まれたものを孔とした。また、測定画面内で孔の一部が見切れているものは孔と見なさないこととした。
アルカリ水電解用隔膜のガス遮断性の評価は、バブルポイント試験機(ザルトリウス・ステディム・ジャパン社製、「Sartocheck Junior BP−Plus」)を使用して行った。まず、アルカリ水電解用隔膜を芯材も含めて8cm角の大きさに切り出して、これをサンプルとした。サンプルは隔膜1m2から9枚を切り出して用意した。このサンプルを純水で濡らし、高分子多孔膜の孔内に純水を含浸させた。次に、これを測定用のホルダーにセットして測定を開始した。測定が始まると、サンプルの上面側が窒素で加圧されていき、サンプルの下面側から150mL/分の割合で気泡が連続して発生してくるときの窒素圧力を、バブルポイントとした。ガス遮断性は、25℃におけるバブルポイントが700kPa以上であれば「A」、600kPa以上700kPa未満であれば「B」、500kPa以上600kPa未満であれば「C」、400kPa以上500kPa未満であれば「D」、400kPa未満であれば「E」と判断した。尚、9枚の平均値を試験結果とした。
アルカリ水電解用隔膜の平均透水孔径は、完全性試験機(ザルトリウス・ステディム・ジャパン社製、「Sartocheck Junior BP−Plus」)を使用して以下の方法で測定した。まず、高分子多孔膜を芯材も含めて8cm角の大きさに切り出して、これをサンプルとした。サンプルは隔膜1m2から9枚を切り出して用意した。このサンプルを純水で濡らし、高分子多孔膜の孔内に純水を含浸させた。次に、飽水したサンプルを、上下に開口した筒状の耐圧ホルダーの下部にセットし、当該サンプルの上側から純水を注入し、ホルダーが純水で満たされるようにした。次に、耐圧ホルダーを温度90℃に設定した恒温槽内で保持し、耐圧ホルダー内部が90℃になってから測定を開始した。測定が始まると、水面側、すなわち、サンプルの上面側が窒素で加圧されていき、サンプルの下面側から純水が透過してくる際の圧力及び透過流量の数値を記録した。平均透水孔径は、圧力が10kPaから30kPaの間の圧力と透水流量との勾配を使い、以下のハーゲンポアズイユの式から求めた。
平均透水孔径(m)=32ηLμ0/(εP)
ここで、ηは水の粘度(Pa・s)、Lは高分子多孔膜の厚み(m)、μ0は見かけの流速でありμ0(m/s)=流量(m3/s)/流路面積(m2)である。また、εは気孔率、Pは圧力(Pa)である。
アルカリ水電解用隔膜の最大孔径は、完全性試験機(ザルトリウス・ステディム・ジャパン社製、「Sartocheck Junior BP−Plus」)を使用して以下の方法で測定した。まず、高分子多孔膜を芯材も含めて8cm角の大きさに切り出して、これをサンプルとした。このサンプルを純水で濡らし、高分子多孔膜の孔内に純水を含浸させ、これを測定用のホルダーにセットした。次に、耐圧容器を温度90℃に設定した恒温槽内で保持し、耐圧容器内部が90℃になってから測定を開始した。測定が始まると、サンプルの上面側が窒素で加圧されていき、サンプルの下面側から気泡が連続して発生してくるときの窒素圧力を、バブルポイントとした。最大孔径はヤング−ラプラスの式を変形させた下記バブルポイント式から求めた。
最大孔径(m)=4γcosθ/P
ここで、γは水の表面張力(N/m)、cosθは高分子多孔膜表面と水の接触角(rad)、Pはバブルポイント(Pa)である。
アルカリ水電解用隔膜のキャビテーション試験は、卓上型超音波洗浄機(BRANSON社製、「BRANSONIC Model 5800」)を使用して行った。まず、卓上型超音波洗浄機内に純水を3L入れ、さらに500mL用のPP(ポリプロピレン)製ビーカーに純水を500mL入れた。PP製ビーカーを洗浄器中央に置き、スイッチを入れ、水温が30℃になるまで運転を続けた。その後、隔膜1m2から8cm角に切出したサンプルをディスポカップの内に立てて入れ、超音波洗浄を60分間行った。取り出したサンプルを純水が入った洗瓶で表面を洗い流した。
上記超音波洗浄前のサンプルと洗浄後のサンプルを対象とし、以下の点を除き、上記「ガス遮断性試験」と同様にしてバブルポイントを測定した。すなわち、キャビテーション試験前後の90℃におけるバブルポイントの測定を行った。尚、キャビテーション試験前後それぞれ9枚のうちで最も低いバブルポイントの値を試験結果とした。
アルカリ水電解用隔膜のイオン透過性の評価は、自作のアルカリ水電解装置を用い(図1参照)、以下の方法で行った。
図1に示すとおり、電解槽10は、アルカリ水電解用隔膜3を介して、陰極(40メッシュの白金メッシュ電極)11を有する陰極室1と、陽極(対角線の長さが1.5mmと2.5mmの菱形形状を有するエキスパンドメタル型ニッケル電極)21を有する陽極室2を有している。また、電解液供給ライン30を介して、ポンプ40によって電解槽10に電解液が供給されている。陰極11にて発生した水素ガスは、陰極室1から陰極タンク12に送られ、陽極21にて発生した酸素ガスは、陽極室2から陽極タンク22に送られる。なお、図示はしないが、電解槽は直列に連結された6個のバイポーラーセルで構成されており、各セルの陽極面積、陰極面積はどちらも30cm2である。
