JP2012047675A - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012047675A JP2012047675A JP2010192045A JP2010192045A JP2012047675A JP 2012047675 A JP2012047675 A JP 2012047675A JP 2010192045 A JP2010192045 A JP 2010192045A JP 2010192045 A JP2010192045 A JP 2010192045A JP 2012047675 A JP2012047675 A JP 2012047675A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- voltage
- detection unit
- signal
- discharge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】回路基板100の導体パターン101に対して電圧信号Veを供給したときに生じる物理量(電圧または電流)を検出する複数の検出部(第1検出部3a、第2検出部3b、第3検出部3c、第4検出部3d)と、電圧信号Veの供給に伴う放電の発生の有無を検出部による検出結果に基づいて判定する制御部4とを備え、各検出部は、物理量に対する検出周波数帯域が各検出部毎に互いに異なるようにそれぞれ構成され、制御部4は、各検出部によって検出された物理量の少なくとも1つが予め決められた条件を満たすときに放電が発生したと判定する。
【選択図】図1
Description
2 信号生成部
3a 第1検出部
3b 第2検出部
3c 第3検出部
3d 第4検出部
4 制御部
11,21 電圧検出回路
12,42 A/Dコンバータ
22,32 コンパレータ
31,41 電流検出回路
100 回路基板
101 導体パターン
D1,D4 サンプリングデータ
N1 第1基準値
N2 第2基準値
N3 第3基準値
N4 第4基準値
S2,S3 検出信号
Ve 電圧信号
Claims (4)
- 検査対象体に対して検査用信号を供給したときに生じる物理量を検出する検出部と、前記検査用信号の供給に伴う放電の発生の有無を前記検出部による検出結果に基づいて判定する判定部とを備えた検査装置であって、
前記検出部を複数備え、
前記各検出部は、前記物理量に対する検出周波数帯域が当該各検出部毎に互いに異なるようにそれぞれ構成され、
前記判定部は、前記各検出部によって検出された前記物理量の少なくとも1つが予め決められた条件を満たすときに前記放電が発生したと判定する検査装置。 - 前記検査用信号としての電圧信号を生成する信号生成部を備え、
第1の検出部、第2の検出部、第3の検出部および第4の検出部を前記各検出部として備え、
前記第1検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての低周波成分の電圧を検出して当該電圧値を示す電圧データを出力し、
前記第2検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての高周波成分の電圧を検出して当該電圧値が予め規定された基準電圧値以上のときに検出信号を出力し、
前記第3検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての高周波成分の電流を検出して当該電流値が予め規定された基準電流値以上のときに検出信号を出力し、
前記第4検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての低周波成分の電流を検出して当該電流値を示す電流データを出力し、
前記判定部は、前記第1検出部から出力された前記電圧データが予め決められた基準値以上のとき、前記第2検出部から前記検出信号が出力されたとき、前記第3検出部から前記検出信号が出力されたとき、および前記第4検出部から出力された前記電流データが予め決められた基準値以上のときのいずれかのときに前記予め決められた条件を満たしたとする請求項1記載の検査装置。 - 前記各検出部は、前記物理量を検出する際の検出感度を任意に設定可能に構成されている請求項1または2記載の検査装置。
- 前記条件を前記検出部毎に任意に設定可能に構成されている請求項1から3のいずれかに記載の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010192045A JP5541720B2 (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010192045A JP5541720B2 (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012047675A true JP2012047675A (ja) | 2012-03-08 |
JP5541720B2 JP5541720B2 (ja) | 2014-07-09 |
Family
ID=45902717
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010192045A Active JP5541720B2 (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5541720B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150024773A (ko) * | 2013-08-27 | 2015-03-09 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
KR20150024772A (ko) * | 2013-08-27 | 2015-03-09 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
CN104597364A (zh) * | 2013-10-31 | 2015-05-06 | 日本电产理德股份有限公司 | 接触端子的维修方法及检测装置 |
CN105137259A (zh) * | 2015-08-18 | 2015-12-09 | 上海明匠智能系统有限公司 | 一种检测设备 |
CN105548626A (zh) * | 2015-12-23 | 2016-05-04 | 国网重庆市电力公司电力科学研究院 | 一种脉冲电场产生装置 |
JP2018132382A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | アーク検出装置およびアーク検出方法 |
DE102015210602B4 (de) | 2014-06-11 | 2022-06-02 | Mitsubishi Electric Corporation | Messvorrichtung |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03255374A (ja) * | 1990-03-05 | 1991-11-14 | Marcon Electron Co Ltd | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
JPH095379A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | トラッキング検出装置 |
JP2000040431A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-08 | Toshiba Corp | 複合碍管ブッシング |
JP2003172757A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-06-20 | Nidec-Read Corp | 回路基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法 |
JP2009109379A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置 |
-
2010
