WO2018150696A1 - アーク検出装置およびアーク検出方法 - Google Patents

アーク検出装置およびアーク検出方法 Download PDF

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達雄 古賀
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Definitions

  • the present invention relates to an arc detection device and an arc detection method for detecting the occurrence of an arc.
  • Patent Document 1 discloses an arc detection device that detects a current flowing in a wiring and detects that an arc has occurred when a frequency component of around several tens of kHz of the detected current is greater than a threshold value. .
  • the arc detection apparatus described above uses only frequency components of around several tens of kHz, there is a possibility that the occurrence of an arc may not be detected depending on conditions such as the material and voltage of the wiring.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide an arc detection device and an arc detection method capable of detecting the occurrence of an arc with higher sensitivity.
  • an arc detection device includes a frequency analysis unit that analyzes a frequency component of a first frequency band of a current to be detected, and an arc detection based on the frequency component of the first frequency band. And a detection unit for detecting occurrence.
  • the frequency analysis unit analyzes the frequency component of the second frequency band lower than the first frequency band of the current to be detected, and the detection unit The generation of the arc is detected based on the frequency component of the second frequency band.
  • Another aspect of the present invention is an arc detection method.
  • the method includes analyzing a frequency component of a first frequency band of a current to be detected, detecting an arc generation based on the frequency component of the first frequency band, and based on the frequency component of the first frequency band. If the occurrence of arc is not detected, analyzing the frequency component of the second frequency band lower than the first frequency band of the current to be detected; detecting the occurrence of arc based on the frequency component of the second frequency band; Is provided.
  • the occurrence of arc can be detected with higher sensitivity.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a power conversion system 1 including an arc detection device 50 according to an embodiment.
  • the power conversion system 1 includes a solar cell 10, a switch 20, a power conditioner 30, a current detector 40, an arc detection device 50, and a switch controller 60.
  • the solar cell 10 is a power generation device that directly converts light energy into electric power using the photovoltaic effect, and functions as a DC power source.
  • a silicon solar cell, a solar cell made of a compound semiconductor or the like, a dye-sensitized type (organic solar cell), or the like is used.
  • a DC power source such as a storage battery, an electric double layer capacitor, or a fuel cell may be connected.
  • the switch 20 is provided in a current path between the solar cell 10 and the power conditioner 30, and switches whether the solar cell 10 and the power conditioner 30 are electrically connected. During normal operation, the switch 20 is in a closed state, and allows the solar cell 10 and the power conditioner 30 to conduct.
  • the power conditioner 30 converts the power generated by the solar battery 10 into AC power, and supplies the AC power to the load 70 and the power system 72.
  • the solar cell 10, the switch 20, and the power conditioner 30 are connected by a copper wire.
  • the current detector 40 is provided between the solar cell 10 and the switch 20 and detects an output current (DC current) of the solar cell 10 that is a detection target current.
  • the current detector 40 is, for example, a current transformer (CT).
  • the arc detection device 50 detects the occurrence of an arc based on the detection target current detected by the current detector 40.
  • An arc can be generated in a current path between the solar cell 10 and the power conditioner 30 due to damage to wiring or terminals.
  • the arc detection device 50 includes a frequency analysis unit 52 and a detection unit 54.
  • the frequency analysis unit 52 analyzes the frequency component of the first frequency band of the detection target current. For example, the frequency analysis unit 52 converts the detection target current into a digital signal, performs fast Fourier transform on the digital signal, and obtains a power spectrum in the first frequency band.
  • the first frequency band is, for example, 10 kHz to 100 kHz.
  • the detection unit 54 detects the occurrence of an arc based on the frequency component of the first frequency band analyzed by the frequency analysis unit 52. Specifically, the detection unit 54 detects the occurrence of an arc when the frequency component of the first frequency band is higher than a predetermined first threshold value, and detects the occurrence of the arc when the frequency component of the first frequency band is less than or equal to the first threshold value. Does not detect occurrence. The detection unit 54 notifies the switch control unit 60 when the occurrence of an arc is detected.
