JPH10239374A - プリント基板の絶縁劣化検出装置 - Google Patents
プリント基板の絶縁劣化検出装置Info
- Publication number
- JPH10239374A JPH10239374A JP9039016A JP3901697A JPH10239374A JP H10239374 A JPH10239374 A JP H10239374A JP 9039016 A JP9039016 A JP 9039016A JP 3901697 A JP3901697 A JP 3901697A JP H10239374 A JPH10239374 A JP H10239374A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- insulation
- voltage
- level
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 プリント基板の絶縁劣化を検出する。
【解決手段】 本発明はプリント基板の絶縁劣化検出装
置では電極がプリント基板の全面に配設されているの
で、プリント基板の少なくとも一カ所で絶縁劣化が発生
すればすぐに発見することができる。また、絶縁劣化し
た場合、マイコンが信号cを’H’レベルにするのを停
止するので、電極Aと電極Bには電流が流れなくなり、
プリント基板の消費電流が多くなることはない。
置では電極がプリント基板の全面に配設されているの
で、プリント基板の少なくとも一カ所で絶縁劣化が発生
すればすぐに発見することができる。また、絶縁劣化し
た場合、マイコンが信号cを’H’レベルにするのを停
止するので、電極Aと電極Bには電流が流れなくなり、
プリント基板の消費電流が多くなることはない。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の絶
縁抵抗を検出するための電極対をプリント基板全体に形
成し、この電極対間の抵抗値を既定周期で既定の期間検
出し、この電極対間の抵抗値の抵抗値を検出し、抵抗値
が一定レベルよりも小さいときにはプリント基板に絶縁
劣化が発生していることを通知するプリント基板の絶縁
劣化検出装置に関する。
縁抵抗を検出するための電極対をプリント基板全体に形
成し、この電極対間の抵抗値を既定周期で既定の期間検
出し、この電極対間の抵抗値の抵抗値を検出し、抵抗値
が一定レベルよりも小さいときにはプリント基板に絶縁
劣化が発生していることを通知するプリント基板の絶縁
劣化検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のプリント基板の絶縁劣化検出装置
は図4で示されるように、5は電極B、4は電極A,9
はアース、3は抵抗器、7は電源、2は電圧検出器、1
はマイコンとから構成されている。5の電極Bは一定の
基準電圧に保持するためにアース9に接続され、4の電
極Aは抵抗器3を経由して電源7から電荷されている。
4の電極Aと抵抗器3との間に電圧検出器2が接続さ
れ、この電圧検出器2からの出力値をマイコン1が検出
する構成となっている。プリント基板上の2つの電極A
4と電極B5の抵抗値3が低下すると、信号aの電圧も
低下する。信号aの電圧Vaは以下の式より求められ
る。
は図4で示されるように、5は電極B、4は電極A,9
はアース、3は抵抗器、7は電源、2は電圧検出器、1
はマイコンとから構成されている。5の電極Bは一定の
基準電圧に保持するためにアース9に接続され、4の電
極Aは抵抗器3を経由して電源7から電荷されている。
4の電極Aと抵抗器3との間に電圧検出器2が接続さ
れ、この電圧検出器2からの出力値をマイコン1が検出
する構成となっている。プリント基板上の2つの電極A
4と電極B5の抵抗値3が低下すると、信号aの電圧も
低下する。信号aの電圧Vaは以下の式より求められ
る。
【0003】Va=R2/(R1+R2)×VP R1:抵抗器Rの抵抗値 R2:電極Aと電極B間の抵抗値 VP :電源+の電圧 この電圧Vaは電圧検出器2に入力され基準電圧6と比
較される。電圧検出器2は電圧Vaと基準電圧とを比較
し、電圧Vaが基準電圧より高い場合は ’H’レベル
の信号を出力し、電圧Vaが基準電圧より低い場合は’
L’レベルの信号を出力する。したがって、電極Aと電
極B間の抵抗値が低下すると信号bは’L’レベルとな
る。
較される。電圧検出器2は電圧Vaと基準電圧とを比較
し、電圧Vaが基準電圧より高い場合は ’H’レベル
の信号を出力し、電圧Vaが基準電圧より低い場合は’
L’レベルの信号を出力する。したがって、電極Aと電
極B間の抵抗値が低下すると信号bは’L’レベルとな
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように従来のプリ
ント基板の絶縁劣化検出装置にあっては、電極がプリン
ト基板の1箇所にしかなかったので、部分的な絶縁劣化
は検出できなかった。また、絶縁劣化した場合、電極A
と電極B間には電流が流れ続ける為に消費電流が多くな
ってしまうという問題があった。
ント基板の絶縁劣化検出装置にあっては、電極がプリン
ト基板の1箇所にしかなかったので、部分的な絶縁劣化
は検出できなかった。また、絶縁劣化した場合、電極A
と電極B間には電流が流れ続ける為に消費電流が多くな
ってしまうという問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明はこれらの課題を
解決するためのものであり、基板上に設けられたパター
ン間の絶縁抵抗に基づき、前記基板の絶縁性能を試験す
