JP2012064804A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012064804A5
JP2012064804A5 JP2010208399A JP2010208399A JP2012064804A5 JP 2012064804 A5 JP2012064804 A5 JP 2012064804A5 JP 2010208399 A JP2010208399 A JP 2010208399A JP 2010208399 A JP2010208399 A JP 2010208399A JP 2012064804 A5 JP2012064804 A5 JP 2012064804A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat insulating
processing chamber
heat exchange
heat
substrate holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010208399A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012064804A (ja
JP5562188B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010208399A priority Critical patent/JP5562188B2/ja
Priority claimed from JP2010208399A external-priority patent/JP5562188B2/ja
Priority to US13/229,543 priority patent/US9222732B2/en
Publication of JP2012064804A publication Critical patent/JP2012064804A/ja
Publication of JP2012064804A5 publication Critical patent/JP2012064804A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5562188B2 publication Critical patent/JP5562188B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (5)

  1. 鉛直方向に所定の間隔で積層された複数の基板を処理する処理室と、
    前記処理室内で前記複数の基板を保持する基板保持部と、
    前記処理室内で前記基板保持部を当該基板保持部の下方側から支持するとともに、当該処理室内を前記基板保持部の側から下方側へ向けて流れるガスとの熱交換を行う第一熱交換部と、を備え、
    前記第一熱交換部は、前記ガスが流れる方向に沿って上下に延びる中空筒状の断熱筒部と、前記断熱筒部内に設けられた断熱板部と、を有し、
    前記断熱筒部内における前記断熱板部を挟んだ上下2つの領域は、空間的に接続されている
    ことを特徴とする基板処理装置。
  2. 前記処理室内で前記第一熱交換部の水平方向に当該第一熱交換部と間隙を成して設けられ、当該間隙を前記基板保持部の側から下方側に向けて流れるガスとの熱交換を行う第二熱交換部を、さらに備える請求項1に記載の基板処理装置
  3. 前記第一熱交換部の下方に、上下方向に積層された複数の板状部材と、前記複数の板状部材を支持する柱状部材とを有する下部断熱部が設けられている請求項1または2に記載の基板処理装置。
  4. 前記下部断熱部の側方を囲うように断熱リングが設けられている請求項3に記載の基板処理装置。
  5. 鉛直方向に所定の間隔で積層された複数の基板を処理室内へ搬入する搬入工程と、
    前記処理室の周囲に設けられた誘導加熱部により当該処理室内を誘導加熱するとともに、当該処理室内に少なくともガスを供給して、当該処理室内における前記基板を処理する処理工程と、を備え、
    前記搬入工程では、前記複数の基板を基板保持部によって保持するとともに、上下に延びる中空筒状の断熱筒部と、前記断熱筒部内に設けられた断熱板部とを有し、前記断熱筒部内における前記断熱板部を挟んだ上下2つの領域が空間的に接続されてなる第一熱交換部により、前記基板保持部を当該基板保持部の下方側から支持した状態で、前記基板保持部及び前記第一熱交換部を前記処理室内へ搬入し、
    前記処理工程では、前記処理室内を前記基板保持部の側から前記第一熱交換部の前記断熱筒部に沿って下方側へ向けて流れるガスとの熱交換を当該第一熱交換部が行う
    ことを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP2010208399A 2010-09-16 2010-09-16 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 Active JP5562188B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010208399A JP5562188B2 (ja) 2010-09-16 2010-09-16 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
US13/229,543 US9222732B2 (en) 2010-09-16 2011-09-09 Substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010208399A JP5562188B2 (ja) 2010-09-16 2010-09-16 基板処理装置及び半導体装置の製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012064804A JP2012064804A (ja) 2012-03-29
JP2012064804A5 true JP2012064804A5 (ja) 2013-10-24
JP5562188B2 JP5562188B2 (ja) 2014-07-30