  • the frequency analysis unit 52 analyzes the frequency component of the second frequency band of the detection target current. For example, the frequency analysis unit 52 converts the detection target current into a digital signal, performs fast Fourier transform on the digital signal, and obtains a power spectrum in the second frequency band.
  • the second frequency band is lower than the first frequency band, for example, 10 Hz to 100 Hz. Therefore, the time required for analyzing the frequency components in the second frequency band is longer than the time required for analyzing the frequency components in the first frequency band.
  • the detection unit 54 detects the occurrence of an arc based on the frequency component of the second frequency band analyzed by the frequency analysis unit 52. Specifically, the detection unit 54 detects the occurrence of an arc when the frequency component of the second frequency band is higher than a predetermined second threshold value, and detects the occurrence of the arc when the frequency component of the second frequency band is less than or equal to the second threshold value. Does not detect occurrence. The detection unit 54 notifies the switch control unit 60 when the occurrence of an arc is detected.
  • the frequency analysis unit 52 does not analyze the frequency component of the second frequency band of the detection target current. Thereby, unnecessary analysis can be avoided.
  • the optimal values of the first frequency band, the second frequency band, the first threshold value, and the second threshold value can be set as appropriate through experiments and simulations.
  • the configuration of the arc detection device 50 can be realized by cooperation of hardware resources and software resources, or only by hardware resources.
  • hardware resources analog elements, microcomputers, DSPs, ROMs, RAMs, FPGAs, and other LSIs can be used.
  • Firmware and other programs can be used as software resources.
  • the switch control unit 60 controls the switch 20 to be in an open state when the generation of the arc is notified from the detection unit 54, and electrically releases the solar cell 10 and the power conditioner 30. Thereby, the electric current which flows into the power conditioner 30 from the solar cell 10 is interrupted
  • FIG. 2 is a diagram showing a power spectrum of current when an arc is generated in the wiring of the first material and when no arc is generated.
  • a reference power spectrum 110 is calculated using a current when no arc is generated.
  • the power spectrum 112 is calculated using a current when an arc is generated.
  • the frequency component of the first frequency band F1 of the power spectrum 112 is higher than the frequency component of the first frequency band F1 of the reference power spectrum 110.
  • the frequency component of the second frequency band F2 of the power spectrum 112 is higher than the frequency component of the second frequency band F2 of the reference power spectrum 110.
  • FIG. 3 is a diagram showing a power spectrum of current when an arc is generated in the second material wiring and when no arc is generated.
  • the second material is different from the first material.
  • the reference power spectrum 120 is calculated using the current when no arc is generated.
  • the power spectrum 122 is calculated using a current when an arc is generated.
  • the frequency component of the first frequency band F1 of the power spectrum 122 is substantially equal to the frequency component of the first frequency band F1 of the reference power spectrum 120.
  • the frequency component of the second frequency band F2 of the power spectrum 122 is higher than the frequency component of the second frequency band F2 of the reference power spectrum 120.
  • the amount of increase in the frequency component of the first frequency band F1 when an arc is generated differs depending on the material of the wiring.
  • the frequency component of the first frequency band F1 hardly changes even when an arc is generated.
  • the first threshold value is set to a value higher than the value of the frequency component of the first frequency band F1 of the reference power spectrum 110 and lower than the value of the frequency component of the first frequency band F1 of the power spectrum 112.
  • the first threshold value is set to a value higher than the value of the frequency component of the first frequency band F1 of the reference power spectrum 110 and lower than the value of the frequency component of the first frequency band F1 of the power spectrum 112.
  • the increase amount of the frequency component in the second frequency band F2 when the arc is generated is large enough to be detected. Therefore, by setting the second threshold value to be higher than the value of the frequency component of the second frequency band F2 of the reference power spectrum 110 and lower than the value of the frequency component of the first frequency band F1 of the power spectra 112 and 122. 2 and 3, the occurrence of arc can be detected based on the frequency component of the second frequency band F2. Therefore, although the arc is generated, the generation of the arc can be detected based on the frequency component of the second frequency band F2 even when the generation of the arc is not detected depending on the frequency component of the first frequency band F1.
