CN104422860A - 检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电路基板的检测装置，提供了一种能一同检测出电火花和部分放电的结构。恒定电流源向检测对象的配线图形供给恒定的电流。电压测定部测定配线图形的电压。正常时电压斜度算出部，在电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。判定部，在电压的测定结果中，通过将第一阈值以上且小于第二阈值的范围内的测定结果(斜度恒定期间中的测定结果)与基于上述正常时的电压斜度的电压推算值进行比较，判定所述电压斜度是否恒定。并且，判定部基于电压斜度恒定与否来判定电路基板的不良与否。

Description

检测装置

技术领域

本发明主要涉及基板检测装置。具体来说，涉及一种用于检测出在检测对象的配线图形间发生的电火花以及部分放电的构成。

背景技术

通过检测形成在电路基板的多个配线图形间的绝缘状态(是否确保充分的绝缘性)来判断该电路基板是否为良品的检测装置已被周知。通过向检测对象的一组配线图形施加所定的电压进而测定该配线图形间的电阻值来进行绝缘状态的检测。

由于在上述绝缘检测时向配线图形施加电压，因此在该配线图形间会发生电火花。当这种电火花发生时，电路基板上发生某种损伤的可能性则高。因此，优选地，将在检测中发生电火花的电路基板区别为不良品。

与此相关，专利文献1揭示了一种在检测出向配线图形所施加电压波形的下降(当前电压相比前次电压变小的部位)时，检测出电火花发生的构成。据专利文献1，由此能确实防止因绝缘检测而发生电火花的电路基板所混入。

但近来，印刷基板的图形间隙(pitch)逐年变窄，且鉴于此，绝缘检测时配线图形间发生部分放电的情况逐渐增多。发生部分放电时电路基板也会发生损伤。因此，优选地，与检测中发生电火花的电路基板一样，也应将发生部分放电的电路基板区别为不良品。

但，部分放电时，由于配线图形间流动的电流小，因此不能观测到如同电火花发生时的电压下降。因此，按专利文献1的构成不能检测出绝缘检测时发生的部分放电。

【现有技术文献】

【专利文献1】

日本专利第3546046号公报

发明内容

本发明提供了一种能检测出电火花和部分放电的电路基板检测装置。

根据本发明的一个实施形态，提供了一种检测形成在电路基板上的配线图形的检测装置。即，该检测装置包括：恒定电流源，向检测对象的配线图形供给恒定的电流；电压测定部，测定所述配线图形的电压；以及判定部，基于电压斜度的恒定与否来判定所述电路基板的不良与否，其中，所述电压斜度是所述电压对时间的变化率。

优选地，所述的检测装置按如下进行构成。即，该检测装置包括正常时电压斜度算出部，以用于在所述电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。所述判定部，通过比较所述电压的测定结果和基于所述正常时的电压斜度的电压的推算值，判定所述电压斜度是否恒定。

优选地，所述的检测装置按如下进行构成。所述判定部在所述电压的测定结果中，基于所定的第一阈值以上且小于所定的第二阈值的范围内的测定结果，判定所述电压斜度是否恒定。

根据本发明，在配线图形间未发生电火花或部分放电时，被供给了恒定电流的配线图形的电压斜度为恒定。但，在配线图形间发生电火花或部分放电时，电压斜度为不恒定。因此，可基于电压斜度的恒定性，检测出电火花或部分放电的发生有无。并且，虽然电压斜度的值本身随配线图形而不同，但无论何种配线图形在不发生电火花或部分放电时电压斜度都为恒定。因此如上所述，通过基于电压斜度的恒定与否来进行判断，从而能不受随配线图形的电压斜度差异的影响，可针对任一配线图形也能进行高精密度的判定。

配线图形的电压低时，配线图形间发生电火花或部分放电的可能性则低。因此，基于配线图形的电压小于所定的值时而测定的电压，可获得正常时(未发生电火花或部分放电的状态)的电压斜度。并且，通过比较配线图形的电压的测定结果与基于正常时的电压斜度的电压之推算值，可精确判断出在该配线图形中是否发生了电火花或部分放电。