隔膜によって隔てられた陰極室1及び陽極室2を90℃、30wt%のKOH水溶液で満たした。陰極11と陽極21の間に電流密度0.60A/cm2の直流電流を印加し、電解運転を開始した。電解開始から24時間経過後、両電極間の電位差を測定し、この両電極間の電位差をセル電圧とした。セル電圧の判定は、1.90V以下であればイオン透過性が良好であるものと評価し、1.91V以上であればイオン透過性に劣るものと評価した。なお、電解中はKOH水溶液中の水が、電解により消費されるため、KOH濃度が一定になるように純水を定期的に陰極タンク12に添加した。また電解セル内に電極から発生した、酸素ガスや水素ガスが滞留しない様に、ポンプ40で両電極室内の電解液を50L/分の流量で循環させた。
親水性無機粒子のモード径は、レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置(堀場製作所社製、「LA−950」)を使用して求めた。まず、溶媒としてN−メチル−2−ピロリドンを用いて、アルカリ水電解用隔膜から高分子多孔膜を構成する高分子樹脂を溶解除去した。その後に残った無機粒子をその重量の1000倍以上の量のN−メチル−2−ピロリドンを用いて3回繰り返し洗浄した。洗浄した無機粒子を、イオン交換水が入った超音波洗浄槽に投入した。酸化ジルコニウムを、洗浄槽内で循環・撹拌しながら1分間超音波を照射した後、穏やかに撹拌して空気抜きを行い、サンプルとした。サンプルである親水性無機粒子のモード径は、以下の方法によって測定した。赤色レーザー(波長:655nm)の透過強度80〜90%、青色LED(波長:405nm)の透過強度70〜90%である範囲で、レーザー回折・散乱法により、体積分布からモード径を計測した。なお、水の屈折率は1.33、酸化ジルコニウムの屈折率は2.4とした。
アルカリ水電解用隔膜の接触角は、「Drop Master DM−701」(協和界面化学社製)を用いて行った。接触角は、水接触角を液滴3μLで、θ/2法により測定し、測定雰囲気条件は温度23℃、湿度65%RHとした。なお、上記セル電圧評価における電解の前と電解開始から24時間経過後との双方について接触角を測定した。
アルカリ水電解用隔膜の親水性は、電解実施前と24時間電解実施後のアルカリ水電解用隔膜の接触角の差分により評価した。差が5deg未満であった場合は、親水性が良好であるものと評価し、5deg以上であった場合は、親水性が劣るものと評価した。なお、接触角は上記した方法に準じて測定した。
(接触角の差分[deg])=(接触角(電解前)[deg])−(接触角(24hr後)[deg])
温度23℃、湿度65%RHの雰囲気下において、JIS K 7161に準じた方法で測定した。アルカリ水電解用隔膜のMD方向(製膜時の塗工の流れ方向(ライン方向))、TD方向(MD方向と直交する方向)に沿って、それぞれ幅10mm、長さ100mmに切り出したものを試験片とした。「オートグラフAGS−1kNX」(島津製作所社製)を用いて、チャック間長さ50mm、引張り速度100mm/分の条件で、試験片について引張り試験を行い、5回の測定値の相加平均を引張破断強度の測定値とした。これをMD方向及びTD方向のそれぞれについて算出した。
温度23℃、湿度65%RHの雰囲気下において、JIS L 1096に準じた方法で測定した。アルカリ水電解用隔膜のMD方向、TD方向に沿うように、それぞれ幅100mm、長さ63mmに切り出したものを試験片とした。そして、エルメンドルフ引き裂き法による耐引き裂き強度測定を以下のように行った。マイズ試験機社製、「エルメンドルフ引裂試験機」を用いて、測定は試験片について10回行い、10回の測定値の相加平均を引き裂き強度の測定値とした。これをMD方向及びTD方向のそれぞれについて算出した。
塗工厚みは、基材上に塗工された塗工液の厚みを示すものとし、当該塗工厚みを基材とコンマコータ間の間隙により調節した。具体的には、基材とコンマコータの間に隙間ゲージを挿入し、コンマコータの位置を動かすことにより調整した。膜厚は、高分子多孔膜の厚みであり、ダイヤルゲージを用いて測定した。測定対象の高分子多孔膜について、MD方向及びTD方向のそれぞれの方向に沿って10cm間隔で測定を行い、その相加平均を膜厚とした。
高分子多孔膜の気孔率測定は、電子天秤精密比重計(島津製作所社製、「AUX120+SMK−401」)を用いて行った。アルキメデス法により求めた高分子多孔膜の開気孔率をアルカリ水電解用隔膜の気孔率とし、以下の式により求めた。まず、純水で洗浄した高分子多孔膜を3cm×3cmの大きさで3枚に切出して、測定サンプルとし、サンプルのW2及びW3を測定した。その後、高分子多孔膜を50℃に設定された乾燥機で12時間以上静置して乾燥させて、W1を測定した。そして、W1、W2、W3の値から気孔率を求める。3枚のサンプルについて気孔率Pを求め、それらの算術平均値を気孔率とした。