るためのプリント基板の絶縁劣化検出装置において、2
種類の電極がほぼ全体に配設された基板と、前記第1の
電極を一定の基準電圧に保持するために接続されるアー
スと、前記第2の電極の電圧レベルを測定するための電
圧検出器と、前記電圧検出器および前記第2の電極に接
続され一定周期間隔で前記第2の電極に第1のパルスを
出力する中央処理装置とから構成され、前記中央処理装
置から出力された前記第1のパルスレベルが前記電圧検
出器で測定したときのパルスレベルよりも大きいことを
前記中央処理装置が判別したときには前記基板が絶縁劣
化していることを通知する基板の絶縁試験装置を提供す
る。
解決するためのものであり、基板上に設けられたパター
ン間の絶縁抵抗に基づき、前記基板の絶縁性能を試験す
るためのプリント基板の絶縁劣化検出装置において、2
種類の電極がほぼ全体に配設された基板と、前記第1の
電極を一定の基準電圧に保持するために接続されるアー
スと、前記第2の電極の電圧レベルを測定するための電
圧検出器と、前記電圧検出器および前記第2の電極に接
続され一定周期間隔で前記第2の電極に第1のパルスを
出力する中央処理装置とから構成され、前記中央処理装
置から出力された前記第1のパルスレベルが前記電圧検
出器で測定したときのパルスレベルよりも大きいことを
前記中央処理装置が判別したときには前記基板が絶縁劣
化していることを通知する基板の絶縁試験装置を提供す
る。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例について
図面を用いて説明する。図1は本発明の基板の絶縁試験
装置のブロック図であり、図2は本発明の基板の絶縁試
験装置の測定結果を説明した図であり、図3は本発明の
基板の絶縁試験装置で用いられる基板のパターン図であ
る。図1において、図4と同一部材は同一符号を示して
おり、図4との構成の相違点は図4で示される抵抗器3
は電源7が供給されているのに対し、図1はマイコン1
から抵抗器3に対して一定間隔でパルスが入力される。
ここで、図3で示されるようにプリント基板上のほぼ全
面に電極Aおよび電極Bの2種類の電極が配設されてい
るので、このプリント基板の少なくとも一カ所で絶縁劣
化が発生すればすぐに発見できることを特徴としてい
る。
図面を用いて説明する。図1は本発明の基板の絶縁試験
装置のブロック図であり、図2は本発明の基板の絶縁試
験装置の測定結果を説明した図であり、図3は本発明の
基板の絶縁試験装置で用いられる基板のパターン図であ
る。図1において、図4と同一部材は同一符号を示して
おり、図4との構成の相違点は図4で示される抵抗器3
は電源7が供給されているのに対し、図1はマイコン1
から抵抗器3に対して一定間隔でパルスが入力される。
ここで、図3で示されるようにプリント基板上のほぼ全
面に電極Aおよび電極Bの2種類の電極が配設されてい
るので、このプリント基板の少なくとも一カ所で絶縁劣
化が発生すればすぐに発見できることを特徴としてい
る。
【0007】次に、このプリント基板で絶縁劣化が発生
しているかどうか試験方法について説明する。マイコン
1から抵抗器3に対して既定周期で既定の期間、’H’
レベルの信号cを出力する。抵抗器3と電極Aとの間で
測定される電圧aの電圧Vaは以下の式より算出され
る。
しているかどうか試験方法について説明する。マイコン
1から抵抗器3に対して既定周期で既定の期間、’H’
レベルの信号cを出力する。抵抗器3と電極Aとの間で
測定される電圧aの電圧Vaは以下の式より算出され
る。
【0008】Va=R2/(R1+R2)×Vh R1:抵抗器Rの抵抗値 R2:電極Aと電極B間の抵抗値 Vh :’H’レベルの信号の電圧 プリント基板が絶縁劣化していない場合、電極Aと電極
B間の抵抗値は抵抗器3の抵抗値に比べ十分に大きいの
で信号aの電圧Vaは、’H’レベル信号の電圧とな
る。図2の(a)で示されるようにこの電圧Vaは’
H’レベル信号の電圧と等しいので、基準電圧より高く
なる。よって、信号cが’H’レベルの間、信号bは’
H’レベルとなるので、プリント基板が絶縁劣化してい
ないことが分かる。
B間の抵抗値は抵抗器3の抵抗値に比べ十分に大きいの
で信号aの電圧Vaは、’H’レベル信号の電圧とな
る。図2の(a)で示されるようにこの電圧Vaは’
H’レベル信号の電圧と等しいので、基準電圧より高く
なる。よって、信号cが’H’レベルの間、信号bは’
H’レベルとなるので、プリント基板が絶縁劣化してい
ないことが分かる。
【0009】次に、プリント基板が絶縁劣化した場合、
プリント基板上の2つの電極Aと電極B間の抵抗値も低
下し信号aの電圧Vaも低下する。図2の(b)で示さ
れるようにこの電圧Vaは電圧検出器に入力され基準電
圧と比較される。電極Aと電極B間の抵抗値が低下する
のに従って電圧Vaは低下し、基準電圧より低くなる。
よって、電極Aと電極B間の抵抗値が低下すると、信号
cが’H’レベルの間、信号bは’L’レベルになった
場合、マイコン1は信号cを’H’レベルにするのを停
止する。従って、電極Aと電極Bには電流が流れなくな
り、プリント基板の消費電流が多くなることはない。
プリント基板上の2つの電極Aと電極B間の抵抗値も低
下し信号aの電圧Vaも低下する。図2の(b)で示さ
れるようにこの電圧Vaは電圧検出器に入力され基準電
圧と比較される。電極Aと電極B間の抵抗値が低下する
のに従って電圧Vaは低下し、基準電圧より低くなる。
よって、電極Aと電極B間の抵抗値が低下すると、信号
cが’H’レベルの間、信号bは’L’レベルになった
場合、マイコン1は信号cを’H’レベルにするのを停
止する。従って、電極Aと電極Bには電流が流れなくな