即使为正常时(未发生电火花或部分放电的状态)，也可将电压斜度视为恒定的范围受限定。从而，通过限定在该范围内的测定结果来判定电压斜度是否恒定，由此可高精密度进行电火花或部分放电发生与否的判定。

附图说明

图1是示出本发明一个实施形态的检测装置整体构成的模式电路图。

图2是示出根据检测装置检测配线图形之状态的简略化电路图。

图3是示出配线图形间的电阻R中流过电流时的电路图。

图4是基于检测装置的绝缘检测的流程图。

图5是示出正常时的正极侧图形的电压变化的图表。

图6是示出发生电火花时的正极侧图形的电压变化的图表。

图7是示出发生部分放电时的正极侧图形的电压变化的图表。

[附图标记说明]

1：检测装置

11：恒定电流源

12：电压测定部

20：正常时电压斜度算出部

21：电压推算部

22：判定部

具体实施方式

接下来，参考附图对本发明的实施形态进行说明。图1所示的本实施形态的检测装置1用于对形成在电路基板2的配线图形间的绝缘状态进行良与否的判定。虽然在实际的电路基板中形成有多个复杂的配线图形，但在图1将其简单化，进而示出了在电路基板2形成有四个简单的配线图形P1至P4的状态。

检测装置1包括控制部10、恒定电流源11、电压测定部12、限幅电路(Limiter circuit)13、探针14、开关电路15和电流测定部16。

控制部10是包括作为运算装置的CPU、作为记忆装置的ROM或RAM等硬件的计算机。并且，控制部10在上述ROM等中维持着用于控制检测装置1各部的程序等软件。控制部10通过上述硬件和上述软件的协作来控制检测装置1的各部。

检测装置1包括多个探针14。各探针14是由棒状乃至针状形成的导电性部件，且能与电路基板2上的配线图形P1至P4中的任意一个相接触。

恒定电流源11包括正极侧端子和负极侧端子，且向正极侧端子和负极侧端子间供给恒定的电流。并且，恒定电流源11的负极侧端子接地。

限幅电路13用于保护恒定电流源11的正极侧端子和负极侧端子间的电位差不超过所定的上限电压。

电流测定部16包括正极侧端子和负极侧端子，且用于检测出从正极侧端子向负极侧端子流动的电流的大小。电流测定部16的测定结果被输入至控制部10。并且，电流测定部16的负极侧端子接地。

开关电路15用于将各探针14在与恒定电流源11的正极侧端子相接触的状态、与电流测定部16的正极侧端子相接触的状态、与恒定电流源11和电流测定部16均不相接触的状态中任意切换状态。控制部10控制开关电路15。

控制部10通过适当地控制开关电路15，可使任意的探针14与恒定电流源11的正极侧端子相接触。据此，对相应探针14所接触的配线图形，可供给来自恒定电流源11的恒定电流。在本说明书中将供给了来自恒定电流源11的恒定电流的配线图形称为“正极侧图形”。并且，控制部10通过适当地控制开关电路15，可使任意的探针14与电流测定部16的正极侧端子相接触。据此，基于电流测定部16可测定相应探针14所接触的配线图形中流动的电流。在本说明书中将基于电流测定部16而进行电流测定的配线图形称为“负极侧图形”。

电压测定部12用于测定正极侧图形的电压。电压测定部12的测定结果被输入至控制部10。

在此，参考图2更具体地进行说明。图2举例说明了将一组配线图形P1、P2作为检测对象的情况。图2在检测对象的配线图形P1、P2中，将一个配线图形P1作为正极侧图形，而另一个配线图形P2作为负极侧图形。并且，在图2中，为了方便说明，适当地省略了不必要构成的图示。

如图2所示，一组配线图形P1、P2具有寄生电容C。因此，根据恒定电流源11向正极侧图形P1供给电流，使寄生电容C得以充电。伴随此过程，正极侧图形P1的电压V上升。根据电压测定部12测定所述电压V。

并且，如图2所示，认为在配线图形P1、P2之间存在电阻R。该电阻R理想值为无限大，但实际上具有有限的值。因此，在电阻R中可流过电流Ir(参考图3)。该电流Ir流过负极侧图形P2后，根据电流测定部16而被测定。

