JP6474362B2 - プリント基板の劣化検出装置 - Google Patents
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Description
そこで本発明の目的は、劣化状態をモニタする導体・配線パターンを劣化させず、又は劣化を最小限にして、プリント基板を含む部品が実装されたプリント板を再利用できることが可能なプリント基板劣化検出装置を提供することである。
請求項3に係る発明は、前記モニタ用導体に抵抗を介して接続される電位は0Vとした。
請求項13に係る発明は、前記劣化検出信号の種類に応じたアラームまたはメッセージを出力するアラーム出力手段を備えるものとした。
図1は、本発明のプリント基板の劣化検出装置におけるプリント基板の劣化状態を示す信号を検知する劣化状態検知手段100の第1の実施形態の概要図である。この劣化状態検知手段100は劣化を検出するためのモニタ用導体1と、電圧・電流を供給する電圧供給用導体2を接触しないように任意のクリアランスをもってプリント基板に配線して構成されている。モニタ用導体1を抵抗経由で初めは0Vに保持し、電圧供給用導体2は任意の電圧Vx(Vx>0V)を保持する状態としている。モニタ用導体1に0Vの電圧を与えるための抵抗は、1個または複数個が任意の位置に接続されるもので、図1(a)には1個の抵抗Rzが接続された例を示し、図1(b)には抵抗Rz1と抵抗Rz2の2個の抵抗が接続された例を示している。モニタ用導体1の長さやノイズの有無やモニタ用導体1の断線の可能性などにより、モニタ用導体1に電圧を与えるための抵抗は、1個または複数個接続する。なお、モニタ用導体1の断線が考えられる場合は、モニタ用導体1に電圧を与えるための抵抗は、1個が好ましい。
Vy=Vx・R/(R+Ry) ・・・(1)
で表わせる。
ただし、Rは図1(a)ではRzであり、図1(b)では抵抗Rz1、Rz2の並列回路で形成される合成抵抗で
R=Rz1・Rz2/(Rz1+Rz2)である。(なお、抵抗が3個以上の場合はそれらの合成抵抗である。)
モニタ用導体1と電圧供給用導体2の間の導電性物質による抵抗分Ryは、(1)式より、Ry=R・(Vx−Vy)/Vy ・・・(2)
で表せる。
Vout=(1+(R2/R1))・Vy ・・・(3)
上記(3)式よりモニタ用導体1の電圧であり、増幅回路3へ入力される電圧Vyは、次の(4)式で表わされる。
Vy={R1/(R1+R2)}・Vout ・・・(4)
電圧・電流供給回路9は、プリント基板が作動開始する稼働スタート時(電源ON時)には、電圧・電流供給回路9は、出力をON(ハイレベル)にして電圧供給用導体2へ連続して電圧・電流を供給する。後述する劣化判別検出手段21が劣化異常を検出した時、電圧・電流供給回路9は出力をOFF(ローレベル)にして、電圧供給用導体2への電圧Vxの供給を停止する。そして、所定時間Ta経過後、再び出力をオンにして、電圧供給用導体2への電圧Vxの供給を再開させる。電圧供給用導体2への電圧Vxが供給されると、再び増幅回路3より出力電圧Voutが出力され、劣化判別検出手段21は、プリント基板の劣化を判別検査することになる。依然としてプリント基板の状態が改善されない状態では、劣化判別検出手段21から劣化検出信号が出力されることになるから、電圧・電流供給回路9は、出力をOFFにして、電圧供給用導体2への電圧Vxの供給を所定時間Ta停止する。以下、異常状態が解消されない限り、このON/OFF(電圧Vxの供給/停止)を繰り返し実行する。劣化異常の劣化検出信号が出力されると、電圧供給用導体2への電圧Vxの供給が停止する所定時間Ta内には、電圧供給用導体2への電圧Vxの供給がないから、電食による劣化状態検知手段100の劣化の進行を防止することができる。
なお、電圧・電流供給回路9の出力(電圧Vx)は、電源回路の出力でも良いし、消費するパワーが少ないので汎用ロジックの出力でもカスタムLSIの出力でもCPUの出力でも電圧Vxを出せるものであれば何でも良い。停止時間を含むON、OFF回路は、単安定マルチバイブレータで作っても良いし、CPUで作っても良いし、停止時間を含むON、OFF回路を作れるものであれば何でもよい。
VxとVzと0Vの関係は、
Vx>Vz≧0V
Vx≧0V>Vz
0V>Vx>Vz
の内のいずれでも良い。Vzxは0Vを含む任意の電圧である。
Vy=(R・Vx+Ry・Vz)/(R+Ry) ・・・(5)
なお、Rは図8では抵抗Rzであり、2個以上であれば並列回路で形成される合成抵抗である。
モニタ用導体1と電圧供給用導体2の間の抵抗分Ryは次の(6)式で表わされる。
Ry=(Vx−Vy)・R/(Vy−Vz) ・・・(6)
Vy=(R1・Vout+R2・Vzx)/(R1+R2) ・・・(7)
なお、この場合、モニタ用・電圧供給用兼用導体1’(1’−1〜1’−4)に接続する電圧Vxを供給する抵抗は、図9に示すように、各導体毎に1個が好ましい。これは、複数の抵抗が接続されている場合、抵抗間の導体が断線した時に断線する前と後で電圧Vyが式1に従って変化するためである。電圧の変化を見て断線を判断することも可能であるが、再使用するためには断線していることを記憶しておくなどの対応が必要であり、複雑になるので、各導体毎に1個が好ましい。
なお、ステップ15以降、基準値は各1つとして説明したが、各々基準値を2つ以上としてもよいことは明白である。