  • FIG. 4 is a flowchart showing processing of the arc detection device 50 of FIG.
  • the frequency analysis unit 52 analyzes the frequency component of the first frequency band of the detection target current (S10).
  • the detection part 54 detects generation
  • S12 the frequency component of the 1st frequency band analyzed by S10
  • the detection unit 54 notifies the switch control unit 60 of the occurrence of the arc (S16), and the process is terminated.
  • the frequency analysis unit 52 analyzes the frequency component of the second frequency band of the detection target current (S18).
  • the detection part 54 detects generation
  • the occurrence of an arc is detected based on the frequency component of the first frequency band of the detection target current, and when the occurrence of the arc is not detected, the frequency component of the second frequency band is analyzed, The occurrence of arc is detected based on the frequency component of the second frequency band.
  • the analysis of the frequency component of the first frequency band that is the high frequency band can be performed in a shorter time than the analysis of the frequency component of the second frequency band that is the low frequency band. Therefore, when there is a change in the frequency component of the first frequency band, it is possible to detect the occurrence of an arc at a high speed in a short time.
  • the frequency component of the second frequency band which is a low frequency band
  • the frequency component of the second frequency band can be greatly increased or decreased from the first frequency band depending on the presence or absence of an arc, regardless of conditions such as the material of the wiring. Therefore, although the arc is generated, the occurrence of the arc can be detected based on the frequency component of the second frequency band even when the generation of the arc is not detected depending on the frequency component of the first frequency band. Therefore, the occurrence of an arc can be detected with higher sensitivity regardless of conditions such as the material of the wiring.
  • the switch control unit 60 may control the switching element inside the power conditioner 30 to be in an off state. Even with this control, the arc can be extinguished.
  • the frequency analysis unit (52) is configured to detect the second frequency band ( Do not analyze the frequency component of F2),
  • SYMBOLS 1 Power conversion system, 10 ... Solar cell, 20 ... Switch, 30 ... Power conditioner, 40 ... Current detector, 50 ... Arc detector, 52 ... Frequency analysis part, 54 ... Detection part, 60 ... Switch control Department.
  • the present invention can be used for an arc detection device that detects the occurrence of an arc.