気孔率P(%)=ρ/(1+ρ)×100
ここで、ρ=(W3−W1)/(W3−W2)であり、W1は高分子多孔膜の乾燥重量(g)、W2は高分子多孔膜の水中重量(g)、W3は高分子多孔膜の飽水重量(g)である。水中重量とは、針金で水中に懸垂された天秤上で測定した重量を表す。また、飽水重量とは、高分子多孔膜をエタノール中に浸漬して多孔膜内部にエタノールを含浸させた後、純水中に浸漬してエタノールを純水に置換して、孔内に水を含んだ状態のサンプルを空気中で測定した重量を表す。
高分子多孔膜のモード径と孔径の比(モード径/孔径比)は、(1)の表面の平均孔径及び(5)モード径の測定結果を用い、以下の式により算出した。尚、表面の平均孔径は、2面ある表面のうち、測定値が大きい面の値を用いた。
(モード径/孔径比)=(モード径[μm])/(表面の平均孔径[μm])
キャビテーション試験前後における、高分子多孔膜の両表面及び断面の無機粒子存在割合は、走査型電子顕微鏡(SEM、日立ハイテクノロジーズ社製、「Miniscope TM3000」)を使用して求めた。
両表面に対しては、まず、アルカリ水電解用隔膜を芯材(多孔性支持体)も含めて5mm角の大きさに切り出して、これをサンプルとした。このサンプルに対して、マグネトロンスパッタ装置(真空デバイス社製、「MSP−1S型」)を用いて1分間Au−Pdコーティングを行った。次に、このサンプルをSEMの観察用試料台にセットして測定を開始した。このとき、SEMによる観察が測定対象の膜表面に垂直な方向から行えるように、測定試料である隔膜をセットした。測定を開始し、SEMの倍率が3000倍になるように調節して撮像し、その撮像画面を画像として保存した。
断面に対しては、まず、アルカリ水電解用隔膜を芯材(多孔性支持体)も含めて5mm角の大きさに切り出して、これをサンプルとした。このサンプルを加工台に固定し、サンプルの表面に垂直な方向からBIB(Broad Ion Beam)加工を施し、サンプルの断面を露出させた。上記BIB加工は、BIB装置(JEOL製、「SM−09010」)を使い、加速電圧3.8kVのアルゴンイオン(Ar+)によって行った。加工後のサンプルは、3秒間オスミウム(Os)プラズマコート処理(真空デバイス社製、「HPC−1Sオスミウムコーター」)を行って、観察試料とした。次に、このサンプルをSEMの観察用試料台にセットして測定を開始した。このとき、SEMによる観察が測定対象の断面に垂直な方向から行えるように、測定試料である隔膜をセットした。測定を開始し、SEMの倍率が2000倍になるように調節して撮像し、その撮像画面を画像として保存した。
得られた両表面及び断面画像は、粒子解析ソフト(日鉄住金テクノロジー社製「粒子解析 VERSION3.5」)を用いて0〜255のいずれかの輝度を持つ画素から構成されるグレースケール画像に変換した。以下において、全体画素数とは、上記グレースケールに変換された画素の合計数とする。続いて輝度分布(縦軸:画素数、横軸:輝度)を測定し、輝度0からの累積画素数が全体画素数に対して25%となる輝度を下限閾値として、輝度0からの累積画素数が全体画素数に対して99%となる輝度を上限閾値とした。次に、上記のようにして特定された下限閾値及び上限閾値が、それぞれ、輝度0及び輝度255になるようにレベル補正を行い、当該レベル補正後の輝度が125以上になる画素数の全体画素数に対する割合を無機粒子存在割合(%)として求めた。測定結果には、キャビテーション試験の前後各9枚ずつのサンプル対して両表面及び両表面から50μm以内の断面を測定し、その平均値を用いた。また、無機粒子存在割合の減少度は、キャビテーション試験前後の相当部(%)を比較して、減少度が0.10未満であった場合を「A」、0.20未満であった場合を「B」、0.20以上であった場合を「C」と評価した。尚、無機粒子存在割合の減少度は、キャビテーション試験前後における、前記無機粒子存在割合の値から、下記式で求めた。
減少度=(α−β)/α
ここで、α及びβはそれぞれキャビテーション試験前の無機粒子存在割合(%)、キャビテーション試験後の無機粒子存在割合(%)を表す。
上記セル電圧測定と同様の構成の電解セルを用いて、周波数30Hz、振幅5〜6kA/m2のSinカーブを描く変動電流を流し、3000時間後電解を行った。試験後取り出した隔膜について、(5)キャビテーション試験と同様の手順で90℃におけるバブルポイントを測定した。また、同時に(15)と同様の手順で無機粒子存在割合及び減少度を評価した。それぞれの判定も、各評価と同様の基準で判別した。
