JP2013008427A - 半導体メモリ、システムおよび半導体メモリの動作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 第1電圧生成部は、メモリセルに接続される第1信号線を選択する第1選択部に供給する第1電源電圧を生成する。第2電圧生成部は、メモリセルに接続される第2信号線を選択するために、第1選択部が動作を開始した後に動作する第2選択部に供給する第2電源電圧を起動信号の活性化中に生成する。スイッチは、短絡信号の活性化中に、第1電源線と第2電源線とを短絡する。第1制御部は、アクセス要求に応答して、起動信号を活性化し、短絡信号の非活性化に応答して起動信号を非活性化する。第2制御部は、起動信号の活性化から所定時間後に短絡信号を活性化し、アクセス要求に基づくアクセス動作の完了後に、短絡信号を非活性化する。
【選択図】 図1
Description
T1=C1×(VDD/2)/I1 ‥‥‥(1)
遅延回路DLYTは、パワーオン信号PONZの立ち上がりエッジを遅延時間T1遅らせ、パワーオン信号PONDZを介して短絡信号SWONXの立ち下がりエッジを生成する。すなわち、遅延回路DLYTは、パワーオン信号PONZの活性化から遅延時間T1後に短絡信号SWONXを活性化する。なお、図4に示したように、電源制御部24のNORゲートは、パワーオン信号PONZの活性化に応答して起動信号CONXを活性化する。このため、パワーオン信号PONZの活性化タイミングと、短絡信号SWONXの活性化タイミングの差は、遅延時間T1に対して無視できる時間である。すなわち、遅延回路DLYTは、起動信号CONXの活性化から遅延時間T1後に短絡信号SWONXを活性化する。
(付記1)
マトリックス状に配置されたメモリセルと、
前記メモリセルにアクセスするためのアクセス要求に応答して、第1方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第1信号線のいずれかを選択する第1選択部と、
前記第1選択部が動作を開始した後に、第1方向に交差する第2方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第2信号線のいずれかを選択する第2選択部と、
前記第1選択部に供給する第1電源電圧を生成する第1電圧生成部と、
起動信号の活性化中に、前記第2選択部に供給する第2電源電圧を生成する第2電圧生成部と、
短絡信号の活性化中に、前記第1電源電圧が供給される第1電源線と前記第2電源電圧が供給される第2電源線とを短絡するスイッチと、
前記アクセス要求に応答して、前記起動信号を活性化し、前記短絡信号の非活性化に応答して前記起動信号を非活性化する第1制御部と、
前記起動信号の活性化から所定時間後に前記短絡信号を活性化し、前記アクセス要求に基づくアクセス動作の完了後に、前記短絡信号を非活性化する第2制御部と
を備えていることを特徴とする半導体メモリ。
(付記2)
前記第2制御部は、前記第2電源電圧が第1電圧に到達してから第2選択部が動作を開始するまでの間に、前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする付記1に記載の半導体メモリ。
(付記3)
前記アクセス要求を受けた後、読み出し動作または書き込み動作を示す読み書き要求を受けるコマンド制御部を備え、
前記第1選択部は、前記アクセス要求に応答して動作を開始し、
前記第2選択部は、前記読み書き要求に応答して動作を開始し、
前記第2制御部は、前記第2電源電圧が前記第1電圧に到達してから前記読み書き要求を受けるまでの間に、前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする付記2に記載の半導体メモリ。
(付記4)
前記第2制御部は、
前記アクセス要求後のクロックサイクルの数をカウントするカウンタと、
前記カウンタのカウンタ値が所定値になったときに前記短絡信号を活性化する検出回路と
を備えていることを特徴とする付記1ないし付記3のいずれか1項に記載の半導体メモリ。
(付記5)
内部回路が動作を開始してから信号を出力するまでのクロックサイクル数を設定するレジスタを備え、
前記タイマ回路は、前記レジスタの設定値に応じて前記所定値を生成する変換回路を備えていること
を特徴とする付記4に記載の半導体メモリ。
(付記6)
前記第2制御部は、前記起動信号の活性化から前記所定時間後に前記短絡信号を活性化する遅延回路を備えていることを特徴とする付記1ないし付記3のいずれか1項に記載の半導体メモリ。
(付記7)
前記第2制御部は、前記アクセス動作の完了後、前記アクセス要求を所定期間受けないときに、前記短絡信号を非活性化すること
を特徴とする付記1ないし付記6のいずれか1項に記載の半導体メモリ。
(付記8)
前記第2選択部は、前記第2信号線を選択するために供給されるアドレス信号をデコードするアドレスデコーダを含んでいること
を特徴とする付記1ないし付記7のいずれか1項に記載の半導体メモリ。
(付記9)
前記第2選択部は、前記第2信号線に伝達され、前記メモリセルに入出力されるデータ信号を保持するラッチ回路を含んでいること
を特徴とする付記1ないし付記8のいずれか1項に記載の半導体メモリ。
(付記10)
付記1ないし付記9のいずれか1項に記載の半導体メモリと、
前記半導体メモリのアクセスを制御するコントローラと
を備えていることを特徴とするシステム。
(付記11)
マトリックス状に配置されたメモリセルと、前記メモリセルにアクセスするためのアクセス要求に応答して、第1方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第1信号線のいずれかを選択する第1選択部と、前記第1選択部が動作を開始した後に、第1方向に交差する第2方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第2信号線のいずれかを選択する第2選択部と、短絡信号の活性化中に、前記第1選択部に第1電源電圧を供給する第1電源線と、前記第2選択部に第2電源電圧を供給する第2電源線とを短絡するスイッチとを備えた半導体メモリの動作方法であって
前記第1選択部に供給する第1電源電圧を生成し、
起動信号の活性化中に、前記第2選択部に供給する第2電源電圧を生成し、
前記メモリセルのアクセス要求を受けたときに、前記起動信号を活性化し、
前記起動信号の活性化から所定時間後に前記短絡信号を活性化し、