り、プリント基板の消費電流が多くなることはない。
【0010】
【発明の効果】以上のように、本発明はプリント基板の
絶縁劣化検出装置では電極がプリント基板の全面に配設
されているので、プリント基板の少なくとも一カ所で絶
縁劣化が発生すればすぐに発見することができる。ま
た、絶縁劣化した場合、マイコンが信号cを’H’レベ
ルにするのを停止するので、電極Aと電極Bには電流が
流れなくなり、プリント基板の消費電流が多くなること
はない。
絶縁劣化検出装置では電極がプリント基板の全面に配設
されているので、プリント基板の少なくとも一カ所で絶
縁劣化が発生すればすぐに発見することができる。ま
た、絶縁劣化した場合、マイコンが信号cを’H’レベ
ルにするのを停止するので、電極Aと電極Bには電流が
流れなくなり、プリント基板の消費電流が多くなること
はない。
【図1】 本発明の基板の絶縁試験装置のブロック図で
ある。
ある。
【図2】 本発明の基板の絶縁試験装置の測定結果を説
明した図である。
明した図である。
【図3】 本発明の基板の絶縁試験装置で用いられる基
板のパターン図である。
板のパターン図である。
【図4】 従来の基板の絶縁試験装置のブロック図であ
る。
る。
1 マイコン 2 電圧検出器 3 抵抗器 4 電極A 5 電極B 6 基準電圧 7 電源
Claims (1)
- 【請求項1】基板上に設けられたパターン間の絶縁抵抗
に基づき、前記基板の絶縁性能を試験するためのプリン
ト基板の絶縁劣化検出装置において、2種類の電極がほ
ぼ全体に配設された基板と、前記第1の電極を一定の基
準電圧に保持するために接続されるアースと、前記第2
の電極の電圧レベルを測定するための電圧検出器と、前
記電圧検出器および前記第2の電極に接続され一定周期
間隔で前記第2の電極に第1のパルスを出力する中央処
理装置とから構成され、前記中央処理装置から出力され
た前記第1のパルスレベルが前記電圧検出器で測定した
ときのパルスレベルよりも大きいことを前記中央処理装
置が判別したときには前記基板が絶縁劣化していること
を通知することを特徴とする基板の絶縁試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9039016A JPH10239374A (ja) | 1997-02-24 | 1997-02-24 | プリント基板の絶縁劣化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9039016A JPH10239374A (ja) | 1997-02-24 | 1997-02-24 | プリント基板の絶縁劣化検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10239374A true JPH10239374A (ja) | 1998-09-11 |
Family
ID=12541318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9039016A Pending JPH10239374A (ja) | 1997-02-24 | 1997-02-24 | プリント基板の絶縁劣化検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10239374A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264989A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Hitachi Ltd | 制御装置 |
CN104508503A (zh) * | 2012-08-23 | 2015-04-08 | 通力股份公司 | 印刷电路装置 |
DE102015101178A1 (de) | 2014-02-04 | 2015-08-06 | Fanuc Corporation | Elektronische Vorrichtung mit Funktion zur Bestimmung einer Verschlechterung einer Leiterplatte |
CN106338683A (zh) * | 2015-07-08 | 2017-01-18 | 发那科株式会社 | 印刷电路板以及具备该印刷电路板的电动机驱动装置 |
JP2017187347A (ja) * | 2016-04-04 | 2017-10-12 | ファナック株式会社 | プリント基板の劣化検出装置 |
US10302762B2 (en) | 2016-01-19 | 2019-05-28 | Fanuc Corporation | Electric apparatus with foreign matter detection panel |
JP2019519924A (ja) * | 2016-06-01 | 2019-07-11 | カイゼン コーポレイション | 電気回路監視のためのシステムおよび方法 |
-
1997
- 1997-02-24 JP JP9039016A patent/JPH10239374A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4734371B2 (ja) * | 2008-04-28 | 2011-07-27 | 株式会社日立製作所 | エレベータの制御装置 |
JP2009264989A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Hitachi Ltd | 制御装置 |