Abstract

アーク検出装置50において、周波数解析部52は、検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析する。検出部54は、第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する。検出部54により第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、周波数解析部52は、検出対象電流の第1周波数帯より低い第2周波数帯の周波数成分を解析し、検出部54は、第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する。

Description

アーク検出装置およびアーク検出方法
 本発明は、アークの発生を検出するアーク検出装置およびアーク検出方法に関する。
 太陽光発電システムにおいては、配線や端子等の破損等によりアークが発生することがある。アークが発生した場合には、速やかに回路を遮断することが好ましい。そのため、アーク検出装置を用いてアークの発生を検出している。例えば、特許文献1には、配線に流れる電流を検出し、検出された電流の数十kHz前後の周波数成分が閾値より大きい場合にアークが発生したことを検出するアーク検出装置が開示されている。
特開2016-151514号公報
 上述したアーク検出装置では、数十kHz前後の周波数成分のみを用いるため、配線の材質や電圧などの条件によってはアークの発生を検出できない可能性がある。
 本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、より高感度にアークの発生を検出できるアーク検出装置およびアーク検出方法を提供することにある。
 上記課題を解決するために、本発明のある態様のアーク検出装置は、検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析する周波数解析部と、第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する検出部と、を備える。検出部により第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、周波数解析部は、検出対象電流の第1周波数帯より低い第2周波数帯の周波数成分を解析し、検出部は、第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する。
 本発明の別の態様は、アーク検出方法である。この方法は、検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析するステップと、第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出するステップと、第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、検出対象電流の第1周波数帯より低い第2周波数帯の周波数成分を解析するステップと、第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出するステップと、を備える。
 本発明によれば、より高感度にアークの発生を検出できる。
一実施形態に係るアーク検出装置を備えた電力変換システムの構成を示す図である。 第1の材質の配線にアークが発生した場合とアークが発生していない場合の電流のパワースペクトルを示す図である。 第2の材質の配線にアークが発生した場合とアークが発生していない場合の電流のパワースペクトルを示す図である。 図1のアーク検出装置の処理を示すフローチャートである。
 図1は、一実施形態に係るアーク検出装置50を備えた電力変換システム1の構成を示す図である。電力変換システム1は、太陽電池10と、開閉器20と、パワーコンディショナ30と、電流検出器40と、アーク検出装置50と、開閉器制御部60とを備える。
 太陽電池10は、光起電力効果を利用し、光エネルギーを直接電力に変換する発電装置であり、直流電源として機能する。太陽電池10として、シリコン太陽電池、化合物半導体などを素材にした太陽電池、色素増感型(有機太陽電池)等が使用される。太陽電池10に替えて、例えば蓄電池、電気二重層キャパシタ、燃料電池などの直流電源が接続されてもよい。
 開閉器20は、太陽電池10とパワーコンディショナ30との間の電流経路に設けられ、太陽電池10とパワーコンディショナ30とを導通させるか否か切り替える。通常動作時には、開閉器20は、閉状態にあり、太陽電池10とパワーコンディショナ30とを導通させている。
 パワーコンディショナ30は、太陽電池10の発電電力を交流電力に変換し、当該交流電力を負荷70および電力系統72へ供給する。太陽電池10と、開閉器20と、パワーコンディショナ30は、銅線によって接続されている。
 電流検出器40は、太陽電池10と開閉器20との間に設けられ、検出対象電流である太陽電池10の出力電流(直流電流)を検出する。電流検出器40は、例えば変流器(CT:Current Transformer)である。
 アーク検出装置50は、電流検出器40で検出された検出対象電流に基づいて、アークの発生を検出する。アークは、太陽電池10とパワーコンディショナ30との間の電流経路において、配線や端子等の破損等により発生し得る。
 アーク検出装置50は、周波数解析部52と、検出部54とを備える。周波数解析部52は、検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析する。例えば周波数解析部52は、検出対象電流をデジタル信号に変換し、当該デジタル信号に高速フーリエ変換を行い、第1周波数帯のパワースペクトルを得る。第1周波数帯は、例えば10kHz~100kHzである。
 検出部54は、周波数解析部52で解析された第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する。具体的には検出部54は、第1周波数帯の周波数成分が所定の第1閾値より高い場合にアークの発生を検出し、第1周波数帯の周波数成分が第1閾値以下の場合にアークの発生を検出しない。検出部54は、アークの発生を検出した場合、開閉器制御部60に通知する。
