JP4244791B2 - コンデンサの良否判定方法および良否判定装置 - Google Patents
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Description
この方法を用いれば、十分な充電状態に達する前の状態で最終的な充電結果を算出することができるので、前記従来の測定方法で必要な充電時間よりも短い時間で良否判定を行うことができるという利点がある。しかし、この方法は、高価な測定装置を必要とするとともに、予測計算式の多数のパラメータを求める必要があるため、必ずしも簡便な良否判定方法とは言えない。
しかし、この良否判別方法は、コンデンサの電気的特性を含むパラメータをできるだけ多く測定し、利用することにより、良否判定の精度と処理効率の向上を図るものである。そのため、コンデンサの絶縁抵抗(IR)そのものを測定するのであれば、従来と同様の長時間を必要とする。つまり、絶縁抵抗を基準にしてコンデンサの良否を短時間で判別するという目的を達成するものではない。
そこで、被測定コンデンサと同種のコンデンサに対して、DC電圧およびAC電圧を重畳印加したときのAC信号によって測定される電気特性とIR値との相関に基づき、良否選別基準となるIR値に対応した電気特性の値を求めておき、この値を閾値として設定する。そして、被測定コンデンサにDC電圧およびAC電圧を重畳印加したときのAC信号によって測定される前記電気特性の実測値と閾値とを比較することによって、被測定コンデンサのIR値が良否選別基準となるIR値に比べて大きいかどうかを推定することができる。
IR値の測定では、コンデンサ内部の誘電分極成分の時定数が大きいため、数秒〜数十秒という充電時間が必要であるが、直列抵抗Rs’の測定では、信号周波数にもよるが、数十ミリ秒〜数百ミリ秒程度の時間で測定を行うことができる。そのため、コンデンサの良否判定に要する時間を従来に比べて大幅に短縮できる。
図1の(a)はコンデンサの等価回路モデルであり、静電容量Csと直列抵抗Rsとの直列回路に、絶縁抵抗IRを並列接続したものである。
一方、図1の(b)はインピーダンス測定器内で電気特性の測定および出力に当たって仮定されたコンデンサの回路モデルであり、容量Cs’と直列抵抗Rs’との直列回路で構成される。ここで、コンデンサのIR値は十分大きいものとされ、等価回路の仮定に当たっては無視される。
しかしながら、実際には無視できないIR値を有し、図1(a)に近いコンデンサの電気特性を、図1(b)で仮定するインピーダンス測定器で測定すると、直列抵抗Rs’、容量Cs’、誘電損失DF’は次式で表すことができる。
Rs/IR≪1であるから、(1)式は次のように変形できる。
DCバイアス電圧を高くする方が、容量Csを低くできるので望ましいが、DC電圧を高くし過ぎると、コンデンサ自体を破壊する恐れが生じる。したがって、請求項3のように、バイアス印加されるDC電圧と積層セラミックコンデンサの誘電体厚みとの比を電界強度E(V/μm)とすると、Eが10≦E≦80の範囲内にあるようにDCバイアス電圧を設定することが好ましい。その際、DCバイアス電圧は誘電体厚みに応じて適宜設定される。
(5)式から明らかなように、AC信号の周波数f(ω)を小さくすれば、それだけ(5)式の第1項が相対的に大きくなるので、IR値の良否をRs’値に反映させることができる。実験によると、周波数fが10kHz以上では、Rs’値とIR値との相関関係が悪化するのに対し、1kHz以下であれば、良好な相関関係が得られた。したがって、AC信号の周波数fを1kHz以下にすれば、IR値の良否をRs’値で判定できる。
DF’は前記(1)〜(3)式により、次式で表すことができる。
DF’=ωCs’Rs’ …(6)
この場合も、Rs’はコンデンサの良否によって大きく変化するので、DF’によってコンデンサの良否を判定することが可能である。
なお、容量Cs’の場合は、IR値との相関関係があまり高くないので、IRの良否が幾分正確に反映し難いという懸念を有するものの、有効である。
また、DC電圧とAC電圧を重畳印加し、AC信号による電気特性を測定するだけであるから、既存のインピーダンス測定用機器を使用すればよく、コスト上昇を抑制できる。
この良否判定装置は、AC電源1とトランス2の入力側コイル2aとで構成される交流回路CIR1と、DC電源3とトランス2の出力側コイル2bと被測定コンデンサDUTと直流阻止用コンデンサ4と交流検出用電流計5とで構成される直流回路CIR2とで構成されている。被測定コンデンサDUTの両端には、直流阻止用コンデンサ6,7を介して交流検出用電圧計8が接続されている。
前記回路により検出した電圧Vと電流Iとにより、被測定コンデンサDUTのインピーダンスZを以下の式で計算する。
