JPH0589995A - Ｘ線装置 - Google Patents
Ｘ線装置Info
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- JPH0589995A JPH0589995A JP27496991A JP27496991A JPH0589995A JP H0589995 A JPH0589995 A JP H0589995A JP 27496991 A JP27496991 A JP 27496991A JP 27496991 A JP27496991 A JP 27496991A JP H0589995 A JPH0589995 A JP H0589995A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】Ｘ線管の耐電圧寿命予測機能を付加することを
目的とする。 【構成】高電圧発生装置から得られる高電圧をＸ線管に
印加してＸ線を発生するＸ線装置において、その過電流
検出回路としてパルス幅が数ｍｓ以上の放電エネルギー
の大きい放電を検出する過電流検出回路Ａとパルス幅が
数μｓ程度の微小なエネルギーの放電を検出する過電流
検出回路Ｂとを具備し、前者はＸ線管への高電圧供給を
遮断するために使用し、後者はＸ線管の耐電圧寿命を判
断するために使用する。
目的とする。 【構成】高電圧発生装置から得られる高電圧をＸ線管に
印加してＸ線を発生するＸ線装置において、その過電流
検出回路としてパルス幅が数ｍｓ以上の放電エネルギー
の大きい放電を検出する過電流検出回路Ａとパルス幅が
数μｓ程度の微小なエネルギーの放電を検出する過電流
検出回路Ｂとを具備し、前者はＸ線管への高電圧供給を
遮断するために使用し、後者はＸ線管の耐電圧寿命を判
断するために使用する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線装置のＸ線管の過電
流検出回路に関する。
流検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＸ線管の過電流検出回路の例につ
いては、特公昭63−7439号に記載されている。この過電
流検出回路は電流検出用抵抗と、ノイズ吸収用コンデン
サと、ボリュウム抵抗と、基準電圧電源と、基準電圧設
定用抵抗と、コンデンサ及びダイオードを有する比較器
とから構成されており、比較器は入力電圧が基準電圧以
上になった際、即ち、過電流が流れた際に出力が反転す
るようになっている。更に、インターロック回路を有
し、この回路が過電流検出回路の反転出力によって動作
し、高電圧電流供給用リレー及びフィラメント加熱回路
制御用リレーを遮断状態にするようになっている。
いては、特公昭63−7439号に記載されている。この過電
流検出回路は電流検出用抵抗と、ノイズ吸収用コンデン
サと、ボリュウム抵抗と、基準電圧電源と、基準電圧設
定用抵抗と、コンデンサ及びダイオードを有する比較器
とから構成されており、比較器は入力電圧が基準電圧以
上になった際、即ち、過電流が流れた際に出力が反転す
るようになっている。更に、インターロック回路を有
し、この回路が過電流検出回路の反転出力によって動作
し、高電圧電流供給用リレー及びフィラメント加熱回路
制御用リレーを遮断状態にするようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術の過電流
検出回路はＸ線管内のグロー放電，高圧ブッシングの絶
縁不良などを検知してインターロック回路を動作させて
Ｘ線管への高電圧供給を遮断することを主目的としたも
のであった。このためＸ線管の寿命予測の点については
配慮されておらず、過電流検出回路が動作し装置のイン
ターロック及び放電表示がなされて初めてＸ線管の耐電
圧不良を検知し、Ｘ線管の寿命がつきたと判断されるこ
とが多かった。本発は過電流検出回路を２種類持つこと
により、Ｘ線管の耐電圧寿命予測機能を付加することを
目的とする。
検出回路はＸ線管内のグロー放電，高圧ブッシングの絶
縁不良などを検知してインターロック回路を動作させて
Ｘ線管への高電圧供給を遮断することを主目的としたも
のであった。このためＸ線管の寿命予測の点については
配慮されておらず、過電流検出回路が動作し装置のイン
ターロック及び放電表示がなされて初めてＸ線管の耐電
圧不良を検知し、Ｘ線管の寿命がつきたと判断されるこ