 検出部54により第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、周波数解析部52は、検出対象電流の第2周波数帯の周波数成分を解析する。例えば周波数解析部52は、検出対象電流をデジタル信号に変換し、当該デジタル信号に高速フーリエ変換を行い、第2周波数帯のパワースペクトルを得る。第2周波数帯は、第1周波数帯より低く、例えば10Hz~100Hzである。そのため、第2周波数帯の周波数成分の解析に要する時間は、第1周波数帯の周波数成分の解析に要する時間より長い。
 この場合、検出部54は、周波数解析部52で解析された第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する。具体的には検出部54は、第2周波数帯の周波数成分が所定の第2閾値より高い場合にアークの発生を検出し、第2周波数帯の周波数成分が第2閾値以下の場合にアークの発生を検出しない。検出部54は、アークの発生を検出した場合、開閉器制御部60に通知する。
 また、検出部54により第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出された場合、周波数解析部52は、検出対象電流の第2周波数帯の周波数成分を解析しない。これにより、不要な解析を行わないようにできる。
 第1周波数帯、第2周波数帯、第1閾値および第2閾値の最適値は、実験やシミュレーションなどにより適宜設定できる。
 アーク検出装置50の構成は、ハードウェア資源とソフトウェア資源の協働、またはハードウェア資源のみにより実現できる。ハードウェア資源としてアナログ素子、マイクロコンピュータ、DSP、ROM、RAM、FPGA、その他のLSIを利用できる。ソフトウェア資源としてファームウェア等のプログラムを利用できる。
 開閉器制御部60は、検出部54からアークの発生を通知された場合、開閉器20を開状態に制御して、太陽電池10とパワーコンディショナ30との間を電気的に解放させる。これにより、太陽電池10からパワーコンディショナ30に流れる電流が遮断され、アークが消弧される。
 次に、実験装置を用いてアークを発生させた実験結果について説明する。
 図2は、第1の材質の配線にアークが発生した場合とアークが発生していない場合の電流のパワースペクトルを示す図である。図2において、基準のパワースペクトル110は、アークが発生していないときの電流を用いて算出されている。パワースペクトル112は、アークが発生しているときの電流を用いて算出されている。
 パワースペクトル112の第1周波数帯F1の周波数成分は、基準のパワースペクトル110の第1周波数帯F1の周波数成分より高い。パワースペクトル112の第2周波数帯F2の周波数成分は、基準のパワースペクトル110の第2周波数帯F2の周波数成分より高い。
 図3は、第2の材質の配線にアークが発生した場合とアークが発生していない場合の電流のパワースペクトルを示す図である。第2の材質は、第1の材質と異なる。図3において、基準のパワースペクトル120は、アークが発生していないときの電流を用いて算出されている。パワースペクトル122は、アークが発生しているときの電流を用いて算出されている。
 パワースペクトル122の第1周波数帯F1の周波数成分は、基準のパワースペクトル120の第1周波数帯F1の周波数成分とほぼ等しい。パワースペクトル122の第2周波数帯F2の周波数成分は、基準のパワースペクトル120の第2周波数帯F2の周波数成分より高い。
 このように、実験結果では、配線の材質に応じて、アークが発生した場合の第1周波数帯F1の周波数成分の増加量が異なっている。第2の材質の配線の場合には、アークが発生しても第1周波数帯F1の周波数成分はほとんど変化しない。
 アーク検出装置50において、第1閾値を、基準のパワースペクトル110の第1周波数帯F1の周波数成分の値より高く、パワースペクトル112の第1周波数帯F1の周波数成分の値より低い値に設定することで、図2の場合において第1周波数帯F1の周波数成分に基づいてアークの発生を検出できる。図3の場合では、第1周波数帯F1の周波数成分に基づいてはアークの発生を検出できない。
 一方、配線の材質によらず、アークが発生した場合の第2周波数帯F2の周波数成分の増加量は、検出可能な程度に大きい。そこで、第2閾値を、基準のパワースペクトル110の第2周波数帯F2の周波数成分の値より高く、パワースペクトル112,122の第1周波数帯F1の周波数成分の値より低い値に設定することで、図2,3の全ての場合において第2周波数帯F2の周波数成分に基づいてアークの発生を検出できる。よって、アークは発生しているが、第1周波数帯F1の周波数成分によってはアークの発生が検出されない場合であっても、第2周波数帯F2の周波数成分に基づいてアークの発生を検出できる。
 次に、アーク検出装置50の全体的な動作について説明する。図4は、図1のアーク検出装置50の処理を示すフローチャートである。まず周波数解析部52が、検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析する(S10)。次に検出部54が、S10で解析された第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する(S12)。S12でアークの発生が検出された場合(S14のY)、検出部54が開閉器制御部60にアークの発生を通知し(S16)、処理を終了する。
 一方、S12でアークの発生が検出されない場合(S14のN)、周波数解析部52が、検出対象電流の第2周波数帯の周波数成分を解析する(S18)。次に検出部54が、S18で解析された第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する(S20)。S20でアークの発生が検出された場合(S22のY)、S16に移行する。一方、S20でアークの発生が検出されない場合(S22のN)、S10に戻る。これにより、アークの発生が検出されるまで図4の処理が繰り返される。