并且，如图2和图3所示，在负极侧图形P2中可流过用于充电寄生电容C的电流。因此，在寄生电容C的充电中，电流测定部16测定将用于充电该寄生电容C的电流和流过电阻R的电流Ir相加的电流。但在寄生电容C充电结束后，由于不再流过用于该充电的电流，因此电流测定部16只能测定流过电阻R的电流Ir。

从电压测定部12和电流测定部16输出的测定结果被省略图示的A/D变换器按所定的采样(sampling)周期进行采样，进而作为数字离散数据由控制部10所获取。在以下的说明中，当与电压和电流相关而将其称为“测定结果”时，意指如前述由控制部10所获取之作为数字数据的测定结果。

接下来，针对本实施形态的检测装置1的电路基板检测方法，参考图4的流程图进行说明。

首先，控制部10在形成于电路基板的多个配线图形中，选择将要检测绝缘性的一组配线图形(步骤S101)。控制部10通过适当地控制开关电路15，将作为检测对象所选择的一组配线图形中的一个作为正极侧图形，而另一个作为负极侧图形。在此，如前述图2或图3，将配线图形P1作为正极侧图形且将配线图形P2作为负极侧图形进行说明。据此，对正极侧图形P1，开始供给来自恒定电流源11的电流(步骤S102)。并且，控制部10开始进行对正极侧图形P1开始供给电流起所经过时间的计测(步骤S103)。

在此，简单说明对正极侧图形P1开始供给电流起该正极侧图形P1的电压V随时间的变化。图5至图7是模式化举例示出了正极侧图形P1的电压V变化的图表。

如前所述，一组正极侧图形P1和负极侧图形P2具有寄生电容C。通过向正极侧图形P1供给电流，所述寄生电容C被充电。据此，如图5至图7所示，正极侧图形P1的电压V慢慢上升。并且，在开始向正极侧图形P1供给电流前的状态中，由于寄生电容C完全放电，因此该正极侧图形P1的电压V为零。因此，在图5至图7的图表中，示出了正极侧图形P1的电压V从零慢慢上升的状态。

如前所述，限幅电路13设置在检测装置1中，用于保护以使恒定电流源11的正极侧端子和负极侧端子间的电位差不超过上限电压。因此，如图5至图7所示，若正极侧图形P1的电压V增大至上限电压的附近，则限幅电路13开始工作，从而电压V的增加速度减小，电压V最终恒定于上限电压。因此，在步骤S102，从开始供给电流起若经过充分的时间，则正极侧图形P1的电压V稳定在上限电压。并且，若正极侧图形P1的电压V稳定，则负极侧图形P2中流动的电流也稳定。

控制部10，在步骤S103中直至开始计测的经过时间超过所定的结束时间为止，持续向正极侧图形P1供给电流(步骤S105的判断)。上述结束时间为使正极侧图形P1的电压和负极侧图形P2中流动的电流变稳定而预先设定足够的时间。

通过向正极侧图形P1供给恒定电流，寄生电容C被充电，由此正极侧图形P1的电压V上升，因而该正极侧图形P1与其他配线图形之间可能会发生电火花或部分放电。因此控制部10监视正极侧图形P1与其他配线图形之间是否发生了电火花或部分放电(步骤S104)。控制部10检测出电火花或部分放电时，将电路基板判定为不良品(步骤S108)，并结束工作流程。对于电火花和部分放电的发生检测将在后面进行说明。

当未检测出电火花或部分放电并且经过了结束时间时(步骤S105的判断)，正极侧图形P1的电压V和负极侧图形P2中流动的电流分别被认为已充分稳定。因此，控制部10由电压测定部12测定正极侧图形P1的电压V，由电流测定部16测定在负极侧图形P2中流动的电流Ir(步骤S106)。

接下来，控制部10基于在步骤S106中测定的电压V和电流Ir，算出检测对象的配线图形P1、P2间的电阻R(R＝V/Ir)，且同时判定该电阻R是否为所定的判定阈值Rref以上(步骤S107)。检测对象的配线图形P1、P2间的电阻R小于判定阈值Rref时，控制部10将该配线图形P1、P2间的绝缘性判断为不充分，进而将电路基板判定为不良品且结束工作流程(步骤S108)。