とが多かった。本発は過電流検出回路を２種類持つこと
により、Ｘ線管の耐電圧寿命予測機能を付加することを
目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では高電圧発生装置から得られる高電圧をＸ
線管の陽極と陰極の間に印加しＸ線を発生するＸ線装置
において、その過電流検出回路として、パルス幅が数ｍ
ｓ以上の放電エネルギーの大きい放電を検出する過電流
検出回路Ａと、パルス幅が数μｓ程度の微小なエネルギ
ーの放電を検出する過電流検出回路Ｂとを具備し、過電
流検出回路ＡはＸ線管への高電圧供給を遮断するために
使用し、過電流検出回路ＢはＸ線管の耐電圧寿命を判断
するために使用したものである。
に、本発明では高電圧発生装置から得られる高電圧をＸ
線管の陽極と陰極の間に印加しＸ線を発生するＸ線装置
において、その過電流検出回路として、パルス幅が数ｍ
ｓ以上の放電エネルギーの大きい放電を検出する過電流
検出回路Ａと、パルス幅が数μｓ程度の微小なエネルギ
ーの放電を検出する過電流検出回路Ｂとを具備し、過電
流検出回路ＡはＸ線管への高電圧供給を遮断するために
使用し、過電流検出回路ＢはＸ線管の耐電圧寿命を判断
するために使用したものである。
【０００５】
【作用】本発明による２種類の過電流検出回路のうちパ
ルス幅数μｓ程度の微小なエネルギーの放電（以下、微
放電と呼ぶ）を検出するものは、パルス幅が数μｓ程度
でひげ状の波形をしている微放電を検出表示し、使用中
の発生頻度を計測するものである。この微放電は放電エ
ネルギーが小さいので、すぐにＸ線管が損傷することに
はならないので、この放電を検知しても装置のインター
ロックをかける必要はない。しかし、この微放電はＸ線
管の寿命と関係するもので、発生頻度が多くなると大き
な放電を起し寿命となる。このようにＸ線管の寿命はこ
の微放電の発生頻度と相関関係があるので、微放電の発
生頻度から容易にＸ線管の寿命を予測することができ
る。従って、微放電の発生頻度についての寿命としての
限界値（管種によって異なるが、例えば１／１００〜１
／１０００）を設定しておくことにより、Ｘ線管が損傷
して使用不能になる前にＸ線管の寿命を判断することが
できる。
ルス幅数μｓ程度の微小なエネルギーの放電（以下、微
放電と呼ぶ）を検出するものは、パルス幅が数μｓ程度
でひげ状の波形をしている微放電を検出表示し、使用中
の発生頻度を計測するものである。この微放電は放電エ
ネルギーが小さいので、すぐにＸ線管が損傷することに
はならないので、この放電を検知しても装置のインター
ロックをかける必要はない。しかし、この微放電はＸ線
管の寿命と関係するもので、発生頻度が多くなると大き
な放電を起し寿命となる。このようにＸ線管の寿命はこ
の微放電の発生頻度と相関関係があるので、微放電の発
生頻度から容易にＸ線管の寿命を予測することができ
る。従って、微放電の発生頻度についての寿命としての
限界値（管種によって異なるが、例えば１／１００〜１
／１０００）を設定しておくことにより、Ｘ線管が損傷
して使用不能になる前にＸ線管の寿命を判断することが
できる。
【０００６】一方診断に支障があり、また患者に不要な
Ｘ線被曝を与える大きな放電はパルス幅が数ｍｓ以上の
放電である。この放電はＸ線管又は装置を破損するおそ
れがあるので従来通り高電圧遮断などのインターロック
をかける必要がある。
Ｘ線被曝を与える大きな放電はパルス幅が数ｍｓ以上の
放電である。この放電はＸ線管又は装置を破損するおそ
れがあるので従来通り高電圧遮断などのインターロック
をかける必要がある。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１により説明す
る。図１は本発明のＸ線装置の一実施例を示す回路図で
ある。１は電源供給用リレー、２は高電圧トランス、
３，３′は整流平滑回路、４はＸ線管である。正極側の
整流平滑回路３の中性点部には第１の過電流検出回路１
２が接続されており、負極側の整流平滑回路３′の中性
点部には第２の過電流検出回路１２′が接続されてい
る。これら第１と第２の過電流検出回路１２，１２′は
ほぼ同じ構成のものである。第１の過電流検出回路１２
は、パルス幅が数ｍｓ以上の放電エネルギーの大きい放
電（以下、大放電と呼ぶ）を検出する過電流検出回路Ａ
１３と、パルス幅が数μｓ程度の微放電を検出する過電
流検出回路Ｂ１４とから成る。過電流検出回路Ａ１３は