酸化ジルコニウム(「EP酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間攪拌して、分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物に、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)18gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :6質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜両表面の平均孔径はどちらも1.1μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード径/平均孔径)は4.9であった。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、1.78Vであり、良好な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、それぞれ150kPa及び145kPaであった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ18.5%及び17.1%であり、断面はそれぞれ19.1%及び17.3%であった。変動試験前後のバブルポイントは、それぞれ150kPa及び140kPaであった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ18.5%及び16.9%であり、断面はそれぞれ19.1%及び17.1%であった。
酸化ジルコニウム(「EP酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間攪拌して、分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物にポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)18gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :6質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜表面の両平均孔径は1.9μm及び2.0μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード径/平均孔径)は2.5であった。そして、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、1.86Vであり、良好な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、それぞれ120kPa及び105kPaであった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ19.6%及び16.5%であり、断面はそれぞれ19.2%及び17.5%であった。変動試験前後のバブルポイントは、それぞれ120kPa及び100kPaであった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ19.6%及び17.4%であり、断面はそれぞれ19.2%及び17.3%であった。
酸化ジルコニウム(「EP 酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間攪拌して、分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物に、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)18gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :6質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜表面の両平均孔径は0.6μm及び0.8μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード粒/平均孔径)は7.0であった。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、1.79Vであり、良好な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、それぞれ130kPa及び120kPaであった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ17.5%及び16.7%であり、断面はそれぞれ18.1%及び17.2%であった。変動試験前後のバブルポイントは、それぞれ130kPa及び120kPaであった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ17.5%及び16.9%であり、断面はそれぞれ18.1%及び17.5%であった。