另一方面，检测对象的配线图形P1、P2间的电阻R为判定阈值Rref以上时，控制部10将该配线图形P1、P2间的绝缘性判断为良好。此时，控制部10判定是否针对预定进行检测的全部的一组配线图形结束了检测(步骤S109的判断)，当未结束时，继续检测下一组配线图形。针对全部的一组配线图形结束检测时，控制部10将电路基板判定为良品，且结束工作流程(步骤S110)。

根据上述检测方法，仅将能充分确保配线图形间的绝缘性的电路基板可判定为良品。并且，由于在检测中可将发生电火花或部分放电的电路基板区别为不良品，因此可提高判定为良品的电路基板的可靠性。

接下来，说明在步骤S104中检测出电火花和部分放电的方法。

如上所述，在步骤S104中，正极侧图形P1的电压V慢慢上升。在此首先说明检测对象的配线图形P1、P2间的绝缘性被充分确保，并且该配线图形P1、P2间未发生电火花或部分放电的情况(电阻R为无限大之理想情况)。此时，可以忽略流过电阻R的电流Ir(参考图2)。因此，恒定电流源11供给的电流I全部消耗在寄生电容C的充电中。由于Q＝CV，因而此时下列数学公式1成立。

【数学公式1】

ΔV＝I/C×Δt

由于恒定电流源11供给恒定的电流，因此可将电流I视为恒定不变。并且，在检测中也认为寄生电容C不变。因此，从上述数学公式1中可得知正极侧图形P1的电压V对时间的变化率(ΔV/Δt)恒定。在本说明书中将ΔV/Δt称为“电压斜度”。

图5是示出在检测对象的配线图形P1、P2间未发生电火花或部分放电时(上述数学公式1成立时)，正极侧图形P1的电压V随时间变化的图表。如上所述，由于此时的电压斜度恒定，因此正极侧图形P1的电压V按直线上升。

即使如此，将电压斜度(ΔV/Δt)视为恒定的范围受限定。例如，如图5所示，正极侧图形P1的电压V在零附近(向正极侧图形P1开始供给电流之后)的电压斜度不稳定。并且如图5所示，若电压V接近上限电压，由于限幅电路13工作，因此电压斜度产生变化。

如此，正极侧图形P1的电压V在零附近和上限电压的附近，不能将电压斜度视为恒定(即，不能被视为数学公式1成立)。因此，把可将电压斜度视为恒定的电压V范围的下限值作为“第一阈值”，把上限值作为“第二阈值”，且将正极侧图形P1的电压V处于第一阈值以上且小于第二阈值的范围的期间(电压斜度可被视为恒定的期间)称为“斜度恒定期间”。并且，第一阈值和第二阈值被预先设定为能适当地规定可将电压斜度视为恒定的范围(数学公式1成立的范围)。

接下来，说明检测对象的配线图形P1、P2间发生电火花或部分放电之情况。若配线图形P1、P2间发生电火花或部分放电，则正极侧图形P1的电荷流向负极侧图形P2。此时，由于配线图形P1、P2间的电阻R暂时变小，因此可认为电流Ir暂时流过该电阻R(参考图3)。在恒定电流源11供给的恒定电流I中，由于经由电阻R流出电流Ir，因此耗用于寄生电容C充电的电流变为I-Ir。

【数学公式2】

ΔV＝(I-Ir)/C×Δt

从上述数学公式2中可得知随着流过电阻R的电流Ir增大，电压斜度(ΔV/Δt)变小。

图6示出了检测对象的配线图形P1、P2间发生电火花之情况。发生电火花时，检测对象的配线图形P1、P2间的电阻R中瞬间流过大电流Ir(在上述数学公式2中电流Ir瞬间变大)。其结果是，如图6所示，发生电火花的瞬间正极侧图形P1的电压V减小，同时电压斜度瞬间变负。

图7示出了检测对象的配线图形P1、P2间发生部分放电之情况。发生部分放电时，检测对象的配线图形P1、P2间的电阻R也流过电流Ir。但在部分放电时，由于不流过发生电火花时的大电流，因此正极侧图形P1的电压V不减小。但部分放电持续某种程度的期间而发生的情况多。在部分放电持续发生的期间中，由于配线图形间的电阻R中流过电流Ir，因此寄生电容C的充电速度变慢。由此如图7所示，电压V的增加速度变小(即，电压斜度变小)。