大放電を検知する電流リレー５とその動作電流を調整す
る可変抵抗６とから成り、可変抵抗６を調整して電流リ
レー５の大放電に対する検知電流値を加減する。電流リ
レー５には、例えば電流感度５ｍＡ，動作時間１０ｍｓ
のものが用いられている。過電流検出回路Ｂ１４は比較
器７と放電電流検出抵抗８と基準電圧発生器９と具備
し、微放電が発生するとその放電電流を検出抵抗８で検
知し、その出力電圧を比較器７にて基準電圧発生器９の
基準電圧と比較して、基準電圧を越えた場合には反転出
力を発生し、寿命に影響する微放電（または放電）を計
測するものである。本実施例では、基準電圧としては、
１０〜３０Ｖ，電流検出抵抗８としては１０〜２０Ωに
設定している。
る。図１は本発明のＸ線装置の一実施例を示す回路図で
ある。１は電源供給用リレー、２は高電圧トランス、
３，３′は整流平滑回路、４はＸ線管である。正極側の
整流平滑回路３の中性点部には第１の過電流検出回路１
２が接続されており、負極側の整流平滑回路３′の中性
点部には第２の過電流検出回路１２′が接続されてい
る。これら第１と第２の過電流検出回路１２，１２′は
ほぼ同じ構成のものである。第１の過電流検出回路１２
は、パルス幅が数ｍｓ以上の放電エネルギーの大きい放
電（以下、大放電と呼ぶ）を検出する過電流検出回路Ａ
１３と、パルス幅が数μｓ程度の微放電を検出する過電
流検出回路Ｂ１４とから成る。過電流検出回路Ａ１３は
大放電を検知する電流リレー５とその動作電流を調整す
る可変抵抗６とから成り、可変抵抗６を調整して電流リ
レー５の大放電に対する検知電流値を加減する。電流リ
レー５には、例えば電流感度５ｍＡ，動作時間１０ｍｓ
のものが用いられている。過電流検出回路Ｂ１４は比較
器７と放電電流検出抵抗８と基準電圧発生器９と具備
し、微放電が発生するとその放電電流を検出抵抗８で検
知し、その出力電圧を比較器７にて基準電圧発生器９の
基準電圧と比較して、基準電圧を越えた場合には反転出
力を発生し、寿命に影響する微放電（または放電）を計
測するものである。本実施例では、基準電圧としては、
１０〜３０Ｖ，電流検出抵抗８としては１０〜２０Ωに
設定している。
【０００８】第１と第２の過電流検出回路１２，１２′
にはインターロック回路１０と表示回路１１が接続され
ている。インターロック回路１０は過電流検出回路Ａ１
３の電流リレー５が大放電を検知して動作したときに働
くもので、電源供給用リレー１を遮断状態にすることに
より電源供給を遮断する。表示装置１１は過電流検出回
路Ｂ１４が微放電（または放電）を検知して反転出力を
発生したときに微放電（または放電）の発生を表示する
もので、例えばＬＥＤ等が用いられている。
にはインターロック回路１０と表示回路１１が接続され
ている。インターロック回路１０は過電流検出回路Ａ１
３の電流リレー５が大放電を検知して動作したときに働
くもので、電源供給用リレー１を遮断状態にすることに
より電源供給を遮断する。表示装置１１は過電流検出回
路Ｂ１４が微放電（または放電）を検知して反転出力を
発生したときに微放電（または放電）の発生を表示する
もので、例えばＬＥＤ等が用いられている。
【０００９】本実施例の装置で、Ｘ線管４で放電が発生
したとき、その放電のパルス幅が数ｍｓ以上の大放電の
場合には第１または第２の過電流検出回路１２，１２′
の過電流検出回路Ａ１３も過電流検出回路Ｂ１４も検知
動作をする。このとき過電流検出回路Ａ１３は電流リレ
ー５の動作によりインターロック回路１０を働らかせ電
源供給用リレー１を遮断状態にし電源供給を遮断する
（この場合使用再開にはＸ線管その他についての点検が
必要である。）。過電流検出回路Ｂ１４の比較器７から
は反転出力が発生し、表示装置１１に寿命に影響を及ぼ
す放電が発生したことが表示される。上記の大放電の場
合、点検結果Ｘ線管その他に損傷がなければ使用再開さ
れる。
したとき、その放電のパルス幅が数ｍｓ以上の大放電の
場合には第１または第２の過電流検出回路１２，１２′
の過電流検出回路Ａ１３も過電流検出回路Ｂ１４も検知
動作をする。このとき過電流検出回路Ａ１３は電流リレ
ー５の動作によりインターロック回路１０を働らかせ電
源供給用リレー１を遮断状態にし電源供給を遮断する
（この場合使用再開にはＸ線管その他についての点検が
必要である。）。過電流検出回路Ｂ１４の比較器７から
は反転出力が発生し、表示装置１１に寿命に影響を及ぼ
す放電が発生したことが表示される。上記の大放電の場