酸化ジルコニウム(「EP 酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間攪拌して、分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物に、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)18gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :6質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜両表面の平均孔径は1.5μm、及び1.7μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード径/平均孔径)は3.4であった。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、1.88Vであり、良好な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、それぞれ110kPa及び105kPaであった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ15.3%及び13.4%であり、断面はそれぞれ15.4%及び13.6%であった。変動試験前後のバブルポイントは、それぞれ110kPa及び100kPaであった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ15.3%及び13.2%であり、断面はそれぞれ15.4%及び13.5%であった。
N−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gに、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)18gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :6質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
この高分子多孔膜両表面は平均孔径が0.8μm及び1.1μmであった。なお、この高分子多孔膜は親水性無機粒子を含んでいない。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、2.28Vと大きい値であり、不良な結果であった。
酸化ジルコニウム(「RC−100 酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製) 135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物に、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)30gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :10質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜両表面の平均孔径は3.6μm及び3.8μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード径/平均孔径)は1.7であった。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、1.93Vであり、不良な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、どちらも10kPa未満であった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ19.4%及び3.3%であり、断面はそれぞれ18.7%及び7.8%であった。変動試験前後のバブルポイントは、どちらも10kPa未満であった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ19.4%及び7.7%であり、断面はそれぞれ18.7%及び7.7%であった。