 このように本実施形態によれば、検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出し、アークの発生が検出されない場合、第2周波数帯の周波数成分を解析し、第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する。高周波帯である第1周波数帯の周波数成分の解析は、低周波帯である第2周波数帯の周波数成分の解析より短時間で行える。そのため、第1周波数帯の周波数成分に変化がある場合には、短時間で高速にアークの発生を検出できる。
 また、低周波帯である第2周波数帯の周波数成分は、配線の材質などの条件によらず、アークの有無に応じて第1周波数帯より大きく増減し得る。そのため、アークは発生しているが、第1周波数帯の周波数成分によってはアークの発生が検出されない場合であっても、第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出できる。従って、配線の材質などの条件によらず、より高感度にアークの発生を検出できる。
 このように、高電圧の太陽電池10によるアークの発生を適切に検出できる。
 以上、本発明について、実施形態をもとに説明した。この実施形態は例示であり、それらの各構成要素あるいは各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、また、そうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
 例えば、開閉器制御部60は、アーク検出装置50によりアークの発生が検出された場合、パワーコンディショナ30の内部のスイッチング素子をオフ状態に制御してもよい。このように制御しても、アークを消弧できる。
 なお、実施の形態は、以下の項目によって特定されてもよい。
[項目1]
 検出対象電流の第1周波数帯(F1)の周波数成分を解析する周波数解析部(52)と、
 前記第1周波数帯(F1)の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する検出部(54)と、を備え、
 前記検出部(54)により前記第1周波数帯(F1)の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、前記周波数解析部(52)は、前記検出対象電流の前記第1周波数帯(F1)より低い第2周波数帯(F2)の周波数成分を解析し、前記検出部(54)は、前記第2周波数帯(F2)の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する、
 ことを特徴とするアーク検出装置(50)。
[項目2]
 前記検出部(54)により前記第1周波数帯(F1)の周波数成分に基づいてアークの発生が検出された場合、前記周波数解析部(52)は、前記検出対象電流の前記第2周波数帯(F2)の周波数成分を解析しない、
 ことを特徴とする項目1に記載のアーク検出装置(50)。
[項目3]
 前記検出対象電流は直流電流である、
 ことを特徴とする項目1または2に記載のアーク検出装置(50)。
[項目4]
 前記検出対象電流は太陽電池の出力電流である、
 ことを特徴とする項目3に記載のアーク検出装置(50)。
[項目5]
 検出対象電流の第1周波数帯(F1)の周波数成分を解析するステップ(S10)と、
 前記第1周波数帯(F1)の周波数成分に基づいてアークの発生を検出するステップ(S12)と、
 前記第1周波数帯(F1)の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、前記検出対象電流の前記第1周波数帯(F1)より低い第2周波数帯(F2)の周波数成分を解析するステップ(S18)と、
 前記第2周波数帯(F2)の周波数成分に基づいてアークの発生を検出するステップ(S20)と、
 を備えることを特徴とするアーク検出方法。
 1…電力変換システム、10…太陽電池、20…開閉器、30…パワーコンディショナ、40…電流検出器、50…アーク検出装置、52…周波数解析部、54…検出部、60…開閉器制御部。
 本発明は、アークの発生を検出するアーク検出装置に利用可能である。

Claims (5)

  1.  検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析する周波数解析部と、
     前記第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する検出部と、を備え、
     前記検出部により前記第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、前記周波数解析部は、前記検出対象電流の前記第1周波数帯より低い第2周波数帯の周波数成分を解析し、前記検出部は、前記第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出する、
     ことを特徴とするアーク検出装置。
  2.  前記検出部により前記第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出された場合、前記周波数解析部は、前記検出対象電流の前記第2周波数帯の周波数成分を解析しない、
     ことを特徴とする請求項1に記載のアーク検出装置。
  3.  前記検出対象電流は直流電流である、
     ことを特徴とする請求項1または2に記載のアーク検出装置。
  4.  前記検出対象電流は太陽電池の出力電流である、
     ことを特徴とする請求項3に記載のアーク検出装置。
  5.  検出対象電流の第1周波数帯の周波数成分を解析するステップと、
     前記第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出するステップと、
     前記第1周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生が検出されない場合、前記検出対象電流の前記第1周波数帯より低い第2周波数帯の周波数成分を解析するステップと、
     前記第2周波数帯の周波数成分に基づいてアークの発生を検出するステップと、
     を備えることを特徴とするアーク検出方法。
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