前記アクセス要求に応答するアクセス動作の完了後に、前記短絡信号を非活性化し、
前記短絡信号の非活性化に応答して前記起動信号を非活性化すること
を特徴とする半導体メモリの動作方法。
(付記12)
前記第2電源電圧が第1電圧に到達してから第2選択部が動作を開始するまでの間に、前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする付記11に記載の半導体メモリの動作方法。
(付記13)
前記アクセス要求を受けた後、読み出し動作または書き込み動作を示す読み書き要求を受け、
前記第1選択部は、前記アクセス要求に応答して動作を開始し、
前記第2選択部は、前記読み書き要求に応答して動作を開始し、
前記第2電源電圧が前記第1電圧に到達してから前記読み書き要求を受けるまでの間に、前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする付記12に記載の半導体メモリの動作方法。
(付記14)
前記アクセス要求後のクロックサイクルの数をカウントするカウンタのカウンタ値が所定値になったときに前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする付記11ないし付記13のいずれか1項に記載の半導体メモリの動作方法。
(付記15)
内部回路が動作を開始してから信号を出力するまでのクロックサイクル数を設定するレジスタの設定値に応じて前記所定値を生成すること
を特徴とする付記14に記載の半導体メモリの動作方法。
(付記16)
前記アクセス動作の完了後、前記アクセス要求を所定期間受けないときに、前記短絡信号を非活性化すること
を特徴とする付記11ないし付記15のいずれか1項に記載の半導体メモリの動作方法。
TMR‥タイマ;VIIC、VIIR‥内部電源電圧;WCLKB‥書き込みクロックバッファ;WDBSW‥書き込みデータバススイッチ;WL‥ワード線;WR‥書き込みコマンド
Claims (8)
- マトリックス状に配置されたメモリセルと、
前記メモリセルにアクセスするためのアクセス要求に応答して、第1方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第1信号線のいずれかを選択する第1選択部と、
前記第1選択部が動作を開始した後に、第1方向に交差する第2方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第2信号線のいずれかを選択する第2選択部と、
前記第1選択部に供給する第1電源電圧を生成する第1電圧生成部と、
起動信号の活性化中に、前記第2選択部に供給する第2電源電圧を生成する第2電圧生成部と、
短絡信号の活性化中に、前記第1電源電圧が供給される第1電源線と前記第2電源電圧が供給される第2電源線とを短絡するスイッチと、
前記アクセス要求に応答して、前記起動信号を活性化し、前記短絡信号の非活性化に応答して前記起動信号を非活性化する第1制御部と、
前記起動信号の活性化から所定時間後に前記短絡信号を活性化し、前記アクセス要求に基づくアクセス動作の完了後に、前記短絡信号を非活性化する第2制御部と
を備えていることを特徴とする半導体メモリ。 - 前記第2制御部は、前記第2電源電圧が第1電圧に到達してから第2選択部が動作を開始するまでの間に、前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ。 - 前記アクセス要求を受けた後、読み出し動作または書き込み動作を示す読み書き要求を受けるコマンド制御部を備え、
前記第1選択部は、前記アクセス要求に応答して動作を開始し、
前記第2選択部は、前記読み書き要求に応答して動作を開始し、
前記第2制御部は、前記第2電源電圧が前記第1電圧に到達してから前記読み書き要求を受けるまでの間に、前記短絡信号を活性化すること
を特徴とする請求項2に記載の半導体メモリ。 - 前記第2制御部は、
前記アクセス要求後のクロックサイクルの数をカウントするカウンタと、
前記カウンタのカウンタ値が所定値になったときに前記短絡信号を活性化する検出回路と
を備えていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の半導体メモリ。 - 内部回路が動作を開始してから信号を出力するまでのクロックサイクル数を設定するレジスタを備え、
前記タイマ回路は、前記レジスタの設定値に応じて前記所定値を生成する変換回路を備えていること
を特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ。 - 前記第2制御部は、前記アクセス動作の完了後、前記アクセス要求を所定期間受けないときに、前記短絡信号を非活性化すること
を特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の半導体メモリ。 - 請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の半導体メモリと、
前記半導体メモリのアクセスを制御するコントローラと
を備えていることを特徴とするシステム。 - マトリックス状に配置されたメモリセルと、前記メモリセルにアクセスするためのアクセス要求に応答して、第1方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第1信号線のいずれかを選択する第1選択部と、前記第1選択部が動作を開始した後に、第1方向に交差する第2方向に並ぶメモリセルの列にそれぞれ接続される第2信号線のいずれかを選択する第2選択部と、短絡信号の活性化中に、前記第1選択部に第1電源電圧を供給する第1電源線と、前記第2選択部に第2電源電圧を供給する第2電源線とを短絡するスイッチとを備えた半導体メモリの動作方法であって
前記第1選択部に供給する第1電源電圧を生成し、
起動信号の活性化中に、前記第2選択部に供給する第2電源電圧を生成し、
前記メモリセルのアクセス要求を受けたときに、前記起動信号を活性化し、
前記起動信号の活性化から所定時間後に前記短絡信号を活性化し、
前記アクセス要求に応答するアクセス動作の完了後に、前記短絡信号を非活性化し、
前記短絡信号の非活性化に応答して前記起動信号を非活性化すること
を特徴とする半導体メモリの動作方法。
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