酸化ジルコニウム(「RC−100 酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間攪拌して、分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物に、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)30gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :10質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜両表面の平均孔径は2.8μm及び2.9μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード径/平均孔径)は2.0であった。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、1.91Vであり、不良な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、それぞれ40kPa及び15kPaであった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ17.8%及び4.3%であり、断面はそれぞれ18.0%及び8.4%であった。変動試験前後のバブルポイントは、それぞれ40kPa及び20kPaであった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ17.8%及び5.0%であり、断面はそれぞれ18。0%及び8.4%であった。
酸化ジルコニウム(「RC−100 酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業)135gとN−メチル−2−ピロリドン(和光純薬工業社製)210gを、粒径0.5mmのSUSボールが1kg入った容量1000mLのボールミルポットに投入した。これらを回転数70rpmで25℃雰囲気下において3時間攪拌して、分散させて混合物を得た。得られた混合物を、ステンレス製のざる(網目30メッシュ)により濾過し、混合物からボールを分離した。ボールを分離した混合物に、ポリスルホン(「ユーデル」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)45g及びポリビニルピロリドン(重量平均分子量(Mw)900000、和光純薬工業社製)30gを加え、スリーワンモータを用いて60℃で12時間攪拌して溶解させ、以下の成分組成の塗工液を得た。
ポリスルホン :15質量部
ポリビニルピロリドン :10質量部
N−メチル−2−ピロリドン :70質量部
酸化ジルコニウム :45質量部
この高分子多孔膜表面の平均孔径は2.4μm及び2.6μmであった。高分子多孔膜の平均孔径に対する無機粒子のモード径の比(モード径/平均孔径)は、2.2であった。また、高分子多孔膜を使用した24時間電解後のセル電圧の結果は、2.13Vであり、不良な結果であった。キャビテーション試験前後のバブルポイントは、それぞれ60kPa及び20kPaであった。また、無機粒子存在割合はキャビテーション試験の前後で両表面がそれぞれ18.3%及び4.8%であり、断面はそれぞれ18.1%及び9.1%であった。変動試験前後のバブルポイントは、それぞれ60kPa及び25kPaであった。また、無機粒子存在割合は変動試験の前後で両表面がそれぞれ18.3%及び3.9%であり、断面はそれぞれ18.1%及び9.4%であった。
PSF:ポリスルホン、PVP:ポリビニルピロリドン、NMP:N−メチル−2−ピロリドン、ZrO2:酸化ジルコニウム
表4の塗工液組成及び製膜条件を基に、実施例1と同様の要領で高分子多孔膜を有するアルカリ水電解用隔膜を作製した。それぞれの高分子多孔膜に対して各種測定した結果を表3に示す。尚、実施例で使用した高分子樹脂は、下記の通りである。
PPSF:ポリフェニルスルホン「レーデルR−5000」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製
PES:ポリエーテルスルホン「ベラデル3200」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製
表4の塗工液組成及び製膜条件を基に、実施例1と同様の要領で高分子多孔膜を有するアルカリ水電解用隔膜を作製した。それぞれの多孔膜に対して各種測定した結果を表3に示す。
比較例1と同様にして製膜した多孔膜を、特開2014−12889号公報の実施例7に記載の方法と同様にして親水化処理及び酸化ジルコニウム析出を行った。具体的には、比較例1で得られた多孔膜を、2−プロパノールに浸漬させて濡らし、次いで多孔膜を乾燥させない様にしてポリビニルアルコール(PVA、重合度1500)水溶液(濃度1.0重量%)に浸漬し、室温にて60分間静置して置換した。その後、この多孔膜をグルタールアルデヒド水溶液(濃度25重量%)30g、6モル塩酸5gおよび純水250gを混合して調製した架橋液に浸漬させ、1時間架橋反応させた。次いで、多孔膜を架橋液から取り出し、純水で5回洗浄した後、湿潤したままの状態で多孔膜をSUS製の枠にクリップで固定し、50℃の熱風循環式乾燥機で3時間乾燥して、親水処理された多孔膜を得た。別に、ジルコンフッ化水素酸(森田化学製 濃度40%)7.0gを純水65.0gに溶解して得られた溶液と、ホウ酸(和光純薬製)0.6gを純水20.0gに溶解して得られた溶液を混合して、酸化ジルコニウム析出用の溶液を調製した。この溶液90.0gに対して、上記親水処理された多孔膜(80mm角)を浸漬し、25℃にて100時間静置して、微多孔膜にZrO2を析出させた。その後、多孔膜を溶液から取り出し、湿潤したままの状態でSUS製の枠にクリップで固定し、50℃の熱風循環式乾燥機で60分間加熱処理して、ZrO2含有多孔膜を得た。得られた多孔膜に対して各種測定した結果を表3に示す。