さらに、アラームが発生した後、必要に応じて記憶部M(Vb)の値を確認し、プリント板を洗浄し、記憶部M(Vb)に記憶させる出力電圧を洗浄後の出力電圧Voutに書き換えて保存し(洗浄後のVoutとしては、実際に動作させなくても、例えばテスタでモニタ用導体1と電圧供給用導体2の間の絶縁抵抗を測定することにより(1)および(3)式で簡単に知ることができる)、アラーム状態を解除することで、再使用することができる。
2 電圧供給用導体
3 増幅回路
4 ビア
5 レジスト
6 導体が無い部分
7 フィルタ
8−1、8−2、11−1〜11−4 増幅回路、フィルタ、モニタ用導体を0Vに接続する抵抗を1セットした回路
9 電圧・電流供給回路
10 モニタ用・電圧供給用兼用導体
21 劣化判別検出手段
22、26 アラーム出力手段
100 劣化状態検知手段
200、201 劣化判別検出・アラーム手段
Claims (13)
- 電子機器に設けられたプリント基板の劣化を検出する劣化検出装置において、
モニタ用導体と電圧供給用導体とを含む劣化状態検知手段であって、前記モニタ用導体と前記電圧供給用導体とが任意のクリアランスをもってプリント基板に配線され、前記電圧供給用導体には所定の電位が複数の箇所に与えられ、前記モニタ用導体は前記電圧供給用導体の前記所定の電位よりも低い電位に接続される、劣化状態検知手段と、
該劣化状態検知手段の出力電位に基づいてプリント基板の劣化を判別し検出して劣化検出信号を出力する劣化判別検出手段とを備え、
前記劣化状態検知手段の前記出力電位は、前記モニタ用導体と前記電圧供給用導体の間の絶縁抵抗が変化することによる前記モニタ用導体の電位の変化を示すことを特徴とするプリント基板の劣化検出装置。 - 前記電圧供給用導体は複数の個所で電圧・電流供給源に接続され、前記モニタ用導体は1個所または複数個所に抵抗を介して前記電圧・電流供給源の電位より低い電位に接続される請求項1に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記モニタ用導体に抵抗を介して接続される電位は0Vである請求項2に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記モニタ用導体と前記電圧供給用導体を覆うレジストの一部が無いことを特徴とする請求項1乃至請求項3の内何れか1項に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記モニタ用導体または前記電圧供給用導体は、切り欠かれて、導体が無い部分を有し、かつ、前記導体が無い部分を含んで、前記レジストに覆われることで、前記導体が無い部分においてレジストと基板とが密着していることを特徴とする請求項4に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記劣化状態検知手段は、前記モニタ用導体に接続される1つまたは複数の増幅回路を備え、該増幅回路が前記出力電位を送出する請求項1乃至請求項5の内何れか1項に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記モニタ用導体に接続された複数の増幅回路は、各々の増幅度が異なるように設定されている請求項6に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記電圧・電流供給源は、前記劣化検出信号が検出されると所定時間だけ前記所定の電位を与えることを停止する電圧・電流供給回路で構成されている請求項2に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記モニタ用導体及び前記電圧供給用導体とは別に、モニタ用導体と電圧供給用導体を兼用する第3の導体を前記モニタ用導体と任意のクリアランスをもってプリント基板に配線し、前記モニタ用導体と前記第3の導体を同じ電位になるように接続し、前記電圧供給用導体が劣化したとき、前記モニタ用導体と前記第3の導体の接続を切り離し、前記電圧供給用導体に接続する電位と前記第3の導体を接続できるように構成する請求項1乃至請求項8の内何れか1項に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記劣化判別検出手段は、前記劣化状態検知手段が備える各増幅回路に接続される比較回路を備え、各比較回路は接続された増幅回路の出力電位と基準電位を比較し、出力電位が基準電位の範囲を外れると前記劣化検出信号を出力する請求項6または請求項7に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記劣化判別検出手段は、前記劣化状態検知手段の出力電位V out と現在時刻Trを所定時間毎あるいは所定のタイミング毎に読み込み、プリント基板の使用開始からの時間と、前回と今回読み込んだ出力電位の差と時刻の差より、時間に対しての出力電位の変化量V out ’を求め、該時間に対しての出力電位の変化量V out ’と前記読み込んだ出力電位V out 及び使用開始からの存続時間をプリント基板の劣化状態を判別する要因として、該要因の大きさの組み合わせに基づいて結果検出信号を出力する請求項1乃至請求項9の内何れか1項に記載のプリント基板の劣化検出装置。
- 前記劣化判別検出手段は、前記劣化状態検知手段の出力電位V out と現在時刻Trを所定時間毎あるいは所定のタイミング毎に読み込む手段と、