US9733300B2 (en) | 2012-08-23 | 2017-08-15 | Kone Corporation | Corrosion detection system |
CN104508503A (zh) * | 2012-08-23 | 2015-04-08 | 通力股份公司 | 印刷电路装置 |
DE102015101178A1 (de) | 2014-02-04 | 2015-08-06 | Fanuc Corporation | Elektronische Vorrichtung mit Funktion zur Bestimmung einer Verschlechterung einer Leiterplatte |
US9857411B2 (en) | 2014-02-04 | 2018-01-02 | Fanuc Corporation | Electronic device having function of detecting degradation of printed circuit board |
DE102015101178B4 (de) * | 2014-02-04 | 2019-11-14 | Fanuc Corporation | Elektronische Vorrichtung mit Funktion zur Bestimmung einer Verschlechterung einer Leiterplatte |
JP2017020845A (ja) * | 2015-07-08 | 2017-01-26 | ファナック株式会社 | 劣化検出機能を備えたプリント基板及びそれを具備するモータ駆動装置 |
CN106338683A (zh) * | 2015-07-08 | 2017-01-18 | 发那科株式会社 | 印刷电路板以及具备该印刷电路板的电动机驱动装置 |
US10302762B2 (en) | 2016-01-19 | 2019-05-28 | Fanuc Corporation | Electric apparatus with foreign matter detection panel |
JP2017187347A (ja) * | 2016-04-04 | 2017-10-12 | ファナック株式会社 | プリント基板の劣化検出装置 |
CN107278016A (zh) * | 2016-04-04 | 2017-10-20 | 发那科株式会社 | 印刷基板的恶化检测装置 |
US10338129B2 (en) | 2016-04-04 | 2019-07-02 | Fanuc Corporation | Deterioration detection device for printed circuit board |
CN107278016B (zh) * | 2016-04-04 | 2020-04-10 | 发那科株式会社 | 印刷基板的恶化检测装置 |
JP2019519924A (ja) * | 2016-06-01 | 2019-07-11 | カイゼン コーポレイション | 電気回路監視のためのシステムおよび方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4904729B2 (ja) | セル電圧測定装置及び燃料電池 | |
JPH06324787A (ja) | タッチパネルの座標検出装置 | |
JP4369949B2 (ja) | 絶縁検査装置及び絶縁検査方法 | |
JPH10239374A (ja) | プリント基板の絶縁劣化検出装置 | |
JP2008256632A (ja) | 半導体集積回路の試験方法及びicテスタ | |
JP2610640B2 (ja) | 自動車の少なくとも2つの電気的負荷を検査する装置 | |
JP3259370B2 (ja) | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 | |
JPH0878185A (ja) | X線管の交換時期検知方法およびこれに用いる装置 | |
JP2003185716A (ja) | 半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 | |
JP3247321B2 (ja) | 電子ユニットの検査方法 | |
JP2008076266A (ja) | 基板検査装置及び基板検査方法 | |
JP2868354B2 (ja) | 導通試験装置 | |
JP2004028676A (ja) | 劣化診断機能を搭載した酸素濃度測定装置 | |
JP5531869B2 (ja) | 放電特性テスト装置および放電特性テスト方法 | |
JPH10293154A (ja) | 半導体試験装置用バイアス電源回路 | |
JPH1038949A (ja) | 液晶表示素子の検査装置 | |
JP3268848B2 (ja) | メータの異常検出装置 | |
JP2000088674A (ja) | 環境測定装置および方法 | |
JP2729345B2 (ja) | スクイブ異常検出回路の異常診断装置 | |
JPH08262078A (ja) | イオン水生成器の導電率測定回路 | |
JPH11153641A (ja) | 半導体デバイス試験装置 | |
JP2004053111A (ja) | 燃焼炎検知回路の検査方法 | |
JPH05273298A (ja) | 半導体集積回路装置及びそのテスト方法 | |
JPH09214310A (ja) | 電圧検出回路 | |
JP2768225B2 (ja) | 電解コンデンサの特性測定回路 |