実施例1において、塗工液を基材に対してコンマコータの片面にのみ注ぎ、表4の(1)に記載の塗工液組成及び製膜条件で高分子多孔膜を製膜した。その後、得られた多孔膜を再度コンマコータに通し、同様の手順で(2)の塗工液組成及び製膜条件で、(1)とは反対の基材面に高分子多孔膜を製膜した。尚、比較例11については、基材に対して片面のみに塗工して製膜した。それぞれの高分子多孔膜に対して各種測定した結果を表3に示す。
酸化ジルコニウム(「EP酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)30g、フタル酸ジオクチル(和光純薬工業社製、以下DOP)50g、ポリエーテルスルホン(「ベラデル3200」(商標)、ソルベイアドバンストポリマーズ社製)を、200℃に昇温したプラストミル(東洋精機社製「50MR」)で10分間50rpmの回転速度で混練した。次いで、得られた混練物を9cm角で厚み1mmのSUS製スペーサの空隙部に置き、200℃のホットプレスで3分間予熱し、その後、5分間圧縮成形した。成形後の混練物は、直ぐに50℃のホットプレスで冷却し、プレス成型物を得た。得られた成形物は、イソプロパノール(和光純薬工業社製)に24時間浸漬して、DOPを抽出した。抽出後の成形物は、乾燥後、90℃の2軸延伸機(井元製作所社製「IMC−1907」)で面積が4倍になるよう縦横に延伸し、高分子多孔膜を有するアルカリ水電解用隔膜を得た。組成及び製膜条件の詳細を表6に示す。また、得られた高分子多孔膜に対して各種測定した結果を表5に示す。
表6の組成及び製膜条件を基に、実施例11と同様の要領で高分子多孔膜を有するアルカリ水電解用隔膜を作製した。それぞれの高分子多孔膜に対して各種測定した結果を表5に示す。
酸化ジルコニウム(「EP酸化ジルコニウム」、第一稀元素化学工業社製)30g、流動パラフィン(松村石油研究所社製)120g、高密度ポリエチレン(密度0.95、粘度平均分子量25万)を、容量1Lのボールミル中で粉砕混合した。得られた混合物は9cm角で厚み1mmのSUS製スペーサの空隙部に置き、120℃のホットプレスで3分間予熱し、その後、5分間圧縮成形した。成形後の混練物は、直ぐに100℃のホットプレスで冷却し、プレス成型物を得た。得られた成形物は、イソプロパノール(和光純薬工業社製)に24時間浸漬して、DOPを抽出した。抽出後の成形物は、乾燥後、120℃の2軸延伸機(井元製作所社製「IMC−1907」)で面積が4倍になるよう縦横に延伸し、高分子多孔膜を有するアルカリ水電解用隔膜を得た。組成及び製膜条件を表8に示す。得られた高分子多孔膜に対して各種測定した結果を表7に示す。
表8の組成及び製膜条件を基に、実施例13と同様の要領で高分子多孔膜を有するアルカリ水電解用隔膜を作製した。それぞれの高分子多孔膜に対して各種測定した結果を表7に示す。
2 ・・・陽極室、
3 ・・・アルカリ水電解用隔膜、
10・・・電解槽、
11・・・陰極、
12・・・陰極タンク、
21・・・陽極、
22・・・陽極タンク、
30・・・電解液供給ライン、
40・・・ポンプ
Claims (21)
- 高分子樹脂と親水性無機粒子を含む高分子多孔膜を有し、
前記高分子多孔膜の気孔率が30%以上60%以下であり、
前記高分子多孔膜の両表面の平均孔径が、0.5μm以上2.0μm以下であり、
前記高分子多孔膜の平均孔径に対する前記親水性無機粒子のモード粒径の比(モード粒径/平均孔径)が、2.0以上である、アルカリ水電解用隔膜。 - 高分子樹脂と親水性無機粒子を含む高分子多孔膜を有し、
前記高分子多孔膜の気孔率が30%以上60%以下であり、
周波数40kHz、音圧190dbの超音波洗浄処理を60分間行うキャビテーション試験の前後において、90℃で測定される前記高分子多孔膜のバブルポイントが100kPa以上である、アルカリ水電解用隔膜。 - 前記高分子多孔膜の両表面の平均孔径が、0.5μm以上2.0μm以下であり、