Family

ID=45816802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010208399A Active JP5562188B2 (ja) 2010-09-16 2010-09-16 基板処理装置及び半導体装置の製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9222732B2 (ja)
JP (1) JP5562188B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130255301A1 (en) * 2012-03-27 2013-10-03 Guntner U.S., Llc Hot Gas Defrost Condensate Pan
KR101750633B1 (ko) * 2012-07-30 2017-06-23 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 기록 매체
JP6065762B2 (ja) 2013-06-21 2017-01-25 株式会社デンソー 炭化珪素半導体成膜装置およびそれを用いた成膜方法
TWI648427B (zh) * 2013-07-17 2019-01-21 應用材料股份有限公司 用於交叉流動類型的熱cvd腔室之改良的氣體活化的結構
JP2015153983A (ja) * 2014-02-18 2015-08-24 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
WO2016046947A1 (ja) * 2014-09-25 2016-03-31 株式会社日立国際電気 基板保持具、基板処理装置および半導体装置の製造方法
TWI551736B (zh) * 2015-03-09 2016-10-01 國立中正大學 二維晶體的長晶方法
JP6605398B2 (ja) * 2015-08-04 2019-11-13 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体の製造方法およびプログラム
WO2017022366A1 (ja) * 2015-08-04 2017-02-09 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法および記録媒体
JP6462161B2 (ja) * 2016-02-09 2019-01-30 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置および半導体装置の製造方法
JP7023147B2 (ja) 2018-03-13 2022-02-21 東京エレクトロン株式会社 断熱構造体及び縦型熱処理装置
US11444053B2 (en) * 2020-02-25 2022-09-13 Yield Engineering Systems, Inc. Batch processing oven and method
US11688621B2 (en) 2020-12-10 2023-06-27 Yield Engineering Systems, Inc. Batch processing oven and operating methods

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5320680A (en) * 1991-04-25 1994-06-14 Silicon Valley Group, Inc. Primary flow CVD apparatus comprising gas preheater and means for substantially eddy-free gas flow
JP3073627B2 (ja) * 1993-06-14 2000-08-07 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
US6005225A (en) * 1997-03-28 1999-12-21 Silicon Valley Group, Inc. Thermal processing apparatus
AT407754B (de) * 1999-09-29 2001-06-25 Electrovac Verfahren und vorrichtung zur herstellung einer nanotube-schicht auf einem substrat
JP3479020B2 (ja) * 2000-01-28 2003-12-15 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
JP2002359237A (ja) * 2001-05-30 2002-12-13 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置および半導体装置の製造方法
JP4276813B2 (ja) * 2002-03-26 2009-06-10 株式会社日立国際電気 熱処理装置および半導体製造方法
JP2003282579A (ja) 2002-03-27 2003-10-03 Toshiba Corp ウエハ熱処理方法とその装置
JP2004235425A (ja) * 2003-01-30 2004-08-19 Seiko Epson Corp 縦型炉および半導体装置の製造方法
JP3965167B2 (ja) * 2003-07-04 2007-08-29 東京エレクトロン株式会社 熱処理方法及び熱処理装置
JP4700300B2 (ja) * 2004-07-12 2011-06-15 株式会社日立国際電気 熱処理装置
JP4855029B2 (ja) * 2005-09-28 2012-01-18 財団法人電力中央研究所 半導体結晶の成長装置
JP2008034463A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
JP4553263B2 (ja) * 2007-01-26 2010-09-29 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置及び熱処理方法
JP5344663B2 (ja) * 2007-06-11 2013-11-20 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法および基板処理方法
JP4930438B2 (ja) * 2008-04-03 2012-05-16 東京エレクトロン株式会社 反応管及び熱処理装置
JP2010034362A (ja) * 2008-07-30 2010-02-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体装置の製造方法及び基板処理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012064804A5 (ja)
JP2010153467A5 (ja)
KR101719444B1 (ko) 기판 지지 장치
JP2014534614A5 (ja)
WO2013019063A3 (ko) 에피택셜 공정을 위한 반도체 제조설비
JP2013036977A5 (ja) 温度検出部、基板処理装置、及び半導体装置の製造方法
JP2013084898A5 (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理装置及びプログラム
JP2013538455A5 (ja)
JP2015070046A5 (ja) 基板保持具および基板処理装置
CN204080026U (zh) 一种用于小规格模块的热处理工装
CN103578899B (zh) 等离子体处理设备及其静电卡盘
JP2014086726A5 (ja)
CN102392116B (zh) 一种薄壁环形件的装载方法
KR20160083475A (ko) 히팅 모듈 및 이를 갖는 열처리 장치
CN105689429A (zh) 一种改进的加热炉
CN104162737B (zh) 真空冷冻干燥机板层的真空扩散焊接工艺
CN102984836A (zh) 一种可快速升降温的高功率加热器
CN203185336U (zh) 一种贯流风叶周转架
JP2012231001A5 (ja)
CN201918372U (zh) 晶圆盒
CN203421953U (zh) 一种晶棒加热炉
CN204803375U (zh) 漆包线退火装置
CN102994941A (zh) 蜗杆离子氮化均温装置
CN103578900B (zh) 等离子体处理设备及其静电卡盘
CN102877145A (zh) 节能保温拉丝弓形板