合、点検結果Ｘ線管その他に損傷がなければ使用再開さ
れる。
【００１０】次に、Ｘ線管４での放電のパルス幅が数μ
ｓの微放電の場合には第１または第２の過電流検出回路
１２，１２′において過電流検出回路Ａ１３は検知動作
せず、過電流検出回路Ｂ１４のみ検知動作する。この結
果インターロック回路１０は働かないので電源供給は遮
断されず、過電流検出回路Ｂ１４の比較器７から反転出
力が発生し、表示装置１１に寿命に影響を及ぼす微放電
が発生したことが表示されるのみである。
ｓの微放電の場合には第１または第２の過電流検出回路
１２，１２′において過電流検出回路Ａ１３は検知動作
せず、過電流検出回路Ｂ１４のみ検知動作する。この結
果インターロック回路１０は働かないので電源供給は遮
断されず、過電流検出回路Ｂ１４の比較器７から反転出
力が発生し、表示装置１１に寿命に影響を及ぼす微放電
が発生したことが表示されるのみである。
【００１１】Ｘ線管の寿命については〔作用〕でも述べ
た如く、微放電の発生頻度と相関関係があるので、上記
の微放電の表示頻度を計測回路（図示せず）で計数する
ことにより、その微放電の発生頻度が管種により規定さ
れた限界値に到達した場合にはＸ線管の寿命と判断し、
Ｘ線管の交換を行う。この結果、突然の大放電によって
Ｘ線管が使用不能になる前にＸ線管の寿命を予知して交
換できるので、被検者に対しＸ線診断の途中で診断を中
断するというような迷惑をかけなくて済むようになる。
た如く、微放電の発生頻度と相関関係があるので、上記
の微放電の表示頻度を計測回路（図示せず）で計数する
ことにより、その微放電の発生頻度が管種により規定さ
れた限界値に到達した場合にはＸ線管の寿命と判断し、
Ｘ線管の交換を行う。この結果、突然の大放電によって
Ｘ線管が使用不能になる前にＸ線管の寿命を予知して交
換できるので、被検者に対しＸ線診断の途中で診断を中
断するというような迷惑をかけなくて済むようになる。
【００１２】なお、本実施例では単相の電源を使用した
場合について説明したが、三相の電源を使用する場合に
も同様に適用することができる。
場合について説明したが、三相の電源を使用する場合に
も同様に適用することができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、Ｘ線管の耐電圧不良に
よる寿命を事前に予測することができ、その結果Ｘ線管
の寿命前に交換することが可能となるので、Ｘ線診断中
の耐電圧不良によるトラブルを低減することができる。
よる寿命を事前に予測することができ、その結果Ｘ線管
の寿命前に交換することが可能となるので、Ｘ線診断中
の耐電圧不良によるトラブルを低減することができる。
【図１】本発明のＸ線装置の一実施例を示す回路図であ
る。
る。
５ 電流リレー ５′ 電流リレー ６ 可変抵抗 ６′ 可変抵抗 ７ 比較器 ７′ 比較器 ８ 電流検出抵抗 ８′ 電流検出抵抗 ９ 基準電圧発生器 ９′ 基準電圧発生器 １０ インターロック回路 １１ 表示回路 １２ 第１の過電流検出回路 １２′ 第２の過電流検出回路 １３ 過電流検出回路Ａ １４ 過電流検出回路Ｂ
Claims (1)
- 【請求項１】高電圧発生装置から得られる高電圧をＸ線
管の陽極と陰極の間に印加しＸ線を発生するＸ線装置に
おいて、その過電流検出回路として、パルス幅が数ｍｓ
以上の放電エネルギーの大きい放電を検出する過電流検
出回路Ａと、パルス幅が数μｓ程度の微小なエネルギー
の放電を検出する過電流検出回路Ｂとを具備し、過電流
検出回路ＡはＸ線管への高電圧供給を遮断するために使
用し、過電流検出回路ＢはＸ線管の耐電圧寿命を判断す
るために使用することを特徴とするＸ線装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27496991A JPH0589995A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | Ｘ線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27496991A JPH0589995A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | Ｘ線装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0589995A true JPH0589995A (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=17549092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27496991A Pending JPH0589995A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | Ｘ線装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0589995A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003051397A (ja) * | 2001-08-06 | 2003-02-21 | Toshiba Corp | Ｘ線画像診断装置 |
| JP2010167282A (ja) * | 2009-01-26 | 2010-08-05 | General Electric Co <Ge> | 放射線画像撮影システムのメンテナンスを管理するためのシステムおよび方法 |
| JP2011045626A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2013129069A1 (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | Ｘ線照射源及びｘ線照射装置 |
| WO2017030003A1 (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | 株式会社イシダ | Ｘ線発生装置及びｘ線検査装置 |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP27496991A patent/JPH0589995A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003051397A (ja) * | 2001-08-06 | 2003-02-21 | Toshiba Corp | Ｘ線画像診断装置 |
| JP2010167282A (ja) * | 2009-01-26 | 2010-08-05 | General Electric Co <Ge> | 放射線画像撮影システムのメンテナンスを管理するためのシステムおよび方法 |
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| WO2013129069A1 (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | Ｘ線照射源及びｘ線照射装置 |
| JP2013182816A (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Hamamatsu Photonics Kk | Ｘ線照射源及びｘ線照射装置 |
| TWI595806B (zh) * | 2012-03-02 | 2017-08-11 | Hamamatsu Photonics Kk | X-ray radiation source and X-ray irradiation device |
| WO2017030003A1 (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | 株式会社イシダ | Ｘ線発生装置及びｘ線検査装置 |
| JP2017041350A (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | 株式会社イシダ | Ｘ線発生装置及びｘ線検査装置 |
| US10098216B2 (en) | 2015-08-19 | 2018-10-09 | Ishida Co., Ltd. | X-ray generator and X-ray inspection apparatus |
| EP3344017A4 (en) * | 2015-08-19 | 2019-05-01 | Ishida Co., Ltd. | X-RAY GENERATOR AND X-RAY EXAMINATION DEVICE |
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