JP2012216787A5 - 半導体装置 - Google Patents

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  1. インジウムを含む酸化物半導体層と、
    前記酸化物半導体層の下表面と接する領域を有する第1の絶縁層と、
    前記酸化物半導体層の上表面と接する領域を有する第2の絶縁層と、
    前記第1の絶縁層を介して、前記酸化物半導体層と重なる領域を有するゲート電極と、
    前記酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極およびドレイン電極と、を有し、
    前記酸化物半導体層は、第1の領域と、第2の領域と、を有し、
    前記第1の領域は、前記第2の絶縁層と接する領域を有し、
    前記第2の領域は、前記第1の絶縁層と接する領域を有し、
    前記第1の領域におけるインジウムの濃度よりも、前記第2の領域におけるインジウムの濃度は高いことを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1において、
    前記酸化物半導体層は、Ga、SnおよびZnから選ばれた一種以上の元素を含むことを特徴とする半導体装置。
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