前記高分子多孔膜の平均孔径に対する前記親水性無機粒子のモード粒径の比(モード粒径/平均孔径)が、2.0以上である、請求項2に記載のアルカリ水電解用隔膜。 - 前記高分子多孔膜の両表面において、粒子解析測定により算出される前記親水性無機粒子の存在割合が、前記キャビテーション試験前後において、10%以上である、請求項2又は3に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記高分子多孔膜の断面において、粒子解析測定により算出される前記親水性無機粒子の存在割合が、前記キャビテーション試験前後において、10%以上である、請求項2〜4のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記高分子多厚膜の両表面又は断面における前記親水性無機粒子の存在割合の、前記キャビテーション試験による減少度が0.20未満である、請求項4又は5に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記高分子樹脂が、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン及びポリフェニルスルホンからなる群より選ばれる少なくとも1種を含む、請求項1〜6のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記高分子多孔膜の厚みが、300μm以上600μm以下である、請求項1〜7のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記親水性無機粒子が、酸化ジルコニウムを含む、請求項1〜8のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 多孔性支持体をさらに含む、請求項1〜9のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記多孔性支持体が、メッシュ、不織布、織布、及び、不織布と前記不織布に内在する織布とを含む複合布からなる群より選ばれるいずれか1種である、請求項10に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 前記多孔性支持体が、ポリフェニレンサルファイドを含む、請求項10又は11に記載のアルカリ水電解用隔膜。
- 陽極と、
陰極と、
前記陽極と前記陰極との間に配置された、請求項1〜12のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜と、
を備える、アルカリ水電解装置。 - 請求項13に記載のアルカリ水電解装置に対して、変動電源を用いて電圧を印加することにより、アルカリ水を電解する工程を含む、水素の製造方法。
- (A)前記高分子樹脂と、当該高分子樹脂を溶解する溶媒と、前記親水性無機粒子とを含有する溶液を調製する工程と、
(B)前記溶液を基材に塗工し、当該基材上に塗膜を形成する工程と、
(C)前記塗膜の基材とは反対側の表面を、前記高分子樹脂の貧溶媒の蒸気を含む気体に晒す工程と、
(D)基材上の塗膜を、前記高分子樹脂の貧溶媒を含む凝固浴に浸漬させ、高分子多孔膜を形成する工程と、
を含む、請求項1〜12のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。 - 前記凝固浴中の前記貧溶媒が、更に前記溶媒を含む、請求項15に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
- 前記凝固浴中の溶媒の濃度が、30〜70質量%である、請求項15又は16に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
- 前記溶媒が、N−メチル−2−ピロリドンを含む、請求項15〜17のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
- (E)前記高分子樹脂と、当該高分子樹脂を溶解する溶媒と、前記親水性無機粒子とを、得られる分散溶液の相分離温度よりも高い温度で混合して均一な分散溶液を得る工程と、
(F)前記分散溶液を分散溶液の相分離温度よりも高い温度で押出して成形して押出成形物を得る工程と、
(G)前記(F)工程で得た押出成形物を分散溶液の相分離温度以下に冷却して凝固させる工程と、
(H)前記(G)工程で得た押出成形物から溶媒を抽出して高分子多孔膜を得る工程と、
を含む、請求項1〜12のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。 - さらに延伸工程を含む、請求項19に記載のアルカリ水電解隔膜の製造方法。
- (I)高分子樹脂及び親水性無機粒子を含む混合物をペースト押出する工程と、
(J)押出されたペーストを圧延してシート状多孔質膜を得る工程と、
(K)得られたシート状多孔質膜をさらに縦方向及び/又は横方向に延伸する工程と、
を含む、請求項1〜12のいずれか一項に記載のアルカリ水電解用隔膜の製造方法。
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