JP2768225B2 - 電解コンデンサの特性測定回路 - Google Patents
電解コンデンサの特性測定回路Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、漏れ電流の検出等に用
いられる電解コンデンサの特性測定回路に関する。
いられる電解コンデンサの特性測定回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、電解コンデンサの電気的な特性
の一つに漏れ電流特性がある。この漏れ電流特性は、誘
電体及び電解質を介在して陽極と陰極とが対峙した構成
とされている構造の特性から生じるものであって、電解
コンデンサの良否を判定するファクターである。通常、
電解コンデンサに初期電圧印加を行なうと、急激に電流
の増加を生じてピークを迎えた後、時間の経過とともに
漸減状態で減衰し、安定化する特性を持っているが、こ
の初期印加時の電流が漏れ電流である。この漏れ電流の
増加及び減衰は電解コンデンサ特有のものであり、減衰
の後、安定化する特性は誘電体酸化皮膜の亀裂等に大き
く依存し、電流が流れることで、その亀裂状態にある誘
電体酸化皮膜が修復する特性を持っている。これは、自
己修復作用として説明される現象であり、電解コンデン
サ特有のものである。
の一つに漏れ電流特性がある。この漏れ電流特性は、誘
電体及び電解質を介在して陽極と陰極とが対峙した構成
とされている構造の特性から生じるものであって、電解
コンデンサの良否を判定するファクターである。通常、
電解コンデンサに初期電圧印加を行なうと、急激に電流
の増加を生じてピークを迎えた後、時間の経過とともに
漸減状態で減衰し、安定化する特性を持っているが、こ
の初期印加時の電流が漏れ電流である。この漏れ電流の
増加及び減衰は電解コンデンサ特有のものであり、減衰
の後、安定化する特性は誘電体酸化皮膜の亀裂等に大き
く依存し、電流が流れることで、その亀裂状態にある誘
電体酸化皮膜が修復する特性を持っている。これは、自
己修復作用として説明される現象であり、電解コンデン
サ特有のものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この漏れ電
流特性の測定には、測定すべき電解コンデンサにプロー
ブ電極によって電源を接続し、回路に流れる電流を電流
測定手段で検出する方法が取られているが、プローブ電
極の接触状態が測定結果に影響を与えることが知られて
いる。例えば、電解コンデンサのリードとプローブ電極
とが接触不良、即ち、不十分な接続状態であれば、漏れ
電流の値が零となって、不良品も良品としてしまう結果
となる。
流特性の測定には、測定すべき電解コンデンサにプロー
ブ電極によって電源を接続し、回路に流れる電流を電流
測定手段で検出する方法が取られているが、プローブ電
極の接触状態が測定結果に影響を与えることが知られて
いる。例えば、電解コンデンサのリードとプローブ電極
とが接触不良、即ち、不十分な接続状態であれば、漏れ
電流の値が零となって、不良品も良品としてしまう結果
となる。
【０００４】このため、従来、プローブ電極とのコンタ
クト検出回路を別に設け、検出精度を高めることが行な
わてきた。例えば、電解コンデンサに直列に抵抗を挿入
し、その抵抗に現れる電圧降下を測定する方法である。
しかし、このような抵抗降下を利用することは、抵抗に
よる電力消費が大きく、発熱や抵抗による電流値の変動
も無視できないことであり、コンタクト検出は可能にな
るものの、検出精度に影響を与える点で好ましくないも
のである。
クト検出回路を別に設け、検出精度を高めることが行な
わてきた。例えば、電解コンデンサに直列に抵抗を挿入
し、その抵抗に現れる電圧降下を測定する方法である。
しかし、このような抵抗降下を利用することは、抵抗に
よる電力消費が大きく、発熱や抵抗による電流値の変動
も無視できないことであり、コンタクト検出は可能にな
るものの、検出精度に影響を与える点で好ましくないも
のである。
【０００５】そこで、本発明は、電解コンデンサとプロ
ーブ電極とのコンタクト不良を検知することにより、検
出精度を高めた電解コンデンサの特性測定回路を提供す
ることを目的とする。
ーブ電極とのコンタクト不良を検知することにより、検
出精度を高めた電解コンデンサの特性測定回路を提供す
ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の電解コンデンサ
の特性測定回路は、特性を測定すべき電解コンデンサ
（２）の電極（リード４ａ、４ｂ）に電気的に接続され
たプローブ（６ａ、６ｂ）と、このプローブに接続され
て前記電解コンデンサに電流を流す電源（可変直流電源
８）と、前記プローブに接続されて前記電解コンデンサ
に交流信号を付与する交流信号印加手段（トランス１２
及び発信回路１８）と、この交流信号印加手段及び前記
電解コンデンサに直列に接続されて交流信号を検出する
交流信号検出手段（トランス１４及び交流検出回路２
０）とを備え、前記電解コンデンサに前記プローブを通
して前記電源から電流を流すとともに前記交流信号印加
手段から交流信号を付与することにより、前記電解コン
デンサを通して得られる交流信号を検出することを特徴
とする。
の特性測定回路は、特性を測定すべき電解コンデンサ
（２）の電極（リード４ａ、４ｂ）に電気的に接続され
たプローブ（６ａ、６ｂ）と、このプローブに接続され
て前記電解コンデンサに電流を流す電源（可変直流電源
８）と、前記プローブに接続されて前記電解コンデンサ
に交流信号を付与する交流信号印加手段（トランス１２
及び発信回路１８）と、この交流信号印加手段及び前記
電解コンデンサに直列に接続されて交流信号を検出する
交流信号検出手段（トランス１４及び交流検出回路２
０）とを備え、前記電解コンデンサに前記プローブを通
して前記電源から電流を流すとともに前記交流信号印加
手段から交流信号を付与することにより、前記電解コン
デンサを通して得られる交流信号を検出することを特徴
とする。
【０００７】
【作用】この電解コンデンサの特性測定回路は、電解コ
ンデンサに対して電源及び漏れ電流検出手段が直列に接
続されるとともに、電解コンデンサに対して交流信号印
加手段及び交流信号検出手段を直列に接続したものであ
る。交流信号印加手段から交流信号が与えられる。そし
て、この交流信号は、電解コンデンサと直列回路を成す
交流信号検出手段を通して検出される。この交流信号の
検出の有無を以て、電解コンデンサとプローブとが正確
に接続されているか否かを判定できる。この結果、測定
した漏れ電流の値が正しいことを認識することができ
る。勿論、この接触状態を検出した後、電解コンデンサ
の漏れ電流を検出してもよく、同様にその漏れ電流の検
出結果が正しいことを知ることができる。
ンデンサに対して電源及び漏れ電流検出手段が直列に接
続されるとともに、電解コンデンサに対して交流信号印
加手段及び交流信号検出手段を直列に接続したものであ
る。交流信号印加手段から交流信号が与えられる。そし
て、この交流信号は、電解コンデンサと直列回路を成す
交流信号検出手段を通して検出される。この交流信号の
検出の有無を以て、電解コンデンサとプローブとが正確
に接続されているか否かを判定できる。この結果、測定
した漏れ電流の値が正しいことを認識することができ
る。勿論、この接触状態を検出した後、電解コンデンサ
の漏れ電流を検出してもよく、同様にその漏れ電流の検
出結果が正しいことを知ることができる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明を図面に示した実施例を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
【０００９】図１は、本発明の電解コンデンサの特性測
定回路の一実施例を示している。この特性測定回路は、
特性を測定すべき電解コンデンサ２のリード４ａ、４ｂ
に対応してプローブ６ａ、６ｂが設けられている。プロ
ーブ６ａには電解コンデンサ２に電流を流す電源として
可変直流電源８の正極が接続され、その負極側には漏れ
電流検出手段である漏れ電流判定回路１０に接続されて
いる。また、プローブ６ｂには、交流信号印加手段とし
ての第１のトランス１２の２次コイル１２ｓ、交流信号
検出手段としての第２のトランス１４の１次コイル１４
ｐが直列に接続されているとともに、これらトランス１
２、１４を介して漏れ電流判定回路１０が接続されてい
る。即ち、この実施例では、電解コンデンサ２、プロー
ブ６ａ、可変直流電源８、漏れ電流判定回路１０、トラ
ンス１４の１次コイル１４ｐ、トランス１２の２次コイ
ル１２ｓ及びプローブ６ｂを以て単一の閉回路１６を成
している。
定回路の一実施例を示している。この特性測定回路は、
特性を測定すべき電解コンデンサ２のリード４ａ、４ｂ
に対応してプローブ６ａ、６ｂが設けられている。プロ
ーブ６ａには電解コンデンサ２に電流を流す電源として
可変直流電源８の正極が接続され、その負極側には漏れ
電流検出手段である漏れ電流判定回路１０に接続されて
いる。また、プローブ６ｂには、交流信号印加手段とし
ての第１のトランス１２の２次コイル１２ｓ、交流信号
検出手段としての第２のトランス１４の１次コイル１４
ｐが直列に接続されているとともに、これらトランス１
２、１４を介して漏れ電流判定回路１０が接続されてい
る。即ち、この実施例では、電解コンデンサ２、プロー
ブ６ａ、可変直流電源８、漏れ電流判定回路１０、トラ
ンス１４の１次コイル１４ｐ、トランス１２の２次コイ
ル１２ｓ及びプローブ６ｂを以て単一の閉回路１６を成
している。
【００１０】トランス１２の１次コイル１２ｐには交流
信号発生手段として発振回路１８が接続されている。こ
の発振回路１８には電解コンデンサ２の測定毎にタイミ
ングＴ1 で交流信号を発生させる。
信号発生手段として発振回路１８が接続されている。こ
の発振回路１８には電解コンデンサ２の測定毎にタイミ
ングＴ1 で交流信号を発生させる。
【００１１】また、トランス１４の２次コイル１４ｓに
は交流信号のみを選択的に検出する交流検出回路２０が
接続されている。この交流検出回路２０は、交流信号の
有無及びそのレベルを検出するものであり、例えば、ダ
イオードを用いた整流回路や、整流回路にコンデンサ等
の平滑回路を付加したもので構成することができる。こ
の交流検出回路２０は、タイミングＴ2 で動作させ、交
流信号の検出を行なう。
は交流信号のみを選択的に検出する交流検出回路２０が
接続されている。この交流検出回路２０は、交流信号の
有無及びそのレベルを検出するものであり、例えば、ダ
イオードを用いた整流回路や、整流回路にコンデンサ等
の平滑回路を付加したもので構成することができる。こ
の交流検出回路２０は、タイミングＴ2 で動作させ、交
流信号の検出を行なう。
【００１２】そして、この交流検出回路２０の検出出力
は、比較器２２の正相入力側に加えられている。この比
較器２２の逆相入力側には電圧源２４によって設定され
ている基準電圧Ｖｒｅｆが加えられている。比較器２２
には、この基準電圧Ｖｒｅｆを越える交流検出回路２０
の出力が加えられたとき、そのＨ出力が得られる。この
比較器２２の出力は、ＳＲフリップフロップ回路２６の
セット入力Ｓに加えられており、比較器２２がＨ出力を
発生したとき、ＳＲフリップフロップ回路２６の出力Ｑ
がＨ出力となる。
は、比較器２２の正相入力側に加えられている。この比
較器２２の逆相入力側には電圧源２４によって設定され
ている基準電圧Ｖｒｅｆが加えられている。比較器２２
には、この基準電圧Ｖｒｅｆを越える交流検出回路２０
の出力が加えられたとき、そのＨ出力が得られる。この
比較器２２の出力は、ＳＲフリップフロップ回路２６の
セット入力Ｓに加えられており、比較器２２がＨ出力を
発生したとき、ＳＲフリップフロップ回路２６の出力Ｑ
がＨ出力となる。
【００１３】このＳＲフリップフロップ回路２６の出力
Ｑは、判定手段であるＡＮＤ回路２８に加えられ、一方
のＡＮＤ条件となっている。このＡＮＤ回路２８には他
方のＡＮＤ条件入力として、漏れ電流判定回路１０の検
出漏れ判定出力が加えられている。両者のＡＮＤ条件が
成立したとき、出力端子３０には最終的な判定出力ＶJ
が得られる。
Ｑは、判定手段であるＡＮＤ回路２８に加えられ、一方
のＡＮＤ条件となっている。このＡＮＤ回路２８には他
方のＡＮＤ条件入力として、漏れ電流判定回路１０の検
出漏れ判定出力が加えられている。両者のＡＮＤ条件が
成立したとき、出力端子３０には最終的な判定出力ＶJ
が得られる。
【００１４】このような構成とすれば、測定すべき電解
コンデンサ２のリード４ａ、４ｂに対してプローブ６
ａ、６ｂを接触させた後、発振回路１８の動作を停止さ
せた状態で可変直流電源８から閉回路１６に加えられる
電圧を規定電圧に上昇させると、電解コンデンサ２によ
って漏れ電流が流れる。特定のタイミングＴ1 で漏れ電
流判定回路１０を動作させると、漏れ電流が漏れ電流判
定回路１０に判定される。適正な漏れ電流が得られてい
る場合には、この漏れ電流判定回路１０からその判定出
力としてＨ出力が得られる。
コンデンサ２のリード４ａ、４ｂに対してプローブ６
ａ、６ｂを接触させた後、発振回路１８の動作を停止さ
せた状態で可変直流電源８から閉回路１６に加えられる
電圧を規定電圧に上昇させると、電解コンデンサ２によ
って漏れ電流が流れる。特定のタイミングＴ1 で漏れ電
流判定回路１０を動作させると、漏れ電流が漏れ電流判
定回路１０に判定される。適正な漏れ電流が得られてい
る場合には、この漏れ電流判定回路１０からその判定出
力としてＨ出力が得られる。
【００１５】次に、タイミングＴ2 で発振回路１８を動
作させ、交流信号を発振させる。この交流信号はトラン
ス１２を通して閉回路１６に加えられる。この閉回路１
６の成立は、プローブ６ａ及びリード４ａ間、プローブ
６ｂ及びリード４ｂ間のそれぞれが電気的に接触してい
ることが条件である。この条件が成立しているものとす
ると、閉回路１６内に交流信号が加えられ、この交流信
号はトランス１４を通して交流検出回路２０に検出され
ることになる。この検出出力は、比較器２２に加えられ
て基準電圧Ｖｒｅｆと比較され、この基準電圧Ｖｒｅｆ
を越えるレベルが到来したとき、比較器２２にＨ出力が
得られる。このＨ出力に応じてＳＲフリップフロップ回
路２６の出力ＱはＨ出力となる。
作させ、交流信号を発振させる。この交流信号はトラン
ス１２を通して閉回路１６に加えられる。この閉回路１
６の成立は、プローブ６ａ及びリード４ａ間、プローブ
６ｂ及びリード４ｂ間のそれぞれが電気的に接触してい
ることが条件である。この条件が成立しているものとす
ると、閉回路１６内に交流信号が加えられ、この交流信
号はトランス１４を通して交流検出回路２０に検出され
ることになる。この検出出力は、比較器２２に加えられ
て基準電圧Ｖｒｅｆと比較され、この基準電圧Ｖｒｅｆ
を越えるレベルが到来したとき、比較器２２にＨ出力が
得られる。このＨ出力に応じてＳＲフリップフロップ回
路２６の出力ＱはＨ出力となる。
【００１６】この漏れ電流判定回路１０のＨ出力とＳＲ
フリップフロップ回路２６の出力Ｑの成立によってＡＮ
Ｄ回路２８のＡＮＤ条件が成立し、その出力端子３０に
は判定出力ＶJ が得られる。即ち、プローブ６ａ、６ｂ
が電解コンデンサ２のリード４Ａ、４ｂに触れ、そのと
き、得られた漏れ電流値が適正であることを示してい
る。また、ＡＮＤ回路２８が成立しない場合には、プロ
ーブ６ａ、６ｂの接触不良であるか、漏れ電流判定回路
１０の判定結果が電解コンデンサ２の不良を表している
ことになる。したがって、その結果から電解コンデンサ
２が良品であるか、不良品であるかを知ることができ
る。
フリップフロップ回路２６の出力Ｑの成立によってＡＮ
Ｄ回路２８のＡＮＤ条件が成立し、その出力端子３０に
は判定出力ＶJ が得られる。即ち、プローブ６ａ、６ｂ
が電解コンデンサ２のリード４Ａ、４ｂに触れ、そのと
き、得られた漏れ電流値が適正であることを示してい
る。また、ＡＮＤ回路２８が成立しない場合には、プロ
ーブ６ａ、６ｂの接触不良であるか、漏れ電流判定回路
１０の判定結果が電解コンデンサ２の不良を表している
ことになる。したがって、その結果から電解コンデンサ
２が良品であるか、不良品であるかを知ることができ
る。
【００１７】このようにタイミングＴ1 で漏れ電流判
定、タイミングＴ2 でリード４ａ、４ｂとプローブ６
ａ、６ｂとの接触検出を行なうのは、各検出を同時に行
なった場合の弊害、漏れ電流検出に発振出力の影響を与
えないためである。このような漏れ電流の測定及び接触
検出を電解コンデンサ２毎に行なうが、各検出及び測定
毎にＳＲフリップフロップ回路２６のリセット入力Ｒに
は、その出力Ｑを解除するためにリセット回路からリセ
ット出力を加えた後、次の接触検出を行なうようにすれ
ば、各検出及び測定を精度よく行なうことができる。な
お、このタイミングＴ1 、Ｔ2 の設定については、接触
検出をタイミングＴ1 で先に行い、その後にタイミング
Ｔ2 で漏れ電流判定を行なうようにしてもよい。
定、タイミングＴ2 でリード４ａ、４ｂとプローブ６
ａ、６ｂとの接触検出を行なうのは、各検出を同時に行
なった場合の弊害、漏れ電流検出に発振出力の影響を与
えないためである。このような漏れ電流の測定及び接触
検出を電解コンデンサ２毎に行なうが、各検出及び測定
毎にＳＲフリップフロップ回路２６のリセット入力Ｒに
は、その出力Ｑを解除するためにリセット回路からリセ
ット出力を加えた後、次の接触検出を行なうようにすれ
ば、各検出及び測定を精度よく行なうことができる。な
お、このタイミングＴ1 、Ｔ2 の設定については、接触
検出をタイミングＴ1 で先に行い、その後にタイミング
Ｔ2 で漏れ電流判定を行なうようにしてもよい。
【００１８】次に、図２は、本発明の電解コンデンサの
特性測定回路の他の実施例を示している。前記実施例で
は、交流信号発生手段として発振回路１８を用いたが、
交流信号は、コンタクトの判定上、何ら連続信号とする
必要はない。そこで、図２に示す回路は、トランス１２
のインダクタンスを利用し、このトランス１２の１次コ
イル１２ｐにスイッチ３２を介して直流電源３４を接続
して交流信号発生回路３６を構成したものである。即
ち、この交流信号発生回路３６では、スイッチ３２を閉
じると、直流電源３４の電圧印加でトランス１２の１次
コイル１２ｐに過渡電流が流れる。この過渡電流の変化
は２次コイル１２ｓに交流信号を生じさせる。この交流
信号は、印加される電源が直流であるため、時間の経過
とともに指数関数的に減衰するが、コンタクト状態を検
出するための交流信号として充分である。
特性測定回路の他の実施例を示している。前記実施例で
は、交流信号発生手段として発振回路１８を用いたが、
交流信号は、コンタクトの判定上、何ら連続信号とする
必要はない。そこで、図２に示す回路は、トランス１２
のインダクタンスを利用し、このトランス１２の１次コ
イル１２ｐにスイッチ３２を介して直流電源３４を接続
して交流信号発生回路３６を構成したものである。即
ち、この交流信号発生回路３６では、スイッチ３２を閉
じると、直流電源３４の電圧印加でトランス１２の１次
コイル１２ｐに過渡電流が流れる。この過渡電流の変化
は２次コイル１２ｓに交流信号を生じさせる。この交流
信号は、印加される電源が直流であるため、時間の経過
とともに指数関数的に減衰するが、コンタクト状態を検
出するための交流信号として充分である。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電解コンデンサに対するプローブのコンタクト状態を漏
れ電流とは無関係に電気的に検出でき、漏れ電流の測定
値の正否を確実に認識でき、測定精度を高めることがで
きるとともに、測定効率を高めることができる。
電解コンデンサに対するプローブのコンタクト状態を漏
れ電流とは無関係に電気的に検出でき、漏れ電流の測定
値の正否を確実に認識でき、測定精度を高めることがで
きるとともに、測定効率を高めることができる。
【図１】本発明の電解コンデンサの特性測定回路の実施
例を示す回路図である。
例を示す回路図である。
【図２】本発明の電解コンデンサの特性測定回路の他の
実施例を示す回路図である。
実施例を示す回路図である。
２ 電解コンデンサ ４ａ、４ｂ リード（電極） ６ａ、６ｂ プローブ ８ 可変直流電源 １２ トランス（交流信号印加手段） １４ トランス（交流信号検出手段） １８ 発振回路（交流信号印加手段） ２０ 交流検出回路（交流信号検出手段）
Claims (1)
- 【請求項１】 特性を測定すべき電解コンデンサの電極
に電気的に接続されたプローブと、 このプローブに接続されて前記電解コンデンサに 電流を
流す電源と、前記プローブに接続されて 前記電解コンデンサに交流信
号を付与する交流信号印加手段と、 この交流信号印加手段及び前記電解コンデンサに直列に
接続されて交流信号を検出する交流信号検出手段と、 を備え、前記電解コンデンサに前記プローブを通して前
記電源から電流を流すとともに前記交流信号印加手段か
ら交流信号を付与することにより、前記電解コンデンサ
を通して得られる交流信号を検出することを特徴とする
電解コンデンサの特性測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18870493A JP2768225B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電解コンデンサの特性測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18870493A JP2768225B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電解コンデンサの特性測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0722297A JPH0722297A (ja) | 1995-01-24 |
| JP2768225B2 true JP2768225B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=16228352
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18870493A Expired - Fee Related JP2768225B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電解コンデンサの特性測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2768225B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP18870493A patent/JP2768225B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0722297A (ja) | 1995-01-24 |
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