如此，发生电火花或部分放电时(图6或图7的情况)，电压斜度暂时变小。另一方面，未发生电火花和部分放电时(图5的情况)，斜度恒定期间的电压斜度恒定。因此，通过确认斜度恒定期间的电压斜度的恒定性，能检测出电火花或部分放电的发生。

并且，由于寄生电容C随配线图形而不同，因此电压斜度(ΔV/Δt)的值也随配线图形而不同。但“未发生电火花或部分放电时电压斜度恒定”这一点，在任一配线图形中都共通。因此如上所述，通过基于电压斜度是否恒定来检测电火花或部分放电，从而不受随配线图形的寄生电容C的差异的影响，可对任一配线图形也能高精密度地检测出电火花和部分放电。

因此本实施形态的控制部10，在图4的步骤S104中，在斜度恒定期间当电压斜度恒定时(图5所示之情况)判断为不发生电火花和部分放电，而当电压斜度不恒定时(如图6或图7所示之情况)判定为发生电火花或部分放电。

接下来，针对用于判定电压斜度的恒定性的控制部10的构成进行更详细的说明。

本实施形态的控制部10具有作为正常时电压斜度算出部20的功能，以用于算出正常时的电压斜度。并且，在本说明书中“正常”指的是不发生电火花或部分放电之状态。

本实施形态的正常时电压斜度算出部20，基于电压V较小时的该电压V的测定结果，算出正常时的电压斜度。其原因在于正极侧图形P1的电压V越小，该正极侧图形P1与其他配线图形间发生电火花或部分放电的可能性越小。即，正极侧图形P1的电压V足够小时，可将其视为“正常时”。但，如上所述，在正极侧图形P1的电压V为零的附近，电压斜度不稳定。因此，在正极侧图形P1的电压V极小时(电压V接近零时)，基于该电压V的测定结果不能准确地获得正常时的电压斜度。

因此，正常时电压斜度算出部20，基于正极侧图形P1的电压V为第一阈值以上且小于所定的电压斜度算出阈值之范围的期间(图5至图7中“电压斜度算出期间”之期间)中获得的电压V的测定结果，获得正常时的电压斜度。为了获得正常时的电压斜度，在电压斜度算出期间中，能获得最少两点的电压V的测定结果即可。并且，阈值间的大小关系为：电压零<第一阈值<电压斜度算出阈值<第二阈值<上限电压。

但，若为正常时(不发生电火花或部分放电的状态)，则电压斜度(ΔV/Δt)恒定。因此，假设为正常时(假设电压斜度恒定)，那么基于正常时电压斜度算出部20算出的“正常时的”电压斜度，能推算任意时间t的电压V。本实施形态的控制部10具有作为电压推算部21的功能，以用于在假设电压斜度为恒定的前提下，基于正常时的电压斜度，推算各时间t的正极侧图形的电压V。电压推算部21算出的电压V的推算值在图5至图7中用双点划线来表示。

本实施形态的控制部10具有作为判定部22的功能，以用于通过比较斜度恒定期间中的电压V的测定结果与基于电压推算部21的电压V的推算值，判定斜度恒定期间中的电压斜度是否恒定。

例如，如图5所示，当斜度恒定期间中的电压V的测定结果(图5中以圆形的符号表示)与基于电压推算部21的电压V的推算值(用双点划线的直线表示)一致时，可以认为在斜度恒定期间中电压斜度为恒定。因此，本实施形态的判定部22，在斜度恒定期间中的电压V的测定结果与基于电压推算部21的电压V的推算值一致(或大概一致)时，判断斜度恒定期间中的电压斜度为恒定。并且在本实施形态中，电压V的测定结果与电压V的推算值的差小于所定的判定阈值V时，判定为两者一致(或大概一致)。

另外，例如图5或图6所示，当斜度恒定期间中的电压V的测定结果(圆形的符号)与基于电压推算部21的电压V的推算值(双点划线的直线)存有偏差时，判定部22判定在斜度恒定期间中电压斜度发生了变化(电压斜度不恒定)。并且在本实施形态中，在电压V的测定结果与电压V的推算值的差为上述判定阈值V以上时，判定两者存有偏差。

如上所述，若不发生电火花或部分放电，则斜度恒定期间中的电压斜度恒定。因此，判定部22，当判定在斜度恒定期间中的电压斜度为恒定时，进而判定在检测对象的配线图形中未发生电火花和部分放电。即，此时在图4的步骤S104的判断中为“否”。

另外，判定部22，当判定在斜度恒定期间中的电压斜度为不恒定时，进而判定在检测对象的配线图形中发生了电火花或部分放电。即，此时在图4的步骤S104的判断中为“是”。

如上述说明的，本实施形态的检测装置1包括恒定电流源11、电压测定部12、正常时电压斜度算出部20和判定部22。恒定电流源11向检测对象的配线图形供给恒定的电流。电压测定部12测定配线图形的电压V。正常时电压斜度算出部20，在电压V的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。判定部22，通过比较在电压V的测定结果中为第一阈值以上且小于第二阈值的范围内的测定结果(斜度恒定期间中的测定结果)与基于上述正常时的电压斜度的电压推算值，判定上述电压斜度是否恒定。并且，判定部22，基于电压斜度恒定与否，判定电路基板的不良与否。

根据如上构成的本实施形态的检测装置1，除了以往能检测的电火花(图5)之外，还能检测出以往难以进行检测的部分放电(图6)的发生。

以上虽然对本发明的优选实施形态进行了说明，但上述构成例如可按下述进行变形。

在上述实施形态中，即使电火花或部分放电发生一次，也将其判定为不良品，但也可容许数次的电火花(或部分放电)。

在以往的方法(专利文献1)中，虽然不能检测出部分放电的发生，但能检测出电火花的发生。由此，通过组合以往的方法和本案发明的方法，可以区分电火花的发生和部分放电的发生从而进行检测。因此，在电火花发生时和在部分放电发生时，根据需要可进行不同的处理。

在上述实施形态中，虽然在电压V的测定结果与电压V的推算值的差小于所定的判定阈值V时，判定两者一致(或大概一致)，但将电压V的测定结果与推算值判定为一致的条件并不限定于此。例如，也可在电压V的测定结果与电压V的推算值的偏差在所定比例[％]的范围内时，判定两者一致(或大概一致)。

在上述实施形态中，虽然是基于电压V而获得正常时的电压斜度，但该正常时的电压斜度也可是规定的值。但正常时的电压斜度随配线图形而不同。并且由于存在个体差异等影响，实际配线图形中的正常时的电压斜度被认为随电路基板而微妙不同。因此，难以预先准确地规定各配线图形的正常时的电压斜度。与此相关，在上述实施形态中，每个检测对象的配线图形是基于电压V的测定值而获得正常时的电压斜度。如此，由于基于实际的测定值而获得正常时的电压斜度，因此能准确地获得每个配线图形正常时的电压斜度。并且，基于据此获得的正常时的电压斜度来检测出电火花和部分放电，从而能不受随配线图形的电压斜度差异的影响，可针对任意配线图形也能高精密度地检测出电火花和部分放电。

在上述实施形态中，基于正常时的电压斜度来获得电压V的推算值，并且通过比较该推算值与电压V的测定结果来确认电压斜度的恒定性。但，确认电压斜度的恒定性的方法并不限定于此，而可采用恰当的方法。例如，每当获得电压V的最新测定结果时，基于与前一个测定结果的差来获得最新的电压斜度，并借此监视该电压斜度的变化也无妨。

Claims (3)

1.一种检测装置，检测形成在电路基板上的配线图形的绝缘性，所述检测装置包括：

恒定电流源，向检测对象的配线图形供给恒定的电流；

电压测定部，测定所述配线图形的电压；以及

判定部，基于电压斜度的恒定与否来判定所述电路基板的不良与否，其中，所述电压斜度是所述电压对时间的变化率。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于进一步包括正常时电压斜度算出部，以用于在所述电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度，

所述判定部，通过比较所述电压的测定结果和基于所述正常时的电压斜度的电压的推算值，判定所述电压斜度是否恒定。

3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于所述判定部在所述电压的测定结果中，基于所定的第一阈值以上且小于所定的第二阈值的范围内的测定结果，判定所述电压斜度是否恒定。