まず、IR値が既知で、被測定コンデンサと同種のコンデンサを複数個準備し、これらコンデンサにDC電圧とAC電圧を重畳印加した状態で(ステップS1)、AC信号によってコンデンサの電気特性(Rs’,Cs’,DF’など)を測定する(ステップS2)。この測定した電気特性とIR値との相関に基づき、良否選別基準となるIR値に対応した電気特性を閾値を設定し(ステップS3)、この閾値をメモリに記憶する(ステップS4)。
次に、被測定コンデンサDUTについて、上記コンデンサと同様に、DC電圧とAC電圧を重畳印加し(ステップS5)、AC信号によって被測定コンデンサDUTの電気特性(Rs’,Cs’,DF’など)を測定する(ステップS6)。この測定した電気特性をメモリに記憶されている閾値と比較し(ステップS7)、良否を判別する(ステップS8)。以後、新たな被測定コンデンサDUTについてステップS5〜S8の操作を繰り返す。
A:B特性10nF
B:B特性100nF
C:B特性1μF
ここで、B特性とは容量温度特性コードであり、−25〜85℃の温度範囲で容量変化率が±10%以内をいう。
なお、100Hz以下であっても高い相関関係があると考えられ、この周波数領域での選別を行った場合も有効ではあるが、周波数が低くなると測定時間が長くなり、短時間でかつ正確にコンデンサの良否を判定するためには、100Hz〜1kHzでの選別が望ましい。
図から明らかなように、Rs’およびDF’においてはDCバイアス電圧を20V以上とすれば、相関係数が0.8以上となり、高い相関関係があることがわかる。一方、Cs’については、DCバイアス電圧を高くすればそれだけ相関係数が高くなるが、40Vでも相関係数が0.6以下であり、Rs’およびDF’に比べると低い相関関係しか得られない。その理由は、DCバイアス電圧によって静電容量が低くなるためである。
試料Cの場合、IR値の選別閾値は1GΩであり、1GΩより大きなIR値を持つコンデンサは良品と呼ぶことができる。これをRs’値で選別する場合には、例えば閾値を40Ωに設定することで、IR不良品をDCバイアス印加時のRs’値で選別できる。
試料Cでは、IR値の選別閾値は前記のように1GΩであるが、DF’値の選別閾値を0.025と設定することで、IR不良品をDCバイアス印加時のDF’値で選別できる。
図8から明らかなように、試料Cの場合、Cs’の選別閾値を48nFに設定することで、選別できる。なお、Cs’の場合、IR不良品もCs’=48nF付近に存在するため、他の特性であるRs’やDF’を用いた選別に比べて、幾分選別精度が劣るという懸念を有する。
例えば、特許文献2の図1〜図3に示される回路を用いてDCバイアス印加時におけるAC信号による電気特性を測定してもよい。
2 トランス
3 DC電源
5 交流検出用電流計
8 交流検出用電圧計
9 良否選別装置
DUT 被測定コンデンサ
Claims (4)
- 被測定コンデンサと同種のコンデンサに対して、DC電圧およびAC電圧を重畳印加したときのAC信号によって測定される電気特性とIR値との相関に基づき、良否選別基準となるIR値に対応した電気特性を閾値として設定するステップと、
被測定コンデンサに対してDC電圧およびAC電圧を重畳印加するステップと、
前記DC電圧およびAC電圧を重畳印加した状態で、AC信号によって被測定コンデンサの電気特性を測定するステップと、
前記測定された電気特性を前記閾値と比較することによって、被測定コンデンサの良否を判定するステップと、を備え、
前記電気特性は、コンデンサの直列抵抗、誘電損失、容量の少なくとも1つであることを特徴とするコンデンサの良否判定方法。 - 印加されるDC電圧と前記コンデンサの誘電体厚みとの比を電界強度Eとすると、電界強度Eが10≦E≦80(V/μm)の範囲内となるようにDC電圧が設定されていることを特徴とする請求項1に記載のコンデンサの良否判定方法。
- 被測定コンデンサにDC電圧を印加するためのDC電源と、
被測定コンデンサに前記DC電圧と重畳してAC電圧を印加するためのAC電源と、
AC信号によって被測定コンデンサの電気特性を測定する特性測定手段と、
被測定コンデンサと同種のコンデンサに対して、DC電圧およびAC電圧を重畳印加したときのAC信号によって測定される電気特性とIR値との相関に基づき、良否選別基準となるIR値に対応した電気特性を閾値として記憶する記憶手段と、
前記閾値と前記特性測定手段により測定された被測定コンデンサの電気特性の実測値とを比較し、被測定コンデンサの良否を判定する良否判定手段と、を備え、
前記電気特性は、コンデンサの直列抵抗、誘電損失、容量の少なくとも1つであることを特徴とするコンデンサの良否判定装置。 - 印加されるDC電圧と前記コンデンサの誘電体厚みとの比を電界強度Eとすると、電界強度Eが10≦E≦80(V/μm)の範囲内となるようにDC電圧が設定されていることを特徴とする請求項3に記載のコンデンサの良否判定装置。
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