JP2768225B2 - 電解コンデンサの特性測定回路 - Google Patents
電解コンデンサの特性測定回路Info
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Description
いられる電解コンデンサの特性測定回路に関する。
の一つに漏れ電流特性がある。この漏れ電流特性は、誘
電体及び電解質を介在して陽極と陰極とが対峙した構成
とされている構造の特性から生じるものであって、電解
コンデンサの良否を判定するファクターである。通常、
電解コンデンサに初期電圧印加を行なうと、急激に電流
の増加を生じてピークを迎えた後、時間の経過とともに
漸減状態で減衰し、安定化する特性を持っているが、こ
の初期印加時の電流が漏れ電流である。この漏れ電流の
増加及び減衰は電解コンデンサ特有のものであり、減衰
の後、安定化する特性は誘電体酸化皮膜の亀裂等に大き
く依存し、電流が流れることで、その亀裂状態にある誘
電体酸化皮膜が修復する特性を持っている。これは、自
己修復作用として説明される現象であり、電解コンデン
サ特有のものである。
流特性の測定には、測定すべき電解コンデンサにプロー
ブ電極によって電源を接続し、回路に流れる電流を電流
測定手段で検出する方法が取られているが、プローブ電
極の接触状態が測定結果に影響を与えることが知られて
いる。例えば、電解コンデンサのリードとプローブ電極
とが接触不良、即ち、不十分な接続状態であれば、漏れ
電流の値が零となって、不良品も良品としてしまう結果
となる。
クト検出回路を別に設け、検出精度を高めることが行な
わてきた。例えば、電解コンデンサに直列に抵抗を挿入
し、その抵抗に現れる電圧降下を測定する方法である。
しかし、このような抵抗降下を利用することは、抵抗に
よる電力消費が大きく、発熱や抵抗による電流値の変動
も無視できないことであり、コンタクト検出は可能にな
るものの、検出精度に影響を与える点で好ましくないも
のである。
ーブ電極とのコンタクト不良を検知することにより、検
出精度を高めた電解コンデンサの特性測定回路を提供す
ることを目的とする。
の特性測定回路は、特性を測定すべき電解コンデンサ
(2)の電極(リード4a、4b)に電気的に接続され
たプローブ(6a、6b)と、このプローブに接続され
て前記電解コンデンサに電流を流す電源(可変直流電源
8)と、前記プローブに接続されて前記電解コンデンサ
に交流信号を付与する交流信号印加手段(トランス12
及び発信回路18)と、この交流信号印加手段及び前記
電解コンデンサに直列に接続されて交流信号を検出する
交流信号検出手段(トランス14及び交流検出回路2
0)とを備え、前記電解コンデンサに前記プローブを通
して前記電源から電流を流すとともに前記交流信号印加
手段から交流信号を付与することにより、前記電解コン
デンサを通して得られる交流信号を検出することを特徴
とする。
ンデンサに対して電源及び漏れ電流検出手段が直列に接
続されるとともに、電解コンデンサに対して交流信号印
加手段及び交流信号検出手段を直列に接続したものであ
る。交流信号印加手段から交流信号が与えられる。そし
て、この交流信号は、電解コンデンサと直列回路を成す
交流信号検出手段を通して検出される。この交流信号の
検出の有無を以て、電解コンデンサとプローブとが正確
に接続されているか否かを判定できる。この結果、測定
した漏れ電流の値が正しいことを認識することができ
る。勿論、この接触状態を検出した後、電解コンデンサ
の漏れ電流を検出してもよく、同様にその漏れ電流の検
出結果が正しいことを知ることができる。
て詳細に説明する。
定回路の一実施例を示している。この特性測定回路は、
特性を測定すべき電解コンデンサ2のリード4a、4b
に対応してプローブ6a、6bが設けられている。プロ
ーブ6aには電解コンデンサ2に電流を流す電源として
可変直流電源8の正極が接続され、その負極側には漏れ
電流検出手段である漏れ電流判定回路10に接続されて
いる。また、プローブ6bには、交流信号印加手段とし
ての第1のトランス12の2次コイル12s、交流信号
検出手段としての第2のトランス14の1次コイル14
pが直列に接続されているとともに、これらトランス1
2、14を介して漏れ電流判定回路10が接続されてい
る。即ち、この実施例では、電解コンデンサ2、プロー
ブ6a、可変直流電源8、漏れ電流判定回路10、トラ
ンス14の1次コイル14p、トランス12の2次コイ
ル12s及びプローブ6bを以て単一の閉回路16を成
している。
信号発生手段として発振回路18が接続されている。こ
の発振回路18には電解コンデンサ2の測定毎にタイミ
ングT1 で交流信号を発生させる。
は交流信号のみを選択的に検出する交流検出回路20が
接続されている。この交流検出回路20は、交流信号の
有無及びそのレベルを検出するものであり、例えば、ダ
イオードを用いた整流回路や、整流回路にコンデンサ等
の平滑回路を付加したもので構成することができる。こ
の交流検出回路20は、タイミングT2 で動作させ、交
流信号の検出を行なう。
は、比較器22の正相入力側に加えられている。この比
較器22の逆相入力側には電圧源24によって設定され
ている基準電圧Vrefが加えられている。比較器22
には、この基準電圧Vrefを越える交流検出回路20
の出力が加えられたとき、そのH出力が得られる。この
比較器22の出力は、SRフリップフロップ回路26の
セット入力Sに加えられており、比較器22がH出力を
発生したとき、SRフリップフロップ回路26の出力Q
がH出力となる。
Qは、判定手段であるAND回路28に加えられ、一方
のAND条件となっている。このAND回路28には他
方のAND条件入力として、漏れ電流判定回路10の検
出漏れ判定出力が加えられている。両者のAND条件が
成立したとき、出力端子30には最終的な判定出力VJ
が得られる。
コンデンサ2のリード4a、4bに対してプローブ6
a、6bを接触させた後、発振回路18の動作を停止さ
せた状態で可変直流電源8から閉回路16に加えられる
電圧を規定電圧に上昇させると、電解コンデンサ2によ
って漏れ電流が流れる。特定のタイミングT1 で漏れ電
流判定回路10を動作させると、漏れ電流が漏れ電流判
定回路10に判定される。適正な漏れ電流が得られてい
る場合には、この漏れ電流判定回路10からその判定出
力としてH出力が得られる。
作させ、交流信号を発振させる。この交流信号はトラン
ス12を通して閉回路16に加えられる。この閉回路1
6の成立は、プローブ6a及びリード4a間、プローブ
6b及びリード4b間のそれぞれが電気的に接触してい
ることが条件である。この条件が成立しているものとす
ると、閉回路16内に交流信号が加えられ、この交流信
号はトランス14を通して交流検出回路20に検出され
ることになる。この検出出力は、比較器22に加えられ
て基準電圧Vrefと比較され、この基準電圧Vref
を越えるレベルが到来したとき、比較器22にH出力が
得られる。このH出力に応じてSRフリップフロップ回
路26の出力QはH出力となる。
フリップフロップ回路26の出力Qの成立によってAN
D回路28のAND条件が成立し、その出力端子30に
は判定出力VJ が得られる。即ち、プローブ6a、6b
が電解コンデンサ2のリード4A、4bに触れ、そのと
き、得られた漏れ電流値が適正であることを示してい
る。また、AND回路28が成立しない場合には、プロ
ーブ6a、6bの接触不良であるか、漏れ電流判定回路
10の判定結果が電解コンデンサ2の不良を表している
ことになる。したがって、その結果から電解コンデンサ
2が良品であるか、不良品であるかを知ることができ
る。
定、タイミングT2 でリード4a、4bとプローブ6
a、6bとの接触検出を行なうのは、各検出を同時に行
なった場合の弊害、漏れ電流検出に発振出力の影響を与
えないためである。このような漏れ電流の測定及び接触
検出を電解コンデンサ2毎に行なうが、各検出及び測定
毎にSRフリップフロップ回路26のリセット入力Rに
は、その出力Qを解除するためにリセット回路からリセ
ット出力を加えた後、次の接触検出を行なうようにすれ
ば、各検出及び測定を精度よく行なうことができる。な
お、このタイミングT1 、T2 の設定については、接触
検出をタイミングT1 で先に行い、その後にタイミング
T2 で漏れ電流判定を行なうようにしてもよい。
特性測定回路の他の実施例を示している。前記実施例で
は、交流信号発生手段として発振回路18を用いたが、
交流信号は、コンタクトの判定上、何ら連続信号とする
必要はない。そこで、図2に示す回路は、トランス12
のインダクタンスを利用し、このトランス12の1次コ
イル12pにスイッチ32を介して直流電源34を接続
して交流信号発生回路36を構成したものである。即
ち、この交流信号発生回路36では、スイッチ32を閉
じると、直流電源34の電圧印加でトランス12の1次
コイル12pに過渡電流が流れる。この過渡電流の変化
は2次コイル12sに交流信号を生じさせる。この交流
信号は、印加される電源が直流であるため、時間の経過
とともに指数関数的に減衰するが、コンタクト状態を検
出するための交流信号として充分である。
電解コンデンサに対するプローブのコンタクト状態を漏
れ電流とは無関係に電気的に検出でき、漏れ電流の測定
値の正否を確実に認識でき、測定精度を高めることがで
きるとともに、測定効率を高めることができる。
例を示す回路図である。
実施例を示す回路図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 特性を測定すべき電解コンデンサの電極
に電気的に接続されたプローブと、 このプローブに接続されて前記電解コンデンサに 電流を
流す電源と、前記プローブに接続されて 前記電解コンデンサに交流信
号を付与する交流信号印加手段と、 この交流信号印加手段及び前記電解コンデンサに直列に
接続されて交流信号を検出する交流信号検出手段と、 を備え、前記電解コンデンサに前記プローブを通して前
記電源から電流を流すとともに前記交流信号印加手段か
ら交流信号を付与することにより、前記電解コンデンサ
を通して得られる交流信号を検出することを特徴とする
電解コンデンサの特性測定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18870493A JP2768225B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電解コンデンサの特性測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18870493A JP2768225B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電解コンデンサの特性測定回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0722297A JPH0722297A (ja) | 1995-01-24 |
JP2768225B2 true JP2768225B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=16228352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18870493A Expired - Fee Related JP2768225B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電解コンデンサの特性測定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2768225B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP18870493A patent/JP2768225B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH0722297A (ja) | 1995-01-24 |
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