前記読み込んだ現在時刻と予め設定されているプリント基板の使用開始時刻より使用開始からの存続時間TIを求める手段と、
前記読み込んだ現在時刻と記憶部に記憶する前回読み込んだ時刻より、前回の読み込みからの経過時間ΔTを算出する手段と、
読み込んだ出力電位V out と記憶部に記憶する前回読み込んだ出力電位Vbの電位差ΔVを求める手段と、
前記電位差ΔVを前記経過時間ΔTで除して、時間に対しての出力電位の変化量V out ’を求める手段と、
読み込んだ出力電位V out と現在時刻Trをそれぞれ記憶する記憶部と、
読み込んだ出力電位V out と予め設定されている基準電位とを比較・判定する電位の比較・判定部と、
使用開始からの存続時間TIと予め設定されている基準存続時間とを比較・判定する存続時間の比較・判定部と、
前記時間に対しての出力電位の変化量V out ’と予め設定されている基準変化量とを比較・判定する電位変化量の比較・判定手段と、
前記各比較・判定手段による判定結果の組み合わせに基づいた劣化検出信号を出力する手段と、
を有する請求項1乃至請求項9の内何れか1項に記載のプリント基板の劣化検出装置。 - 前記劣化検出信号の種類に応じたアラームまたはメッセージを出力するアラーム出力手段を備えた請求項10又は請求項11に記載のプリント基板の劣化検出装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016075350A JP6474362B2 (ja) | 2016-04-04 | 2016-04-04 | プリント基板の劣化検出装置 |
DE102017106989.5A DE102017106989B4 (de) | 2016-04-04 | 2017-03-31 | Verschlechterungserkennungsgerät für eine leiterplatte |
US15/477,650 US10338129B2 (en) | 2016-04-04 | 2017-04-03 | Deterioration detection device for printed circuit board |
CN201710218197.XA CN107278016B (zh) | 2016-04-04 | 2017-04-05 | 印刷基板的恶化检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016075350A JP6474362B2 (ja) | 2016-04-04 | 2016-04-04 | プリント基板の劣化検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017187347A JP2017187347A (ja) | 2017-10-12 |
JP6474362B2 true JP6474362B2 (ja) | 2019-02-27 |
Family
ID=59885354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016075350A Active JP6474362B2 (ja) | 2016-04-04 | 2016-04-04 | プリント基板の劣化検出装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10338129B2 (ja) |
JP (1) | JP6474362B2 (ja) |
CN (1) | CN107278016B (ja) |
DE (1) | DE102017106989B4 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2016
- 2016-04-04 JP JP2016075350A patent/JP6474362B2/ja active Active
-
2017
- 2017-03-31 DE DE102017106989.5A patent/DE102017106989B4/de active Active
- 2017-04-03 US US15/477,650 patent/US10338129B2/en active Active
- 2017-04-05 CN CN201710218197.XA patent/CN107278016B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107278016B (zh) | 2020-04-10 |
DE102017106989B4 (de) | 2020-12-24 |
DE102017106989A1 (de) | 2017-10-05 |
CN107278016A (zh) | 2017-10-20 |
US20180128870A9 (en) | 2018-05-10 |
US20170292989A1 (en) | 2017-10-12 |
JP2017187347A (ja) | 2017-10-12 |
US10338129B2 (en) | 2019-07-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180315 |
|
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