- 2010-08-30 JP JP2010192045A patent/JP5541720B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03255374A (ja) * | 1990-03-05 | 1991-11-14 | Marcon Electron Co Ltd | コンデンサの直流電圧印加試験回路 |
JPH095379A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | トラッキング検出装置 |
JP2000040431A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-08 | Toshiba Corp | 複合碍管ブッシング |
JP2003172757A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-06-20 | Nidec-Read Corp | 回路基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法 |
JP2009109379A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査装置 |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150024772A (ko) * | 2013-08-27 | 2015-03-09 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
JP2015045541A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
JP2015045542A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
CN104422860A (zh) * | 2013-08-27 | 2015-03-18 | 日本电产理德股份有限公司 | 检测装置 |
KR20150024773A (ko) * | 2013-08-27 | 2015-03-09 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
KR102215841B1 (ko) * | 2013-08-27 | 2021-02-16 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
KR102162144B1 (ko) * | 2013-08-27 | 2020-10-06 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
US10228411B2 (en) | 2013-08-27 | 2019-03-12 | Nidec-Read Corporation | Testing apparatus |
TWI664427B (zh) * | 2013-10-31 | 2019-07-01 | 日商日本電產理德股份有限公司 | 接觸端子的維修方法及檢測裝置 |
CN104597364A (zh) * | 2013-10-31 | 2015-05-06 | 日本电产理德股份有限公司 | 接触端子的维修方法及检测装置 |
DE102015210602B4 (de) | 2014-06-11 | 2022-06-02 | Mitsubishi Electric Corporation | Messvorrichtung |
CN105137259A (zh) * | 2015-08-18 | 2015-12-09 | 上海明匠智能系统有限公司 | 一种检测设备 |
CN105548626A (zh) * | 2015-12-23 | 2016-05-04 | 国网重庆市电力公司电力科学研究院 | 一种脉冲电场产生装置 |
WO2018150696A1 (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | アーク検出装置およびアーク検出方法 |
JP2018132382A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | アーク検出装置およびアーク検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5541720B2 (ja) | 2014-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5541720B2 (ja) | 検査装置 | |
US8760171B2 (en) | Device and method for determining partial discharges at an electrical component | |
JP5177851B2 (ja) | 絶縁検査方法及び絶縁検査装置 | |
JP2009264736A (ja) | 基板検査装置 | |
JP6288106B2 (ja) | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | |
JP5496620B2 (ja) | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | |
JP2009109379A (ja) | 絶縁検査装置 | |
JP3371865B2 (ja) | 集積回路の故障検査装置、故障検査方法、及び故障検査制御プログラムを記録した記録媒体 | |
JP2014013164A (ja) | 避雷装置の故障判定方法 | |
JP5727976B2 (ja) | プリント基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法 | |
JP5897393B2 (ja) | 抵抗測定装置 | |
JP2007309814A (ja) | 基板検査装置 | |
JP5474685B2 (ja) | 擬似放電発生器および回路基板検査装置 | |
JP5485100B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP2011185625A (ja) | 検査装置 | |
JP5485099B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP4676218B2 (ja) | 回路配線検査方法および回路配線検査装置 | |
JP6608234B2 (ja) | 接触判定装置および測定装置 | |
JP5501876B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP2013117482A (ja) | 電子回路検査装置、電子回路検査方法、回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP6320862B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JP2011247788A (ja) | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | |
JP2017062136A (ja) | 処理装置、波形表示装置および検査装置 | |
JP2004045085A (ja) | クロスオーバ電圧評価方法および検査装置 | |
JP6462463B2 (ja) | データ生成装置およびデータ生成方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130628 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140304 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140410 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140430 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140430 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5541720 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |