JP5085275B2 - 絶縁検査装置 - Google Patents
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Description
2 検出部
21a 電圧検出回路
21b 電流検出回路
21c 光検出回路
21d 音検出回路
4 電圧供給回路
10 制御部
100 回路基板
102a〜102c導体パターン
Im 電流値
Lm 光強度
Nm 音量
Pm 物理量
Ve 検査用電圧
Vm 電圧値
Claims (2)
- 検査用電圧を出力する電圧供給部と、検査対象体の所定部位に対する前記検査用電圧の供給によって生じる物理量を検出する検出部と、当該検出部によって検出された前記物理量に基づいて前記所定部位における放電の発生の有無を判定する判定処理を行う処理部とを備え、前記所定部位に対して前記検査用電圧が供給された状態において当該検査対象体の絶縁状態を検査する絶縁検査装置であって、
前記検出部は、前記物理量としての前記所定部位における電圧および当該所定部位において生じる光を検出し、
前記処理部は、前記判定処理において、前記検出部によって検出された前記電圧の電圧値および前記光の光強度のいずれか一方が瞬時変化したと判別した後に当該判別したときから予め決められた所定の時間以内に当該電圧値および当該光強度の他方が瞬時変化したと判別したときに前記放電が発生したと判定する絶縁検査装置。 - 検査用電圧を出力する電圧供給部と、検査対象体の所定部位に対する前記検査用電圧の供給によって生じる物理量を検出する検出部と、当該検出部によって検出された前記物理量に基づいて前記所定部位における放電の発生の有無を判定する判定処理を行う処理部とを備え、前記所定部位に対して前記検査用電圧が供給された状態において当該検査対象体の絶縁状態を検査する絶縁検査装置であって、
前記検出部は、前記物理量としての前記所定部位を流れる電流および当該所定部位において生じる光を検出し、
前記処理部は、前記判定処理において、前記検出部によって検出された前記電流の電流値および前記光の光強度のいずれか一方が瞬時変化したと判別した後に当該判別したときから予め決められた所定の時間以内に当該電流値および当該光強度の他方が瞬時変化したと判別したときに前記放電が発生したと判定する絶縁検査装置。
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