JP2014228301A5 - - Google Patents

Description

請求項１記載の発明は、多端を有する配線パターンが複数形成される単位基板が複数連なるシート基板の該配線パターンを検査する際に、二つ以上の単位基板の配線パターンと電気検査を行う基板検査装置を接続して、該配線パターンの良否を判定する基板検査方法であって、一の単位基板に形成される検査対象となる配線パターンと、該配線パターンと同じに形成される他の単位基板に形成される配線パターンを選出し、前記一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるために、該一の配線パターンの任意の一端と、該他の配線パターンの任意の一端とを電気的に接続させ、一の配線パターンの前記任意の一端以外の端子と、前記他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査を実施することを特徴とする。
請求項２記載の発明は、前記一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるための短絡端子が、前記基板検査装置と前記シート基板を電気的に接続するための基板検査用治具に設けられていることを特徴とする。
請求項３記載の発明は、前記一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるための短絡端子が、前記基板検査装置と前記シート基板を電気的に接続するための基板検査用治具と該基板検査装置とを電気的に接続するための接続部に設けられていることを特徴とする。
請求項４記載の発明は、前記一の配線パターンの前記任意の一端以外の端子と、前記他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査は、該一の配線パターンと該他の配線パターンとの接続の組み合わせ全てが終わるまで実施されることを特徴とする。
請求項５記載の発明は、多端を有する配線パターンが複数形成される単位基板が複数連なるシート基板の該配線パターンを検査する際に、二つ以上の単位基板の配線パターンと電気検査を行う場合に基板検査装置と該シート基板を電気的に接続する基板検査用治具であって、一端が前記配線パターンの検査点と当接する複数の接触子と、前記接触子の他端と当接する電極部を有する電極体と、前記基板検査装置と電気的に接続される接続部と、一の多端を有する配線パターンの任意の一の検査点と、前記配線パターンと異なる一の多端を有する配線パターンの任意の一の検査点とを接続する短絡部と、を含むことを特徴とする。
請求項６記載の発明は、前記異なる一の多端を有する配線パターンが、前記一の多端を有する配線パターンが形成される単位基板とは異なる単位基板に形成されていることを特徴とする。
請求項７記載の発明は、前記電極部と前記接続部を接続する導線部とをさらに含み、前記短絡部は、前記導線部に設けられていることを特徴とする。

請求項１記載の発明によれば、一の配線パターンと他の配線パターンを短絡させるために、一の配線パターンの任意の一端と、他の配線パターンの任意の一端とを電気的に接続させて、一の配線パターンの任意の一端以外の端子と、他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査を実施することになるため、検査回数を削減することができる。
特に、従前の検査方法に比して、検査回数を約半分に低減することができ、極めて検査タクトを向上させることができる。
請求項２記載の発明によれば、一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるための短絡端子が、基板検査装置とシート基板を電気的に接続するための基板検査用治具に設けられているため、基板検査用治具を製造することで、本発明を実施することができる。このため、廉価に本発明の検査方法を実施することができる。
請求項３記載の発明によれば、一の配線パターンと他の配線パターンを短絡させるための短絡端子が、基板検査装置とシート基板を電気的に接続するための基板検査用治具と該基板検査装置とを電気的に接続するための接続部に設けられているので、基板検査装置の接続部に短絡部位を設けることにより、複雑な装置を構成することなく、簡便且つ容易に基板検査を実施することができる。
請求項４記載の発明によれば、一の配線パターンの任意の一端以外の端子と、他の配線パターンの任意の一端以外の端子間の導通検査は、一の配線パターンと他の配線パターンとの接続の組み合わせ全てが終わるまで実施されることになるため、一の配線パターンと他の配線パターンの導通検査を確実に且つ検査時間を短縮して実施することができる。
請求項５記載の発明によれば、一の配線パターンと他の配線パターンを短絡させるために、一の配線パターンの任意の一端と、他の配線パターンの任意の一端とを電気的に接続させて、一の配線パターンの任意の一端以外の端子と、他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査を実施することになるため、検査回数を削減することができる。
特に、従前の検査方法に比して、検査回数を約半分に低減することができ、極めて検査タクトを向上させることができる。さらに、複雑な装置を構成することなく、簡単且つ容易に基板検査を実施することができる。
請求項６記載の発明によれば、異なる一の多端を有する配線パターンが、前記一の多端を有する配線パターンが形成される単位基板とは異なる単位基板に形成されているので、一の配線パターンと他の配線パターンを短絡させるために、一の配線パターンの任意の一端と、他の配線パターンの任意の一端とを電気的に接続させて、一の配線パターンの任意の一端以外の端子と、他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査を実施することになるため、単位基板同士を接続することで検査時間・回数を削減できる。
請求項７記載の発明によれば、前記電極部と前記接続部を接続する導線部とをさらに含み、前記短絡部は、前記導線部に設けられることで、複雑な治具を構成することなく、簡便且つ容易に基板検査を実施することができる。

Claims (7)

1. 多端を有する配線パターンが複数形成される単位基板が複数連なるシート基板の該配線パターンを検査する際に、二つ以上の単位基板の配線パターンと電気検査を行う基板検査装置を接続して、該配線パターンの良否を判定する基板検査方法であって、
   一の単位基板に形成される検査対象となる配線パターンと、該配線パターンと同じに形成される他の単位基板に形成される配線パターンを選出し、
   前記一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるために、該一の配線パターンの任意の一端と、該他の配線パターンの任意の一端とを電気的に接続させ、
   一の配線パターンの前記任意の一端以外の端子と、前記他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査を実施することを特徴とする基板検査方法。
2. 前記一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるための短絡端子が、前記基板検査装置と前記シート基板を電気的に接続するための基板検査用治具に設けられていることを特徴とする請求項１記載の基板検査方法。
3. 前記一の配線パターンと前記他の配線パターンを短絡させるための短絡端子が、前記基板検査装置と前記シート基板を電気的に接続するための基板検査用治具と該基板検査装置とを電気的に接続するための接続部に設けられていることを特徴とする請求項１記載の基板検査方法。
4. 前記一の配線パターンの前記任意の一端以外の端子と、前記他の配線パターンの前記任意の一端以外の端子間の導通検査は、該一の配線パターンと該他の配線パターンとの接続の組み合わせ全てが終わるまで実施されることを特徴とする請求項１乃至３いずれかに記載の基板検査方法。
5. 多端を有する配線パターンが複数形成される単位基板が複数連なるシート基板の該配線パターンを検査する際に、二つ以上の単位基板の配線パターンと電気検査を行う場合に基板検査装置と該シート基板を電気的に接続する基板検査用治具であって、
   一端が前記配線パターンの検査点と当接する複数の接触子と、
   前記接触子の他端と当接する電極部を有する電極体と、
   前記基板検査装置と電気的に接続される接続部と、
   一の多端を有する配線パターンの任意の一の検査点と、前記配線パターンと異なる一の多端を有する配線パターンの任意の一の検査点とを接続する短絡部と、を含む基板検査用治具。
6. 前記異なる一の多端を有する配線パターンが、前記一の多端を有する配線パターンが形成される単位基板とは異なる単位基板に形成されている請求項５の基板検査用治具。
7. 前記電極部と前記接続部を接続する導線部とをさらに含み、
   前記短絡部は、前記導線部に設けられている請求項５又は６に記載の基板検査用治具。